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JPH0687021B2 - 検出素子の製造法 - Google Patents

検出素子の製造法

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Publication number
JPH0687021B2
JPH0687021B2 JP63273907A JP27390788A JPH0687021B2 JP H0687021 B2 JPH0687021 B2 JP H0687021B2 JP 63273907 A JP63273907 A JP 63273907A JP 27390788 A JP27390788 A JP 27390788A JP H0687021 B2 JPH0687021 B2 JP H0687021B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electric conductor
sensing element
heating
manufacturing
conductor portion
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP63273907A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH02120624A (ja
Inventor
不二男 石黒
徹 菊地
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NGK Insulators Ltd
Original Assignee
NGK Insulators Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by NGK Insulators Ltd filed Critical NGK Insulators Ltd
Priority to JP63273907A priority Critical patent/JPH0687021B2/ja
Priority to US07/427,649 priority patent/US5061350A/en
Priority to DE3935936A priority patent/DE3935936C2/de
Publication of JPH02120624A publication Critical patent/JPH02120624A/ja
Publication of JPH0687021B2 publication Critical patent/JPH0687021B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01FMEASURING VOLUME, VOLUME FLOW, MASS FLOW OR LIQUID LEVEL; METERING BY VOLUME
    • G01F1/00Measuring the volume flow or mass flow of fluid or fluent solid material wherein the fluid passes through a meter in a continuous flow
    • G01F1/68Measuring the volume flow or mass flow of fluid or fluent solid material wherein the fluid passes through a meter in a continuous flow by using thermal effects
    • G01F1/684Structural arrangements; Mounting of elements, e.g. in relation to fluid flow
    • G01F1/688Structural arrangements; Mounting of elements, e.g. in relation to fluid flow using a particular type of heating, cooling or sensing element
    • G01F1/69Structural arrangements; Mounting of elements, e.g. in relation to fluid flow using a particular type of heating, cooling or sensing element of resistive type
    • G01F1/692Thin-film arrangements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01CRESISTORS
    • H01C17/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing resistors
    • H01C17/02Apparatus or processes specially adapted for manufacturing resistors adapted for manufacturing resistors with envelope or housing

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  • Physics & Mathematics (AREA)
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  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Measuring Volume Flow (AREA)
  • Thermistors And Varistors (AREA)
  • Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、抵抗値の温度依存性等を利用して、流体の流
量あるいは流速を測定するための検知素子の製造法に関
するものである。
(従来の技術) 従来、この種の検知素子としては、板状あるいは円柱状
のガラス、セラミックスあるいは金属(この場合は絶縁
物を介して)の基体上に、薄膜,厚膜またはワイヤ等か
らなる電気的導体部を形成し、さらに電気的導体部と外
部回路を接続するための金属リードを基体に導体ペース
トあるいはガラスで固定したものが知られている。
そして、これら電気的導体部は、外部雰囲気から保護す
るための保護層形成時等に焼付処理(熱処理)を加熱炉
(電気炉)を使用して実施していた。
(発明が解決しようとする課題) しかしながら、上述した従来の加熱炉により熱処理する
方法では、たとえば通常保護層としてガラスを使用する
が、ガラス焼付のときの酸化防止のため、金属基体ある
いは金属リードとして白金等の貴金属の使用が必要とな
り、高価となる問題があった。
また、貴金属の代わりに卑金属を使用するために還元雰
囲気または極低酸素濃度雰囲気で加熱することが考えら
れるが、ガラスは還元雰囲気または極低酸素雰囲気では
発泡したり分解したりする問題、また電気的導体部の抵
抗値や抵抗温度係数が不安定となったりする問題があ
り、実施はむずかしかった。
本発明の目的は上述した課題を解消して、材料の組み合
わせの自由度を増し、それにより性能のすぐれた検知素
子を安価に得ることができる検知素子の製造法を提供し
ようとするものである。
(課題を解決するための手段) 本発明の検知素子の製造法の第1発明は、基体上に電気
的導体部を設け、さらに電気的導体部と外部回路を接続
するための金属リードを基体に固定した後、前記電気的
導体部に通電し、電気的導体部の自己発熱により所定温
度に加熱して実施する熱処理工程を有することを特徴と
するものである。
本発明の検知素子の製造法の第2発明は、基体上に電気
的導体部を設け、さらに電気的導体部と外部回路を接続
するための金属リードを基体に固定し、さらに電解メッ
キにより前記電気的導体部の厚さを調整した後、該電気
的導体部に通電し、電気的導体部の自己発熱により所定
温度に加熱して実施する熱処理工程を有することを特徴
とするものである。
(作 用) 上述した構成において、電気的導体部に通電することに
よる自己発熱を利用して熱処理を実施することにより、
金属リード部が高温になることがないため、以下のよう
な利点がある。
(1) 金属リードとして卑金属を使用できる。
貴金属よりも安価なステンレス,鉄,ニッケル等が使用
できる。
(2) 検知素子の感度が向上する。
貴金属よりも熱伝導率の小さいものをリードとして使用
できるためである。
(3) 金属リード接合部に低融点ガラスが使用でき
る。
後工程の熱処理時に金属リード接合部が従来のような高
温とならないためである。
(4) 金属リード材として耐熱性の低い材料が使用で
きる。
(3)と同じ理由である。
(5) 保護属として高融点材料が使用できる。
高融点材料の使用により接着強度をより大きくすること
ができる。またガラスの場合その成分からPb等の有害成
分を排除できる。
(6) 空気中での熱処理すなわちエージングができ
る。雰囲気ガスが必要ないため、製造コストが安くかつ
装置も簡便となる。
また検知素子の抵抗値の安定化、抵抗温度係数(T.C.
R.)の改善ができる。
(実施例) 第1図(a)〜(c)はそれぞれ本発明の検知素子の製
造法の工程の一例を示す図である。本実施例では、まず
第1図(a)に示すように、円筒上のアルミナパイプ1
からなる基体上に、白金膜2をスパッタリングで設け、
さらにレーザトリミングによりスパイラル状とする。次
に、第1図(b)に示すように、アルミナパイプ1の両
端の内径側にステンレスリード3−1,3−2を挿入し、
アルミナパイプ1とリード3−1および3−2の間にガ
ラス白金混合ペーストを充填し、所定の加熱炉内で焼付
けて焼付部4−1,4−2を形成する。その後、この状態
でステンレスリード3−1,3−2を個別に例えばクリッ
プ、ワニ口あるいは専用治具(クリップ、ワニ口、専用
治具でリードをホールドすることにより、リードの温度
が高くなりすぎることを防止するという効果がある。)
ではさみ、所定の電流を流すことにより、白金膜2のみ
を自己加熱させる。この自己発熱の温度を電流の大きさ
を所定の値に制御することにより調節してアニーリング
を実施し、白金膜2の抵抗値、抵抗温度係数を改善す
る。最後に、第1図(c)に示すように、白金膜2,焼付
部4−1,4−2の全体にガラス保護層5を形成して検知
素子を得ている。
第2図(a)〜(c)はそれぞれ本発明の検知素子の製
造法における工程の他の例を示す図である。本実施例で
は、まず第2図(a)に示すように板状のベリリア板11
からなる基体上に、白金ロジウム合金膜12をスパッタリ
ングで形成後スパッタエッチして所定パターンを設け
る。次に、第2図(b)に示すように、白金ロジウム合
金膜12の両端部近傍にニッケルリード13−1,13−2をガ
ラスで固定して設け、合金膜12とニッケルリード13−1,
13−2との間に白金ペーストを設け、所定の加熱炉内で
焼付けて焼付膜14−1,14−2を形成する。その後、この
状態でニッケルリード13−1,13−2を個別に例えばクリ
ップ等ではさみ、所定の電流を流すことにより白金ロジ
ウム合金膜12のみを自己加熱させる。この自己加熱の温
度を電流の大きさを所定の値に制御することにより調節
してアニーリングを実施して、白金ロジウム合金膜12の
抵抗値、抵抗温度係数を改善する。最後に、第2図
(c)に示すように、ベリリア板11の表面全体にガラス
保護層15を形成して検知素子を得ている。
なお第1図、第2図の例において、リード付の後に電解
メッキ法等により電気的導体膜の厚さを調整することに
より検知素子の抵抗値を所定値となるようにすることも
できる。この調整は熱処理(アニーリング)前に実施す
ればより好ましいものである。
第3図(a)〜(d)はそれぞれ本発明の検知素子の製
造法における工程のさらに他の例を示す図である。本実
施例では、まず第3図(a)に示す円筒状のアルミナボ
ビン21からなる基体の両端の空間部に、第3図(b)に
示すようにNiFe合金リード22−1,22−2を挿入し、アル
ミナボビン21とリード22−1および22−2の間にガラス
ペーストを設け、所定の加熱炉内で焼付けて焼付部23−
1,23−2を形成する。次に、第3図(c)に示すよう
に、リード22−1,22−2の直径よりも細い直径(例えば
20μmφ)の白金ワイヤ24を、リード22−1からアルミ
ナボビン21上をスパイラル状に巻き最終的にリード22−
2に巻き付ける。この巻き付けにおいてアルミナボビン
の端部に近いところの巻き数を多くし、アルミナボビン
の中央の巻き数をすくなくすることで次の自己加熱時の
アルミナボビン表面の温度をその端部中央部ともほぼ等
しくすることができる。このことは第1図、第2図の実
施例においては膜の幅を端部ほど狭くすることで同様の
効果が得られる。この状態で、NiFe合金リード22−1,22
−2を個別に例えばクリップ等ではさみ、所定の電流を
流すことにより白金ワイヤ24のみを自己発熱させる。こ
の自己発熱の温度を電流の大きさを所定の値に制御する
ことにより調節してアニーリングを実施して、白金ワイ
ヤ24の抵抗値の安定性、抵抗温度係数を改善する。最後
に、第3図(d)に示すように、白金ワイヤ24の表面に
ガラス保護層25を形成して検知素子を得ている。このガ
ラス保護層形成時の熱処理を白金ワイヤ24の自己発熱に
より実施しても良い。以下、実際の例について説明す
る。
実施例 96%アルミナ(焼結助剤4%)の外径0.5mmφ、内径0.2
5mmφ、長さ4mmのパイプの外表面に厚さ0.7μmの白金
膜をスパッタリングで形成後、レーザートリミングによ
りスパイラル状として第1図(a)に示す形状の基体を
得た。
次に、外径0.2mmφ、長さ4mmのステンレス(SUS304)リ
ードを第1図(b)に示すように上記パイプの両側にガ
ラス/白金混合ペースト(40/60vol%)で固定した。こ
のペーストの焼付はN2雰囲気中680℃で行った。このと
きの電気的導体部すなわち白金膜の抵抗は室温で350Ω
であった。また、抵抗温度係数(T.C.R.)は0〜100℃
で2400ppm/Kであった。
次に、第4図に示すように回路を組み、検知素子に通電
し加熱した。このときの検知素子表面温度を放射温度計
で測定し、所定表面温度となるようパワー制御した。す
なわち、表面温度750℃(0.9w)で3時間通電後抵抗値
は305Ωと低値で安定した。また、抵抗温度係数(T.C.
R.)は3400ppm/Kとなった。
その後、ガラス粉末ペーストを白金膜上に塗布接着後、
250℃乾燥、350℃有機バインダ等除去、800℃溶融とい
う熱処理スケジュールを上記通電加熱により実施し、第
1図(c)に示すようにガラス保護層を形成した。
なお、これらの通電加熱においてステンレスリードが酸
化したり、リード固定部がゆるむような不具合は発生し
なかった。
本発明は上述した実施例にのみ限定されるものではな
く、幾多の変形,変更が可能である。例えば、上述した
実施例では、白金膜はスパッタリングで形成している
が、蒸着,化学メッキ,これらの組み合わせ,さらにこ
れらの被膜上へ電解メッキを重ねた被膜等においても、
同様の通電加熱で同様の効果を確認した。
(発明の効果) 以上の説明から明らかなように、本発明の検出素子の製
造法によれば、電気的導体部に通電することによる自己
発熱を利用して熱処理を実施することにより、材料の組
み合わせの自由度を増し、それにより性能の優れた検知
素子を安価に得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)〜(c)、第2図(a)〜(c)、第3図
(a)〜(d)はそれぞれ本発明の検知素子の製造法に
おける工程の一例を示す図、 第4図は本発明の検知素子に通電するときの状態を示す
図である。 1……アルミナパイプ、2……白金膜 3−1,3−2……ステンレスリード 4−1,4−2……焼付部、5……ガラス保護膜 11……ベリリア板 12……白金ロジウム合金膜 13−1,13−2……ニッケルリード 14−1,14−2……焼付膜、15……ガラス保護層 21……アルミナボビン 22−1,22−2……NiFe合金リード 23−1,23−2……焼付部、24……白金ワイヤ 25……ガラス保護層

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】基体上に電気的導体部を設け、さらに電気
    的導体部と外部回路を接続するための金属リードを基体
    に固定した後、前記電気的導体部に通電し、電気的導体
    部の自己発熱により所定温度に加熱して実施する熱処理
    工程を有することを特徴とする検知素子の製造法。
  2. 【請求項2】基体上に電気的導体部を設け、さらに電気
    的導体部と外部回路を接続するための金属リードを基体
    に固定し、さらに電解メッキにより前記電気的導体部の
    厚さを調整した後、該電気的導体部に通電し、電気的導
    体部の自己発熱により所定温度に加熱して実施する熱処
    理工程を有することを特徴とする検知素子の製造法。
  3. 【請求項3】熱処理工程が電気的特性を安定にするため
    の手段である請求項1または2に記載の検知素子の製造
    法。
  4. 【請求項4】前記電気的導体部の自己発熱により、ガラ
    ス保護層形成時の熱処理を実施する請求項1または2に
    記載の検知素子の製造法。
JP63273907A 1988-10-29 1988-10-29 検出素子の製造法 Expired - Lifetime JPH0687021B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63273907A JPH0687021B2 (ja) 1988-10-29 1988-10-29 検出素子の製造法
US07/427,649 US5061350A (en) 1988-10-29 1989-10-27 Method for producing detecting element
DE3935936A DE3935936C2 (de) 1988-10-29 1989-10-27 Verfahren zum Herstellen eines Detektorelements

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Publications (2)

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JPH02120624A JPH02120624A (ja) 1990-05-08
JPH0687021B2 true JPH0687021B2 (ja) 1994-11-02

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ID=17534233

Family Applications (1)

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DE3935936C2 (de) 1993-10-28
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