JPH07223867A - セラミックスの低温形成方法 - Google Patents
セラミックスの低温形成方法Info
- Publication number
- JPH07223867A JPH07223867A JP6313425A JP31342594A JPH07223867A JP H07223867 A JPH07223867 A JP H07223867A JP 6313425 A JP6313425 A JP 6313425A JP 31342594 A JP31342594 A JP 31342594A JP H07223867 A JPH07223867 A JP H07223867A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- group
- polysilazane
- hydrogen atom
- coating
- palladium
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 title claims abstract description 26
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 25
- 229920001709 polysilazane Polymers 0.000 claims abstract description 72
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Chemical compound O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 40
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 claims abstract description 16
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 claims abstract description 15
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims abstract description 15
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims abstract description 15
- 239000012153 distilled water Substances 0.000 claims abstract description 14
- 125000004435 hydrogen atom Chemical group [H]* 0.000 claims abstract description 14
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 29
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 29
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 125000003342 alkenyl group Chemical group 0.000 claims description 4
- 125000003545 alkoxy group Chemical group 0.000 claims description 4
- 125000003282 alkyl amino group Chemical group 0.000 claims description 4
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 claims description 4
- 125000005103 alkyl silyl group Chemical group 0.000 claims description 4
- 125000003118 aryl group Chemical group 0.000 claims description 4
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 125000000753 cycloalkyl group Chemical group 0.000 claims description 4
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 3
- 238000000576 coating method Methods 0.000 abstract description 39
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 abstract description 35
- 238000010304 firing Methods 0.000 abstract description 15
- 238000007654 immersion Methods 0.000 abstract description 8
- 125000000962 organic group Chemical group 0.000 abstract description 4
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N palladium Substances [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 38
- 230000009102 absorption Effects 0.000 description 29
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 29
- 239000010408 film Substances 0.000 description 27
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical group [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 26
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 26
- CTQNGGLPUBDAKN-UHFFFAOYSA-N O-Xylene Chemical compound CC1=CC=CC=C1C CTQNGGLPUBDAKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 20
- 238000002329 infrared spectrum Methods 0.000 description 20
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 16
- 239000008096 xylene Substances 0.000 description 16
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 15
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 11
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 10
- 238000005524 ceramic coating Methods 0.000 description 10
- LIVNPJMFVYWSIS-UHFFFAOYSA-N silicon monoxide Inorganic materials [Si-]#[O+] LIVNPJMFVYWSIS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 10
- UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N Benzene Chemical compound C1=CC=CC=C1 UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M Potassium hydroxide Chemical compound [OH-].[K+] KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 9
- ZZUFCTLCJUWOSV-UHFFFAOYSA-N furosemide Chemical compound C1=C(Cl)C(S(=O)(=O)N)=CC(C(O)=O)=C1NCC1=CC=CO1 ZZUFCTLCJUWOSV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 9
- PIBWKRNGBLPSSY-UHFFFAOYSA-L palladium(II) chloride Chemical compound Cl[Pd]Cl PIBWKRNGBLPSSY-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 9
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 9
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 9
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N Ammonia Chemical compound N QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- JUJWROOIHBZHMG-UHFFFAOYSA-N Pyridine Chemical compound C1=CC=NC=C1 JUJWROOIHBZHMG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N Tetrahydrofuran Chemical compound C1CCOC1 WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 8
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 8
- 229910007991 Si-N Inorganic materials 0.000 description 7
- 229910006294 Si—N Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000000047 product Substances 0.000 description 7
- -1 silicon alkoxide Chemical class 0.000 description 7
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 7
- YMWUJEATGCHHMB-UHFFFAOYSA-N Dichloromethane Chemical compound ClCCl YMWUJEATGCHHMB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229910018557 Si O Inorganic materials 0.000 description 6
- HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M Sodium hydroxide Chemical compound [OH-].[Na+] HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 6
- 238000002835 absorbance Methods 0.000 description 6
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 6
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229910021529 ammonia Inorganic materials 0.000 description 5
- 125000004122 cyclic group Chemical group 0.000 description 5
- VLKZOEOYAKHREP-UHFFFAOYSA-N n-Hexane Chemical compound CCCCCC VLKZOEOYAKHREP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000003973 paint Substances 0.000 description 5
- 239000011541 reaction mixture Substances 0.000 description 5
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 5
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical compound F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N Nitric acid Chemical compound O[N+]([O-])=O GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- LGCMKPRGGJRYGM-UHFFFAOYSA-N Osalmid Chemical compound C1=CC(O)=CC=C1NC(=O)C1=CC=CC=C1O LGCMKPRGGJRYGM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000008199 coating composition Substances 0.000 description 4
- 239000000706 filtrate Substances 0.000 description 4
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 4
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 4
- 229910017604 nitric acid Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 4
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 4
- 239000004810 polytetrafluoroethylene Substances 0.000 description 4
- 229920001343 polytetrafluoroethylene Polymers 0.000 description 4
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 4
- UMJSCPRVCHMLSP-UHFFFAOYSA-N pyridine Natural products COC1=CC=CN=C1 UMJSCPRVCHMLSP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000002791 soaking Methods 0.000 description 4
- YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N tetrahydrofuran Natural products C=1C=COC=1 YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- GQHTUMJGOHRCHB-UHFFFAOYSA-N 2,3,4,6,7,8,9,10-octahydropyrimido[1,2-a]azepine Chemical compound C1CCCCN2CCCN=C21 GQHTUMJGOHRCHB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- WFDIJRYMOXRFFG-UHFFFAOYSA-N Acetic anhydride Chemical compound CC(=O)OC(C)=O WFDIJRYMOXRFFG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- XEKOWRVHYACXOJ-UHFFFAOYSA-N Ethyl acetate Chemical compound CCOC(C)=O XEKOWRVHYACXOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- WMFOQBRAJBCJND-UHFFFAOYSA-M Lithium hydroxide Chemical compound [Li+].[OH-] WMFOQBRAJBCJND-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- MUBZPKHOEPUJKR-UHFFFAOYSA-N Oxalic acid Chemical compound OC(=O)C(O)=O MUBZPKHOEPUJKR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910008051 Si-OH Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910006358 Si—OH Inorganic materials 0.000 description 3
- YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N Toluene Chemical compound CC1=CC=CC=C1 YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- ZMANZCXQSJIPKH-UHFFFAOYSA-N Triethylamine Chemical compound CCN(CC)CC ZMANZCXQSJIPKH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 3
- 238000002468 ceramisation Methods 0.000 description 3
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 3
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 3
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 3
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 3
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 3
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 3
- RAXXELZNTBOGNW-UHFFFAOYSA-N imidazole Natural products C1=CNC=N1 RAXXELZNTBOGNW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 3
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 3
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 3
- ZVSLRJWQDNRUDU-UHFFFAOYSA-L palladium(2+);propanoate Chemical compound [Pd+2].CCC([O-])=O.CCC([O-])=O ZVSLRJWQDNRUDU-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 3
- YJVFFLUZDVXJQI-UHFFFAOYSA-L palladium(ii) acetate Chemical compound [Pd+2].CC([O-])=O.CC([O-])=O YJVFFLUZDVXJQI-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 3
- DCTOHCCUXLBQMS-UHFFFAOYSA-N 1-undecene Chemical compound CCCCCCCCCC=C DCTOHCCUXLBQMS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N Acetic acid Chemical compound CC(O)=O QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical group [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- HEDRZPFGACZZDS-UHFFFAOYSA-N Chloroform Chemical compound ClC(Cl)Cl HEDRZPFGACZZDS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VZCYOOQTPOCHFL-OWOJBTEDSA-N Fumaric acid Chemical compound OC(=O)\C=C\C(O)=O VZCYOOQTPOCHFL-OWOJBTEDSA-N 0.000 description 2
- ZRALSGWEFCBTJO-UHFFFAOYSA-N Guanidine Chemical compound NC(N)=N ZRALSGWEFCBTJO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- NTIZESTWPVYFNL-UHFFFAOYSA-N Methyl isobutyl ketone Chemical compound CC(C)CC(C)=O NTIZESTWPVYFNL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- UIHCLUNTQKBZGK-UHFFFAOYSA-N Methyl isobutyl ketone Natural products CCC(C)C(C)=O UIHCLUNTQKBZGK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IMNFDUFMRHMDMM-UHFFFAOYSA-N N-Heptane Chemical compound CCCCCCC IMNFDUFMRHMDMM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- OFBQJSOFQDEBGM-UHFFFAOYSA-N Pentane Chemical compound CCCCC OFBQJSOFQDEBGM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N Phosphoric acid Chemical compound OP(O)(O)=O NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 2
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000001412 amines Chemical class 0.000 description 2
- 150000008064 anhydrides Chemical class 0.000 description 2
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 238000007664 blowing Methods 0.000 description 2
- WTEOIRVLGSZEPR-UHFFFAOYSA-N boron trifluoride Chemical compound FB(F)F WTEOIRVLGSZEPR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000007942 carboxylates Chemical class 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 2
- JQVDAXLFBXTEQA-UHFFFAOYSA-N dibutylamine Chemical compound CCCCNCCCC JQVDAXLFBXTEQA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XBDQKXXYIPTUBI-UHFFFAOYSA-N dimethylselenoniopropionate Natural products CCC(O)=O XBDQKXXYIPTUBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000004744 fabric Substances 0.000 description 2
- 238000007710 freezing Methods 0.000 description 2
- 230000008014 freezing Effects 0.000 description 2
- 230000007062 hydrolysis Effects 0.000 description 2
- 238000006460 hydrolysis reaction Methods 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 239000011259 mixed solution Substances 0.000 description 2
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 229940078552 o-xylene Drugs 0.000 description 2
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 2
- 150000002941 palladium compounds Chemical class 0.000 description 2
- VLTRZXGMWDSKGL-UHFFFAOYSA-N perchloric acid Chemical compound OCl(=O)(=O)=O VLTRZXGMWDSKGL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005240 physical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 238000006116 polymerization reaction Methods 0.000 description 2
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 2
- 238000003980 solgel method Methods 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 2
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 2
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 2
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 2
- VZCYOOQTPOCHFL-UHFFFAOYSA-N trans-butenedioic acid Natural products OC(=O)C=CC(O)=O VZCYOOQTPOCHFL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 2
- HZAXFHJVJLSVMW-UHFFFAOYSA-N 2-Aminoethan-1-ol Chemical compound NCCO HZAXFHJVJLSVMW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VHUUQVKOLVNVRT-UHFFFAOYSA-N Ammonium hydroxide Chemical compound [NH4+].[OH-] VHUUQVKOLVNVRT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910015900 BF3 Inorganic materials 0.000 description 1
- LSNNMFCWUKXFEE-UHFFFAOYSA-M Bisulfite Chemical compound OS([O-])=O LSNNMFCWUKXFEE-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 239000004215 Carbon black (E152) Substances 0.000 description 1
- 229910021591 Copper(I) chloride Inorganic materials 0.000 description 1
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CTKINSOISVBQLD-UHFFFAOYSA-N Glycidol Chemical compound OCC1CO1 CTKINSOISVBQLD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002841 Lewis acid Substances 0.000 description 1
- CHJJGSNFBQVOTG-UHFFFAOYSA-N N-methyl-guanidine Natural products CNC(N)=N CHJJGSNFBQVOTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OFOBLEOULBTSOW-UHFFFAOYSA-N Propanedioic acid Natural products OC(=O)CC(O)=O OFOBLEOULBTSOW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XBDQKXXYIPTUBI-UHFFFAOYSA-M Propionate Chemical compound CCC([O-])=O XBDQKXXYIPTUBI-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- KDYFGRWQOYBRFD-UHFFFAOYSA-N Succinic acid Natural products OC(=O)CCC(O)=O KDYFGRWQOYBRFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GSEJCLTVZPLZKY-UHFFFAOYSA-N Triethanolamine Chemical compound OCCN(CCO)CCO GSEJCLTVZPLZKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005299 abrasion Methods 0.000 description 1
- 229960000583 acetic acid Drugs 0.000 description 1
- KXKVLQRXCPHEJC-UHFFFAOYSA-N acetic acid trimethyl ester Natural products COC(C)=O KXKVLQRXCPHEJC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000005595 acetylacetonate group Chemical group 0.000 description 1
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 1
- 125000002723 alicyclic group Chemical group 0.000 description 1
- 125000001931 aliphatic group Chemical group 0.000 description 1
- 150000004703 alkoxides Chemical class 0.000 description 1
- 229910000147 aluminium phosphate Inorganic materials 0.000 description 1
- 235000011114 ammonium hydroxide Nutrition 0.000 description 1
- 239000011260 aqueous acid Substances 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004945 aromatic hydrocarbons Chemical class 0.000 description 1
- 238000009835 boiling Methods 0.000 description 1
- HQABUPZFAYXKJW-UHFFFAOYSA-N butan-1-amine Chemical compound CCCCN HQABUPZFAYXKJW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000001354 calcination Methods 0.000 description 1
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 description 1
- 239000007795 chemical reaction product Substances 0.000 description 1
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 1
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 1
- 229920001577 copolymer Polymers 0.000 description 1
- OXBLHERUFWYNTN-UHFFFAOYSA-M copper(I) chloride Chemical compound [Cu]Cl OXBLHERUFWYNTN-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 229920005565 cyclic polymer Polymers 0.000 description 1
- 150000001991 dicarboxylic acids Chemical class 0.000 description 1
- KTQYJQFGNYHXMB-UHFFFAOYSA-N dichloro(methyl)silicon Chemical compound C[Si](Cl)Cl KTQYJQFGNYHXMB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MROCJMGDEKINLD-UHFFFAOYSA-N dichlorosilane Chemical compound Cl[SiH2]Cl MROCJMGDEKINLD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZBCBWPMODOFKDW-UHFFFAOYSA-N diethanolamine Chemical compound OCCNCCO ZBCBWPMODOFKDW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HPNMFZURTQLUMO-UHFFFAOYSA-N diethylamine Chemical compound CCNCC HPNMFZURTQLUMO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SWSQBOPZIKWTGO-UHFFFAOYSA-N dimethylaminoamidine Natural products CN(C)C(N)=N SWSQBOPZIKWTGO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007598 dipping method Methods 0.000 description 1
- 150000002148 esters Chemical class 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 239000000945 filler Substances 0.000 description 1
- 239000001530 fumaric acid Substances 0.000 description 1
- 239000012362 glacial acetic acid Substances 0.000 description 1
- 229940093915 gynecological organic acid Drugs 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 1
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 description 1
- 150000002430 hydrocarbons Chemical class 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- XMBWDFGMSWQBCA-UHFFFAOYSA-N hydrogen iodide Chemical compound I XMBWDFGMSWQBCA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- GJRQTCIYDGXPES-UHFFFAOYSA-N iso-butyl acetate Natural products CC(C)COC(C)=O GJRQTCIYDGXPES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FGKJLKRYENPLQH-UHFFFAOYSA-M isocaproate Chemical compound CC(C)CCC([O-])=O FGKJLKRYENPLQH-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- OQAGVSWESNCJJT-UHFFFAOYSA-N isovaleric acid methyl ester Natural products COC(=O)CC(C)C OQAGVSWESNCJJT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000002576 ketones Chemical class 0.000 description 1
- 150000007517 lewis acids Chemical class 0.000 description 1
- 238000003760 magnetic stirring Methods 0.000 description 1
- VZCYOOQTPOCHFL-UPHRSURJSA-N maleic acid Chemical compound OC(=O)\C=C/C(O)=O VZCYOOQTPOCHFL-UPHRSURJSA-N 0.000 description 1
- 239000011976 maleic acid Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- PKAUVIXBZJUYRV-UHFFFAOYSA-N methane;hydroiodide Chemical compound C.I PKAUVIXBZJUYRV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000002496 methyl group Chemical group [H]C([H])([H])* 0.000 description 1
- 239000005048 methyldichlorosilane Substances 0.000 description 1
- 150000007522 mineralic acids Chemical class 0.000 description 1
- 150000002763 monocarboxylic acids Chemical class 0.000 description 1
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012299 nitrogen atmosphere Substances 0.000 description 1
- 235000005985 organic acids Nutrition 0.000 description 1
- 229910052762 osmium Inorganic materials 0.000 description 1
- 235000006408 oxalic acid Nutrition 0.000 description 1
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 1
- HBEQXAKJSGXAIQ-UHFFFAOYSA-N oxopalladium Chemical compound [Pd]=O HBEQXAKJSGXAIQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910003445 palladium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- NXJCBFBQEVOTOW-UHFFFAOYSA-L palladium(2+);dihydroxide Chemical compound O[Pd]O NXJCBFBQEVOTOW-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- JKDRQYIYVJVOPF-FDGPNNRMSA-L palladium(ii) acetylacetonate Chemical compound [Pd+2].C\C([O-])=C\C(C)=O.C\C([O-])=C\C(C)=O JKDRQYIYVJVOPF-FDGPNNRMSA-L 0.000 description 1
- GPNDARIEYHPYAY-UHFFFAOYSA-N palladium(ii) nitrate Chemical compound [Pd+2].[O-][N+]([O-])=O.[O-][N+]([O-])=O GPNDARIEYHPYAY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 235000019260 propionic acid Nutrition 0.000 description 1
- WYVAMUWZEOHJOQ-UHFFFAOYSA-N propionic anhydride Chemical compound CCC(=O)OC(=O)CC WYVAMUWZEOHJOQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- IUVKMZGDUIUOCP-BTNSXGMBSA-N quinbolone Chemical compound O([C@H]1CC[C@H]2[C@H]3[C@@H]([C@]4(C=CC(=O)C=C4CC3)C)CC[C@@]21C)C1=CCCC1 IUVKMZGDUIUOCP-BTNSXGMBSA-N 0.000 description 1
- 238000006722 reduction reaction Methods 0.000 description 1
- 229910052703 rhodium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007363 ring formation reaction Methods 0.000 description 1
- 229910052707 ruthenium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 239000007858 starting material Substances 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- JOXIMZWYDAKGHI-UHFFFAOYSA-N toluene-4-sulfonic acid Chemical compound CC1=CC=C(S(O)(=O)=O)C=C1 JOXIMZWYDAKGHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- IMFACGCPASFAPR-UHFFFAOYSA-N tributylamine Chemical compound CCCCN(CCCC)CCCC IMFACGCPASFAPR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YNJBWRMUSHSURL-UHFFFAOYSA-N trichloroacetic acid Chemical compound OC(=O)C(Cl)(Cl)Cl YNJBWRMUSHSURL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- IMNIMPAHZVJRPE-UHFFFAOYSA-N triethylenediamine Chemical compound C1CN2CCN1CC2 IMNIMPAHZVJRPE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011882 ultra-fine particle Substances 0.000 description 1
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B41/00—After-treatment of mortars, concrete, artificial stone or ceramics; Treatment of natural stone
- C04B41/45—Coating or impregnating, e.g. injection in masonry, partial coating of green or fired ceramics, organic coating compositions for adhering together two concrete elements
- C04B41/50—Coating or impregnating, e.g. injection in masonry, partial coating of green or fired ceramics, organic coating compositions for adhering together two concrete elements with inorganic materials
- C04B41/5053—Coating or impregnating, e.g. injection in masonry, partial coating of green or fired ceramics, organic coating compositions for adhering together two concrete elements with inorganic materials non-oxide ceramics
- C04B41/5062—Borides, Nitrides or Silicides
- C04B41/5066—Silicon nitride
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B41/00—After-treatment of mortars, concrete, artificial stone or ceramics; Treatment of natural stone
- C04B41/45—Coating or impregnating, e.g. injection in masonry, partial coating of green or fired ceramics, organic coating compositions for adhering together two concrete elements
- C04B41/46—Coating or impregnating, e.g. injection in masonry, partial coating of green or fired ceramics, organic coating compositions for adhering together two concrete elements with organic materials
- C04B41/49—Compounds having one or more carbon-to-metal or carbon-to-silicon linkages ; Organo-clay compounds; Organo-silicates, i.e. ortho- or polysilicic acid esters ; Organo-phosphorus compounds; Organo-inorganic complexes
- C04B41/4905—Compounds having one or more carbon-to-metal or carbon-to-silicon linkages ; Organo-clay compounds; Organo-silicates, i.e. ortho- or polysilicic acid esters ; Organo-phosphorus compounds; Organo-inorganic complexes containing silicon
- C04B41/495—Compounds having one or more carbon-to-metal or carbon-to-silicon linkages ; Organo-clay compounds; Organo-silicates, i.e. ortho- or polysilicic acid esters ; Organo-phosphorus compounds; Organo-inorganic complexes containing silicon applied to the substrate as oligomers or polymers
- C04B41/4983—Polycarbosilanes, i.e. polymers with a -Si-C-Si-chain; Polysilazanes, i.e. polymers with a -Si-N-Si-chain; Polysilathianes, i.e. polymers with a -Si-S-Si-chain
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Structural Engineering (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Silicon Polymers (AREA)
- Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)
- Ceramic Products (AREA)
- Compositions Of Oxide Ceramics (AREA)
- Paints Or Removers (AREA)
Abstract
ィング膜を提供する。 【構成】 主として一般式(I): 【化1】 (但し、R1 ,R2 ,R3 は有機基であるが少なくとも
1つは水素原子である。)で表わされる単位からなる主
骨格を有する数平均分子量が100〜5万のポリシラザ
ンまたはこれらのポリシラザンを変成したものを(15
0℃以下の温度で)熱処理した後、水蒸気雰囲気にさら
す、または触媒を含有した蒸留水中に浸す、またはこれ
らの両方を行う。または、ポリシラザンをPd2+イオン
と水に接触させる。
Description
分とし、耐熱性、耐摩耗性、耐食性等に優れたセラミッ
クス、特にセラミックコーティング膜を低温で形成でき
る方法に関する。
には、有機系塗料では不十分であり、セラミックス系コ
ーティングが用いられる。従来、セラミックス系コーテ
ィングの形成方法としては、PVD(スパッタ法等)、
CVD、ゾルーゲル法、ポリチタノカルボシラン系塗
料、ポリ(ジシル)シラザン系塗料、ポリシラザン系塗
料、ポリメタロシラザン系塗料などが知られている。
ス系コーティング法が知られているが、いずれも問題が
ある。すなわち、PVD、CVD法では装置が高価であ
る。ゾルーゲル法では、必要焼成温度が500℃以上と
高い。ポリチタノカルボシラン系塗料では低温焼成(4
00℃以下)における表面強度が不十分である。ポリ
(ジシル)シラザン系重合体を用いたものは、施工に難
があり、クラックが発生する。ポリシラザン、ポリメタ
ロシラザンコーティングでは、200〜500℃で焼成
できるが、300℃未満の焼成では膜質が必ずしも良好
でない。
おける問題を解決し、低温焼成により、耐熱性、耐摩耗
性、耐食性に優れ、クラックのない緻密な塗膜を与える
セラミックコーティング膜、広くはこれらの特性を有す
るセラミックスの形成方法を提供すること、特に、低温
焼成という特長により、従来不可能であった、電子部
品、プラスチック等へのコーティングを可能とすること
を目的とする。
点を解決するため鋭意検討した結果、本発明の第1の側
面においてポリシラザンまたはこれを含む組成物を15
0℃以下で熱処理した後、水蒸気雰囲気にさらす、また
は触媒を含有した蒸留水中に浸す、またはこれらの両方
を行うことにより、従来より低い焼成温度で良好なセラ
ミックス、特に被覆が形成されることを見出した。
式(I):
に水素原子、アルキル基、アルケニル基、シクロアルキ
ル基、アリール基、またはこれらの基以外でケイ素に直
結する基が炭素である基、アルキルシリル基、アルキル
アミノ基、アルコキシ基を表わす。ただし、R1 ,R
2 ,R3 の少なくとも1つは水素原子である。)で表わ
される単位からなる骨格を有する数平均分子量が100
〜5万のポリシラザンまたはこれらのポリシラザンを変
成したものを熱処理した後、水蒸気雰囲気(好ましくは
加圧した飽和水蒸気雰囲気)にさらす、または触媒を含
有した蒸留水中に浸す、またはこれらの両方を行うこと
を特徴とする、セラミックスの形成方法が提供される。
少なくともSi−H結合、あるいはN−H結合を有する
ポリシラザンであればよく、ポリシラザン単独は勿論の
ことポリシラザンと他のポリマーとの共重合体やポリシ
ラザンと他の化合物との混合物でも利用できる。用いる
ポリシラザンには、鎖状、環状、あるいは架橋構造を有
するもの、あるいと分子内にこれら複数の構造を同時に
有するものがあり、これら単独でもあるいは混合物でも
利用できる。
のようなものがあるが、これらに限定されるものではな
い。一般式(I)でR1 ,R2 及びR3 に水素原子を有
するものは、ペルヒドロポリシラザンであり、その製造
法は例えば特開昭60−145903号公報、D.Se
yferthらCommunication of A
m.Cer.Soc.,C−13,January 1
983.に報告されている。これらの方法で得られるも
のは、種々の構造を有するポリマーの混合物であるが、
基本的には分子内に鎖状部分と環状部分を含み、
ロポリシラザンの構造の一例を示すと下記の如くであ
る。
R3 にメチル基を有するポリシラザンの製造方法は、
D.SeyferthらPolym.Prepr.A
m.Chem.Soc.,Div.Polym.Che
m,.25,10(1984)に報告されている。この
方法により得られるポリシラザンは、繰り返し単位が−
(SiH2 NCH3 )−の鎖状ポリマーと環状ポリマー
であり、いずれも架橋構造をもたない。
R2 に有機基を有するポリオルガノ(ヒドロ)シラザン
の製造法は、D.SeyferthらPolym.Pr
epr.Am.Chem.Soc.Div.Poly
m.Chem,.25,10(1984)、特開昭61
−89230号公報に報告されている。これらの方法に
より得られるポリシラザンには、−(R2 SiHNH)
−を繰り返し単位として、主として重合度が3〜5の環
状構造を有するものや(R3 SiHNH)x 〔(R2 S
iH)1.5 N〕1-x (0.4<X<1)の化学式で示せ
る分子内に鎖状構造と環状構造を同時に有するものがあ
る。
R3 に有機基を有するポリシラザン、またR1 及びR2
に有機基、R3 に水素原子を有するものは−(R1 R2
SiNR3 )−を繰り返し単位として、主に重合度が3
〜5の環状構造を有している。次に用いるポリシラザン
の内、一般式(I)以外のものの代表例をあげる。ポリ
オルガノ(ヒドロ)シラザンの中には、D.Seyfe
rthらCommunication of Am.C
er.Soc.,C−132,July 1984.が
報告されている様な分子内に架橋構造を有するものもあ
る。一例を示すと下記の如くである。
ている様なR1 SiX3 (X:ハロゲン)のアンモニア
分解によって得られる架橋構造を有するポリシラザン
(R1Si(NH)x 、あるいはR1 SiX3 及びR2 2
SiX2 の共アンモニア分解によって得られる下記の
構造を有するポリシラザンも出発材料として用いること
ができる。
(I)で表わされる単位からなる主骨格を有するが、一
般式(I)で表わされる単位は、上記にも明らかな如く
環状化することがあり、その場合にはその環状部分が末
端基となり、このような環状化がされない場合には、主
骨格の末端はR1 ,R2 ,R3 と同様の基又は水素であ
ることができる。
は、上記の如く一般式(I)で表わされる単位を主骨格
を有するポリシラザンを金属アルコキシド、ケイ素アル
コキシド、アルコール、金属カルボン酸塩、アセチルア
セトナト錯体で変成したものである。これらについては
特開平1−221466号、特願平4−39595号、
特願平4−272020号、特願平5−30750号、
特願平5−93275号、特願平5−214268号に
詳しい。特に好ましいものは、(RCOO)n M〔式
中、Rは脂肪族基または脂環基で炭素数1〜22のもの
を表わし、MはNi,Ti,Pt,Rh,Co,Fe,
Ru,Os,Pd,Tr,Alからなる群より選択され
る少なくとも1種の金属を表わし、nはMのイオン価で
ある。〕で表わされる金属カルボン酸塩を上記のような
ポリシラザンに添加したものであり、MがPdであるも
のが特に好ましい。(特願平5−93275号)この反
応生成物の化学構造は明確ではないが、Si−OCOR
という結合が生成していると考えられる。金属の状態は
不明であるが超微粒子状態ではないかと推測している。
ザンを変成したものは必要に応じて成形する。従って、
薄膜、繊維、バルク、粉末などのいずれでもよい。ポリ
シラザンあるいはポリシラザン変成物はそのままでも成
形できるが、通常は適当な溶剤、例えば、ペンタン、ヘ
キサン、ヘプタン等の炭化水素、ベンゼン、トルエン、
キシレン等の芳香族炭化水素、アセトン、メチルイソブ
チルケトン(MIBK)などのケトン、酢酸メチル、酢
酸エチル、酢酸イソブチルなどのエステル、その他塩化
メチレン、クロロホルム、テトラヒドロフラン(TH
F)、アミン類、ピリジンなどを用いて成形後、乾燥さ
せる。
ン組成物には必要に応じて各種の添加剤、充填材を含め
ることができる。本発明の方法で形成されるセラミック
スは三次元成形物でもよいが、特に低温でセラミックス
化できる利点を生かしたセラミックコーティング膜の形
成に適している。
ーティング用組成物を用いたコーティング方法が提供さ
れ、このコーティング方法は、上記のコーティング用組
成物を基盤に1回又は2回以上繰り返し塗布した後、焼
成し、水蒸気雰囲気にさらす、または触媒を含有した蒸
留水に浸す、またはこれらの両方を行うことにより、セ
ラミックス被覆膜を形成させることを特徴とする。
に限定されず、金属、セラミックス、プラスチック等の
いずれでもよい。コーティングの塗布手段としては、通
常の塗布方法、つまり浸漬、ロール塗り、バー塗り、刷
毛塗り、スプレー塗り、フロー塗り等が用いられる。
又、塗布前に基盤をヤスリがけ、脱脂、各種ブラスト等
で表面処理しておくと、コーティング組成物の付着性能
は向上する。
し、充分乾燥させた後、加熱、焼成する。この焼成によ
って、ポリシラザンは架橋、縮合、あるいは焼成雰囲気
によっては、酸化、加水分解して硬化し、強靱な成形体
または被覆を形成する。上記焼成条件は用いるポリシラ
ザンまたはコーティング用組成物によって異なる。昇温
速度は特に限定しないが、0.5〜10℃/分の緩やか
な昇温速度が好ましい。好ましい焼成温度は室温〜25
0℃であるが、プラスチック等への塗布には100〜1
50℃が好ましい。焼成雰囲気は酸素中、空気中あるい
は不活性ガス等のいずれであってもよいが、空気中がよ
り好ましい。
O,Si−N,Si−H,N−Hが存在するものが形成
される。これはまだセラミックスへの転化が不完全であ
る。これを次に述べる2つの方法によってセラミックス
に転化させることが可能である。 加圧飽和水蒸気雰囲気中での熱処理。
〜3気圧が現実的に適当である。室温は室温以上で効果
的であるが室温〜250℃が好ましい。相対湿度は特に
限定されないが10%RH〜100%RHが好ましい。熱処
理時間は特に限定されるものではないが10分〜30日
が現実的に適当である。加圧飽和水蒸気雰囲気中での熱
処理により、ポリシラザンまたはポリシラザンの変性生
成物の酸化あるいは水蒸気との加水分解が進行し、上記
のような低い焼成温度でSi−O結合を主体とする強靱
なセラミックス、特にセラミック被覆の形成が可能とな
る。
は特に限定されないが、例えば、トリエチルアミン、ジ
エチルアミン、モノエタノールアミン、ジエタノールア
ミン、トリエタノールアミン、n−エキシルアミン、n
−ブチルアミン、ジ−n−ブチルアミン、トリ−n−ブ
チルアミン、グアニジン、ピグアニン、イミダゾール、
1,8−ジアザビシクロ−〔5,4,0〕−7−ウンデ
セン、1,4−ジアザビシクロ−〔2,2,2〕−オク
タン等のアミン類;水酸化ナトリウム、水酸化カリウ
ム、水酸化リチウム、ピリジン、アンモニア水等のアル
カリ類;リン酸等の無機酸類;氷酢酸、無水酢酸、プロ
ピオン酸、無水プロピオン酸のような低級モノカルボン
酸、又はその無水物、シュウ酸、フマル酸、マレイン
酸、コハク酸のような低級ジカルボン酸又はその無水
物、トリクロロ酢酸等の有機酸類;過塩素酸、塩酸、硝
酸、硫酸、スルホン酸、パラトルエンスルホン酸、三フ
ッ化ホウ素及びその電気供与体との錯体、等;SnCl
4 ,ZnCl2 ,FeCl3 ,AlCl3 ,SbCl
3 ,TiCl4 などのルイス酸及びその錯体等を使用す
ることができる。触媒の含有割合としては0.01〜5
0wt%、好ましくは1〜10wt%である。保持温度とし
ては室温から沸点までの温度にわたって有効である。保
持時間としては特に限定されるものではないが10分〜
30日が現実的に適当である。
り、ポリシラザンまたはポリシラザンの変性生成物の酸
化あるいは水との加水分解が、触媒の存在により更に加
速され、上記のような低い焼成温度でSi−O結合を主
体とする強靱なセラミックス、特にセラミック被覆の形
成が可能となる。なお、上記の2つの方法を用いること
もセラミックス化には当然有効である。(触媒は酸、塩
基など限定されないが、特に塩酸が好ましい)本発明の
第2の側面によれば、ポリシラザンをPd2+イオンと水
に接触させることによって、一般的に、低温でセラミッ
クス、特にシリカに酸化させることが可能であることが
見い出された。
般式(I):
に水素原子、アルキル基、アルケニル基、シクロアルキ
ル基、アリール基、またはこれらの基以外でケイ素に直
結する基が炭素である基、アルキルシリル基、アルキル
アミノ基、アルコキシ基を表わす。ただし、R1 ,R
2 ,R3 の少なくとも1つは水素原子である。)で表わ
される単位からなる主骨格を有する数平均分子量が10
0〜5万のポリシラザンをPd2+イオンおよび水と接触
させることを特徴とするセラミックスの形成方法が提供
される。
ことができる。その賦形あるいは成膜方法も前と同様で
あることができる。ポリシラザンの成形体または薄膜を
Pd2+イオンを含む水溶液に浸漬したところ100℃以
下の低温で堅いシリカが得られた。また、Pd2+イオン
を含有するポリシラザンを低温で水蒸気と接触させても
シリカが得られた。これら及びその他の確認から、Si
−HまたはN−Hを有するポリシラザンはPd2+イオン
と水を必須成分とする系内で低温下でシリカを主成分と
するセラミックスに転化することが判明した。具体的に
は、決定するわけではないが、Pd2+の還元反応時に活
性化されたH2 OのO(酸素)がポリシラザンと反応し
て下記の如き機構で反応が進行すると考えられる。
いが、例えば、酢酸パラジウム、アセチルアセトネート
パラジウム、塩化パラジウム、水酸化パラジウム、ヨウ
化パラジウム、硝酸パラジウム、酸化パラジウムなどの
パラジウム化合物(パラジウム塩)を水に溶解したり、
金属パラジウムを塩酸、硝酸などの酸水溶液に添加(溶
解)したり、水溶液中で金属パラジウムに電圧を印加し
てPd2+イオンを溶出させるなどの方法を採用できる。
また、パラジウム化合物を含むポリシラザンを水と接触
させたり、金属パラジウムを含むポリシラザンを酸(一
般に水溶液)と接触させるなどの方法でもよい。
2 )組成に近いセラミックスを得るためにはポリシラザ
ンのSi−H基およびSi−N基の総和の等モル以上が
好ましい。但し、反応系内にCuCl2 などのPd0
(0価パラジウム)の酸化触媒を添加した場合、あるい
は電気化学的にPd0 を酸化するなどの操作を同時に
行なった場合にはPd2+イオン量は上記より少なくても
同等の効果が得られる。しかし、本発明ではPd2+イオ
ンは少量でもそれなりの効果が得られるので上記の好ま
しい供給量に限定されるわけではない。従って、上記
,の操作をしない場合で、ポリシラザンのSi−H
基及びSi−N基の総和のモル数に対し一般的に1/1
00モル以上、好ましくは1/10モル以上、そしてよ
り好ましくは1モル以上、実用的には1/10モル以上
のPd2+を供給する。
便宜的にはポリシラザンのSi(ケイ素)のモル量の
0.2倍すればPdの添加重量になる。水の供給方法は
ポリシラザンを水中に浸漬する、水を霧化してポリシラ
ザンに吹き付ける、ポリシラザンを水蒸気に暴露するな
どによることができる。このとき、水にPd2+イオンを
溶解しておくことができる。
いセラミックスを得るためにはポリシラザンのSi−H
基およびSi−N基の総和と等モル量以上が好ましい。
通常は大過剰の水を用いる。このポリシラザンのセラミ
ックス化の反応条件としてPd2+イオンを含む水溶液の
pH、反応温度、反応圧力、反応雰囲気など特に限定され
ない。ただし、反応温度としては必要に応じて加温する
が、100℃以下の低温で十分に反応が進行する。例え
ば80℃以下、さらには40℃以下でも可能である。
触させる方法によれば、低温下でシリカを主成分とする
セラミックスが一般的に生成され、特にシリカコーティ
ング膜の低温形成方法として適している。
−1;数平均分子量600〜800)の20%キシレン
溶液をコーティング液とし、孔径0.2μmのPTFE
製フィルターで濾過後、直径4インチ、厚さ0.5mmの
シリコンウェハーを2cm×2cmに切り取ったものにスピ
ンコーターを用いて塗布(2000rpm,20秒)し、
大気雰囲気下100℃で1時間予備硬化させた。この段
階での塗膜のセラミックス化の進行度をIRで評価した
ところSiH残存率89.5%であった。評価法は下記
によった。
加熱前のSiN吸光度)×100(%) SiO/SiN比=加熱後のSiO吸光度/加熱後のS
iN吸光度 両者の数値はセラミックス化進行の指標となるものであ
り、SiH残存率が小さいほど、またSiO/SiN比
が大きいほどセラミックス化が進んでいる事を示す。
吸収はそれぞれ約840,1160,2160cm-1のも
のを用いた。また吸光度は、 吸光度=1og(Io/I) にて計算した。Iは吸収ピークの透過率、Ioはピーク
のベースとなる透過率である。
で130℃×1h加熱した。この塗膜のセラミックス化
の進行度をIRで評価したところ、SiH残存率0%
で、Si−Nに起因する吸収は認められなかった。ま
た、940cm-1にSi−OH、3400cm-1にO−Hに
起因する吸収が認められた。図1〜3はセラミック化の
進行度の評価に用いたIRチャートであり、図1は硬化
前ポリマーのIRチャート、図2は予備硬化後のIRチ
ャート、図3は飽和水蒸気加熱後のIRチャートであ
る。
−1;数平均分子量900)の20%キシレン溶液10
gにプロピオン酸パラジウム(II)(エヌ・イー・ケム
キャット(株)製)の0.5%キシレン溶液4gを添加
し、更にキシレンを6g加え、大気中、20℃で3時間
撹伴しながら反応を行った。更に濃縮して濃度20wt%
の溶液を調製した。本溶液の数平均分子量はGPCによ
り測定したところ961であった。
2μmのPTFE製フィルターで濾過後、直径4イン
チ、厚さ0.5mmのシリコンウェハーにスピンコーター
を用いて塗布(2000rpm 、20秒)し、大気雰囲気
下150℃で1時間予備硬化させた。この段階での塗膜
のセラミックス化の進行度をIRで評価したところ、
(評価法は実施例1と同様)SiH残存率11.5%で
あった。
調製し、この溶液に上記コーティング膜を室温で24時
間浸した後、100℃で2時間乾燥させた。この塗膜の
膜厚は7863Åであった。この塗膜のセラミックス化
の進行度をIRで評価したところSiH残存率0%で、
Si−Nに起因する吸収は認められなかった。また、9
40cm-1にSi−OH、3400cm-1にO−Hに起因す
る吸収が認められた。
業株式会社製)18ml、61%硝酸(小宗化学株式会社
製)1763mlの混合溶液で処理したところ、エッチン
グレートは1485Å/min.であった。一方蒸留水のみ
で同様のプロセスを用いて測定したエッチングレートは
1703Å/min.であった。
−1;数平均分子量900)の20%キシレン溶液10
gにプロピオン酸パラジウム(II)(エヌ・イー・ケム
キャット(株)製)の0.5%キシレン溶液4gを添加
し、更にキシレンを6g加え、大気中、20℃で3時間
撹伴しながら反応を行った。更に濃縮して濃度20wt%
の溶液を調製した。本溶液の数平均分子量はGPCによ
り測定したところ961であった。
2μmのPTFE製フィルターで濾過後、直径4イン
チ、厚さ0.5mmのシリコンウェハーにスピンコーター
を用いて塗布(2000rpm 、20秒)し、大気雰囲気
下150℃で1時間予備硬化させた。この段階での塗膜
のセラミックス化の進行度をIRで評価したところ、
(評価法はグリシドール系と同様)SiH残存率11.
5%であった。
(5,4,0ウンデセン−7(東京化成株式会社製)を
1wt%加えた溶液を調製し、この溶液に上記コーティン
グ膜を室温で24時間浸した後、100℃で2時間乾燥
させた。この塗膜の膜厚は7659Åであった。この塗
膜のセラミックス化の進行度をIRで評価したところ、
SiH残存率0%で、Si−Nに起因する吸収は認めら
れなかった。また、940cm-1にSi−OH、3400
cm-1にO−Hに起因する吸収が認められた。
業株式会社製)18ml、61%硝酸(小宗化学株式会社
製)1763mlの混合溶液で処理したところ、エッチン
グレートは1437Å/min.であった。実施例4 (蒸留水+触媒(DBU)の例) 東燃製ペルヒドロポリシラザンType−1(PHPS
−1;数平均分子量900)の20%キシレン溶液10
gにプロピオン酸パラジウム(II)(エヌ・イー・ケム
キャット(株)製)の0.5%キシレン溶液4gを添加
し、更にキシレンを6g加え、大気中、20℃で3時間
撹伴しながら反応を行った。更に濃縮し濃度20wt%の
溶液を調整した。この溶液の数平均分子量はGPCによ
り測定したところ961であった。
2μmのPTFE製フィルターで濾過後、直径4イン
チ、厚さ0.5mmのシリコンウェハーにスピンコーター
を用いて塗布(2000rpm 、20秒)し、室温で乾燥
させた。また、蒸留水に1,8−ジアザ−ビシクロ
(5,4,0ウンデセン7)(東京化成株式会社製)を
1wt%加えた溶液を調整し、この溶液を90℃にしたも
のに上記コーティング膜を30分浸漬し、IRで評価し
たところ、ほぼSiO2 化したことがわかった。
成〕 内容積1Lの四つ口フラスコにガス吹き込み管、メカニ
カルスターラー、ジュワーコンデンサーを装着した。反
応器内部を脱酸素した乾燥窒素で置換した後、四つ口フ
ラスコに脱気した乾燥ピリジンを490ml入れ、これを
氷冷した。次にジクロロシラン51.9gを加えると白
色固体状のアダクト(SiH2 Cl2 ・2C5 H5 N)
が生成した。反応混合物を氷冷し、撹拌しながら水酸化
ナトリウム管及び活性炭管を通して生成したアンモニア
51.0gを吹き込んだ後、100℃で加熱した。
燥ピリジンを用いて洗浄した後、更に乾燥窒素雰囲気下
で濾過して濾液850mlを得た。濾液5mlから溶媒を減
圧除去すると樹脂状固体ペルヒドロポリシラザン0.1
02gが得られた。得られたポリマーの数平均分子量
は、凝固点降下法で(溶媒:乾燥ベンゼン)により測定
したところ、1120であった。IR(赤外吸収)スペ
クトル(溶媒:乾燥o−キシレン;ペルヒドロポリシラ
ザンの濃度:10.2g/l)は、波数(cm-1)335
0、および1175のN−Hに基づく吸収:2170の
Si−Hに基づく吸収:1020〜820のSi−N−
Siに基づく吸収を示した。IRスペクトルを図4に示
す。
の合成〕 内容積500mlの四つ口フラスコにガス吹き込み管、メ
カニカルスターラー、ジュワーコンデンサーを装着し
た。反応器内部を脱酸素した乾燥窒素で置換した後、四
つ口フラスコにメチルジクロロシラン(CH3 SiHC
l2 ,24.3g,0.221mol )と乾燥ジクロロメ
タン300mlを入れた。反応混合物を氷冷し、撹拌しな
がら乾燥アンモニア20.5g(1.20mol )を窒素
ガスと共に吹き込んでアンモニア分解を行った。
後、濾過した。濾液から溶媒を減圧除去し、ポリメチル
(ヒドロ)シラザンを無色の液体として8.79g得
た。生成物の数平均分子量を凝固点降下法で(溶媒:乾
燥ベンゼン)により測定したところ、310であった。
内容積100mlの四つ口フラスコにガス導入管、温度
計、コンデンサーおよび滴下ロートを装着し、反応系内
をアルゴンガスで置換した。四つ口フラスコにテトラヒ
ドロフラン12mlおよび水酸化カリウム0.189g
(4.71mol )を入れ、磁気撹拌を開始した。滴下ロ
ートに上述のポリメチル(ヒドロ)シラザン5.00g
および乾燥テトラヒドロフラン50mlを入れ、これを水
酸化カリウムに滴下した。室温で1時間反応させた後、
滴下ロートにヨウ化メタン1.60g(11.3mmo
l)、および乾燥テトラヒドロフラン1mlを入れ、これ
を反応溶液に滴下した。室温で3時間反応させた後、反
応混合物の溶媒を減圧除去し、乾燥n−ヘキサン40ml
を加えて遠心分離し、濾過した。濾液の溶媒を減圧除去
すると、ポリメチル(ヒドロ)シラザンが白色粉末とし
て4.85g得られた。生成物の数平均分子量は106
0であった。IR(赤外吸収)スペクトル(溶媒:乾燥
o−キシレン;ポリメチル(ヒドロ)シラザンの濃度:
43.2g/l)は、波数(cm-1)3380、および1
160のN−Hに基づく吸収:2120のSi−Hに基
づく吸収:1255のSi−CH3 に基づく吸収を示し
た。IRスペクトルを図5に示す。
に溶解し(20wt%)、これを直径4インチ、厚さ0.
5mmのシリコンウェハー上にスピンコーターを用いて塗
布し(1000rpm 、20秒)、室温で乾燥させた(3
0分)。この時のIRスペクトルは図4のペルヒドロポ
リシラザンのIRスペクトルと同等であった。続いて、
このペルヒドロポリシラザンを塗布したシリコン板を9
0℃に加熱した純水に浸漬し3h保持した。
脱落した。実施例5 参考例1で合成したペルヒドロポリシラザンをキシレン
に溶解し(20wt%)、これを直径4インチ、厚さ0.
5mmのシリコンウェハー上にスピンコーターを用いて塗
布し(1000rpm 、20秒)、室温で乾燥させた(3
0分)。この時のIRスペクトルは図4のペルヒドロポ
リシラザンのIRスペクトルと同等であった。続いて、
塩化パラジウム(小宗化学薬品社製)0.050gを1
750gの純水にスターラーで撹拌しながら溶解させて
ホットプレートを用いて90℃に加熱した。ペルヒドロ
ポリシラザンを塗布したシリコン板をこの塩化パラジウ
ム水溶液に浸漬し3h保持した。
し、同時に表面に黒色の金属パラジウムが析出した。浸
漬後のIRスペクトルを測定した結果を図6に示す。波
数(cm -1)3700〜3300のO−Hに基づく吸収:
1160,450のSi−Oに基づく吸収が確認され
た。実施例6 参考例2で合成したポリメチル(ヒドロ)シラザンをキ
シレンに溶解し(20wt%)、これを直径4インチ、厚
さ0.5mmのシリコンウェハー上にスピンコーターを用
いて塗布し(1000rpm 、20秒)、室温で乾燥させ
た(30分)。この時のIRスペクトルは図2のポリメ
チル(ヒドロ)シラザンのIRスペクトルと同等であっ
た。続いて、塩化パラジウム(小宗化学薬品社製)0.
050gを1750gの純水にスターラーで撹拌しなが
ら溶解させてホットプレートを用いて90℃に加熱し
た。ペルヒドロポリシラザンを塗布したシリコン板をこ
の塩化パラジウム水溶液に浸漬し3h保持した。
し、同時に表面に黒色の金属パラジウムが析出した。浸
漬後のIRスペクトルを測定した結果を図7に示す。波
数(cm -1)3700〜3300のO−Hに基づく吸収:
1160,450のSi−Oに基づく吸収:1255の
Si−CH3 に基づく吸収が確認された。実施例7 参考例1で合成したペルヒドロポリシラザンをキシレン
に溶解し(20wt%)、これを直径4インチ、厚さ0.
5mmのシリコンウェハー上にスピンコーターを用いて塗
布し(1000rpm 、20秒)、室温で乾燥させた(3
0分)。この時のIRスペクトルは図4のペルヒドロポ
リシラザンのIRスペクトルと同等であった。続いて、
酢酸パラジウム(小宗化学薬品社製)0.063gを1
750gの純水にスターラーで撹拌しながら溶解させて
ホットプレートを用いて90℃に加熱した。ペルヒドロ
ポリシラザンを塗布したシリコン板をこの酢酸パラジウ
ム水溶液に浸漬し3h保持した。
し、同時に表面に黒色の金属パラジウムが析出した。浸
漬後のIRスペクトルを測定した結果を図8に示す。波
数(cm -1)3700〜3300のO−Hに基づく吸収:
1160,450のSi−Oに基づく吸収が確認され
た。実施例8 参考例1で合成したペルヒドロポリシラザンをキシレン
に溶解し(20wt%)、これを直径4インチ、厚さ0.
5mmのシリコンウェハー上にスピンコーターを用いて塗
布し(1000rpm 、20秒)、室温で乾燥させた(3
0分)。この時のIRスペクトルは図4のペルヒドロポ
リシラザンのIRスペクトルと同等であった。続いて、
金属パラジウム(小宗化学薬品社製)0.035gと1
N塩酸10mlを1750gの純水にスターラーで撹拌し
ながら添加してホットプレートを用いて90℃に加熱し
た。ペルヒドロポリシラザンを塗布したシリコン板を上
記の水溶液に浸漬し3h保持した。
し、同時に表面に黒色の金属パラジウムが析出した。浸
漬後のIRスペクトルを測定した。波数(cm-1)370
0〜3300のO−Hに基づく吸収:1160,450
のSi−Oに基づく吸収が確認された。実施例9 参考例1で合成したペルヒドロポリシラザンをキシレン
に溶解し(20wt%)、これを直径4インチ、厚さ0.
5mmのシリコンウェハー上にスピンコーターを用いて塗
布し(1000rpm 、20秒)、室温で乾燥させた(3
0分)。この時のIRスペクトルは図4のペルヒドロポ
リシラザンのIRスペクトルと同等であった。続いて、
塩化パラジウム(小宗化学薬品社製)0.050gを1
750gの純水にスターラーで撹拌しながら溶解させ
た。ペルヒドロポリシラザンを塗布したシリコン板を9
0℃に加熱したホットプレートに乗せ、上記の塩化パラ
ジウム水溶液を噴霧器を用いてシリコン板上に噴霧し
た。この操作を3h連続して行ったところ、シリコン板
上のポリマーは硬化し、同時に表面に黒色の金属パラジ
ウムが析出した。
(cm-1)3700〜3300のO−Hに基づく吸収:1
160,450のSi−Oに基づく吸収が確認された。実施例10 参考例1で合成したペルヒドロポリシラザンを直径0.
10mmの円形のノズルから押し出しながら巻き取り機で
巻き取ることにより直径0.015mmの繊維状のペルヒ
ドロポリシラザンを得た。塩化パラジウム(小宗化学薬
品社製)0.050gを1750gの純水にスターラー
で撹拌しながら溶解させてホットプレートを用いて90
℃に加熱した。繊維状のペルヒドロポリシラザンをこの
塩化パラジウム水溶液に浸漬し3h保持した。
面に黒色の金属パラジウムが析出した。浸漬後のIRス
ペクトルを測定したところ、波数(cm-1)3700〜3
300のO−Hに基づく吸収:1160,450のSi
−Oに基づく吸収が確認された。
は100℃以下の低温で緻密なセラミックス、特にセラ
ミックコーティング膜を形成する方法が提供される。従
って、焼成設備は安価なものにすることができる。さら
に、焼成温度のゆえに従来適用できなかった基材(プラ
スチック、電子部品など)へのセラミックコーティング
も可能になる。
前のIRチャートである。
硬化後のIRチャートである。
気加熱後のIRチャートである。
ートである。
ートである。
トである。
トである。
トである。
Claims (3)
- 【請求項1】 主として、一般式(I): 【化1】 (但し、R1 ,R2 ,R3 はそれぞれ独立に水素原子、
アルキル基、アルケニル基、シクロアルキル基、アリー
ル基、またはこれらの基以外でケイ素に直結する基が炭
素である基、アルキルシリル基、アルキルアミノ基、ア
ルコキシ基を表わす。ただし、R1 ,R2 ,R3 の少な
くとも1つは水素原子である。)で表わされる単位から
なる主骨格を有する数平均分子量が100〜5万のポリ
シラザンまたはこれらのポリシラザンを変成したものを
室温乾燥または熱処理した後、水蒸気雰囲気にさらす、
または触媒を含有した蒸留水中に浸す、またはこれらの
両方を行うことを特徴とする、セラミックスの形成方
法。 - 【請求項2】 前記熱処理を150℃以下の温度で行な
う請求項1記載の方法。 - 【請求項3】 主として、一般式(I): 【化2】 (但し、R1 ,R2 ,R3 はそれぞれ独立に水素原子、
アルキル基、アルケニル基、シクロアルキル基、アリー
ル基、またはこれらの基以外でケイ素に直結する基が炭
素である基、アルキルシリル基、アルキルアミノ基、ア
ルコキシ基を表わす。ただし、R1 ,R2 ,R3 の少な
くとも1つは水素原子である。)で表わされる単位から
なる主骨格を有する数平均分子量が100〜5万のポリ
シラザンをPd2+イオンと水に接触させることを特徴と
するセラミックスの形成方法。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31342594A JP3666915B2 (ja) | 1993-12-17 | 1994-12-16 | セラミックスの低温形成方法 |
US08/543,157 US5747623A (en) | 1994-10-14 | 1995-10-13 | Method and composition for forming ceramics and article coated with the ceramics |
US09/005,925 US6083860A (en) | 1994-10-14 | 1998-01-12 | Method and composition for forming ceramics and article coated with the ceramics |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5-318188 | 1993-12-17 | ||
JP31818893 | 1993-12-17 | ||
JP31342594A JP3666915B2 (ja) | 1993-12-17 | 1994-12-16 | セラミックスの低温形成方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07223867A true JPH07223867A (ja) | 1995-08-22 |
JP3666915B2 JP3666915B2 (ja) | 2005-06-29 |
Family
ID=26567553
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP31342594A Expired - Lifetime JP3666915B2 (ja) | 1993-12-17 | 1994-12-16 | セラミックスの低温形成方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3666915B2 (ja) |
Cited By (38)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0827425A (ja) * | 1994-07-20 | 1996-01-30 | Tonen Corp | コーティング用組成物、セラミックス被膜及び被膜の製法 |
JPH09157544A (ja) * | 1995-12-05 | 1997-06-17 | Tonen Corp | シリカ系被膜付き基材の製造方法及び本方法で製造されたシリカ系被膜付き基材 |
JPH09183663A (ja) * | 1995-10-30 | 1997-07-15 | Tonen Corp | プラスチックフィルムにSiO2系セラミックスを被覆する方法 |
JPH09183949A (ja) * | 1995-12-28 | 1997-07-15 | Tonen Corp | ハードコート膜を被覆した物品及びハードコート膜の被覆方法 |
JPH09239992A (ja) * | 1996-03-12 | 1997-09-16 | Canon Inc | 液体噴射記録ヘッド、その製造方法、及び該ヘッドを有する液体噴射記録装置 |
JPH10194826A (ja) * | 1996-12-27 | 1998-07-28 | Tonen Corp | 低誘電率セラミックス材料及びその製造方法 |
JPH10194719A (ja) * | 1996-12-28 | 1998-07-28 | Tonen Corp | 低誘電率シリカ質膜の形成方法及び同シリカ質膜 |
JPH10279362A (ja) * | 1997-03-31 | 1998-10-20 | Tonen Corp | SiO2系セラミックス膜の形成方法 |
JPH11105186A (ja) * | 1997-09-30 | 1999-04-20 | Tonen Corp | 低誘電率シリカ質膜 |
US5922411A (en) * | 1995-07-13 | 1999-07-13 | Tonen Corporation | Composition for forming ceramic material and process for producing ceramic material |
US5935715A (en) * | 1996-03-29 | 1999-08-10 | Nitto Shoji, Ltd. | Draft roller for fibers and preparation thereof |
JP2000017619A (ja) * | 1998-06-30 | 2000-01-18 | Sekisui Jushi Co Ltd | 自浄式透光性遮音壁 |
JP2001089126A (ja) * | 1999-09-21 | 2001-04-03 | Gunze Ltd | 厚膜二酸化ケイ素の被覆方法 |
JP2002282770A (ja) * | 2001-03-26 | 2002-10-02 | Soft 99 Corp | 防汚性被膜形成具及び防汚性被膜形成方法 |
JP2005045230A (ja) * | 2003-07-21 | 2005-02-17 | Samsung Electronics Co Ltd | スピンオンガラスによるシリコン酸化膜の形成方法 |
JP2005247587A (ja) * | 2004-03-01 | 2005-09-15 | Central Glass Co Ltd | ガラス基材の曲げ強度の向上方法 |
JP2006110476A (ja) * | 2004-10-15 | 2006-04-27 | Nippon Soda Co Ltd | 有機薄膜形成方法 |
WO2006064584A1 (ja) * | 2004-12-13 | 2006-06-22 | Hiromasa Murase | メチルシラザン系重合体乃至オリゴマーを原料とした塗膜、及び塗膜の製造方法 |
WO2007135869A1 (ja) * | 2006-05-18 | 2007-11-29 | Think Laboratory Co., Ltd. | 硬質被膜形成方法及びグラビア製版ロールの製造方法 |
KR100884183B1 (ko) * | 2006-08-04 | 2009-02-17 | 주식회사 엘지화학 | 표면경도 및 가스 배리어성이 우수한 다층 플라스틱 기판및 그 제조방법 |
JPWO2007018144A1 (ja) * | 2005-08-10 | 2009-02-19 | 株式会社シンク・ラボラトリー | ドクターブレード |
KR100884888B1 (ko) * | 2006-08-03 | 2009-02-23 | 주식회사 엘지화학 | 다층 플라스틱 기판 및 그 제조 방법 |
KR100887869B1 (ko) * | 2006-08-03 | 2009-03-06 | 주식회사 엘지화학 | 내화학성이 향상된 다층 플라스틱 기판 및 그 제조 방법 |
US7785948B2 (en) | 2004-08-20 | 2010-08-31 | National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology | Semiconductor element and process for producing the same |
JP2010221152A (ja) * | 2009-03-24 | 2010-10-07 | Toshiba Corp | 塗布型膜の形成方法 |
JP2012250181A (ja) * | 2011-06-03 | 2012-12-20 | Konica Minolta Holdings Inc | バリアーフィルムの製造方法及び電子機器 |
JP2013119567A (ja) * | 2011-12-06 | 2013-06-17 | Lintec Corp | ガスバリアフィルム用中間層形成用組成物、ガスバリアフィルム及びその製造方法、並びに電子部材又は光学部材 |
JPWO2011158925A1 (ja) * | 2010-06-18 | 2013-08-19 | Jnc株式会社 | 流体分離用複合多孔質膜、その製造方法及びフィルター |
KR20140020007A (ko) * | 2012-08-07 | 2014-02-18 | 엘지디스플레이 주식회사 | 유기전계발광표시장치 및 그 제조방법 |
JP2014034604A (ja) * | 2012-08-08 | 2014-02-24 | Daido Electronics Co Ltd | 磁石用コーティング液 |
US8940380B2 (en) | 2009-10-05 | 2015-01-27 | Adeka Corporation | Coating liquid for forming insulation film, insulation film using the same, and method for producing compound used in the same |
WO2015099084A1 (ja) * | 2013-12-26 | 2015-07-02 | 信越石英株式会社 | 波長変換用石英ガラス部材及びその製造方法 |
JP2015143324A (ja) * | 2013-12-26 | 2015-08-06 | 信越石英株式会社 | 波長変換用石英ガラス部材及びその製造方法 |
JP2016034890A (ja) * | 2014-08-01 | 2016-03-17 | 信越石英株式会社 | 波長変換用石英ガラス部材及びその製造方法 |
JP2016034891A (ja) * | 2014-08-01 | 2016-03-17 | 信越石英株式会社 | 波長変換用石英ガラス部材及びその製造方法 |
KR20170066309A (ko) * | 2014-07-29 | 2017-06-14 | 에이제트 일렉트로닉 머티어리얼스 (룩셈부르크) 에스.에이.알.엘. | 광전자 부품의 코팅 수단으로 사용하기 위한 하이브리드 재료 |
CN107690422A (zh) * | 2015-04-13 | 2018-02-13 | 皮尔金顿集团有限公司 | 涂覆窗玻璃 |
US10316216B2 (en) | 2016-08-31 | 2019-06-11 | Samsung Sdi Co., Ltd. | Composition for forming silica layer, and silica layer |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6394171B2 (ja) | 2013-10-30 | 2018-09-26 | 株式会社リコー | 電界効果型トランジスタ、表示素子、画像表示装置、及びシステム |
-
1994
- 1994-12-16 JP JP31342594A patent/JP3666915B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (42)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0827425A (ja) * | 1994-07-20 | 1996-01-30 | Tonen Corp | コーティング用組成物、セラミックス被膜及び被膜の製法 |
US5922411A (en) * | 1995-07-13 | 1999-07-13 | Tonen Corporation | Composition for forming ceramic material and process for producing ceramic material |
JPH09183663A (ja) * | 1995-10-30 | 1997-07-15 | Tonen Corp | プラスチックフィルムにSiO2系セラミックスを被覆する方法 |
JPH09157544A (ja) * | 1995-12-05 | 1997-06-17 | Tonen Corp | シリカ系被膜付き基材の製造方法及び本方法で製造されたシリカ系被膜付き基材 |
JPH09183949A (ja) * | 1995-12-28 | 1997-07-15 | Tonen Corp | ハードコート膜を被覆した物品及びハードコート膜の被覆方法 |
JPH09239992A (ja) * | 1996-03-12 | 1997-09-16 | Canon Inc | 液体噴射記録ヘッド、その製造方法、及び該ヘッドを有する液体噴射記録装置 |
US5935715A (en) * | 1996-03-29 | 1999-08-10 | Nitto Shoji, Ltd. | Draft roller for fibers and preparation thereof |
JPH10194826A (ja) * | 1996-12-27 | 1998-07-28 | Tonen Corp | 低誘電率セラミックス材料及びその製造方法 |
JPH10194719A (ja) * | 1996-12-28 | 1998-07-28 | Tonen Corp | 低誘電率シリカ質膜の形成方法及び同シリカ質膜 |
JPH10279362A (ja) * | 1997-03-31 | 1998-10-20 | Tonen Corp | SiO2系セラミックス膜の形成方法 |
JPH11105186A (ja) * | 1997-09-30 | 1999-04-20 | Tonen Corp | 低誘電率シリカ質膜 |
JP2000017619A (ja) * | 1998-06-30 | 2000-01-18 | Sekisui Jushi Co Ltd | 自浄式透光性遮音壁 |
JP2001089126A (ja) * | 1999-09-21 | 2001-04-03 | Gunze Ltd | 厚膜二酸化ケイ素の被覆方法 |
JP2002282770A (ja) * | 2001-03-26 | 2002-10-02 | Soft 99 Corp | 防汚性被膜形成具及び防汚性被膜形成方法 |
JP2005045230A (ja) * | 2003-07-21 | 2005-02-17 | Samsung Electronics Co Ltd | スピンオンガラスによるシリコン酸化膜の形成方法 |
JP2005247587A (ja) * | 2004-03-01 | 2005-09-15 | Central Glass Co Ltd | ガラス基材の曲げ強度の向上方法 |
US7785948B2 (en) | 2004-08-20 | 2010-08-31 | National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology | Semiconductor element and process for producing the same |
JP2006110476A (ja) * | 2004-10-15 | 2006-04-27 | Nippon Soda Co Ltd | 有機薄膜形成方法 |
WO2006064584A1 (ja) * | 2004-12-13 | 2006-06-22 | Hiromasa Murase | メチルシラザン系重合体乃至オリゴマーを原料とした塗膜、及び塗膜の製造方法 |
JPWO2007018144A1 (ja) * | 2005-08-10 | 2009-02-19 | 株式会社シンク・ラボラトリー | ドクターブレード |
WO2007135869A1 (ja) * | 2006-05-18 | 2007-11-29 | Think Laboratory Co., Ltd. | 硬質被膜形成方法及びグラビア製版ロールの製造方法 |
JP4968856B2 (ja) * | 2006-05-18 | 2012-07-04 | 株式会社シンク・ラボラトリー | 硬質被膜形成方法及びグラビア製版ロールの製造方法 |
KR100884888B1 (ko) * | 2006-08-03 | 2009-02-23 | 주식회사 엘지화학 | 다층 플라스틱 기판 및 그 제조 방법 |
KR100887869B1 (ko) * | 2006-08-03 | 2009-03-06 | 주식회사 엘지화학 | 내화학성이 향상된 다층 플라스틱 기판 및 그 제조 방법 |
KR100884183B1 (ko) * | 2006-08-04 | 2009-02-17 | 주식회사 엘지화학 | 표면경도 및 가스 배리어성이 우수한 다층 플라스틱 기판및 그 제조방법 |
JP2010221152A (ja) * | 2009-03-24 | 2010-10-07 | Toshiba Corp | 塗布型膜の形成方法 |
US8940380B2 (en) | 2009-10-05 | 2015-01-27 | Adeka Corporation | Coating liquid for forming insulation film, insulation film using the same, and method for producing compound used in the same |
JP5772822B2 (ja) * | 2010-06-18 | 2015-09-02 | Jnc株式会社 | 流体分離用複合多孔質膜、その製造方法及びフィルター |
JPWO2011158925A1 (ja) * | 2010-06-18 | 2013-08-19 | Jnc株式会社 | 流体分離用複合多孔質膜、その製造方法及びフィルター |
JP2012250181A (ja) * | 2011-06-03 | 2012-12-20 | Konica Minolta Holdings Inc | バリアーフィルムの製造方法及び電子機器 |
JP2013119567A (ja) * | 2011-12-06 | 2013-06-17 | Lintec Corp | ガスバリアフィルム用中間層形成用組成物、ガスバリアフィルム及びその製造方法、並びに電子部材又は光学部材 |
KR20140020007A (ko) * | 2012-08-07 | 2014-02-18 | 엘지디스플레이 주식회사 | 유기전계발광표시장치 및 그 제조방법 |
JP2014034604A (ja) * | 2012-08-08 | 2014-02-24 | Daido Electronics Co Ltd | 磁石用コーティング液 |
JP2015143324A (ja) * | 2013-12-26 | 2015-08-06 | 信越石英株式会社 | 波長変換用石英ガラス部材及びその製造方法 |
WO2015099084A1 (ja) * | 2013-12-26 | 2015-07-02 | 信越石英株式会社 | 波長変換用石英ガラス部材及びその製造方法 |
KR20170066309A (ko) * | 2014-07-29 | 2017-06-14 | 에이제트 일렉트로닉 머티어리얼스 (룩셈부르크) 에스.에이.알.엘. | 광전자 부품의 코팅 수단으로 사용하기 위한 하이브리드 재료 |
JP2017524158A (ja) * | 2014-07-29 | 2017-08-24 | エイ・ゼット・エレクトロニック・マテリアルズ(ルクセンブルク)エス・ア・エール・エル | オプトエレクトロニクス部品のコーティング手段として使用するためのハイブリッド材料 |
US10385234B2 (en) | 2014-07-29 | 2019-08-20 | AZ Electronics Materials (LUXEMBOURG) S.Á.R.L. | Hybrid material for use as coating means in optoelectronic components |
JP2016034890A (ja) * | 2014-08-01 | 2016-03-17 | 信越石英株式会社 | 波長変換用石英ガラス部材及びその製造方法 |
JP2016034891A (ja) * | 2014-08-01 | 2016-03-17 | 信越石英株式会社 | 波長変換用石英ガラス部材及びその製造方法 |
CN107690422A (zh) * | 2015-04-13 | 2018-02-13 | 皮尔金顿集团有限公司 | 涂覆窗玻璃 |
US10316216B2 (en) | 2016-08-31 | 2019-06-11 | Samsung Sdi Co., Ltd. | Composition for forming silica layer, and silica layer |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3666915B2 (ja) | 2005-06-29 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3666915B2 (ja) | セラミックスの低温形成方法 | |
US6083860A (en) | Method and composition for forming ceramics and article coated with the ceramics | |
JP3307471B2 (ja) | セラミックコーティング用組成物及びコーティング方法 | |
JP4070828B2 (ja) | シリカ質セラミックス形成用組成物、同セラミックスの形成方法及び同セラミックス膜 | |
JP3385060B2 (ja) | 珪素−窒素−酸素−(炭素)−金属系セラミックス被覆膜の形成方法 | |
TW589356B (en) | Composition for forming ceramic material and process for producing ceramic material | |
JP3212400B2 (ja) | セラミックコーティング用組成物及びコーティング方法 | |
WO2002019410A1 (fr) | Film siliceux poreux pourvu d'une faible permittivite, dispositifs semi-conducteurs et composition de revetement | |
JP5010098B2 (ja) | 分子多面体型シルセスキオキサンを用いた半導体層間絶縁膜の形成方法 | |
JPH04153283A (ja) | 耐熱性絶縁塗料 | |
JP3919862B2 (ja) | 低誘電率シリカ質膜の形成方法及び同シリカ質膜 | |
JP3696311B2 (ja) | ポリシラザン組成物、ポリシラザン溶液の調製方法、該組成物を用いたコーティング用組成物及び該コーティング用組成物を用いて得られるセラミックス被膜付プラスチック | |
JPH09157544A (ja) | シリカ系被膜付き基材の製造方法及び本方法で製造されたシリカ系被膜付き基材 | |
JP3015104B2 (ja) | 半導体装置およびその製造方法 | |
JPH0832855B2 (ja) | セラミック塗料及びその塗膜形成方法 | |
JPH06140657A (ja) | 太陽電池 | |
JP2801660B2 (ja) | シリカ系被膜形成用塗布液の製造方法 | |
JP4101322B2 (ja) | 低誘電率セラミックス材料及びその製造方法 | |
JP3939408B2 (ja) | 低誘電率シリカ質膜 | |
JPH09157594A (ja) | ポリシラザン塗布液 | |
JP4363820B2 (ja) | ポリシラザン塗膜のシリカ質への転化促進方法 | |
JP3442160B2 (ja) | SiO2 系セラミック被膜の形成方法 | |
JP3993330B2 (ja) | SiO2系セラミックス膜の形成方法 | |
JPH1098036A (ja) | シリカ質パターンの形成方法 | |
JP4302782B2 (ja) | 紫外線防止透明板の製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040525 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20040610 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20040810 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20040915 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20041122 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20041221 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20041221 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20050202 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20050308 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20050405 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090415 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090415 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100415 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110415 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120415 Year of fee payment: 7 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313115 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120415 Year of fee payment: 7 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130415 Year of fee payment: 8 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130415 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140415 Year of fee payment: 9 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |