JPH0635947B2 - 分光測定方法 - Google Patents
分光測定方法Info
- Publication number
- JPH0635947B2 JPH0635947B2 JP1746790A JP1746790A JPH0635947B2 JP H0635947 B2 JPH0635947 B2 JP H0635947B2 JP 1746790 A JP1746790 A JP 1746790A JP 1746790 A JP1746790 A JP 1746790A JP H0635947 B2 JPH0635947 B2 JP H0635947B2
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- JP
- Japan
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- wavelength
- measurement
- measured
- peak
- spectroscope
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- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は分光光度計による分光測定方法に関する。
（従来の技術） 分光光度計で試料の経時的変化を追跡するような場合、
試料の吸収スペクトル上で特定の波長位置の吸光度変化
を監視すると云う方法が採られる。
試料の吸収スペクトル上で特定の波長位置の吸光度変化
を監視すると云う方法が採られる。
このように分光光度計で特定の波長位置の吸光度変化を
経時的に測定する場合、分光装置自身とか温度等の周囲
環境の変化により分光器の透過光の波長がずれる可能性
がある。このような波長ずれの影響は、測定波長を吸光
スペクトルの急傾斜部に設定してあるような場居、特に
大きく表われる。測光回路の経時的なドリフト等による
波長ずれを伴わないスペクトルのベースラインのドリフ
ト等は測定データを微分することにより除去できるが、
波長のずれの影響は微分法では除去できない。
経時的に測定する場合、分光装置自身とか温度等の周囲
環境の変化により分光器の透過光の波長がずれる可能性
がある。このような波長ずれの影響は、測定波長を吸光
スペクトルの急傾斜部に設定してあるような場居、特に
大きく表われる。測光回路の経時的なドリフト等による
波長ずれを伴わないスペクトルのベースラインのドリフ
ト等は測定データを微分することにより除去できるが、
波長のずれの影響は微分法では除去できない。
（発明が解決しようとする課題） 本発明は特定波長で経時的に分光的測定を行う場合に、
載置或は環境の経時変化等による波長ずれを補正し得る
測定方法を提供しようとするものである。
載置或は環境の経時変化等による波長ずれを補正し得る
測定方法を提供しようとするものである。
（課題を解決するための手段） 測定しようとする対象物質の分光スペクトルの一つのピ
ーク中心波長と測定しようとする波長との間の差△λを
予め求めておき、経時的測定中、スペクトル上の上記ピ
ークを検出し、分光器のその波長位置から上記△λだけ
移動した分光器位置の測定出力をサンプリングするよう
にした。
ーク中心波長と測定しようとする波長との間の差△λを
予め求めておき、経時的測定中、スペクトル上の上記ピ
ークを検出し、分光器のその波長位置から上記△λだけ
移動した分光器位置の測定出力をサンプリングするよう
にした。
（作用） 或る物質の分光的スペクトルのピーク中心波長そのもの
は変化しない。従って分光装置の方に波長ずれが生じた
場合、見掛け上スペクトル全体が波長方向に横ずれした
ように見えるが、スペクトル上のピーク中心と測定点と
の間の波長差は不変である。本発明では一つのピークの
中心波長から△λだけ離れた位置の測定値をサンプリン
グしているので、分光装置の方に波長ずれが生じても、
測定対象のスペクトル上では常に一定の波長位置の測定
値をサンプリングしていることになる。
は変化しない。従って分光装置の方に波長ずれが生じた
場合、見掛け上スペクトル全体が波長方向に横ずれした
ように見えるが、スペクトル上のピーク中心と測定点と
の間の波長差は不変である。本発明では一つのピークの
中心波長から△λだけ離れた位置の測定値をサンプリン
グしているので、分光装置の方に波長ずれが生じても、
測定対象のスペクトル上では常に一定の波長位置の測定
値をサンプリングしていることになる。
（実施例） 第１図は本発明方法を実行する装置の一例を示す。装置
は二光束型の分光光度計と制御装置とよりなっており、
Ｌは光源、Ｃは二光束試料室で、Ｓが試料セルであり、
試料溶液が流通しており、Ｒは対照セルである。Ｍは分
光器であり、Ｐは測光系である。ＣＰＵは制御装置で分
光器の波長駆動、測光系の出力のサンプリング、サンプ
リングされた測定値に対するデータ処理、測定結果の記
録の制御等を行い、Ｄが記録装置である。
は二光束型の分光光度計と制御装置とよりなっており、
Ｌは光源、Ｃは二光束試料室で、Ｓが試料セルであり、
試料溶液が流通しており、Ｒは対照セルである。Ｍは分
光器であり、Ｐは測光系である。ＣＰＵは制御装置で分
光器の波長駆動、測光系の出力のサンプリング、サンプ
リングされた測定値に対するデータ処理、測定結果の記
録の制御等を行い、Ｄが記録装置である。
第２図は上述装置の動作のフローチャートである。連続
測定を行うに当っては予め測定しようとする物質の吸光
度スペクトルを測定しておく。第３図にそのスペクトル
の一例を示す。この測定結果より、測定中検出を行うピ
ークＱと測定Ｆを決め、ピークＱの中心波長λｏと測定
点の波長λとの差△λを求め、ＣＰＵに波長走査範囲を
設定し、差△λを記憶させておく。波長操作範囲はλと
λｏを含み、ピークＱを検出できるようにそれより若干
広いλ１，λ２に設定する。以上の準備を終って連続測
定をスタートさせる。ＣＰＵは一定の定時間間隔でλ
１，λ２間の波長走査を繰返し、波長走査期間中の測光
系出力を取込みデータ処理を行う。即ち分光器をλ１か
らλ２まで駆動させ（イ）、その間に一定波長間隔毎に
測光系出力を取込みメモリに格納（ロ）し、分光器駆動
終了後、次回波長走査までにの時間係数（ハ）を行うと
共に、他方の分光器を波長λ１の位置に戻し（ニ）、
（ロ）のステップで取り込んだ測光データによりピーク
Ｑの中心波長を検出（ホ）し、検出された中心波長より
Δλ離れた位置の測光データを上記記憶データから取出
し（ヘ）、これを記録装置Ｄに記録させ（ト）、次回走
査開始時刻到来を持ち（チ）、その時刻が到来したら動
作は（イ）の動作に戻る。
測定を行うに当っては予め測定しようとする物質の吸光
度スペクトルを測定しておく。第３図にそのスペクトル
の一例を示す。この測定結果より、測定中検出を行うピ
ークＱと測定Ｆを決め、ピークＱの中心波長λｏと測定
点の波長λとの差△λを求め、ＣＰＵに波長走査範囲を
設定し、差△λを記憶させておく。波長操作範囲はλと
λｏを含み、ピークＱを検出できるようにそれより若干
広いλ１，λ２に設定する。以上の準備を終って連続測
定をスタートさせる。ＣＰＵは一定の定時間間隔でλ
１，λ２間の波長走査を繰返し、波長走査期間中の測光
系出力を取込みデータ処理を行う。即ち分光器をλ１か
らλ２まで駆動させ（イ）、その間に一定波長間隔毎に
測光系出力を取込みメモリに格納（ロ）し、分光器駆動
終了後、次回波長走査までにの時間係数（ハ）を行うと
共に、他方の分光器を波長λ１の位置に戻し（ニ）、
（ロ）のステップで取り込んだ測光データによりピーク
Ｑの中心波長を検出（ホ）し、検出された中心波長より
Δλ離れた位置の測光データを上記記憶データから取出
し（ヘ）、これを記録装置Ｄに記録させ（ト）、次回走
査開始時刻到来を持ち（チ）、その時刻が到来したら動
作は（イ）の動作に戻る。
第３図の点線のカーブは分光器の波長ずれの結果見掛け
上波長方向に移動した測定対象物の吸光スペクトルで、
走査波長範囲の上下λ１，λ２は測定期間中の波長ずれ
の最大を予測して、そのずれが充分納まる値に選定され
る。ＣＰＵは毎回の波長走査で第３図点線のような測定
データを取込み、そのデータからピークＱ′の中心波長
λｏ′を検出し、λｏ′よりΔλ離れた波長λ′に対す
る測定値を取出して、これを記録しているのである。第
３図では測定対象物質の吸光度は時間的なｄＡしか変化
していないのであるが、上述した動作を行わず、分光器
の指示波長で一定点λのデータだけを取っていると、測
定対象物質の吸光度が△Ａだけ変化したように測定され
てしまうことになる。
上波長方向に移動した測定対象物の吸光スペクトルで、
走査波長範囲の上下λ１，λ２は測定期間中の波長ずれ
の最大を予測して、そのずれが充分納まる値に選定され
る。ＣＰＵは毎回の波長走査で第３図点線のような測定
データを取込み、そのデータからピークＱ′の中心波長
λｏ′を検出し、λｏ′よりΔλ離れた波長λ′に対す
る測定値を取出して、これを記録しているのである。第
３図では測定対象物質の吸光度は時間的なｄＡしか変化
していないのであるが、上述した動作を行わず、分光器
の指示波長で一定点λのデータだけを取っていると、測
定対象物質の吸光度が△Ａだけ変化したように測定され
てしまうことになる。
（発明の効果） 本発明によれば、長期的な分光測定においても分光器の
波長ずれの影響を除去した測定が可能となり、安定した
信頼度の高い測定結果が得られる。
波長ずれの影響を除去した測定が可能となり、安定した
信頼度の高い測定結果が得られる。
第１図は本発明方法を実行する装置の一例のブロック
図、第２図は同実施例における動作のフローチャート、
第３図は吸光スペクトルのグラフである。 Ｌ……光源、Ｃ……二光束試料室、Ｓ……試料セル、Ｒ
……対照セル、Ｍ……分光器、Ｐ……測光系、ＣＰＵ…
…制御装置。
図、第２図は同実施例における動作のフローチャート、
第３図は吸光スペクトルのグラフである。 Ｌ……光源、Ｃ……二光束試料室、Ｓ……試料セル、Ｒ
……対照セル、Ｍ……分光器、Ｐ……測光系、ＣＰＵ…
…制御装置。
Claims (1)
- 【請求項１】測定しようとする対象物質の分光的スペク
トルの一つのピークの中心波長と測定しようとする波長
との間の差△λを予め求めておき、経時的測定中、スペ
クトル上の上記ピークを検出し、分光器の上記ピーク中
心波長位置から上記△λだけ移動した分光器位置におけ
る測定出力をサンプリングすることを特徴とする分光測
定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1746790A JPH0635947B2 (ja) | 1990-01-26 | 1990-01-26 | 分光測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1746790A JPH0635947B2 (ja) | 1990-01-26 | 1990-01-26 | 分光測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03221844A JPH03221844A (ja) | 1991-09-30 |
| JPH0635947B2 true JPH0635947B2 (ja) | 1994-05-11 |
Family
ID=11944824
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1746790A Expired - Lifetime JPH0635947B2 (ja) | 1990-01-26 | 1990-01-26 | 分光測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0635947B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5082622B2 (ja) * | 2007-06-28 | 2012-11-28 | コニカミノルタオプティクス株式会社 | 分光特性測定装置、分光特性測定システム |
-
1990
- 1990-01-26 JP JP1746790A patent/JPH0635947B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH03221844A (ja) | 1991-09-30 |
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