JPH0680954B2

JPH0680954B2 - Ｉｃのプリント基板への搭載装置

Info

Publication number: JPH0680954B2
Application number: JP61113586A
Authority: JP
Inventors: 健二郎藤井; 恭一川崎; 安規志村; 茂知武善; 健司鈴木
Original assignee: Hitachi Techno Engineering Co Ltd
Current assignee: Hitachi Plant Technologies Ltd
Priority date: 1986-05-20
Filing date: 1986-05-20
Publication date: 1994-10-12
Anticipated expiration: 2009-10-12
Also published as: JPS62271500A

Description

【発明の詳細な説明】〔産業上の利用分野〕本発明は、サーフェイス・マウンティング・パッケージ
（フラット・パッケージ）ICのプリント基板への搭載装
置、特にICとプリント基板との位置決めを有効に行なえ
る搭載装置に関する。

〔従来の技術〕

従来、電子部品等のICをプリント基板へ実装することに
関しては、例えば、特開昭60−1900号公報に記載された
ものがある。

この従来例は、基板上の位置決め用の特別なマークを設
けておき、このマークを撮像した後に確認し、ICを基板
上に位置決めし搭載していた。

〔発明が解決しようとする課題〕

前記従来例は、基板上に位置決め用マークの特別なマー
クを設けるために設計変更が必要であったり、テレビカ
メラがその特別なマークを撮像するために特別な動きを
必要とする問題があった。さらに、テレビカメラの撮像
視野はプリント基板全体とするのが原則であるが、特別
なマークは基板の一部に小さく設けねばならず、この小
さな特別なマークの検出のために、テレビカメラを移動
して拡大した視野のもとで撮像することが必要であっ
た。

上記に対し、同一出願人になる「面付け部品自動搭載方
式」（特願昭60−224852号）では、基板上に位置決め用
の特別なマークを必要とし、テレビカメラがその特別な
マークの撮像のために特別な動きをする必要もなく、１
つの視野で高速、高精度で基板上にIC等の面子け部品を
位置決めし搭載することを可能とした。

本発明は、さらにこの発明を改良し、ICのリード列また
は基板上の接点パターン列に非対称性または一部欠落の
ある場合でも、ICのリード列または基板上の接点パター
ン列の中心座標の算出、ICの中心と傾きまたは基板上の
接点パターンの中心座標と傾きを算出し、ICを高精度で
基板に位置合わせできるICのプリント基板への搭載装置
を提供するものである。

〔課題を解決するための手段〕

本発明では、ICの２または４辺に列をなした複数のリー
ドまたはプリント基板上の複数の接点パターンはそれぞ
れ規則的に配列されていることに注目し、ICリードまた
は接点パターンに配列の不規則や一部欠落のある場合に
対しても、テレビカメラで撮像したリード列または接点
パターン列の不規則や一部欠落を考慮して各列の中心座
標を算出できる手段と、さらにその算出結果からICの中
心と傾きまたは接点パターン中心座標と傾きを算出でき
る手段を搭載装置に設けた。

さらに、中心座標の算出時、配列の不規則や一部欠落に
対して算出される補正データを格納するメモリと、同じ
配列の不規則や一部欠落を有するICのリードまたは接点
パターンには、前記補正データを使ってリード列または
接点パターン列の中心座標、中心位置及び傾きの算出を
可能とする手段とを搭載装置に設けた。

〔作用〕

ICの２または４辺の列をなす複数のリードと、該リード
に対応するプリント基板上の複数の接点パターンとをテ
レビカメラで撮像し、撮像した前記ICのリードまたは基
板上の接点パターンの各列の画像を、予め画像処理装置
に設定された矩形範囲内の画面上に映し、その矩形範囲
内で前記リードまたは接点パターン各列の上に測定線を
設定し、測定線上における前記リードまたは接点パター
ンの明るさデータを配列順に格納メモリに入れ、メモリ
内の前記明るさデータより前記リードまたは接点パター
ンと背景との境界位置を特定することにより前記リード
列または接点パターン列の中心座標を算出し、その中心
座標から前記リードの中心と傾きまたは接点パターンの
中心座標と傾きを算出することができる。

さらに前記リードまたは接点パターンは規則的な配列と
なっていることに注目し、配列の不規則や一部欠落のあ
る場合に対しても、規則的な配列をなすものとして置き
換えることにより、前記と同様にしてリード列または接
点パターン列の中心座標を算出し、その中心座標から前
記リードの中心と傾きまたは接点パターンの中心座標と
傾きを算出することができる。

さらにまた、実際には、意図的に配列の不規則や一部欠
落を設けることも多いことから、配列の不規則や一部欠
落のあるリードまたは接点パターンの各列の中心座標を
最初に算出する際に算出された補正データをメモリして
おくことにより、同じ不規則や一部欠落のあるリード列
または接点パターン列の中心座標の算出に補正データが
使用できる。

〔実施例〕

ICをプリント基板に搭載する自動搭載装置（サーフェス
マウンタ）の構成を、第１図に示す。

この搭載装置は、２つのテレビカメラ１と２（第３図で
は（Ｂ）と（Ｅ））、IC実装用の直交形ロボット３、基
板供給装置４、IC供給装置５、粗位置決め装置６、視覚
処理装置７、ロボット制御装置８、シーケンサ９、操作
部10を備えている。

シーケンサ９は、予め定めたシーケンスプログラムに従
って、ICをプリント基板へ搭載する処理をおこなう。ま
ずシーケンサ９の指示に従ってロボット制御装置８、基
板供給装置４、粗位置決め装置６は作動する。またシー
ケンサ９と直交形ロボット３とは、協調動作が必要であ
るため、シーケンサ９はロボット制御装置８からの信号
を取り込む。

ロボット制御装置８は、直交形ロボット３とIC供給装置
５を制御する。

視覚処理装置７は、テレビカメラ１からプリント基板上
の複数の接点パターンの画像を取り込み、テレビカメラ
２からICの画像を取り込み、取り込んだ画像から列状を
なす接点パターン及びICの各列の中心座標、位置と傾き
を算出して求めることができる。この算出結果は、ロボ
ット制御装置８に送られ、ロボット制御装置８は直交形
ロボット３とIC供給装置５を直接制御し、シーケンサ９
を通じて基板供給装置４を制御する。

操作部10は、キーボード及びCRTより成り、視覚処理装
置７及びロボット制御装置８との間でマンマシン操作を
行なう。

IC供給装置５は、IC格納場所から直交形ロボット３のロ
ボットハンド（第３図（Ｃ））が吸着可能な位置にICを
供給する。ロボットハンド（Ｃ）には粗位置決め装置６
を備え、ICを粗位置決めする。

第２図は、搭載装置の外観図で、直交形ロボット３、基
板供給装置４、IC供給装置５、粗位置決め装置６、ロボ
ット制御装置８、シーケンサ９、及び視覚処理装置７が
ベース11に設置されていることを示す。テレビカメラ２
と操作部10は省略してある。

本発明においては、ロボットは関節型でもスカラー型で
も充分な位置決め精度を有していればよく、第３図に示
すようにロボットハンド（Ｃ）には面付け部品のIC
（Ｄ）を把持するための吸着部やテレビカメラ１（Ｂ）
が下向きに取り付けられ、ベース11上にはテレビカメラ
２（Ｅ）が上向きに取り付けられている。

次に、この搭載位置の基本的な動作を第３図で、処理手
順を第４図で説明する。

（イ）先ず基板供給装置４の上で基板（Ａ）を機械的に
固定し、その状態の基板（Ａ）の上にロボットハンド
（Ｃ）に固定されているテレビカメラ１（Ｂ）を移動
し、テレビカメラ１は基板（Ａ）上の複数の接点パター
ンを含んで撮像する。

（ロ）次にロボットハンド（Ｃ）はIC供給装置５へ移動
し、IC（Ｄ）を吸着把持し、IC（Ｄ）を粗位置決め装置
６で粗位置決めする。

（ハ）その後ロボットハンド（Ｃ）はテレビカメラ２
（Ｅ）の上に移動し、テレビカメラ２はIC（Ｄ）を複数
のリードを含んで撮像する。

（ニ）テレビカメラ１と２により撮像された画像情報は
視覚処理装置７に送られ、ここで接点パターン列とICの
リード列の位置情報からそれぞれの位置と傾きが算出さ
れ、その結果はロボット制御装置８に送られロボット３
を制御し、基板上の接点パターンにICのリードが精度よ
く搭載される。

次に、視覚処理装置７にて行なわれる位置決めの処理方
法について説明する。

以下においては、ICの複数のリードまたは基板上の接点
パターンには、非対称性または一部欠落がないものとし
て説明をすすめる。

第５図は、ICの４辺にリードを有する例で、平面と正面
をそれぞれ第５図（イ）（ロ）に示す。

テレビカメラ１と２により、接点パターンとICのリード
を反射光で撮像すると明るい部分として撮像され、背景
とコントラスト差を持つ。

IC15に対応する基板上の接点パターン16の撮像を第６図
に示す。

図に示す如くIC15の４辺のリード列15−１〜15−４に対
応して、接点パターン16のパターン列は16−１〜16−４
となっており、画像上ではいづれも細長い長方形のパタ
ーンがパターン長手方向と直角方向に一直線に並んでい
る。以下、リード列または接点パターン列のいづれかに
よる画像上の細長い長方形をパターンと総称して説明す
る。

実際の画像では、このパターンのほかに配線や背景も併
せて撮像される。

基板上の接点パターン16にIC15のリードを位置合わせす
るには、パターンの間隔は数画素程度と狭いため、機械
的な位置合わせだけでは充分でなく視覚的手段を使って
高精度に位置検出をすることが必要となっている。この
視覚的手段として、ロボットハンド（Ｃ）に下向きに取
り付けられたテレビカメラ１、及びベース11上に上向き
に取り付けられたテレビカメラ２が使われ、位置検出に
は視覚処理装置７が使用される。

次にテレビカメラ１と２による画像から位置検出を行な
う方法を、以下、基板上の接点パターン16を例として、
第７図〜第10図により説明する。

視覚処理装置７からの画像情報を操作部10の画面上に映
し、パターン列16−１〜16−４のそれぞれの上に、第７
図に示すようにパターン長手方向と直交方向に測定線17
（サンプル線ともいう）を設定する。設定は操作部10の
CRT画面を見ながら行なっても良いが、パターン16−１
〜16−４の位置、大きさ、傾きがほぼわかっている場合
には、個々のパターンでは少しずれるとしても、CRT画
像に映し出された長方形のパターンと必ず交わる程度に
測定線17を事前に設定して固定しておくことはできる。

この設定について、少し詳細に説明する。CRTの画面上
の画像を見ながら操作部10のキーボードを操作してカー
ソルを移動し、パターンと交わる位置に縦横に測定線17
を設定する。また、パターン位置、大きさ、傾きがほぼ
わかっている場合には、キーボードから数値を入力して
測定線17を設定してもよい。

設定線17を横軸とみた場合、設定線17上の画像の明るさ
は、第８図に示すように接点パターンの配列に対応して
波状パターンになる。ここで、明るさの最大値（反射光
の強いパターンの部分）と最小値（背景の反射光の弱い
部分）のおおよそ中間に、境界位置閾値なる値を設定
し、上記の波状パターンと比較すると、測定線17上での
パターンと背景との境界に境界値k₁,k₂,k₃,k₄,…ki,…
が求まる。以下、説明の都合上パターン列16−１の例と
する。

第９図（Ｉ）は理想的な場合を示し、パターン列16−１
からの反射光波形は矩形とな境界値も検出しやすいが、
第９図（II）に示すように矩形がくずれた場合には、波
の極大点a₁,a₂,…ai,からパターンの中央位置を求める
方法を採ることもある。しかし、実際の波形はもっとく
ずれており、このくずれた波形から境界値を求める方法
を説明する。

第10図には、３つのケース（III），（IV），（Ｖ）が
示されている。いづれの場合も第10図では横軸な画像の
画素（xi）の位置を表す。画素の単位で位置を求める場
合、測定精度は１画素以上となる。例えは、視野25mmで
画素数が250の場合における最小測定単位は0.1mmとな
る。

第10図（III）に示す照明の状態が良好であって、画面
の明るさが一様の場合には、境界位置閾値を適当に定め
て境界値x₁,x₂,…xi,…を得ることができる。

第10図（IV）は、境界位置閾値に近い明るさをもつ画素
（xi）をはさむ両側の画素（xi_-1,xi＋_１）の明るさの
勾配を考慮に入れ、補間演算で境界位置閾値と同じ明る
さとなる位置を小数点を含む実数値で求める。この場合
は、２つの画素（xi_-1,xi＋_１）間を小数点以下で求め
るので、精度は向上する。

第10図（Ｖ）に示す照明が悪く明るさが一様でない場合
には、一つの境界位置閾値ではパターンを明るい部分と
暗い部分とに分離できないが、隣接する画素（xi_-1とx
i,xiとxi₊₁）間での明るさの勾配が最大となる位置を境
界値としたり、あるいは次に説明する加重平均による方
法で求める。

まず操作部10の画面に映った波状パターン形を見て、パ
ターン部分の明るさ（山）と背景部分の明るさ（谷）と
から、人為的におよその目安で山と谷の明るさの差の許
容値Dthを設定し、画素xiの位置の明るさをｆ（xi）と
する。次に波状パターン形の単調増加か単調減少かに着
目し、単調増加であればその開始点を谷、単調減少であ
ればその開始点を山と定義する。これを第10図（III）
〜（Ｖ）の事例をみて、谷を画素xi_-1の位置、山を画素
xi₊₁の位置とし、それぞれの明るさｆ（xi_-1）とｆ（xi
₊₁）の差を調べ、許容値Dthと比較したのが（１）式で
ある。

|f（xi_-1）−ｆ（xi₊₁）｜＞Dth ……（１）次に加重平均により境界位置の座標位置xkを求める
（２）式を示す。

xkは、１組の谷と山ごとに得られ、パターン列16−１の
ように谷と山のペアがｎ組ある場合は、ｎ組の加重平均
による平均値Ｕは（３）式から求めることができ、求め
られた平均値Ｕはパターン列16−１の中心座標位置であ
る。

上記の演算は、他のパターン列16−２〜16−４について
も同様に行なうことができる。

さらに、IC15の４辺のリード列15−１〜15−４も、画像
上ではいづれも細長い長方形のパターンであり、ICのリ
ードは反射光で撮像すると明るく、背景は暗く、コント
ラスト差を持って撮像されるので、上記の演算を同様に
行なうことができる。

上記の演算においては、視覚処理装置７内のメモリ（図
示せず）が積極的に利用される。まずメモリには、テレ
ビカメラ１と２から撮像された画像情報が視覚処理装置
７に送られ、データとして取り込み格納される。次に、
操作部10のCRT画面に設定された測定線17での明るさデ
ータが読み出され、メモリ内のワークエリア（テーブ
ル）内に一旦格納される。この格納された内容は、第10
図の如き波状のデータである。

次に、このデータテーブルの内容を読み出し、（１）式
による演算で山と谷を求め、各山と谷のペアごとに
（２）式による加重平均を求め、この加重平均で得た座
標xkをテーブルに登録する。次に、このテーブルをサー
チして、座標xkについて（３）式により平均値Ｕを得
る。この演算を各リード列15−１〜15−４とパターン列
16−１〜16−４について行なうのであるが、第７図
（イ）に示す場合について説明する。

４つのパターン列16−１〜16−４について、測定線17が
横向きのパターン列16−１と16−４の平均値をそれぞれ
U1とU2、測定線17が縦向きのパターン列16−２と16−３
の平均値をそれぞれV1とV2とし、U1とU2、V1とV2をそれ
ぞれ直線で結び、その交点（U,V）を全体の位置として
定義し、２直線の２等分線方向は全体の傾きとして定義されるようになっている。

次に第７図（ロ）に示す２方向パターンの場合について
説明する。この場合には、測定線17方向での精度のみが
重要で、これと直交する方向の精度は機械的位置決めで
十分である。全体の位置（U,V）は、Ｕは（U1＋U2）/
2、Ｖは固定として求められ、また、全体の傾きはU1とU
2とを結ぶ方向として定義されるようになっている。

上記については、ICのリード列の場合でも、同様であ
る。

このようにして求められた位置情報は、視覚処理装置７
からロボット制御装置８を介して直交形ロボット３に送
られ、面付け部品としてのICを基板上の接点パターン上
に正しく搭載することができる。

今まで述べてきた説明では、ICのリードまたは基板上の
接点パターンは、対称性または欠落のない場合を前提と
していたが、実際のリードまたは接点パターンは、第11
図、第15図、第16図（イ）にみられるように、意図的に
非対称であったり、一部に欠落を設けている場合が多
い。こうしたリード列またはパターン列では、今までに
述べてきた加重平均の方法を導入しても、中心位置は正
しく算出できない。

本発明は、非対称であったり一部に欠落のあるリード列
またはパターン列に対しても、中心位置を正しく検出で
きるようにして、ICを接点パターン上に正しく搭載でき
るようにしたことにある。以下説明する。

第11図は、基板上の接点パターン列の両端のパターン幅
が異なる場合である。この場合の一例を第12図で説明す
る。第12図（イ）に示す測定線17上の明るさは、第12図
（ロ）のようになる。この場合、視覚処理装置７には画
素xiの明るさデータを格納するデータテーブルを設け、
第12図（ハ）に示すように、接点パターン列の両外側端
パターンの検出値を無視し、データテーブルのx₁,x₁₀を
格納すべき所に０を入れる。第13図（イ）（ロ）のよう
に、パターン別の最初の点が立下りであった場合は、第
13図（ハ）に示すように最初の点はパターンの内とみな
し、x₁は２番目のデータテーブル上に入れ、上記同様に
データテーブルを作成する。

さらに、実際のパターンでは、第14図（イ）に示すよう
に、１本のパターン幅内で明るさが変わる場合がある。
立上りの場合には最後の立上りの検出点x₂、立下がりの
場合には最後の立ち下がりの検出点x₅をパターンの境界
値（エッジ点）とみなし、x₁及びx₆を境界（エッジ）と
はみなさない。これを第14図（ロ）にx₂〜x₅で示す。

上述のように、奇数番目のテーブル内には立上りの検出
点の値、偶数番目のテーブル内には立下りの検出点の値
を格納し、パターン列の状態を正しく登録しておくこと
により、同様なパターン列またはリード列に対応しやす
くなる。

本実施例では、パターン列またはリード列が背景より明
るい場合として述べてきたが、逆に背景よりパターン列
またはリード列の暗い場合には、データテーブルへの格
納の定義を逆にすればよい。

さらにまた、第15図のようにICのリードの配列が非対称
の場合を、第16図で説明する。第16図（イ）に示す測定
線17上の明るさの波形及びデータテーブルは、第16図
（ロ）（ハ）となる。これは、第16図（イ）のＡ部が抜
けているリード列とみなせるので、Ｂ部の検出値x₃,x₄
を無視し、第16図（ニ）のようにデータテーブルのその
部分を０として再作成する。上記は、リード列の場合で
あるが、パターン列の中心についても、前述と同様にし
て求められる。このようにして、データテーブルに格納
された明るさデータは、視覚処理装置７に送られ、ICを
搭載する直交形ロボットの制御に使われる。

本発明においては、このようにして抜け補正を必要とす
る場合が多いので、測定時の処理を高速化するため、各
測定線に関するデータと共に第17図に示す補正量Δｐを
事前の予測測定（教示）時に登録しておき、第16図
（ハ）のデータテーブルより算出された仮中心点ｐ′、
登録してある補正量Δｐで補正して列の中心点ｐを算出
する。上記の補正量Δｐは、実際の画像から測定して求
める方法と、リード列またはパターン列が既知の場合に
は、演算して求める方法とがある。

抜けのあるリード列またはパターン列の中心点を求める
場合を第18図で説明する。今までに述べてきたように、
４方向の場合（イ）には、PiとP₃、P₂とP₄をそれぞれ結
んだ直線の交点を全体の中心とし、２直線の２等分線方
向を全体の傾きと定義し、２方向の場合（ロ）には、P₁と
P₃を結んだ直線の中点を全体の中心とし、全体の傾きは
P₁とP₃とを結ぶ方向として定義する。

以上述べてきた本実施例の視覚処理装置７内における教
示時の処理フローを第19図に、測定時の処理フローを第
20図に示す。

〔発明の効果〕

本発明によれば、プリント基板に特別なマークを付ける
必要もなく、非対称性または一部欠落のある配列を有す
るリードのICや基板の接点パターンに対しても、中心の
位置と傾きの検出を可能にし、リードまたは接点パター
ンの列の両端の形状にも依存しないで高精度に位置検出
ができるという効果がある。さらに１本のリード内また
はパターン内で明るさの変わる場合に対しても、境界を
求めることができるので、安定した位置検出ができ、高
い信頼性と適応性を備えた面付け部品自動搭載機が実現
できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の実施例図、第２図は搭載機の外観図、
第３図は処理手順を示す図、第４図は処理フロー図、第
５図はプリント基板の上面図、第６図はICの上面図、第
７図は接点パターンでの測定線による傾き算出の説明
図、第８図〜第10図は種々の接点パターン例図、第11図
は実際の接点パターン例図、第12図，第13図は接点パタ
ーン列のエッジ座標と明るさとの関係を示す図、第14図
は同方向の濃度勾配内の連続エッジ点を示す図、第15図
は抜け補正を必要とするフラットパッケージICの一例の
三面図、第16図は、抜け補正を必要とするリード列の説
明図、第17図は、本実施例の抜け補正測定方式における
補正量Δｐを示す図、第18図は、４方向及び２方向に接
点パターン例を持つ接点パターン全体の位置、姿勢の測
定方法を示す図、第19図は本発明の一実施例における教
示時の処理手順を示すフローチャート図、第20図は、本
発明の一実施例における測定時の処理手順を示すフロー
チャート図である。 1,2……TVカメラ、７……視覚処理装置。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者武善茂知千葉県習志野市東習志野７丁目１番１号日立京葉エンジニアリング株式会社内 (72)発明者鈴木健司神奈川県横浜市戸塚区吉田町292番地株式会社日立製作所生産技術研究所内 (56)参考文献特開昭60−1900（ＪＰ，Ａ) 特開昭62−86789（ＪＰ，Ａ) 特開昭55−48945（ＪＰ，Ａ) 特開昭57−154851（ＪＰ，Ａ)

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】ICの２または４辺に列をなして設けられた
複数のリードと、該リードに合わせてプリント基板上に
設けられた複数の接点パターンとをテレビカメラで撮像
し、撮像した前記リードまたは接点パターンの各列の画
像を画像処理装置の予め設定された矩形範囲内の画面上
に映し、前記矩形範囲内で前記リードまたは接点パター
ンの各列上に測定線を設定し、該測定線上における前記
リードまたは接点パターンの明るさデータを配列順に格
納するメモリにメモリし、該メモリ内の前記明るさデー
タより前記リードまたは接点パターンの端辺と背景との
境界位置を特定し、該境界位置から画面上において前記
ICの２または４辺にあるリード列ごとに中心座標を算出
のうえ前記ICの中心と傾きを算出し、また前記接点パタ
ーンについても前記境界位置から画面上において各パタ
ーン列ごとに中心座標を算出のうえ前記接点パターンの
中心座標と傾きを算出し、プリント基板の前記接点パタ
ーンの中心座標と傾きにICの中心と傾きを合わせて、プ
リント基板にICを搭載する装置において、前記の列をなして設けられた複数のリードまたは接点パ
ターンに非対称性または一部欠落がある場合でも、前記
リード各列または接点パターン各列の中心座標を前記非
対称性または一部欠落を考慮して算出する手段と、該手
段で算出された前記リード各列または前記接点パターン
各列についての前記中心座標から、非対称性または欠落
のある前記ICの中心と傾きまたは前記接点パターンの中
心座標と傾きを算出してプリント基板の前記接点パター
ンの中心座標と傾きにICの中心と傾きが合うようにICの
位置合わせに供せしめる手段を設けたことを特徴とする
ICのプリント基板への搭載装置。
【請求項２】前記の非対称性または一部欠落のある列を
なす複数のリードまたは接点パターンに対し、事前に撮
像した前記リード列または接点パターン列の各列の中心
座標を非対称性または一部欠落を考慮して算出する補正
データを格納メモリに格納しておき、同じ非対称性また
は一部欠落のあるリードを有するICまたは接点パターン
を有する基板に対し、前記補正データを使って算出され
た前記リード列または前記接点パターン列の各列の前記
中心座標から前記ICの中心と傾きまたは前記接点パター
ンの中心座標と傾きを算出してプリント基板の前記接点
パターンの中心座標と傾きにICの中心と傾きが合うよう
にICの位置合わせに供せしめる手段を設けたことを特徴
とする特許請求の範囲第１項記載のICのプリント基板へ
の搭載装置。