JPH07191102A

JPH07191102A - 検査系列自動生成装置

Info

Publication number: JPH07191102A
Application number: JP5331820A
Authority: JP
Inventors: Kenji Morimoto; 健次森本; Mitsuho Ota; 光保太田
Original assignee: Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Current assignee: Panasonic Holdings Corp
Priority date: 1993-12-27
Filing date: 1993-12-27
Publication date: 1995-07-28

Abstract

(57)【要約】【目的】組合せ回路に対する検査系列自動生成におい
て、系列長の短い検査系列を高速に生成する。【構成】検査系列自動生成部１０１は検査系列を構成
する第１パターンを生成し、この第１パターンを用いて
故障シミュレーションが故障シミュレータ１０２により
実行され、第１パターンとこの第１パターンにより検出
可能な故障との組が検査系列圧縮部１０３に入力され
る。ここで、検査系列圧縮部１０３において、前記第１
パターンが削除されることによって検査系列を圧縮でき
る。また、前記第１パターンが、圧縮された検査系列を
構成する第２パターンとして出力部１０６に出力される
と、第２パターンにより検出可能な故障が検査系列自動
生成部１０１及び故障シミュレータ１０２において対象
とされる故障から削除されることによって、検査系列の
生成時間及び故障シミュレーション時間を短縮できる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、組合せ回路に対する検
査系列を自動的に生成する検査系列自動生成装置に関す
るものである。

【０００２】

【従来の技術】従来の検査系列自動生成方法としては、
組合せ回路中の対象とする故障をランダムに選び、その
故障を検出するための検査系列を生成し、検査系列中の
パターンを用いて組合せ回路中の対象とする故障を検出
できるか否かを故障シミュレーンを行なうことにより調
べ、その後、検査系列の系列長を短縮する即ち検査系列
の圧縮を行なうものが知られている。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記従
来の検査系列自動生成方法では、検査系列の圧縮を後処
理として行なうので、検査系列の故障シミュレーション
は組合せ回路中の全ての故障を対象として処理を行なう
ことになり、故障シミュレーション時間が膨大になると
いう問題点がある。

【０００４】ところで、検査系列自動生成における検査
系列の圧縮処理の一例としては以下のようなものが考慮
される。

【０００５】図２は、検査系列の圧縮処理を行なう検査
系列圧縮部２０３を備えた検査系列自動生成装置の構成
を示すブロック図である。図２において、２０１は、組
合せ回路中の対象とする故障をランダムに選び、その故
障を検出するための検査系列を生成する検査系列自動生
成部であり、２０２は、検査系列中のパターンを入力と
し、そのパターンを用いて組合せ回路中の対象とする故
障を検出できるか否かを調べる故障シミュレータであ
り、２０３は、検査系列圧縮部であり、２０４は、パタ
ーンとこのパターンを用いて検出される検出故障との組
を１組以上格納できるバッファであり、２０５は、圧縮
処理後の検査系列を格納する出力部である。検査系列圧
縮部２０３は、検査系列を入力とし、バッファ２０４に
格納し、検査系列中のパターン毎の検出故障の被覆関係
を調べ、検出故障が全て被覆されるパターンをバッファ
２０４から削除することで検査系列の圧縮を行ない、バ
ッファ２０４が一杯になったら検出故障が最も多いパタ
ーンをバッファ２０４から出力部２０５に出力し、出力
されたパターンの検出故障をバッファ２０４内の検出故
障と以後バッファ２０４に入力される検査系列の検出故
障とから削除する。

【０００６】以上のように構成された検査系列自動生成
装置の動作について説明する。ここでは、バッファ２０
４の大きさを３とし、図３に示す組合せ回路の中の単一
縮退故障を対象として検査系列を生成するものとする。
図３において、１０〜１３は外部入力信号線、２０，２
１は外部出力信号線、３０〜３８は単一縮退故障を仮定
する信号線である。

【０００７】まず、組合せ回路中の対象とする全ての故
障が検出されるまで検査系列自動生成部２０１でパター
ンを生成し、故障シミュレータ２０２で１８個の故障に
ついて処理を行なうと（表１）に示す検査系列を生成す
るものとする。

【０００８】

【表１】

【０００９】（表１）中の検出故障欄における記述で
“／”の左側の数字は信号線、右側の数字はその信号線
の故障を示し、“１”ならば１縮退故障を、“０”なら
ば０縮退故障を示す。

【００１０】次に、時刻１のパターンとこのパターンに
より検出可能な７個の検出故障との組を検査系列圧縮部
２０３に入力し、バッファ２０４に格納する。

【００１１】次に、時刻２のパターンとこのパターンに
より検出可能な４個の検出故障との組を検査系列圧縮部
２０３に入力し、バッファ２０４に格納し、バッファ２
０４内で故障の被覆関係を調べる。しかし、全ての検出
故障が被覆されるパターンは存在しないので次のパター
ンを入力する。

【００１２】次に、時刻３のパターンとこのパターンに
より検出可能な５個の検出故障との組を検査系列圧縮部
２０３に入力し、バッファ２０４に格納し、バッファ２
０４内で故障の被覆関係を調べる。しかし、全ての検出
故障が被覆されるパターンは存在しない。バッファ２０
４が一杯になったので検出故障が最も多い時刻１のパタ
ーンを出力部２０５に出力し、時刻１のパターンの検査
故障をバッファ２０４内のパターンの検出故障と時刻４
以降のパターンの検出故障とから削除する。

【００１３】次に、時刻４のパターンとこのパターンに
より検出可能な３個の検出故障との組を検査系列圧縮部
２０３に入力し、バッファ２０４に格納し、バッファ２
０４内で故障の被覆関係を調べる。しかし、全ての検出
故障が被覆されるパターンは存在しない。バッファ２０
４が一杯になったので検出故障が最も多い時刻３のパタ
ーンを出力部２０５に出力し、時刻３のパターンの検出
故障をバッファ２０４内のパターンの検出故障と時刻５
以降のパターンの検出故障とから削除する。

【００１４】次に、時刻５のパターンとこのパターンに
より検出可能な１個の検出故障との組を検査系列圧縮部
２０３に入力し、バッファ２０４に格納し、バッファ２
０４内で故障の被覆関係を調べる。時刻５のパターンの
検出故障が時刻４のパターンの検出故障に被覆されるの
で時刻５のパターンとその検出故障とをバッファ２０４
から削除する。

【００１５】次に、時刻６のパターンとこのパターンに
より検出可能な２個の検出故障との組を検査系列圧縮部
２０３に入力し、バッファ２０４に格納し、バッファ２
０４内で故障の被覆関係を調べる。しかし、全ての検出
故障が被覆されるパターンは存在しない。バッファ２０
４が一杯になったので検出故障が最も多い時刻２のパタ
ーンを出力部２０５に出力し、時刻２のパターンの検出
故障をバッファ２０４内のパターンの検出故障と時刻７
以降のパターンの検出故障とから削除する。

【００１６】次に、時刻７のパターンとこのパターンに
より検出可能な１個の検出故障との組を検査系列圧縮部
２０３に入力し、バッファ２０４に格納し、バッファ２
０４内で故障の被覆関係を調べる。時刻７のパターンの
検出故障が時刻６のパターンの検出故障に被覆されるの
で時刻７のパターンとその検出故障とをバッファ２０４
から削除する。

【００１７】次に、時刻８のパターンとこのパターンに
より検出可能な１個の検出故障との組を検査系列圧縮部
２０３に入力し、バッファ２０４に格納し、バッファ２
０４内で故障の被覆関係を調べる。時刻８のパターンの
検出故障が時刻４のパターンの検出故障に被覆されるの
で時刻８のパターンとその検出故障とをバッファ２０４
から削除する。

【００１８】次に、時刻９のパターンの検出故障は全て
削除されているので次のパターンを入力する。

【００１９】次に、時刻１０のパターンとこのパターン
により検出可能な２個の検出故障との組を検査系列圧縮
部２０３に入力し、バッファ２０４に格納し、バッファ
２０４内で故障の被覆関係を調べる。時刻４のパターン
の検出故障が時刻１０のパターンの検出故障に被覆され
るので時刻４のパターンとその検出故障とをバッファ２
０４から削除する。

【００２０】以上のように出力部２０５に出力されたパ
ターンとバッファ２０４に残されたパターンとを合わせ
て、（表２）に示す圧縮された検査系列を生成する。

【００２１】

【表２】

【００２２】しかしながら、以上のような検査系列自動
生成装置では、圧縮処理を行なうとき、検出故障が多い
パターン間の故障の被覆関係を調べることになるので検
査系列の圧縮に膨大な時間がかかってしまうという問題
点がある。

【００２３】本発明は、前記に鑑みなされたものであっ
て、系列長の短い検査系列を高速に生成できる検査系列
自動生成装置を提供することを目的とする。

【００２４】

【課題を解決するための手段】前記の目的を達成するた
め、本発明は、検査系列の生成と圧縮とを同時に行なう
ことによって、系列長の短い検査系列を高速に生成する
ものである。

【００２５】具体的に請求項１の発明が講じた解決手段
は、検査系列自動生成装置を対象とし、組合せ回路中の
対象とする故障の存否を調べるための検査系列を構成す
る、前記組合せ回路の外部入力として同時に設定される
値の組である第１パターンを生成するパターン生成手段
と、前記第１パターンを用いて前記組合せ回路中の対象
とする故障を検出できるか否かを調べる故障シミュレー
ションを実行する故障シミュレーション実行手段と、前
記第１パターンと該第１パターンにより検出可能な故障
との組を入力し、前記第１パターンを前記検査系列から
削除するか又は前記第１パターンを圧縮された検査系列
を構成する第２パターンとして出力する検査系列圧縮処
理を実行し、前記第１パターンを前記第２パターンとし
て出力する場合に、当該第２パターンにより検出可能な
故障を、前記故障シミュレーション実行手段により実行
される故障シミュレーションにおいて対象とされる故障
から削除する故障削除処理を実行する検査系列圧縮手段
とを備えている構成とするものである。

【００２６】さらに、請求項２の発明は、具体的には、
請求項１の発明の構成に、前記検査系列圧縮手段は、前
記第１パターンを前記第２パターンとして出力する場合
に、当該第２パターンにより検出可能な故障を、前記故
障シミュレーション実行手段により実行される故障シミ
ュレーションにおいて対象とされる故障から削除すると
共に、当該第２パターンにより検出可能な故障を、前記
パターン生成手段により実行される第１パターンの生成
において対象とされる故障から削除することによって前
記故障削除処理を実行する構成を付加するものである。

【００２７】また、請求項３の発明は、具体的には、請
求項１の発明の構成に、前記検査系列圧縮手段は、前記
第１パターンと該第１パターンにより検出可能な故障と
の組を格納できるバッファと、所定条件が満たされる場
合に前記第１パターンを前記第２パターンとして出力す
る一方、前記所定条件が満たされない場合に前記第１パ
ターンと該第１パターンにより検出可能な故障との組を
前記バッファに格納する第１のステップと、前記バッフ
ァに前記第１パターンと該第１パターンにより検出可能
な故障との組が２組以上格納された場合に、前記バッフ
ァ内の一の第１パターンにより検出可能な故障が前記バ
ッファ内の他の第１パターンにより検出可能な故障に含
まれるという故障の被覆関係が存在するか否かを調べ、
前記バッファ内に、検出可能な故障の全てが被覆される
第１パターンが存在する際に、当該第１パターンと該第
１パターンにより検出可能な故障との組を前記バッファ
から削除する第２のステップと、前記バッファが一杯に
なった場合に、前記バッファ内の第１パターンの中から
一の第１パターンを選択し、該一の第１パターンを前記
第２パターンとして出力する第３のステップとを実行す
ることによって前記検査系列圧縮処理を実行する検査系
列圧縮処理実行手段とを有している構成を付加するもの
である。

【００２８】さらに、請求項４の発明は、具体的には、
請求項３の発明の構成に、前記検査系列圧縮処理実行手
段は、前記第１パターンにより検出可能な故障の個数が
ｎ個以上の場合に（ただし、ｎは前記組合せ回路中の対
象とする全ての故障の個数以下の自然数である）前記第
１パターンを前記第２パターンとして出力する一方、前
記第１パターンにより検出可能な故障の個数がｎ個より
も少ない場合に前記第１パターンと該第１パターンによ
り検出可能な故障との組を前記バッファに格納すること
によって前記第１のステップを実行する構成を付加する
ものである。

【００２９】請求項５の発明は、具体的には、請求項４
の発明の構成に、前記検査系列圧縮処理実行手段は、前
記バッファが一杯になった場合に、前記バッファ内の第
１パターンの中から、検出可能な故障のうちの被覆され
ない故障の個数が最も多い第１パターンを選択し、該第
１パターンを前記第２パターンとして出力することによ
って前記第３のステップを実行する構成を付加するもの
である。

【００３０】

【作用】請求項１の発明の構成により、パターン生成手
段は、検査系列を構成する第１パターンを生成し、第１
パターンを用いて故障シミュレーションが故障シミュレ
ーション実行手段により実行される。その結果、第１パ
ターンにより検出可能な故障が判明する。ここで、第１
パターンを検査系列圧縮手段により検査系列から削除す
ることによって検査系列を圧縮することができる。ま
た、検査系列圧縮手段に入力された第１パターンが、圧
縮された検査系列を構成する第２パターンとして検査系
列圧縮手段から出力されると、検査系列圧縮手段は、第
２パターンにより検出可能な故障を、故障シミュレーシ
ョンにおいて対象とされる故障から削除する。

【００３１】このように、検査系列の生成と圧縮とを同
時に行なうことによって、圧縮された検査系列を構成す
る第２パターンを検査系列の生成中に確定できる。した
がって、第２パターンにより検出可能な故障を故障シミ
ュレーションの対象から削除することによって、シミュ
レーション処理の処理量を低減することができる。この
ため、故障シミュレーション時間を短縮することが可能
である。

【００３２】さらに、請求項２の発明の構成により、第
２パターンにより検出可能な故障を、検査系列を構成す
る第１パターンの生成における対象から削除することに
よって、検査系列の生成処理の処理量を低減することが
できるため、検査系列の生成処理時間を短縮することが
可能である。

【００３３】また、請求項３の発明の構成により、検査
系列圧縮手段において、バッファを用い、バッファに格
納された複数個の第１パターン間の故障の被覆関係を調
べることによって、検査系列の圧縮処理を実現すること
ができる。

【００３４】さらに、請求項４の発明の構成により、検
査系列圧縮手段において、検出可能な故障の個数がｎ個
よりも少ない第１パターンについてのみ故障の被覆関係
を調べる。このため、検査系列の圧縮処理の処理時間を
短縮することができる。

【００３５】請求項５の発明の構成により、検査系列圧
縮手段において、バッファが一杯になった場合に、被覆
されない故障の個数が最も多い第１パターンを、圧縮さ
れた検査系列を構成する第２パターンとして出力する。
被覆されない故障の個数が最も多い第１パターンの検出
故障は、後に、他の第１パターンの検出故障により被覆
される可能性が低いため、第２パターンとして出力する
ことによって検査系列の圧縮効率を向上させることがで
きる。

【００３６】

【実施例】

（実施例１）以下、本発明の実施例１について説明す
る。

【００３７】図１は、実施例１に係る検査系列自動生成
装置の構成を示すブロック図である。図１において、１
０１は、組合せ回路中の対象とする故障をランダムに選
び、その故障を検出するための検査系列を構成するパタ
ーンを生成するパターン生成手段としての検査系列自動
生成部であり、１０２は、検査系列自動生成部１０１に
より生成されたパターンを入力とし、そのパターンを用
いて組合せ回路中の対象とする故障を検出できるか否か
を調べる故障シミュレーション実行手段としての故障シ
ミュレータであり、１０４は、検査系列圧縮処理実行手
段としての制御部であり、１０５は、パターンとこのパ
ターンを用いて検出される検出故障との組を１組以上格
納できるバッファであり、１０３は、制御部１０４とバ
ッファ１０５とを備える検査系列圧縮手段としての検査
系列圧縮部であり、１０６は、検査系列圧縮部１０３か
ら出力される、圧縮された検査系列を構成するパターン
を格納する出力部である。制御部１０４は、検査系列自
動生成部１０１により生成されたパターンを入力とし、
このパターンにより検出可能な検出故障がｎ個以上なら
ばそのパターンを出力部１０６に出力する一方、ｎ個よ
りも少ないならばそのパターンとこのパターンの検出故
障とをバッファ１０５に格納し、バッファ１０５内でパ
ターン毎の検出故障の被覆関係を調べ、検出故障が全て
被覆されるパターンをバッファ１０５から削除すること
で検査系列の圧縮を行ない、バッファ１０５が一杯にな
ったときは検出故障が最も多いパターンをバッファ１０
５から出力部１０６に出力し、出力部１０６に出力され
たパターンの検出故障をバッファ１０５内の検出故障と
検査系列自動生成部１０１が対象とする故障と故障シミ
ュレータ１０２が対象とする故障とから削除する。

【００３８】以上のように構成された実施例１の検査系
列自動生成装置の動作について説明する。ここでは、バ
ッファ１０５の大きさを３、制御部１０４により実行さ
れる判定処理におけるｎを４とし、図３に示す組合せ回
路の中の単一縮退故障を対象として検査系列を生成する
ものとする。

【００３９】（表３）は、実施例１の検査系列自動生成
装置を図３に示す組合せ回路に適用した際に、組合せ回
路中の対象とする全ての故障が検出されるまで検査系列
自動生成部１０１により生成される検査系列のパターン
と各パターンにより検出可能な検出故障とを示す。

【００４０】

【表３】

【００４１】まず、検査系列自動生成部１０１で時刻１
のパターン“１１００”を生成し、故障シミュレータ１
０２で１８個の故障について故障シミュレーションを行
ない、故障を７個検出する。時刻１のパターンとこのパ
ターンにより検出可能な７個の検出故障との組を検査系
列圧縮部１０３に入力すると、検出故障が７個でありｎ
＝４個以上なので制御部１０４は時刻１のパターンを出
力部１０６に出力し、時刻１のパターンの検出故障を検
査系列自動生成部１０１及び故障シミュレータ１０２が
対象とする１８個の故障から削除する。

【００４２】次に、検査系列自動生成部１０１で時刻２
のパターン“１０００”を生成し、故障シミュレータ１
０２で１１個の故障について故障シミュレーションを行
ない、故障を３個検出する。時刻２のパターンとこのパ
ターンにより検出可能な３個の検出故障との組を検査系
列圧縮部１０３に入力すると、検出故障が３個でありｎ
＝４個よりも少ないので制御部１０４は時刻２のパター
ンと検出故障とをバッファ１０５に格納する。

【００４３】次に、検査系列自動生成部１０１で時刻３
のパターン“００１１”を生成し、故障シミュレータ１
０２で１１個の故障について故障シミュレーションを行
ない、故障を５個検出する。時刻３のパターンとこのパ
ターンにより検出可能な５個の検出故障との組を検査系
列圧縮部１０３に入力すると、検出故障が５個でありｎ
＝４個以上なので制御部１０４は時刻３のパターンを出
力部１０６に出力し、時刻３のパターンの検出故障を検
査系列自動生成部１０１及び故障シミュレータ１０２が
対象とする１１個の故障から削除すると共にバッファ１
０５内の時刻２のパターンの検出故障から削除する。

【００４４】次に、検査系列自動生成部１０１で時刻４
のパターン“０００１”を生成し、故障シミュレータ１
０２で６個の故障について故障シミュレーションを行な
い、故障を２個検出する。時刻４のパターンとこのパタ
ーンにより検出可能な２個の検出故障との組を検査系列
圧縮部１０３に入力すると、検出故障が２個でありｎ＝
４個よりも少ないので制御部１０４は時刻４のパターン
と検出故障とをバッファ１０５に格納する。バッファ１
０５内で故障の被覆関係を調べるが、故障の被覆は存在
しないので次のパターンの生成に移行する。

【００４５】次に、検査系列自動生成部１０１で時刻５
のパターン“１１０１”を生成し、故障シミュレータ１
０２で６個の故障について故障シミュレーションを行な
い、故障を１個検出する。時刻５のパターンとこのパタ
ーンにより検出可能な１個の検出故障との組を検査系列
圧縮部１０３に入力すると、検出故障が１個でありｎ＝
４個よりも少ないので制御部１０４は時刻５のパターン
と検出故障とをバッファ１０５に格納する。バッファ１
０５内で故障の被覆関係を調べると、時刻５のパターン
の検出故障“３６／１”が時刻４のパターンの検出故障
“３４／０，３６／１”に被覆されるので時刻５のパタ
ーンとその検出故障とをバッファ１０５から削除する。

【００４６】次に、検査系列自動生成部１０１で時刻６
のパターン“１１１０”を生成し、故障シミュレータ１
０２で６個の故障について故障シミュレーションを行な
い、故障を２個検出する。時刻６のパターンとこのパタ
ーンにより検出可能な２個の検出故障との組を検査系列
圧縮部１０３に入力すると、検出故障が２個でありｎ＝
４個よりも少ないので制御部１０４は時刻６のパターン
と検出故障とをバッファ１０５に格納する。バッファ１
０５内で故障の被覆関係を調べるが、故障の被覆は存在
しない。バッファ１０５が一杯になったので検出故障の
個数が最も多い時刻４のパターンを出力部１０６に出力
し、時刻４のパターンの検出故障を検査系列自動生成部
１０１及び故障シミュレータ１０２が対象とする６個の
故障から削除すると共にバッファ１０５内の時刻２のパ
ターンの検出故障及び時刻６のパターンの検出故障から
削除する。

【００４７】次に、検査系列自動生成部１０１で時刻７
のパターン“００１０”を生成し、故障シミュレータ１
０２で４個の故障について故障シミュレーションを行な
い、故障を１個検出する。時刻７のパターンとこのパタ
ーンにより検出可能な１個の検出故障との組を検査系列
圧縮部１０３に入力すると、検出故障が１個でありｎ＝
４個よりも少ないので制御部１０４は時刻７のパターン
と検出故障とをバッファ１０５に格納する。バッファ１
０５内で故障の被覆関係を調べると、時刻７のパターン
の検出故障“３３／１”が時刻６のパターンの検出故障
“３３／１，３５／０”に被覆されるので時刻７のパタ
ーンとその検出故障とをバッファ１０５から削除する。

【００４８】次に、検査系列自動生成部１０１で時刻８
のパターン“１００１”を生成し、故障シミュレータ１
０２で４個の故障について故障シミュレーションを行な
い、故障を１個検出する。時刻８のパターンとこのパタ
ーンにより検出可能な１個の検出故障との組を検査系列
圧縮部１０３に入力すると、検出故障が１個でありｎ＝
４個よりも少ないので制御部１０４は時刻８のパターン
と検出故障とをバッファ１０５に格納する。バッファ１
０５内で故障の被覆関係を調べると、時刻２のパターン
の検出故障“３１／１”が時刻８のパターンの検出故障
“３１／１”に被覆されるので時刻２のパターンとその
検出故障とをバッファ１０５から削除する。

【００４９】次に、検査系列自動生成部１０１で時刻９
のパターン“０１０１”を生成し、故障シミュレータ１
０２で４個の故障について故障シミュレーションを行な
い、故障を１個検出する。時刻９のパターンとこのパタ
ーンにより検出可能な１個の検出故障との組を検査系列
圧縮部１０３に入力すると、検出故障が１個でありｎ＝
４個よりも少ないので制御部１０４は時刻９のパターン
と検出故障とをバッファ１０５に格納する。バッファ１
０５内で故障の被覆関係を調べるが、故障の被覆は存在
しない。バッファ１０５が一杯になったので検出故障の
個数が最も多い時刻６のパターンを出力部１０６に出力
し、時刻６のパターンの検出故障を検査系列自動生成部
１０１及び故障シミュレータ１０２が対象とする４個の
故障から削除すると共にバッファ１０５内の時刻８のパ
ターンの検出故障及び時刻９のパターンの検出故障から
削除する。

【００５０】以上のように出力部１０６に出力されたパ
ターンとバッファ１０５に残されたパターンとを合わせ
ると、（表４）に示す圧縮された検査系列となり、（表
３）に示す検査系列よりも系列長の短い検査系列が得ら
れる。

【００５１】

【表４】

【００５２】また、検査系列自動生成部１０１が対象と
する故障を徐々に減少させることができるので、検査系
列自動生成部１０１でパターンを生成する回数を低減す
ることができる。また、故障シミュレータ１０２が対象
とする故障を徐々に減少させることができるので、故障
シミュレータ１０２での処理量を低減することができ
る。さらに、バッファ１０５内では最大３個の検出故障
を持つパターンの故障の被覆関係を調べるだけでよいた
め、故障の被覆関係を調べる時間を短縮することができ
る。

【００５３】よって、本実施例１によれば、系列長の短
い検査系列を高速に生成することができる。

【００５４】（実施例２）以下、本発明の実施例２につ
いて説明する。

【００５５】実施例２に係る検査系列自動生成装置は、
検査系列圧縮部の制御部を除き、実施例１の検査系列自
動生成装置と同様の構成であり、実施例２における検査
系列圧縮部の制御部は、バッファ１０５が一杯になった
とき被覆されない検出故障の個数が最も多いパターンを
バッファ１０５から出力するものである。

【００５６】実施例２の検査系列自動生成装置の動作に
ついて説明する。ここでは、実施例１と同様に、バッフ
ァ１０５の大きさを３、制御部により実行される判定処
理におけるｎを４とし、図３に示す組合せ回路の中の単
一縮退故障を対象として検査系列を生成するものとす
る。

【００５７】（表５）は、実施例２の検査系列自動生成
装置を図３に示す組合せ回路に適用した際に、組合せ回
路中の対象とする全ての故障が検出されるまで検査系列
自動生成部１０１により生成される検査系列のパターン
と各パターンにより検出可能な検出故障とを示す。

【００５８】

【表５】

【００５９】時刻１から時刻５までのパターンの処理は
実施例１と同様であるため説明を省略し、以下、時刻６
のパターンが生成されるところから説明する。

【００６０】検査系列自動生成部１０１で時刻６のパタ
ーン“１１１０”を生成し、故障シミュレータ１０２で
６個の故障について故障シミュレーションを行ない、故
障を２個検出する。時刻６のパターンとこのパターンに
より検出可能な２個の検出故障との組を検査系列圧縮部
１０３に入力すると、検出故障が２個でありｎ＝４個よ
りも少ないので制御部は時刻６のパターンと検出故障と
をバッファ１０５に格納する。バッファ１０５内で故障
の被覆関係を調べるが、故障の被覆は存在しない。バッ
ファ１０５が一杯になったので被覆されない検出故障の
個数が最も多い時刻６のパターンを出力部１０６に出力
し、時刻６のパターンの検出故障を検査系列自動生成部
１０１及び故障シミュレータ１０２が対象とする６個の
故障から削除すると共にバッファ１０５内の時刻２のパ
ターンの検出故障及び時刻４のパターンの検出故障から
削除する。

【００６１】次に、検査系列自動生成部１０１で時刻７
のパターン“１００１”を生成し、故障シミュレータ１
０２で４個の故障について故障シミュレーションを行な
い、故障を３個検出する。時刻７のパターンとこのパタ
ーンにより検出可能な３個の検出故障との組を検査系列
圧縮部１０３に入力すると、検出故障が３個でありｎ＝
４個よりも少ないので制御部は時刻７のパターンと検出
故障とをバッファ１０５に格納する。バッファ１０５内
で故障の被覆関係を調べると、時刻２のパターンの検出
故障“３１／１，３４／０”及び時刻４のパターンの検
出故障“３４／０，３６／１”が時刻７のパターンの検
出故障“３１／１，３４／０，３６／１”に被覆される
ので時刻２及び時刻４のパターンとそれらの検出故障と
をバッファ１０５から削除する。

【００６２】次に、検査系列自動生成部１０１で時刻８
のパターン“０１０１”を生成し、故障シミュレータ１
０２で４個の故障について故障シミュレーションを行な
い、故障を３個検出する。時刻８のパターンとこのパタ
ーンにより検出可能な３個の検出故障との組を検査系列
圧縮部１０３に入力すると、検出故障が３個でありｎ＝
４個よりも少ないので制御部は時刻８のパターンと検出
故障とをバッファ１０５に格納する。バッファ１０５内
で故障の被覆関係を調べるが、故障の被覆は存在しな
い。

【００６３】以上のように出力部１０６に出力されたパ
ターンとバッファ１０５に残されたパターンとを合わせ
ると、（表６）に示す圧縮された検査系列となり、（表
４）に示す検査系列よりも短い系列長の検査系列が得ら
れる。

【００６４】

【表６】

【００６５】よって、本実施例２によれば、検査系列圧
縮部のバッファが一杯になったとき、被覆されない検出
故障が最も多いパターンから先に出力することによっ
て、検査系列の圧縮効率を向上させることができる。

【００６６】なお、実施例１、２では出力部１０６に出
力されたパターンの検出故障を検査系列自動生成部１０
１が対象とする故障から削除する場合について説明した
が、故障シミュレータ１０２で検出される故障を検査系
列自動生成部１０１が対象とする故障から削除する場合
についてもパターンを生成する回数を減少させることが
できる点を除いて同様の効果が得られる。

【００６７】

【発明の効果】以上説明したように、請求項１の発明に
係る検査系列自動生成装置によると、検査系列の生成と
圧縮とを同時に行なうことによって、圧縮された検査系
列を構成する第２パターンを検査系列の生成中に確定で
きる。したがって、第２パターンにより検出可能な故障
を故障シミュレーションの対象から削除することによっ
て、シミュレーション処理の処理量を低減することがで
きるため、故障シミュレーション時間を短縮することが
可能である。

【００６８】さらに、請求項２の発明に係る検査系列自
動生成装置によると、第２パターンにより検出可能な故
障を、検査系列を構成する第１パターンの生成における
対象から削除することによって、検査系列の生成処理の
処理量を低減することができるため、検査系列の生成処
理時間を短縮することが可能である。

【００６９】また、請求項３の発明に係る検査系列自動
生成装置によると、バッファを用い、バッファに格納さ
れた複数個の第１パターン間の故障の被覆関係を調べる
ことによって、検査系列の圧縮処理を実現することがで
きる。

【００７０】さらに、請求項４の発明に係る検査系列自
動生成装置によると、検出可能な故障の個数がｎ個より
も少ない第１パターンについてのみ故障の被覆関係を調
べるため、検査系列の圧縮処理の処理時間を短縮するこ
とができる。

【００７１】請求項５の発明に係る検査系列自動生成装
置によると、バッファが一杯になった場合に、被覆され
ない故障の個数が最も多い第１パターンを第２パターン
として出力することによって、検査系列の圧縮効率を向
上させることができる。

【００７２】以上のように、本発明によると、系列長の
短い検査系列を高速に生成できる検査系列自動生成装置
を提供することが可能である。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施例１に係る検査系列自動生成装置
の構成を示すブロック図である。

【図２】検査系列圧縮部を備えた検査系列自動生成装置
の構成を示すブロック図である。

【図３】検査系列の生成の対象となる組合せ回路を示す
論理回路図である。

【符号の説明】

１０１検査系列自動生成部（パターン生成手段）１０２故障シミュレータ（故障シミュレーション実行
手段）１０３検査系列圧縮部（検査系列圧縮手段）１０４制御部（検査系列圧縮処理実行手段）１０５バッファ１０６出力部

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】組合せ回路中の対象とする故障の存否を
調べるための検査系列を構成する、前記組合せ回路の外
部入力として同時に設定される値の組である第１パター
ンを生成するパターン生成手段と、前記第１パターンを用いて前記組合せ回路中の対象とす
る故障を検出できるか否かを調べる故障シミュレーショ
ンを実行する故障シミュレーション実行手段と、前記第１パターンと該第１パターンにより検出可能な故
障との組を入力し、前記第１パターンを前記検査系列か
ら削除するか又は前記第１パターンを圧縮された検査系
列を構成する第２パターンとして出力する検査系列圧縮
処理を実行し、前記第１パターンを前記第２パターンと
して出力する場合に、当該第２パターンにより検出可能
な故障を、前記故障シミュレーション実行手段により実
行される故障シミュレーションにおいて対象とされる故
障から削除する故障削除処理を実行する検査系列圧縮手
段とを備えていることを特徴とする検査系列自動生成装
置。
【請求項２】前記検査系列圧縮手段は、前記第１パタ
ーンを前記第２パターンとして出力する場合に、当該第
２パターンにより検出可能な故障を、前記故障シミュレ
ーション実行手段により実行される故障シミュレーショ
ンにおいて対象とされる故障から削除すると共に、当該
第２パターンにより検出可能な故障を、前記パターン生
成手段により実行される第１パターンの生成において対
象とされる故障から削除することによって前記故障削除
処理を実行することを特徴とする請求項１に記載の検査
系列自動生成装置。
【請求項３】前記検査系列圧縮手段は、前記第１パタ
ーンと該第１パターンにより検出可能な故障との組を格
納できるバッファと、所定条件が満たされる場合に前記第１パターンを前記第
２パターンとして出力する一方、前記所定条件が満たさ
れない場合に前記第１パターンと該第１パターンにより
検出可能な故障との組を前記バッファに格納する第１の
ステップと、前記バッファに前記第１パターンと該第１
パターンにより検出可能な故障との組が２組以上格納さ
れた場合に、前記バッファ内の一の第１パターンにより
検出可能な故障が前記バッファ内の他の第１パターンに
より検出可能な故障に含まれるという故障の被覆関係が
存在するか否かを調べ、前記バッファ内に、検出可能な
故障の全てが被覆される第１パターンが存在する際に当
該第１パターンと該第１パターンにより検出可能な故障
との組を前記バッファから削除する第２のステップと、
前記バッファが一杯になった場合に、前記バッファ内の
第１パターンの中から一の第１パターンを選択し、該一
の第１パターンを前記第２パターンとして出力する第３
のステップとを実行することによって前記検査系列圧縮
処理を実行する検査系列圧縮処理実行手段とを有してい
ることを特徴とする請求項１に記載の検査系列自動生成
装置。
【請求項４】前記検査系列圧縮処理実行手段は、前記
第１パターンにより検出可能な故障の個数がｎ個以上の
場合に（ただし、ｎは前記組合せ回路中の対象とする全
ての故障の個数以下の自然数である）前記第１パターン
を前記第２パターンとして出力する一方、前記第１パタ
ーンにより検出可能な故障の個数がｎ個よりも少ない場
合に前記第１パターンと該第１パターンにより検出可能
な故障との組を前記バッファに格納することによって前
記第１のステップを実行することを特徴とする請求項３
に記載の検査系列自動生成装置。
【請求項５】前記検査系列圧縮処理実行手段は、前記
バッファが一杯になった場合に、前記バッファ内の第１
パターンの中から、検出可能な故障のうちの被覆されな
い故障の個数が最も多い第１パターンを選択し、該第１
パターンを前記第２パターンとして出力することによっ
て前記第３のステップを実行することを特徴とする請求
項４に記載の検査系列自動生成装置。