JPH07193263A - 太陽電池の製造方法 - Google Patents
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Abstract
のBSF層の形成を1つの工程で行なう。 【構成】 受光面側にPN接合が形成されたシリコン基
板6の裏面へ、絶縁膜を形成し、この絶縁膜に複数の開
口部を形成し、この開口部を含む裏面全面にAlペース
トを印刷し焼成することにより、シリコン基板6の裏面
に微細な凹凸構造と凹凸壁面に沿ったBSF層11を同
時に低温で形成する。
Description
特に、その光閉込め構造と半導体基板裏面の高濃度層の
形成方法に係わるものである。
術として、基板の光閉込め構造の形成および裏面電界層
(BSF層)の形成が挙げられる。
ついて説明する。たとえば、結晶シリコン太陽電池にお
いて、高効率化を考えたときセル表面に入射する光を有
効利用することが重要である。このため、太陽電池表面
に反射防止膜を形成したり、微細なピラミッドあるいは
溝を形成して反射を減らしたり、裏面にも微細なピラミ
ッドあるいは溝を形成して裏面に到達した光を斜めに基
板内部に反射させたり、あるいは高反射率金属を裏面電
極に用いて基板内に反射する光を増加させるようにす
る、などのいわゆる光閉込めが行なわれている。
うに、表面および裏面の構造としては、たとえばシリコ
ン基板20の表面の多数の溝21に直交する裏面の溝2
2を多数形成する構造が理論的に最もよいといわれてい
る。
は、単結晶基板ではSiO2 膜をマスクとして用いたア
ルカリ水溶液による異方性エッチング加工法や、ダイサ
ーなどによる機械的加工法が、多結晶基板ではダイサー
などによる機械的加工法が提案されている。
層は、基板の裏面近傍で発生したキャリアを高電界によ
り受光面の接合層側へ押し戻し、裏面でのキャリアの再
結合による損失を防ぐものである。
ボロンを不純物として1000℃程度の高温で裏面に熱
拡散する方法、あるいはAlペーストを裏面に印刷した
後、740℃程度の熱処理によりアロイ化する方法を用
いて、基板と同じ導電型を有し、かつ基板より高濃度な
不純物を含むP+ 層を形成している。
太陽電池は、前述のような技術を導入している。
とBSF層の形成という工程は本質的に別のものであ
り、現状の太陽電池の製造方法においては、それぞれ独
立した工程で形成しなければならない。
F層を形成する場合、ボロン拡散法では、受光面側にボ
ロンの拡散を防止するための拡散マスクとなる十分な厚
みを持ったSiO2 膜を形成する必要があること、また
拡散温度も1000℃程度の高温となりライフタイムな
どの基板特性の低下を招きセル特性を低下させるといっ
た問題がある。Alアロイ法では、740℃程度の低温
でBSF層を形成できるが、溝の上からペーストを印刷
し焼成した場合、溝の凹凸形状がアロイ化により変形し
適用できないという問題がある。
造の形成と低温でのBSF層の形成を1つの工程で行な
う方法を提供することにある。
方法においては、半導体基板の受光面側にPN接合を形
成し、その裏面にSiN絶縁膜あるいはTiO2 絶縁膜
のような絶縁膜を形成し、この絶縁膜に複数の開口部を
形成し、この開口部を含む裏面全面にたとえばAlペー
ストを印刷し、焼成することにより、半導体基板裏面に
微細な凹凸構造と凹凸壁面に沿ったBSF層を同時に低
温で形成する。
トを印刷し740℃で焼成した後、基板を斜め研磨しA
lの拡散状況を拡がり抵抗法で測定した結果のグラフで
ある。これより、基板表面から約7μmの深さのところ
までAl/Siのアロイ層が形成され、その下にAlが
濃度勾配を持って分布している拡散層があることがわか
る。これは通常の太陽電池のBSF層形成時に起こって
いる反応である。次に、Al/Siアロイ層の機能につ
いて調べるため、同一セルを用いアロイ層の除去前後の
分光感度特性を比較した。アロイ層除去後の面にはAl
を蒸着した。その結果、図4に示すように両者の特性は
ほぼ一致しており、BSF効果はAlの拡散層によるも
のであり、アロイ層は電極として働いていることがわか
る。
基板6の裏面をSiN膜1で覆い開口部2,2…を設け
た後、Alペーストを印刷・焼成した場合の各工程の断
面図である。(a)はSiN膜1に20μm幅の開口部
2を120μm間隔で設けた後、Alペースト3を印刷
した状態,(b)は740℃で焼成した状態,(c)は
Al/Siアロイ層を除去した後の断面を示している。
これより、開口部からのアロイ化は等方的に進行してお
り、幅が約120μmで、深さが約60μmの窪み4が
形成され、この窪み4の壁面に沿ってBSF層5が形成
されることがわかる。
iN膜上の開口部パターンをライン状とすることで、図
2のような微細グルーブ構造とすることができる。
コン基板6の裏面が平らな構造とグルーブが形成されて
いる構造の場合に、入射光が裏面でどのように反射され
るかを示す断面図である。反射された光は平らな場合よ
りもグルーブ構造の場合のほうが基板内をより長い距離
進むのでそれだけ多く光電変換に寄与する。すなわち光
を閉込める働きが向上する。
成は740℃で行なわれるから、基板の光閉込め構造の
形成と、BSF層の形成が低温で同時に行なわれている
ことがわかる。
リコン基板いずれにも応用できる。
は多結晶シリコン基板を用い、本発明の方法により形成
した太陽電池の一例の斜視図である。シリコン基板6は
100mm角,250μm厚のP型キャスト多結晶シリ
コン基板であり、まず受光面側の溝加工を行なった。ダ
イサーにより、25μm厚のブレードを用い、深さ70
μmの溝14,14…を70μmのピッチで形成した。
この後、弗酸(HF)と硝酸(HNO3 )の混合液によ
るエッチング、および水酸化ナトリウム(NaOH)と
イソプロピルアルコール(IPA)を含む水溶液による
エッチングを行ない、基板表面のダメージ層を除去し
た。これにより受光面は微細な溝を多数持つ低反射な表
面構造となる。
熱拡散(850℃)を行ない、受光面にN+ 層7を形成
した後、熱酸化法(800℃)によりパッシベーション
層となる薄い(厚さ約15nm)SiO2 膜8を形成し
た。続いてチタン酸イソプロピールを原料とした常圧C
VD法により反射防止膜となるTiO2 膜9(厚さ約5
5mm)を形成した。
と硝酸の混合液でエッチング除去し、裏面に原料ガスと
してSiH4 ,NH3 ,N2 を用いたプラズマCVD法
によりSiN膜(厚さ200〜250nm)を形成した
後、この膜を幅20μm、ピッチ130μmのライン状
に開口処理した。このラインの方向は、前記受光面側に
形成した溝14と直交する方向とした。なお、SiN膜
の形成には以下の条件を用いた。原料ガスとして、Si
H4 、NH3 、N2 の流量をそれぞれ10sccm、15
sccm、50sccmとして、基板温度を350℃、圧力を
0.75Torr、RFパワーを100Wとして形成し
た。
ーン印刷し、N2 /O2 雰囲気中で740℃で焼成し
た。これにより、裏面の溝10、BSF層11、裏面電
極12が同時に形成される。
を表面にスクリーン印刷し、N2 /O2 雰囲気中で58
0℃で焼成した後、はんだコートを行ない太陽電池を完
成する。
時のような1000℃といった高温は使用せず、それに
よるライフタイムなどの低下はない。
溝を形成した光閉込め構造と、形成しない構造において
表面から光を入射したときの反射率を示すグラフであ
る。本実施例による裏面に微細な溝を形成した光閉込め
構造は、形成しない構造に比べて、長波長側で反射率が
低く、裏面に到達した長波長光を基板内部に閉込める効
果があることがわかる。この結果、図7(b)に示すよ
うにセルの長波長領域での分光感度は向上し、短絡電流
が増加する。
単結晶シリコン基板(100mm角,250μm厚)を
用いて、第1の実施例と同様な方法により、微細な溝を
多数持つ低反射な表面構造の受光面を得る。
+ 層およびSiO2 膜を形成し、続いてプラズマCVD
法により反射防止膜となるSiN膜(厚さ約85nm)
を形成した。
の実施例と同様にして除去し、裏面にチタン酸イソプロ
ピールを原料とした常圧CVD法により、580℃でT
iO 2 膜(厚さ約55nm)を形成した後、この膜を第
1の実施例と同様にライン状に開口処理した。このライ
ンの方向は、前記受光面側に形成した溝と直交する方向
である。
ーン印刷し、第1の実施例と同様に焼成すると、裏面の
溝構造、BSF層、裏面電極が同時に形成される。
して形成する。次に、裏面のAl/Siアロイ層を塩酸
で除去し、その後にできた凹凸面に、めっき法により銅
の薄膜を形成して裏面電極とし太陽電池を完成した。
な溝を形成し、アロイ層を除去して銅の薄膜を形成した
セルとアロイ層をそのまま電極としたセルの分光感度を
示すグラフである。本実施例による銅の薄膜を形成した
セルは、アロイ層をそのまま電極としたセルに比べ、長
波長領域での分光感度が高く、銅のような反射率の高い
金属を電極とすることによって、さらに光閉込め効果が
向上することがわかる。
いたが、他に、高反射金属として金,銀なども使用可能
であり、薄膜形成方法についても、めっき法の他に蒸着
法がある。また、アロイ層の除去には塩酸以外にも王
水、弗酸などを使うことができる。
面溝構造がBSF層と同時に低温で形成されるため、セ
ルの特性が向上し、また、セルの製造工程が簡略化され
るので製造コストの低減にも効果がある。
である。
濃度分布を示すグラフである。
Alを蒸着したセルとの分光感度を示すグラフである。
ための各工程の断面図である。
合と溝を形成した場合との入射光の反射状態を示す図で
ある。
違いを示すグラフであり、(b)は裏面の微細な溝の有
無による分光感度の違いを示すグラフである。
銅薄膜を形成したセルとの分光感度を示すグラフであ
る。
Claims (1)
- 【請求項1】 半導体基板にPN接合を形成する工程
と、 前記基板裏面に絶縁膜を形成する工程と、 前記絶縁膜に開口部を形成する工程と、 前記開口部を含む絶縁膜上に、半導体基板中に拡散した
とき半導体基板と同じ導電型の高濃度層を形成する性質
を有する金属を含む導電性ペーストを印刷する工程と、 前記ペーストを熱処理し開口部周辺に拡散した金属によ
り半導体基板と同じ導電型の微細な凹凸壁面を有する高
濃度層を形成する工程と、 を有することを特徴とする太陽電池の製造方法。
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