JPH0659229A - 液晶表示パネル検査装置 - Google Patents
液晶表示パネル検査装置Info
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- JPH0659229A JPH0659229A JP4215304A JP21530492A JPH0659229A JP H0659229 A JPH0659229 A JP H0659229A JP 4215304 A JP4215304 A JP 4215304A JP 21530492 A JP21530492 A JP 21530492A JP H0659229 A JPH0659229 A JP H0659229A
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- 239000000523 sample Substances 0.000 claims abstract description 39
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims abstract description 27
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims abstract description 16
- 230000007547 defect Effects 0.000 abstract description 19
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
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- 238000003466 welding Methods 0.000 description 3
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- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 位置を高精度に特定して欠陥検出ができるよ
うにする。 【構成】 コンタクトプローブ21a等を液晶表示パネ
ル10に備わった走査線及び信号線の入力端子に接続す
る。その状態で検査用ドライバ22a等を駆動させる
と、液晶表示パネル10の表示画面11が点灯する。こ
の時、表示画面11にはカーソル12が表示される。そ
して、欠陥絵素部にカーソル12の交点13を位置さ
せ、その位置を、例えば記録することにより、該欠陥絵
素部の座標位置が特定される。
うにする。 【構成】 コンタクトプローブ21a等を液晶表示パネ
ル10に備わった走査線及び信号線の入力端子に接続す
る。その状態で検査用ドライバ22a等を駆動させる
と、液晶表示パネル10の表示画面11が点灯する。こ
の時、表示画面11にはカーソル12が表示される。そ
して、欠陥絵素部にカーソル12の交点13を位置さ
せ、その位置を、例えば記録することにより、該欠陥絵
素部の座標位置が特定される。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ドライバが非実装であ
る光透過型あるいは光反射型の液晶表示パネルの欠陥検
査に使用される液晶表示パネル検査装置に関する。
る光透過型あるいは光反射型の液晶表示パネルの欠陥検
査に使用される液晶表示パネル検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】上述した液晶表示パネルは、例えば液晶
表示パネルの絵素不良、信号線および走査線の断線ある
いはショート、表示ムラ等の欠陥を有して製造されるこ
とがある。このような欠陥を、駆動用LSIチップある
いはLSI付きフィルムキャリア等のドライバを液晶表
示パネルに実装した後で検査すると、欠陥が存在するド
ライバ付き液晶表示パネルを廃棄する場合には、液晶表
示パネルだけでなく高価なドライバまでも廃棄されてし
まい、コスト高となる。
表示パネルの絵素不良、信号線および走査線の断線ある
いはショート、表示ムラ等の欠陥を有して製造されるこ
とがある。このような欠陥を、駆動用LSIチップある
いはLSI付きフィルムキャリア等のドライバを液晶表
示パネルに実装した後で検査すると、欠陥が存在するド
ライバ付き液晶表示パネルを廃棄する場合には、液晶表
示パネルだけでなく高価なドライバまでも廃棄されてし
まい、コスト高となる。
【0003】そこで、ドライバを液晶表示パネルに実装
する前に、欠陥検査を行っている。その欠陥検査は、従
来、以下のように実施される。液晶表示パネルに備わっ
た複数の信号線及び走査線の入力端子に、検査用の外部
端子を接触させ、その状態を保持したまま各信号線及び
走査線に均一な駆動電圧を印加して、液晶表示パネルの
表示画面を点灯させる。点灯した表示画面を目視観察し
て欠陥を見付け、その位置を特定することにより行われ
ている。検出された欠陥位置は、後工程のレーザリペア
に用いられる他、前工程へのフィードバック情報などと
しても用いられる。
する前に、欠陥検査を行っている。その欠陥検査は、従
来、以下のように実施される。液晶表示パネルに備わっ
た複数の信号線及び走査線の入力端子に、検査用の外部
端子を接触させ、その状態を保持したまま各信号線及び
走査線に均一な駆動電圧を印加して、液晶表示パネルの
表示画面を点灯させる。点灯した表示画面を目視観察し
て欠陥を見付け、その位置を特定することにより行われ
ている。検出された欠陥位置は、後工程のレーザリペア
に用いられる他、前工程へのフィードバック情報などと
しても用いられる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の欠陥検査では、欠陥位置を目視により検出するの
で、その精度が低い。そのため、後工程のレーザリペア
では、修正箇所を特定するのに時間がかかり、作業の能
率低下が招来されるという難点があった。また、そのよ
うな低精度のデータは、前工程へのフィードバックなど
に用いる情報として好ましくない。
来の欠陥検査では、欠陥位置を目視により検出するの
で、その精度が低い。そのため、後工程のレーザリペア
では、修正箇所を特定するのに時間がかかり、作業の能
率低下が招来されるという難点があった。また、そのよ
うな低精度のデータは、前工程へのフィードバックなど
に用いる情報として好ましくない。
【0005】本発明は、このような従来技術の課題を解
決するものであり、位置を高精度に特定して欠陥検出が
できる液晶表示パネル検査装置を提供することを目的と
している。
決するものであり、位置を高精度に特定して欠陥検出が
できる液晶表示パネル検査装置を提供することを目的と
している。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明の液晶表示パネル
検査装置は、ドライバが非実装である液晶表示パネルを
検査する液晶表示パネル検査装置であって、該液晶表示
パネルに備わった走査線及び信号線の入力端子に接続さ
れるコンタクトプローブと、該コンタクトプローブを介
して走査線及び信号線に検査信号を与え、液晶表示パネ
ルの表示画面を点灯させる検査用ドライバと、該検査用
ドライバを制御する手段と、該表示画面上にカーソルを
表示させると共に、欠陥絵素部にカーソルの交点を位置
させて該欠陥絵素部の座標位置を特定する手段と、を具
備しており、そのことにより上記目的が達成される。
検査装置は、ドライバが非実装である液晶表示パネルを
検査する液晶表示パネル検査装置であって、該液晶表示
パネルに備わった走査線及び信号線の入力端子に接続さ
れるコンタクトプローブと、該コンタクトプローブを介
して走査線及び信号線に検査信号を与え、液晶表示パネ
ルの表示画面を点灯させる検査用ドライバと、該検査用
ドライバを制御する手段と、該表示画面上にカーソルを
表示させると共に、欠陥絵素部にカーソルの交点を位置
させて該欠陥絵素部の座標位置を特定する手段と、を具
備しており、そのことにより上記目的が達成される。
【0007】
【作用】コンタクトプローブを液晶表示パネルに備わっ
た走査線及び信号線の入力端子に接続する。その状態で
検査用ドライバを駆動させると、液晶表示パネルの表示
画面が点灯する。この時、表示画面にはカーソルが表示
される。そして、欠陥絵素部にカーソルの交点を位置さ
せ、その位置を、例えば記録することにより、該欠陥絵
素部の座標位置が特定される。
た走査線及び信号線の入力端子に接続する。その状態で
検査用ドライバを駆動させると、液晶表示パネルの表示
画面が点灯する。この時、表示画面にはカーソルが表示
される。そして、欠陥絵素部にカーソルの交点を位置さ
せ、その位置を、例えば記録することにより、該欠陥絵
素部の座標位置が特定される。
【0008】
【実施例】以下に本発明を実施例について説明する。
【0009】図1は本実施例の液晶表示パネル検査装置
を示すブロック図である。被検査対象である液晶表示パ
ネル10は、複数の走査線が横方向に平行に配線され、
この走査線と直交する状態で、複数の信号線が縦方向に
平行に配線されており、駆動用のドライバは実装されて
いない。液晶表示パネル10の表示画面11の周囲に
は、上記走査線及び信号線に接続されて多数の入力端子
が設けられている。走査線の入力端子は表示画面11の
両横側に設けられ、信号線の入力端子は表示画面11の
両縦側に設けられている。
を示すブロック図である。被検査対象である液晶表示パ
ネル10は、複数の走査線が横方向に平行に配線され、
この走査線と直交する状態で、複数の信号線が縦方向に
平行に配線されており、駆動用のドライバは実装されて
いない。液晶表示パネル10の表示画面11の周囲に
は、上記走査線及び信号線に接続されて多数の入力端子
が設けられている。走査線の入力端子は表示画面11の
両横側に設けられ、信号線の入力端子は表示画面11の
両縦側に設けられている。
【0010】一方、液晶表示パネル検査装置は、表示画
面11の上側に設けた信号線の入力端子に圧接により接
続される3つのコンタクトプローブ21a、21a、2
1aと、表示画面11の下側に設けた信号線の入力端子
に同様に圧接により接続される3つのコンタクトプロー
ブ21b、21b、21bと、表示画面11の左側に設
けた走査線の入力端子に同様に圧接により接続される2
つのコンタクトプローブ26a、26aと、表示画面1
1の左側に設けた走査線の入力端子に圧接により接続さ
れる2つのコンタクトプローブ26b、26bとを備え
ている。
面11の上側に設けた信号線の入力端子に圧接により接
続される3つのコンタクトプローブ21a、21a、2
1aと、表示画面11の下側に設けた信号線の入力端子
に同様に圧接により接続される3つのコンタクトプロー
ブ21b、21b、21bと、表示画面11の左側に設
けた走査線の入力端子に同様に圧接により接続される2
つのコンタクトプローブ26a、26aと、表示画面1
1の左側に設けた走査線の入力端子に圧接により接続さ
れる2つのコンタクトプローブ26b、26bとを備え
ている。
【0011】上述した上側の3つのコンタクトプローブ
21aと下側の3つのコンタクトプローブ21bとに
は、それぞれデータ側ドライバ22aと22bが接続さ
れている。上側の3つのコンタクトプローブ21aに接
続された3つのデータ側ドライバ22aには、共通の配
線コネクタ基板23aが接続され、この配線コネクタ基
板23aにはデータ側デコーダ24aが接続され、更に
このデータ側デコーダ24aにはデータ側カウンタ25
aが接続されている。下側の3つのコンタクトプローブ
21bに接続された3つのデータ側ドライバ22bに
は、共通の配線コネクタ基板23bが接続され、この配
線コネクタ基板23bにはデータ側デコーダ24bが接
続され、更にこのデータ側デコーダ24bにはデータ側
カウンタ25bが接続されている。
21aと下側の3つのコンタクトプローブ21bとに
は、それぞれデータ側ドライバ22aと22bが接続さ
れている。上側の3つのコンタクトプローブ21aに接
続された3つのデータ側ドライバ22aには、共通の配
線コネクタ基板23aが接続され、この配線コネクタ基
板23aにはデータ側デコーダ24aが接続され、更に
このデータ側デコーダ24aにはデータ側カウンタ25
aが接続されている。下側の3つのコンタクトプローブ
21bに接続された3つのデータ側ドライバ22bに
は、共通の配線コネクタ基板23bが接続され、この配
線コネクタ基板23bにはデータ側デコーダ24bが接
続され、更にこのデータ側デコーダ24bにはデータ側
カウンタ25bが接続されている。
【0012】一方、左側の2つのコンタクトプローブ2
6aと右側の2つのコンタクトプローブ26bとには、
それぞれスキャン側ドライバ27a、27bが接続され
ている。左側の2つのコンタクトプローブ26aに接続
された2つのスキャン側ドライバ27aには、共通の配
線コネクタ基板28aが接続され、この配線コネクタ基
板28aにはスキャン側デコーダ29aが接続され、更
にこのスキャン側デコーダ29aにはスキャン側カウン
タ30aが接続されている。右側の2つのコンタクトプ
ローブ26bに接続された2つのスキャン側ドライバ2
7bには、共通の配線コネクタ基板28bが接続され、
この配線コネクタ基板28bにはスキャン側デコーダ2
9bが接続され、更にこのスキャン側デコーダ29bに
はスキャン側カウンタ30bが接続されている。
6aと右側の2つのコンタクトプローブ26bとには、
それぞれスキャン側ドライバ27a、27bが接続され
ている。左側の2つのコンタクトプローブ26aに接続
された2つのスキャン側ドライバ27aには、共通の配
線コネクタ基板28aが接続され、この配線コネクタ基
板28aにはスキャン側デコーダ29aが接続され、更
にこのスキャン側デコーダ29aにはスキャン側カウン
タ30aが接続されている。右側の2つのコンタクトプ
ローブ26bに接続された2つのスキャン側ドライバ2
7bには、共通の配線コネクタ基板28bが接続され、
この配線コネクタ基板28bにはスキャン側デコーダ2
9bが接続され、更にこのスキャン側デコーダ29bに
はスキャン側カウンタ30bが接続されている。
【0013】上、下側の配線コネクタ基板23a、23
bとデータ側カウンタ25a、25bとには、それぞれ
制御主回路31からデータ側クロックパルスAが与えら
れ、更にデータ側カウンタ25a、25bにはそれぞれ
制御主回路31からデータ側スタートパルスCが与えら
れる。左、右側の配線コネクタ基板28a、28bとス
キャン側カウンタ30a、30bとには、それぞれ制御
主回路31からスキャン側クロックパルスBが与えら
れ、更にスキャン側カウンタ30a、30bにはそれぞ
れ制御主回路31からスキャン側スタートパルスDが与
えられる。
bとデータ側カウンタ25a、25bとには、それぞれ
制御主回路31からデータ側クロックパルスAが与えら
れ、更にデータ側カウンタ25a、25bにはそれぞれ
制御主回路31からデータ側スタートパルスCが与えら
れる。左、右側の配線コネクタ基板28a、28bとス
キャン側カウンタ30a、30bとには、それぞれ制御
主回路31からスキャン側クロックパルスBが与えら
れ、更にスキャン側カウンタ30a、30bにはそれぞ
れ制御主回路31からスキャン側スタートパルスDが与
えられる。
【0014】上記データ側クロックパルスAは、データ
側のドライバ22a、22bを駆動するためのものであ
り、スキャン側クロックパルスBは、スキャン側のドラ
イバ27a、27bを駆動するためのものである。した
がって、液晶表示パネル10は、上下6個のデータ側ド
ライバ22a、22bと、左右4個のスキャン側ドライ
バ27a、27bとによって駆動され、6つのブロック
に分けられて駆動される。
側のドライバ22a、22bを駆動するためのものであ
り、スキャン側クロックパルスBは、スキャン側のドラ
イバ27a、27bを駆動するためのものである。した
がって、液晶表示パネル10は、上下6個のデータ側ド
ライバ22a、22bと、左右4個のスキャン側ドライ
バ27a、27bとによって駆動され、6つのブロック
に分けられて駆動される。
【0015】一方、データ側スタートパルスCとスキャ
ン側スタートパルスDとは、液晶表示パネル10の表示
画面11の上に表示されるカーソル12を移動させるた
めのものである。前記制御主回路31から出力されるデ
ータ側スタートパルスCとスキャン側スタートパルスD
とは、制御主回路31の外部に設けた、例えばマウス、
デジタイザ、ライトペン等の外部コントロール機器(図
示せず)から与えられるようになっている。この外部コ
ントロール機器の操作により、データ側スタートパルス
Cとスキャン側スタートパルスDとが制御主回路31に
与えられ、各カウンタ25a、25b、30a、30b
を介して液晶表示パネル10の表示画面11の上の任意
の座標上に交点13を移動させてカーソル12を表示す
る。
ン側スタートパルスDとは、液晶表示パネル10の表示
画面11の上に表示されるカーソル12を移動させるた
めのものである。前記制御主回路31から出力されるデ
ータ側スタートパルスCとスキャン側スタートパルスD
とは、制御主回路31の外部に設けた、例えばマウス、
デジタイザ、ライトペン等の外部コントロール機器(図
示せず)から与えられるようになっている。この外部コ
ントロール機器の操作により、データ側スタートパルス
Cとスキャン側スタートパルスDとが制御主回路31に
与えられ、各カウンタ25a、25b、30a、30b
を介して液晶表示パネル10の表示画面11の上の任意
の座標上に交点13を移動させてカーソル12を表示す
る。
【0016】図2は、液晶表示パネル10の入力端子に
対して位置合わせして接続されるコンタクトプローブ2
1aの取付け状態を示す正面図であり、図3はその平面
図である。本実施例の液晶表示パネル検査装置は、コン
タクトプローブ21aの針先21a′を、液晶表示パネ
ル10の入力端子に位置合わせすべく、その位置および
姿勢を微調整する微調整機構40を備えている。なお、
図にはコンタクトプローブ21aを例に挙げているが、
他のコンタクトプローブ21b、26a、26bにおい
ても同様である。
対して位置合わせして接続されるコンタクトプローブ2
1aの取付け状態を示す正面図であり、図3はその平面
図である。本実施例の液晶表示パネル検査装置は、コン
タクトプローブ21aの針先21a′を、液晶表示パネ
ル10の入力端子に位置合わせすべく、その位置および
姿勢を微調整する微調整機構40を備えている。なお、
図にはコンタクトプローブ21aを例に挙げているが、
他のコンタクトプローブ21b、26a、26bにおい
ても同様である。
【0017】上記微調整機構40は、コンタクトプロー
ブ21aが取付けられる先端ベース部41aと基端ベー
ス部41bとに2分された取付けベース41を有する。
該取付けベース41は、その基端ベース部41bが固定
ベース42上に水平移動可能に支持され、調整ネジ43
および44の操作により、全体が水平面上をX方向およ
びY方向に微動する。取付けベース41の先端ベース部
41aは、調整ネジ45の操作により、先端ベース部4
1aと基端ベース部41bとの間に設けた支点46を中
心として、鉛直軸回りのθ方向に回転する。これによ
り、取付けベース41の先端ベース部41a下側に取り
付けられたコンタクトプローブ21aがX方向、Y方向
およびθ方向に位置調整される。
ブ21aが取付けられる先端ベース部41aと基端ベー
ス部41bとに2分された取付けベース41を有する。
該取付けベース41は、その基端ベース部41bが固定
ベース42上に水平移動可能に支持され、調整ネジ43
および44の操作により、全体が水平面上をX方向およ
びY方向に微動する。取付けベース41の先端ベース部
41aは、調整ネジ45の操作により、先端ベース部4
1aと基端ベース部41bとの間に設けた支点46を中
心として、鉛直軸回りのθ方向に回転する。これによ
り、取付けベース41の先端ベース部41a下側に取り
付けられたコンタクトプローブ21aがX方向、Y方向
およびθ方向に位置調整される。
【0018】また、取付けベース41の先端ベース部4
1aには、固定ネジ49と調整ネジ47、48とが備わ
っており、これら固定ネジ49と調整ネジ47、48と
によりコンタクトプローブ21aが支持されている。調
整ネジ48を操作することによりコンタクトプローブ2
1aの各針先21a′と液晶表示パネル10との間の距
離を一定にできる。調整ネジ47を操作することにより
各針先21a′の液晶表示パネル10に対する角度を垂
直に調整できる。上述した固定ネジ49は、この姿勢調
整における動作支点を兼ねている。なお、コンタクトプ
ローブ21aの各針先21a′と、液晶表示パネル10
の入力端子とは、1:1の割合で設けられており、隣合
う各針先21a′の間の距離と、隣合う各入力端子の間
の距離も同一寸法に設定してある。
1aには、固定ネジ49と調整ネジ47、48とが備わ
っており、これら固定ネジ49と調整ネジ47、48と
によりコンタクトプローブ21aが支持されている。調
整ネジ48を操作することによりコンタクトプローブ2
1aの各針先21a′と液晶表示パネル10との間の距
離を一定にできる。調整ネジ47を操作することにより
各針先21a′の液晶表示パネル10に対する角度を垂
直に調整できる。上述した固定ネジ49は、この姿勢調
整における動作支点を兼ねている。なお、コンタクトプ
ローブ21aの各針先21a′と、液晶表示パネル10
の入力端子とは、1:1の割合で設けられており、隣合
う各針先21a′の間の距離と、隣合う各入力端子の間
の距離も同一寸法に設定してある。
【0019】上述のように先端ベース部41aの下側に
取付けられたコンタクトプローブ21aに対して、ドラ
イバ22aが接続されている。具体的には、ドライバ2
2aの一方の端子がコンタクトプローブ21aに接続さ
れている。この接続は、ドライバ22aの一方の端子が
フィルムキャリアとなっていて、このフィルムキャリア
をコンタクトプローブ21aに対して熱圧着することに
より行われる。上記ドライバ22aの他方の端子は、上
述した固定ベース42の下面に取付けられた前記配設コ
ネクタ基板23aに接続されており、この配設コネクタ
基板23aには信号入力ケーブル50が接続されてい
る。
取付けられたコンタクトプローブ21aに対して、ドラ
イバ22aが接続されている。具体的には、ドライバ2
2aの一方の端子がコンタクトプローブ21aに接続さ
れている。この接続は、ドライバ22aの一方の端子が
フィルムキャリアとなっていて、このフィルムキャリア
をコンタクトプローブ21aに対して熱圧着することに
より行われる。上記ドライバ22aの他方の端子は、上
述した固定ベース42の下面に取付けられた前記配設コ
ネクタ基板23aに接続されており、この配設コネクタ
基板23aには信号入力ケーブル50が接続されてい
る。
【0020】このように構成された本実施例の液晶表示
パネル検査装置における検査内容を以下に説明する。先
ず、ドライバが実装されていない状態の液晶表示パネル
10を検査位置にセットする。セットされた液晶表示パ
ネル10の入力端子に、微調整機構40を操作すること
により、これに予め取付けられたコンタクトプローブ2
1aを圧接させる。このとき、コンタクトプローブ21
aには、上述した熱圧着によりドライバ22aが接続さ
れた状態としておく。これにより、ドライバ21aが液
晶表示パネル10の入力端子に接続される。
パネル検査装置における検査内容を以下に説明する。先
ず、ドライバが実装されていない状態の液晶表示パネル
10を検査位置にセットする。セットされた液晶表示パ
ネル10の入力端子に、微調整機構40を操作すること
により、これに予め取付けられたコンタクトプローブ2
1aを圧接させる。このとき、コンタクトプローブ21
aには、上述した熱圧着によりドライバ22aが接続さ
れた状態としておく。これにより、ドライバ21aが液
晶表示パネル10の入力端子に接続される。
【0021】次に、制御主回路31により出力されるデ
ータ側クロックパルスAとスキャン側クロックパルスB
とに基づいてドライバ21aを制御し、液晶表示パネル
10の表示画面11をあたかも実駆動されているかのご
とく点灯状態にする。このとき、表示画面11にはカー
ソル12も表示される。そして、表示画面11を目視観
察して欠陥の有無を調査する。欠陥が見つかると、表示
画面12を目視しながら外部コントロール機器を操作し
て、カーソル12の交点13を欠陥絵素部に合わせる。
この位置合わせは、データ側スタートパルスCとスキャ
ン側スタートパルスDとに基づいて決定される。また、
交点13の表示画面12上の座標位置は、各カウンタ2
5a、25b、30a、30bからの信号を入力する各
デコーダ24a、24b、29a、29bにより把握さ
れる。位置があっていると、このときのカーソル12の
位置を記録する。この記録は、例えば上述した各デコー
ダ24a、24b、29a、29bに記憶回路を接続し
ておき、この記憶回路に記憶させることにより行うとよ
い。このときの検出精度は、クロックの周波数にもよる
が絵素ピッチの精度が可能である。
ータ側クロックパルスAとスキャン側クロックパルスB
とに基づいてドライバ21aを制御し、液晶表示パネル
10の表示画面11をあたかも実駆動されているかのご
とく点灯状態にする。このとき、表示画面11にはカー
ソル12も表示される。そして、表示画面11を目視観
察して欠陥の有無を調査する。欠陥が見つかると、表示
画面12を目視しながら外部コントロール機器を操作し
て、カーソル12の交点13を欠陥絵素部に合わせる。
この位置合わせは、データ側スタートパルスCとスキャ
ン側スタートパルスDとに基づいて決定される。また、
交点13の表示画面12上の座標位置は、各カウンタ2
5a、25b、30a、30bからの信号を入力する各
デコーダ24a、24b、29a、29bにより把握さ
れる。位置があっていると、このときのカーソル12の
位置を記録する。この記録は、例えば上述した各デコー
ダ24a、24b、29a、29bに記憶回路を接続し
ておき、この記憶回路に記憶させることにより行うとよ
い。このときの検出精度は、クロックの周波数にもよる
が絵素ピッチの精度が可能である。
【0022】このようにして、全絵素について検査を行
い、複数の欠陥絵素部が存在すると各欠陥絵素部の座標
位置を記憶しておく。
い、複数の欠陥絵素部が存在すると各欠陥絵素部の座標
位置を記憶しておく。
【0023】したがって、本実施例の液晶表示パネル検
査装置により検査を行う場合には、各欠陥絵素部の位置
を表示画面上の座標位置として特定できるので、欠陥の
ある液晶表示パネル10をレーザリペア等で修正すると
き、修正箇所を間違うことなく確実に把握でき、短時間
で修正を実施できる。また、欠陥位置を絵素ピッチの精
度で検出する場合は、短時間で修正できることはもちろ
んであるが、更に加えて、前工程へのフィードバック情
報としても有効であり、そのフィードバック情報に基づ
いて欠陥が発生しない対策を講じることにより、欠陥自
体の発生も未然に防止することが可能となる。
査装置により検査を行う場合には、各欠陥絵素部の位置
を表示画面上の座標位置として特定できるので、欠陥の
ある液晶表示パネル10をレーザリペア等で修正すると
き、修正箇所を間違うことなく確実に把握でき、短時間
で修正を実施できる。また、欠陥位置を絵素ピッチの精
度で検出する場合は、短時間で修正できることはもちろ
んであるが、更に加えて、前工程へのフィードバック情
報としても有効であり、そのフィードバック情報に基づ
いて欠陥が発生しない対策を講じることにより、欠陥自
体の発生も未然に防止することが可能となる。
【0024】なお、上記実施例では6つのブロックに分
けて液晶表示パネルを検査するようにしているが、本発
明はこれに限らず、液晶表示パネルをブロック毎に分け
ることなく行ってもよい。要は、検査対象である液晶表
示パネルのサイズが複数種に分かれていて、各サイズの
液晶表示パネルに対して、余り仕様を変更することなく
検査が行えるようにできれば、液晶表示パネルをブロッ
ク毎に分けることなく、或は2以上のブロックに分けて
液晶表示パネルを検査すればよい。
けて液晶表示パネルを検査するようにしているが、本発
明はこれに限らず、液晶表示パネルをブロック毎に分け
ることなく行ってもよい。要は、検査対象である液晶表
示パネルのサイズが複数種に分かれていて、各サイズの
液晶表示パネルに対して、余り仕様を変更することなく
検査が行えるようにできれば、液晶表示パネルをブロッ
ク毎に分けることなく、或は2以上のブロックに分けて
液晶表示パネルを検査すればよい。
【0025】
【発明の効果】本発明による場合には、液晶表示パネル
の表示画面に表示させたカーソルにより欠陥絵素部の位
置を検出するのでその位置を確実に特定でき、これによ
り後工程のレーザリペア等では、修正箇所を短時間で見
つけることが可能となり作業能率が上がる。また、欠陥
絵素部の位置の特定を絵素ピッチの精度で行う場合に
は、その検出データを前工程へのフィードバック情報と
して利用すると、欠陥自体の発生も未然に防止すること
が可能となる。
の表示画面に表示させたカーソルにより欠陥絵素部の位
置を検出するのでその位置を確実に特定でき、これによ
り後工程のレーザリペア等では、修正箇所を短時間で見
つけることが可能となり作業能率が上がる。また、欠陥
絵素部の位置の特定を絵素ピッチの精度で行う場合に
は、その検出データを前工程へのフィードバック情報と
して利用すると、欠陥自体の発生も未然に防止すること
が可能となる。
【図1】本実施例の液晶表示パネル検査装置を示すブロ
ック図である。
ック図である。
【図2】コンタクトプローブの微調整機構を示す正面図
である。
である。
【図3】コンタクトプローブの微調整機構を示す平面図
である。
である。
10 液晶表示パネル 11 表示画面 12 カーソル 13 交点 21a コンタクトプローブ 21b コンタクトプローブ 22a データ側ドライバ 22b データ側ドライバ 23a データ側配線コネクタ基板 23b データ側配線コネクタ基板 24a データ側デコーダ 24b データ側デコーダ 25a データ側カウンタ 25b データ側カウンタ 26a コンタクトプローブ 26b コンタクトプローブ 27a スキャン側ドライバ 27b スキャン側ドライバ 28a スキャン側配線コネクタ基板 28b スキャン側配線コネクタ基板 29a スキャン側デコーダ 29b スキャン側デコーダ 30a スキャン側カウンタ 30b スキャン側カウンタ 31 制御主回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 藤野 裕伸 大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号 シ ャープ株式会社内 (72)発明者 川瀬 伸行 大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号 シ ャープ株式会社内
Claims (1)
- 【請求項1】 ドライバが非実装である液晶表示パネル
を検査する液晶表示パネル検査装置であって、 該液晶表示パネルに備わった走査線及び信号線の入力端
子に接続されるコンタクトプローブと、 該コンタクトプローブを介して走査線及び信号線に検査
信号を与え、液晶表示パネルの表示画面を点灯させる検
査用ドライバと、 該検査用ドライバを制御する手段と、 該表示画面上にカーソルを表示させると共に、欠陥絵素
部にカーソルの交点を位置させて該欠陥絵素部の座標位
置を特定する手段と、 を具備する液晶表示パネル検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4215304A JPH0659229A (ja) | 1992-08-12 | 1992-08-12 | 液晶表示パネル検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4215304A JPH0659229A (ja) | 1992-08-12 | 1992-08-12 | 液晶表示パネル検査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0659229A true JPH0659229A (ja) | 1994-03-04 |
Family
ID=16670108
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4215304A Pending JPH0659229A (ja) | 1992-08-12 | 1992-08-12 | 液晶表示パネル検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0659229A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100462016B1 (ko) * | 1997-10-23 | 2005-04-06 | 삼성전자주식회사 | 분리형 프로브 프레임 |
KR100560397B1 (ko) * | 1999-11-12 | 2006-03-14 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 액정표시소자의 셀 불량 검사 장치 및 방법 |
JP2006301633A (ja) * | 2005-04-15 | 2006-11-02 | Samsung Electronics Co Ltd | 液晶表示パネルとその検査装置及び検査方法 |
-
1992
- 1992-08-12 JP JP4215304A patent/JPH0659229A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100462016B1 (ko) * | 1997-10-23 | 2005-04-06 | 삼성전자주식회사 | 분리형 프로브 프레임 |
KR100560397B1 (ko) * | 1999-11-12 | 2006-03-14 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 액정표시소자의 셀 불량 검사 장치 및 방법 |
JP2006301633A (ja) * | 2005-04-15 | 2006-11-02 | Samsung Electronics Co Ltd | 液晶表示パネルとその検査装置及び検査方法 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 19981116 |