KR101021622B1 - 평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장치 - Google Patents

Abstract

본 발명은 평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장치에 관한 것으로, 본 발명에 의한 평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장치는, 액정패널에 형성된 복수의 패드에 각각 접촉하여 검사하는 프로브 유닛; 상기 프로브 유닛의 일단에 연결되어 상기 액정패널에 비주얼 검사하는 비주얼 검사부; 상기 프로브 유닛의 타단에 연결되어 상기 액정패널에 그로스 테스트하는 그로스 테스트부; 상기 비주얼 검사부 또는 상기 그로스 테스트부 중 어느 하나를 선택적으로 작동시키는 작동 선택부; 및 상기 액정패널의 데이터 라인 및 게이트 라인의 좌표값을 인식하기 위해 구비되는 방향 인식부;를 포함한다.

본 발명에 따르면, 비주얼 검사와 그로스 테스트를 하나의 장비에서 선택적으로 수행하여 검사시간 단축, 검사인원 축소, 생산원가 절감 및 생산성이 향상되고, 그로스 테스트부의 구동 드라이버 IC에 대체하는 구동신호 생성 및 공급부를 구비하여 유지보수에 따른 생산 효율이 저하되는 것을 방지할 수 있으며, 비주얼 검사부에 데이터 라인과 게이트 라인의 좌표값 인식을 위한 X, Y 방향 인식부를 구비하여 리페어 부분을 좌표값으로 인식 가능하므로 정확한 위치 이동을 통하여 효율적인 리페어가 가능한 효과가 있다.

액정패널, 비주얼 검사, 그로스 테스트, 겸용, 리페어

Description

평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장치{MULTI TESTING APPARATUS FOR FLAT PANEL DISPLAY}

본 발명은 평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 하나의 장비에서 비주얼 검사와 그로스 테스트를 겸용할 수 있으면서 그로스 테스트시 구동 드라이버 IC 없이 장치를 구현할 수 있고 비주얼 검사시 불량 라인 좌표값을 자동으로 인식 가능한 평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장치에 관한 것이다.

일반적으로, LCD를 비롯한 디스플레이 패널의 제조공정에서 액정패널의 불량 여부를 검사하기 위해 다양한 검사공정이 이루어지고 있고, 각 검사공정을 위한 다양한 장비들이 개발되어 있다.

특히, 액정패널은 데이터 구동부로부터 공급되는 데이터신호에 대응하는 소정의 영상을 표시한다. 이를 위하여, 디스플레이 패널은 두 장의 유리기판 사이에 주입된 액정을 이용하여 백라이트 유닛으로부터 공급되는 빛을 제어한다.

액정패널의 제조시 대표적으로 비주얼 검사(Visual Inspection: V/I)와 그로스 테스트가 있는데, 상기 비주얼 검사는 다수개의 게이트 라인 및/또는 데이터 라 인이 연결된 쇼팅바(shorting bar)에 소정의 전압을 인가하고 액정패널에 흑백 상태의 화상을 표시하여 게이트 라인 및/또는 데이터 라인의 불량 여부를 검사하는 공정이다.

여기서, 흑백 상태의 화상은 쇼팅바에 소정의 전압을 인가하여 구현될 수 있다. 이와 같이 구현된 흑백 화상은 CCD카메라를 통해 도트(dot), 라인(line), 유니폼(uniform) 등의 불량 여부를 확인하는 데 이용된다.

그로스 테스트(Gross Test: G/T)는 게이트 및 데이터 구동 IC를 실장하기 전에 백라이트 유닛 및 구동 드라이버 IC 들이 조립된 모듈(module)과 동일한 환경에서 액정패널의 동작 특성 및 도트(dot)/화소(pixel)의 불량 여부를 판단하는 공정으로, 쇼팅바를 제거한 후 모든 개별 화소에 대해 독립적인 신호를 인가하여 완제품과 동일하게 풀 컬러(full color)를 디스플레이되게 한다.

피검사체(디스플레이 패널)에는 비주얼 검사를 위하여 프로브유닛의 탐침핀에 접촉되는 검사신호 입력패드와 그로스 테스트시 접촉되는 OLB패드가 구비되어 있다. 또한, 종래 검사신호 입력패드와 OLB패드는 복수개의 쇼팅바에 전기적으로 연결되어 있다.

이때, 도 1은 일반적인 액정패널(1)의 구조를 나타낸 것으로서, TFT기판(12)과, 칼라필터기판(14)이 구비되며, 비주얼 검사를 위하여 프로브 유닛의 탐침핀에 접촉되는 패드(18)와, 그로스 테스트시 접촉되는 패드(18)가 구비되어 있다. 미설명부호 16은 액티브 영역을 나타낸 것이다.

그러나 종래의 평판 디스플레이 패널 검사장치는 도면에는 도시하지 않았지 만 비주얼 검사와 그로스 테스트를 각각 독립적인 장비에서 수행하여야 하므로 비주얼 검사와 그로스 테스트의 개별 수행시 검사시간과 소요인력이 증가하고 생산원가가 증가하며 독립적인 장비에서 각각 수행되므로 생산성이 저하되는 문제점이 있었다.

더욱이, 그로스 테스트를 실시하는 평판 디스플레이 패널 검사장치에서 데이터 라인을 제어 및 구동하기 위해 데이터 구동 신호를 생성하고 데이터 라인에 공급하는 구동 드라이버 IC(Integrated Circuit)에 그로스 테스트시 정전기 및 기타 요인이 발생하여 이와 같은 정전기 및 기타 요인 등에 의해 구동 드라이버 IC에 손상이 발생되므로 교체나 수리 등과 같은 유지보수로 검사시간이 지연되어 생산 효율이 저하되는 문제점이 있었다.

또한, 비주얼 검사를 실시하는 평판 디스플레이 패널 검사장치에서 비주얼 검사를 수행할 때 액정패널의 게이트 라인 및 데이터 라인이 쇼팅바에 의하여 좌표값 인식이 불가능하며 이로 인해 불량 발생시 후공정에서 리페어(Repair)를 수행할 때 난해한 문제점이 있었다.

본 발명은 상기 종래의 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로서, 그 목적은, 비주얼 검사와 그로스 테스트를 하나의 장비에서 선택적으로 수행하여 검사시간 단축, 검사인원 축소, 생산원가 절감 및 생산성이 향상될 수 있게 한 평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장치를 제공함에 있다.

또한, 본 발명의 다른 목적은, 그로스 테스트부의 구동 드라이버 IC에 대체하는 구동신호 생성 및 공급부를 구비하여 유지보수에 따른 생산 효율이 저하되는 것을 방지할 수 있게 한 평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장치를 제공함에 있다.

또한, 본 발명의 또 다른 목적은, 비주얼 검사부에 데이터 라인과 게이트 라인의 좌표값 인식을 위한 X, Y 방향 인식부를 구비하여 리페어 부분을 좌표값으로 인식 가능하므로 정확한 위치 이동을 통하여 효율적인 리페어가 가능할 수 있게 한 평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장치를 제공함에 있다.

상술한 목적을 달성하기 위하여 본 발명은, 액정패널에 형성된 복수의 패드에 각각 접촉하여 검사하는 프로브 유닛; 상기 프로브 유닛의 일단에 연결되어 상기 액정패널에 비주얼 검사하는 비주얼 검사부; 상기 프로브 유닛의 타단에 연결되어 상기 액정패널에 그로스 테스트하는 그로스 테스트부; 상기 비주얼 검사부 또는 상기 그로스 테스트부 중 어느 하나를 선택적으로 작동시키는 작동 선택부; 및 상기 액정패널의 데이터 라인 및 게이트 라인의 좌표값을 인식하기 위해 구비되는 방향 인식부;를 포함하는 것을 특징으로 한다.

또한, 본 발명에서의 상기 그로스 테스트부는 데이터 구동 신호를 생성하고 데이터 라인에 공급하는 구동신호 생성 및 공급부를 포함하는 것을 특징으로 한다.

또한, 본 발명에서의 상기 구동신호 생성 및 공급부는 기계식 또는 전자식 중 어느 하나의 방식으로 작동되는 것을 특징으로 한다.

또한, 본 발명에서의 상기 방향 인식부는 데이터 라인 및 게이트 라인의 X 방향 및 Y 방향을 인식하는 것을 특징으로 한다.

또한, 본 발명에서의 상기 방향 인식부는 상기 비주얼 검사부에 연동되는 것을 특징으로 한다.

또한, 본 발명에서의 상기 작동 선택부는 기계식 또는 전자식 중 어느 하나의 방식으로 작동되는 것을 특징으로 한다.

이와 같은 본 발명의 평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장치는, 비주얼 검사와 그로스 테스트를 하나의 장비에서 선택적으로 수행하여 검사시간 단축, 검사인원 축소, 생산원가 절감 및 생산성이 향상되는 효과가 있다.

또한, 본 발명은, 그로스 테스트부의 구동 드라이버 IC에 대체하는 구동신호 생성 및 공급부를 구비하여 유지보수에 따른 생산 효율이 저하되는 것을 방지할 수 있는 효과가 있다.

또한, 본 발명은, 비주얼 검사부에 데이터 라인과 게이트 라인의 좌표값 인식을 위한 X, Y 방향 인식부를 구비하여 리페어 부분을 좌표값으로 인식 가능하므로 정확한 위치 이동을 통하여 효율적인 리페어가 가능한 효과가 있다.

이하, 본 발명의 평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장치를 첨부도면을 참조하여 일 실시 예를 들어 설명하면 다음과 같다.

본 발명의 바람직한 일 실시 예에 따른 평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장 치(100)는 도 2에 도시된 바와 같이 프로브 유닛(100), 비주얼 검사부(110), 그로스 테스트부(120), 작동 선택부(130), 방향 인식부 및 제어부를 포함하며, 비주얼 검사 또는 그로스 테스트를 실시할 때 액정패널(1)의 패드(18)인 검사 포인트는 동일한 것이 바람직하다.

상기 프로브 유닛(Probe unit: 100)은 스테이지(도면에 미도시)의 일측단에 다수 배치되어 액정패널(1)에 형성된 복수의 패드(18)에 각각 접촉한 후 검사하도록 적어도 하나의 일렬로 구비된다.

상기 비주얼 검사부(110)는 프로브 유닛(100)의 일단에 연결되어 작동 선택부(130)를 통한 선택적인 접속에 따라 액정패널(1)에 비주얼 검사를 수행한다.

더욱이, 상기 비주얼 검사부(110)에는 도면에는 도시하지 않았지만 소정의 신호를 생성하는 신호발생기(Pattern Generator: 도면에 미도시), 신호발생기의 신호를 패턴 필름에 전달하기 위해 신호발생기와 패턴 필름 사이에 개재되는 PCB(Flexible Printed Circuit) 및 신호를 인가하는 패턴 필름(Pattern flim) 등을 포함한다.

이때, 상기 패턴 필름은 PCB와 연결되어 작동 선택부(130)의 일측에서 접속 연결시 프로브 유닛(100)에 신호발생기의 신호를 프로브 유닛(100)의 블레이드 팁(blade tip)을 거쳐 패드(18)에 인가한다.

상기 그로스 테스트부(120)는 프로브 유닛(100)의 타단에 연결되어 작동 선택부(130)를 통한 선택적인 접속에 따라 액정패널(1)에 그로스 테스트를 수행하며, PCB 및 구동신호 생성 및 공급부(도면에 미도시) 등을 포함한다.

여기서, 상기 구동신호 생성 및 공급부는 종래의 비주얼 검사부에 구비되어 데이터 라인(DL)을 제어 및 구동하기 위해 데이터 구동 신호를 생성하고 데이터 라인(DL)에 공급하는 구동 드라이버 IC에 대체 가능하므로 정전기 및 기타 요인 등에 의하여 구동 드라이버 IC가 손상되는 것을 방지한다. 이때, 상기 구동신호 생성 및 공급부는 종래의 구동 드라이버 IC에 대신할 수 있도록 이와 동일한 기능을 하게 된다.

더욱이, 상기 구동신호 생성 및 공급부는 기계식 또는 전자식 중 어느 하나의 방식으로 작동되며, 이 이외에 다양한 구동방식을 채택할 수 있다.

이때, 상기 구동신호 생성 및 공급부에는 작동 선택부(130)의 연결시 프로브 유닛(100)에 신호를 프로브 유닛(100)의 블레이드 팁을 거쳐 패드(18)에 인가하되 프로브 유닛(100)의 인터페이스 기능을 하며, PCB, 신호발생기 및 인터페이스 보드(Interface Board)가 내재될 수 있다.

상기 접속 선택부(130)는 비주얼 검사부(110)와 그로스 테스트부(120)의 이웃한 위치에 구비되어 비주얼 검사부(110) 또는 그로스 테스트부(120) 중 어느 하나를 제어부의 제어 신호로 작동시키기 위해 기계식 또는 전자식 중 어느 하나의 구동방식을 취할 수 있는 스위치 개념이며, 이 이외에 다양한 구동방식을 채택할 수 있다.

특히, 상기 접속 선택부(130)는 프로브 유닛(100)마다 개별적으로 각각 구비되는 것으로 예시하였으나 일률적으로 구비될 수도 있으며, 자동 등으로 제어하는 제어부(도면에 미도시)가 연결된다.

상기 방향 인식부는 비주얼 검사시 액정패널(1)의 데이터 라인(DL) 및 게이트 라인(GL)이 쇼팅바에 의하여 좌표값 인식이 불가능하여 액정패널(1)의 불량이 발생할 경우 후공정에서 액정패널(1)의 리페어(Repair)가 어려운 단점을 보완하기 위해 구비된다.

결국, 상기 방향 인식부는 액정패널(1)을 비주얼 검사하는 과정에서 데이터 라인(DL) 및 게이트 라인(GL)의 X 방향 및 Y 방향을 센서 등에 의해 센싱하고 인식하므로 리페어 공정 시 불량 위치를 좌표값으로 인식할 수 있게 하므로 정확한 위치 이동이 가능하고 이에 효율적인 리페어 공정의 수행이 가능하다.

그러므로 본 발명에 의한 평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장치의 작동 과정은 다음과 같다.

우선, 스테이지 상에 액정패널(1)을 로딩시킨 후 프로브 유닛(100)을 액정패널(1)의 검사 위치를 향해 일률적으로 이동시킨다.

다음으로, 프로그램 등에 의해 제어부에서 작동 선택부(130)의 작동 신호를 출력하고 이에 비주얼 검사부(110) 또는 그로스 테스트부(120) 중 어느 하나를 기계식 또는 전자식 등 중 어느 하나의 방식으로 구동시켜 비주얼 검사 또는 그로스 테스트를 선택적으로 수행하게 된다.

한편, 상기 액정패널(1)의 비주얼 검사시 비주얼 검사부(110)에 연동되는 방향 인식부가 제어부의 제어 신호에 의해 기계식 또는 전자식 등으로 작동되어 데이터 라인(DL) 및 게이트 라인(GL)의 X 방향 및 Y 방향을 인식하므로 리페어 공정 시 불량 위치를 X 방향 및 Y 방향의 교차점의 좌표값으로 인식할 수 있고 정확한 리페어 위치 이동이 가능하다.

다음으로, 상기 프로브 유닛(100)이 패드(18)에 접촉한 후 검사를 완료하면 원위치로 복귀한다.

이상에서 설명한 본 발명의 상세한 설명에서는 본 발명의 바람직한 실시 예를 참조하여 설명하였지만, 본 발명의 보호범위는 상기 실시 예에 한정되는 것이 아니며, 해당 기술분야의 통상의 지식을 갖는 자라면 본 발명의 사상 및 기술영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.

도 1은 일반적인 액정패널을 개략적으로 나타낸 것이다.

도 2는 본 발명에 의한 평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장치를 개략적으로 도시한 평면도이다.

< 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 >

100: 프로브 유닛 110: 비주얼 검사부

120: 그로스 테스트부 130: 작동 선택부

Claims (6)

1. 액정패널에 형성된 복수의 패드에 각각 접촉하여 검사하는 프로브 유닛;

   상기 프로브 유닛의 일단에 연결되어 상기 액정패널에 비주얼 검사하는 비주얼 검사부;

   상기 프로브 유닛의 타단에 연결되어 상기 액정패널에 그로스 테스트하는 그로스 테스트부;

   상기 비주얼 검사부 또는 상기 그로스 테스트부 중 어느 하나를 선택적으로 작동시키는 작동 선택부; 및

   상기 액정패널의 데이터 라인 및 게이트 라인의 좌표값을 인식하기 위해 구비되는 방향 인식부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장치.
2. 제 1항에 있어서,

   상기 그로스 테스트부는 데이터 구동 신호를 생성하고 데이터 라인에 공급하는 구동신호 생성 및 공급부를 포함하는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장치.
3. 제 2항에 있어서,

   상기 구동신호 생성 및 공급부는 기계식 또는 전자식 중 어느 하나의 방식으로 작동되는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장치.
4. 제 1항에 있어서,

   상기 방향 인식부는 데이터 라인 및 게이트 라인의 X 방향 및 Y 방향을 인식하는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장치.
5. 제 1항에 있어서,

   상기 방향 인식부는 상기 비주얼 검사부에 연동되는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장치.
6. 제 1항에 있어서,

   상기 작동 선택부는 기계식 또는 전자식 중 어느 하나의 방식으로 작동되는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장치.

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