JPH0710460B2 - 放電加工における電源評価装置 - Google Patents
放電加工における電源評価装置Info
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- JPH0710460B2 JPH0710460B2 JP1210848A JP21084889A JPH0710460B2 JP H0710460 B2 JPH0710460 B2 JP H0710460B2 JP 1210848 A JP1210848 A JP 1210848A JP 21084889 A JP21084889 A JP 21084889A JP H0710460 B2 JPH0710460 B2 JP H0710460B2
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Description
【発明の詳細な説明】 ［発明の目的］ （産業上の利用分野） 本発明は、例えばワイヤ放電加工に使用される電源回路
の評価を行う放電加工における電源評価装置に関する。
の評価を行う放電加工における電源評価装置に関する。
（従来の技術） 放電加工にはワイヤ放電加工や形彫り放電加工などがあ
るが、このうち例えばワイヤ放電加工について説明する
と、これは被加工物に対してワイヤ電極を所定間隔おい
て配置してこれら被加工物及びワイヤ電極を加工槽の中
に浸透し、この状態に被加工物とワイヤ電極との間に電
源回路から直流電圧を印加する。そして、例えばワイヤ
電極を被加工物に接近させてそのギャップ量が所定量に
なるとワイヤ電極と被加工物との間に放電が発生する。
しかるに、この放電エネルギーによって被加工物は加工
される。
るが、このうち例えばワイヤ放電加工について説明する
と、これは被加工物に対してワイヤ電極を所定間隔おい
て配置してこれら被加工物及びワイヤ電極を加工槽の中
に浸透し、この状態に被加工物とワイヤ電極との間に電
源回路から直流電圧を印加する。そして、例えばワイヤ
電極を被加工物に接近させてそのギャップ量が所定量に
なるとワイヤ電極と被加工物との間に放電が発生する。
しかるに、この放電エネルギーによって被加工物は加工
される。
ところで、このような放電加工では被加工物とワイヤ電
極との間に直流電圧を印加する電源回路の性能によって
放電エネルギーにばらつきが生じる。例えば、電源回路
が複数のトランジスタから構成されていれば、これらト
ランジスタのオンタイミングが一致すれば大きな放電エ
ネルギーを得ることができるが、一致しなければ低い放
電エネルギーとなってしまう。このように放電エネルギ
ーが低くなると、加工精度が低下したり、加工効率が悪
くなってしまう。ところが、このような電源回路に対す
る性能評価をする技術が無く、電源回路に対しては全く
考慮していなかった。
極との間に直流電圧を印加する電源回路の性能によって
放電エネルギーにばらつきが生じる。例えば、電源回路
が複数のトランジスタから構成されていれば、これらト
ランジスタのオンタイミングが一致すれば大きな放電エ
ネルギーを得ることができるが、一致しなければ低い放
電エネルギーとなってしまう。このように放電エネルギ
ーが低くなると、加工精度が低下したり、加工効率が悪
くなってしまう。ところが、このような電源回路に対す
る性能評価をする技術が無く、電源回路に対しては全く
考慮していなかった。
（発明が解決しようとする課題） 以上のように放電加工の電源回路に対する性能評価をす
る技術が無く、電源回路に対しては全く考慮していなか
った。なお、このことはワイヤ放電加工に限らず他の放
電加工にもいえる。
る技術が無く、電源回路に対しては全く考慮していなか
った。なお、このことはワイヤ放電加工に限らず他の放
電加工にもいえる。
そこで本発明は、放電加工の電源回路に対する評価がで
きる放電加工における電源評価装置を提供することを目
的とする。
きる放電加工における電源評価装置を提供することを目
的とする。
［発明の構成］ （課題を解決するための手段） 本発明は、並列接続された複数のスイッチング素子を順
次動作させて被加工物と放電電極との間に電力を供給す
る電源回路の各スイッチング素子の動作タイミングを評
価する放電加工における電源評価装置において、 被加工物と放電電極との間に流れる放電電流を検出する
放電電流検出器と、 この放電電流検出器からの電流検出信号を受けて放電電
流のピーク値を取り出し、この放電電流ピーク値に対す
るヒストグラムを作成するヒストグラム作成手段と、 このヒストグラム作成手段により作成された放電電流ピ
ーク値のヒストグラムの分布状態からその最適値に対す
る分散値を求め、この分散値と予め設定されている評価
データとを比較し、この比較結果に基づいて電源回路に
おける各スイッチング素子の動作タイミングに対する評
価を行う電源評価手段と、 を備えて上記目的を達成しようとする放電加工における
電源評価装置である。
次動作させて被加工物と放電電極との間に電力を供給す
る電源回路の各スイッチング素子の動作タイミングを評
価する放電加工における電源評価装置において、 被加工物と放電電極との間に流れる放電電流を検出する
放電電流検出器と、 この放電電流検出器からの電流検出信号を受けて放電電
流のピーク値を取り出し、この放電電流ピーク値に対す
るヒストグラムを作成するヒストグラム作成手段と、 このヒストグラム作成手段により作成された放電電流ピ
ーク値のヒストグラムの分布状態からその最適値に対す
る分散値を求め、この分散値と予め設定されている評価
データとを比較し、この比較結果に基づいて電源回路に
おける各スイッチング素子の動作タイミングに対する評
価を行う電源評価手段と、 を備えて上記目的を達成しようとする放電加工における
電源評価装置である。
（作用） このような手段を備えたことにより、被加工物と放電電
極との間に流れる放電電流が放電電流検出器により検出
され、この放電電流検出器からの電流検出信号を受けて
放電電流のピーク値が取り出されてそのヒストグラムが
ヒストグラム作成手段により作成される。そして、この
放電電流ピーク値のヒストグラムの分布状態から電源評
価手段によりその最頻値に対する分散値が求められ、こ
の分散値と予め設定されている評価データとが比較さ
れ、この比較結果に基づいて電源回路における各スイッ
チング素子の動作タイミングに対する評価が行われる。
極との間に流れる放電電流が放電電流検出器により検出
され、この放電電流検出器からの電流検出信号を受けて
放電電流のピーク値が取り出されてそのヒストグラムが
ヒストグラム作成手段により作成される。そして、この
放電電流ピーク値のヒストグラムの分布状態から電源評
価手段によりその最頻値に対する分散値が求められ、こ
の分散値と予め設定されている評価データとが比較さ
れ、この比較結果に基づいて電源回路における各スイッ
チング素子の動作タイミングに対する評価が行われる。
（実施例） 以下、本発明の一実施例について図面を参照して説明す
る。
る。
第１図はワイヤ放電加工に適用した放電加工における電
源評価装置の全体構成図である。加工槽１の内部には被
加工物２が浸透されている。この被加工物２には所定間
隔をおいてワイヤ電極３が配置されている。なお、この
ワイヤ電極３は図示しない上部ワイヤガイド体及び下部
ワイヤガイド体により支持されている。これら被加工物
２とワイヤ電極３とには電源回路４が接続されている。
この電源回路４には直流電源５が備えられ、この直流電
源５は正極が被加工物２に接続されるとともに負極がワ
イヤ電極３に接続されている。又、直流電源５の負極と
ワイヤ電極３との間には複数例えば40個のNPN型トラン
ジスタQ1,Q2…Qnが接続されている。具体的に説明する
と、各NPN型トランジスタQ1,Q2…Qnの各エミッタが直流
電源５の負極に共通接続されるとともに各コレクタがワ
イヤ電極３に共通接続されている。又、各NPN型トラン
ジスタQ1,Q2…Qnのベースはベース電流供給回路６に共
通接続されている。このベース電流供給回路６は各NPN
型トランジスタQ1,Q2…Qnの各ベースに同一値のベース
電流を供給するものとなっている。
源評価装置の全体構成図である。加工槽１の内部には被
加工物２が浸透されている。この被加工物２には所定間
隔をおいてワイヤ電極３が配置されている。なお、この
ワイヤ電極３は図示しない上部ワイヤガイド体及び下部
ワイヤガイド体により支持されている。これら被加工物
２とワイヤ電極３とには電源回路４が接続されている。
この電源回路４には直流電源５が備えられ、この直流電
源５は正極が被加工物２に接続されるとともに負極がワ
イヤ電極３に接続されている。又、直流電源５の負極と
ワイヤ電極３との間には複数例えば40個のNPN型トラン
ジスタQ1,Q2…Qnが接続されている。具体的に説明する
と、各NPN型トランジスタQ1,Q2…Qnの各エミッタが直流
電源５の負極に共通接続されるとともに各コレクタがワ
イヤ電極３に共通接続されている。又、各NPN型トラン
ジスタQ1,Q2…Qnのベースはベース電流供給回路６に共
通接続されている。このベース電流供給回路６は各NPN
型トランジスタQ1,Q2…Qnの各ベースに同一値のベース
電流を供給するものとなっている。
ワイヤ電極３と電源回路４との間には放電電流検出器７
が接続されるとともにワイヤ電極３と被加工物２との間
には放電電圧検出器８が接続されている。
が接続されるとともにワイヤ電極３と被加工物２との間
には放電電圧検出器８が接続されている。
一方、10は電源評価装置本体であって、この電源評価装
置本体10にはアッテネータ（ATT）11,12が備えられ、一
方のアッテネータ11に放電電流検出器７が接続されると
ともに他方のアッテネータ12に放電電圧検出器８が接続
されている。これらアッテネータ11,12にはそれぞれメ
モリが内蔵された各A/D（アナログ／ディジタル）変換
器13,14が接続され、これらA/D変換器13,14はバス15を
介してCPU（中央処理装置）16に接続されている。このC
PU16にはバス15を介してタイミングコントローラ17、RA
M（ランダム・アクセス・メモリ）18、ROM（リード・オ
ンリ・メモリ）19、表示駆動部20及びプリンタ駆動部21
が接続されている。
置本体10にはアッテネータ（ATT）11,12が備えられ、一
方のアッテネータ11に放電電流検出器７が接続されると
ともに他方のアッテネータ12に放電電圧検出器８が接続
されている。これらアッテネータ11,12にはそれぞれメ
モリが内蔵された各A/D（アナログ／ディジタル）変換
器13,14が接続され、これらA/D変換器13,14はバス15を
介してCPU（中央処理装置）16に接続されている。このC
PU16にはバス15を介してタイミングコントローラ17、RA
M（ランダム・アクセス・メモリ）18、ROM（リード・オ
ンリ・メモリ）19、表示駆動部20及びプリンタ駆動部21
が接続されている。
タイミングコントローラ17はA/D変換器13,14における信
号取込みタイミングを制御するものである。又、表示駆
動部20にはCRTディスプレイ22が接続されてこのCRTディ
スプレイ22を表示駆動するものであり、プリンタ駆動部
21にはプリンタ23が接続されてプリント動作を行うもの
となっている。
号取込みタイミングを制御するものである。又、表示駆
動部20にはCRTディスプレイ22が接続されてこのCRTディ
スプレイ22を表示駆動するものであり、プリンタ駆動部
21にはプリンタ23が接続されてプリント動作を行うもの
となっている。
前記ROM19には、タイミングコントローラ17でのA/D変換
器13,14に対する信号採取タイミングプログラムが記憶
されている。しかるに、この信号採取タイミングプログ
ラムにより各A/D変換器13,14は一定間隔毎の信号採取期
間に例えばｘns毎に同時に放電電流検出信号、放電電圧
検出信号をそれぞれ８ビットにディジタル変換して１回
の信号採取期間で例えば1024〜65536Bのデータを採取す
るものとなる。なお、各信号採取期間の間隔は一定期間
に設定されている。
器13,14に対する信号採取タイミングプログラムが記憶
されている。しかるに、この信号採取タイミングプログ
ラムにより各A/D変換器13,14は一定間隔毎の信号採取期
間に例えばｘns毎に同時に放電電流検出信号、放電電圧
検出信号をそれぞれ８ビットにディジタル変換して１回
の信号採取期間で例えば1024〜65536Bのデータを採取す
るものとなる。なお、各信号採取期間の間隔は一定期間
に設定されている。
さらに、ROM19には放電データ作成プログラム，ヒスト
グラム作成プログラム及び電源評価プログラムが記憶さ
れている。これにより、上記CPU16は第２図に示すよう
に信号採取手段16−１、放電データ作成手段16−２、ヒ
ストグラム作成手段16−３及び電源評価手段16−４の各
機能を有するものとなる。放電データ作成手段16−２
は、信号採取手段で採取されたディジタル放電電流検出
信号及びディジタル放電電圧検出信号から各放電におけ
る放電電圧や放電電流などのパラメータから成る放電デ
ータを作成する機能を有するものである。ヒストグラム
作成手段16−３は、放電データ作成手段16−２で作成さ
れた放電データのうち放電電流ピーク値を読み出してヒ
ストグラムを作成する機能を有している。
グラム作成プログラム及び電源評価プログラムが記憶さ
れている。これにより、上記CPU16は第２図に示すよう
に信号採取手段16−１、放電データ作成手段16−２、ヒ
ストグラム作成手段16−３及び電源評価手段16−４の各
機能を有するものとなる。放電データ作成手段16−２
は、信号採取手段で採取されたディジタル放電電流検出
信号及びディジタル放電電圧検出信号から各放電におけ
る放電電圧や放電電流などのパラメータから成る放電デ
ータを作成する機能を有するものである。ヒストグラム
作成手段16−３は、放電データ作成手段16−２で作成さ
れた放電データのうち放電電流ピーク値を読み出してヒ
ストグラムを作成する機能を有している。
電源評価手段16−４は、放電電流ピーク値のヒストグラ
ムから被加工物２とワイヤ電極３との間に存在する加工
屑の影響を受けてない放電電流を抽出し、この放電電流
ピーク値のヒストグラムの分布状態からその最頻度に対
する分散値を求め、この分散値と予め設定されている評
価データ（既に持っている評価データ）とを比較し、こ
の比較結果に基づいて電源回路４の各NPN型トランジス
タQ1、Q2、…Qnのオンタイミングつまり放電タイミング
に対する評価を行う機能を有している。
ムから被加工物２とワイヤ電極３との間に存在する加工
屑の影響を受けてない放電電流を抽出し、この放電電流
ピーク値のヒストグラムの分布状態からその最頻度に対
する分散値を求め、この分散値と予め設定されている評
価データ（既に持っている評価データ）とを比較し、こ
の比較結果に基づいて電源回路４の各NPN型トランジス
タQ1、Q2、…Qnのオンタイミングつまり放電タイミング
に対する評価を行う機能を有している。
具体的に電源評価手段16−４は、放電電流ピーク値のヒ
ストグラムから被加工物２とワイヤ電極３との間に存在
する加工屑の影響を受けてない放電電流ピーク値を抽出
する機能を有する。
ストグラムから被加工物２とワイヤ電極３との間に存在
する加工屑の影響を受けてない放電電流ピーク値を抽出
する機能を有する。
すなわち、放電電流ピーク値のヒストグラムは、第３図
に示すように第一群から第三群の３つの分散形態が存在
することが知られている。
に示すように第一群から第三群の３つの分散形態が存在
することが知られている。
第一群に属する放電電流ピーク値（正常放電）は、放電
隙間が十分に絶縁を回復し、電圧が100％充電している
状態であって、放電隙間の雰囲気の影響を大きく受けな
いため、設定した条件に最も近い形で放電が形成されて
いる。
隙間が十分に絶縁を回復し、電圧が100％充電している
状態であって、放電隙間の雰囲気の影響を大きく受けな
いため、設定した条件に最も近い形で放電が形成されて
いる。
第二群に属する放電電流ピーク値（消イオン放電）は、
100％充電電圧に達する前に放電を開始するもので、放
電隙間には直前に発生した放電の加工屑や金属イオンが
残留した状態となっており、放電隙間の絶縁は回復して
いない。
100％充電電圧に達する前に放電を開始するもので、放
電隙間には直前に発生した放電の加工屑や金属イオンが
残留した状態となっており、放電隙間の絶縁は回復して
いない。
第三群に属する放電電流ピーク値（アーク放電）は、放
電隙間に加工屑や金属イオンが埋って導通状態となって
いる。
電隙間に加工屑や金属イオンが埋って導通状態となって
いる。
従って、電源評価手段16−４は、これら第一群〜第三群
の各放電電流ピーク値から加工屑の影響を受けていない
放電電流ピーク値、つまり第一群の放電電流ピーク値を
抽出する機能を有している。
の各放電電流ピーク値から加工屑の影響を受けていない
放電電流ピーク値、つまり第一群の放電電流ピーク値を
抽出する機能を有している。
又、電源評価手段16−４は、第一群に属する放電電流ピ
ーク値（正常放電）からその最頻度に対する分散値σを
求め、この分散値σと予め設定されている評価データと
を比較し、この比較結果に基づいて電源回路４の各NPN
型トランジスタQ1、Q2、…Qnのオンタイミングつまり放
電タイミングに対する評価を行う機能を有する。
ーク値（正常放電）からその最頻度に対する分散値σを
求め、この分散値σと予め設定されている評価データと
を比較し、この比較結果に基づいて電源回路４の各NPN
型トランジスタQ1、Q2、…Qnのオンタイミングつまり放
電タイミングに対する評価を行う機能を有する。
ここで、分散値σは、 により表される。なお、Ｎは個数、ｎkは度数、ｘkは変
量、Ｍはヒストグラムにおける最頻度である。
量、Ｍはヒストグラムにおける最頻度である。
従って、電源評価手段16−４は、この分散値σ（放電の
ばらつき）を持って電源回路４の各NPN型トランジスタQ
1、Q2、…Qnのオンタイミングの善し悪しを決定するパ
ラメータとし、この分散値σと評価データとして予め設
定されているデータとを比較して評価を行う機能を有す
る。
ばらつき）を持って電源回路４の各NPN型トランジスタQ
1、Q2、…Qnのオンタイミングの善し悪しを決定するパ
ラメータとし、この分散値σと評価データとして予め設
定されているデータとを比較して評価を行う機能を有す
る。
次に上記の如く構成された装置の作用について説明す
る。
る。
被加工物２とワイヤ電極３との間に直流電源５から直流
電圧が印加され、この状態に被加工物２とワイヤ電極３
とのギャップ量が所定量となると、被加工物２とワイヤ
電極３との間にパルス放電が発生する。このパルス放電
エネルギにより被加工物２は加工される。
電圧が印加され、この状態に被加工物２とワイヤ電極３
とのギャップ量が所定量となると、被加工物２とワイヤ
電極３との間にパルス放電が発生する。このパルス放電
エネルギにより被加工物２は加工される。
この状態に放電電流検出器７は被加工物２からワイヤ電
極３に流れる放電電流を検出してその放電電流検出信号
を出力し、又放電電圧検出器７は被加工物２とワイヤ電
極３との間の放電電圧を検出してその放電電圧検出信号
を出力する。これら放電電流検出信号及び放電電圧検出
信号はそれぞれアッテネータ11,12で処理しやすいレベ
ルに減衰されてA/D変換器13,14に入力する。このとき、
各A/D変換器13,14は、一定間隔ΔＨ毎の各信号採取期間
においてそれぞれ例えばｘns毎に同時に放電電流検出信
号、放電電圧検出信号をそれぞれ８ビットにディジタル
変換して取込む。これにより、１回の信号採取期間にお
いて例えば1024〜65536Bのデータが取込まれる。このよ
うに１回の信号採取期間で取込んだディジタル放電電流
検出信号及びディジタル放電電圧信号はそれぞれ各A/D
変換器13,14内のメモリに一時記憶され、各信号採取期
間の経過の後にCPU16によってRAM18に移されて記憶され
る。
極３に流れる放電電流を検出してその放電電流検出信号
を出力し、又放電電圧検出器７は被加工物２とワイヤ電
極３との間の放電電圧を検出してその放電電圧検出信号
を出力する。これら放電電流検出信号及び放電電圧検出
信号はそれぞれアッテネータ11,12で処理しやすいレベ
ルに減衰されてA/D変換器13,14に入力する。このとき、
各A/D変換器13,14は、一定間隔ΔＨ毎の各信号採取期間
においてそれぞれ例えばｘns毎に同時に放電電流検出信
号、放電電圧検出信号をそれぞれ８ビットにディジタル
変換して取込む。これにより、１回の信号採取期間にお
いて例えば1024〜65536Bのデータが取込まれる。このよ
うに１回の信号採取期間で取込んだディジタル放電電流
検出信号及びディジタル放電電圧信号はそれぞれ各A/D
変換器13,14内のメモリに一時記憶され、各信号採取期
間の経過の後にCPU16によってRAM18に移されて記憶され
る。
このようにして例えば10回の信号採取期間が終了する
と、CPU16の放電データ作成手段16−２は各ディジタル
放電電流検出信号及びディジタル放電電圧信号からそれ
ぞれ放電電圧及び放電電流の各波形を求め、これら波形
から放電発生の順番に発生信号「１」「２」…「Ｎ」を
付す。そして、CPU16はこれら波形から各パルス放電に
おける放電開始a1,a2…anや放電終了b1,b2…bn、放電電
圧c1,c2…cn、放電電流のピーク値d1,d2…dn、電流パル
ス幅e1,e2…en、放電エネルギf1,f2…fn、パルス間隔g
1,g2…gnなどの各パラメータから成る放電データＤを求
めてRAM18にテーブル化して記憶する。なお、放電エネ
ルギf1,f2…fnは放電電圧c1,c2…cnと放電電流ピーク値
d1,2d…dnとをそれぞれ乗算して求めている。
と、CPU16の放電データ作成手段16−２は各ディジタル
放電電流検出信号及びディジタル放電電圧信号からそれ
ぞれ放電電圧及び放電電流の各波形を求め、これら波形
から放電発生の順番に発生信号「１」「２」…「Ｎ」を
付す。そして、CPU16はこれら波形から各パルス放電に
おける放電開始a1,a2…anや放電終了b1,b2…bn、放電電
圧c1,c2…cn、放電電流のピーク値d1,d2…dn、電流パル
ス幅e1,e2…en、放電エネルギf1,f2…fn、パルス間隔g
1,g2…gnなどの各パラメータから成る放電データＤを求
めてRAM18にテーブル化して記憶する。なお、放電エネ
ルギf1,f2…fnは放電電圧c1,c2…cnと放電電流ピーク値
d1,2d…dnとをそれぞれ乗算して求めている。
次にヒストグラム作成手段16−３は放電データＤから各
放電電流ピーク値d1,d2…dnを取り出して放電電流ピー
ク値に対するヒストグラムを作成し、さらにこのヒスト
グラムから被加工物２とワイヤ電極３との間に存在する
加工屑の影響を受けている放電電流値を除く。ところ
で、放電電流ピーク値に対するヒストグラムを作成する
と、このヒストグラムは次のような各分布を示すように
なる。すなわち、第４図に示すヒストグラムは放電電流
ピーク値が全て同一であって、電源回路４における各NP
N型トランジスタQ1,Q2…Qnのオンタイミングが一致し、
最大の放電エネルギーが供給されることを示している。
従って、電源評価手段16−４は同図に示すヒストグラム
を受けると各NPN型トランジスタQ1,Q2…Qnのオンタイミ
ングが一致していると判断して例えば電源回路４の性能
は最上ランクと評価する。なお、この評価結果は、表示
駆動部20及びプリンタ駆動部21に送られて、表示及びプ
リントアウトされる。
放電電流ピーク値d1,d2…dnを取り出して放電電流ピー
ク値に対するヒストグラムを作成し、さらにこのヒスト
グラムから被加工物２とワイヤ電極３との間に存在する
加工屑の影響を受けている放電電流値を除く。ところ
で、放電電流ピーク値に対するヒストグラムを作成する
と、このヒストグラムは次のような各分布を示すように
なる。すなわち、第４図に示すヒストグラムは放電電流
ピーク値が全て同一であって、電源回路４における各NP
N型トランジスタQ1,Q2…Qnのオンタイミングが一致し、
最大の放電エネルギーが供給されることを示している。
従って、電源評価手段16−４は同図に示すヒストグラム
を受けると各NPN型トランジスタQ1,Q2…Qnのオンタイミ
ングが一致していると判断して例えば電源回路４の性能
は最上ランクと評価する。なお、この評価結果は、表示
駆動部20及びプリンタ駆動部21に送られて、表示及びプ
リントアウトされる。
次にヒストグラムが第５図に示すように正規分布を示し
てその分散値σが大きい場合、電源評価手段16−４は、
この分散値σと既に持っている評価データとを比較検討
して各NPN型トランジスタQ1,Q2…Qnのオンタイミングが
一致せずにばらつきがあると評価する。
てその分散値σが大きい場合、電源評価手段16−４は、
この分散値σと既に持っている評価データとを比較検討
して各NPN型トランジスタQ1,Q2…Qnのオンタイミングが
一致せずにばらつきがあると評価する。
さらに第６図に示すヒストグラムは、加工屑の影響を受
けている放電電流値を除く前の分布を示している。つま
り、一方の分布P1は第一群に属する放電電流であり、他
方の分布P2は第二群及び第三群に属する放電電流であ
る。
けている放電電流値を除く前の分布を示している。つま
り、一方の分布P1は第一群に属する放電電流であり、他
方の分布P2は第二群及び第三群に属する放電電流であ
る。
従って、電源評価手段16−４は、これら第一群と、第二
群及び第三群とを分類するためにヒストグラムの各最高
値を結ぶ曲線ｆの変曲点を通るラインＳでヒストグラム
を２分し、一方の分布P1を被加工物２とワイヤ電極３と
の間の加工液の流れにより加工屑が取り去られて十分に
清浄化された状態の放電電流を示していると判断し、他
方の正規分布P2を加工屑の影響を受けたときの放電電流
を示していると判断する。次にヒストグラム作成手段16
−３は、分布P2を除いて第７図に示す加工屑の影響を受
けない放電電流ピーク値のみのヒストグラムとする。そ
して、電源評価手段16−４はこのヒストグラムが正規分
布を示しかつその分散値が小さいと判断して電源回路４
の性能は各NPN型トランジスタQ1,Q2…Qnのオンタイミン
グに多少のばらつきはあるものの放電加工に影響を与え
るほどでなく例えば上位にランクされるものと評価す
る。
群及び第三群とを分類するためにヒストグラムの各最高
値を結ぶ曲線ｆの変曲点を通るラインＳでヒストグラム
を２分し、一方の分布P1を被加工物２とワイヤ電極３と
の間の加工液の流れにより加工屑が取り去られて十分に
清浄化された状態の放電電流を示していると判断し、他
方の正規分布P2を加工屑の影響を受けたときの放電電流
を示していると判断する。次にヒストグラム作成手段16
−３は、分布P2を除いて第７図に示す加工屑の影響を受
けない放電電流ピーク値のみのヒストグラムとする。そ
して、電源評価手段16−４はこのヒストグラムが正規分
布を示しかつその分散値が小さいと判断して電源回路４
の性能は各NPN型トランジスタQ1,Q2…Qnのオンタイミン
グに多少のばらつきはあるものの放電加工に影響を与え
るほどでなく例えば上位にランクされるものと評価す
る。
次にヒストグラムが図８に示すようにその分散値σが非
常に大きい場合、電源評価手段16−４は、この分散値σ
と既に持っている評価データとを比較検討することによ
って分散値σが非常に大きいことが判断され、各NPN型
トランジスタQ1,Q2,Qnのオンタイミングが大きくずれて
十分な放電エネルギーを供給することが不可能であると
評価する。
常に大きい場合、電源評価手段16−４は、この分散値σ
と既に持っている評価データとを比較検討することによ
って分散値σが非常に大きいことが判断され、各NPN型
トランジスタQ1,Q2,Qnのオンタイミングが大きくずれて
十分な放電エネルギーを供給することが不可能であると
評価する。
このように上記一実施例においては、放電電流ピーク値
に対するヒストグラムを作成してこのヒストグラムの放
電電流ピーク値の分布状態から電源回路４の電力供給タ
イミングに対する評価を行うようにしたので、電源回路
４における各NPN型トランジスタQ1,Q2,Qnのオンタイミ
ングが一致しているかの評価ができる。従って、この評
価結果から電源回路４を各NPN型トランジスタQ1,Q2…Qn
のオンタイミングが一致していて最大の放電エネルギー
を供給できる性能の良いもの、或いは各トランジスタ
Q1,Q2…Qnのオンタイミングにばらつきがあって高い放
電エネルギーを供給することが不可能で性能の悪いもの
などに評価できる。そして、この評価では加工屑の影響
の無い放電電流のヒストグラムから得ているので、正確
な評価結果を得ることができる。以上のことから放電加
工に使用する電源回路４の評価をユーザ側で行なえ、性
能の良い電源回路を選択して放電加工の精度や効率を向
上できる。
に対するヒストグラムを作成してこのヒストグラムの放
電電流ピーク値の分布状態から電源回路４の電力供給タ
イミングに対する評価を行うようにしたので、電源回路
４における各NPN型トランジスタQ1,Q2,Qnのオンタイミ
ングが一致しているかの評価ができる。従って、この評
価結果から電源回路４を各NPN型トランジスタQ1,Q2…Qn
のオンタイミングが一致していて最大の放電エネルギー
を供給できる性能の良いもの、或いは各トランジスタ
Q1,Q2…Qnのオンタイミングにばらつきがあって高い放
電エネルギーを供給することが不可能で性能の悪いもの
などに評価できる。そして、この評価では加工屑の影響
の無い放電電流のヒストグラムから得ているので、正確
な評価結果を得ることができる。以上のことから放電加
工に使用する電源回路４の評価をユーザ側で行なえ、性
能の良い電源回路を選択して放電加工の精度や効率を向
上できる。
なお、本発明は上記実施例に限定されるものでなくその
主旨を逸脱しない範囲で変形してもよい。例えば、上記
一実施例では放電電流ピーク値からヒストグラムを作成
したが、放電電流の平均値でヒストグラムを作成しても
よい。又、ワイヤ放電加工装置に限らず、形彫り放電加
工や電解加工、さらには電圧信号及び電流信号のサンプ
リングのレンジ変更により溶接機やレーザ応用機器、照
明機器、スパッタリング装置、PVDやCVDのプラズマ加工
装置などの放電応用機器にも適用できる。このうちスパ
ッタリング装置では放電状態を検出することで放電媒体
の流量調整ができる。又、CRTディスプレイ22には放電
データＤの一部或いは全て、さらにリギングの有無など
を図形や数値を用いて表示しても良い。
主旨を逸脱しない範囲で変形してもよい。例えば、上記
一実施例では放電電流ピーク値からヒストグラムを作成
したが、放電電流の平均値でヒストグラムを作成しても
よい。又、ワイヤ放電加工装置に限らず、形彫り放電加
工や電解加工、さらには電圧信号及び電流信号のサンプ
リングのレンジ変更により溶接機やレーザ応用機器、照
明機器、スパッタリング装置、PVDやCVDのプラズマ加工
装置などの放電応用機器にも適用できる。このうちスパ
ッタリング装置では放電状態を検出することで放電媒体
の流量調整ができる。又、CRTディスプレイ22には放電
データＤの一部或いは全て、さらにリギングの有無など
を図形や数値を用いて表示しても良い。
［発明の効果］ 以上詳記したように本発明によれば、並列接続された複
数のスイッチング素子を順次動作させて被加工物と放電
電極との間に電力を供給する電源回路の各スイッチング
素子の動作タイミングに対する評価ができる放電加工に
おける電源評価装置を提供できる。
数のスイッチング素子を順次動作させて被加工物と放電
電極との間に電力を供給する電源回路の各スイッチング
素子の動作タイミングに対する評価ができる放電加工に
おける電源評価装置を提供できる。
第１図乃至第８図は本発明に係わる放電加工における電
源評価装置の一実施例を説明するための図であって、第
１図は構成図、第２図は機能ブロック図、第３図乃至第
８図は電源評価の作用を説明するための図である。 １……加工槽、２……被加工物、３……ワイヤ電極、４
……電源回路、５……直流電源、６……ベース電流供給
回路、７……放電電流検出器、８……放電電圧検出器、
10……電源評価装置本体、11,12……アッテネータ、13,
14……A/D変換器、15……バス、16……CPU、16−１……
信号採取手段、16−２……放電データ作成手段、16−３
……ヒストグラム作成手段、16−４……電源評価手段、
17……タイミングコントローラ、18……RAM、19……RO
M、20……表示駆動部、21……プリンタ駆動部、22……C
RTディスプレイ、23……プリンタ。
源評価装置の一実施例を説明するための図であって、第
１図は構成図、第２図は機能ブロック図、第３図乃至第
８図は電源評価の作用を説明するための図である。 １……加工槽、２……被加工物、３……ワイヤ電極、４
……電源回路、５……直流電源、６……ベース電流供給
回路、７……放電電流検出器、８……放電電圧検出器、
10……電源評価装置本体、11,12……アッテネータ、13,
14……A/D変換器、15……バス、16……CPU、16−１……
信号採取手段、16−２……放電データ作成手段、16−３
……ヒストグラム作成手段、16−４……電源評価手段、
17……タイミングコントローラ、18……RAM、19……RO
M、20……表示駆動部、21……プリンタ駆動部、22……C
RTディスプレイ、23……プリンタ。
Claims (1)
- 【請求項１】並列接続された複数のスイッチング素子を
順次動作させて被加工物と放電電極との間に電力を供給
する電源回路の前記各スイッチング素子の動作タイミン
グを評価する放電加工における電源評価装置において、 前記被加工物と前記放電電極との間に流れる放電電流を
検出する放電電流検出器と、 この放電電流検出器からの電流検出信号を受けて前記放
電電流のピーク値を取り出し、この放電電流ピーク値に
対するヒストグラムを作成するヒストグラム作成手段
と、 このヒストグラム作成手段により作成された前記放電電
流ピーク値のヒストグラムの分布状態からその最頻値に
対する分散値を求め、この分散値と予め設定されている
評価データとを比較し、この比較結果に基づいて前記電
源回路における前記各スイッチング素子の動作タイミン
グに対する評価を行う電源評価手段と、を具備したこと
を特徴とする放電加工における電源評価装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1210848A JPH0710460B2 (ja) | 1989-08-16 | 1989-08-16 | 放電加工における電源評価装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1210848A JPH0710460B2 (ja) | 1989-08-16 | 1989-08-16 | 放電加工における電源評価装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0379223A JPH0379223A (ja) | 1991-04-04 |
| JPH0710460B2 true JPH0710460B2 (ja) | 1995-02-08 |
Family
ID=16596111
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1210848A Expired - Lifetime JPH0710460B2 (ja) | 1989-08-16 | 1989-08-16 | 放電加工における電源評価装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0710460B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4125744A1 (de) * | 1991-08-02 | 1993-02-04 | Fraunhofer Ges Forschung | Verfahren und vorrichtung zum funkenerodieren |
| JP4037017B2 (ja) * | 1999-10-18 | 2008-01-23 | 三菱電機株式会社 | ワイヤ放電加工装置 |
| JP7438723B2 (ja) * | 2019-11-15 | 2024-02-27 | 株式会社日立製作所 | 製造プロセスの適正化システムおよびその方法 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5892936A (ja) * | 1981-11-30 | 1983-06-02 | Mitsubishi Electric Corp | 欠陥検査装置 |
| JPS59205225A (ja) * | 1983-05-04 | 1984-11-20 | Mitsubishi Electric Corp | 放電加工装置 |
| JPS63185523A (ja) * | 1987-01-28 | 1988-08-01 | Mitsubishi Electric Corp | 放電加工装置 |
-
1989
- 1989-08-16 JP JP1210848A patent/JPH0710460B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0379223A (ja) | 1991-04-04 |
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