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JPH07182724A - Method and device for measuring tape - Google Patents

Method and device for measuring tape

Info

Publication number
JPH07182724A
JPH07182724A JP5329115A JP32911593A JPH07182724A JP H07182724 A JPH07182724 A JP H07182724A JP 5329115 A JP5329115 A JP 5329115A JP 32911593 A JP32911593 A JP 32911593A JP H07182724 A JPH07182724 A JP H07182724A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
tape
measuring device
measuring
displacement
measurement
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP5329115A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hideyuki Kobayashi
秀行 小林
Kenji Matsuura
賢司 松浦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP5329115A priority Critical patent/JPH07182724A/en
Publication of JPH07182724A publication Critical patent/JPH07182724A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To provide a method and a device for measuring tape capable of simultaneously measuring tape width fluctuations causing fluctuations in the width direction of a travelling tape, wavings and vertical fluctuations in a completely separated form in a magnetic tape device. CONSTITUTION:One end of a tape 1 is the upper end and another end is the lower end. The light projecting and receiving sections 2-1 and 2-2 of a first measuring equipment measure the displacement in the width direction of the upper end of the tape. The light projecting and receiving sections 4-1 and 4-2 of a second measuring equipment measure the displacement in the width direction of the lower end of the tape. Positions in which the first and second measuring equipments 2 and 4 perform measuring are set so that positions in the longitudinal direction of the tape are almost the same. The light projecting and receiving sections 6-1 and 6-2 of a third measuring equipment measure the diplacement in a width direction on the upper end of the tape. Positions in which the first and third measuring equipments perform the measurement are set in the position different from each other in the longitudinal direction.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、テープレコーダ、VT
R等の磁気記録再生装置において、記録媒体として使用
されるテープの走行時のテープ幅方向変動を測定する装
置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION The present invention relates to a tape recorder, a VT.
In a magnetic recording / reproducing apparatus such as R, the present invention relates to an apparatus for measuring a fluctuation in a tape width direction during running of a tape used as a recording medium.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、映像及び情報機器が扱う情報量は
ますます大きくなり、そのデータを記録再生する装置の
大容量化が急速に進んでいる。磁気記録装置において
は、記録媒体の長時間化と高密度化が進められた。特に
磁気テープ装置においては、長時間記録を可能とするた
めテープの厚さを薄くする必要が生じ、高密度化の点か
らより安定したテープ走行が要求されるようになった。
2. Description of the Related Art In recent years, the amount of information handled by video and information equipment has become larger and larger, and the capacity of devices for recording and reproducing the data is rapidly increasing. In magnetic recording devices, recording media have been made longer and higher in density. Particularly in a magnetic tape device, it is necessary to reduce the thickness of the tape in order to enable long-time recording, and more stable tape running is required from the viewpoint of high density.

【0003】そこで、磁気テープ装置において、テープ
の走行時の幅方向変動を、走行を乱すことなく測定し、
正確に評価する必要が生じた。この幅方向変動の測定を
行うテープ幅変位測定器のひとつにレーザー光を利用し
た非接触の変位測定器がある(例えば、「テープ−ヘッ
ド走行系の摩擦摩耗発生要因とトラブル対策」工学情報
センター出版部 P163-166)。これらの測定器の一例に
ついて説明する。
Therefore, in the magnetic tape device, the fluctuation in the width direction of the tape during running is measured without disturbing the running,
It became necessary to evaluate accurately. One of the tape width displacement measuring devices for measuring the variation in the width direction is a non-contact displacement measuring device using a laser beam (for example, "Factors of frictional wear of tape-head running system and countermeasures for troubles" Engineering Information Center. Publishing Department P163-166). An example of these measuring instruments will be described.

【0004】図15は従来のレーザ外形測定器の動作原
理を示すものである。図15において、1はテープ、2
2は半導体レーザ投光部、23はポリゴンミラー、24
は反射ミラー、25はコリメータレンズ、26は受光レ
ンズ、27は受光素子、28はエッジ検出装置である。
FIG. 15 shows the operating principle of a conventional laser contour measuring instrument. In FIG. 15, 1 is a tape, 2
2 is a semiconductor laser projecting unit, 23 is a polygon mirror, 24
Is a reflection mirror, 25 is a collimator lens, 26 is a light receiving lens, 27 is a light receiving element, and 28 is an edge detection device.

【0005】以上のように構成したレーザ外形測定器に
ついて、以下その動作について説明する。半導体レーザ
投光部22より発射されたレーザ光線は、ポリゴンミラ
ー23により一定の周期で走査を行う光線となる。この
光線を反射ミラー24で反射した後、コリメータレンズ
25により平行に走査する光線とする。この光線を測定
物であるテープ1に投射する。テープ1を走査したレー
ザ光線は受光レンズ26で集光されて受光素子27に当
てられ、光の明暗に応じた電気信号に変換される。この
信号をエッジ検出装置28に入力することで、明暗が生
じている時間の長さを演算し、テープ1の幅を算出す
る。このようにして、算出したテープ1の幅を基準値と
比較することによってテープ1の幅誤差を測定すること
が出来る。
The operation of the laser contour measuring instrument constructed as described above will be described below. The laser beam emitted from the semiconductor laser projecting unit 22 becomes a beam which is scanned by the polygon mirror 23 at a constant cycle. This light beam is reflected by the reflection mirror 24 and then made into a light beam which is scanned in parallel by the collimator lens 25. This light beam is projected onto the tape 1, which is the object to be measured. The laser beam that scans the tape 1 is collected by the light receiving lens 26, applied to the light receiving element 27, and converted into an electric signal according to the brightness of the light. By inputting this signal to the edge detection device 28, the length of time during which light and dark are generated is calculated, and the width of the tape 1 is calculated. In this way, the width error of the tape 1 can be measured by comparing the calculated width of the tape 1 with the reference value.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかし、テープの幅方
向変動として問題となるものは、テープの幅誤差による
影響だけではない。考慮すべき要因として、以下の3つ
が考えられる。
However, it is not only the influence of the tape width error that causes a problem in the tape width direction variation. There are three possible factors to consider.

【0007】1点目は、テープ1本の中での幅の変動で
あり、これをテープ幅変動と呼ぶ。テープ幅変動は基準
となるテープ幅からのずれを意味する。2点目は、テー
プ幅は基準の値であるが波状にテープが変形している場
合のずれであり、これをウェービングと呼ぶ。テープの
幅変動及びウェービングはテープ自体が持つ物理的特性
でテープの幅誤差に関連する。3点目は、テープの走行
によるもので、テープ自体が上下に揺れながら走行する
ことによって生じる変動である。これをテープ上下変動
と呼ぶ。これらの3つの変動が合成されて、走行中のテ
ープ幅方向変動として観測される。したがって、テープ
幅方向変動を完全に把握するには、テープ測定装置は上
記の3つの変動を分離して測定する必要がある。
The first point is the variation in width within one tape, which is called tape width variation. The tape width variation means a deviation from the standard tape width. The second point is the deviation when the tape width is a reference value but the tape is deformed in a wave shape, and this is called waving. Tape width variation and waving are physical properties of the tape itself and are related to tape width error. The third point is due to the running of the tape, and is the fluctuation caused by the running of the tape itself while swinging up and down. This is called tape vertical fluctuation. These three variations are combined and observed as variations in the tape width direction during running. Therefore, in order to completely grasp the variation in the tape width direction, the tape measuring device needs to measure the above three variations separately.

【0008】図15に示したレーザ外形測定器の構成で
は、テープ幅は受光部の暗部に相当する。したがって、
レーザ光線が暗部を走査する時間をエッジ検出装置で測
定することで、テープ幅を測定することが出来る。しか
し、ウェービングとテープ上下変動については、測定上
は両者ともテープ端が同じ方向に同じ距離だけ移動する
状態と観測されるため、区別することが出来ないという
問題を有していた。
In the configuration of the laser contour measuring device shown in FIG. 15, the tape width corresponds to the dark portion of the light receiving portion. Therefore,
The tape width can be measured by measuring the time taken for the laser beam to scan the dark area with an edge detection device. However, regarding the waving and the vertical fluctuation of the tape, both of them have a problem that they cannot be distinguished from each other, because it is observed that the tape ends move in the same direction by the same distance.

【0009】本発明は上記問題を鑑み、走行中のテープ
の幅変動、ウェービング、上下変動の3つを完全に分離
して測定する装置を提供することを目的とする。
In view of the above problems, it is an object of the present invention to provide an apparatus for completely separating and measuring the width fluctuation, waving, and vertical fluctuation of a running tape.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】本願の請求項1の発明
は、速度vで走行するテープで、テープの一端の測定位
置Aでの時刻tの幅方向変位をα(t)とする過程と、測
定位置Aのもう一方の端部上で長手方向がほぼ同じ位置
での時刻tの幅方向変位をβ(t)とする過程と、測定位
置Aと同じ端部上で長手方向にテープの進行逆方向に距
離eだけ離れた位置での時刻tの幅方向変位をγ(t)と
する過程と、測定位置Aでの時刻tにおけるテープ幅変
動、ウェービング、テープ上下変動を テープ幅変動 p(t)=α(t)−β(t)、 ウェービング q(t)={β(t)−α(t)}/2+γ(t
−e/v)、 テープ上下変動 r(t)=α(t)−γ(t−e/v)、 とする過程から測定することを特徴とするものである。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a process of setting a widthwise displacement at time t at a measurement position A at one end of the tape as α (t) in a tape traveling at a speed v. , A process in which the widthwise displacement at the time t at the position where the longitudinal direction is almost the same on the other end of the measurement position A is β (t), and the tape is moved longitudinally on the same end as the measurement position A. The process of setting the widthwise displacement at time t at a position separated by a distance e in the reverse direction of travel as γ (t), and the tape width fluctuation, waving, and tape vertical fluctuation at time t at the measurement position A are tape width fluctuation p (t) = α (t) −β (t), waving q (t) = {β (t) −α (t)} / 2 + γ (t
-E / v), tape vertical fluctuation r (t) = [alpha] (t)-[gamma] (t-e / v).

【0011】また、本願の請求項2の発明は、速度vで
走行するテープで、テープの一端の測定位置Aでの時刻
tの幅方向変位をα(t)とする過程と、測定位置Aのも
う一方の端部上で長手方向がほぼ同じ位置での時刻tの
幅方向変位をβ(t)とする過程と、測定位置Aと同じ端
部上で長手方向にテープの進行方向に距離eだけ離れた
位置での時刻tの幅方向変位をγ(t)とする過程と、測
定位置Aでの時刻tにおけるテープ幅変動、ウェービン
グ、テープ上下変動を テープ幅変動 p(t)=α(t)−β(t)、 ウェービング q(t)={α(t)+β(t)}/2−γ
(t)+α(t−e/v)、 テープ上下変動 r(t)=γ(t)−α(t−e/v)、 とする過程から測定することを特徴とするものである。
Further, in the invention of claim 2 of the present application, in the tape traveling at the speed v, the process of setting the widthwise displacement at the time t at the measurement position A at one end of the tape to α (t), and the measurement position A The process of setting β (t) as the widthwise displacement at time t at the position where the longitudinal direction is substantially the same on the other end of the tape, and the distance in the tape traveling direction in the longitudinal direction on the same end as the measurement position A The process of setting the widthwise displacement at time t at a position separated by e as γ (t), and the tape width fluctuation, waving, and tape vertical fluctuation at time t at the measurement position A: tape width fluctuation p (t) = α (t) -β (t), waving q (t) = {α (t) + β (t)} / 2-γ
(t) + α (t-e / v), tape vertical fluctuation r (t) = γ (t) -α (t-e / v)

【0012】また、本願の請求項3の発明は、テープの
一端の幅方向変位を検出し、出力する測定器aと、測定
器aが測定するテープの位置と長手方向の位置がほぼ同
じである、もう一方の端部の幅方向変位を検出し、出力
する測定器bと、測定器a及びbと長手方向が異なる位
置においてテープの端部の幅方向変位を検出し、出力す
る測定器cと、測定器a、b、cが出力する値の少なく
とも一つ以上を保持する記憶装置と、測定器a、b、c
が出力する値及び記憶装置が保持する値を用いてテープ
幅変動、ウェービング、テープ上下変動の少なくとも一
つを計算する演算装置とを備えたことを特徴とするもの
である。
Further, in the invention of claim 3 of the present application, the measuring device a which detects and outputs the widthwise displacement of one end of the tape and the position of the tape measured by the measuring device a and the position in the longitudinal direction are substantially the same. A measuring instrument b for detecting and outputting the widthwise displacement of the other end, and a measuring instrument for detecting and outputting the widthwise displacement of the tape end at a position different in longitudinal direction from the measuring instruments a and b. c, a storage device that holds at least one of the values output by the measuring instruments a, b, c, and the measuring instruments a, b, c
And an arithmetic unit for calculating at least one of tape width variation, waving, and tape up-and-down variation using the value output by the storage device and the value held by the storage device.

【0013】本願の請求項4の発明は、測定器a、b、
cを非接触光学式の測定器としたことを特徴とするもの
である。
According to the invention of claim 4 of the present application, measuring devices a, b,
c is a non-contact optical measuring device.

【0014】本願の請求項5の発明は、測定器a、b、
cが測定に使用する光路上に反射鏡を配置したことを特
徴とするものである。
According to the invention of claim 5 of the present application, measuring devices a, b,
c is characterized in that a reflecting mirror is arranged on the optical path used for measurement.

【0015】本願の請求項6の発明は、測定器aと測定
器bの少なくとも1つがテープの幅方向に移動可能な測
定器としたことを特徴とするものである。
The invention according to claim 6 of the present application is characterized in that at least one of the measuring device a and the measuring device b is a measuring device movable in the width direction of the tape.

【0016】本願の請求項7の発明は、測定器aと測定
器cの少なくとも1つがテープの長手方向に移動可能な
測定器としたことを特徴とするものである。
The invention of claim 7 of the present application is characterized in that at least one of the measuring device a and the measuring device c is a measuring device movable in the longitudinal direction of the tape.

【0017】本願の請求項8の発明は、測定器a、b、
cがテープの測定を行う位置付近に、テープの位置規制
を行うテープガイドを1個以上備えたことを特徴とする
するものである。
According to the invention of claim 8 of the present application, measuring devices a, b,
c is provided with one or more tape guides for regulating the position of the tape near the position for measuring the tape.

【0018】[0018]

【作用】本願の請求項1の発明によれば、速度vで走行
するテープにおいて、テープの一端の測定位置Aでの時
刻tの幅方向変位α(t)と、測定位置Aのもう一方の端
部上で長手方向がほぼ同じ位置での時刻tの幅方向変位
β(t)と、測定位置Aと同じ端部上で長手方向にテープ
の進行逆方向に距離eだけ離れた位置での時刻tの幅方
向変位γ(t)を測定する。テープの同一の被測定点の幅
方向変位であるα(t)とγ(t−e/v)の差は異なる時
刻の同一被測定点の幅方向変位であるので、テープ上下
変動r(t)が算出できる。また、α(t)とβ(t)の差は
長手方向が同一の位置のテープ両端の幅方向変位の差で
あるから、テープ幅変動p(t)が算出できる。さらに、
同時にウェービングとテープ上下変動を合成した変動を
算出することが出来るので、先に求めたテープ上下変動
の値を引くことによりウェービングq(t)を分離し算出
することが出来る。したがって、ある時刻におけるテー
プ幅変動、ウェービング、テープ上下変動を各々求める
ことが出来る。
According to the first aspect of the present invention, in the tape running at the speed v, the widthwise displacement α (t) at the time t at the measuring position A at one end of the tape and the other of the measuring position A The widthwise displacement β (t) at time t at the position where the longitudinal direction is almost the same on the end, and the position e at the same end as the measurement position A at a distance e in the longitudinal direction of the tape and in the reverse direction of the tape. The widthwise displacement γ (t) at time t is measured. The difference between α (t) and γ (t-e / v), which is the displacement in the width direction of the same measured point on the tape, is the displacement in the width direction of the same measured point at different times, so the tape vertical fluctuation r (t ) Can be calculated. Further, since the difference between α (t) and β (t) is the difference in the widthwise displacement between both ends of the tape at the same position in the longitudinal direction, the tape width variation p (t) can be calculated. further,
At the same time, it is possible to calculate the fluctuation that is a combination of the waving and the tape vertical fluctuation, so that the waving q (t) can be separated and calculated by subtracting the previously calculated value of the tape vertical fluctuation. Therefore, it is possible to obtain the tape width variation, the waving, and the tape vertical variation at a certain time.

【0019】また本願の請求項2の発明によれば、速度
vで走行するテープにおいて、テープの一端の測定位置
Aでの時刻tの幅方向変位α(t)と、測定位置Aのもう
一方の端部上で長手方向がほぼ同じ位置での時刻tの幅
方向変位β(t)と、測定位置Aと同じ端部上で長手方向
にテープの進行方向に距離eだけ離れた位置での時刻t
の幅方向変位γ(t)を測定する。テープの同一の被測定
点の幅方向変位であるα(t−e/v)とγ(t)の差から
テープ上下変動r(t)を算出する。α(t)とβ(t)の差
からテープ幅変動p(t)を算出する。同時にウェービン
グとテープ上下変動を合成した変動を算出することが出
来るので、先に求めたテープ上下変動の値を引くことに
よりウェービングq(t)を分離し算出する。したがっ
て、ある時刻におけるテープ幅変動、ウェービング、テ
ープ上下変動を各々求めることが出来る。
According to the second aspect of the present invention, in the tape traveling at the speed v, the widthwise displacement α (t) at the time t at the measurement position A at one end of the tape and the other of the measurement positions A The widthwise displacement β (t) at the time t at the position where the longitudinal direction is almost the same on the end of the, and the position e at the same end as the measurement position A and the distance e in the longitudinal direction of the tape in the traveling direction of the tape. Time t
The widthwise displacement γ (t) of is measured. The tape vertical fluctuation r (t) is calculated from the difference between α (t−e / v) and γ (t), which are the displacements in the width direction of the same measured point on the tape. The tape width variation p (t) is calculated from the difference between α (t) and β (t). At the same time, since it is possible to calculate the fluctuation that is a combination of the waving and the tape vertical fluctuation, the waving q (t) is separated and calculated by subtracting the previously calculated value of the tape vertical fluctuation. Therefore, it is possible to obtain the tape width variation, the waving, and the tape vertical variation at a certain time.

【0020】また本願の請求項3の発明によれば、テー
プ幅方向の一端の幅方向変位を検出し出力する第1の測
定器と、第1の測定器が測定するテープ位置とテープ長
手方向の位置がほぼ同じであるテープ他端部の幅方向変
位を検出し出力する第2の測定器と、第1の測定器及び
第2の測定器が測定するテープ位置とはテープ長手方向
において異なる位置において前記テープ端部の幅方向変
位を検出し出力する第3の測定器との3個の測定器でテ
ープ幅方向変位を測定し、その値を演算装置に入力す
る。また、その幅方向変位の値を記憶装置によって保持
することで、異なる時刻の幅方向変位の値を演算装置に
入力する。第1の測定器と第3の測定器によるテープの
同一の被測定点の幅方向変位の差からテープ上下変動を
算出する。第1の測定器と第2の測定器による幅方向変
位の差からテープ幅変動を算出する。同時にウェービン
グとテープ上下変動を合成した変動を算出することが出
来るので、先に求めたテープ上下変動の値を引くことに
よりウェービングを分離し算出する。したがって、異な
る時刻の同一被測定点の幅方向変位の値を用いて演算装
置により計算を行い、ある時刻におけるテープ幅変動、
ウェービング、テープ上下変動を各々求めることが出来
る。
Further, according to the invention of claim 3 of the present application, the first measuring device for detecting and outputting the widthwise displacement of one end in the tape width direction, the tape position measured by the first measuring device and the tape longitudinal direction. The second measuring device that detects the displacement in the widthwise direction of the other end of the tape and outputs the same in the longitudinal direction of the tape is different from the tape positions measured by the first measuring device and the second measuring device. The tape width direction displacement is measured by three measuring devices, which are the third measuring device that detects and outputs the width direction displacement of the tape end portion at the position, and inputs the value to the arithmetic unit. Further, by holding the value of the widthwise displacement in the storage device, the values of the widthwise displacement at different times are input to the arithmetic device. The tape vertical fluctuation is calculated from the difference in the widthwise displacement of the same measured point on the tape measured by the first measuring instrument and the third measuring instrument. The tape width variation is calculated from the difference in the widthwise displacement between the first measuring device and the second measuring device. At the same time, it is possible to calculate the fluctuation that is a combination of the waving and the tape vertical fluctuation. Therefore, the waving is separated and calculated by subtracting the value of the tape vertical fluctuation obtained previously. Therefore, calculation is performed by the arithmetic device using the values of the widthwise displacement of the same measured point at different times, and the tape width fluctuation at a certain time,
It is possible to obtain waving and tape vertical fluctuations.

【0021】また本願の請求項4、請求項5の発明によ
れば、測定器を光学式にして、さらに光路上に反射鏡を
配置したので、測定器光学系の光路を自由に変更するこ
とが出来る。このため、幅方向変位の測定器の配置の自
由度を大きく広げることが可能となる。これにより測定
器が大きいために、テープの周囲に測定器を配置できな
いような磁気テープ装置内でも測定を行うことが出来
る。
Further, according to the inventions of claims 4 and 5, the measuring device is an optical type and the reflecting mirror is arranged on the optical path. Therefore, the optical path of the measuring device optical system can be freely changed. Can be done. Therefore, it is possible to greatly expand the degree of freedom in arranging the measuring device for the displacement in the width direction. As a result, since the measuring device is large, it is possible to perform the measurement even in a magnetic tape device in which the measuring device cannot be arranged around the tape.

【0022】また本願の請求項6の発明によれば、第1
の測定器と第2の測定器の少なくとも一つをテープ幅方
向に移動させる手段を設けることにより、測定を行う位
置のテープ幅方向の距離を変更させることが出来る。こ
れにより、テープ幅の異なる各種テープに対応して幅方
向変動の測定を行うことが可能となる。
According to the invention of claim 6 of the present application,
By providing means for moving at least one of the measuring instrument and the second measuring instrument in the tape width direction, it is possible to change the distance in the tape width direction at the measurement position. This makes it possible to measure the variation in the width direction corresponding to various tapes having different tape widths.

【0023】また本願の請求項7の発明によれば、第1
の測定器と第2の測定器と第3の測定器の少なくとも一
つをテープ長手方向に移動させる手段を設けることによ
り、測定を行う位置のテープ長手方向の距離を変更させ
ることが出来る。これにより、走行中のテープの上下変
動の周期によって、正確な測定が行えない場合を無くす
ことが出来る。したがって、あらゆる周期の上下変動に
対応するテープ幅方向変動の測定を行うことが可能とな
る。
According to the invention of claim 7 of the present application,
By providing means for moving at least one of the measuring instrument, the second measuring instrument, and the third measuring instrument in the tape longitudinal direction, the distance in the tape longitudinal direction at the measurement position can be changed. As a result, it is possible to eliminate the case where accurate measurement cannot be performed due to the cycle of vertical fluctuation of the running tape. Therefore, it is possible to measure the fluctuation in the tape width direction corresponding to the vertical fluctuations in every cycle.

【0024】また本願の請求項8の発明によれば、第1
の測定器、第2の測定器、第3の測定器がテープの測定
を行う位置付近に、前記テープの位置規制を行うテープ
ガイドを少なくとも1つ設けることにより、テープガイ
ドによってテープの上下端を規制するため、テープガイ
ド間のテープ走行による上下変動は抑制される。また、
安定したテープ走行を得ることも可能となる。
According to the invention of claim 8 of the present application,
By providing at least one tape guide that regulates the position of the tape near the position where the tape measuring device, the second measuring device, and the third measuring device measure the tape, the upper and lower ends of the tape are moved by the tape guide. Since it is regulated, vertical movement due to running of the tape between the tape guides is suppressed. Also,
It is also possible to obtain stable tape running.

【0025】[0025]

【実施例】以下、本発明のテープ測定装置及びテープ測
定方法の実施例について、図面を参照しながら説明す
る。
Embodiments of the tape measuring apparatus and the tape measuring method of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0026】図1は本発明の第1の実施例におけるテー
プ測定装置の構成を示す図である。図1において、1は
テープであり図示しないテープ走行系により一定速度で
一定の経路を走行している。テープ1の一端を上端と
し、もう一端を下端とする。2−1は第1測定器投光
部、2−2は第1測定器受光部であり、投光部と受光部
が対となり、テープの上端の幅方向変位を測定する。4
−1は第2測定器投光部、4−2は第2測定器受光部で
あり、投光部と受光部が対になり、テープ下端の幅方向
変位を測定する。第1測定器が測定を行う位置と第2測
定器が測定を行う位置はテープの長手方向位置において
ほぼ同じとなるように設定する。6−1は第3測定器投
光部、6−2は第3測定器受光部であり、投光部と受光
部が対となり、テープ上端で幅方向変位を測定する。第
1測定器2が測定を行う位置と第3測定器4が測定を行
う位置は、長手方向に異なる位置に設定されている。8
は記憶装置であり、第3測定器6の出力値を一定時間保
持することが出来る。9は演算装置であり、第1測定器
2、第2測定器4の出力値及び記憶装置8の保持してい
る値を用いて演算を行い、テープ幅変動、ウェービン
グ、テープ上下変動をそれぞれ算出する。
FIG. 1 is a diagram showing the structure of a tape measuring apparatus according to the first embodiment of the present invention. In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a tape, which is run on a fixed path at a constant speed by a tape running system (not shown). One end of the tape 1 is the upper end and the other end is the lower end. Reference numeral 2-1 is a first measuring device light projecting portion, and 2-2 is a first measuring device light receiving portion. The light projecting portion and the light receiving portion are paired to measure the widthwise displacement of the upper end of the tape. Four
Reference numeral -1 is a second measuring device light projecting portion, and 4-2 is a second measuring device light receiving portion. The light projecting portion and the light receiving portion are paired to measure the widthwise displacement of the lower end of the tape. The position where the first measuring device performs measurement and the position where the second measuring device performs measurement are set to be substantially the same in the longitudinal position of the tape. Reference numeral 6-1 is a third measuring device light projecting portion, and 6-2 is a third measuring device light receiving portion. The light projecting portion and the light receiving portion form a pair, and the displacement in the width direction is measured at the upper end of the tape. The position where the first measuring device 2 performs the measurement and the position where the third measuring device 4 performs the measurement are set to different positions in the longitudinal direction. 8
Is a storage device and can hold the output value of the third measuring device 6 for a certain period of time. Reference numeral 9 denotes an arithmetic device, which performs an arithmetic operation using the output values of the first measuring device 2 and the second measuring device 4 and the values held in the storage device 8 to calculate tape width fluctuation, waving, and tape vertical fluctuation. To do.

【0027】以上のように、構成したテープ測定装置に
ついて、その動作を説明する。まず、第1測定器2の動
作原理について図2を用いて説明する。投光部2−1内
の半導体レーザ11から発せられるレーザ光線10は、
投光部光学系12で平行光となって送りだされる。レー
ザ光線10は投光部2から受光部2−1に向かって投射
される。そして、レーザ光線10は受光部2−2内の受
光部光学系13により受光素子14へ集光される。平行
なレーザ光線10の通過する範囲にテープ1が遮蔽物と
して入ることにより、影が出来、受光素子14への入射
光量が変化する。この光量変化を受光素子14によって
電圧の変化として出力する。このような構成による第1
測定器の出力電圧と遮光面積の関係を図3に示す。遮光
面積は、テープ端の変位量と1対1の関係がある。した
がって、第1測定器2の出力電圧値よりテープ1の端部
の相対位置である幅方向変位を得ることが出来る。
The operation of the tape measuring device configured as described above will be described. First, the operating principle of the first measuring device 2 will be described with reference to FIG. The laser beam 10 emitted from the semiconductor laser 11 in the light projecting section 2-1 is
The light is emitted from the light projecting optical system 12 as parallel light. The laser beam 10 is projected from the light projecting unit 2 toward the light receiving unit 2-1. Then, the laser beam 10 is focused on the light receiving element 14 by the light receiving section optical system 13 in the light receiving section 2-2. When the tape 1 enters as a shield in the range where the parallel laser beam 10 passes, a shadow is formed and the amount of light incident on the light receiving element 14 changes. This change in the amount of light is output by the light receiving element 14 as a change in voltage. First with such a configuration
FIG. 3 shows the relationship between the output voltage of the measuring instrument and the light-shielding area. The light shielding area has a one-to-one relationship with the displacement amount of the tape end. Therefore, the widthwise displacement, which is the relative position of the end portion of the tape 1, can be obtained from the output voltage value of the first measuring device 2.

【0028】第2測定器4及び第3測定器6においても
上記と同様の動作を行い、テープ1の端部の幅方向変位
を得ることが出来る。
The second measuring device 4 and the third measuring device 6 can also perform the same operation as described above to obtain the widthwise displacement of the end portion of the tape 1.

【0029】第1測定器2、第2測定器4、第3測定器
6がテープ幅方向変位の測定を行う位置関係について説
明を行う。図4にテープ1上の測定位置を示す。第1測
定器2はテープ上端の測定位置Aで幅方向変位の測定を
行う。第2測定器4はテープ下端の測定位置Bで幅方向
変位の測定を行う。測定位置Aと測定位置Bはテープ上
での長手方向の位置がほぼ同じ位置となるように設定さ
れている。第3測定器6はテープ上端の測定位置Cで幅
方向変位の測定を行う。測定位置Cは測定位置Aからテ
ープ長手方向に距離eだけテープの進行逆方向に離れた
位置となるように設定されている。したがって、測定位
置A、測定位置B、測定位置Cにおける幅方向変位の測
定結果は、第1測定器2、第2測定器4、第3測定器6
の各々の出力として得ることが出来る。
The positional relationship in which the first measuring device 2, the second measuring device 4, and the third measuring device 6 measure the displacement in the tape width direction will be described. FIG. 4 shows the measurement position on the tape 1. The first measuring device 2 measures the widthwise displacement at the measurement position A at the upper end of the tape. The second measuring device 4 measures the displacement in the width direction at the measuring position B at the lower end of the tape. The measurement position A and the measurement position B are set so that the positions in the longitudinal direction on the tape are substantially the same. The third measuring device 6 measures the widthwise displacement at the measuring position C at the upper end of the tape. The measurement position C is set so as to be separated from the measurement position A by a distance e in the longitudinal direction of the tape in the reverse direction of tape travel. Therefore, the measurement results of the widthwise displacement at the measurement position A, the measurement position B, and the measurement position C are the first measurement device 2, the second measurement device 4, and the third measurement device 6.
Can be obtained as the output of each.

【0030】次に、これらの測定器の出力をテープ幅方
向変位へ変換する。各々の測定器からの測定結果は電圧
として出力される。この出力電圧値は演算装置9に入力
され、実際の変位に相当する数値に変換される。この演
算によって得られる値をテープ幅方向変位とする。テー
プ幅の基準となる値をdとする。テープ幅が基準値dに
一致しており、テープ幅変動及びウェービングが無いテ
ープを、上下変動がない理想的な状態で走行させて幅方
向変位を測定した時、それぞれの測定器の出力から得ら
れるテープ幅方向変位を±0とする。テープ幅方向変位
はテープ下端から上端に向かう方向が正となるように
し、テープ端が変位することによる遮光面積の変化を演
算装置9によりテープ幅方向変位に対応させる変換を行
う。この変換によって得た測定位置A、B、Cにおける
時刻tのテープ幅方向変位を各々α(t)、β(t)、γ
(t)とする。
Next, the outputs of these measuring devices are converted into displacements in the tape width direction. The measurement result from each measuring device is output as a voltage. This output voltage value is input to the arithmetic unit 9 and converted into a numerical value corresponding to the actual displacement. The value obtained by this calculation is taken as the tape width direction displacement. The value which is the standard of the tape width is d. When the tape width is equal to the reference value d and tape width fluctuation and waving are not performed, and the tape is run in an ideal state without vertical fluctuation, the width direction displacement is measured, and the output from each measuring device is obtained. The tape width direction displacement is ± 0. The displacement in the tape width direction is made positive in the direction from the lower end to the upper end of the tape, and the change in the light-shielding area due to the displacement of the tape end is converted by the arithmetic unit 9 to correspond to the displacement in the tape width direction. The tape width direction displacements at time t at the measurement positions A, B, and C obtained by this conversion are α (t), β (t), and γ, respectively.
(t).

【0031】次に、測定位置A、B、Cでのテープ幅方
向変位からテープ幅変動、ウェービング、上下変動を算
出する方法について説明する。テープは一定速度vで走
行する。したがって、測定位置Cを通過したテープ上の
被測定点が、測定位置Aに到達するのに要する時間Δt
は Δt=e/v である。そこで、時刻tの測定位置Aでの幅方向変位α
(t)と時刻(t−Δt)に測定した測定位置Cにおける
幅方向変位γ(t−Δt)からテープ上下変動を求める。
時刻tの測定位置Aにおける被測定点と、時刻(t−Δ
t)の測定点Cでの被測定点は同一である。したがっ
て、テープ幅変動やウェービングは両者の幅方向変位に
同じだけ影響を与える。すなわち、テープ幅変動やウェ
ービングがあったとしても、テープ上下変動がない場合
には、 α(t)=γ(t−Δt) となる。時刻(t−Δt)の測定点Cでのテープ幅方向変
位を基準としたテープ上下変動r(t)は、 r(t)=α(t)−γ(t−Δt) =α(t)−γ(t−e/v) ・・・(1) となる。γ(t−Δt)の値を記憶装置8に保持して、こ
の演算を演算装置9で行うことにより、テープ上下変動
r(t)を算出することが出来る。
Next, a method of calculating the tape width variation, the waving, and the vertical variation from the displacement in the tape width direction at the measurement positions A, B and C will be described. The tape runs at a constant speed v. Therefore, the time Δt required for the measured point on the tape which has passed the measurement position C to reach the measurement position A is Δt.
Is Δt = e / v. Therefore, the widthwise displacement α at the measurement position A at time t
The tape vertical fluctuation is determined from the widthwise displacement γ (t-Δt) at the measurement position C measured at (t) and time (t-Δt).
The measured point at the measurement position A at time t and the time (t−Δ
The measured point at the measurement point C in t) is the same. Therefore, the tape width variation and the waving have the same influence on the widthwise displacement of both. That is, even if there is tape width fluctuation or waving, if there is no tape vertical fluctuation, then α (t) = γ (t−Δt). The tape vertical fluctuation r (t) based on the tape width direction displacement at the measurement point C at time (t−Δt) is r (t) = α (t) −γ (t−Δt) = α (t) −γ (t−e / v) (1) By holding the value of γ (t-Δt) in the storage device 8 and performing this calculation by the calculation device 9, the tape vertical fluctuation r (t) can be calculated.

【0032】テープ幅変動p(t)は、テープ上端と下端
の差として算出できる。したがって、時刻tでの測定位
置Aと測定位置Bでの幅方向変位から、 p(t)=α(t)−β(t) ・・・(2) の計算を演算装置9で行うことによりテープ幅変動p
(t)を求めることが出来る。
The tape width variation p (t) can be calculated as the difference between the upper and lower ends of the tape. Therefore, by performing the calculation of p (t) = α (t) −β (t) (2) from the widthwise displacements at the measurement position A and the measurement position B at the time t by the arithmetic unit 9, Tape width fluctuation p
(t) can be obtained.

【0033】テープの絶対幅D(t)は、テープ幅の基準
となる値dを用いて、 D(t)=d+p(t) =d+α(t)−β(t) と算出することが出来る。
The absolute width D (t) of the tape can be calculated as D (t) = d + p (t) = d + α (t) -β (t) by using the value d as a reference of the tape width. .

【0034】ウェービングq(t)を求める前に、テープ
の中心位置変位s(t)を求める。中心位置変位s(t)は
テープ上端と下端の幅方向変位の平均であるから、 s(t)={α(t)+β(t)}/2 と表せる。テープの中心位置変位s(t)はウェービング
q(t)とテープ上下変動r(t)を合成した量であるの
で、 q(t)+r(t)={α(t)+β(t)}/2 となる。したがって、ウェービングq(t)は、 q(t)={α(t)+β(t)}/2−r(t) ={α(t)+β(t)}/2−{α(t)−γ(t−Δt)} ={β(t)−α(t)}/2+γ(t−Δt) ={β(t)−α(t)}/2+γ(t−e/v) ・・・(3) と表すことが出来る。この計算を演算装置9で行うこと
により、ウェービングq(t)を計算することが出来る。
Before the waving q (t) is obtained, the center position displacement s (t) of the tape is obtained. Since the center position displacement s (t) is the average of the widthwise displacements of the upper and lower ends of the tape, it can be expressed as s (t) = {α (t) + β (t)} / 2. Since the center position displacement s (t) of the tape is a combined amount of the waving q (t) and the tape vertical fluctuation r (t), q (t) + r (t) = {α (t) + β (t)}. It becomes / 2. Therefore, the waving q (t) is q (t) = {α (t) + β (t)} / 2−r (t) = {α (t) + β (t)} / 2− {α (t) −γ (t−Δt)} = {β (t) −α (t)} / 2 + γ (t−Δt) = {β (t) −α (t)} / 2 + γ (t−e / v)・ It can be expressed as (3). By performing this calculation by the arithmetic unit 9, the waving q (t) can be calculated.

【0035】以上のように本実施例のテープ測定装置に
よれば、テープ上端の測定位置Aでテープ上端の幅方向
変位を測定する第1測定器2と、測定位置Aと長手方向
がほぼ同じ位置でテープ下端の測定位置Bで幅方向変位
を測定する第2測定器4と、第1測定器2と長手方向が
異なる位置でテープ上端の測定位置Cで幅方向変位を測
定する第3測定器6と、第3測定器6の値を一定時間保
持する記憶装置8と、上記各測定器の出力値と上記記憶
装置が保持する値を用いて演算を行う演算装置9とを設
けることにより、テープ幅変動、ウェービング、上下変
動をそれぞれ分離して求めることが出来る。
As described above, according to the tape measuring apparatus of this embodiment, the first measuring device 2 for measuring the widthwise displacement of the upper end of the tape at the measuring position A at the upper end of the tape is substantially the same as the measuring position A in the longitudinal direction. A second measuring device 4 for measuring the widthwise displacement at the measurement position B at the lower end of the tape and a third measurement for measuring the widthwise displacement at the measuring position C at the upper end of the tape at a position different in longitudinal direction from the first measuring device 2. By providing the measuring device 6, the storage device 8 that holds the value of the third measuring device 6 for a certain period of time, and the arithmetic device 9 that performs the calculation using the output value of each measuring device and the value held by the storage device. , Tape width fluctuation, waving, and vertical fluctuation can be obtained separately.

【0036】これにより、従来困難であったテープ幅方
向変動の要因をテープ幅変動、ウェービング、上下変動
の3つに分類し、かつ定量的に検討することが出来るた
め、より安定したテープ走行を実現するための改良点を
効率的に分析することが出来る。
This makes it possible to classify the factors of tape width variation, which have been difficult in the past, into three categories of tape width variation, waving, and vertical variation, and to quantitatively examine them, so that more stable tape running can be achieved. It is possible to efficiently analyze the improvements to be realized.

【0037】なお、本実施例ではレーザ光線を測定器投
光部から受光部まで直接投射していたが、図5のように
光ファイバー15を用いて光路を変更した構成でも同様
の測定が可能である。光路を曲線的に変更することで、
光路上の障害物を回避できる等、第1の実施例と比較し
て測定器の配置に関しての自由度を広げることが出来
る。したがって、直線的なレーザ光路の確保が難しいよ
うな磁気テープ装置においても同様のテープ幅方向変動
の測定が可能となる。
In this embodiment, the laser beam is directly projected from the measuring device projecting portion to the light receiving portion, but the same measurement can be performed with the configuration in which the optical path is changed by using the optical fiber 15 as shown in FIG. is there. By changing the optical path curvedly,
As compared with the first embodiment, it is possible to increase the degree of freedom regarding the arrangement of the measuring devices, such as avoiding obstacles on the optical path. Therefore, even in a magnetic tape device in which it is difficult to secure a linear laser optical path, it is possible to measure the same tape width direction fluctuation.

【0038】また、本実施例では測定器として非接触光
学式の測定器を用いているが、テープ走行に影響を与え
ない接触式の測定器を用いても良いし、渦電流式の非光
学式の測定器を用いても良い。いずれの方法においても
テープの幅方向変位が測定できる測定器を用いれば同様
の測定を行える。
Although a non-contact optical measuring device is used as the measuring device in the present embodiment, a contact measuring device which does not affect the tape running may be used, or an eddy current non-optical measuring device may be used. A measuring instrument of the formula may be used. In either method, the same measurement can be performed by using a measuring device that can measure the widthwise displacement of the tape.

【0039】また、本実施例では測定位置A、Cをテー
プ上端、測定位置Bをテープ下端に設定しているが、測
定位置A、Cをテープ下端、測定位置Bをテープ上端に
設定しても同様の測定を行える。
In this embodiment, the measuring positions A and C are set to the upper end of the tape and the measuring position B is set to the lower end of the tape. However, the measuring positions A and C are set to the lower end of the tape and the measuring position B is set to the upper end of the tape. Can perform the same measurement.

【0040】さらに、本実施例では2つの測定器を用い
て測定位置A、Bの幅方向変位を測定しているが、図1
5に示したレーザ外形測定器のように、テープ上端及び
下端の変位量をそれぞれ求めることが出来る1つの測定
器を用いても同様の測定を行うことが出来る。また、測
定位置A、B、Cでのテープ幅方向変位が測定できる場
合は、測定器の個数が3個以上ある場合でも同様の測定
が行える。
Further, in the present embodiment, the widthwise displacement of the measurement positions A and B is measured by using two measuring instruments.
Similar measurement can be performed by using one measuring instrument capable of obtaining the displacement amounts of the upper and lower ends of the tape, such as the laser contour measuring instrument shown in FIG. If the tape width direction displacement at the measurement positions A, B, and C can be measured, the same measurement can be performed even when the number of measuring devices is three or more.

【0041】以下、本発明の第2の実施例について説明
する。図6は本発明の第2の実施例を示すテープ測定装
置の斜視図である。図1の構成と異なる点は次の2点で
ある。まず、テープ幅方向変位の測定位置Cがテープ上
端の測定位置Aに対してテープ長手方向にテープの進行
方向へ距離eだけ離れた位置にある点である。もう1点
は、記憶装置8が第1測定器2と演算装置9との間に接
続されている点である。その他の構成は図1の構成と同
じである。
The second embodiment of the present invention will be described below. FIG. 6 is a perspective view of a tape measuring device showing a second embodiment of the present invention. The difference from the configuration of FIG. 1 is the following two points. First, the measurement position C of the tape width direction displacement is located at a position away from the measurement position A at the upper end of the tape by a distance e in the tape longitudinal direction in the tape traveling direction. Another point is that the storage device 8 is connected between the first measuring device 2 and the arithmetic device 9. The other configurations are the same as those in FIG.

【0042】上記のように構成したテープ測定装置で
は、第1測定器2の位置が異なり、第1測定器2の出力
する値を記憶装置8が保持して演算装置9に入力する以
外は図1とほぼ同様の幅方向変位の測定を行う。図7に
幅方向変位の測定位置を示す。速度vのテープにおい
て、測定位置A、B、Cでの時刻tでの幅方向変位を各
々α(t)、β(t)、γ(t)とした時、時刻tでのテープ
幅変動、ウェービング、テープ上下変動の算出を行う。
テープ上下変動に関して、時刻(t−e/v)の測定点A
でのテープ幅方向変位を基準とした算出方法を用いてい
る。したがって、時刻(t−e/v)の測定点Aでのテー
プ幅方向変位を基準としたテープ上下変動は、 r(t)=γ(t)−α(t−e/v) ・・・(4) となる。
In the tape measuring device configured as described above, the position of the first measuring device 2 is different, and the value output from the first measuring device 2 is held in the storage device 8 and input to the arithmetic device 9 The displacement in the width direction is measured in the same manner as in 1. FIG. 7 shows the measurement position of the widthwise displacement. For the tape of speed v, when the widthwise displacements at the measurement positions A, B, and C at time t are α (t), β (t), and γ (t), the tape width variation at time t, Waving and tape vertical fluctuations are calculated.
Regarding tape vertical fluctuation, measurement point A at time (t-e / v)
The calculation method based on the displacement in the tape width direction is used. Therefore, the tape vertical fluctuation based on the tape width direction displacement at the measurement point A at time (t-e / v) is: r (t) = γ (t) -α (t-e / v) (4)

【0043】テープ幅変動p(t)は、テープ上端と下端
の差として算出できる。したがって、時刻tでの測定位
置Aと測定位置Bでの幅方向変位から、 p(t)=α(t)−β(t) ・・・(5) となる。
The tape width variation p (t) can be calculated as the difference between the upper and lower ends of the tape. Therefore, from the displacement in the width direction at the measurement position A and the measurement position B at time t, p (t) = α (t) −β (t) (5)

【0044】ウェービングq(t)を求める前に、テープ
の中心位置変位s(t)を求める。中心位置変位s(t)は
テープ上端と下端の幅方向変位の平均であるから、 s(t)={α(t)+β(t)}/2 と表せる。テープの中心位置変位s(t)はウェービング
q(t)とテープ上下変動r(t)を合成した量であるの
で、 q(t)+r(t)={α(t)+β(t)}/2 となる。したがって、ウェービングq(t)は、 q(t)={α(t)+β(t)}/2−r(t) ={α(t)+β(t)}/2−{γ(t)−α(t−e/v)} ={α(t)+β(t)}/2−γ(t)+α(t−e/v) ・・・(6) と表すことが出来る。したがって、テープ幅変動、ウェ
ービング、テープ上下変動を分離して測定することが可
能である。
Before obtaining the waving q (t), the center position displacement s (t) of the tape is obtained. Since the center position displacement s (t) is the average of the widthwise displacements of the upper and lower ends of the tape, it can be expressed as s (t) = {α (t) + β (t)} / 2. Since the center position displacement s (t) of the tape is a combined amount of the waving q (t) and the tape vertical fluctuation r (t), q (t) + r (t) = {α (t) + β (t)}. It becomes / 2. Therefore, the waving q (t) is q (t) = {α (t) + β (t)} / 2−r (t) = {α (t) + β (t)} / 2− {γ (t) −α (t−e / v)} = {α (t) + β (t)} / 2−γ (t) + α (t−e / v) (6) Therefore, tape width fluctuation, waving, and tape vertical fluctuation can be measured separately.

【0045】以下、本発明の第3の実施例について説明
する。図8は本発明の第3の実施例を示すテープ測定装
置の斜視図である。図1の構成と異なるのは、第1測定
器受光部2−2、第2測定器受光部4−2、第3測定器
受光部6−2のレーザ入射位置に反射鏡16を設置した
点である。第1測定器受光部2−2、第2測定器受光部
4−2、第3測定器受光部6−2は、反射鏡16によっ
て光路を変えたレーザ光線を図1とほぼ同じ条件で受光
できるように設置する。その他の構成は図1の構成と同
じである。
The third embodiment of the present invention will be described below. FIG. 8 is a perspective view of a tape measuring device showing a third embodiment of the present invention. The difference from the configuration of FIG. 1 is that the reflecting mirror 16 is installed at the laser incident position of the first measuring device light receiving part 2-2, the second measuring device light receiving part 4-2, and the third measuring device light receiving part 6-2. Is. The first measuring device light receiving unit 2-2, the second measuring device light receiving unit 4-2, and the third measuring device light receiving unit 6-2 receive the laser beam whose optical path is changed by the reflecting mirror 16 under substantially the same conditions as in FIG. Install so that you can. The other configurations are the same as those in FIG.

【0046】上記のように構成したテープ測定装置で
は、第1測定器投光部2−1から投光されたレーザが反
射鏡により方向を変えられ、第1測定器受光部2−2に
入射される。第2測定器4、第3測定器6についても同
様である。光路変更以外は第1の実施例と同様の動作を
行うため、テープ幅変動、ウェービング、テープ上下変
動を分離して測定することが可能である。したがって、
測定装置の動作及びテープ幅方向変動の算出方法につい
ての説明は省略する。
In the tape measuring device configured as described above, the direction of the laser beam projected from the first measuring instrument light projecting section 2-1 is changed by the reflecting mirror and is incident on the first measuring instrument light receiving section 2-2. To be done. The same applies to the second measuring device 4 and the third measuring device 6. Since the same operation as that of the first embodiment is performed except for the change of the optical path, it is possible to separately measure the tape width variation, the waving, and the tape vertical variation. Therefore,
The description of the operation of the measuring device and the method of calculating the variation in the tape width direction will be omitted.

【0047】以上のように、反射鏡を設けてレーザ光路
を曲げることにより、測定器の受光部2−2、4−2、
6−2を投光部2−1、4−1、6−1が投射するレー
ザの光路上に直接設置する必要がなく、測定器の配置の
自由度が大きく広がる。また、反射鏡16の反射面はレ
ーザ光線を完全に反射する面積があれば良いため、測定
器受光部と比較してかなり小型化が可能となる。これに
より測定器受光部が大きいために、テープの周囲に測定
器を配置できないような磁気テープ装置内でも測定を行
うことが出来る。したがって、従来測定が困難であった
小型の磁気テープ装置内部でもテープ幅方向変動を測定
することが出来る。
As described above, by providing the reflecting mirror and bending the laser optical path, the light receiving portions 2-2, 4-2 of the measuring instrument,
6-2 does not need to be directly installed on the optical path of the laser projected by the light projecting units 2-1, 4-1 and 6-1 and the degree of freedom in the arrangement of the measuring device is greatly expanded. Further, since the reflecting surface of the reflecting mirror 16 only needs to have an area that completely reflects the laser beam, it can be considerably miniaturized as compared with the measuring device light receiving portion. As a result, since the measuring device light receiving portion is large, the measurement can be performed even in a magnetic tape device in which the measuring device cannot be arranged around the tape. Therefore, it is possible to measure the fluctuation in the tape width direction even inside the small-sized magnetic tape device, which has been difficult to measure in the past.

【0048】なお、第3の実施例では各レーザー光路に
1つの反射鏡を配置しているが2つ以上配置しても同様
の測定が行える。第3の実施例に加えて測定器投光部側
にも反射鏡16を設置することにより、さらに測定部の
先端を小さくすることが出来る。同時に、測定器の配置
の自由度も大きくすることが出来る。
In the third embodiment, one reflecting mirror is arranged in each laser optical path, but the same measurement can be performed even if two or more reflecting mirrors are arranged. In addition to the third embodiment, by installing the reflecting mirror 16 also on the side of the measuring device projecting section, the tip of the measuring section can be made smaller. At the same time, the degree of freedom in arranging the measuring instruments can be increased.

【0049】以下、本発明の第4の実施例について説明
する。図9は本発明の第4の実施例を示すテープ測定装
置の斜視図である。図1の構成と異なる点は、第1測定
器投光部2−1及び受光部2−2がテープ1のテープ幅
方向変位の測定を行う測定位置Aと、第2測定器投光部
4−1および受光部4−2が測定を行う測定位置Bとの
テープ幅方向の距離を変更できるようにした点、および
図示しない測定器ベース部分に固定されるシャフト19
を設置した点である。図10に、第2測定器投光部4−
1を移動可能にする機構(測定器移動手段)の斜視図を
示す。図10に示すように、第2測定器投光部4−1
に、穴部17とその穴部17に直交するようなメネジ部
18を設ける。第2測定器投光部4−1の穴部17をシ
ャフト19に通す。メネジ部18に止めネジ20を螺着
し、止めネジ20の先端部をシャフト19に圧着するこ
とで、第2測定器投光部4−1をシャフト19に固定す
る。止めネジ20の圧着をゆるめることにより、第2測
定器投光部4−1をシャフト19の軸方向で移動させる
ことが出来、さらに圧着することで任意の位置で固定す
ることが出来る。
The fourth embodiment of the present invention will be described below. FIG. 9 is a perspective view of a tape measuring device showing a fourth embodiment of the present invention. The difference from the configuration of FIG. 1 is that the first measuring device projecting section 2-1 and the light receiving section 2-2 measure the displacement in the tape width direction of the tape 1 and the second measuring device projecting section 4 -1 and the light receiving section 4-2 are arranged so that the distance in the tape width direction from the measurement position B at which the measurement is performed and the shaft 19 fixed to the measuring device base portion (not shown)
Is the point that was installed. In FIG. 10, the second measuring device projecting section 4-
1 is a perspective view of a mechanism (measuring device moving means) that makes 1 movable. As shown in FIG. 10, the second measuring device projecting section 4-1.
In addition, the hole 17 and the female screw portion 18 orthogonal to the hole 17 are provided. The hole 17 of the second measuring device projecting section 4-1 is passed through the shaft 19. The second measuring instrument projecting unit 4-1 is fixed to the shaft 19 by screwing the set screw 20 onto the female screw section 18 and crimping the tip end of the set screw 20 to the shaft 19. By loosening the crimping of the setscrew 20, the second measuring device projecting section 4-1 can be moved in the axial direction of the shaft 19, and further crimping can fix the second measuring device projecting section 4-1 at an arbitrary position.

【0050】第2測定器受光部4−2についても同様の
構成とし、シャフト19上の動きが可能なようにする。
The second measuring device light receiving section 4-2 has a similar structure so that it can move on the shaft 19.

【0051】第2測定器投光部4−1と第2測定器受光
部4−2の移動は対で行われ、第2測定器投光部4−1
から投光されたレーザ光線が図1とほぼ同じ条件で第2
測定器受光部6−2で受光出来るように設置する。した
がって、測定器を固定した状態での構成は図1とほぼ同
じ構成であり、第1測定器2、第2測定器4間のテープ
幅方向の距離が異なるだけである。
The second measuring device projecting section 4-1 and the second measuring device receiving section 4-2 are moved in pairs, and the second measuring device projecting section 4-1 is used.
The laser beam emitted from the
It is installed so that the measuring device light receiving unit 6-2 can receive light. Therefore, the structure in which the measuring device is fixed is almost the same as that of FIG. 1, and only the distance between the first measuring device 2 and the second measuring device 4 in the tape width direction is different.

【0052】上記のように構成したテープ測定装置で
は、測定器が固定された状態では第1の実施例と同様の
動作を行うため、テープ幅変動、ウェービング、テープ
上下変動を分離して測定することが可能である。計算方
法は第1の実施例で示した式を用いることが出来る。し
たがって、測定装置の動作及びテープ幅変動の算出方法
についての説明は省略する。
In the tape measuring device constructed as described above, the same operation as in the first embodiment is performed with the measuring device fixed, so that tape width fluctuation, waving, and tape vertical fluctuation are separately measured. It is possible. As the calculation method, the formula shown in the first embodiment can be used. Therefore, the description of the operation of the measuring device and the method of calculating the tape width variation is omitted.

【0053】第1の実施例では、特定の幅を持つテープ
1に対して幅方向変動を測定することが出来たが、本実
施例では第2測定器投光部4−1と第2測定器受光部4
−2を移動させることによって、様々な幅のテープ1に
対して幅方向変動の測定を行うことが出来る。したがっ
て、様々な磁気テープ装置でテープ1の幅方向変動を測
定することが出来、適用分野が広がる。
In the first embodiment, the variation in the width direction can be measured for the tape 1 having a specific width, but in the present embodiment, the second measuring device projecting section 4-1 and the second measurement are performed. Receiver 4
By moving -2, it is possible to measure the variation in the width direction for the tapes 1 having various widths. Therefore, the variation in the width direction of the tape 1 can be measured with various magnetic tape devices, and the field of application is expanded.

【0054】なお、測定器を可動にする方法について
は、シャフト19をレールに変更し、測定器に車輪部を
付けてレール上を移動させるような方法でも良いし、測
定器の穴部17をメネジ部にし、シャフト19をオネジ
部にして回転させることでネジのかみ合いを利用して移
動させても良い。このように測定器の移動は様々な方式
が考えられるが、いずれの方法においても、本実施例の
様に測定器の少なくとも一つをテープ幅方向に動かすこ
とが出来れば同様の効果を得ることが可能である。
As a method of making the measuring instrument movable, a method may be used in which the shaft 19 is changed to a rail, and a wheel portion is attached to the measuring instrument so as to move on the rail. A female screw portion may be used, and the shaft 19 may be used as a male screw portion to rotate the shaft 19 to move the screw 19 by utilizing screw engagement. As described above, various methods of moving the measuring device are conceivable. In any method, if at least one of the measuring devices can be moved in the tape width direction as in this embodiment, the same effect can be obtained. Is possible.

【0055】以下、本発明の第5の実施例について説明
する。図11は本発明の第5の実施例を示すテープ測定
装置の斜視図である。図1の構成と異なる点は、第1測
定器投光部2−1及び受光部2−2がテープ1のテープ
幅方向変位の測定を行う測定位置Aと、第3測定器投光
部6−1及び受光部6−2が測定を行う測定位置Cとの
テープ幅方向の距離を変更できるようにした点、および
図示しない測定器ベース部分に固定されるシャフト19
を設置した点である。図12に、第3測定器投光部6−
1を移動可能にする機構(測定器移動手段)の斜視図を
示す。図12に示すように、第3測定器投光部6−1に
穴部17とその穴部17に直交するようなメネジ部18
を設ける。第3測定器投光部6−1の穴部17をシャフ
ト19に通す。メネジ部18に止めネジ20を螺着し、
止めネジ20の先端部をシャフト19に圧着することに
より、第3測定器投光部6−1をシャフト19に固定す
る。止めネジ20による圧着をゆるめることにより、第
3測定器投光部6−1をシャフト19の軸方向に移動さ
せることが出来、さらに圧着することで任意の位置で固
定することが出来る。第3測定器受光部6−2について
も同様の構成とする。第3測定器投光部6−1と第3測
定器受光部6−2の移動は対で行われ、第3測定器投光
部6−1から投光されたレーザ光線が図1とほぼ同じ条
件で第3測定器受光部6−2で受光出来るように設置す
る。したがって、測定器を固定した状態での構成は図1
とほぼ同じ構成であり、第1測定器2、第2測定器4間
のテープ幅方向の距離が異なるだけである。
The fifth embodiment of the present invention will be described below. FIG. 11 is a perspective view of a tape measuring device showing a fifth embodiment of the present invention. The difference from the configuration of FIG. 1 is that the first measuring device light projecting section 2-1 and the light receiving section 2-2 measure the displacement in the tape width direction of the tape 1, and the third measuring device projecting section 6 -1 and the light receiving section 6-2 are arranged so that the distance between the measurement position C and the measurement position C where the measurement is performed can be changed, and the shaft 19 fixed to the measuring device base portion (not shown).
Is the point that was installed. In FIG. 12, the third measuring device projecting unit 6-
1 is a perspective view of a mechanism (measuring device moving means) that makes 1 movable. As shown in FIG. 12, a hole 17 is formed in the third measuring device projecting section 6-1 and a female screw portion 18 perpendicular to the hole 17 is formed.
To provide. The hole 17 of the third measuring device projecting section 6-1 is passed through the shaft 19. Set screw 20 is screwed to female screw part 18,
The third measuring device projecting section 6-1 is fixed to the shaft 19 by crimping the tip of the set screw 20 to the shaft 19. By loosening the crimping by the set screw 20, the third measuring-device light projecting section 6-1 can be moved in the axial direction of the shaft 19, and further crimping can fix the third measuring-device projecting section 6-1 at an arbitrary position. The third measuring device light receiving unit 6-2 has the same configuration. The movements of the third measuring instrument projecting section 6-1 and the third measuring instrument light receiving section 6-2 are performed in pairs, and the laser beam projected from the third measuring instrument projecting section 6-1 is almost the same as in FIG. The third measuring instrument light receiving section 6-2 is installed so that it can receive light under the same conditions. Therefore, the configuration with the measuring device fixed is shown in FIG.
The configuration is almost the same as the above, and only the distance between the first measuring device 2 and the second measuring device 4 in the tape width direction is different.

【0056】上記のように構成したテープ測定装置で
は、測定器が固定された状態では第1の実施例と同様の
動作を行うため、テープ幅変動、ウェービング、テープ
上下変動を分離して測定することが可能である。したが
って、測定装置の動作及びテープ幅変動の算出方法につ
いての説明は省略する。
In the tape measuring device constructed as described above, the same operation as that of the first embodiment is performed with the measuring device fixed, so that tape width fluctuation, waving, and tape vertical fluctuation are measured separately. It is possible. Therefore, the description of the operation of the measuring device and the method of calculating the tape width variation is omitted.

【0057】第1の実施例では測定位置Aと測定位置C
は距離eだけ離れて固定されている。よって、走行速度
vのテープの被測定点が測定位置Cから測定位置Aに移
動するのに(e/v)の時間を要する。すなわち、測定
位置Aの幅方向変位は時間(e/v)だけ前に測定位置
Cで観測した幅方向変位である。テープ上下変動が図1
3に示すような正弦波状の変動であった時、上下変動の
周期が(e/v)であった場合は2つの測定位置でのテ
ープ幅方向変位は同一となり、上下変動がないと観測さ
れる。すなわち、第1の実施例ではテープ上下変動の周
期によって、正確な上下変動の測定が行えない場合が発
生する。本実施例においては第3測定器の測定位置Cを
図13の測定位置C’に移動させることにより、正弦波
状の上下変動の山頂部(最大)と谷底部(最小)の部分
を通過する被測定点の幅方向変位を測定することが出来
るため、正確なテープ上下変動量を測定することが可能
となる。
In the first embodiment, measurement position A and measurement position C
Are fixed at a distance e. Therefore, it takes (e / v) time for the measured point of the tape having the traveling speed v to move from the measurement position C to the measurement position A. That is, the widthwise displacement of the measurement position A is the widthwise displacement observed at the measurement position C before time (e / v). Figure 1 shows the vertical movement of the tape
If the vertical fluctuation period is (e / v) when the fluctuation is sinusoidal as shown in Fig. 3, the tape width direction displacement at the two measurement positions is the same, and it is observed that there is no vertical fluctuation. It That is, in the first embodiment, there may be a case where the vertical fluctuation cannot be accurately measured due to the cycle of the tape vertical fluctuation. In the present embodiment, the measurement position C of the third measuring device is moved to the measurement position C ′ in FIG. 13 so as to pass through the peak (maximum) and valley bottom (minimum) portions of the sinusoidal vertical fluctuation. Since the widthwise displacement of the measurement point can be measured, it is possible to accurately measure the tape vertical fluctuation amount.

【0058】第3測定器投光部6−1と第3測定器受光
部6−2の測定位置を移動させることにより、テープ上
下振動の周期に影響されることなく、より正確なテープ
上下変動量を測定することが出来る。したがって、あら
ゆる周期の上下変動に対応するテープ幅変動測定を行う
ことが出来るため、様々な磁気テープ装置での使用が可
能となる。
By moving the measurement positions of the third measuring device projecting portion 6-1 and the third measuring device light receiving portion 6-2, more accurate tape up and down fluctuation can be achieved without being affected by the cycle of tape vertical vibration. The quantity can be measured. Therefore, since it is possible to measure the tape width fluctuation corresponding to the vertical fluctuation of every cycle, it is possible to use it in various magnetic tape devices.

【0059】なお、測定器を可動にする方法について
は、シャフト19をレールに変更し、測定器に車輪部を
付けてレール上を移動させるような方法でも良いし、測
定器の穴部17をメネジ部にし、シャフト19をオネジ
部にして回転させることでネジのかみ合いを利用して移
動させても良い。このように測定器の移動は様々な方式
が考えられるが、いずれの方法においても、本実施例の
様に測定器の少なくとも一つをテープ長手方向に動かす
ことが出来れば同様の効果を得ることが可能である。
As a method for making the measuring instrument movable, a method may be used in which the shaft 19 is changed to a rail, and a wheel portion is attached to the measuring instrument to move on the rail. A female screw portion may be used, and the shaft 19 may be used as a male screw portion to rotate the shaft 19 to move the screw 19 by utilizing screw engagement. As described above, various methods of moving the measuring device are conceivable. In any method, the same effect can be obtained if at least one of the measuring devices can be moved in the tape longitudinal direction as in the present embodiment. Is possible.

【0060】以下、本発明の第6の実施例について説明
する。図14は本発明の第6の実施例を示すテープ測定
装置の斜視図である。図1の構成と異なる点は、第1測
定器2、第2測定器4、第3測定器6の前後にテープ1
の上下変動を規制するテープガイド21を設けた点であ
る。その他の構成は図1の構成と同じである。
The sixth embodiment of the present invention will be described below. FIG. 14 is a perspective view of a tape measuring device showing a sixth embodiment of the present invention. The difference from the configuration of FIG. 1 is that the tape 1 is placed before and after the first measuring device 2, the second measuring device 4, and the third measuring device 6.
The point is that the tape guide 21 that regulates the vertical movement of the tape is provided. The other configurations are the same as those in FIG.

【0061】上記のように構成したテープ測定装置で
は、幅方向変動の測定に関しては第1の実施例と同様の
動作を行うので説明を省略する。測定器の前後に設置し
たテープガイド21によってテープ1の上下端を規制す
るため、テープガイド21間のテープ走行による上下変
動は抑制される。また、安定したテープ走行を得ること
も可能となる。この場合、テープ幅方向変動の要因の1
つである上下変動の影響が小さくなり上下変動の測定誤
差を小さくすることが出来るため、ウェービングに関し
ては第1の実施例と比較して、より精度の高い値を得る
ことが出来る。上下変動がテープ幅変動及びウェービン
グと比較して大きく、測定精度に問題が生じるような磁
気テープ装置でのテープ幅変動測定には特に効果が大き
く、ウェービングの測定精度の向上を達成することが出
来る。
In the tape measuring device constructed as described above, the same operation as that of the first embodiment is carried out with respect to the measurement of the variation in the width direction, and the explanation thereof will be omitted. Since the upper and lower ends of the tape 1 are regulated by the tape guides 21 installed in front of and behind the measuring instrument, vertical movement due to running of the tape between the tape guides 21 is suppressed. It also becomes possible to obtain stable tape running. In this case, one of the factors of tape width variation
Since the influence of the vertical fluctuation, which is one of the above, is small and the measurement error of the vertical fluctuation can be reduced, it is possible to obtain a more accurate value for waving as compared with the first embodiment. Vertical fluctuation is large compared to tape width fluctuation and waving, and it is particularly effective for tape width fluctuation measurement in a magnetic tape device where measurement accuracy is problematic, and improvement in waving measurement accuracy can be achieved. .

【0062】なお、テープ1の上下変動を抑える方法に
ついては、フランジ付きのポストを用いる方法でも良い
し、シリンダのリード状のガイドによる方法でもよい。
いずれの方法においてもテープに規制を加えることが出
来る構成であれば、テープガイド21の形状及び方式が
どの様なものでも、また個数も1個以上であれば同様の
効果を得ることが出来る。
As a method of suppressing the vertical fluctuation of the tape 1, a method using a flanged post or a method using a lead-shaped guide of a cylinder may be used.
In any method, as long as the tape can be regulated, the same effect can be obtained regardless of the shape and method of the tape guide 21 and if the number is one or more.

【0063】また、テープの上下変動を完全に抑えるこ
とが可能な規制を行えるテープガイド21を設置した場
合は、第3測定器6を設置し測定位置Cでのテープ幅方
向変位を測定する必要はない。
When the tape guide 21 capable of restricting the vertical movement of the tape is installed, it is necessary to install the third measuring device 6 and measure the displacement in the tape width direction at the measurement position C. There is no.

【0064】また、テープガイド21は常にテープ1を
規制する必要はなく、着脱できるように設置し、測定対
象によってテープガイド21の使用を切り換えても良
い。この場合は、テープガイド21による規制をした状
態でテープ幅変動及びウェービングを測定し、その値を
参考にしてテープガイド21による規制をせずにテープ
上下変動を測定するような測定方法が可能となる。この
場合は、全ての測定値の精度向上が可能である。
Further, the tape guide 21 does not always need to regulate the tape 1, but may be installed so as to be detachable, and the use of the tape guide 21 may be switched depending on the object to be measured. In this case, a tape width variation and waving are measured with the tape guide 21 regulated, and a measurement method is possible in which the tape vertical variation is measured without regulation by the tape guide 21 with reference to the measured values. Become. In this case, the accuracy of all measured values can be improved.

【0065】[0065]

【発明の効果】以上のように、本発明のテープ測定方法
およびテープ測定装置によれば、走行するテープの端部
3ヵ所の測定位置において幅方向変位を測定することに
より、ある時刻tでのテープの幅変動、ウェービング、
上下変動を算出することが出来る。これにより、走行中
のテープ幅変動の要因を各々定量的に分析・比較するこ
とが出来る。したがって、安定したテープ走行を実現す
るために、テープ幅変動とウェービングに関連するテー
プの幅誤差を少なくすることが必要なのか、上下変動と
関連するテープ走行状態の改善が必要なのかを分析する
ことが容易となる。また、従来困難であった走行中のテ
ープに対して、テープ幅変動とウェービングの2つを同
時に測定することが出来るため、テープの幅誤差に対し
てもより詳しい検討を行うことが出来る。
As described above, according to the tape measuring method and the tape measuring apparatus of the present invention, the widthwise displacement is measured at the measuring positions at the three end portions of the running tape, so that the tape is measured at a certain time t. Tape width variation, waving,
Vertical fluctuation can be calculated. This makes it possible to quantitatively analyze and compare the factors of the tape width fluctuation during running. Therefore, in order to realize stable tape running, it is analyzed whether it is necessary to reduce the tape width error related to tape width fluctuation and waving, or to improve the tape running state related to vertical fluctuation. It will be easy. Further, since it is possible to simultaneously measure the tape width variation and the waving for a running tape, which has been difficult in the past, it is possible to perform a more detailed examination of the tape width error.

【0066】また、本発明によれば、測定器を光学式と
して、測定に使用する光路を変更することにより、測定
器本体の配置の自由度を広げることが出来る。これによ
り、大きさが問題となり測定器を配置できないような磁
気テープ装置内のテープに関しても、テープ幅変動の測
定が行える。よって、測定器の配置を想定していない一
般の磁気テープ装置に対しても測定を行うことが出来る
ため、測定装置の適用分野を広げることが出来る。
Further, according to the present invention, the measuring instrument is an optical type and the optical path used for the measurement is changed, so that the degree of freedom of the arrangement of the measuring instrument main body can be widened. As a result, the tape width variation can be measured even with respect to the tape in the magnetic tape device in which the size is a problem and the measuring device cannot be arranged. Therefore, since the measurement can be performed even on a general magnetic tape device which does not assume the arrangement of the measuring device, the applicable field of the measuring device can be expanded.

【0067】また、本発明によれば、テープ上で第1の
測定器と第2の測定器のうちの少なくとも一つをテープ
幅方向に移動させる手段を設けることにより、測定を行
う位置のテープ幅方向の距離を変更することが出来る。
これにより、テープ幅の異なる各種テープに対応して幅
方向変動の測定を行うことが可能となる。したがって、
様々な磁気テープ装置でのテープ幅方向変動を測定する
ことが出来、測定装置の適用分野を広げることが出来
る。
Further, according to the present invention, by providing means for moving at least one of the first measuring device and the second measuring device in the tape width direction on the tape, the tape at the position where the measurement is performed is provided. The distance in the width direction can be changed.
This makes it possible to measure the variation in the width direction corresponding to various tapes having different tape widths. Therefore,
It is possible to measure variations in the tape width direction in various magnetic tape devices, and it is possible to expand the field of application of the measuring device.

【0068】また、本発明によれば、第1の測定器と第
2の測定器と第3の測定器の少なくとも一つをテープ長
手方向に移動させる手段を設けることにより、測定を行
う位置のテープ長手方向の距離を変更させることが出来
る。これにより、走行中のテープの上下変動の周期によ
って正確な測定が行えない状況に対応することが出来
る。すなわち、あらゆる周期の上下変動に対応した幅変
動測定を行うことが可能となる。
Further, according to the present invention, by providing means for moving at least one of the first measuring device, the second measuring device and the third measuring device in the tape longitudinal direction, The distance in the tape longitudinal direction can be changed. As a result, it is possible to cope with a situation in which accurate measurement cannot be performed due to the cycle of vertical movement of the running tape. That is, it is possible to perform width fluctuation measurement corresponding to vertical fluctuations in every cycle.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の第1の実施例におけるテープ測定装置
の斜視図
FIG. 1 is a perspective view of a tape measuring device according to a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明のテープ測定装置に係る測定器の測定原
理図
FIG. 2 is a measurement principle diagram of a measuring device according to the tape measuring device of the present invention.

【図3】アナログ出力電圧と遮光面積との関係を示すグ
ラフ
FIG. 3 is a graph showing a relationship between an analog output voltage and a light shielding area.

【図4】本発明の第1の実施例におけるテープ測定の説
明図
FIG. 4 is an explanatory diagram of tape measurement according to the first embodiment of the present invention.

【図5】光ファイバーを使用した本発明の第1の実施例
の斜視図
FIG. 5 is a perspective view of a first embodiment of the present invention using an optical fiber.

【図6】本発明の第2の実施例におけるテープ測定装置
の斜視図
FIG. 6 is a perspective view of a tape measuring device according to a second embodiment of the present invention.

【図7】本発明の第2の実施例におけるテープ測定の説
明図
FIG. 7 is an explanatory diagram of tape measurement according to the second embodiment of the present invention.

【図8】本発明の第3の実施例におけるテープ測定装置
の斜視図
FIG. 8 is a perspective view of a tape measuring device according to a third embodiment of the present invention.

【図9】本発明の第4の実施例におけるテープ測定装置
の斜視図
FIG. 9 is a perspective view of a tape measuring device according to a fourth embodiment of the present invention.

【図10】本発明の第4の実施例での測定器移動手段の
要部斜視図
FIG. 10 is a perspective view of essential parts of a measuring device moving means according to a fourth embodiment of the present invention.

【図11】本発明の第5の実施例におけるテープ測定装
置の斜視図
FIG. 11 is a perspective view of a tape measuring device according to a fifth embodiment of the present invention.

【図12】本発明の第5の実施例での測定器移動手段の
要部斜視図
FIG. 12 is a perspective view of essential parts of a measuring instrument moving means according to a fifth embodiment of the present invention.

【図13】正弦波状のテープ上下振動と測定位置の説明
13 is an explanatory diagram of sinusoidal vertical vibration of the tape and a measurement position.

【図14】本発明の第6の実施例におけるテープ測定装
置の斜視図
FIG. 14 is a perspective view of a tape measuring device according to a sixth embodiment of the present invention.

【図15】従来例のレーザ外形測定器の測定原理図FIG. 15: Measurement principle diagram of a conventional laser contour measuring instrument

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 テープ 2−1 第1の測定器の投光部 2−2 第1の測定器の受光部 4−1 第2の測定器の投光部 4−2 第2の測定器の受光部 6−1 第3の測定器の投光部 6−2 第3の測定器の受光部 8 記憶装置 9 演算装置 10 レーザ光線 11 半導体レーザ 12 投光部光学系 13 受光部光学系 14 受光素子 15 光ファイバー 16 反射鏡 17 穴部 18 ネジ部 19 シャフト 20 止めネジ 21 テープガイド 22 半導体レーザ投光部 23 ポリゴンミラー 24 反射ミラー 25 コリメータレンズ 26 受光レンズ 27 受光素子 28 エッジ検出装置 1 Tape 2-1 Light-Emitting Unit of First Measuring Device 2-2 Light-Receiving Unit of First Measuring Device 4-1 Light-Emitting Unit of Second Measuring Device 4-2 Light-Receiving Unit of Second Measuring Device 6- 1 Light Emitting Unit of Third Measuring Instrument 6-2 Light Receiving Unit of Third Measuring Instrument 8 Storage Device 9 Computing Device 10 Laser Beam 11 Semiconductor Laser 12 Light Emitting Unit Optical System 13 Light Receiving Unit Optical System 14 Light Receiving Element 15 Optical Fiber 16 Reflector 17 Hole 18 Screw 19 Shaft 20 Set screw 21 Tape guide 22 Semiconductor laser projector 23 Polygon mirror 24 Reflective mirror 25 Collimator lens 26 Light receiving lens 27 Light receiving element 28 Edge detection device

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】速度vで走行するテープにおいて、前記テ
ープ幅方向のある一端の測定位置Aでの時刻tの幅方向
変位をα(t)とし、前記テープの測定位置Aの幅方向に
おける他端部で、かつテープ長手方向位置がほぼ前記測
定位置Aと同じ位置での時刻tの幅方向変位をβ(t)と
し、前記測定位置Aとテープ幅方向において同じ側の端
部で、かつテープ長手方向にテープ進行逆方向へ距離e
だけ離れた位置での時刻tの幅方向変位をγ(t)とし、
前記測定位置Aでの時刻tにおけるテープ幅変動p
(t)、ウェービングq(t)、テープ上下変動r(t)を、 p(t)=α(t)−β(t) q(t)={β(t)−α(t)}/2+γ(t−e/v) r(t)=α(t)−γ(t−e/v) として算出することを特徴とするテープ測定方法。
1. A tape running at a speed v, wherein the widthwise displacement at a time t at a measurement position A at one end in the tape width direction is α (t), and other values in the widthwise direction at the measurement position A of the tape are defined. Let β (t) be the widthwise displacement at time t at the end and the tape longitudinal position is almost the same as the measurement position A, and at the end on the same side in the tape width direction as the measurement position A, and In the longitudinal direction of the tape, the tape travels in the reverse direction e
Γ (t) is the widthwise displacement at time t at a position separated by
Tape width fluctuation p at time t at the measurement position A
(t), waving q (t), tape vertical fluctuation r (t), p (t) = α (t) −β (t) q (t) = {β (t) −α (t)} / 2 + γ (t−e / v) r (t) = α (t) −γ (t−e / v).
【請求項2】速度vで走行するテープにおいて、前記テ
ープ幅方向のある一端の測定位置Aでの時刻tの幅方向
変位をα(t)とし、前記テープの測定位置Aの幅方向に
おける他端部で、かつテープ長手方向位置がほぼ同前記
測定位置Aと同じ位置での時刻tの幅方向変位をβ(t)
とし、前記測定位置Aとテープ幅方向において同じ側の
端部で、かつテープ長手方向にテープ進行方向へ距離e
だけ離れた位置での時刻tの幅方向変位をγ(t)とし、
前記測定位置Aでの時刻tにおけるテープ幅変動p
(t)、ウェービングq(t)、テープ上下変動r(t)を、 p(t)=α(t)−β(t) q(t)={α(t)+β(t)}/2−γ(t)+α(t−e
/v) r(t)=γ(t)−α(t−e/v) として算出することを特徴とするテープ測定方法。
2. A tape traveling at a speed v, wherein the widthwise displacement at time t at a measurement position A at one end in the tape widthwise direction is α (t), and other values in the widthwise direction of the measurement position A of the tape are measured. The widthwise displacement at time t at the end and at the same position as the measuring position A where the tape longitudinal direction position is almost the same is β (t)
And the distance e in the tape traveling direction in the tape longitudinal direction at the end on the same side as the measurement position A in the tape width direction.
Γ (t) is the widthwise displacement at time t at a position separated by
Tape width fluctuation p at time t at the measurement position A
(t), waving q (t), and tape vertical fluctuation r (t), p (t) = α (t) −β (t) q (t) = {α (t) + β (t)} / 2 −γ (t) + α (t−e
/ V) r (t) = γ (t) -α (t-e / v).
【請求項3】テープ上のテープ幅方向の一端の幅方向変
位を検出し出力する第1の測定器と、前記第1の測定器
が測定する前記テープ位置とはテープ長手方向の位置が
ほぼ同じであるテープ他端部の幅方向変位を検出し出力
する第2の測定器と、前記第1の測定器及び第2の測定
器が測定する測定位置とはテープ長手方向において異な
る位置において前記テープの端部の幅方向変位を検出し
出力する第3の測定器と、前記第1の測定器、第2の測
定器、第3の測定器が出力する値の少なくとも一つを保
持する記憶装置と、前記第1の測定器、第2の測定器、
第3の測定器が出力する値及び前記記憶装置が保持する
値を用いて、テープ幅変動、ウェービング、テープ上下
変動の少なくとも一つを計算する演算装置とを備えたこ
とを特徴とするテープ測定装置。
3. A first measuring device that detects and outputs a widthwise displacement of one end of the tape in the width direction of the tape and a tape position measured by the first measuring device have a position substantially in the longitudinal direction of the tape. The same second measuring device that detects and outputs the widthwise displacement of the other end of the tape and the measuring position measured by the first measuring device and the second measuring device are different at positions different from each other in the tape longitudinal direction. A third measuring device that detects and outputs the widthwise displacement of the end portion of the tape, and a memory that holds at least one of the values output by the first measuring device, the second measuring device, and the third measuring device. A device, the first measuring device, the second measuring device,
A tape measuring device, comprising: an arithmetic unit for calculating at least one of tape width variation, waving, and tape vertical variation using a value output by a third measuring device and a value held by the storage device. apparatus.
【請求項4】第1の測定器、第2の測定器、第3の測定
器を非接触光学式の測定器としたことを特徴とする請求
項3記載のテープ測定装置。
4. The tape measuring device according to claim 3, wherein the first measuring device, the second measuring device and the third measuring device are non-contact optical measuring devices.
【請求項5】第1の測定器、第2の測定器、第3の測定
器が測定に使用する光路上に反射鏡を配置したことを特
徴とする請求項4記載のテープ測定装置。
5. The tape measuring device according to claim 4, wherein a reflecting mirror is arranged on an optical path used for the measurement by the first measuring instrument, the second measuring instrument and the third measuring instrument.
【請求項6】測定器移動手段を設け、前記測定器移動手
段により第1の測定器と第2の測定器の少なくとも1つ
をテープ幅方向に移動可能にしたことを特徴とする請求
項3記載のテープ測定装置。
6. A measuring instrument moving means is provided, and at least one of the first measuring instrument and the second measuring instrument is movable by the measuring instrument moving means in the tape width direction. The tape measuring device described.
【請求項7】測定器移動手段を設け、前記測定器移動手
段により第1の測定器と第3の測定器の少なくとも1つ
をテープ長手方向に移動可能にしたことを特徴とする請
求項3記載のテープ測定装置。
7. A measuring device moving means is provided, and at least one of the first measuring device and the third measuring device is movable in the tape longitudinal direction by the measuring device moving means. The tape measuring device described.
【請求項8】第1の測定器、第2の測定器、第3の測定
器がテープの測定を行う位置付近に、前記テープの位置
規制を行うテープガイドを少なくとも1つ設けたことを
特徴とする請求項3記載のテープ測定装置。
8. At least one tape guide for regulating the position of the tape is provided in the vicinity of the position where the first measuring device, the second measuring device and the third measuring device measure the tape. The tape measuring device according to claim 3.
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6459494B1 (en) 1999-02-18 2002-10-01 Fuji Photo Film Co., Ltd. Width measuring apparatus
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US8986482B2 (en) 2008-07-08 2015-03-24 The Boeing Company Method and apparatus for producing composite structures
JP2018016412A (en) * 2016-07-25 2018-02-01 株式会社Screenホールディングス Substrate processing device and meandering prediction method
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