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JPH0696530A - Device for clock control of optical disk apparatus - Google Patents

Device for clock control of optical disk apparatus

Info

Publication number
JPH0696530A
JPH0696530A JP24525892A JP24525892A JPH0696530A JP H0696530 A JPH0696530 A JP H0696530A JP 24525892 A JP24525892 A JP 24525892A JP 24525892 A JP24525892 A JP 24525892A JP H0696530 A JPH0696530 A JP H0696530A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pit
signal
clock
reflected light
channel clock
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP24525892A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Junichi Nakano
淳一 中野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Optical Co Ltd filed Critical Olympus Optical Co Ltd
Priority to JP24525892A priority Critical patent/JPH0696530A/en
Publication of JPH0696530A publication Critical patent/JPH0696530A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
  • Optical Recording Or Reproduction (AREA)

Abstract

PURPOSE:To prevent the pulling-out of synchronism by a method wherein the phase difference between a channel clock and the position of a pit is detected and the channel clock is controlled by selecting one out of a plurality of pieces of phase-difference information. CONSTITUTION:When a select signal from a comparator 20 is decided, one set is selected from phase-comparison result signals by a selector 40. Phase information PU and PD which have been selected are sent to a charge pump 41, converted into an analog signal corresponding to the sign and the magnitude of a phase shift and moves a channel clock (CHCLK) as an output from a VCO 43 to a direction eliminating the phase shift. When this operation is repeated, it is possible to obtain the channel clock (CHCLK) which is synchornized with a pit string on a disk.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、光記録媒体(光ディス
ク等)に情報の記録、再生を行う光ディスク装置のクロ
ック制御装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a clock control device for an optical disc device for recording and reproducing information on an optical recording medium (optical disc or the like).

【0002】[0002]

【従来の技術】サンプルサーボ方式の光ディスクを用い
る光ディスクドライブでは、ディスク上に設けられたサ
ーボ領域の中のタイミング抽出用のクロックピットの位
置を検出し、この検出信号に対してPLLを構成してク
ロックを生成する。このクロックは、トラッキングエラ
ー検出のタイミング、シーク時にトラックカウント用の
アクセスコードを読むためのタイミング、データのライ
ト/リードなど、ドライブのすべての動作の基準とな
る。
2. Description of the Related Art In an optical disk drive using a sample servo type optical disk, the position of a clock pit for timing extraction in a servo area provided on the disk is detected, and a PLL is constructed for this detection signal. Generate a clock. This clock serves as a reference for all the operations of the drive, such as the timing for detecting a tracking error, the timing for reading an access code for track count during seek, and the data write / read.

【0003】特開平3−266263号公報では、クロ
ックピットの直前と直後のタイミングで反射光の強度信
号をサンプリングし、両者が等しくなるようにクロック
の位相を補正する、という基準クロックの制御法が開示
されている。
Japanese Patent Laid-Open No. 3-266263 discloses a control method of a reference clock in which intensity signals of reflected light are sampled at timings immediately before and immediately after a clock pit and the clock phase is corrected so that both are equal. It is disclosed.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】サンプルサーボ方式で
は、前述の基準クロックをもとにすべての動作が行われ
るため、トラッキングが行われていない状態、すなわち
シーク中であっても基準クロックが生成され同期がとれ
ている必要がある。
In the sample servo system, all the operations are performed based on the above-mentioned reference clock, so that the reference clock is generated even when tracking is not performed, that is, even during seek. Must be in sync.

【0005】しかしシーク中には、スポットがサーボ領
域でトラック上を通過するとは限らないので、トラッキ
ングがかかっている状態と比較してクロックピットでの
反射光強度の変調度は低下することになる。
However, during seek, the spot does not always pass over the track in the servo area, so that the degree of modulation of the reflected light intensity at the clock pit is lower than that in the tracking state. .

【0006】特開平3−266263号公報のように、
クロックピットの直前と直後での反射光強度の差から基
準クロックの位相ずれを検出する場合には、反射光強度
の変調度が下がると位相ずれの検出の感度や精度が低下
してしまい、クロックの同期ずれが大きくなるという欠
点がある。
As disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 3-266263,
When detecting the phase shift of the reference clock from the difference in the reflected light intensity immediately before and immediately after the clock pit, if the modulation degree of the reflected light intensity decreases, the sensitivity and accuracy of the phase shift detection decrease, and the clock However, there is a drawback that the synchronization deviation of the becomes large.

【0007】また、データリードの特性を向上させるた
めに対物レンズのNAを変えるなどしてスポット径を絞
る、あるいは高密度記録再生用の短波長の光源を使用し
て従来より小さな光スポットを使って従来のディスクに
アクセスを行う、といった場合には、クロックピットの
大きさ及び間隔に対してスポット径が小さくなり、反射
光の変調度が低下しやすい。特に、ディスク上でのスポ
ット径がある程度小さくなるとトラック間を光スポット
が移動する際、反射光強度がクロックピットの位置でも
まったく変化しなくなり、クロックの位相ずれの検出が
不能となって同期はずれを起こしてしまう可能性があ
る。
Further, in order to improve the characteristics of data read, the NA of the objective lens is changed to narrow the spot diameter, or a short wavelength light source for high density recording and reproduction is used to use a light spot smaller than before. When a conventional disk is accessed by using the conventional method, the spot diameter becomes smaller with respect to the size and interval of the clock pits, and the degree of modulation of reflected light tends to decrease. In particular, when the spot diameter on the disk becomes small to some extent, when the light spot moves between tracks, the reflected light intensity does not change even at the clock pit position, and it becomes impossible to detect the phase shift of the clock, resulting in loss of synchronization. It may cause it.

【0008】上記以外の位相ずれ検出法としては、反射
光強度の微分波形から反射光強度のピーク位置すなわち
ピットの中央の位置をあらわす信号を得て、この信号と
クロックをもとに生成したタイミング信号との時間差か
ら位相ずれを知るという方法がある。この場合にも、ト
ラック間などで反射光強度のクロックピットでの変調度
が低下すると二値化(ピーク検出)に失敗して位相ずれ
量の検出ができなくなるし、二値化できたとしても相対
的にピーク位置を検出する精度が低下するのでクロック
の同期が不安定になるという問題がある。
As a phase shift detection method other than the above, a timing indicating a peak position of the reflected light intensity, that is, a central position of the pit is obtained from the differential waveform of the reflected light intensity and is generated based on this signal and a clock. There is a method of knowing the phase shift from the time difference from the signal. Also in this case, if the modulation degree of the reflected light intensity in the clock pits decreases between tracks, binarization (peak detection) fails and the phase shift amount cannot be detected. Even if binarization is possible, Since the accuracy of detecting the peak position relatively decreases, there is a problem that clock synchronization becomes unstable.

【0009】さらに、クロックピットに欠陥がある場合
は、トラッキングサーボ中に於いても、欠陥のためクロ
ックの位相ずれの検出が不能となって同期はずれを起こ
してしまう可能性がある。
Further, if there is a defect in the clock pit, even during the tracking servo, there is a possibility that the phase shift of the clock cannot be detected and the synchronization is lost due to the defect.

【0010】本発明は上記事情に鑑みてなされたもので
あり、スポットの径が小さくしかもトラック間に位置し
ておりクロックピットでの反射光強度信号の変調が十分
に得られない場合や、ピットに物理的な欠陥がある場合
であっても、常に安定したチャネルクロックを生成する
ことができ、トラッキングサーボ中及びシーク時等の同
期はずれを防ぐことのできる光ディスク装置のクロック
制御装置を提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above circumstances. When the spot diameter is small and the spots are located between the tracks, the reflected light intensity signal cannot be sufficiently modulated at the clock pit, or when the pit is not formed. Provided is a clock control device for an optical disk device, which can always generate a stable channel clock even when there is a physical defect in the track, and can prevent loss of synchronization during tracking servo, seek, etc. With the goal.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段及び作用】本発明の光ディ
スク装置のクロック制御装置は、情報トラック上に複数
のピットから成るサーボ領域が間欠的に設けられている
光ディスクに対して光ビームを照射し、前記光ビームの
前記光ディスクからの反射光の強度を検出することによ
り前記複数のピットのうち特定のピットを検知し基準に
してチャネルクロックを生成するサンプルサーボ方式の
光ディスク装置のクロック制御装置において、前記サー
ボ領域内の複数のピットのうち少なくとも2つのピット
においてピット位置と前記チャネルクロックとのタイミ
ングのずれを独立に検知する位相差検出手段と、複数の
前記位相差検出手段出力の中からいずれかひとつを選択
し出力する選択手段とを設け、前記選択手段の出力をも
とに前記チャネルクロックの位相制御を行う。
A clock controller for an optical disk apparatus according to the present invention irradiates a light beam onto an optical disk in which a servo area consisting of a plurality of pits is intermittently provided on an information track. A clock control device of a sample servo type optical disc device for detecting a specific pit among the plurality of pits by detecting the intensity of reflected light from the optical disc of the light beam and generating a channel clock based on the detected pit. Any one of a phase difference detecting means for independently detecting a timing shift between the pit position and the channel clock in at least two pits of the plurality of pits in the servo area, and a plurality of outputs of the phase difference detecting means And selecting means for selecting and outputting one of the channels, and based on the output of the selecting means, the channel Perform phase control of the lock.

【0012】前記サーボ領域内の複数のピットのうち少
なくとも2つのピットで検出した位相ずれ情報をもとに
チャネルクロックの制御を行うので、常に正確な位相ず
れ情報によりチャネルクロックの補正ができ、同期ずれ
を小さくすることができる。
Since the channel clock is controlled based on the phase shift information detected in at least two pits of the plurality of pits in the servo area, the channel clock can always be corrected by the accurate phase shift information, and the synchronization can be achieved. The deviation can be reduced.

【0013】[0013]

【実施例】図1ないし図6は第1実施例に係わり、図1
はサンプルサーボ方式の光ディスクのサーボ領域のピッ
ト構成を示す構成図、図2はクロック制御装置の構成を
示すブロック図、図3は図2の波形整形回路の詳細な構
成を示す回路図、図4は図2のチャネルクロック生成手
段の詳細な構成を示す回路図、図5は光スポットがトラ
ックのほぼ真上でサーボ領域を通過した場合の各信号の
タイミングを示すタイミング図、図6はシーク中など光
スポットがトラック間を通過した場合の各信号のタイミ
ングを示すタイミング図である。
1 to 6 relate to a first embodiment, and FIG.
4 is a block diagram showing the configuration of pits in the servo area of a sample servo type optical disc, FIG. 2 is a block diagram showing the configuration of a clock control device, FIG. 3 is a circuit diagram showing the detailed configuration of the waveform shaping circuit of FIG. 2, and FIG. 2 is a circuit diagram showing a detailed configuration of the channel clock generating means in FIG. 2, FIG. 5 is a timing diagram showing timings of respective signals when an optical spot passes through a servo area almost right above a track, and FIG. 6 is during seek. FIG. 6 is a timing chart showing the timing of each signal when a light spot passes between tracks.

【0014】図1はサンプルサーボ方式の光ディスクの
サーボ領域の一例であり、図の上方がディスクの外周側
に相当する。
FIG. 1 shows an example of a servo area of a sample servo type optical disk, and the upper part of the drawing corresponds to the outer peripheral side of the disk.

【0015】図1において、1はトラック中央をあらわ
す。2はシーク中にリードすることによって速度検出及
びトラックカウントを行うためのアクセスコードで、6
ビットのうち2ビットが1になるグレイコードである。
一般には2トラックごとにパターンが変わり、16トラ
ックでもとのパターンに戻る繰り返しのパターンになっ
ている。
In FIG. 1, 1 represents the center of the track. Reference numeral 2 is an access code for speed detection and track counting by reading during a seek.
It is a Gray code in which 2 bits out of 1 are 1.
Generally, the pattern changes every two tracks, and the pattern repeats to return to the original pattern on 16 tracks.

【0016】3はクロックピットで、このクロックピッ
トを基準にしてドライブの同期が確立される。4及び5
はトラッキングエラー検出のためのウォブルドピット
で、各々ディスクの内周および外周におよそ1/4トラ
ックピットだけ変位して設けられている。レーザのスポ
ットが各々のウォブルドピットを通過する際に反射光の
強度信号をサンプリングし、その差をとることによりス
ポットのトラックセンターからのずれ量を知ることがで
きる。以下では便宜上、4をウォブルドピットA、5を
ウォブルドピットBと呼ぶことにする。
Reference numeral 3 is a clock pit, and drive synchronization is established based on this clock pit. 4 and 5
Is a wobbled pit for detecting a tracking error, which is provided on the inner circumference and the outer circumference of the disc with a displacement of about 1/4 track pit. When the laser spot passes through each wobbled pit, the intensity signal of the reflected light is sampled, and the difference from the track center can be known by taking the difference. Hereinafter, for convenience, 4 will be referred to as wobbled pit A and 5 will be referred to as wobbled pit B.

【0017】サンプルサーボ方式の光ディスクでは、こ
のような際領域が間欠的に、ディスク全周にわたって1
周あたり1500〜2000ヵ所程度設けられている。
In the sample servo type optical disc, the area is intermittently set to 1 at the entire circumference of the disc in such a case.
There are about 1500 to 2000 places per lap.

【0018】図2は、第1実施例のクロック制御装置の
ブロック図である。クロック生成と直接関係ない部分、
たとえば、トラッキングエラー信号の生成部などは公知
の手段と同様であるので省略する。
FIG. 2 is a block diagram of the clock controller of the first embodiment. Parts that are not directly related to clock generation,
For example, the tracking error signal generator is the same as the known means, and therefore its description is omitted.

【0019】クロック制御装置は、図2に示すように、
図示しない光ディスクからの反射光の強度を検出して電
気信号である反射光強度信号(SRF)に変換する反射
光強度信号検出手段11と、前記反射光強度信号(SR
F)のピークを検出して反射光強度二値化信号(DSR
F)を生成する波形整形手段12と、前記反射光強度二
値化信号(DSRF)をもとにしてチャネルクロック
(CHCLK)を生成するチャネルクロック生成手段1
3と、前記チャネルクロック(CHCLK)をもとにし
て各種のタイミング信号を生成するタイミング信号発生
手段14と、前記反射光強度信号(SRF)のA/D変
換を行うA/Dコンバータ15と、このA/Dコンバー
タ15のA/D変換結果を記憶する複数のラッチ16〜
18からなる記憶手段19と、前記ラッチ16〜18の
記憶内容を比較するコンパレータ20とから構成されて
いる。
The clock control device, as shown in FIG.
Reflected light intensity signal detection means 11 for detecting the intensity of the reflected light from an optical disc (not shown) and converting it into a reflected light intensity signal (SRF) which is an electric signal, and the reflected light intensity signal (SR).
F) peak is detected and reflected light intensity binarized signal (DSR)
F), and a channel clock generating means 1 for generating a channel clock (CHCLK) based on the reflected light intensity binarized signal (DSRF).
3, a timing signal generating means 14 for generating various timing signals based on the channel clock (CHCLK), an A / D converter 15 for A / D converting the reflected light intensity signal (SRF), A plurality of latches 16 for storing the A / D conversion result of the A / D converter 15
It is composed of a storage means 19 composed of 18 and a comparator 20 for comparing the stored contents of the latches 16-18.

【0020】図3は、図2の波形整形手段12の詳細な
図である。
FIG. 3 is a detailed diagram of the waveform shaping means 12 of FIG.

【0021】図3に示すように、波形整形手段12は、
反射光強度信号(SRF)を微分する微分回路21と、
この微分回路21からの微分信号をゼロレベル(GN
D)と比較しゼロレベルを越えている場合Hとなる二値
化信号を生成するコンパレータA22と、反射光強度信
号(SRF)を所定の基準電圧と比較しこの基準電圧以
下の場合Hとなる二値化信号を生成するコンパレータB
23と、コンパレータA22とコンパレータB23のA
NDをとるAND素子24とから構成されている。
As shown in FIG. 3, the waveform shaping means 12 includes
A differentiating circuit 21 for differentiating the reflected light intensity signal (SRF),
The differential signal from the differentiating circuit 21 is set to zero level (GN
D) and a comparator A22 that generates a binarized signal that becomes H when the level exceeds the zero level, and the reflected light intensity signal (SRF) is compared with a predetermined reference voltage. Comparator B that generates a binarized signal
23, A of comparator A22 and comparator B23
And an AND element 24 that takes ND.

【0022】このような波形整形手段12においては、
反射光強度信号(SRF)が平坦な部分でも、ノイズに
より微分波形には多くのゼロクロスが発生するためコン
パレータA22の出力は頻繁に変化する。一方、ピット
により反射光強度信号(SRF)が落ち込み、その落ち
込み量が基準電圧以下となった場合に、反射光強度信号
(SRF)を負端子に入力しているコンパレータB23
の出力はHとなる。ただし、このコンパレータB23に
より得られる二値化信号の立ち上がりあるいは立ち下が
りエッジは、ピット中央をあらわすものではない。した
がって、コンパレータA22出力とコンパレータB23
出力をAND素子24により論理積をとることにより、
AND素子24の出力は、反射光強度信号(SRF)が
基準電圧以下で、しかも、微分信号が正の場合にHとな
る。つまり、AND素子24の立ち上がりエッジが、反
射光強度信号(SRF)の最も落ち込んだ部分、すなわ
ち、ピットの中央をあらわすことになる。
In such a waveform shaping means 12,
Even in the flat portion of the reflected light intensity signal (SRF), many zero crosses are generated in the differential waveform due to noise, so that the output of the comparator A22 changes frequently. On the other hand, when the reflected light intensity signal (SRF) drops due to the pits and the amount of the drop falls below the reference voltage, the reflected light intensity signal (SRF) is input to the negative terminal of the comparator B23.
Output becomes H. However, the rising or falling edge of the binarized signal obtained by the comparator B23 does not represent the center of the pit. Therefore, the output of the comparator A22 and the comparator B23
By ANDing the output with the AND element 24,
The output of the AND element 24 becomes H when the reflected light intensity signal (SRF) is equal to or lower than the reference voltage and the differential signal is positive. That is, the rising edge of the AND element 24 represents the portion where the reflected light intensity signal (SRF) has dropped most, that is, the center of the pit.

【0023】図4は、図2のチャネルクロック生成手段
13の詳細な図である。
FIG. 4 is a detailed diagram of the channel clock generation means 13 of FIG.

【0024】図4に示すように、チャネルクロック生成
手段23は、タイミング信号発生手段24からゲート信
号(WPAGATE)により反射光強度二値化信号(D
SRF)からウォブルドピットA4に相当する部分だけ
を抽出した信号・WPA信号を生成するANDゲート3
1と、前記WPA信号とタイミング信号発生手段23か
ら送られてくる基準信号(WPAREF)の位相差を検
出する位相比較器(P.C.)32と、ディレイライン
(D.L.)33とを備えている。また、同様に、タイ
ミング信号発生手段24からゲート信号(CPGAT
E)により反射光強度二値化信号(DSRF)からクロ
ックピット3に相当する部分だけを抽出した信号・CP
信号を生成するANDゲート34と、前記CP信号とタ
イミング信号発生手段23から送られてくる基準信号
(CPREF)の位相差を検出する位相比較器(P.
C.)35と、ディレイライン(D.L.)36とを備
えている。さらに、同様に、タイミング信号発生手段2
4からゲート信号(WPBGATE)により反射光強度
二値化信号(DSRF)からウォブルドピットB5に相
当する部分だけを抽出した信号・WPB信号を生成する
ANDゲート37と、前記WPB信号とタイミング信号
発生手段23から送られてくる基準信号(WPBRE
F))の位相差を検出する位相比較器(P.C.)38
と、ディレイライン(D.L.)39とを備えている。
As shown in FIG. 4, the channel clock generating means 23 receives the reflected light intensity binarization signal (D) from the timing signal generating means 24 in response to the gate signal (WPAGATE).
AND gate 3 for generating a signal / WPA signal in which only the portion corresponding to the wobbled pit A4 is extracted from (SRF)
1, a phase comparator (PC) 32 for detecting the phase difference between the WPA signal and the reference signal (WPAREF) sent from the timing signal generating means 23, and a delay line (DL) 33. Is equipped with. Similarly, the gate signal (CPGAT) is generated from the timing signal generating means 24.
A signal / CP obtained by extracting only the portion corresponding to the clock pit 3 from the reflected light intensity binarized signal (DSRF) by E).
An AND gate 34 for generating a signal, and a phase comparator (P. 3) for detecting the phase difference between the CP signal and the reference signal (CPREF) sent from the timing signal generating means 23.
C. ) 35 and a delay line (DL) 36. Further, similarly, the timing signal generating means 2
AND gate 37 for generating a signal / WPB signal by extracting only the portion corresponding to the wobbled pit B5 from the reflected light intensity binary signal (DSRF) by the gate signal (WPBGATE) from 4 and the WPB signal and timing signal generation. The reference signal (WPBRE sent from the means 23)
F)) phase detector (PC) 38 for detecting the phase difference
And a delay line (DL) 39.

【0025】また、チャネルクロック生成手段23は、
3つのディレイライン33・36・39の出力のいずれ
かひとつを選択するセレクタ(SEL.)40と、位相
比較器で検出された位相ずれ信号に応じたアナログ電圧
を発生するチャージポンプ(C.P.)41と、PLL
(Phase Locked Loop )の特性を向上させるためのルー
プフィルタ(L.F.)42と、チャネルクロック(C
HCLK)を発生するVCO(Voltage-Controlled Osc
illator )43とを備えて構成されている。
Further, the channel clock generation means 23 is
A selector (SEL.) 40 that selects any one of the outputs of the three delay lines 33, 36, and 39, and a charge pump (CP) that generates an analog voltage according to the phase shift signal detected by the phase comparator. .) 41 and the PLL
A loop filter (LF) 42 for improving the characteristics of (Phase Locked Loop) and a channel clock (C
VCO (Voltage-Controlled Osc) that generates HCLK
illator) 43.

【0026】以下、図5の動作波形を参照しながら動作
について説明する。光スポットがトラックのほぼ真上で
サーボ領域を通過した場合、反射光強度信号(SRF)
は、図5(1)のように、特にクロックピット3の部分
で大きく落ち込んだ波形になる。この波形の微分波形か
ら立ち上がりが反射光強度信号(SRF)のボトムに相
当する反射光強度二値化信号(DSRF)を求めると、
図5(2)のような波形が得られる。
The operation will be described below with reference to the operation waveforms in FIG. When the light spot passes through the servo area almost right above the track, the reflected light intensity signal (SRF)
Shows a waveform with a large drop, especially in the portion of the clock pit 3, as shown in FIG. When the reflected light intensity binarized signal (DSRF) whose rising edge corresponds to the bottom of the reflected light intensity signal (SRF) is obtained from the differential waveform of this waveform,
A waveform as shown in FIG. 5B is obtained.

【0027】一方、VCO43からはこの時点で図5
(3)に示すように、ピット位置よりも若干位相の遅れ
たチャネルクロック(CHCLK)が出力されていると
する。
On the other hand, from the VCO 43, FIG.
As shown in (3), it is assumed that the channel clock (CHCLK) whose phase is slightly behind the pit position is output.

【0028】まず最初にタイミング信号発生手段14か
らゲート信号(WPAGATE)が出力され、ANDゲ
ート31により反射光強度二値化信号(DSRF)から
ウォブルドピットA4に相当する反射光強度二値化信号
(DSRF)の一部分,例えば、パルスaの部分が図5
(5)のようにWPA信号として抽出される。抽出され
たWPA信号は、タイミング信号発生手段24から送ら
れてくる、チャネルクロック(CHCLK)をもとに生
成したウォブルドピットA4の基準のタイミング信号で
ある基準信号(WPAREF)と位相比較器32におい
てその位相関係が比較される。
First, the timing signal generating means 14 outputs a gate signal (WPAGATE), and the AND gate 31 converts the reflected light intensity binarized signal (DSRF) into a reflected light intensity binarized signal corresponding to the wobbled pit A4. A part of (DSRF), for example, a part of pulse a is shown in FIG.
It is extracted as a WPA signal as in (5). The extracted WPA signal is sent from the timing signal generating means 24 and is a reference timing signal (WPAREF) which is a reference timing signal of the wobbled pit A4 generated based on the channel clock (CHCLK) and a phase comparator 32. At, the phase relationships are compared.

【0029】位相比較器32は、検出されたWPA信号
の方が基準信号(WPAREF)よりも位相が進んでい
る場合、チャネルクロック(CHCLK)の位相を進め
る必要があることを示すU1信号を出力し、逆の場合に
は位相を遅らす必要があることを示す信号D1を出力す
る。この場合、WPA信号の方が位相が進んでいるた
め、図5(7)のように位相進み量に相当する時間t分
だけU1信号が出力されることになる。D1信号はLの
ままである。これらの信号はディレイライン33によ
り、例えば、約8クロックに相当する時間だけ遅延さ
れ、DU1信号及びDD1信号とされる。ここでの遅延
量は、少なくともU1あるいはD1信号の位相比較結果
による変化点がウォブルドピットB5があらわれる時刻
よりも後になるようにする必要がある。(判断するまで
位相比較結果を残す必要があるので、ディレーをかけ
る。)同様に、クロックピット3に対応してゲート信号
(CPGATE)が出力されてクロックピット3に対応
する反射光強度二値化信号(DSRF)の一部がAND
ゲート34によりCP信号として取り出され、基準タイ
ミング信号である基準信号(CPREF)との位相関係
が位相比較器35で比較された比較結果がU2及びD2
信号として出力される。U2及びD2信号はディレイラ
イン36により遅延され、DU2及び DD2信号とな
る。ここでの遅延量は、DU2あるいはDD2信号の位
相比較結果の変化部分がDU1及びDD1信号とほぼ同
じ位置になる程度にする。
The phase comparator 32 outputs a U1 signal indicating that it is necessary to advance the phase of the channel clock (CHCLK) when the detected WPA signal leads the reference signal (WPAREF) in phase. However, in the opposite case, the signal D1 indicating that the phase needs to be delayed is output. In this case, since the WPA signal leads the phase, the U1 signal is output for the time t corresponding to the amount of phase advance as shown in FIG. 5 (7). The D1 signal remains L. These signals are delayed by the delay line 33 for a time corresponding to, for example, about 8 clocks, and are made into the DU1 signal and the DD1 signal. It is necessary that the delay amount here is such that at least the change point due to the phase comparison result of the U1 or D1 signal is after the time when the wobbled pit B5 appears. (Because it is necessary to leave the phase comparison result until the determination is made, delay is applied.) Similarly, the gate signal (CPGATE) is output corresponding to the clock pit 3 and the reflected light intensity binarization corresponding to the clock pit 3 is performed. AND of part of the signal (DSRF)
U2 and D2 are the comparison results extracted by the gate 34 as the CP signal and compared in phase relation with the reference signal (CPREF) which is the reference timing signal by the phase comparator 35.
It is output as a signal. The U2 and D2 signals are delayed by the delay line 36 to become the DU2 and DD2 signals. The amount of delay here is set so that the changed portion of the phase comparison result of the DU2 or DD2 signal becomes substantially the same position as the DU1 and DD1 signals.

【0030】さらに同様の方法によりウォブルドピット
B5においてもピットの位置とチャネルクロック(CH
CLK)から生成した基準タイミング信号である基準信
号(WPBREF)との位相差が検出され、位相比較結
果としてDU3及びDD3信号を得る。
Further, in the wobbled pit B5 by the same method, the position of the pit and the channel clock (CH
CLK), the phase difference from the reference signal (WPBREF) which is the reference timing signal generated is detected, and the DU3 and DD3 signals are obtained as the phase comparison result.

【0031】このようにして得たDU1とDD1信号の
組、DU2とDD2信号の組、DU3とDD3信号の組
はいずれもチャネルクロックとディスク上のピットの位
置との位相ずれをあらわすものである。
The set of DU1 and DD1 signals, the set of DU2 and DD2 signals, and the set of DU3 and DD3 signals thus obtained all represent the phase shift between the channel clock and the pit position on the disc. .

【0032】さて、上記の動作と並行して、A/Dコン
バータ15により反射光強度信号(SRF)がチャネル
クロック(CHCLK)に従ってサンプリング・A/D
変換され、ウォブルドピットA4、クロックピット3、
ウォブルドピットB5での変換結果が各々ラッチ16・
17・18に格納される。ラッチのタイミングは、各基
準信号に対して、A/D変換時の遅れ分だけ遅延したタ
イミング信号発生手段23からのタイミング信号により
行われる。コンパレータ20は、各ラッチ16・17・
18の記憶内容から、最小の値を保持しているもの、す
なわち最も深く変調されたものを探し、そのラッチに相
当するセレクト信号(SEL)を出力する。この場合ラ
ッチが3つあるのでこのセレクト信号としては少なくと
も2ビットが必要である。図5(1)に示したようにク
ロックピット3での反射光強度信号(SRF)が最も小
さいので、セレクト信号(SEL)としてはクロックピ
ット3をあらわすものとして’2’が出力される。
In parallel with the above operation, the reflected light intensity signal (SRF) is sampled by the A / D converter 15 according to the channel clock (CHCLK).
Converted, wobbled pit A4, clock pit 3,
The conversion result at wobbled pit B5 is 16
It is stored in 17 and 18. The latch timing is performed by the timing signal from the timing signal generating means 23 delayed by the delay of A / D conversion with respect to each reference signal. The comparator 20 includes latches 16, 17 ,.
The stored value of 18 is searched for the one holding the minimum value, that is, the deepest modulated one, and the select signal (SEL) corresponding to the latch is output. In this case, since there are three latches, this select signal requires at least 2 bits. As shown in FIG. 5A, since the reflected light intensity signal (SRF) at the clock pit 3 is the smallest, '2' is output as the select signal (SEL) indicating the clock pit 3.

【0033】コンパレータ29からの セレクト信号
(SEL)が確定すると、セレクタ40により位相比較
結果信号・ DU1/DD1、DU2/DD2、DU3
/DD3の中からひとつの組が選択される。ここでは、
セレクト信号(SEL)が’2’なので、クロックピッ
トでの位相比較結果・DU2/DD2の組が選択される
ことになる。選択された位相情報PU及びPDはチャー
ジポンプ41へ送られて位相ずれの符号及び大きさに応
じたアナログ信号に変換され、ループの特性を向上させ
るためのループフィルタ42を経由してVCO43の駆
動電圧となり、VCO43出力であるチャネルクロック
(CHCLK)を位相ずれをなくす方向に動かす。この
動作を繰り返すことにより、ディスク上のピット列と同
期したチャネルクロック(CHCLK)を得ることがで
きる。
When the select signal (SEL) from the comparator 29 is confirmed, the selector 40 outputs the phase comparison result signals DU1 / DD1, DU2 / DD2, DU3.
One set is selected from / DD3. here,
Since the select signal (SEL) is "2", the phase comparison result / DU2 / DD2 pair in the clock pit is selected. The selected phase information PU and PD are sent to the charge pump 41 and converted into an analog signal according to the sign and magnitude of the phase shift, and the VCO 43 is driven via the loop filter 42 for improving the loop characteristics. The voltage becomes a voltage, and the channel clock (CHCLK) that is the output of the VCO 43 is moved in the direction to eliminate the phase shift. By repeating this operation, the channel clock (CHCLK) synchronized with the pit string on the disc can be obtained.

【0034】図6は、シーク中など、光スポットがトラ
ック間を通過した場合である。図6では、図5とは逆に
チャネルクロックがディスク上のピットよりも先行して
いる場合を示している。図6のように,光スポットがト
ラック間にある場合、反射光強度信号(SRF)として
図6(1)のようにクロックピット3の部分でほとんど
落ち込まないものが得られることになる。そして、その
反射光強度二値化信号(DSRF)ではクロックピット
に相当するパルスが抜けてしまう(図6(2))。二値
化では反射光強度信号(SRF)のボトム(ピットの中
央に相当する部分)を取り出す必要があるため、反射光
強度信号(SRF)の微分波形をゼロレベルと比較する
が、微分波形だけで二値化を行うとピットのない部分
(反射光強度信号(SRF)の平坦な部分)でノイズ等
による微分信号のゼロクロスが発生し二値化信号が出力
されてしまうため、通常は反射光強度信号(SRF)自
身もある基準レベルと比較し、反射光強度信号(SR
F)が一定値以下の場合に限り微分信号の二値化信号を
出力するようにしている。このため、図6(1)のよう
に反射光強度信号(SRF)の変調が浅い場合には反射
光強度二値化信号(DSRF)に抜けが発生してしまう
のである。
FIG. 6 shows a case where a light spot passes between tracks, such as during seek. In contrast to FIG. 5, FIG. 6 shows the case where the channel clock leads the pits on the disc. As shown in FIG. 6, when the light spot is between the tracks, a reflected light intensity signal (SRF) that hardly drops in the clock pit 3 portion as shown in FIG. 6A is obtained. Then, in the reflected light intensity binarized signal (DSRF), a pulse corresponding to a clock pit is omitted (FIG. 6 (2)). In binarization, it is necessary to extract the bottom of the reflected light intensity signal (SRF) (the portion corresponding to the center of the pit), so the differential waveform of the reflected light intensity signal (SRF) is compared with the zero level, but only the differential waveform. When the binarization is performed with, the zero cross of the differential signal due to noise or the like occurs in the part without the pit (the flat part of the reflected light intensity signal (SRF)), and the binarized signal is output. The intensity signal (SRF) itself is also compared with a certain reference level, and the reflected light intensity signal (SR
The binary signal of the differential signal is output only when F) is equal to or less than a certain value. For this reason, when the reflected light intensity signal (SRF) is shallowly modulated as shown in FIG. 6A, a dropout occurs in the reflected light intensity binarization signal (DSRF).

【0035】クロックピット3に対応する反射光強度二
値化信号(DSRF)が抜けているため、クロックピッ
ト3での位相比較結果であるU2及びD2は図6(1
5),(16)のように誤ったものとなる。しかし、本
実施例では 反射光強度信号(SRF)が最も小さかっ
たピットでの位相比較結果を採用するようになっている
ため、図6の例ではウォブルドピットA4での位相比較
結果(のディレイ信号)であるDU1及びDD1が選択
され、その情報に基づいてVCO出力であるチャネルク
ロック(CHCLK)が制御されるので、反射光強度二
値化信号(DSRF)の抜けの影響を受けないことにな
る。
Since the reflected light intensity binarization signal (DSRF) corresponding to the clock pit 3 is missing, U2 and D2 which are the phase comparison results at the clock pit 3 are shown in FIG.
5) and (16) are incorrect. However, in the present embodiment, since the phase comparison result at the pit where the reflected light intensity signal (SRF) is the smallest is adopted, the phase comparison result at the wobbled pit A4 (the delay of DU1 and DD1 which are signals) and the channel clock (CHCLK) which is a VCO output is controlled based on the information, so that it is not affected by the omission of the reflected light intensity binary signal (DSRF). Become.

【0036】以上説明したように本実施例では、ウォブ
ルドピットA4、クロックピット3、ウォブルドピット
B5でのピット位置とチャネルクロック(CHCLK)
の位相比較結果のうち最も精度が高い、反射光強度信号
(SRF)の変調が深かったピットでの位相比較結果を
もとにしてチャネルクロック(CHCLK)の制御を行
うため、常に高い精度でピットに対してチャネルクロッ
ク(CHCLK)を同期させることができる。また、シ
ーク中スポットがちょうどトラック間に位置していた場
合など、クロックピット(CHCLK)における反射光
強度二値化信号(DSRF)に抜けが生じる場合であっ
ても正確な位相比較結果によりクロックの制御を行い同
期を保つことができる。
As described above, in this embodiment, the pit positions at the wobbled pit A4, the clock pit 3, and the wobbled pit B5 and the channel clock (CHCLK).
Since the channel clock (CHCLK) is controlled based on the phase comparison result of the pit in which the reflected light intensity signal (SRF) is deeply modulated, which is the most accurate phase comparison result, the pit is always highly accurate. The channel clock (CHCLK) can be synchronized with. In addition, even if the spot during the seek is located just between tracks, even if the reflected light intensity binarization signal (DSRF) in the clock pit (CHCLK) is missing, the accurate phase comparison result can be used to detect the clock. It is possible to control and maintain synchronization.

【0037】図7及び図8は第2実施例に係わり、図7
はクロック制御装置の構成を示すブロック図、図8は光
スポットがトラックのほぼ真上でサーボ領域を通過した
場合の各信号のタイミングを示すタイミング図である。
7 and 8 relate to the second embodiment, and
FIG. 8 is a block diagram showing a configuration of a clock control device, and FIG. 8 is a timing diagram showing timings of respective signals when a light spot passes through a servo area almost right above a track.

【0038】第2実施例は、ディスク上のピット位置と
チャネルクロックの位相ずれ検出を別の方法により行う
場合である。
The second embodiment is a case where the phase shift between the pit position on the disc and the channel clock is detected by another method.

【0039】図7では、図1と共通するブロックには同
じ番号を付している。図7で、21はディスクからの反
射光の強度を検出し電気信号として出力する反射光強度
信号検出手段、25はA/Dコンバータ、44はディス
ク上のピットとチャネルクロック(CHCLK)の位相
差を検出し位相差に相当する値を出力する位相差検出手
段、45はD/Aコンバータ、42はPLLの特性を改
善するためのループフィルタ、43はVCO、46はタ
イミング信号の生成手段である。
In FIG. 7, blocks common to FIG. 1 are given the same numbers. In FIG. 7, 21 is a reflected light intensity signal detecting means for detecting the intensity of reflected light from the disc and outputting it as an electric signal, 25 is an A / D converter, 44 is a phase difference between a pit on the disc and a channel clock (CHCLK). Is detected and outputs a value corresponding to the phase difference, 45 is a D / A converter, 42 is a loop filter for improving the characteristics of the PLL, 43 is a VCO, and 46 is a timing signal generating means. .

【0040】位相差検出手段44は、図7のようにA/
D変換結果を記憶する9つのラッチ51〜59、各ピッ
トでのチャネルクロックとピット位置との位相ずれ量を
求めるための減算器60〜62、3つの減算器出力のう
ちひとつを選択し出力するセレクタ63、ラッチ52・
55・58の記憶内容のうち最小の値を保持しているも
のを求めるコンパレータ64から成る。ラッチ51〜5
9のタイミングは、各基準信号に対して、A/D変換時
の遅れ分だけ遅延したタイミング信号発生手段46から
のタイミング信号により行われる。
The phase difference detecting means 44 is A /
Nine latches 51 to 59 for storing the D conversion result, subtractors 60 to 62 for obtaining the phase shift amount between the channel clock and the pit position in each pit, and one of the three subtractor outputs is selected and output. Selector 63, latch 52
It is composed of a comparator 64 which finds one of the stored contents of 55 and 58 which holds the minimum value. Latches 51-5
The timing of 9 is performed by the timing signal from the timing signal generating means 46 delayed by the delay of A / D conversion with respect to each reference signal.

【0041】反射光強度信号(SRF)はA/Dコンバ
ータ25によりサンプリング・A/D変換され、タイミ
ング信号発生手段46からのタイミング信号の指示によ
ってウォブルドピットA4のひとつ前のチャネルクロッ
ク(CHCLK)の立ち上がりでのサンプル値から順に
ラッチ51から59に格納される。ラッチ59は、ウォ
ブルドピットBの直後のチャネルクロック(CHCL
K)の立ち上がりでのサンプル値を保持することにな
る。ここでは,8ビットでA/D変換し、結果として図
8(3)〜(11)に示すようなサンプル値がラッチ5
1〜59に格納されたとする。変換結果は16進数(8
ビットなので OOH〜 FFH)であらわしており、数字の大
きい方が反射光の多い側を示すものとする。
The reflected light intensity signal (SRF) is sampled and A / D converted by the A / D converter 25, and the channel clock (CHCLK) immediately before the wobbled pit A4 is instructed by the timing signal from the timing signal generating means 46. The data is stored in the latches 51 to 59 in order from the sample value at the rising edge of. The latch 59 uses the channel clock (CHCL) immediately after the wobbled pit B.
The sample value at the rising edge of K) will be retained. Here, A / D conversion is performed with 8 bits, and as a result, sample values as shown in FIGS.
It is assumed that the data is stored in 1 to 59. The conversion result is hexadecimal (8
Since it is a bit, it is expressed as OOH ~ FFH), and the larger number indicates the side with more reflected light.

【0042】各ピットでのチャネルクロック(CHCL
K)とピット位置との位相ずれ量は、ピットの直前のク
ロックの立ち上がり(ピットに相当する立ち上がりのひ
とつ前の立ち上がり)でのサンプル値とピットの直後の
クロックの立ち上がりでのサンプル値の差をとることに
より知ることができる。たとえばクロックピット3で
は、直前のクロックでのサンプル値が FOH、直後のクロ
ックでのサンプル値が 80Hであるから、その差の 70Hが
位相のずれをあらわす量になる(図8(12)のPE2
信号)。図8のようにクロックの方がピット位置よりも
進んでいればこの値は正になり、クロックが遅れていれ
ば負になる。ウォブルドピットA4及びB5でも同じよ
うに位相ずれ量を知ることができ、ウォブルドピットピ
ットA4では 10H、ウォブルドピットBD5Eは 90Hと
いう値が得られる。
Channel clock (CHCL in each pit
The amount of phase shift between K) and the pit position is the difference between the sample value at the rise of the clock immediately before the pit (the rise immediately before the rise corresponding to the pit) and the sample value at the rise of the clock immediately after the pit. You can know it by taking it. For example, in clock pit 3, the sample value of the immediately preceding clock is FOH and the sample value of the immediately following clock is 80H, so the difference 70H is the amount that represents the phase shift (PE2 in Fig. 8 (12)).
signal). If the clock is ahead of the pit position as shown in FIG. 8, this value will be positive, and if the clock is late, it will be negative. The wobbled pits A4 and B5 can also know the phase shift amount in the same manner, and the wobbled pit A4 has a value of 10H and the wobbled pit BD5E has a value of 90H.

【0043】このようにして得られた各ピットでの3つ
の位相比較結果から、ピット中央での反射光強度信号
(SRF)のサンプル値が最も小さかったピットでの位
相比較結果が最終的な位相比較結果として選択される。
図8の例ではピット中央でのサンプル値(ラッチ52、
55、58が記憶している)は各々 90H、 50H、 20Hで
あり、ウォブルドピットB5が最も小さくなっているの
で、位相比較結果としてPE3の値を選択してD/Aコ
ンバータ45へと出力する。D/A変換された位相ずれ
信号はループフィルタ42を経由してVCO43の駆動
電圧となり、出力であるチャネルクロック(CHCL
K)を位相ずれをなくす方向に駆動する。
From the three phase comparison results for each pit thus obtained, the phase comparison result for the pit having the smallest sample value of the reflected light intensity signal (SRF) at the pit center is the final phase. It is selected as the comparison result.
In the example of FIG. 8, the sample value (latch 52,
55, 58) are 90H, 50H, and 20H, respectively, and the wobbled pit B5 is the smallest, so the value of PE3 is selected as the phase comparison result and output to the D / A converter 45. To do. The D / A-converted phase shift signal becomes the drive voltage of the VCO 43 via the loop filter 42, and the output channel clock (CHCL
K) is driven in the direction to eliminate the phase shift.

【0044】以上説明したように、ピットの直前と直後
のタイミングでサンプルした反射光強度信号の値からチ
ャネルクロックとピット位置との位相差を検出する方法
においても、反射光強度信号(SRF)が最も深く変調
されているピットでの位相ずれ量を用いてチャネルクロ
ック(CHCLK)を制御するため、常に安定したチャ
ネルクロック(CHCLK)を得ることができる。
As described above, in the method of detecting the phase difference between the channel clock and the pit position from the value of the reflected light intensity signal sampled at the timing immediately before and after the pit, the reflected light intensity signal (SRF) is also detected. Since the channel clock (CHCLK) is controlled by using the phase shift amount in the pit most deeply modulated, it is possible to always obtain a stable channel clock (CHCLK).

【0045】また、このような位相差検出法では反射光
強度信号の変調度が下がると位相比較の精度が低下する
だけでなく検出のゲインも低下し、結果的にループゲイ
ンが変動してPLLが不安定になることがあるが、本実
施例の同期回路によれば、最も変調度の大きかったピッ
トでの位相差情報を使用するので位相差の検出ゲインの
ばらつきも小さくすることができ、PLLの安定化が可
能となる。
Further, in such a phase difference detection method, when the modulation degree of the reflected light intensity signal is lowered, not only the accuracy of phase comparison is lowered but also the detection gain is lowered, and as a result, the loop gain fluctuates and the PLL is changed. However, according to the synchronizing circuit of the present embodiment, since the phase difference information in the pit having the largest modulation degree is used, it is possible to reduce the variation in the detection gain of the phase difference. It is possible to stabilize the PLL.

【0046】図9及び図10は第3実施例に係わり、図
9はクロック制御装置の構成を示すブロック図、図10
は欠陥検出回路の構成を示す回路図である。
9 and 10 relate to the third embodiment, and FIG. 9 is a block diagram showing the configuration of the clock control device, FIG.
FIG. 3 is a circuit diagram showing a configuration of a defect detection circuit.

【0047】上述の第1、第2実施例ではクロックピッ
ト及び2つのウォブルドピットで得られた3つの位相差
情報からひとつを選択するのに反射光強度信号のレベル
による判定を行ったが、第3実施例は、別の方法により
選択する位相差情報を決めるクロック制御装置である。
In the first and second embodiments described above, one of the three phase difference information obtained by the clock pit and the two wobbled pits is selected, but the determination is made based on the level of the reflected light intensity signal. The third embodiment is a clock control device that determines the phase difference information to be selected by another method.

【0048】第3実施例のクロック制御装置は、図9に
示すように、図1でのA/Dコンバータ25、ラッチ2
6〜28、コンパレータ29のかわりに、欠陥検出手段
71〜73とデコーダ74を設けて、セレクト信号(S
EL)を得るようにしたものであり、セレクト信号(S
EL)の決定法以外の動作は第1実施例と同じである。
The clock controller of the third embodiment, as shown in FIG. 9, has the A / D converter 25 and the latch 2 shown in FIG.
6 to 28, defect detectors 71 to 73 and a decoder 74 are provided instead of the comparator 29 to select signals (S
EL), and the select signal (S
The operation other than the EL) determination method is the same as in the first embodiment.

【0049】欠陥検出手段としては、簡単なものでは図
10のようなものが考えられる。図10はウォブルドピ
ットA4に対する欠陥検出回路である。ウォブルドピッ
トA4の近傍でアクティブとなるゲート信号をクロック
イネーブル端子に、反射光強度信号(SRF)の二値化
信号である反射光強度二値化信号(DSRF)をクロッ
ク端子に接続し、D入力を正電源に接続したDフリップ
フロップ80により構成される。ゲート信号(WPAG
ATE)がアクティブとなっている間に反射光強度二値
化信号(DSRF)に立ち上がりエッジがあれば、/Q
出力である欠陥検出信号(WPADEF )はLとな
り、ゲート内に立ち上がりがなければ欠陥検出信号(W
PADEF)はHのままである。ピット欠陥があった場
合には反射光強度信号のボトムがピットの位置にあらわ
れず反射光強度二値化信号(DSRF)が出力されない
場合が多いので、図10の回路によりピット欠陥を検出
することができる。尚、/Q出力は、Q出力の反転出力
を示す。
As a defect detecting means, a simple one as shown in FIG. 10 can be considered. FIG. 10 shows a defect detection circuit for the wobbled pit A4. A gate signal which becomes active in the vicinity of the wobbled pit A4 is connected to the clock enable terminal, and a reflected light intensity binarized signal (DSRF) which is a binarized signal of the reflected light intensity signal (SRF) is connected to the clock terminal. It is composed of a D flip-flop 80 whose input is connected to a positive power supply. Gate signal (WPAG
If there is a rising edge in the reflected light intensity binarization signal (DSRF) while ATE) is active, / Q
The output defect detection signal (WPADEF) becomes L, and if there is no rise in the gate, the defect detection signal (WPADEF)
PADEF) remains H. When there is a pit defect, the bottom of the reflected light intensity signal does not appear at the pit position and the reflected light intensity binarization signal (DSRF) is not output in many cases, so the pit defect should be detected by the circuit of FIG. You can The / Q output indicates an inverted output of the Q output.

【0050】同様の回路をクロックピット3及びウォブ
ルドピットB5に対しても用意すれば、各ピットごとに
欠陥があったかどうかを知ることができる(ゲート信号
(WPAGATE)のかわりにクロックピット3ではゲ
ート信号(CPGATE)、ウォブルドピットBではゲ
ート信号(WPBGATE)をDフリップフロップ80
のクロックイネーブル端子に接続する)。
If a similar circuit is prepared for the clock pit 3 and the wobbled pit B5 as well, it is possible to know whether or not there is a defect for each pit (instead of the gate signal (WPAGATE), the gate is used in the clock pit 3). Signal (CPGATE), the gate signal (WPBGATE) in the wobbled pit B, the D flip-flop 80
Connect to the clock enable terminal of.

【0051】各ピットで得られた位相ずれ情報の中から
どれを選択するかは、各ピットでの欠陥検出の結果をあ
らわす信号、WPADEF、CPDEF、WPBDEF
の組み合わせにより、デコーダ74で決定される。デコ
ーダ74の動作は、たとえば図11の真理値表のように
欠陥がなかったピットのうち最も後のピットを選択す
る、というものが考えられる。後のピットほど検出して
から最終的な位相差情報として使用するまでの遅延時間
が短いので、PLLにとっての無駄時間が少なくなり動
作がより安定するためである。ウォブルドピットB5に
欠陥がなかった(WPBDEF=L)のときは、ウォブ
ルドピットB5での位相比較結果を使用するようにセレ
クト信号(SEL)の値を3にする。ウォブルドピット
B5に欠陥があった場合にはクロックピット3での位相
差情報を選択するためにセレクト信号(SEL)=2と
し、クロックピット3にも欠陥があった場合にはウォブ
ルドピットA4での位相差情報を選択するようにセレク
ト信号(SEL)=1とする。ウォブルドピットA4に
も欠陥があるような場合にはエラーとみなしてそのサー
ボ領域での位相差情報の更新をやめ、次のサーボ領域ま
で前回の位相差情報をそのまま使用する、といった方法
で補間を行えば良い。
Which one is selected from the phase shift information obtained in each pit is determined by a signal representing the result of defect detection in each pit, WPADEF, CPDEF, WPBDEF.
The combination is determined by the decoder 74. The operation of the decoder 74 may be to select the last pit among the pits having no defect as shown in the truth table of FIG. 11, for example. This is because the later pits have a shorter delay time from the detection to the use as the final phase difference information, so that the dead time for the PLL is reduced and the operation becomes more stable. When there is no defect in the wobbled pit B5 (WPBDEF = L), the value of the select signal (SEL) is set to 3 so as to use the phase comparison result in the wobbled pit B5. If the wobbled pit B5 has a defect, the select signal (SEL) = 2 is set to select the phase difference information in the clock pit 3, and if the clock pit 3 also has a defect, the wobbled pit A4 The select signal (SEL) = 1 is set so as to select the phase difference information in 1. If the wobbled pit A4 also has a defect, it is regarded as an error and the updating of the phase difference information in the servo area is stopped, and the previous phase difference information is used as it is until the next servo area. Should be done.

【0052】デコーダ74は下記の真理値表を満たすロ
ジック回路を組んでも良いし、ROMを使用することも
できる。
The decoder 74 may include a logic circuit that satisfies the following truth table, or may use a ROM.

【0053】[0053]

【表1】 以上説明したように、本実施例ではピット欠陥がなかっ
たピットでのチャネルクロック(CHCLK)とピット
位置との位相差情報を用いてチャネルクロック(CHC
LK)の制御を行うため、ピット欠陥の影響を受けずに
安定したクロックを生成することができる。
[Table 1] As described above, in the present embodiment, the channel clock (CHC) is calculated by using the phase difference information between the channel clock (CHCLK) and the pit position in the pit which has no pit defect.
Since LK) is controlled, a stable clock can be generated without being affected by pit defects.

【0054】また、本第3実施例と第1あるいは第2実
施例を組み合わせ、ピット欠陥が検出されなかったピッ
トのうち最も反射光強度信号(SRF)の変調度が大き
かった(レベルが小さかった)ピットでの位相比較結果
を使用する、といったことも可能である。
Further, by combining the third embodiment with the first or second embodiment, the modulation degree of the reflected light intensity signal (SRF) was the highest among the pits in which no pit defect was detected (the level was low). It is also possible to use the result of phase comparison at the pit.

【0055】尚、以上の説明ではクロックピットと2つ
のウォブルドピットの計3つのピットを対象としてその
中からひとつを選択したが、これ以外にも決まった周期
であらわれるピットが設けられていればそのピットを位
相比較の対象とする事ができる。また、あえてより少な
いピット(ウォブルドピットAとウォブルドピットBな
ど)を用いることもできる。
In the above description, the clock pit and the two wobbled pits were selected as a total of three pits, and one of them was selected. However, other pits that appear at a fixed cycle are provided. The pit can be used for phase comparison. It is also possible to use fewer pits (wobbled pit A, wobbled pit B, etc.).

【0056】また、複数ある位相比較結果の中からひと
つを選択してチャネルクロックの制御に用いるのではな
く、それらの平均値を用いて制御を行うこともできる。
Further, instead of selecting one from a plurality of phase comparison results and using it for controlling the channel clock, the control can be performed by using the average value thereof.

【0057】[0057]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
サンプルサーボ方式の光ディスクのサーボ領域に設けら
れている複数のピットにおいてチャネルクロックとピッ
トの位置との位相差を検出し、それら複数の位相差情報
の中からひとつを選択してチャネルクロックの制御を行
うため、スポットの径が小さくしかもトラック間に位置
しており、前記サーボ領域に設けられている複数のピッ
トのうち少なくとも1つのピットでの反射光強度信号の
変調が十分に得られない場合や、ピットに物理的な欠陥
がある場合であっても、常に安定したチャネルクロック
を生成することができ、トラッキングサーボ中及びシー
ク時等の同期はずれを防ぐことができるという効果があ
る。
As described above, according to the present invention,
The phase difference between the channel clock and the pit position is detected in the multiple pits provided in the servo area of the sample servo system optical disk, and one of these multiple phase difference information is selected to control the channel clock. Therefore, when the spot diameter is small and the spots are located between the tracks, the reflected light intensity signal cannot be sufficiently modulated in at least one of the plurality of pits provided in the servo area. Even if there is a physical defect in the pit, it is possible to always generate a stable channel clock and prevent out-of-synchronization during tracking servo and seek.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 第1実施例に係るサンプルサーボ方式の光デ
ィスクのサーボ領域のピット構成を示す構成図である。
FIG. 1 is a configuration diagram showing a pit configuration of a servo area of an optical disk of a sample servo system according to a first embodiment.

【図2】 第1実施例に係るクロック制御装置の構成を
示すブロック図である。
FIG. 2 is a block diagram showing a configuration of a clock control device according to the first embodiment.

【図3】 第1実施例に係る図2の波形整形回路の詳細
な構成を示す回路図である。
FIG. 3 is a circuit diagram showing a detailed configuration of the waveform shaping circuit of FIG. 2 according to the first embodiment.

【図4】 第1実施例に係る図2のチャネルクロック生
成手段の詳細な構成を示す回路図である。
FIG. 4 is a circuit diagram showing a detailed configuration of the channel clock generation means of FIG. 2 according to the first embodiment.

【図5】 第1実施例に係る光スポットがトラックのほ
ぼ真上でサーボ領域を通過した場合の各信号のタイミン
グを示すタイミング図である。
FIG. 5 is a timing chart showing the timing of each signal when the light spot according to the first embodiment passes through the servo area almost directly above the track.

【図6】 第1実施例に係るシーク中など光スポットが
トラック間を通過した場合の各信号のタイミングを示す
タイミング図である。
FIG. 6 is a timing chart showing the timing of each signal when a light spot passes between tracks, such as during seek according to the first embodiment.

【図7】 第2実施例に係るクロック制御装置の構成を
示すブロック図である。
FIG. 7 is a block diagram showing a configuration of a clock control device according to a second embodiment.

【図8】 第2実施例に係る光スポットがトラックのほ
ぼ真上でサーボ領域を通過した場合の各信号のタイミン
グを示すタイミング図である。
FIG. 8 is a timing chart showing the timing of each signal when the light spot according to the second embodiment passes through the servo area almost directly above the track.

【図9】 第3実施例に係るクロック制御装置の構成を
示すブロック図である。
FIG. 9 is a block diagram showing a configuration of a clock control device according to a third embodiment.

【図10】第3実施例に係る欠陥検出回路の構成を示す
回路図である。
FIG. 10 is a circuit diagram showing a configuration of a defect detection circuit according to a third embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

3…クロックピット 4…ウォブルドピットA 5…ウォブルドピットB 11…反射光強度信号検出手段 12…波形整形手段 13…チャネルクロック生成手段 14…タイミング信号発生手段 15…A/Dコンバータ 19…記憶手段 20…コンパレータ 3 ... Clock pit 4 ... Wobbled pit A 5 ... Wobbled pit B 11 ... Reflected light intensity signal detection means 12 ... Waveform shaping means 13 ... Channel clock generation means 14 ... Timing signal generation means 15 ... A / D converter 19 ... Storage Means 20 ... Comparator

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 情報トラック上に複数のピットから成る
サーボ領域が間欠的に設けられている光ディスクに対し
て光ビームを照射し、前記光ビームの前記光ディスクか
らの反射光の強度を検出することにより前記複数のピッ
トのうち特定のピットを検知し基準にしてチャネルクロ
ックを生成するサンプルサーボ方式の光ディスク装置の
クロック制御装置において、 前記サーボ領域内の複数のピットのうち少なくとも2つ
のピットにおいてピット位置と前記チャネルクロックと
のタイミングのずれを独立に検知する位相差検出手段
と、 複数の前記位相差検出手段出力の中からいずれかひとつ
を選択し出力する選択手段とを設け、 前記選択手段の出力をもとに前記チャネルクロックの制
御を行うことを特徴とする光ディスク装置のクロック制
御装置。
1. A light beam is applied to an optical disc having servo areas intermittently provided on an information track, and the intensity of the reflected light from the optical disc is detected. In a clock control device of a sample servo type optical disc device which detects a specific pit among the plurality of pits and generates a channel clock with the pit position as a reference, a pit position in at least two pits of the plurality of pits in the servo area. A phase difference detecting means for independently detecting a timing shift between the channel clock and the channel clock, and a selecting means for selecting and outputting any one of the plurality of phase difference detecting means outputs, and the output of the selecting means A clock control device for an optical disk device, which controls the channel clock based on Place
【請求項2】 前記位相差検出手段は、前記チャネルク
ロックをもとに生成したピット位置基準信号と前記反射
光強度から求めたピット位置との時間的なずれを検知す
るものであることを特徴とする、請求項1記載の光ディ
スク装置のクロック制御装置。
2. The phase difference detecting means detects a time shift between a pit position reference signal generated based on the channel clock and a pit position obtained from the reflected light intensity. The clock control device for an optical disk device according to claim 1.
【請求項3】 前記位相差検出手段は、ピット位置の直
前と直後のタイミングでの前記反射光強度の差から前記
ピット位置と前記チャネルクロックとの時間的なずれを
検知するものであることを特徴とする、請求項1記載の
光ディスク装置のクロック制御装置。
3. The phase difference detection means detects a time shift between the pit position and the channel clock based on a difference between the reflected light intensities immediately before and after the pit position. The clock control device for an optical disk device according to claim 1, which is characterized in that.
【請求項4】 前記選択手段は、各ピットでの前記反射
光強度をもとに選択する位相差検出手段出力を決定する
ことを特徴とする、請求項1記載の光ディスク装置のク
ロック制御装置。
4. The clock control device for an optical disk device according to claim 1, wherein the selection means determines the output of the phase difference detection means to be selected based on the reflected light intensity at each pit.
【請求項5】 前記選択手段は、各ピットに欠陥があっ
たかどうかを判定する欠陥検出手段の出力をもとに選択
する位相差検出手段出力を決定することを特徴とする、
請求項1記載の光ディスク装置のクロック制御装置。
5. The selection means determines the phase difference detection means output to be selected based on the output of the defect detection means for determining whether or not each pit has a defect.
The clock control device of the optical disk device according to claim 1.
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