JPH07128258A - 断層撮影装置 - Google Patents
断層撮影装置Info
- Publication number
- JPH07128258A JPH07128258A JP5276275A JP27627593A JPH07128258A JP H07128258 A JPH07128258 A JP H07128258A JP 5276275 A JP5276275 A JP 5276275A JP 27627593 A JP27627593 A JP 27627593A JP H07128258 A JPH07128258 A JP H07128258A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- radiation
- scan area
- angle
- subject
- detector
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 42
- 238000003325 tomography Methods 0.000 claims description 14
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 7
- 238000013480 data collection Methods 0.000 claims description 3
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 13
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 12
- 238000000034 method Methods 0.000 description 12
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 7
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N novaluron Chemical compound C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(OC(F)(F)F)F)=CC=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 238000004846 x-ray emission Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
- G01N23/046—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using tomography, e.g. computed tomography [CT]
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M17/00—Testing of vehicles
- G01M17/007—Wheeled or endless-tracked vehicles
- G01M17/02—Tyres
- G01M17/028—Tyres using X-rays
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/40—Imaging
- G01N2223/419—Imaging computed tomograph
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/60—Specific applications or type of materials
- G01N2223/612—Specific applications or type of materials biological material
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Pathology (AREA)
- Immunology (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Pulmonology (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 スキャンエリアをはみ出した被検体でもＣＴ
スキャンを可能として、その断層像を得ることができる
断層撮影装置を提供する。 【構成】 Ｘ線源１と検出器２とからなるＸ線ファンビ
ーム４に対してスキャンエリア６がＸ線源１側または検
出器２側寄りに形成され、このスキャンエリア６に対し
て検出器２側またはＸ線源１側に突出する形状のＴ／Ｒ
テーブル３１が配設されている。
スキャンを可能として、その断層像を得ることができる
断層撮影装置を提供する。 【構成】 Ｘ線源１と検出器２とからなるＸ線ファンビ
ーム４に対してスキャンエリア６がＸ線源１側または検
出器２側寄りに形成され、このスキャンエリア６に対し
て検出器２側またはＸ線源１側に突出する形状のＴ／Ｒ
テーブル３１が配設されている。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、例えば非破壊検査装置
に適用し得る断層撮影装置に関する。
に適用し得る断層撮影装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】この種の断層撮影装置（以下、ＣＴと略
称する）には、例えば図９に示すようなトラバース／ロ
ーテーション（以下、Ｔ／Ｒと略称する）方式の第２世
代ＣＴ、および図１０に示すようなローテート／ローテ
ート（以下、Ｒ／Ｒと略称する）方式の第３世代ＣＴが
ある。
称する）には、例えば図９に示すようなトラバース／ロ
ーテーション（以下、Ｔ／Ｒと略称する）方式の第２世
代ＣＴ、および図１０に示すようなローテート／ローテ
ート（以下、Ｒ／Ｒと略称する）方式の第３世代ＣＴが
ある。
【０００３】図９に示すＴ／Ｒ方式の第２世代ＣＴで
は、Ｘ線源１から出力されるファン角αのＸ線ファンビ
ーム４をスキャンエリアに相当するＴ／Ｒテーブル３上
に載置された図示しない被検体に対して照射しながら、
被検体を載置したＴ／Ｒテーブル３を矢印Ｒで示すよう
に回転させるとともに、また矢印Ｔで示すようにトラバ
ースさせるように走査して、被検体を透過したＸ線を検
出器２によって検出し、この検出した被検体のＸ線透過
データを収集し、この収集した被検体のＸ線透過データ
を図示しない再構成装置で処理することにより被検体の
断層像を得ることができる。Ｔ／Ｒテーブル３はＸ線源
１と検出器２との間のスペースで必要なスキャンエリア
を確保している。また、Ｘ線源１と検出器２との間の距
離ＳＤＤはＸ線利用効率の点から極力小さいことが望ま
しい。
は、Ｘ線源１から出力されるファン角αのＸ線ファンビ
ーム４をスキャンエリアに相当するＴ／Ｒテーブル３上
に載置された図示しない被検体に対して照射しながら、
被検体を載置したＴ／Ｒテーブル３を矢印Ｒで示すよう
に回転させるとともに、また矢印Ｔで示すようにトラバ
ースさせるように走査して、被検体を透過したＸ線を検
出器２によって検出し、この検出した被検体のＸ線透過
データを収集し、この収集した被検体のＸ線透過データ
を図示しない再構成装置で処理することにより被検体の
断層像を得ることができる。Ｔ／Ｒテーブル３はＸ線源
１と検出器２との間のスペースで必要なスキャンエリア
を確保している。また、Ｘ線源１と検出器２との間の距
離ＳＤＤはＸ線利用効率の点から極力小さいことが望ま
しい。
【０００４】なお、被検体をＴ／Ｒテーブル３上に載置
する場合、Ｔ／Ｒテーブルからはみ出して被検体を載置
した場合には、例えばＸ線源側の図示しないＸ線シャッ
タ、コリメータ、架台等や検出器側の図示しない構造物
に被検体が干渉し、スキャン動作ができない。また、一
般的にテーブルのローテーションは３６０°可能にして
いる。
する場合、Ｔ／Ｒテーブルからはみ出して被検体を載置
した場合には、例えばＸ線源側の図示しないＸ線シャッ
タ、コリメータ、架台等や検出器側の図示しない構造物
に被検体が干渉し、スキャン動作ができない。また、一
般的にテーブルのローテーションは３６０°可能にして
いる。
【０００５】また、図１０に示すＲ／Ｒ方式の第３世代
ＣＴでは、Ｘ線源１および検出器２の配置は図９の場合
と同じであるが、この方式ではトラバースおよびローテ
ーションの代わりにローテーションのみを行うものであ
り、Ｒテーブル５を矢印Ｒで示すように回転させ、Ｒテ
ーブル５の回転のみでスキャン動作を行うことができ
る。
ＣＴでは、Ｘ線源１および検出器２の配置は図９の場合
と同じであるが、この方式ではトラバースおよびローテ
ーションの代わりにローテーションのみを行うものであ
り、Ｒテーブル５を矢印Ｒで示すように回転させ、Ｒテ
ーブル５の回転のみでスキャン動作を行うことができ
る。
【０００６】また、被検体をＲテーブル５上に載置する
場合、上述したＴ／Ｒ方式の場合と同様に、Ｒテーブル
５からはみ出して被検体を載置した場合には、Ｘ線源や
検出器の周囲の図示しない構造物に被検体が干渉し、ス
キャン動作ができない。また、一般的にテーブルのロー
テーションは３６０°可能にしている。
場合、上述したＴ／Ｒ方式の場合と同様に、Ｒテーブル
５からはみ出して被検体を載置した場合には、Ｘ線源や
検出器の周囲の図示しない構造物に被検体が干渉し、ス
キャン動作ができない。また、一般的にテーブルのロー
テーションは３６０°可能にしている。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】上述したように、図９
および図１０に示すような従来のＣＴでは、被検体がス
キャンエリアよりも大きな外形寸法を有する場合には、
その一部でもスキャンすることができないという問題が
ある。
および図１０に示すような従来のＣＴでは、被検体がス
キャンエリアよりも大きな外形寸法を有する場合には、
その一部でもスキャンすることができないという問題が
ある。
【０００８】本発明は、上記に鑑みてなされたもので、
その目的とするところは、スキャンエリアをはみ出した
被検体でもＣＴスキャンを可能として、その断層像を得
ることができる断層撮影装置を提供することにある。
その目的とするところは、スキャンエリアをはみ出した
被検体でもＣＴスキャンを可能として、その断層像を得
ることができる断層撮影装置を提供することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の断層撮影装置は、被検体を透過した放射線
発生手段からの放射線を放射線検出手段で検出するとと
もに、被検体の空間に画定したデータ収集領域であるス
キャンエリアを通る少なくとも１８０°方向からの被検
体の投影データを得るために走査手段により被検体、前
記放射線発生手段および前記放射線検出手段を相対的に
移動させながら、前記放射線検出手段からの検出データ
を収集して被検体の断層像を得る断層撮影装置であっ
て、前記スキャンエリアを超える外形寸法の被検体を載
置可能なスキャン空間を有し、これによりスキャンエリ
アを超える外形寸法の被検体の断層像を得ることを要旨
とする。
め、本発明の断層撮影装置は、被検体を透過した放射線
発生手段からの放射線を放射線検出手段で検出するとと
もに、被検体の空間に画定したデータ収集領域であるス
キャンエリアを通る少なくとも１８０°方向からの被検
体の投影データを得るために走査手段により被検体、前
記放射線発生手段および前記放射線検出手段を相対的に
移動させながら、前記放射線検出手段からの検出データ
を収集して被検体の断層像を得る断層撮影装置であっ
て、前記スキャンエリアを超える外形寸法の被検体を載
置可能なスキャン空間を有し、これによりスキャンエリ
アを超える外形寸法の被検体の断層像を得ることを要旨
とする。
【００１０】
【作用】本発明の断層撮影装置では、放射線検出手段ま
たは放射線発生手段の側に片方のみスキャンエリアをは
み出して被検体を設定することができ、データ収集の回
転はトラバース／ローテーション方式では（１８０°−
ファン角α）、ローテート／ローテート方式では（１８
０°＋ファン角α）であり、放射線発生手段と放射線検
出手段の中心を結ぶ線に対して対称に往復回転動作を行
う。
たは放射線発生手段の側に片方のみスキャンエリアをは
み出して被検体を設定することができ、データ収集の回
転はトラバース／ローテーション方式では（１８０°−
ファン角α）、ローテート／ローテート方式では（１８
０°＋ファン角α）であり、放射線発生手段と放射線検
出手段の中心を結ぶ線に対して対称に往復回転動作を行
う。
【００１１】
【実施例】以下、図面を用いて本発明の実施例を説明す
る。図１は、本発明の一実施例に係わる断層撮影装置の
構成を示すブロック図である。同図において、スキャナ
１０はＸ線を連続的に放射するＸ線管からなるＸ線源１
と、このＸ線源１から放射されるＸ線を一定のファンビ
ーム形状に整形するコリメータ５と、所定の方向以外の
Ｘ線の入射を防止するコリメータ７と、被検体を透過し
たＸ線を検出する検出器２と、該検出器２から出力され
る検出データにＡ／Ｄ変換等の処理を施して、プロジェ
クションデータ（投影データ）として出力するデータ収
集部１１と、Ｔ／Ｒ方式の場合には、トラバース機構お
よびローテーション機構等からなり、またＲ／Ｒ方式の
場合には、ローテーション機構等からなる機構部１３
と、各種測定条件等の設定を入力するための操作パネル
１５とを有している。
る。図１は、本発明の一実施例に係わる断層撮影装置の
構成を示すブロック図である。同図において、スキャナ
１０はＸ線を連続的に放射するＸ線管からなるＸ線源１
と、このＸ線源１から放射されるＸ線を一定のファンビ
ーム形状に整形するコリメータ５と、所定の方向以外の
Ｘ線の入射を防止するコリメータ７と、被検体を透過し
たＸ線を検出する検出器２と、該検出器２から出力され
る検出データにＡ／Ｄ変換等の処理を施して、プロジェ
クションデータ（投影データ）として出力するデータ収
集部１１と、Ｔ／Ｒ方式の場合には、トラバース機構お
よびローテーション機構等からなり、またＲ／Ｒ方式の
場合には、ローテーション機構等からなる機構部１３
と、各種測定条件等の設定を入力するための操作パネル
１５とを有している。
【００１２】また、検出器２は、ホトダイオードおよび
シンチレータそれぞれ８個ずつによって構成される検出
ブロックを例えば２２個組み合わせることによって１７
６チャンネル（８チャンネル／個）を有する（なお、Ｒ
／Ｒ方式では、５１２チャンネル以上）。
シンチレータそれぞれ８個ずつによって構成される検出
ブロックを例えば２２個組み合わせることによって１７
６チャンネル（８チャンネル／個）を有する（なお、Ｒ
／Ｒ方式では、５１２チャンネル以上）。
【００１３】ＣＰＵ１７は、前記スキャナ１０、コンソ
ール１９および制御盤２１と接続され、装置全体の動作
を制御するとともに、データ収集部１１から入力される
投影データを基に各種補正を施しながら被検体の断層像
を再構成する。
ール１９および制御盤２１と接続され、装置全体の動作
を制御するとともに、データ収集部１１から入力される
投影データを基に各種補正を施しながら被検体の断層像
を再構成する。
【００１４】コンソール１９は、各種操作を行うための
ものであるが、撮影ユニット２３、ディスプレイ２５お
よびＸ線コントローラ２７に接続されている。撮影ユニ
ット２３は、コンソール１９を介したＣＰＵ１７からの
制御によってディスプレイ２５に表示される断層像を撮
影記録する。
ものであるが、撮影ユニット２３、ディスプレイ２５お
よびＸ線コントローラ２７に接続されている。撮影ユニ
ット２３は、コンソール１９を介したＣＰＵ１７からの
制御によってディスプレイ２５に表示される断層像を撮
影記録する。
【００１５】ディスプレイ２５は、前記操作パネル１５
から入力される設定条件等を表示するとともに、ＣＰＵ
１７によって再構成された被検体の断層像を表示する。
制御盤２１は、機構部１３、操作パネル１５、ＣＰＵ１
７、コンソール１９、Ｘ線コントローラ２７に接続さ
れ、ＣＰＵ１７からの制御指令または操作パネル１５、
コンソール１９からの操作指令に基づいて機構部１３お
よびＸ線コントローラ２７を制御する。
から入力される設定条件等を表示するとともに、ＣＰＵ
１７によって再構成された被検体の断層像を表示する。
制御盤２１は、機構部１３、操作パネル１５、ＣＰＵ１
７、コンソール１９、Ｘ線コントローラ２７に接続さ
れ、ＣＰＵ１７からの制御指令または操作パネル１５、
コンソール１９からの操作指令に基づいて機構部１３お
よびＸ線コントローラ２７を制御する。
【００１６】高圧トランス２９は、高圧発生器３１とと
もに高圧の駆動用の電力を発生し、Ｘ線源１に供給して
いる。オイルクーラ３３はＸ線源１および高圧トランス
２９を冷却するものである。
もに高圧の駆動用の電力を発生し、Ｘ線源１に供給して
いる。オイルクーラ３３はＸ線源１および高圧トランス
２９を冷却するものである。
【００１７】図２（ａ）および（ｂ）は、Ｔ／Ｒ方式の
第２世代ＣＴのＸ線幾何系およびスキャン方式を示す説
明図であり、図２（ａ）はＸ線源１と検出器２とからな
るＸ線ファンビーム４に対してスキャンエリア６がＸ線
源１側寄りに形成され、このスキャンエリア６に対して
検出器２側に突出する形状のＴ／Ｒテーブル３１が配設
されていることを示している。また、図２（ｂ）はスキ
ャンエリア６が検出器２側寄りに形成され、このスキャ
ンエリア６に対してＴ／Ｒテーブル３１がＸ線源１側に
突出するように配設されている。また、この場合、Ｔで
示すようにトラバースが行われるとともに、Ｒで示すよ
うに１８０°−αのローテーションが行われる。
第２世代ＣＴのＸ線幾何系およびスキャン方式を示す説
明図であり、図２（ａ）はＸ線源１と検出器２とからな
るＸ線ファンビーム４に対してスキャンエリア６がＸ線
源１側寄りに形成され、このスキャンエリア６に対して
検出器２側に突出する形状のＴ／Ｒテーブル３１が配設
されていることを示している。また、図２（ｂ）はスキ
ャンエリア６が検出器２側寄りに形成され、このスキャ
ンエリア６に対してＴ／Ｒテーブル３１がＸ線源１側に
突出するように配設されている。また、この場合、Ｔで
示すようにトラバースが行われるとともに、Ｒで示すよ
うに１８０°−αのローテーションが行われる。
【００１８】図３は、図２と同様なＴ／Ｒ方式の第２世
代ＣＴのＸ線幾何系およびスキャン方式を示している
が、Ｘ線源１と検出器２からなるＸ線ファンビーム４に
対してスキャンエリア６が同様にＸ線源１側寄りに配設
され、このスキャンエリア６内にＴ／Ｒテーブル３２が
設けられている。この場合も、図２の場合と同様に、ト
ラバースおよびローテーションは行われ、ローテーショ
ンは同様に１８０°−αであるが、このＴ／Ｒテーブル
３２が点線３２ａで示すように検出器２側にはみ出した
場合において、ローテーションが１８０°−αの範囲で
行われている間は、図３に示すように、Ｔ／Ｒテーブル
３２のはみ出した部分３２ａはＸ線源１に衝突せず、Ｘ
線源１と検出器２との間の距離ＳＤＤは図示のように比
較的短くなっている。これに対して、Ｔ／Ｒテーブル３
２が３６０°回転した場合には、Ｘ線源１と検出器２と
の間の距離は図示のようにＳＤＤ’となる。従って、Ｔ
／Ｒテーブル３２が３２ａで示すように検出器２側に突
出した場合の距離ＳＤＤは、Ｘ線源１とスキャンエリア
６の中心Ｃとの間の距離ＳＣＤが小さい分だけ３６０°
回転する場合に比較して小さくなっている。
代ＣＴのＸ線幾何系およびスキャン方式を示している
が、Ｘ線源１と検出器２からなるＸ線ファンビーム４に
対してスキャンエリア６が同様にＸ線源１側寄りに配設
され、このスキャンエリア６内にＴ／Ｒテーブル３２が
設けられている。この場合も、図２の場合と同様に、ト
ラバースおよびローテーションは行われ、ローテーショ
ンは同様に１８０°−αであるが、このＴ／Ｒテーブル
３２が点線３２ａで示すように検出器２側にはみ出した
場合において、ローテーションが１８０°−αの範囲で
行われている間は、図３に示すように、Ｔ／Ｒテーブル
３２のはみ出した部分３２ａはＸ線源１に衝突せず、Ｘ
線源１と検出器２との間の距離ＳＤＤは図示のように比
較的短くなっている。これに対して、Ｔ／Ｒテーブル３
２が３６０°回転した場合には、Ｘ線源１と検出器２と
の間の距離は図示のようにＳＤＤ’となる。従って、Ｔ
／Ｒテーブル３２が３２ａで示すように検出器２側に突
出した場合の距離ＳＤＤは、Ｘ線源１とスキャンエリア
６の中心Ｃとの間の距離ＳＣＤが小さい分だけ３６０°
回転する場合に比較して小さくなっている。
【００１９】図２（ａ）および（ｂ）は、図３で示した
ように、Ｔ／Ｒテーブル３１をＸ線源１または検出器２
側に片寄らせて、反対側に突出させるとともに、ローテ
ーションを１８０°−αにすることにより、Ｘ線源１と
検出器２との間の距離ＳＤＤを小さくして小型化してい
るものである。なお、スキャン時のローテーションを１
８０°−αの角度で行うことにより、ＣＴの投影データ
として原理に反しないデータ収集が可能である。
ように、Ｔ／Ｒテーブル３１をＸ線源１または検出器２
側に片寄らせて、反対側に突出させるとともに、ローテ
ーションを１８０°−αにすることにより、Ｘ線源１と
検出器２との間の距離ＳＤＤを小さくして小型化してい
るものである。なお、スキャン時のローテーションを１
８０°−αの角度で行うことにより、ＣＴの投影データ
として原理に反しないデータ収集が可能である。
【００２０】図４は、Ｔ／Ｒ方式の第２世代ＣＴのＸ線
幾何系を示す図である。同図において、Ｘ線源１と検出
器２とからなるＸ線ファンビーム４に対するスキャンエ
リア６に対して検出器２側に突出したＴ／Ｒテーブル３
３が配設されている。このＴ／Ｒテーブル３３のＸ線源
１寄りの円弧部分はスキャンエリア６に一致し、その半
径はｒであり、検出器２寄りに突出した部分のスキャン
エリア６の中心Ｃからの半径はＲである。
幾何系を示す図である。同図において、Ｘ線源１と検出
器２とからなるＸ線ファンビーム４に対するスキャンエ
リア６に対して検出器２側に突出したＴ／Ｒテーブル３
３が配設されている。このＴ／Ｒテーブル３３のＸ線源
１寄りの円弧部分はスキャンエリア６に一致し、その半
径はｒであり、検出器２寄りに突出した部分のスキャン
エリア６の中心Ｃからの半径はＲである。
【００２１】図５は、Ｒ／Ｒ方式の第３世代ＣＴのＸ線
幾何系を示している。同図においては、Ｘ線源１と検出
器２とからなるＸ線ファンビーム４内の検出器２寄りに
スキャンエリア６が位置し、このスキャンエリアからＸ
線源１側にファンビーム４と同じファン角αで突出した
部分を有してテーブル４１が配設されている。
幾何系を示している。同図においては、Ｘ線源１と検出
器２とからなるＸ線ファンビーム４内の検出器２寄りに
スキャンエリア６が位置し、このスキャンエリアからＸ
線源１側にファンビーム４と同じファン角αで突出した
部分を有してテーブル４１が配設されている。
【００２２】Ｒ／Ｒ方式のＣＴでは、同図に示すよう
に、ファン角αはスキャンエリア６をカバーする角度を
有する必要があり、一般的にＸ線源１のＸ線放射角の制
限からＸ線源１とスキャンエリア６の中心Ｃとの間の距
離ＳＣＤは大きくなっている。そのため、同図に示すよ
うに、Ｘ線源１側にテーブル４１が突出する方が検出器
２側に突出するよりもＸ線源１と検出器２との間の距離
ＳＤＤを小さくすることができる。
に、ファン角αはスキャンエリア６をカバーする角度を
有する必要があり、一般的にＸ線源１のＸ線放射角の制
限からＸ線源１とスキャンエリア６の中心Ｃとの間の距
離ＳＣＤは大きくなっている。そのため、同図に示すよ
うに、Ｘ線源１側にテーブル４１が突出する方が検出器
２側に突出するよりもＸ線源１と検出器２との間の距離
ＳＤＤを小さくすることができる。
【００２３】投影データは、角度（１８０°＋α）の範
囲を撮ることにより断面を再構成することができる。フ
ァン角αを大きく取れるＸ線源１である場合には、検出
器２側へ突出する構成を採用することができることは勿
論である。図５において、テーブル４１を構成するスキ
ャンエリア６の部分の半径はｒであり、この部分からＸ
線源１側に突出した部分の半径は図示のようなＲであ
る。
囲を撮ることにより断面を再構成することができる。フ
ァン角αを大きく取れるＸ線源１である場合には、検出
器２側へ突出する構成を採用することができることは勿
論である。図５において、テーブル４１を構成するスキ
ャンエリア６の部分の半径はｒであり、この部分からＸ
線源１側に突出した部分の半径は図示のようなＲであ
る。
【００２４】図４および図５は、Ｘ線ジオメトリから決
まるテーブル形状の限界を示しているが、各々の制約条
件をまとめると次の表１のようになる。
まるテーブル形状の限界を示しているが、各々の制約条
件をまとめると次の表１のようになる。
【００２５】
【表１】
【００２６】Ｔ／Ｒ方式とＲ／Ｒ方式によるテーブルの
広がりの差はスキャン方式によりテーブルが回転する角
度（１８０°±α）によって決まる。また、回転は角度
（１８０°±α）の範囲で往復動作を行う。
広がりの差はスキャン方式によりテーブルが回転する角
度（１８０°±α）によって決まる。また、回転は角度
（１８０°±α）の範囲で往復動作を行う。
【００２７】図６および図７は、図１に示した実施例の
機構部１３の詳細な構成を示す図である。図６および図
７に示す機構部は、一例としてタイヤの片側断面を撮像
するタイヤ用ＣＴに適用したものであり、図２（ａ）の
ジオメトリと同じ配置でタイヤの片側断面を撮像するよ
うになっている。なお、図７（ｂ）は図７（ａ）の矢印
Ａからの矢視図である。
機構部１３の詳細な構成を示す図である。図６および図
７に示す機構部は、一例としてタイヤの片側断面を撮像
するタイヤ用ＣＴに適用したものであり、図２（ａ）の
ジオメトリと同じ配置でタイヤの片側断面を撮像するよ
うになっている。なお、図７（ｂ）は図７（ａ）の矢印
Ａからの矢視図である。
【００２８】図６および図７において、タイヤ１０１は
ホイール１０２で支持されるとともに、負荷板１１２に
よって負荷をかけられる。図７（ａ），（ｂ）はタイヤ
に負荷をかける様子を示している。トラバース／ローテ
ーション可能な走査手段を構成するＴ／Ｒテーブル３１
上には支持台１０４が固定されている。Ｔ／Ｒテーブル
３１はレールおよびトラバース機構等を備えたトラバー
ス機能と回転機能を有している。支持台１０４にはベア
リングからなる回転保持部１０６を介してタイヤ保持手
段としてのホルダ１０７が回転可能に設けられている。
該ホルダ１０７の下端部とＴ／Ｒテーブル３１との間に
は回転駆動部１０９が設けられ、制御盤２１からの制御
信号で回転駆動部１０９が伸縮することによりホルダ１
０７が回転するようになっている。被検体であるタイヤ
１０１は一般市販のホイール１０２に取り付けられ、該
ホイール１０２のハブ部分でねじ１１１によりホルダ１
０７に保持される。
ホイール１０２で支持されるとともに、負荷板１１２に
よって負荷をかけられる。図７（ａ），（ｂ）はタイヤ
に負荷をかける様子を示している。トラバース／ローテ
ーション可能な走査手段を構成するＴ／Ｒテーブル３１
上には支持台１０４が固定されている。Ｔ／Ｒテーブル
３１はレールおよびトラバース機構等を備えたトラバー
ス機能と回転機能を有している。支持台１０４にはベア
リングからなる回転保持部１０６を介してタイヤ保持手
段としてのホルダ１０７が回転可能に設けられている。
該ホルダ１０７の下端部とＴ／Ｒテーブル３１との間に
は回転駆動部１０９が設けられ、制御盤２１からの制御
信号で回転駆動部１０９が伸縮することによりホルダ１
０７が回転するようになっている。被検体であるタイヤ
１０１は一般市販のホイール１０２に取り付けられ、該
ホイール１０２のハブ部分でねじ１１１によりホルダ１
０７に保持される。
【００２９】ホルダの上下には負荷手段となる加圧板ま
たは負荷板１１２をタイヤ１０１に押し付けるための駆
動手段としての駆動部１１３、駆動ねじ棒１１５、支持
用シャフト１１６および駆動モータ１１４が設けられ、
これらの機構により負荷板１１２を図７（ｂ）の左右方
向へ移動させることができるようになっている。そし
て、上述したように、ホルダ１０７に保持されたタイヤ
１０１を挟むような位置にＸ線源１と検出器２とが対向
するように配設されている。
たは負荷板１１２をタイヤ１０１に押し付けるための駆
動手段としての駆動部１１３、駆動ねじ棒１１５、支持
用シャフト１１６および駆動モータ１１４が設けられ、
これらの機構により負荷板１１２を図７（ｂ）の左右方
向へ移動させることができるようになっている。そし
て、上述したように、ホルダ１０７に保持されたタイヤ
１０１を挟むような位置にＸ線源１と検出器２とが対向
するように配設されている。
【００３０】Ｘ線源１から放射されるファンビーム上の
Ｘ線がスキャンニングされる断層面１１７は図に示すよ
うに一般的にはタイヤ１０１の中心でもあるホイールセ
ンタを通る面に形成される。なお、負荷板１１２を含む
加圧機構の部分には負荷力または加圧力を管理するため
の圧力測定器が設けられているが、図面では省略されて
いる。
Ｘ線がスキャンニングされる断層面１１７は図に示すよ
うに一般的にはタイヤ１０１の中心でもあるホイールセ
ンタを通る面に形成される。なお、負荷板１１２を含む
加圧機構の部分には負荷力または加圧力を管理するため
の圧力測定器が設けられているが、図面では省略されて
いる。
【００３１】以上のように構成されるタイヤ用ＣＴにお
いて、タイヤ１０１の非破壊検査に際してはタイヤ１０
１をホイール１０２のハブ部分でホルダ１０７に取り付
け、断層像を所望する断層面１１７とＸ線源１から放射
されるＸ線ファンビーム面とが一致するように回転駆動
部１０９でタイヤ１０１を回転させて保持する。この状
態において、駆動部１１３により負荷板１１２が駆動さ
れ、タイヤ１０１に適宜の負荷がかけられる。それか
ら、Ｘ線ビームのファン角αの中をＴ／Ｒテーブル３１
が横切るように所定距離トラバース動作を行う。Ｔ／Ｒ
テーブル３１はファン角αで回転角度の割り出しを行
い、各トラバース毎にα角度回転してデータ収集が行わ
れる。
いて、タイヤ１０１の非破壊検査に際してはタイヤ１０
１をホイール１０２のハブ部分でホルダ１０７に取り付
け、断層像を所望する断層面１１７とＸ線源１から放射
されるＸ線ファンビーム面とが一致するように回転駆動
部１０９でタイヤ１０１を回転させて保持する。この状
態において、駆動部１１３により負荷板１１２が駆動さ
れ、タイヤ１０１に適宜の負荷がかけられる。それか
ら、Ｘ線ビームのファン角αの中をＴ／Ｒテーブル３１
が横切るように所定距離トラバース動作を行う。Ｔ／Ｒ
テーブル３１はファン角αで回転角度の割り出しを行
い、各トラバース毎にα角度回転してデータ収集が行わ
れる。
【００３２】上述したように、本実施例では、タイヤ１
０１に負荷をかけた状態で断層像を得ることができ、従
来のタイヤ用ＣＴのようにＸ線源１がタイヤ１０１の中
空部に入り込まないため、一般市販のホイール１０２を
そのまま使用できる。ホルダ１０７を用いることにより
タイヤ１０１を図７（ａ）のＡ方向から装着することが
でき、良好な作業性が得られる。タイヤ１０１の回転保
持部１０６と回転駆動部１０９とを有しているので、ス
キャンニング位置、すなわち断層面位置を容易に変える
ことができる。従って、タイヤ１０１の路面接触部から
タイヤトレッドの立ち上がり部等の断層像を得ることが
できる。
０１に負荷をかけた状態で断層像を得ることができ、従
来のタイヤ用ＣＴのようにＸ線源１がタイヤ１０１の中
空部に入り込まないため、一般市販のホイール１０２を
そのまま使用できる。ホルダ１０７を用いることにより
タイヤ１０１を図７（ａ）のＡ方向から装着することが
でき、良好な作業性が得られる。タイヤ１０１の回転保
持部１０６と回転駆動部１０９とを有しているので、ス
キャンニング位置、すなわち断層面位置を容易に変える
ことができる。従って、タイヤ１０１の路面接触部から
タイヤトレッドの立ち上がり部等の断層像を得ることが
できる。
【００３３】なお、タイヤの機械的試験との組合せは、
上述した他にもタイヤのブレーキング、ステアリング、
サイドウォール、ビート部に対する負荷試験等様々なも
のがある。また、上述した負荷板により負荷のみなら
ず、他の試験状態でＣＴスキャンを行うことも可能であ
る。
上述した他にもタイヤのブレーキング、ステアリング、
サイドウォール、ビート部に対する負荷試験等様々なも
のがある。また、上述した負荷板により負荷のみなら
ず、他の試験状態でＣＴスキャンを行うことも可能であ
る。
【００３４】以上説明したように、本実施例によれば、
スキャンエリアをはみ出すスキャン対象物の一部をスキ
ャンすることができる。また、スキャン対象物全体をス
キャンするＣＴと比較して、Ｘ線源１と検出器２との間
の距離ＳＤＤを小さくでき、Ｘ線利用効率を向上するこ
とができるとともに、装置を小型化および軽量化するこ
とができる。
スキャンエリアをはみ出すスキャン対象物の一部をスキ
ャンすることができる。また、スキャン対象物全体をス
キャンするＣＴと比較して、Ｘ線源１と検出器２との間
の距離ＳＤＤを小さくでき、Ｘ線利用効率を向上するこ
とができるとともに、装置を小型化および軽量化するこ
とができる。
【００３５】Ｘ線源１と検出器２との間の距離ＳＤＤを
小さくできるので、検出器２のチャンネル数を少なくす
ることができ、検出器２を小型化することができる。図
２（ａ）に示したようにＸ線源１と検出器２との間の距
離ＳＤＤを小さくできるので、Ｘ線焦点の寸法が小さい
時、空間分解能を向上できる。また、トラバース距離が
短くなり、装置の小型化、軽量化が可能である。スキャ
ン対象物の一部をスキャンでき、空間分解能や画像ＳＮ
比を向上できる。
小さくできるので、検出器２のチャンネル数を少なくす
ることができ、検出器２を小型化することができる。図
２（ａ）に示したようにＸ線源１と検出器２との間の距
離ＳＤＤを小さくできるので、Ｘ線焦点の寸法が小さい
時、空間分解能を向上できる。また、トラバース距離が
短くなり、装置の小型化、軽量化が可能である。スキャ
ン対象物の一部をスキャンでき、空間分解能や画像ＳＮ
比を向上できる。
【００３６】図６に示した実施例では、タイヤに負荷を
かけた状態でＣＴスキャンを行うことができる。また、
他の機械的試験を行いながら、スキャンを行うことがで
きる。更に、タイヤ用ＣＴでは、タイヤの試験状態の部
分のみをスキャンするので、空間分解能とＳＮ比を向上
させた断面像を撮ることができる。タイヤに空気圧をか
けた状態の試験が可能である。
かけた状態でＣＴスキャンを行うことができる。また、
他の機械的試験を行いながら、スキャンを行うことがで
きる。更に、タイヤ用ＣＴでは、タイヤの試験状態の部
分のみをスキャンするので、空間分解能とＳＮ比を向上
させた断面像を撮ることができる。タイヤに空気圧をか
けた状態の試験が可能である。
【００３７】なお、上記実施例では、第２世代および第
３世代ＣＴについて説明したが、ファン角αおよびデー
タ収集範囲を考慮することにより、他のスキャン方式の
ＣＴにも同様の効果を有することができる。また、Ｘ線
に限らず、他の放射線源およびその検出器でも同様に効
果を得ることができる。
３世代ＣＴについて説明したが、ファン角αおよびデー
タ収集範囲を考慮することにより、他のスキャン方式の
ＣＴにも同様の効果を有することができる。また、Ｘ線
に限らず、他の放射線源およびその検出器でも同様に効
果を得ることができる。
【００３８】スキャンエリアは、Ｔ／Ｒ方式の場合に
は、トラバース距離とデータピッチ等を変えることによ
り、またＲ／Ｒ方式の場合には、回転中心をＸ線源と検
出器との間で移動することにより可変とすることができ
る。
は、トラバース距離とデータピッチ等を変えることによ
り、またＲ／Ｒ方式の場合には、回転中心をＸ線源と検
出器との間で移動することにより可変とすることができ
る。
【００３９】図８は、Ｔ／Ｒ方式のスキャンエリアを可
変する方法を示す説明図である。Ｘ線源１と検出器２と
の間の距離ＳＤＤを保ちながら、Ｘ線源１および検出器
２を点線で示すように１’，２’の位置にシフトするこ
とによりスキャン対象物が干渉しないスペースを広げる
ことができ、スキャンエリア６は６１で示すように大き
く広がる。
変する方法を示す説明図である。Ｘ線源１と検出器２と
の間の距離ＳＤＤを保ちながら、Ｘ線源１および検出器
２を点線で示すように１’，２’の位置にシフトするこ
とによりスキャン対象物が干渉しないスペースを広げる
ことができ、スキャンエリア６は６１で示すように大き
く広がる。
【００４０】また、Ｘ線源１と検出器２を固定し、Ｔ／
Ｒテーブルのトラバース位置を左右方向に移動させても
同様に効果がある。上述したスキャンエリアの可変は、
Ｘ線源１および検出器２の間のジオメトリを固定したま
までスキャンエリアを可変とするが、Ｘ線源１と検出器
２との間の距離ＳＤＤを変えて、ジオメトリを変えるよ
うにＸ線源１と検出器２をスキャン中心に対して移動さ
せることもできる。この場合には、検出器２へ入射する
Ｘ線源の経路（角度）が変化するので、検出器２側のチ
ャンネル間のセパレータやクロストークの防止対策を十
分考慮する必要がある。
Ｒテーブルのトラバース位置を左右方向に移動させても
同様に効果がある。上述したスキャンエリアの可変は、
Ｘ線源１および検出器２の間のジオメトリを固定したま
までスキャンエリアを可変とするが、Ｘ線源１と検出器
２との間の距離ＳＤＤを変えて、ジオメトリを変えるよ
うにＸ線源１と検出器２をスキャン中心に対して移動さ
せることもできる。この場合には、検出器２へ入射する
Ｘ線源の経路（角度）が変化するので、検出器２側のチ
ャンネル間のセパレータやクロストークの防止対策を十
分考慮する必要がある。
【００４１】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
放射線検出手段または放射線発生手段の側に片方のみス
キャンエリアをはみ出して被検体を設定することができ
るため、外形寸法がスキャンエリアよりも大きな被検体
でもその一部の断層像を得ることができる。また、放射
線発生手段と放射線検出手段との間の距離ＳＤＤを小さ
くすることができ、放射線利用効率を向上させることが
できるとともに、また小型化、軽量化することもでき
る。
放射線検出手段または放射線発生手段の側に片方のみス
キャンエリアをはみ出して被検体を設定することができ
るため、外形寸法がスキャンエリアよりも大きな被検体
でもその一部の断層像を得ることができる。また、放射
線発生手段と放射線検出手段との間の距離ＳＤＤを小さ
くすることができ、放射線利用効率を向上させることが
できるとともに、また小型化、軽量化することもでき
る。
【図１】本発明の一実施例に係わる断層撮影装置の構成
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
【図２】Ｔ／Ｒ方式の第２世代ＣＴのＸ線幾何系を示す
説明図である。
説明図である。
【図３】Ｔ／Ｒ方式の第２世代ＣＴのＸ線幾何系を示す
説明図である。
説明図である。
【図４】Ｔ／Ｒ方式の第２世代ＣＴのＸ線幾何系を示す
説明図である。
説明図である。
【図５】Ｒ／Ｒ方式の第３世代ＣＴのＸ線幾何系を示す
説明図である。
説明図である。
【図６】図１に示した実施例の機構部の詳細な構成を示
す図である。
す図である。
【図７】図１に示した実施例の機構部の詳細な構成を示
す図である。
す図である。
【図８】Ｔ／Ｒ方式のスキャンエリアを可変する方法を
示す説明図である。
示す説明図である。
【図９】Ｔ／Ｒ方式の第２世代ＣＴの従来例を示す図で
ある。
ある。
【図１０】Ｒ／Ｒ方式の第３世代ＣＴの従来例を示す図
である。
である。
１ Ｘ線源 ２ 検出器 ４ Ｘ線ファンビーム ６ スキャンエリア １０ スキャナ １１ データ収集部 ３１，４１ テーブル
Claims (7)
- 【請求項１】 被検体を透過した放射線発生手段からの
放射線を放射線検出手段で検出するとともに、被検体の
空間に画定したデータ収集領域であるスキャンエリアを
通る少なくとも１８０°方向からの被検体の投影データ
を得るために走査手段により被検体、前記放射線発生手
段および前記放射線検出手段を相対的に移動させなが
ら、前記放射線検出手段からの検出データを収集して被
検体の断層像を得る断層撮影装置であって、前記スキャ
ンエリアを超える外形寸法の被検体を載置可能なスキャ
ン空間を有し、これによりスキャンエリアを超える外形
寸法の被検体の断層像を得ることを特徴とする断層撮影
装置。 - 【請求項２】 前記走査手段は、物体、前記放射線発生
手段および前記放射線検出手段に相対的にトラバース／
ローテーションを行わせる第２世代方式のものであり、
放射線ファンビームの角度をファン角αとした場合、ロ
ーテーションは（１８０°−α）の角度でスキャン動作
を行うことを特徴とする請求項１記載の断層撮影装置。 - 【請求項３】 前記放射線発生手段と前記放射線検出手
段との間の距離ＳＤＤを固定とした場合、スキャンエリ
アのトラバース中心位置との間で相対的にスキャンエリ
アのトラバース中心位置が前記距離ＳＤＤの方向に移動
できる移動手段を有し、前記スキャン空間およびスキャ
ンエリアを可変とすることを特徴とする請求項２記載の
断層撮影装置。 - 【請求項４】 被検体を載置する載置台は一方の方向に
ファン角αで広がり、前記放射線発生手段側の半径をｒ
とし、前記放射線検出手段側の半径をＲとする寸法を有
する制限された形状を有し、スキャン動作におけるロー
テーションを前記放射線発生手段と前記放射線検出手段
の中心を結ぶ線に対して対称に行うことを特徴とする請
求項２または３記載の断層撮影装置。 - 【請求項５】 前記走査手段は、物体、前記放射線発生
手段および前記放射線検出手段に対して相対的な回転の
みを行わせる第３世代方式のものであり、放射線ファン
ビームの角度をファン角αとした場合、回転角は（１８
０°＋α）の角度でスキャン動作を行うことを特徴とす
る請求項１記載の断層撮影装置。 - 【請求項６】 前記放射線発生手段と前記放射線検出手
段との間の距離ＳＤＤを固定とした場合、回転中心位置
との間で相対的に回転中心の位置が前記距離ＳＤＤの方
向に移動できる移動手段を有し、前記スキャン空間また
はスキャンエリアを可変とすることを特徴とする請求項
５記載の断層撮影装置。 - 【請求項７】 被検体を載置する載置台は一方の方向に
ファン角αで狭くなり、前記放射線発生手段側と前記放
射線検出手段側のスペースで各々制限された形状を有
し、スキャン動作における回転を前記放射線発生手段と
前記放射線検出手段の中心を結ぶ線に対して対称に行う
ことを特徴とする請求項５または６記載の断層撮影装
置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5276275A JP2955165B2 (ja) | 1993-11-05 | 1993-11-05 | 断層撮影装置 |
| EP94308155A EP0652433A1 (en) | 1993-11-05 | 1994-11-04 | Computed tomography scanner |
| KR1019940028999A KR0145247B1 (ko) | 1993-11-05 | 1994-11-05 | 전산단층 촬영스캐너 |
| US08/959,978 US5917876A (en) | 1993-11-05 | 1997-10-29 | Computed tomography scanner |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5276275A JP2955165B2 (ja) | 1993-11-05 | 1993-11-05 | 断層撮影装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07128258A true JPH07128258A (ja) | 1995-05-19 |
| JP2955165B2 JP2955165B2 (ja) | 1999-10-04 |
Family
ID=17567178
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5276275A Expired - Lifetime JP2955165B2 (ja) | 1993-11-05 | 1993-11-05 | 断層撮影装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5917876A (ja) |
| EP (1) | EP0652433A1 (ja) |
| JP (1) | JP2955165B2 (ja) |
| KR (1) | KR0145247B1 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006051690A1 (ja) * | 2004-11-12 | 2006-05-18 | Shimadzu Corporation | Ｘ線ｃｔ装置およびｘ線ｃｔ方法 |
| US7792242B2 (en) | 2004-11-12 | 2010-09-07 | Shimadzu Corporation | X-ray CT system and X-ray CT method |
| JP2015096839A (ja) * | 2013-11-15 | 2015-05-21 | 住友ゴム工業株式会社 | 弾性材料の変形の観察方法 |
| WO2015072387A1 (ja) * | 2013-11-15 | 2015-05-21 | 住友ゴム工業株式会社 | 弾性材料の変形の観察方法及び弾性材料の投影像撮影装置 |
| CN105102966A (zh) * | 2013-02-04 | 2015-11-25 | 赛克斯普拉斯公司 | 通过断层摄影用于轮胎无损检测的装置和方法 |
Families Citing this family (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3653992B2 (ja) | 1998-06-26 | 2005-06-02 | 株式会社日立製作所 | コンピュータ断層撮影装置及びコンピュータ断層撮影方法 |
| DE19843397C1 (de) | 1998-09-22 | 2000-05-11 | Hans Juergen Beierling | Computertomographisches Verfahren und Computertomograph zur Prüfung eine Gegenstandes |
| DE19955937B4 (de) * | 1999-11-20 | 2016-09-15 | Volkswagen Ag | Verfahren und Einrichtung zur berührungslosen Material- und Fertigungsprüfung von Fahrzeugteilen |
| US8126112B2 (en) | 1999-12-01 | 2012-02-28 | Massie Ronald E | Osseo classification system and method |
| US6944262B2 (en) | 1999-12-01 | 2005-09-13 | Massie Ronald E | Dental and orthopedic densitometry modeling system and method |
| US6381301B1 (en) | 1999-12-01 | 2002-04-30 | Ronald E. Massie | Dental and orthopedic densitometry modeling system and method |
| US8073101B2 (en) | 1999-12-01 | 2011-12-06 | Massie Ronald E | Digital modality modeling for medical and dental applications |
| US7224765B2 (en) * | 2002-10-02 | 2007-05-29 | Reveal Imaging Technologies, Inc. | Computed tomography system |
| CN1708686A (zh) * | 2002-10-02 | 2005-12-14 | 显示成像技术有限公司 | 交叠排列的ct行李扫描仪 |
| US7039154B1 (en) * | 2003-10-02 | 2006-05-02 | Reveal Imaging Technologies, Inc. | Folded array CT baggage scanner |
| US7263156B2 (en) * | 2005-05-12 | 2007-08-28 | Varian Medical Systems Technologies, Inc. | Method and apparatus to facilitate computerized tomography of relatively large objects |
| DE102010038544A1 (de) * | 2009-10-19 | 2011-04-21 | Robert Bosch Gmbh | Sensorvorrichtung für eine Verpackungsmaschine |
| JP7143567B2 (ja) * | 2018-09-14 | 2022-09-29 | 株式会社島津テクノリサーチ | 材料試験機および放射線ｃｔ装置 |
| CN109521480A (zh) | 2019-01-04 | 2019-03-26 | 同方威视科技（北京）有限公司 | 辐射检查设备和辐射检查方法 |
| ZA202100747B (en) * | 2020-09-18 | 2022-12-21 | Eclectic Services Company Pty Ltd | A low-cost system for inspecting the integrity of a wheel rim |
Family Cites Families (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB1538439A (en) * | 1975-07-11 | 1979-01-17 | Emi Ltd | Radiographic apparatus |
| GB1577172A (en) * | 1976-07-15 | 1980-10-22 | Tokyo Shibaura Electric Co | Tomographing device |
| NL171222C (nl) * | 1976-10-01 | 1983-03-01 | Philips Nv | Apparaat voor het meten van lokale absorptieverschillen. |
| JPS6073441A (ja) * | 1983-09-30 | 1985-04-25 | Toshiba Corp | 工業用ｃｔスキヤナ |
| JPS60109200A (ja) * | 1983-11-18 | 1985-06-14 | Toshiba Corp | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JPS60242348A (ja) * | 1984-05-17 | 1985-12-02 | Toshiba Corp | 産業用ｃｔスキヤナ |
| US4969165A (en) * | 1987-11-19 | 1990-11-06 | Bio-Imaging Research, Inc. | Automatic dynamic focusing for computed tomography |
| JPH0250508A (ja) * | 1988-08-10 | 1990-02-20 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | ディジタル信号処理装置 |
| JPH02195237A (ja) * | 1989-01-25 | 1990-08-01 | Toshiba Corp | 産業用ｘ線ｃｔスキャナ |
| US5032990A (en) * | 1989-05-30 | 1991-07-16 | General Electric Company | Translate rotate scanning method for x-ray imaging |
| US5027378A (en) * | 1990-08-09 | 1991-06-25 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Industrial computed tomography apparatus |
| US5119408A (en) * | 1990-10-31 | 1992-06-02 | General Electric Company | Rotate/rotate method and apparatus for computed tomography x-ray inspection of large objects |
| US5485492A (en) * | 1992-03-31 | 1996-01-16 | Lunar Corporation | Reduced field-of-view CT system for imaging compact embedded structures |
| JP3308620B2 (ja) * | 1993-01-28 | 2002-07-29 | 東芝アイティー・コントロールシステム株式会社 | タイヤ用ｃｔ装置 |
-
1993
- 1993-11-05 JP JP5276275A patent/JP2955165B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1994
- 1994-11-04 EP EP94308155A patent/EP0652433A1/en not_active Ceased
- 1994-11-05 KR KR1019940028999A patent/KR0145247B1/ko not_active Expired - Fee Related
-
1997
- 1997-10-29 US US08/959,978 patent/US5917876A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006051690A1 (ja) * | 2004-11-12 | 2006-05-18 | Shimadzu Corporation | Ｘ線ｃｔ装置およびｘ線ｃｔ方法 |
| JPWO2006051690A1 (ja) * | 2004-11-12 | 2008-05-29 | 株式会社島津製作所 | Ｘ線ｃｔ装置およびｘ線ｃｔ方法 |
| KR100888530B1 (ko) * | 2004-11-12 | 2009-03-11 | 가부시키가이샤 시마즈세이사쿠쇼 | Ｘ선 ｃｔ 장치 및 ｘ선 ｃｔ 방법 |
| US7792242B2 (en) | 2004-11-12 | 2010-09-07 | Shimadzu Corporation | X-ray CT system and X-ray CT method |
| JP4577312B2 (ja) * | 2004-11-12 | 2010-11-10 | 株式会社島津製作所 | Ｘ線ｃｔ装置およびｘ線ｃｔ方法 |
| CN105102966A (zh) * | 2013-02-04 | 2015-11-25 | 赛克斯普拉斯公司 | 通过断层摄影用于轮胎无损检测的装置和方法 |
| JP2016505152A (ja) * | 2013-02-04 | 2016-02-18 | シクセプリュＣｙｘｐｌｕｓ | 断層撮影法によるタイヤ非破壊検査装置及び方法 |
| JP2015096839A (ja) * | 2013-11-15 | 2015-05-21 | 住友ゴム工業株式会社 | 弾性材料の変形の観察方法 |
| WO2015072387A1 (ja) * | 2013-11-15 | 2015-05-21 | 住友ゴム工業株式会社 | 弾性材料の変形の観察方法及び弾性材料の投影像撮影装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5917876A (en) | 1999-06-29 |
| KR950014884A (ko) | 1995-06-16 |
| KR0145247B1 (ko) | 1998-07-15 |
| JP2955165B2 (ja) | 1999-10-04 |
| EP0652433A1 (en) | 1995-05-10 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH07128258A (ja) | 断層撮影装置 | |
| US6990170B2 (en) | X-ray computed tomographic imaging apparatus | |
| US7940890B1 (en) | Digital mammography scanning system | |
| KR20070011176A (ko) | Ｘ선 ｃｔ 장치 | |
| IL114348A (en) | Integration of detector signals in detector arrays of volumetric computerized tomographic scanners | |
| CN212622322U (zh) | 用于微焦点ct系统的机械扫描装置 | |
| JP2001330568A (ja) | コンピュータ断層撮影方法および装置 | |
| KR100737027B1 (ko) | 피검체 이동 장치 및 촬영 장치 | |
| JP4654551B2 (ja) | Ｃｔ装置 | |
| JP2000298105A (ja) | コンピュータ断層撮影装置 | |
| JP2933107B2 (ja) | Ｃｔ装置 | |
| JP4170305B2 (ja) | 放射線撮影装置 | |
| JP3308620B2 (ja) | タイヤ用ｃｔ装置 | |
| US11253211B2 (en) | System and method for utilizing an X-ray imaging system having a hybrid detector | |
| JP7086756B2 (ja) | 医用画像診断装置 | |
| WO1999027857A1 (fr) | Appareil de radiologie et procede de formation d'une image radiologique | |
| JP2000009662A (ja) | コンピュータ断層撮影装置 | |
| JP4866567B2 (ja) | 撮影装置および被検体移動装置 | |
| JP2000193609A (ja) | 放射線断層撮影装置 | |
| JP6449383B2 (ja) | 医用画像処理装置、およびｘ線診断装置 | |
| JP4016534B2 (ja) | Ｘ線断層撮像装置 | |
| JP3391441B2 (ja) | コンピュータ断層撮影装置 | |
| JPH08220026A (ja) | Ｘ線ｃｔ装置 | |
| US20250139764A1 (en) | System and method for motion guided retrospective gating | |
| JP4264079B2 (ja) | コンピュータ断層撮影方法および装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080716 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090716 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100716 Year of fee payment: 11 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100716 Year of fee payment: 11 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110716 Year of fee payment: 12 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110716 Year of fee payment: 12 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120716 Year of fee payment: 13 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120716 Year of fee payment: 13 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130716 Year of fee payment: 14 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |