JPH0629847B2 - クロマトスキヤナ - Google Patents
クロマトスキヤナInfo
- Publication number
- JPH0629847B2 JPH0629847B2 JP10548085A JP10548085A JPH0629847B2 JP H0629847 B2 JPH0629847 B2 JP H0629847B2 JP 10548085 A JP10548085 A JP 10548085A JP 10548085 A JP10548085 A JP 10548085A JP H0629847 B2 JPH0629847 B2 JP H0629847B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- peak
- scanning
- sample
- processing unit
- unit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 9
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 5
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims 1
- 238000000034 method Methods 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 5
- 238000004809 thin layer chromatography Methods 0.000 description 5
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000001962 electrophoresis Methods 0.000 description 1
- 238000011835 investigation Methods 0.000 description 1
- 238000011002 quantification Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/59—Transmissivity
- G01N21/5907—Densitometers
- G01N21/5911—Densitometers of the scanning type
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N30/00—Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
- G01N30/90—Plate chromatography, e.g. thin layer or paper chromatography
- G01N30/95—Detectors specially adapted therefor; Signal analysis
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明はＴＬＣ（薄層クロマトグラフィ）プレートや電
気泳動ゲルのような試料に光を照射し、その反射光又は
透過光により定量を行なうクロマトスキャナに関するも
のである。
気泳動ゲルのような試料に光を照射し、その反射光又は
透過光により定量を行なうクロマトスキャナに関するも
のである。
（従来の技術） ＴＬＣプレートや電気泳動ゲルは、試料上で直線上に離
散的に広がったパターンをもっている。第８図はＴＬＣ
プレート、第９図は電気泳動ゲルの例であり、３０，３
２はスポットである。
散的に広がったパターンをもっている。第８図はＴＬＣ
プレート、第９図は電気泳動ゲルの例であり、３０，３
２はスポットである。
従来のクロマトスキャナでは、ＴＬＣプレートや電気泳
動ゲルのようにＹ方向の直線上に離散的に広がったパタ
ーンを走査し、定量を行なう場合、ジグザグ走査の走査
開始点を短冊形の走査範囲の端に設定し、Ｙ方向のステ
ップ数を一定にし、第１０図に示されるようにジグザグ
のスイング幅で決まる短冊形の全面を走査していた。
動ゲルのようにＹ方向の直線上に離散的に広がったパタ
ーンを走査し、定量を行なう場合、ジグザグ走査の走査
開始点を短冊形の走査範囲の端に設定し、Ｙ方向のステ
ップ数を一定にし、第１０図に示されるようにジグザグ
のスイング幅で決まる短冊形の全面を走査していた。
（発明が解決しようとする問題点） 試料のスポットは離散しているが、従来のクロマトスキ
ャナではスポットの存在しない部分もスポットの存在す
る重要な部分と同様に走査しなければならず、特に定量
精度向上のために積算を行なう場合など、必要以外の部
分のために浪費する時間は膨大なものであった。
ャナではスポットの存在しない部分もスポットの存在す
る重要な部分と同様に走査しなければならず、特に定量
精度向上のために積算を行なう場合など、必要以外の部
分のために浪費する時間は膨大なものであった。
本発明は、試料スポットの位置を自動的に高速で探索す
ることにより、定量精度を下げずに走査時間を短縮する
クロマトスキャナを提供することを目的とするものであ
る。
ることにより、定量精度を下げずに走査時間を短縮する
クロマトスキャナを提供することを目的とするものであ
る。
（問題点を解決するための手段） 本発明は、第１図に示されるように、モード切換え部が
粗走査モードと本走査モードの切換えを行なう。
粗走査モードと本走査モードの切換えを行なう。
粗走査時にはステージ制御部により試料ステージ２０は
Ｘ方向を固定してＹ方向のみのリニア走査を行なう。こ
のリニア走査時にピーク処理部は検出信号からピーク位
置を検出し、そのピーク位置はメモリ１８に記憶され
る。
Ｘ方向を固定してＹ方向のみのリニア走査を行なう。こ
のリニア走査時にピーク処理部は検出信号からピーク位
置を検出し、そのピーク位置はメモリ１８に記憶され
る。
本走査時にはステージ制御部により試料ステージ２０は
ジグザグ走査を行なうが、このときステージ制御部はメ
モリ１８に記憶されているピーク位置に従って、ピーク
位置では精度の高いジグザグ走査を行ない、ピーク位置
以外の部分ではジグザグ走査を省略し又は粗く走査を行
なうように試料ステージ２０を制御する。データ処理部
はこの本走査時の検出信号から定量的なデータ処理を行
なう。
ジグザグ走査を行なうが、このときステージ制御部はメ
モリ１８に記憶されているピーク位置に従って、ピーク
位置では精度の高いジグザグ走査を行ない、ピーク位置
以外の部分ではジグザグ走査を省略し又は粗く走査を行
なうように試料ステージ２０を制御する。データ処理部
はこの本走査時の検出信号から定量的なデータ処理を行
なう。
（実施例） 第２図は本発明の一実施例を表わす。
２は試料３に光照射を行なう光学系である。ＴＬＣプレ
ートや電気泳動ゲルのような試料３はＸ，Ｙ両方向に移
動することのできる試料ステージ２０上に保持されてい
る。試料ステージ２０は駆動機構（図示略）を介してマ
イクロコンピュータ１２により制御され、粗走査のリニ
ア走査と本走査のジグザグ走査を行なう。
ートや電気泳動ゲルのような試料３はＸ，Ｙ両方向に移
動することのできる試料ステージ２０上に保持されてい
る。試料ステージ２０は駆動機構（図示略）を介してマ
イクロコンピュータ１２により制御され、粗走査のリニ
ア走査と本走査のジグザグ走査を行なう。
４は試料３からの反射光を受光して電気信号に変換する
光電変換部としての光電子増倍管、６は試料３からの透
過光を受光して電気信号に変換する光電変換部としての
光電子増倍管である。光電子増倍管４又は６の出力信号
は増幅器８で増幅され、信号変換部としてのＡ／Ｄ変換
器１０でデジタル信号に変換された後、マイクロコンピ
ュータ１２に取り込まれる。
光電変換部としての光電子増倍管、６は試料３からの透
過光を受光して電気信号に変換する光電変換部としての
光電子増倍管である。光電子増倍管４又は６の出力信号
は増幅器８で増幅され、信号変換部としてのＡ／Ｄ変換
器１０でデジタル信号に変換された後、マイクロコンピ
ュータ１２に取り込まれる。
マイクロコンピュータ１２は取り込んだ信号から粗走査
時のピーク位置検出と本走査時のデータ処理を行なう。
時のピーク位置検出と本走査時のデータ処理を行なう。
１４はマイクロコンピュータ１２によるデータ処理結果
を表示するプリンタ、１６はＣＲＴである。
を表示するプリンタ、１６はＣＲＴである。
マイクロコンピュータ１２は、本発明におけるデータ処
理部、ピーク処理部、メモリ、ステージ制御部及びモー
ド切換え部を実現する。
理部、ピーク処理部、メモリ、ステージ制御部及びモー
ド切換え部を実現する。
次に、本実施例の動作を第２図ないし第７図を参照して
説明する。
説明する。
光学系２による試料３の照射位置が走査開始点へくるよ
うに試料ステージ２０を位置決めする（ステップＳ
１）。測定モードを粗走査モードに設定する（ステップ
Ｓ２）。これにより試料ステージ２０はマイクロコンピ
ュータ１２の制御を受けて、第４図に示されるように、
Ｘ方向を固定しＹ方向送りを大きくとってスポット３０
の列のリニア走査を積算なしで行なう（ステップＳ
３）。
うに試料ステージ２０を位置決めする（ステップＳ
１）。測定モードを粗走査モードに設定する（ステップ
Ｓ２）。これにより試料ステージ２０はマイクロコンピ
ュータ１２の制御を受けて、第４図に示されるように、
Ｘ方向を固定しＹ方向送りを大きくとってスポット３０
の列のリニア走査を積算なしで行なう（ステップＳ
３）。
このリニア走査により光電子増倍管４又は６により第５
図に示されるような反射光強度又は透過光強度の波形が
検出される。マイクロコンピュータ１２はこの波形から
各ピークについてピーク開始位置ｙ１，ピークトップ位
置ｙ２及びピーク終了位置ｙ３というピーク位置を求め
るピーク処理を行なう（ステップＳ４）。このピーク処
理は、例えば第５図のような波形を微分し、微分値によ
り行なうことができる。
図に示されるような反射光強度又は透過光強度の波形が
検出される。マイクロコンピュータ１２はこの波形から
各ピークについてピーク開始位置ｙ１，ピークトップ位
置ｙ２及びピーク終了位置ｙ３というピーク位置を求め
るピーク処理を行なう（ステップＳ４）。このピーク処
理は、例えば第５図のような波形を微分し、微分値によ
り行なうことができる。
次に、このピーク処理で求められたピーク範囲ｙ１〜ｙ
３を第６図に示されるＹ１〜Ｙ３のように適当量だけ広
げ（ステップＳ５）、この広げられたピーク範囲を各ピ
ークについてメモリに記憶する（ステップＳ６）。
３を第６図に示されるＹ１〜Ｙ３のように適当量だけ広
げ（ステップＳ５）、この広げられたピーク範囲を各ピ
ークについてメモリに記憶する（ステップＳ６）。
次に、再び照射位置を試料の走査開始点へ位置決めし、
測定モードを本走査モードに設定する（ステップＳ
７）。マイクロコンピュータ１２ではメモリから最初の
ピーク位置を読み出し（ステップＳ８）、試料ステージ
２０をそのピーク位置まで移動させ、第７図に示される
ピーク範囲Ａ１について本来のジグザグ走査を行ない、
検出信号を取り込んでデータ処理を行なう（ステップＳ
９，Ｓ１０）。このジグザグ走査及びデータ処理は従来
から行なわれているものである。
測定モードを本走査モードに設定する（ステップＳ
７）。マイクロコンピュータ１２ではメモリから最初の
ピーク位置を読み出し（ステップＳ８）、試料ステージ
２０をそのピーク位置まで移動させ、第７図に示される
ピーク範囲Ａ１について本来のジグザグ走査を行ない、
検出信号を取り込んでデータ処理を行なう（ステップＳ
９，Ｓ１０）。このジグザグ走査及びデータ処理は従来
から行なわれているものである。
第１のピーク範囲Ａ１のジグザグ走査が終了するとマイ
クロコンピュータ１２は次のピーク位置を読み出し、同
じようにジグザグ走査によるデータ処理を行なって行
く。このようにして、第７図にＡ１，Ａ２，Ａ３，……
で示されるピーク範囲のジグザグ走査が全てのピークに
ついて終了するまで、順次繰り返されて行く（ステップ
Ｓ１１）。
クロコンピュータ１２は次のピーク位置を読み出し、同
じようにジグザグ走査によるデータ処理を行なって行
く。このようにして、第７図にＡ１，Ａ２，Ａ３，……
で示されるピーク範囲のジグザグ走査が全てのピークに
ついて終了するまで、順次繰り返されて行く（ステップ
Ｓ１１）。
以上の処理によりジグザグ走査を行なう範囲がスポット
のある領域のみに制限され、大部分を占めるバックグラ
ンド領域はジグザグ走査の対象から除外され、走査時間
が短縮される。
のある領域のみに制限され、大部分を占めるバックグラ
ンド領域はジグザグ走査の対象から除外され、走査時間
が短縮される。
以上の実施例では、ジグザグ走査を行なう本走査範囲を
スポットを含むピーク範囲のみに絞り、ピーク範囲以外
の領域では全く本走査を行なっていない。しかし、例え
ば、ピーク範囲以外の領域でもジグザグ走査は行なうが
そのＹ方向送りを大きくしたり、積算回数を減らすよう
にしてもよい。このような操作によっても走査時間を短
縮することができる。
スポットを含むピーク範囲のみに絞り、ピーク範囲以外
の領域では全く本走査を行なっていない。しかし、例え
ば、ピーク範囲以外の領域でもジグザグ走査は行なうが
そのＹ方向送りを大きくしたり、積算回数を減らすよう
にしてもよい。このような操作によっても走査時間を短
縮することができる。
（発明の効果） 本発明のクロマトスキャナは、光学系、光電変換部、信
号変換部、及びマイクロコンピュータにより駆動が制御
される試料ステージ、並びにマイクロコンピュータによ
り実現されるデータ処理部、ピーク処理部、メモリ、ス
テージ制御部及びモード切換え部を備え、粗調査によっ
て精度の高い本走査を行なう範囲を自動的に制限するよ
うに動作するので、スポットのないバックグランド部で
の走査時間が短縮され、定量精度を下げずに走査時間を
大幅に短縮することができる。
号変換部、及びマイクロコンピュータにより駆動が制御
される試料ステージ、並びにマイクロコンピュータによ
り実現されるデータ処理部、ピーク処理部、メモリ、ス
テージ制御部及びモード切換え部を備え、粗調査によっ
て精度の高い本走査を行なう範囲を自動的に制限するよ
うに動作するので、スポットのないバックグランド部で
の走査時間が短縮され、定量精度を下げずに走査時間を
大幅に短縮することができる。
第１図は本発明の構成を示すブロック用、第２図は本発
明の一実施例を示す概略図、第３図は一実施例の動作を
示すフローチャート、第４図は同実施例における粗走査
のリニア走査を示す図、第５図はリニア走査で得られる
検出波形を示す図、第６図はメモリに記憶されるピーク
範囲を示す図、第７図は同実施例における本走査範囲を
示す図、第８図はＴＬＣプレートを示す図、第９図は電
気泳動ゲルを示す図、第１０図は従来のジグザグ走査を
示す図である。 ２……光学系、 ４，６……光電子増倍管、 １０……Ａ／Ｄ変換器、 １２……マイクロコンピュータ、 １８……メモリ、 ２０……試料ステージ。
明の一実施例を示す概略図、第３図は一実施例の動作を
示すフローチャート、第４図は同実施例における粗走査
のリニア走査を示す図、第５図はリニア走査で得られる
検出波形を示す図、第６図はメモリに記憶されるピーク
範囲を示す図、第７図は同実施例における本走査範囲を
示す図、第８図はＴＬＣプレートを示す図、第９図は電
気泳動ゲルを示す図、第１０図は従来のジグザグ走査を
示す図である。 ２……光学系、 ４，６……光電子増倍管、 １０……Ａ／Ｄ変換器、 １２……マイクロコンピュータ、 １８……メモリ、 ２０……試料ステージ。
Claims (1)
- 【請求項１】試料に光照射を行なう光学系と、 試料からの反射光又は透過光を受光して電気信号に変換
する光電変換部と、 この光電変換部からの出力信号をデジタル信号に変換す
る信号変換部と、 本走査時にこの信号変換部の出力信号を処理して出力す
るデータ処理部と、 粗走査時に前記信号変換部の出力信号からピークの位置
を検出するピーク処理部と、 このピーク処理部で検出されたピークの位置を記憶する
メモリと、 試料を移動させる試料ステージと、 粗走査時には予め設定された移動様式により、本走査時
には前記メモリに記憶されたピークの位置に従って前記
試料ステージの駆動を制御するステージ制御部と、 本走査時と粗走査時とで前記データ処理部、ピーク処理
部及びステージ制御部の動作を切り換えるモード切換え
部と、を備えたクロマトスキャナ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10548085A JPH0629847B2 (ja) | 1985-05-16 | 1985-05-16 | クロマトスキヤナ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10548085A JPH0629847B2 (ja) | 1985-05-16 | 1985-05-16 | クロマトスキヤナ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61262635A JPS61262635A (ja) | 1986-11-20 |
| JPH0629847B2 true JPH0629847B2 (ja) | 1994-04-20 |
Family
ID=14408749
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10548085A Expired - Lifetime JPH0629847B2 (ja) | 1985-05-16 | 1985-05-16 | クロマトスキヤナ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0629847B2 (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2869250B2 (ja) * | 1992-05-15 | 1999-03-10 | 三菱電機株式会社 | 自動車の制御装置 |
| JP4188538B2 (ja) * | 2000-04-12 | 2008-11-26 | 浜松ホトニクス株式会社 | 免疫クロマト試験片の測定装置 |
| JP4188537B2 (ja) | 2000-04-12 | 2008-11-26 | 浜松ホトニクス株式会社 | 免疫クロマト試験片の測定装置 |
| US7173704B2 (en) | 2003-02-26 | 2007-02-06 | Hamamatsu Photonics K.K. | Measuring device for immunochromatography test piece and light source device |
| US7173705B2 (en) | 2003-02-26 | 2007-02-06 | Hamamatsu Photonics K.K. | Measuring device for immunochromatography test piece |
| JP5762214B2 (ja) * | 2011-08-19 | 2015-08-12 | 株式会社Ｓｃｒｅｅｎホールディングス | 電磁波パルス測定装置 |
-
1985
- 1985-05-16 JP JP10548085A patent/JPH0629847B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61262635A (ja) | 1986-11-20 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0401821B1 (en) | Electrophoresis pattern reading system of fluorescence type | |
| JPH0743353B2 (ja) | 蛍光検出型ゲル電気泳動装置 | |
| JPH0629847B2 (ja) | クロマトスキヤナ | |
| EP0840113A2 (en) | Microchip electrophoretic method and apparatus | |
| US4150899A (en) | Densitometer | |
| EP0437968B1 (en) | Video densitometer | |
| US5194949A (en) | Video densitometer | |
| JPH0776744B2 (ja) | 空間的に展開された試料パターン測定装置 | |
| JPS5942684Y2 (ja) | デンシトメ−タ | |
| JPH0578780B2 (ja) | ||
| NZ262032A (en) | Video camera measurement of colour composition integrated densities of irregularly shaped areas | |
| JPS6342221B2 (ja) | ||
| JPH0515718Y2 (ja) | ||
| JPH01155242A (ja) | クロマトスキャナのデータ処理方法 | |
| JPH0723865B2 (ja) | クロマトスキヤナ | |
| JPH0680416B2 (ja) | デンシトグラムの表示方法 | |
| JP3060001B2 (ja) | 蛍光式電気泳動パターン読み取り装置 | |
| JPS61155731A (ja) | クロマトスキヤナの測光信号処理回路 | |
| JPS5845540A (ja) | デンシトメ−タ−における検体の中心部検出方法 | |
| JP3112359B2 (ja) | ゲル電気泳動装置 | |
| JPS62294940A (ja) | クロマトスキヤナ | |
| JPH0781828B2 (ja) | レーザ位置検出装置 | |
| JPH0319947B2 (ja) | ||
| JPS61182552A (ja) | 泳動パターンの記録方法 | |
| JPH0440825B2 (ja) |