JPH06302044A

JPH06302044A - 光ピックアップ装置

Info

Publication number: JPH06302044A
Application number: JP5093390A
Authority: JP
Inventors: Hideyoshi Horigome; 秀嘉堀米
Original assignee: Sony Corp
Current assignee: Sony Corp
Priority date: 1993-04-20
Filing date: 1993-04-20
Publication date: 1994-10-28

Abstract

(57)【要約】【目的】レーザ光源からの出射光を記録面に照射し、
上記記録面からの反射光のうちの所定の偏光成分を光検
出手段により検出する光ピックアップ装置において、構
成部品点数を削減して小型化を図る。【構成】光学ブロック２のビームスプリッタ膜２５と
偏光ビームスプリッタ膜２７を通過したレーザ光源１の
出射光を複合旋光板４と対物レンズ５を介して光磁気デ
ィスク１０の記録面に照射し、その反射光を、上記複合
旋光板４を介して上記光学ブロック２に導き光検出器
６，７で検出する。また、上記ビームスプリッタ膜２５
により反射されたレーザ光源１の出射光を偏光ビームス
プリッタ膜２６を介して光検出素子３で検出する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、レーザ光源からの出射
光を記録面に照射し、上記記録面からの反射光のうちの
所定の偏光成分を光検出手段により検出する光ピックア
ップ装置に関し、特に、光磁気記録媒体（ＭＯ）に記録
された情報を再生するのに好適な光ピックアップ装置に
関するものである。

【０００２】

【従来の技術】光磁気記録媒体、例えば光磁気ディスク
に記録された情報を再生するための光ピックアップ装置
は、直線偏光のレーザビームを光磁気ディスクの記録面
に照射し、記録面に時下方向として記録されている情報
を光の磁化の相互作用である電気光学カー効果あるいは
ファラデー効果により偏光面の回転に換えて検出する。

【０００３】従来、このような光ピックアップ装置は、
例えば半導体レーザと、この半導体レーザからの出射光
を平行光にするコリメータレンズと、このコリメータレ
ンズで平行光にされた出射光を集光して光磁気ディスク
の記録面に照射する対物レンズと、半導体レーザと対物
レンズ間に配設され光磁気ディスクの記録面で反射され
た反射光の一部を分離する第１の偏光ビームスプリッタ
と、この第１の偏光ビームスプリッタで分離された反射
光の各成分、すなわち、半導体レーザからの出射光と同
一の振動面を有する成分（所謂Ｐ波成分）と、このＰ波
成分と直交する方向に振動面をＳ波成分に分離する第２
の偏光ビームスプリッタと、この第２の偏光ビームスプ
リッタにより分離されたＰ波成分とＳ波成分のレベルを
検出する２個の光電変換素子（以下、ディテクタとい
う）等から構成されており、半導体レーザからの出射光
を集光して光磁気ディスクの記録面に照射し、この記録
面で反射された反射光の一部を第１の偏光ビームスプリ
ッタで分離し、さらに、分離された反射光を第２の偏光
ビームスプリッタでＰ波成分とＳ波成分に分離し、分離
されたＰ波成分とＳ波成分のレベルを２個のディテクタ
で検出し、それらのレベル差を差動増幅器で検出する差
動法により、光磁気ディスクに記録されていた情報を検
出する。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】ところで、上述の如き
構成の従来の光ピックアップ装置では、第１の偏光ビー
ムスプリッタで反射光から分離するレーザ光のＳ波成分
は光磁気信号（以下、ＭＯ信号という）であることか
ら、第１の偏光ビームスプリッタのＳ波に対する反射率
を１００％に設定することが望ましいが、Ｐ波成分に対
する反射率はディテクタに入射する光量とディテクタの
ショットノイズやディスク基板の複屈折などに起因する
ノイズがバランスように設定され、再生専用形光ディス
クに対する光ピックアップ装置に比べてカップリング効
率が低いという問題点がある。また、第１の偏光ビーム
スプリッタで分離された反射光を第２の偏光ビームスプ
リッタでＰ波成分とＳ波成分の２つの成分に分離するた
めに、その光路を確率する必要があり、その光路確率の
ための寸法が大きく、装置の小型化が困難であるという
問題点がある。

【０００５】そこで、上述の如き実情に鑑み、本発明の
目的は、レーザ光源からの出射光を記録面に照射し、上
記記録面からの反射光のうちの所定の偏光成分を光検出
手段により検出する光ピックアップ装置において、構成
部品点数を削減して小型化を図ることにある。

【０００６】また、本発明の目的は、カップリング効率
の高い光ピックアップ装置を提供することにある。

【０００７】

【課題を解決するための手段】上述の課題を解決するた
めに、本発明は、レーザ光源からの出射光を記録面に照
射し、上記記録面からの反射光のうちの所定の偏光成分
を光検出手段により検出する光ピックアップ装置におい
て、上記レーザ光源からの出射光と上記記録面からの反
射光が入射されるビームスプリッタ膜と、上記ビームス
プリッタ膜により反射された上記レーザ光源からの出射
光が入射される第１の偏光ビームスプリッタ膜と、上記
ビームスプリッタ膜を通過した上記レーザ光源からの出
射光と上記記録面からの反射光と上記ビームスプリッタ
膜により反射された上記記録面からの反射光が入射され
る第２の偏光ビームスプリッタ膜とが互いに平行に形成
されてなる光学ブロックと、上記第１の偏光ビームスプ
リッタ膜を通過した上記レーザ光源からの出射光が入射
される光量制御用の光検出素子と、上記第２の偏光ビー
ムスプリッタ膜により反射された上記記録面からの反射
光が入射される第１の光検出素子と、上記ビームスプリ
ッタ膜により反射され上記第２の偏光ビームスプリッタ
膜を通過した上記記録面からの反射光が入射される第２
の光検出素子と、上記ビームスプリッタ膜及び上記第２
の偏光ビームスプリッタ膜を通過した上記レーザ光源か
らの出射光と上記記録面からの反射光が入射され、光軸
を含む平面で分割された一方の領域を通過する光と上記
一方の領域を通過する光とを所定の角度だけ異なる方向
に旋光させる複合旋光板と、上記複合旋光板と上記記録
面との間に設けられた対物レンズと、上記第１の光検出
素子と第２の光検出素子により検出出力の差分としてフ
ォーカスエラー情報を出力することを特徴とするもので
ある。

【０００８】本発明に係る光ピックアップ装置におい
て、上記第１の光検出素子と第２の光検出素子の少なく
とも一方は、検出領域が２分割された２分割ディテクタ
からなることを特徴とする。

【０００９】また、本発明に係る光ピックアップ装置に
おいて、上記第１の光検出素子及び第２の光検出素子
は、それぞれ検出領域が３分割された３分割ディテクタ
とからなることを特徴とする。

【００１０】さらに、本発明に係る光ピックアップ装置
において、上記第１の光検出素子及び第２の光検出素子
は、それぞれ検出領域が４分割された４分割ディテクタ
からなることを特徴とする。

【００１１】

【作用】本発明に係る光ピックアップ装置では、レーザ
光源からの出射光を光学ブロックのビームスプリッタ膜
と第２の偏光ビームスプリッタ膜を通過させ、複合旋光
板と対物レンズを介して記録面に照射し、上記記録面に
よる反射光を上記対物レンズと複合旋光板を介して上記
光学ブロックに導き、上記ビームスプリッタ膜と第２の
偏光ビームスプリッタ膜で反射させて、第１及び第２の
光検出器により検出する。上記複合旋光板は、光軸を含
む平面で分割された一方の領域を通過する光と上記一方
の領域を通過する光とを所定の角度だけ異なる方向に旋
光させる。そして、上記第１の光検出素子と第２の光検
出素子は、その検出出力の差分としてフォーカスエラー
情報を出力する。また、光量制御用の光検出素子は、上
記ビームスプリッタ膜により反射されたレーザ光源から
の出射光を第１の偏光ビームスプリッタ膜を介して受光
することにより、上記出射光の光量を検出する。

【００１２】本発明に係る光ピックアップ装置におい
て、第１の光検出素子と第２の光検出素子の少なくとも
一方は、検出領域が複数に分割された分割ディテクタと
することにより、検出出力の差分としてＭＯ信号やプッ
シュプル信号を出力する。

【００１３】

【実施例】以下、本発明に係る光ピックアップ装置の一
実施例について、図面を参照しながら詳細に説明する。

【００１４】本発明に係る光ピックアップ装置は、例え
ば図１のブロック図に示すように構成される。

【００１５】この図１に示す光ピックアップ装置は、光
磁気記録媒体、例えば光磁気ディスクに記録された情報
を再生する光ピックアップ装置に本発明を適用したもの
であって、レーザ光源１と、このレーザ光源１からの出
射光が入射される光学ブロック２と、この光学ブロック
２に配設された光量制御用の光検出素子３，複合旋光板
４，信号検出用の第１及び第２の光検出素子６，７と、
上記複合旋光板４と光磁気ディスク１０記録面との間に
設けられた対物レンズ５を備えてなる。

【００１６】上記レーザ光源１は、例えばシングルモー
ドの半導体レーザからなり、図示しないＲＦモジュール
により高周波駆動される高出力のレーザ光を出射するよ
うになっている。

【００１７】また、上記光学ブロック２は、光軸と直交
する第１及び第２の面２１，２２と光軸と平行で互いに
平行な第３及び第４の面２３，２４を有し、ビームスプ
リッタ膜２５と第１及び第２の偏光ビームスプリッタ膜
２６，２７が光軸に対して４５°傾斜し互いに平行に形
成されてなる。

【００１８】また、この光学ブロック２には、上記光量
制御用の光検出素子３が第３の面２３に設けられ、上記
複合旋光板４が第２の面２２に設けられ、さらに、上記
信号検出用の第１及び第２の光検出素子６，７が第４の
面２４に設けられている。

【００１９】この光学ブロック２は、上記レーザ光源１
からの出射光が上記第１の面２１を介して上記ビームス
プリッタ膜２５に入射され、このビームスプリッタ膜２
５により反射された上記レーザ光源１からの出射光が上
記第１の偏光ビームスプリッタ膜２６に入射され、この
ビームスプリッタ膜２５を通過した上記レーザ光源１か
らの出射光が上記第２の偏光ビームスプリッタ膜２７に
入射されるようになっている。

【００２０】ここで、上記ビームスプリッタ膜２５は、
例えば透過率Ｔｐ＝８５％，反射率Ｒｐ＝１５％に設定
されている。これにより、上記レーザ光源１からの出射
光はその１５％が反射して上記第１の偏光ビームスプリ
ッタ膜２６に導き、上記出射光の８５％を上記第２の偏
光ビームスプリッタ膜２７に導く。

【００２１】また、上記第１の偏光ビームスプリッタ膜
２６は、上記ビームスプリッタ膜２５による反射された
上記レーザ光源１からの出射光のＳ波成分とＰ波成分を
分離するもので、Ｐ波成分を通過しＳ波成分を反射す
る。そして、この第１の偏光ビームスプリッタ膜２６を
通過した上記レーザ光源１からの出射光のＳ波成分が、
上記光量制御用の光検出素子３に入射されるようになっ
ている。

【００２２】また、上記第２の偏光ビームスプリッタ膜
２７は、上記ビームスプリッタ膜２５を通過した上記レ
ーザ光源１からの出射光のＳ波成分とＰ波成分を分離す
るもので、Ｐ波成分を通過しＳ波成分を反射する。そし
て、この第２のビームスプリッタ膜２７を通過した上記
レーザ光源１からの出射光のＰ波成分が、上記複合旋光
板４に入射されるようになっている。

【００２３】さらに、上記第２の偏光ビームスプリッタ
膜２７は、上記複合旋光板４を介して入射される上記光
磁気ディスク１０の記録面による反射光のＳ波成分とＰ
波成分を分離する機能を果たすもので、Ｓ波成分を反射
しＰ波成分を通過する。そして、この上記第２の偏光ビ
ームスプリッタ膜２７されることにより、上記記録面に
よる反射光のＳ波成分が上記信号検出用の第１の光検出
素子６に入射されるようになっている。また、上記記録
面による反射光のＰ波成分は、上記第２の偏光ビームス
プリッタ膜２７を通過した上記記録面による反射光のＰ
波成分は、上記ビームスプリッタ膜２５により反射され
て上記信号検出用の第２の光検出素子７に入射されるよ
うになっている。

【００２４】なお、上記レーザ光源１からの出射光のＳ
波成分は、上記第１及び第２の偏光ビームスプリッタ膜
２６，２７及び上記ビームスプリッタ膜２５により反射
されて迷光成分としてこの光学ブロック２の外に導かれ
る。

【００２５】また、上記複合旋光板４は、光軸を含む平
面で分割された左旋光板４Ｌと右旋光板４Ｒとからな
る。上記左旋光板４Ｌは、上記対物レンズ５側から見て
左回りに所定の角度（旋光角α）だけ偏光面を回転させ
る。また、上記右旋光板４Ｒは、上記対物レンズ５側か
ら見て右回りに所定の角度（旋光角α）だけ偏光面を回
転させる。

【００２６】このような構成の光ピックアップ装置にお
いて、上記レーザ光源１から出射光は、上記光学ブロッ
ク２のビームスプリッタ膜２５及び第２の偏光ビームス
プリッタ膜２７を通過したＰ波成分が上記複合旋光板４
に入射され、この上記複合旋光板４により所定の角度
（旋光角α）だけ偏光面が回転れてから、対物レンズ５
を介して収束光として上記光磁気ディスク１０の記録面
に照射される。

【００２７】また、上記光量制御用の光検出素子３は、
上記ビームスプリッタ膜２５により反射された上記レー
ザ光源１からの出射光のＰ波成分を上記第１の偏光ビー
ムスプリッタ膜２６を介して受光することにより、上記
記録面に照射する光と同じＰ波成分の光量を検出する。
そして、その検出出力を図示しないＡＰＣ回路を介して
上記レーザ光源１に帰還することによって、上記記録面
に照射するレーザビームの光量を所定光量に制御する。

【００２８】上記複合旋光板４の左旋光板４Ｌに入射さ
れる上記上記レーザ光源１から出射光のＰ波成分による
レーザビームＩ₁は、図２に示すように、上記左旋光板
４Ｌを通過する際に、偏光面が＋αだけ回転されたレー
ザビームＩ₁₁となる。そして、このレーザビームＩ
₁₁は、上記対物レンズ５を介して上記光磁気ディスク１
０の記録面１０ａに照射される。この記録面１０ａによ
り反射された反射光は、光軸を挟んで上記レーザビーム
Ｉ₁₁とは反対側の光路を通るレーザビームＩ₁₂として、
上記複合旋光板４の右旋光板４Ｒに入射される。このレ
ーザビームＩ₁₂は、偏光面が＋αだけ回転された状態と
なっており、上記右旋光板４Ｒを通過する際に、偏光面
が右回りにさらに＋αだけ回転されて、＋２αだけ回転
された偏光面を有するレーザビームＩ₁₃となる。

【００２９】そして、上記右旋光板４Ｒを通過したレー
ザビームＩ₁₃は、上記光学ブロック２においてＳ波成分
とＰ波成分が分離され、そのＳ波成分のレベルが上記信
号検出用の第１の光検出素子６により検出され、また、
そのＰ波成分が上記信号検出用の第２の光検出素子７に
より検出される。

【００３０】また、上記複合旋光板４の右旋光板４Ｒに
入射される上記上記レーザ光源１から出射光のＰ波成分
によるレーザビームＩ₂は、図３に示すように、上記右
旋光４Ｌを通過する際に、偏光面が−αだけ回転された
レーザビームＩ₂₁となる。そして、このレーザビームＩ
₂₁は、上記対物レンズ５を介して上記光磁気ディスク１
０の記録面１０ａに照射される。この記録面１０ａによ
り反射された反射光は、光軸を挟んで上記レーザビーム
Ｉ₂₁とは反対側の光路を通るレーザビームＩ₂₂として、
上記複合旋光板４の左旋光板４Ｌに入射される。このレ
ーザビームＩ₁₂は、偏光面が−αだけ回転された状態と
なっており、上記左旋光板４Ｌを通過する際に、偏光面
が左回りにさらに−αだけ回転されて、−２αだけ回転
された偏光面を有するレーザビームＩ₂₃となる。

【００３１】そして、上記左旋光板４Ｌを通過したレー
ザビームＩ₂₃は、上記光学ブロック２においてＳ波成分
とＰ波成分が分離され、そのＳ波成分のレベルが上記信
号検出用の第１の光検出素子６により検出され、また、
そのＰ波成分が上記信号検出用の第２の光検出素子７に
より検出される。

【００３２】上記第１及び第２の光検出素子６，７は、
差動円心法によるフォーカスエラー検出を行い、各検出
出力の差分としてフォーカスエラー信号ＦＥを出力す
る。

【００３３】この実施例において、上記第１の光検出素
子６は、図４に示すように、４分割された検出領域６Ａ
₁，６Ａ₂，６Ａ₃，６Ａ₄を有する４分割ディテクタ
からなり、各検出領域６Ａ₁，６Ａ₃による検出出力Ａ
₁，Ａ₃が加算器２１に供給され、各検出領域６Ａ₂，
６Ａ₄による検出出力Ａ₂，Ａ₄が加算器２２に供給さ
れる。また、上記上記第２の光検出素子７は、４分割
された検出領域７Ｂ₁，７Ｂ₂，７Ｂ₃，７Ｂ₄を有す
る４分割ディテクタからなり、各検出領域７Ｂ ₁，７Ｂ
₃による検出出力Ｂ₁，Ｂ₃が加算器２３に供給され、
各検出領域７Ｂ ₂，７Ｂ₄による検出出力Ｂ₂，Ｂ₄が
加算器２４に供給される。

【００３４】上記加算器２１による加算出力（Ａ₁＋Ａ
₃）が加算器２５と減算器２６に供給されるとともに、
上記加算器２２による加算出力（Ａ₂＋Ａ₄）が上記加
算器２５と減算器２６に供給されるようになっている。
また、上記加算器２３による加算出力（Ｂ₁＋Ｂ₃）が
加算器２７と減算器２８に供給されるとともに、上記加
算器２４による加算出力（Ｂ₂＋Ｂ₄）が上記加算器２
７と減算器２８に供給される。さらに、上記加算器２５
の加算出力（Ａ₁＋Ａ₃＋Ａ₃＋Ａ₄）と上記加算器２
７の加算出力（Ｂ₁＋Ｂ₃＋Ｂ₃＋Ｂ₄）が減算器２９
に供給される。

【００３５】そして、上記減算器２６は、その減算出力
として、ＭＯ信号＝（Ａ₁＋Ａ₃）−（Ａ₂＋Ａ₄）なるＭＯ信号を減算出力として出力する。また、上記加
算器２７は、その加算出力として、ＲＦ信号＝（Ｂ₁＋Ｂ₂＋Ｂ₃＋Ｂ₄）なるＲＦ信号を出力する。

【００３６】また、上記減算器２８は、その減算出力と
して、ＰＰ信号＝（Ａ₁＋Ａ₃）−（Ａ₂＋Ａ₄）なるプッシュプル（ＰＰ）信号を出力する。さらに、上
記減算器２９は、その減算出力として、ＦＥ信号＝（Ａ₁＋Ａ₂＋Ｂ₃＋Ｂ₄）−（Ｂ₁＋Ｂ₂
＋Ａ₃＋Ａ₄）なるフォーカスエラー（ＦＥ）信号を出力する。

【００３７】なお、上記減算器２９による減算出力とし
て得られるＦＥ信号は、ＭＯ信号がキャンセルされてい
るので、広い帯域を有する信号となっている。

【００３８】ここで、上記ＦＥ信号は、差動円心法によ
り検出されるもので、原理的には上記第１及び第２の光
検出素子６，７がそれそれ複数の検出領域に分割されて
いる必要はなく、上記第１及び第２の光検出素子６，７
の検出出力Ａ，Ｂの減算出力（Ａ−Ｂ）として得ること
ができる。また、Ｂ₀＝Ｂ₃＋Ｂ₄，Ａ₀＝Ａ₃＋Ａ ₄
とし、上記第１及び第２の光検出素子６，７としてそれ
ぞれ３分割ディクタを用いて、ＦＥ信号＝（Ａ₁＋Ａ₂＋Ｂ₀）−（Ｂ₁＋Ｂ₂＋
Ａ₀）なるＦＥ信号を得るようにしてもよい。

【００３９】さらに、Ａ_A＝Ａ₁＋Ａ₃，Ａ_B＝Ａ₂＋
Ａ₄，Ｂ_A＝Ｂ₁＋Ｂ₃，Ｂ_B＝Ｂ ₂＋Ｂ₄とし、上記
第１及び第２の光検出素子６，７としてそれぞれ２分割
ディクタを用いて、ＰＰ信号＝Ｂ_A−Ｂ_B ＭＯ信号＝Ａ_A−Ａ_B なるＰＰ信号やＭＯ信号を得るようにしてもよい。

【００４０】また、上述の実施例では、上記第１及び第
２の光検出素子６，７の各検出領域６Ａ₁，６Ａ₂，６
Ａ₃，６Ａ₄，６Ｂ₁，６Ｂ₂，６Ｂ₃，６Ｂ₄を同方
向に分割したが、図５に示すように、上記第１の光検出
素子６を９０°回転させて、直交する方向に分割するよ
うにしてもよい。この場合、上記複合旋光板４も光軸を
中心に９０°回転させた状態で上記光学ブロック４の第
２の面２２に配設される。

【００４１】さらに、図６に示すように、上述の実施例
における複合旋光板４と対物レンズ５との間に反射鏡９
を設けることにより、光路を折り曲げるようにしてもよ
い。

【００４２】

【発明の効果】本発明に係る光ピックアップ装置では、
レーザ光源からの出射光を光学ブロックのビームスプリ
ッタ膜と第２の偏光ビームスプリッタ膜を通過させ、複
合旋光板と対物レンズを介して記録面に照射し、上記記
録面による反射光を上記対物レンズと複合旋光板を介し
て上記光学ブロックに導き、上記ビームスプリッタ膜と
第２の偏光ビームスプリッタ膜で反射させて、第１及び
第２の光検出器により検出することにより、その検出出
力の差分としてフォーカスエラー情報を出力することが
できる。また、光量制御用の光検出素子は、上記ビーム
スプリッタ膜により反射されたレーザ光源からの出射光
を第１の偏光ビームスプリッタ膜を介して受光すること
により、上記記録面に照射する光と同じ偏光成分の光量
を検出することができる。

【００４３】本発明によれば、上述のような光学ブロッ
クを用いることにより、レーザ光源からの出射光を記録
面に照射し、上記記録面からの反射光のうちの所定の偏
光成分を光検出手段により検出する光ピックアップ装置
において、構成部品点数を削減して小型化を図ることが
できる。また、カップリング効率の高い光ピックアップ
装置を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る光ピックアップ装置の構成を示す
ブロック図である。

【図２】上記光ピックアップ装置における光路説明に供
給する図である。

【図３】上記光ピックアップ装置における光路説明に供
給する図である。

【図４】上記光ピックアップ装置における信号検出用の
第１及び第２の光検出素子として４分割ディテクタを用
いた場合の演算回路の構成を示す図である。

【図５】分割方向を異ならしめた４分割ディテクタによ
る第１及び第２の光検出素子の構成を示すブロック図で
ある。

【図６】反射鏡により光路を折り曲げた光ピックアップ
装置の構成を示すブロック図である。

【符号の説明】

１・・・・・レーザ光源２・・・・・光学ブロック３・・・・・光量制御用の光検出素子４・・・・・複合旋光板５・・・・・対物レンズ６・・・・・信号検出用の第１の光検出素子７・・・・・信号検出用の第２の光検出素子１０・・・・・光磁気ディスク２５・・・・・ビームスプリッタ膜２６・・・・・第１の偏光ビームスプリッタ膜２７・・・・・第２の偏光ビームスプリッタ膜

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】レーザ光源からの出射光を記録面に照射
し、上記記録面からの反射光のうちの所定の偏光成分を
光検出手段により検出する光ピックアップ装置におい
て、上記レーザ光源からの出射光と上記記録面からの反射光
が入射されるビームスプリッタ膜と、上記ビームスプリ
ッタ膜により反射された上記レーザ光源からの出射光が
入射される第１の偏光ビームスプリッタ膜と、上記ビー
ムスプリッタ膜を通過した上記レーザ光源からの出射光
と上記記録面からの反射光と上記ビームスプリッタ膜に
より反射された上記記録面からの反射光が入射される第
２の偏光ビームスプリッタ膜とが互いに平行に形成され
てなる光学ブロックと、上記第１の偏光ビームスプリッタ膜を通過した上記レー
ザ光源からの出射光が入射される光量制御用の光検出素
子と、上記第２の偏光ビームスプリッタ膜により反射された上
記記録面からの反射光が入射される第１の光検出素子
と、上記ビームスプリッタ膜により反射され上記第２の偏光
ビームスプリッタ膜を通過した上記記録面からの反射光
が入射される第２の光検出素子と、上記ビームスプリッタ膜及び上記第２の偏光ビームスプ
リッタ膜を通過した上記レーザ光源からの出射光と上記
記録面からの反射光が入射され、光軸を含む平面で分割
された一方の領域を通過する光と上記一方の領域を通過
する光とを所定の角度だけ異なる方向に旋光させる複合
旋光板と、上記複合旋光板と上記記録面との間に設けられた対物レ
ンズと、上記第１の光検出素子と第２の光検出素子により検出出
力の差分としてフォーカスエラー情報を出力することを
特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項２】上記第１の光検出素子と第２の光検出素
子の少なくとも一方は検出領域が２分割された２分割デ
ィテクタからなることを特徴とする請求項１記載の光ピ
ックアップ装置。
【請求項３】上記第１の光検出素子及び第２の光検出
素子は、それぞれ検出領域が３分割された３分割ディテ
クタからなることを特徴とする請求項１記載の光ピック
アップ装置。
【請求項４】上記第１の光検出素子及び第２の光検出
素子は、それぞれ検出領域が４分割された４分割ディテ
クタからなることを特徴とする請求項１記載の光ピック
アップ装置。