JPH06284705A - 上昇率を制御するチャージ・ポンプ - Google Patents
上昇率を制御するチャージ・ポンプInfo
- Publication number
- JPH06284705A JPH06284705A JP4058694A JP4058694A JPH06284705A JP H06284705 A JPH06284705 A JP H06284705A JP 4058694 A JP4058694 A JP 4058694A JP 4058694 A JP4058694 A JP 4058694A JP H06284705 A JPH06284705 A JP H06284705A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- terminal
- voltage
- charge pump
- inverter
- gate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/30—Power supply circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/10—Programming or data input circuits
- G11C16/12—Programming voltage switching circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C5/00—Details of stores covered by group G11C11/00
- G11C5/14—Power supply arrangements, e.g. power down, chip selection or deselection, layout of wirings or power grids, or multiple supply levels
- G11C5/145—Applications of charge pumps; Boosted voltage circuits; Clamp circuits therefor
-
- H—ELECTRICITY
- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02M—APPARATUS FOR CONVERSION BETWEEN AC AND AC, BETWEEN AC AND DC, OR BETWEEN DC AND DC, AND FOR USE WITH MAINS OR SIMILAR POWER SUPPLY SYSTEMS; CONVERSION OF DC OR AC INPUT POWER INTO SURGE OUTPUT POWER; CONTROL OR REGULATION THEREOF
- H02M3/00—Conversion of DC power input into DC power output
- H02M3/02—Conversion of DC power input into DC power output without intermediate conversion into AC
- H02M3/04—Conversion of DC power input into DC power output without intermediate conversion into AC by static converters
- H02M3/06—Conversion of DC power input into DC power output without intermediate conversion into AC by static converters using resistors or capacitors, e.g. potential divider
- H02M3/07—Conversion of DC power input into DC power output without intermediate conversion into AC by static converters using resistors or capacitors, e.g. potential divider using capacitors charged and discharged alternately by semiconductor devices with control electrode, e.g. charge pumps
- H02M3/073—Charge pumps of the Schenkel-type
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Dc-Dc Converters (AREA)
- Read Only Memory (AREA)
- Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
Abstract
提供する。 【構成】 チャージ・ポンプ65,RC微分回路25
8,およびトリガ回路238を含むものである。チャー
ジ・ポンプ65はクロック信号を受信し、EEPROM
の書き込みおよび消去のために高い出力電圧を出す。R
C微分回路258はこの高い出力電圧の上昇率に比例す
る制御電圧を出す。トリガ回路238は制御電圧を受け
取り、上昇率が設定した率を超えるときはチャージ・ポ
ンプ65をディスエーブルするための制御信号を出す。
上昇率が設定した率を下回るときは、トリガ回路238
はチャージ・ポンプ65をイネーブルするための制御信
号を出す。トリガ回路238にはそのスイッチング・ポ
イントを調整するヒステリシスがある。出力電圧の上昇
率を制御することによりEEPROMセルのピーク・ト
ンネリング電流が減少するので信頼性が向上する。
Description
ンプに関し、さらに特定すれば、上昇率を制御したチャ
ージ・ポンプに関するものである。
は、プログラムの書き換え可能な不揮発性メモリの一種
である。EEPROMセルはアレイ状に配列され、横列
と縦列の交差するところに位置している。EEPROM
セルは一般的にフローティングゲート・トランジスタお
よび選択用トランジスタとから成る。フローティングゲ
ート・トランジスタは制御電極を接地し、ドレイン電圧
を上げることによってプログラムを書き込むことができ
る。トンネリングにより電子が基板から薄いトンネリン
グ酸化層を通ってフローティング・ゲートに移動する。
トンネリングを引き起こすためには18−20ボルトも
のプログラミング電圧パルスが必要である。フローティ
ング・ゲート上に電荷が増えると電場が減少し電子の流
れが減る。プログラミングの間、同じ縦の列に位置して
いて選択されないEEPROMを分離するために選択用
トランジスタが使用される。EEPROMセルの消去は
高いプログラミング電圧パルスをフローティングゲート
・トランジスタの制御電極に印加することによって成し
遂げられる。
ラムを書き込むことのできる回数には限度があり、この
回数を超えると過剰なストレスにより故障が起こる。こ
の過剰ストレスの原因は高いプログラミング電圧パルス
である。ピーク・トンネリング電流はEEPROMの信
頼性と寿命に直接関係があり、プログラミング電圧パル
スの上昇率に関連している。プログラミング電圧パルス
の上昇率が高過ぎる場合、ピーク・トンネリング電流が
薄い酸化層に過剰なストレスを与え、その結果信頼性が
低下し寿命が短くなる。
集積回路上にあるチャージ・ポンプはプログラミング電
圧パルスの発生に使用される。このチャージ・ポンプに
は通常直列に接続された複数のポンプ・ステージがあ
り、それらは2つのノンオーバーラッピング・クロック
信号で駆動される。直列に接続されたポンプ・ステージ
はクロック信号の振幅を増大させる。チャージ・ポンプ
の出力端子に得られる実際の電圧はポンプ・ステージの
数とそのポンプ・ステージの電荷の移動効率に依存す
る。プログラミング電圧パルスをEEPROMセルに印
加することに加えて、チャージ・ポンプはデコーディン
グを援助するためにも使用されるであろう。それゆえ
に、チャージ・ポンプは、プログラミング電圧パルスの
上昇率に影響する多様な負荷条件にさらされる。重い負
荷状態では上昇率は比較的低いであろう。負荷が突然軽
減されると上昇率は急激に増大し、フローティングゲー
ト・トランジスタのトンネリング酸化層に過剰なストレ
スをかける。
的は、チャージ・ポンプ,RC微分回路,およびトリガ
回路から成る、上昇率を制御したチャージ・ポンプの1
つの形態を提供するものである。このチャージ・ポンプ
はクロック信号を受信し、それに応答してそのクロック
信号の大きさよりも大きい出力電圧を与えるものであ
る。RC微分回路はチャージ・ポンプに結合しており、
出力電圧の受け取りに応答して、RC微分回路はこの出
力電圧の上昇率に比例する制御電圧を出す。
り、制御電圧を受け取る。トリガ回路は設定したスイッ
チング・ポイント以上に増加する制御電圧に応答して第
1制御信号を与え、チャージ・ポンプをディスエーブル
する。また、トリガ回路は設定したスイッチング・ポイ
ント以下に減少する制御電圧に応答して第2制御信号を
与え、チャージ・ポンプをエネーブルする。これらの、
また他の特徴および利点は、添付の図面と共になされる
下記の詳細説明によってさらに明白に理解されるであろ
う。
ジ・ポンプ200を一部を論理図で、一部を配線図で示
したものである。上昇率を制御したチャージ・ポンプ2
00はNAND論理ゲート210,216、インバータ
211,214,218,236、チャージ・ポンプ6
5、周波数分割回路220、トリガ回路238,RC微
分回路258、およびクロック制御論理回路268を含
む。周波数分割回路220は直列に接続されたDタイプ
・フリップ・フロップ222〜229を含む。トリガ回
路238はPチャネル型トランジスタ240,242,
244,248、Nチャネル型トランジスタ246,2
50、およびバッファ/インバータ回路251を含む。
バッファ/インバータ回路251はインバータ252,
253,254,256を含む。RC微分回路258は
MOS(金属酸化物半導体)コンデンサ260,切り換
えられたコンデンサ261を含む。切り換えられたコン
デンサ261はNチャネル型トランジスタ262,26
4,およびコンデンサ266を含む。クロック制御論理
回路はNAND論理ゲート270,282、およびイン
バータ272,274,276,278,280,28
4,286,288,290を含む。
う名前の外部クロック信号を受信するための第1入力端
子,第2入力端子,第3入力端子,および出力端子を有
する。インバータ211はNAND論理ゲート210の
出力端子に接続された入力端子、および出力端子を有す
る。チャージ・ポンプ65はインバータ211の出力端
子に接続された第1入力端子,第2入力端子,および
「VPP」という名前の出力電圧を出力する出力端子を有
する。インバータ214はNAND論理ゲート210の
第2入力端子に接続された入力端子、およびチャージ・
ポンプ65の第2入力端子に接続された出力端子を有す
る。NAND論理ゲート216はNAND論理ゲート2
10の第1入力端子に接続された第1入力端子、「反転
PMPSTOP」という名前のポンプ・ストップ信号を
受信するための第2入力端子、および出力端子を有す
る。インバータ218はNAND論理ゲート216の出
力端子に接続された入力端子、および出力端子を有す
る。Dタイプ・フリップ・フロップ222〜229はそ
れぞれ「D」という名前の入力端子、「K」および「反
転K」という名前のクロック入力端子、および「Q」お
よび「反転Q」という名前の出力端子を有する。Dタイ
プ・フリップ・フロップ222はインバータ218の出
力端子に接続されたクロック端子K、およびNAND論
理ゲート216の出力端子に接続されたクロック端子反
転Kを有する。信号名または端子名の上の棒線は、その
信号または端子が同名で棒線のない信号または端子の論
理補数であることに注意すべきである。フリップ・フロ
ップ222〜229のそれぞれは入力端子Dに接続され
た出力端子反転Qを有する。フリップ・フロップ222
はフリップ・フロップ223のクロック端子Kに接続さ
れた出力端子Qを有し、フリップ・フロップ223はフ
リップ・フロップ224のクロック端子Kに接続された
出力端子Qを有し、以下同様である。フリップ・フロッ
プ222はフリップ・フロップ223のクロック端子反
転Kに接続された出力端子反転Qを有し、フリップ・フ
ロップ223はフリップ・フロップ224のクロック端
子反転Kに接続された出力端子反転Qを有し、以下同様
である。インバータ236はNAND論理ゲート216
の第2入力端子に接続された入力端子、および出力端子
を有する。
スタ246は「VDD」という名前の正の電源電圧端子に
接続されたドレイン、インバータ236の出力端子に接
続されたゲート、およびノード201に接続されたソー
スを有する。Pチャネル型トランジスタ240はVDDに
接続されたソース、インバータ214の出力端子に接続
されたゲート、およびドレインを有する。Pチャネル型
トランジスタ242はPチャネル型トランジスタ240
のドレインに接続されたソース、ゲート、およびドレイ
ンを有する。Pチャネル型トランジスタ244はPチャ
ネル型トランジスタ240のドレインに接続されたソー
ス、「VSS」という名前の負の電源電圧端子に接続され
たゲート、およびPチャネル型トランジスタ242のド
レインに接続されたドレインを有する。Pチャネル型ト
ランジスタ248はPチャネル型トランジスタ242,
244のドレインに接続されたソース、VSSに接続され
たゲート、およびノード202に接続されたドレインを
有する。Nチャネル型トランジスタ250はPチャネル
型トランジスタ248のドレインとノード202で接続
されたドレイン、Nチャネル型トランジスタ246のソ
ースとノード201で接続されたゲート、およびVSS
に接続されたソースを有する。インバータ252はPチ
ャネル型トランジスタ248のドレインに接続された入
力端子、および出力端子がある。インバータ253はイ
ンバータ252の出力端子に接続された入力端子、およ
び出力端子を有する。インバータ254はインバータ2
53の出力端子に接続された入力端子、および出力端子
を有する。インバータ256はインバータ254の出力
端子に接続された入力端子、およびNAND論理ゲート
210の第3入力端子に接続された出力端子を有する。
60はチャージ・ポンプ65の出力端子に接続されて出
力電圧VPPを受け取るための第1端子、およびNチャネ
ル型トランジスタ246のソースとノード201で接続
された第2端子を有する。Nチャネル型トランジスタ2
62はNチャネル型トランジスタ246のソースとノー
ド201で接続されたドレイン、ゲート、およびソース
を有する。Nチャネル型トランジスタ264はNチャネ
ル型トランジスタ262のソースに接続されたドレイ
ン、ゲート、およびVSSに接続されたソースを有する。
コンデンサ266はNチャネル型トランジスタ264の
ドレインに接続された第1端子、Nチャネル型トランジ
スタ264のソースに接続された第2端子を有する。ク
ロック制御論理回路268のNAND論理ゲート270
はフリップ・フロップ229の出力端子Qに接続された
第1入力端子、第2入力端子、および出力端子を有す
る。インバータ272はNAND論理ゲート270の出
力端子に接続された入力端子、および出力端子を有す
る。インバータ274はインバータ272の出力端子に
接続された入力端子、および出力端子を有する。インバ
ータ276はインバータ274の出力端子に接続された
入力端子、およびNチャネル型トランジスタ262のゲ
ートに接続されてクロック信号K1を出力するための出
力端子を有する。インバータ278はインバータ276
の出力端子に接続された入力端子、及び出力端子を有す
る。インバータ280はNAND論理ゲート270の第
1入力端子に接続された入力端子、および出力端子を有
する。NAND論理ゲート282はインバータ278の
出力端子に接続された第1入力端子、インバータ280
の出力端子に接続された第2入力端子、および出力端子
を有する。インバータ284はNAND論理ゲート28
2の出力端子に接続された入力端子、および出力端子を
有する。インバータ286はインバータ284の出力端
子に接続された入力端子、および出力端子を有する。イ
ンバータ288はインバータ286の出力端子に接続さ
れた入力端子、およびNチャネル型トランジスタ264
のゲートに接続されてクロック信号K2を出力するため
の出力端子を有する。インバータ290はインバータ2
88の出力端子に接続された入力端子、およびNAND
論理ゲート270の第2入力端子に接続された出力端子
を有する。
は、ポンプ・ストップ信号反転PMPSTOPが論理高のと
きイネーブルにされて出力電圧VPPを出力する。外部ク
ロック信号KEXTはNAND論理ゲート210およびイ
ンバータ211を通じてチャージ・ポンプ65に与えら
れる。チャージ・ポンプ65の好適実施例を図2に示
す。しかしながら、チャージ・ポンプ65は、約18〜
20ボルトの大きさをもつ出力電圧VPPを発生させるこ
とができればいかなる種類の高電圧チャージ・ポンプで
あってもよい。出力電圧VPPの上昇率はRC微分回路2
58によって制御される。RC微分回路258およびト
リガ回路238は出力電圧VPPを受け取り、フィードバ
ック制御信号を出して実際の上昇率が設定した上昇率を
超えた場合にチャージ・ポンプ65をディスエーブルに
する。チャージ・ポンプ65によるチャージの注入停止
とチャージの注入開始との間の電位差はヒステリシスを
用いて決定される。さらに、ノイズや他の過渡的な信号
の影響を抑えるためにもヒステリシスが用いられる。出
力電圧VPPの上昇率を制御することには、EEPROM
セルの書き換え時にピーク・トンネリング電流を減少さ
せるという利点がある。書き換え時にピーク・トンネリ
ング電流を減少させることによってEEPROMセルに
かかる過剰なストレスが回避され、従ってEEPROM
の信頼性が向上する。
8は、出力電圧VPPの上昇率を設定した上昇率に抑え
る。好適実施例では、この設定した上昇率は約35,0
00ボルト/秒である。上昇率、すなわち立上り時間は
RC時間定数を変えることによって調整することができ
る。「C」すなわちRC微分回路258の静電容量はM
OSコンデンサ260から与えられる。好適実施例で
は、MOSコンデンサ260はPチャネル型トランジス
タで、そのドレインおよびソース端子は互いに接続され
て第1端子となっており、ゲートが第2端子となってい
るものである。他の実施例では他のタイプのコンデンサ
を使用することができる。「R」すなわちRC微分回路
258の抵抗は切り換えられたコンデンサ261から与
えられる。切り換えられたコンデンサ261はNチャネ
ル型トランジスタ262,264のゲートで、ノンオー
バラッピング・クロック信号を受信する。Nチャネル型
トランジスタ262,264は、コンデンサ266の接
地およびノード201への接続を交互に行うスイッチの
役割をする。このRC時間定数は約600マイクロ秒で
ある。しかしながら、時間定数は、クロック信号K1,
K2の周波数を変更するか、コンデンサ266または2
60の静電容量を変更することによって変更することが
できる。好適実施例では切り換えられたコンデンサ26
1の実効抵抗は約20メガオームである。他の実施例に
おいては、RC微分回路238に抵抗を与えるための別
の手段として、値の大きい抵抗またはMOSトランジス
タといったものが可能である。しかしながら、値の大き
い抵抗は、切り換えられたコンデンサよりも実質的に広
い面積を集積回路上に必要とするであろう。また、コン
デンサ266の静電容量は、値の大きい抵抗やMOSト
ランジスタの抵抗値よりも容易に制御することができ
る。
ンバータ218の出力端子からフリップ・フロップ22
2〜229のそれぞれの入力端子Dにおいて受信する。
周波数分割回路220は一般的な周波数分割器であり、
8個のDタイプ・フリップ・フロップが直列に接続され
ているので、フリップ・フロップ229の出力端子Q
に、外部クロック信号KEXTの周波数よりもほぼ2の8
乗低い周波数をもつクロック信号を出す。フリップ・フ
ロップ229の出力端子Qに出されるクロック信号の周
波数は、周波数分割器220のフリップ・フロップの数
を減少または増加させることによってそれぞれ上方また
は下方に調節することができる。外部クロック信号KE
XTはシステム・クロックまたは別個の発振回路から与
えられる。
出力電圧VPPの上昇率に比例する制御電圧を出す。ノー
ド201の電圧は次式で表すことができる。 V201=RC(dVpp/dt) ここでV201はノード201の制御電圧を表し、Rは切
り換えられたコンデンサ261の抵抗を表し、Cはコン
デンサ260の静電容量を表す。それゆえに、ノード2
01の制御電圧は出力電圧VPPの変化率に比例してお
り、ヒステリシス付きで設定したスイッチ・ポイントを
もつトリガ回路238に受け取られる。ヒステリシスは
インバータ254の出力端子とPチャネル型トランジス
タ242のゲートとの間のフィードバック・パスによっ
て与えられる。好適実施例のヒステリシス電圧は約20
0ミリボルトである。
電圧がNチャネル型トランジスタ250のスイッチング
・ポイントよりも低い時は、出力電圧VPPの上昇率が設
定した率よりも小さいことを示しているのでNチャネル
型トランジスタ250は実質的に非導電性である。ノー
ド202の電圧は論理高電圧であり、トリガ回路238
は論理高制御信号をNAND論理ゲート210の第3入
力端子に与えてチャージ・ポンプをイネーブルに、すな
わち活性化する。Pチャネル型トランジスタ244,2
48は比較的弱く受動的な負荷となり、またPチャネル
型トランジスタ242はトリガ回路238のヒステリシ
スを与える。ノード202の電圧が論理高の時、インバ
ータ254の出力端子の電圧は論理低である。Pチャネ
ル型トランジスタ242は導電性であり、Pチャネル型
トランジスタ242,244,248の電圧降下を減少
させる。これによりノード202の電圧がさらに上昇
し、トリガ回路238が過渡状態およびノイズに対する
抵抗力を増すので、トリガ回路238の設定スイッチ・
ポイントのプラス・マイナス約100ミリボルトずつの
変化が有効に行われる。ノード201の電圧は比較的小
さい電圧変動を持ち、Nチャネル型トランジスタ250
のしきい値電圧に実質的に中心を置いている。インバー
タ252,253,254,256は、チャージ・ポン
プ65の活性化および不活性化を確実に行うための電圧
変動が十分にあるようにするためのバッファの役割を果
たす。
と増加する可能性がある。出力電圧VPPの上昇率が設定
した上昇率以上に増加すると、ノード201の制御電圧
がNチャネル型トランジスタ250のスイッチング・ポ
イント以上に増加する。Nチャネル型トランジスタ25
0は導電性となり、その結果インバータ252の入力端
子のノード202にに論理負が与えられる。トリガ回路
238は論理負の制御信号をNAND論理ゲート210
の第3入力端子に与えて出力電圧VPPの上昇率が設定し
た上昇率以下に減少するまでチャージ・ポンプ65をデ
ィスエーブル、すなわち不活性にする。インバータ25
4の出力端子の電圧は論理高の電圧であり、Pチャネル
型トランジスタ242を実質的に非導電性にする。これ
によりPチャネル型トランジスタ242,244,24
8の電圧降下が拡大し、従ってノード202の電圧がさ
らに減少し、ノード202の電圧が低く保たれることに
なるのである。トリガ回路238は、シュミット・トリ
ガのように、ほとんどいかなる種類のトリガ回路であっ
てもよい。
回路238にイネーブル機能を与え、ポンプ・ストップ
信号反転PMPSTOPが論理高のとき導電性となる。反転
PMPSTOPが論理低のときは、上昇率を制御したチャー
ジ・ポンプ200はディスエーブルにされる。出力電圧
VPPは実質的にVDDに減少される。Pチャネル型トラン
ジスタ240は実質的に非導電性であり、上昇率を制御
したチャージ・ポンプ200がディスエーブルにされて
いるときはDC電流がトリガ回路238を流れるのを防
いで消費電力を減らす。Nチャネル型トランジスタ24
6は導電性となり、Nチャネル型トランジスタ262,
264のドレインでの注入による「ラッチ・アップ」の
起こる可能性を防ぐ。
を一部をブロック図で、一部を配線図で、一部を論理図
で示したものである。チャージ・ポンプ65には直列に
接続されたポンプ・ステージ66、プレドライバ論理回
路68、およびポンプ・ドライバ回路70,72があ
る。ポンプ・ドライバ回路70は、直列に接続されたポ
ンプ・ステージ66に「KBST1」という名前の増幅され
たクロック信号を出す。ポンプ・ドライバ回路72は、
直列に接続されたポンプ・ステージ66に「KBST2」と
いう名前の増幅されたクロック信号を出す。直列に接続
されたポンプ・ステージ66にはNチャネル型トランジ
スタ73,74,ポンプ・ステージ75〜80,および
コンデンサ81〜86がある。プレドライバ論理回路6
8にはインバータ87,91,95,96,フリップ・
フロップ88,89,NOR論理ゲート92,93,お
よびNAND論理ゲート94,97がある。好適実施例
においては、全てのNチャネル型およびPチャネル型ト
ランジスタはMOS(金属酸化物半導体)トランジスタ
である。
は、Nチャネル型トランジスタ73には「VDD」と呼ば
れる電源電圧端子に接続されたゲートおよびドレイン、
およびソースがある。Nチャネル型トランジスタ74に
はVDDに接続されたドレイン、Nチャネル型トランジス
タ73のドレインに接続されたソース、およびゲートが
ある。Nチャネル型トランジスタ73,74は直列に接
続されたポンプ・ステージ66の第1ポンプ・ステージ
となる。ポンプ・ステージ75〜80にはそれぞれ「I
N」という名前の入力端子、「OUT」という名前の出
力端子、および「K」という名前のクロック端子があ
る。ポンプ・ステージ75の入力端子INはNチャネル
型トランジスタ73,74のソースに接続されてVIと
いう名前の入力電圧を受取り、ポンプ・ステージ75の
出力端子OUTは「VO1」という名前の電圧をポンプ・
ステージ76の入力端子INに出す。ポンプ・ステージ
76の出力端子OUTは「VO2」という名前の電圧をポ
ンプ・ステージ77の入力端子INに出す、等々であ
る。ポンプ・ステージ80の出力端子OUTは「VPP」
という名前の増幅された出力電圧を出す。ポンプ・ステ
ージ75〜80はそれぞれ図3の従来技術によるポンプ
・ステージ55と同じものである。
タ73,74のドレインに接続された第1端子、および
増幅されたクロック信号KBST2を受信するための第2端
子を有する。コンデンサ82はポンプ・ステージ76の
入力端子INに接続された第1端子、および増幅された
クロック信号KBST1を受信するための第2端子を有す
る。コンデンサ83はポンプ・ステージ77の入力端子
INに接続された第1端子、および増幅されたクロック
信号KBST2を受信するための第2端子を有する。コンデ
ンサ84はポンプ・ステージ78の入力端子INに接続
された第1端子、および増幅されたクロック信号KBST1
を受信するための第2端子を有する。コンデンサ85は
ポンプ・ステージ79の入力端子INに接続された第1
端子、および増幅されたクロック信号KBST2を受信する
ための第2端子を有する。コンデンサ86にはポンプ・
ステージ80の入力端子INに接続された第1端子、お
よび増幅されたクロック信号KBST1を受信するための第
2端子を有する。
EXTという名前の単一終端の外部クロック信号がインバ
ータ87の入力端子およびDタイプ・フリップ・フロッ
プ88,89の「K」という名前のクロック端子に出さ
れる。インバータ87の出力端子は「反転K」という名
前のフリップ・フロップ88,89のクロック端子に接
続されている。フリップ・フロップ88,89はそれぞ
れ「D」という名前の入力端子を持ち、フリップ・フロ
ップ88の「反転Q」という名前の反転出力端子に接続
される。インバータ91はフリップ・フロップ88の
「Q」という名前の出力端子に結合した入力端子および
出力端子を有する。NOR論理ゲート92は「PMPST
OP」という名前の信号を受信するための第1入力端子、
インバータ91の出力端子に接続された第2入力端子、
および「KINT4」という名前の内部クロック信号を出力
するための出力端子を有する。NOR論理ゲート93は
信号PMPSTOPを受信するための第1入力端子、NOR
論理ゲート92の出力端子に接続された第2入力端子、
および「KINT2」という名前の内部クロック信号を出力
するための出力端子を有する。NAND論理ゲート94
はインバータ91の出力端子に接続された第1入力端
子、フリップ・フロップ89の出力端子Qに接続された
第2入力端子、および出力端子を有する。インバータ9
5はNAND論理ゲート94の出力端子に接続された入
力端子、および「KINT1」という名前の内部クロック信
号を出力するための出力端子を有する。インバータ96
はフリップ・フロップ89の出力端子Qに接続された入
力端子、および出力端子を有する。NAND論理ゲート
97はNOR論理ゲート92の出力端子に接続された第
1入力端子、インバータ96の出力端子に接続された第
2入力端子、および出力端子を有する。インバータ98
はNAND論理ゲート97の出力端子に接続された入力
端子、および「KINT3」という名前の内部クロック信号
を出力するための出力端子を有する。論理ゲートはそれ
ぞれ論理動作を表すのであって、単一のロジック・ゲー
トを表すのではないことに注意すること。
信号KINT1を受信するための第1入力端子、「INH
2」という名前の抑制信号を受信するための第2入力端
子、内部クロック信号KINT2を受信するための第3入力
端子、増幅されたクロック信号KBST1を出力するための
第1出力端子、および「INH1」という名前の抑制信
号を出力するための第2出力端子を有する。ポンプ・ド
ライバ回路72には内部クロック信号KINT3を受信する
ための第1入力端子、抑制信号INH1を受信するため
の第2入力端子、内部クロック信号KINT4を受信するた
めの第3入力端子、増幅されたクロック信号KBST2を出
力するための第1出力端子、および抑制信号INH2を
出力するための第2出力端子を有する。
でプレドライバ論理回路68に与えられる。好適実施例
では、外部クロック信号KEXTはシステム・クロックで
ある。フリップ・フロップ88,89は一般的なDタイ
プ・フリップ・フロップである。フリップ・フロップ8
8は周波数分割器として働き、その出力Qは外部クロッ
ク信号KEXTの半分の周波数を持つ。フリップ・フロッ
プ89は、外部クロック信号KEXTに関して90度の移
相を持つ信号を出力端子に出す。次に、フリップ・フロ
ップ88,89の出力端子QはNAND論理ゲート9
4,97,NOR論理ゲート92,93,およびインバ
ータ91,95,96,98によって組み合わされ、内
部クロック信号KINT1,KINT2,KINT3,KINT4を出
す。内部クロック信号KINT1,KINT2の波形を図6およ
び図7に示す。内部クロック信号KINT3は内部クロック
信号KINT1の補数であり、内部クロック信号KINT4は内
部クロック信号KINT2の補数である。NOR論理ゲート
92,93の第1入力端子は論理信号PMPSTOPを受信
する。論理信号PMPSTOPが論理高のとき、内部クロッ
ク信号KINT1,KINT2,KINT3,KINT4が論理低として
与えられているとチャージ・ポンプ65はディスエーブ
ルにされる。これにより、チャージ・ポンプ65は内部
クロック信号が既知の状態に初期化されていれば再スタ
ート可能となる。
れか2つの最高点または最低点の間の時間の長さであ
る。波形のデューティ・サイクルとは波形の全周期の間
で波形が高である時間の割合である。例えば、70%デ
ューティ・サイクルの波形は周期全体の70%が高で周
期の残りの30%が低である。50%デューティ・サイ
クルの波形は周期全体の50%が高で周期の残りの50
%が低である。また、20%デューティ・サイクルの波
形は周期全体の20%が高で周期の残りの80%が低で
ある。内部クロック信号KINT1,KINT3は2相のノンオ
ーバラッピング・クロック信号で約20〜25%のデュ
ーティ・サイクルを持つ。内部クロック信号KINT2,K
INT4は2相のノンオーバラッピング・クロック信号で約
50%のデューティ・サイクルを持つ。
2相のノンオーバラッピング・クロック信号としてポン
プ・ドライバ回路70,72からそれぞれ与えられる。
ポンプ・ドライバ回路70の実施例を図4および図5に
示す。図4のポンプ・ドライバ回路70はVDDの約2倍
の大きさの電圧変動を持つクロック信号KBST1を発生さ
せる。図5のポンプ・ドライバ回路70’はVDDの約3
倍の大きさに等しい電圧変動を持つクロック信号K’BS
T1を発生させる。それぞれの実施例は後に詳細に説明す
る。抑制信号INH1およびINH2により、増幅されたクロ
ック信号KBST1およびKBST2はノンオーバラッピングと
なる。
配線図を示す。ポンプ・ステージ55はポンプ・ステー
ジ75〜80のそれぞれの回路を表す。ポンプ・ステー
ジ55はNチャネル型トランジスタ56,58,60,
61、およびコンデンサ57,59を有する。ダイオー
ドに接続するNチャネル型トランジスタ56は互いに接
続されたゲートおよびドレイン,およびソースを有す
る。コンデンサ57はNチャネル型トランジスタ56の
ソースに接続された第1端子、および「IN」という名
前の入力端子に接続された第2端子を有する。Nチャネ
ル型トランジスタ58はコンデンサ57の第2端子に接
続されたゲートおよびドレイン、およびNチャネル型ト
ランジスタ56のゲートおよびドレインに接続されたソ
ースを有する。コンデンサ59はNチャネル型トランジ
スタ58のソースに接続された第1端子、および「K」
という名前のクロック端子に接続された第2端子を有す
る。ダイオードに接続されたNチャネル型トランジスタ
60はNチャネル型トランジスタ56のソースに接続さ
れたゲートおよびドレイン、およびコンデンサ57の第
2端子の接続されたソースを有する。Nチャネル型パス
・トランジスタ61は入力端子INに接続された第1ド
レイン/ソース端子、「OUT」という名前の出力端子
に接続された第2ドレイン/ソース端子、およびNチャ
ネル型トランジスタ56のソースに接続されたゲートを
有する。
ジスタ73,74(図2を参照)は直列に接続されたポ
ンプ・ステージ66のための第1ポンプ・ステージとし
て働き、ポンプ・ステージ75の入力端子INに入力電
圧端子VIを与える。Nチャネル型トランジスタ73は
ダイオードに接続され、コンデンサ81をVDDからしき
い値の電圧降下(VT)を差し引いたものに等しい電圧
にプレチャージする。増幅されたクロック信号KBST1が
論理高であり、増幅されたクロック信号KBST2が論理低
であるとき、Nチャネル型トランジスタは導電性であ
り、入力電圧VIは実質的にVDDに等しく、コンデンサ
81の第2端子の電位は0ボルト(すなわち接地電位)
である。増幅されたクロック信号KBST1は論理低とな
り、それによってNチャネル型トランジスタ74が実質
的に非導電性となり、また増幅されたクロック信号KBS
T2が(ノンオーバラップになるための遅延後に)論理高
となって、増幅されたクロック信号KBST2の電圧変動を
超えるVDDにほぼ等しい電圧に、入力電圧VIを増幅す
る。入力電圧VIはポンプ・ステージ75の入力端子I
Nに与えられる。
ポンプ・ステージ75,77,79のクロック端子Kに
与えられると、VTに等しいバイアス電圧がダイオード
に接続されたNチャネル型トランジスタ60に設定され
る(図3)。前のサイクル、すなわち増幅されたクロッ
ク信号KBST2が論理高であるとき、ポンプ・ステージ7
6,78,80の、ダイオードに接続されたNチャネル
型トランジスタ60は1VTバイアス電圧をそれらのポ
ンプ・ステージに設定していたのである。このバイアス
状態が設定されているので、増幅されたクロック信号K
BST2が論理高になると、入力電圧VIは増幅されたクロ
ック信号KBST1の電圧変動に等しい電圧だけ増幅され、
Nチャネル型パス・トランジスタ61(図3)を通じて
出力端子OUTに送られる。後続のポンプ・ステージは
それぞれ、増幅されたクロック信号KBST1およびKBST2
の電圧変動と実質的に等しい電圧だけ、入力端子に受け
取った電圧を増幅するのであるが、これはポンプ・ステ
ージ80の出力端子が約18から21ボルトに等しい増
幅された出力電圧VPPを出力するまで行われる。
接続されたポンプ・ステージ66にクロック信号を与え
ることにより、ポンプ・ステージ75〜80のバイアス
電圧は、VDDが低いときまたはポンプ・ステージ75〜
80のVTが比較的大きいときでさえも維持されるの
で、チャージの移動効率が向上する。好適実施例では、
コンデンサ81〜86は高電圧プレーナ・コンデンサで
ある。しかしながら、他の実施例ではMOSトランジス
タ・コンデンサやポリシリコン・コンデンサといった別
の種類のコンデンサを使用することもできる。
ート対ソース電圧(VGS)はパス・トランジスタ61を
導電性にするためにそのしきい値電圧(VT)以上でな
ければならない。Nチャネル型トランジスタ56,5
8,60、およびコンデンサ57,59から成るブート
ストラップ回路により、ポンプ・ステージ75〜80の
それぞれのNチャネル型パス・トランジスタ61のVGS
は、ブートストラッピングにより、またはパス・トラン
ジスタ61のゲート電圧を増幅することにより、VT以
上になる。これにより、より多くの電荷が各ポンプ・ス
テージを通過することになるのでチャージ・ポンプ10
の効率が上がる。
論理図で、一部を配線図で示したものである。ポンプ・
ドライバ回路70は制御論理回路110および電圧ブー
スティング回路112を有する。制御論理回路110は
Pチャネル型トランジスタ111、Nチャネル型トラン
ジスタ112,113、インバータ116,117,1
19,121,122,123,124,127,12
8,129,132,133,134,137,13
9、およびNAND論理ゲート118,126,13
1,136,138を有する。電圧増幅回路112はN
チャネル型トランジスタ141,142,143,14
4,152,153,154,155,156,15
7、Pチャネル型トランジスタ148,149,15
1、およびコンデンサ146,147を有する。
ジスタ111は電源電圧端子VDDに接続されたソース、
ゲート、およびドレインを有する。Nチャネル型トラン
ジスタ112にはPチャネル型トランジスタ111のド
レインに接続されたドレイン、内部クロック信号KINT1
を受信するためのゲート、およびソースを有する。Nチ
ャネル型トランジスタ113はNチャネル型トランジス
タ112のソースに接続されたドレイン、Pチャネル型
トランジスタ111のゲートに接続されたゲート、「V
SS」という名前の電源電圧端子に接続されたソースを有
する。インバータ116はPチャネル型トランジスタ1
11のドレインに接続された出力端子、および入力端子
を有する。インバータ117はインバータ116の出力
端子に接続された入力端子、およびインバータ116の
入力端子に接続された出力端子を有する。NAND論理
ゲート118はインバータ117の出力端子に接続され
た第1入力端子、第2入力端子、および出力端子を有す
る。インバータ119はNAND論理ゲート118の出
力端子に接続された入力端子、および出力端子を有す
る。インバータ121はインバータ119の出力端子に
接続された入力端子、および出力端子を有する。インバ
ータ122はインバータ129の出力端子に接続された
入力端子、および出力端子を有する。インバータ123
はインバータ122の出力端子に接続された入力端子、
および出力端子を有する。インバータ124はインバー
タ123の出力端子に接続された入力端子、およびNA
ND論理ゲート118の第2入力端子に接続された出力
端子を有する。NAND論理ゲート126はインバータ
121の出力端子に接続された第1入力端子、およびP
チャネル型トランジスタ111のドレインに接続された
第2入力端子、および出力端子を有する。インバータ1
27はNAND論理ゲート126の出力端子に接続され
た入力端子、および出力端子を有する。インバータ12
8はインバータ127の出力端子に接続された入力端
子、および出力端子を有する。インバータ129はイン
バータ128の出力端子に接続された入力端子、および
インバータ122の入力端子に接続された出力端子を有
する。NAND論理ゲート131は内部クロック信号K
INT2を受信するための第1入力端子、抑制信号INH2
を受信するための第2入力端子、および出力端子を有す
る。インバータ132はNAND論理ゲート131の出
力端子に接続された入力端子、および出力端子を有す
る。インバータ133はインバータ132の出力端子に
接続された入力端子、および出力端子を有する。NAN
D論理ゲート136はインバータ133の出力端子に接
続された第1入力端子、第2入力端子、およびPチャネ
ル型トランジスタ111およびNチャネル型トランジス
タ113のゲートに接続された出力端子を有する。イン
バータ134はNAND論理ゲート136の第2入力端
子に接続された出力端子、および入力端子を有する。イ
ンバータ137はインバータ122の出力端子に接続さ
れた入力端子、および抑制信号INH1を出力するため
の出力端子を有する。NAND論理ゲー138はインバ
ータ129の出力端子に接続された第1入力端子、NA
ND論理ゲート131の出力端子に接続された第2入力
端子、および出力端子を有する。インバータ139はN
AND論理ゲート138の出力端子に接続された入力端
子、および出力端子を有する。
ジスタ141はVDDに接続されたドレイン、VDDに接続
されたゲート、およびソースを有する。Nチャネル型ト
ランジスタ142はVDDに接続されたドレイン、ゲー
ト、およびNチャネル型トランジスタ141のソースに
接続されたソースを有する。Nチャネル型トランジスタ
143はVDDに接続されたドレイン、Nチャネル型トラ
ンジスタ142のソースに接続されたゲート、およびN
チャネル型トランジスタ142のゲートに接続されたソ
ースを有する。Nチャネル型トランジスタ144はVDD
に接続されたドレイン、VDDに接続されたゲート、およ
びNチャネル型トランジスタ143のソースに接続され
たソースを有する。ブートストラップ・コンデンサ14
6はNチャネル型トランジスタ141,142のソース
に接続された第1端子、およびインバータ129の出力
端子に接続された第2端子を有する。増幅コンデンサ1
47にはNチャネル型トランジスタ143,144のソ
ースに接続された第1端子、および第2端子がある。P
チャネル型トランジスタ148にはVDDに接続されたソ
ース、インバータ133の出力端子に接続されたゲー
ト、およびドレインを有する。Pチャネル型トランジス
タ149はNチャネル型トランジスタ143のソースに
接続されたソース、Pチャネル型トランジスタ148の
ゲートに接続されたゲート、および増幅されたクロック
信号KBST1を出力するための出力ノード101に接続さ
れたドレインを有する。Pチャネル型トランジスタ14
9は半導体基板のNウェル領域に位置し、Nウェル端子
はそのソース端子に接続される。Pチャネル型トランジ
スタ151はPチャネル型トランジスタ148のドレイ
ンに接続されたソース、インバータ121の出力端子に
接続されたゲート、およびコンデンサ147の第2端子
に接続されたドレインを有する。Nチャネル型トランジ
スタ152はPチャネル型トランジスタ151のドレイ
ンに接続されたドレイン、インバータ129の出力端子
に接続されたゲート、およびVSSに接続されたソースを
有する。Nチャネル型トランジスタ153はPチャネル
型トランジスタ149のドレインに出力ノード101で
接続されたドレイン、VDDに接続されたゲート、および
ソースを有する。Nチャネル型トランジスタ154はV
DDに接続されたドレイン、Pチャネル型トランジスタ1
49のドレインに出力ノード101で接続されたゲー
ト、およびインバータ134の入力端子に接続されたソ
ースを有する。Nチャネル型トランジスタ155はNチ
ャネル型トランジスタ153のソースと接続された第1
ドレイン/ソース端子、Nチャネル型トランジスタ15
4のソースと接続された第2ドレイン/ソース端子、お
よびインバータ133の出力端子と接続されたゲートを
有する。Nチャネル型トランジスタ156はNチャネル
型トランジスタ153のソースと接続されたドレイン、
インバータ133の出力端子と接続されたゲート,およ
びVSSと接続されたソースを有する。Nチャネル型トラ
ンジスタ157はPチャネル型トランジスタ149のド
レインと出力ノード101で接続されたドレイン、イン
バータ139の出力端子と接続されたゲート、およびV
SSと接続されたソースを有する。ポンプ・ドライバ回路
72(図3)の回路はポンプ・ドライバ回路70と同一
であり、同様に作動するので図には示していない。
INT1およびKINT2を受信し、電圧増幅回路112にシー
ケンシングと制御論理を与える。次に電圧増幅回路11
2はVDDの大きさよりも大きく設定した電圧レベルの大
きさの電圧変動をもつ、増幅されたクロック信号KBST1
を出す。図6に示すように、増幅されたクロック信号K
BST1およびKBST2は2つの期間、すなわちプレチャージ
期間および増幅期間に与えられる。プレチャージ期間で
は、出力ノード101はVDDにプレチャージされ、コン
デンサ147はVDDにチャージされる。増幅期間では、
増幅されたクロック信号KBST1は、VDDにコンデンサ1
47に蓄積された電荷を加え、あらゆる寄生的ダイオー
ド損失を差し引いたものにおおよそ等しい電圧で、出力
ノード101に出される。それゆえに、好適実施例で
は、増幅されたクロック信号KBST1は約1.7VDDで出
される。増幅されたクロック信号KBST2の電圧変動はK
BST1の大きさと等しい大きさをもつ。
部クロック信号KINT1およびKINT2は双方とも論理低電
圧で論理サイクルをスタートしている。Nチャネル型ト
ランジスタ112は実質的に非導電性であり、論理高が
NAND論理ゲート131の出力端子に出される。これ
によりNチャネル型トランジスタ156,157は双方
とも導電性となり、出力ノード101は論理低電圧とな
る。Nチャネル型トランジスタ154は実質的に非導電
性であるから、論理低電圧がそのソースに出される。論
理低電圧はインバータ134の入力端子に与えられ、こ
れがNAND論理ゲート136の第2入力端子に論理高
を与える。NAND論理ゲート136の入力端子は双方
とも論理高電圧であるから、Pチャネル型トランジスタ
111およびNチャネル型トランジスタ112のゲート
に論理低が与えられることになる。それゆえに、Pチャ
ネル型トランジスタ111は導電性であり、Nチャネル
型トランジスタ112,113は双方とも実質的に非導
電性であり、その結果論理高がインバータ117の入力
端子に与えられる。論理高電圧がインバータ119,1
21を通じてPチャネル型トランジスタ151のゲート
に与えられ、その結果Pチャネル型トランジスタ151
が実質的に非導電性となる。論理高電圧がNAND論理
ゲート126の第1および第2入力端子に与えられ、そ
の結果NAND論理ゲート126はその出力端子が論理
低となる。その後論理高がインバータ127,128,
129を通じてNチャネル型トランジスタ152のゲー
トに与えられ、その結果Nチャネル型トランジスタ15
2が導電性になる。これによって増幅コンデンサ147
の第2端子がVSSの電位に引き寄せられる。インバータ
129の出力端子の論理高はブートストラップ・コンデ
ンサ146の第2端子をほぼVDDに等しい電圧に引き寄
せるので、Nチャネル型トランジスタ143のゲートの
電圧がVDD以上に増幅される。Nチャネル型トランジス
タ143は導電性であり、コンデンサ147を実質的に
VDDにプレチャージする。Nチャネル型トランジスタ1
43のゲートをVDD以上に増幅することにより、Nチャ
ネル型トランジスタ143のしきい値電圧降下が避けら
れ、増幅コンデンサ147はおおよそVDDにチャージさ
れる。
(図6)。時刻t1では、プレドライバ回路68(図
3)からの内部クロック信号KINT2は論理高であり、内
部クロック信号KINT1は論理低である。論理低の内部ク
ロック信号KINT1はNチャネル型トランジスタ112の
ゲートに与えられ、その結果Nチャネル型トランジスタ
112は実質的に非導電性になる。論理高の内部クロッ
ク信号KINT2はNAND論理ゲート131の第1入力端
子に与えられ、抑制信号INH2はNAND論理ゲート
131の第2入力端子に与えられる。抑制信号INH1
およびINH2により、増幅されたクロック信号KBST1
およびKBST2は確実にノンオーバラッピング・クロック
信号となる。内部クロック信号KINT2および抑制信号I
NH2が双方とも論理高であるときは、出力ノード10
1はおおよそVDDにプレチャージされる。NAND論理
ゲート131はその出力端子に論理低信号を出し、その
結果Nチャネル型トランジスタ156,157が実質的
に非導電性となり、Pチャネル型トランジスタ148,
149は導電性になる。出力ノード101は、増幅され
た電圧レベルがゲートにあるため導電性になっているN
チャネル型トランジスタ143を通じておおよそVDDに
プレチャージされる。ダイオードに接続されたNチャネ
ル型トランジスタ144によりコンデンサ147が初期
の始動の間にVDD−VTに確実にプレチャージされるこ
とに注意すべきである。Nチャネル型トランジスタ15
4は出力ノード101が論理高のとき導電性となり、従
ってインバータ134の入力端子に論理高を与える。
第2入力端子に与えられ、その結果NAND論理ゲート
136が論理高をPチャネル型トランジスタ111およ
びNチャネル型トランジスタ113のゲートに与える。
Pチャネル型トランジスタ111は非導電性であり、N
チャネル型トランジスタ113は導電性である。しかし
ながら、インバータ117の出力端子は、内部クロック
信号KINT1が時刻t3で論理高になるまでインバータ1
16によって論理低に「ラッチ」された状態になる。
論理高となり、その結果Nチャネル型トランジスタ11
2が導電性となる。Pチャネル型トランジスタ111は
非導電性であり、Nチャネル型トランジスタ113は導
伝性であるので、その結果インバータ117の入力端子
は論理低になる。NAND論理ゲート118の出力端子
は論理高で一時的に不変である。NAND論理ゲート1
26の出力端子は論理低から論理高に移り、その結果N
チャネル型トランジスタ152が実質的に非導電性とな
る。次にNAND論理ゲート118の第2入力端子はイ
ンバータ122,123,124を通じて論理高に移
り、その結果NAND論理ゲート118の出力端子が論
理低となる。Pチャネル型トランジスタ151のゲート
は論理低であり、その結果Pチャネル型トランジスタ1
51が導電性となる。Pチャネル型トランジスタ14
8,151は双方とも今や導電性であり、Nチャネル型
トランジスタ152は実質的に非導電性であるから、コ
ンデンサ147の第2端子をVDDにほぼ等しい電圧に増
幅する。コンデンサ147に蓄積された電荷はPチャネ
ル型トランジスタ149を通じて出力ノード101に与
えられ、その結果出力ノード101は、ほぼVDDに等し
い電圧によってそのプレチャージ電圧以上に増幅され
る。それゆえに、増幅されたクロック信号KBST1は、ほ
ぼ2VDDからPチャネル型トランジスタ149に寄生す
るダイオード損失を差し引いたもので与えられる。
とき内部クロック信号KINT1は論理高である。この増幅
期間に、抑制信号INH1がポンプ・ドライバ回路72
に論理低で与えられ、増幅されたクロック信号KBST2
が、KBST1が論理低になるまでは論理高にならないよう
にしている。コンデンサ147からの増幅された電圧は
Nチャネル型トランジスタ142のゲートをブートスト
ラップする役目もあり、その結果ポンプ・ドライバ回路
70の増幅期間にコンデンサ146がほぼVDDにチャー
ジされる。
T2が論理低に戻り、その結果Nチャネル型トランジスタ
156,157が導電性となり、Pチャネル型トランジ
スタ148,149が実質的に非導電性となる。出力ノ
ード101の電圧は図6に示すように時刻t5の後は論
理低に減じられる。内部クロック信号KINT1は論理低に
戻り、その結果Nチャネル型トランジスタ152が導電
性となり、Pチャネル型トランジスタ151が実質的に
非導電性となる。これにより、コンデンサ147の第2
端子の電圧がほぼVSSの電位に減り、もう1つのプレチ
ャージ周期が始まる。
ル端子は高電位(増幅コンデンサ147の第1端子)に
接続され、Pチャネル型トランジスタ149に寄生する
ダイオードの急激なバイアスを防止している。Nチャネ
ル型トランジスタ153はNチャネル型トランジスタ1
56をフィールドで促進される故障から守るために与え
られる。Nチャネル型トランジスタ154,155はノ
ード101の電圧レベルを感知し、インバータ134の
入力端子にフィードバック信号を与える。Nチャネル型
トランジスタ155は比較的弱く、Nチャネル型トラン
ジスタ154は比較的強い。増幅コンデンサ147はプ
レーナ・コンデンサであり、直列に接続されたポンプ・
ステージ66(図3)に高いドライブ能力を与えるため
に比較的大きくなっている。
ライバ回路70’を一部を論理図で、一部を配線図で示
す。ポンプ・ドライバ回路70’は図4のポンプ・ドラ
イバ回路70の代用をすることができる。ポンプ・ドラ
イバ回路70’は、3VDDにほぼ等しく増幅されたクロ
ック信号を、直列に接続されたポンプ・ステージ66
(図3)に与える。これによりチャージ・ポンプ65は
非常に低い電源電圧で作動することができる。ポンプ・
ドライバ回路70’には制御論理回路110および電圧
増幅回路170がある。図5の制御論理回路110は図
4の制御論理回路110と同じ構成および同じ機能をも
つので参照番号を同じくしている。電圧増幅回路170
はNチャネル型トランジスタ171,172,173,
174,176,186,187,189,191,1
92,193,194、コンデンサ177,178,1
79、およびPチャネル型トランジスタ181,18
2,183,184,188を有する。
ドに接続され、VDDに接続されたドレインおよびゲー
ト、およびソースを持つ。Nチャネル型トランジスタ1
72はVDDに接続されたドレイン、Nチャネル型トラン
ジスタ171のソースに接続されたゲートおよびソース
を有する。Nチャネル型トランジスタ173はVDDに接
続されたドレイン、Nチャネル型トランジスタ172の
ソースに接続されたゲート、およびNチャネル型トラン
ジスタ172のゲートに接続されたソースを有する。N
チャネル型トランジスタ174はVDDに接続されたドレ
イン、Nチャネル型トランジスタ173のゲートに接続
されたゲート、およびソースを有する。Nチャネル型ト
ランジスタ176はダイオードに接続され、VDDに接続
されたドレインおよびゲート、およびNチャネル型トラ
ンジスタ174のソースに接続されたソースを持つ。コ
ンデンサ177はNチャネル型トランジスタ171,1
72のソースに接続された第1端子、およびインバータ
122の入力端子に接続された第2端子を有する。コン
デンサ178はNチャネル型トランジスタ173のソー
スに接続された第1端子、および第2端子を有する。コ
ンデンサ179はNチャネル型トランジスタ174,1
76のソースに接続された第1端子、および第2端子を
有する。Pチャネル型トランジスタ181はVDDに接続
されたソース、インバータ133の出力端子に接続され
たゲート、およびドレインを有する。Pチャネル型トラ
ンジスタ183はPチャネル型トランジスタ181のド
レインに接続されたソース、インバータ121の出力端
子に接続されたゲート、およびコンデンサ178の第2
端子に接続されたドレインを有する。Pチャネル型トラ
ンジスタ182はコンデンサ178の第1端子に接続さ
れたソースおよび基板端子、Pチャネル型トランジスタ
181のゲートに接続されたゲート、およびドレインを
有する。Pチャネル型トランジスタ184はPチャネル
型トランジスタ182のドレインに接続されたソース、
Pチャネル型トランジスタ182のソースに接続された
基板端子、Pチャネル型トランジスタ183のゲートに
接続されたゲート、およびコンデンサ179の第2端子
に接続されたドレインを有する。Nチャネル型トランジ
スタ186はPチャネル型トランジスタ183のドレイ
ンに接続されたドレイン、インバータ129の入力端子
に接続されたゲート、およびVSSに接続されたソースを
有する。Nチャネル型トランジスタ187はPチャネル
型トランジスタ184のドレインに接続されたソース、
Nチャネル型トランジスタ186のゲートに接続された
ゲート、およびVSSに接続されたソースを有する。Pチ
ャネル型トランジスタ188はNチャネル型トランジス
タ174,176のソースに接続されたソースおよび基
板端子、インバータ133の出力端子に接続されたゲー
ト、および出力ノード102に接続されて「K’BST1」
という名前の増幅されたクロック信号を出すドレインを
有する。Pチャネル型トランジスタ182,184,1
88は半導体基板のNウェル領域に位置する。Pチャネ
ル型トランジスタ182,188はそれらのソース端子
に接続されたNウェル端子を有する。Pチャネル型トラ
ンジスタ184はPチャネル型トランジスタ182のソ
ースに接続されたNウェル端子を有する。Nチャネル型
トランジスタ189にはPチャネル型トランジスタ18
8のドレインに出力ノード102で接続されたドレイ
ン、VDDに接続されたゲート、およびソースを有する。
Nチャネル型トランジスタ191はVDDに接続されたド
レイン、Pチャネル型トランジスタ188のドレインに
出力ノード102で接続されたゲート、およびインバー
タ134の入力端子に接続されたソースを有する。Nチ
ャネル型トランジスタ192はNチャネル型トランジス
タ189のソースに接続された第1ドレイン/ソース端
子、インバータ133の出力端子に接続されたゲート、
およびNチャネル型トランジスタ191のソースに接続
された第2ドレイン/ソース端子を有する。Nチャネル
型トランジスタ193はNチャネル型トランジスタ18
9のソースに接続されたドレイン、インバータ133の
出力端子に接続されたゲート、およびVSSに接続された
ソースを有する。Nチャネル型トランジスタ194はP
チャネル型トランジスタ188のドレインに出力ノード
102で接続されたドレイン、インバータ139の出力
端子に接続されたゲート、およびVSSに接続されたソー
スを有する。以下原理を述べると、ポンプ・ドライバ回
路70’は増幅されたクロック信号K’BST1を図3のチ
ャージ・ポンプ65の直列に接続されたポンプ・ステー
ジ66に与える。70’と同一の第2ポンプ・ドライバ
回路(図示せず)が、KBST2に相当する増幅されたクロ
ック信号K’BST2を与えるために使用することができ
る。ポンプ・ドライバ回路70’は図4のポンプ・ドラ
イバ回路70と同様に作動する。しかしながら、ポンプ
・ドライバ回路70’は増幅期間に、増幅されたクロッ
ク信号K’BST1をほぼ3VDDで与える。これは3.3ボ
ルトまたはそれ以下のような非常に低い電源電圧で作動
する余裕を見込むものである。
クロック信号KINT1,KINT2は双方とも論理低電圧とな
っている。Nチャネル型トランジスタ112は実質的に
非導電性であり、論理高がNAND論理ゲート131の
出力端子に与えられる。これによりNチャネル型トラン
ジスタ193,194の双方が導電性となり、出力ノー
ド102が論理低電圧に減少する。Nチャネル型トラン
ジスタ191は実質的に非導電性であり、その結果論理
低電圧がそのソース端子に与えられる。論理低電圧がイ
ンバータ134の入力端子に与えられ、このインバータ
134がNAND論理ゲート136の第2入力端子に論
理高を与える。NAND論理ゲート136の入力端子は
双方とも論理高電圧であり、その結果Pチャネル型トラ
ンジスタ111およびNチャネル型トランジスタ112
のゲートに論理低が与えられる。それゆえに、Pチャネ
ル型トランジスタ111は導電性であり、Nチャネル型
トランジスタ112,113の双方とも実質的に非導電
性であり、その結果インバータ117の入力端子に論理
高が与えられる。論理高電圧がPチャネル型トランジス
タ183,184のゲートに与えられ、その結果Pチャ
ネル型トランジスタ183,184が実質的に非導電性
となる。論理高電圧がNAND論理ゲート126の第1
および第2入力端子に与えられ、その結果NAND論理
ゲート126がその入力端子で論理低となる。次に論理
高がインバータ127,128,129を通じてNチャ
ネル型トランジスタ186,187のゲートに与えら
れ、その結果Nチャネル型トランジスタ186,187
が導電性となる。これにより増幅コンデンサ178,1
79の第2端子がVSSの電位に引かれる。インバータ
129の出力端子の論理高はブートストラップ・コンデ
ンサ177の第2端子をほぼVDDに等しい電圧まで引き
付け、その結果Nチャネル型トランジスタ173,17
4のゲートの電圧がVDD以上に増幅される。Nチャネル
型トランジスタ173,174は導電性であり、増幅コ
ンデンサ178,179を実質的にVDDまでプレチャー
ジする。Nチャネル型トランジスタ173,174のゲ
ートをVDD以上に増幅することにより、Nチャネル型ト
ランジスタ173,174にわたるしきい値電圧降下が
避けられ、増幅コンデンサ178,179がVDDにチャ
ージされることになる。
t1から始まる。時刻t1ではプレドライバ回路68
(図3)からの内部クロック信号KINT2は論理高であ
り、内部クロック信号KINT1は論理低である。論理低の
内部クロック信号KINT1はNチャネル型トランジスタ1
12のゲートに与えられ、その結果Nチャネル型トラン
ジスタ112が実質的に非導電性になる。論理高の内部
クロック信号KINT2はNAND論理ゲート131の第1
入力端子に与えられ、抑制信号INH2はNAND論理
ゲート131の第2入力端子に与えられる。抑制信号I
NH1およびINH2により、増幅されたクロック信号K
BST1およびKBST2は確実にノンオーバラッピング・クロ
ック信号となる。内部クロック信号KINT2および抑制信
号INH2が双方とも論理高であるときは、出力ノード
102はほぼVDDにプレチャージされる。NAND論理
ゲート131は論理低信号をその出力端子に出し、その
結果Nチャネル型トランジスタ193,194は実質的
に非導電性となり、Pチャネル型トランジスタ181,
182,188は導電性となる。出力ノード102は図
7の時刻t2で示すように、ダイオードに接続されたN
チャネル型トランジスタ176およびPチャネル型トラ
ンジスタ188を通じてほぼVDDにプレチャージされ
る。Nチャネル型トランジスタ191は出力ノード10
2が論理高のとき導電性であるから、インバータ134
の入力端子に論理高を与える。次に論理低がNAND論
理ゲート136の第2入力端子に与えられ、その結果N
AND論理ゲート136はPチャネル型トランジスタ1
11およびNチャネル型トランジスタ113のゲートに
論理高を与える。Pチャネル型トランジスタ111は非
導電性であり、Nチャネル型トランジスタ113は導電
性である。しかしながら、インバータ117の出力端子
は、内部クロック信号KINT1が時刻t3で論理高になる
までインバータ116によって論理低に「ラッチ」され
た状態になる。
論理高となるのでNチャネル型トランジスタ112は導
電性になる。Pチャネル型トランジスタ111は非導電
性でNチャネル型トランジスタ113が導電性であるこ
とから、インバータ117の入力端子が論理低となる。
NAND論理ゲート118の出力端子は論理高で一時的
に不変である。NAND論理ゲート126の出力端子は
論理低から論理高に移り、その結果Nチャネル型トラン
ジスタ186,187が実質的に非導電性になる。その
後NAND論理ゲート118の第2入力端子はインバー
タ122,123,124を通じて論理高に移り、その
結果NAND論理ゲート118の出力端子が論理低とな
る。Pチャネル型トランジスタ183,184のゲート
は論理低であるから、Pチャネル型トランジスタ18
3,184は導電性となる。Pチャネル型トランジスタ
181,183,182,184はこの時導電性であ
り、Nチャネル型トランジスタ186,187は実質的
に非導電性であるから、増幅コンデンサ178,179
の第2端子はほぼVDDに増幅される。増幅コンデンサ1
78に蓄積された電荷はPチャネル型トランジスタ18
2,184を通じて増幅コンデンサ179の第2端子に
与えられ、その結果増幅コンデンサ179の第2端子は
ほぼ2VDDに等しい電圧となり、出力ノード102の電
圧はPチャネル型トランジスタ188を通じてほぼ3V
DDに増幅される。それゆえに、増幅されたクロック信号
KBST1は、3VDDからPチャネル型トランジスタ18
2,184,188の全ての寄生的ダイオード損失を差
し引いたもので与えられる。
T1が論理高のときは、抑制信号INH1がポンプ・ドラ
イバ回路72に与えられて増幅されたクロック信号が重
なり合わないようにしているのである。増幅コンデンサ
178,179からの増幅された電圧はNチャネル型ト
ランジスタ172,174をブートストラップする役割
も果たし、その結果増幅コンデンサ177は増幅期間に
VDDにプレチャージされる。
論理低に戻り、その結果Nチャネル型トランジスタ19
3,194が導電性となり、Pチャネル型トランジスタ
181,182,188が実質的に非導電性となる。出
力ノード102の電圧は図7に示すように時刻t5の後
では論理低になる。内部クロック信号KINT1は論理低に
戻り、その結果Nチャネル型トランジスタ186,18
7が導電性となり、またその結果Pチャネル型トランジ
スタ183,184が実質的に非導電性となる。これに
よりコンデンサ178,179の第2端子の電圧はほぼ
VSSの電位に減り、次のプレチャージ周期が始まる。
4,188のNウェル端子は高電位に接続されてPチャ
ネル型トランジスタ182,184,188の寄生的ダ
イオードの急激なバイアス化を防いでいる。Nチャネル
型トランジスタ189はNチャネル型トランジスタ19
3をフィールドで促進される故障から守るためにある。
Nチャネル型トランジスタ191,192はノード10
2の電圧レベルを感知し、インバータ134の入力端子
にフィードバック信号を出す。Nチャネル型トランジス
タ192は比較的弱くNチャネル型トランジスタ191
は比較的強い。増幅コンデンサ178,179はプレー
ナ・コンデンサであり、図4の増幅コンデンサ147と
ほぼ同じ合成電荷を出すサイズに定められている。コン
デンサ147(図4)およびコンデンサ178,179
は、使用できる表面積といったレイアウト上の制約を考
慮してできるだけ大きくすることが望ましい。
れたポンプ・ステージ66が十分に電荷を移動させるこ
とのできる電源電圧の範囲を広げるという利点があり、
従って低電圧、一例としてバッテリ電源の適用を考慮す
ることができるのである。また、直列に接続されたポン
プ・ステージ66に増幅されたクロック信号を与えるこ
とにより、要求される出力電圧VPPを得るために必要
なポンプ・ステージの数が減少する。このポンプ・ステ
ージの数の減少の効果はクロック・サイクルごとの電荷
出力の増加である。さらに、従来技術のチャージ・ポン
プ10に関して、ポンプ・ステージの数が少ないために
電流ドライブ能力が増加する。その上に、レイアウトの
単位面積当たりの電荷出力が実質的に向上する。
のであるが、当業者には、本発明はこれまでに具体的に
説明し記述したものの他に幾多の変形が可能であり、多
数の具体例を含むということが明らかであろう。従っ
て、本発明の真の精神および範囲内に存在する変形例
は、すべて特許請求の範囲に含まれるものである。
ンプを一部を論理図で、一部を配線図で示したものであ
る。
ク図で、一部を配線図で、一部を論理図で示したもので
ある。
配線図で示したものである。
路の一具体例を一部を論理図で、一部を配線図で示した
ものである。
ポンプのポンプ・ドライバ回路を、一部を論理図で、一
部を配線図で示したものである。
イミング図である。
イミング図である。
ジ 81,82,83,84,85,86 コンデンサ 87 インバータ 88,89 Dタイプ・フリップ・フロップ 91 インバータ 92,93 NOR論理ゲート 94 NAND論理ゲート 95,96 インバータ 97 NAND論理ゲート 98 インバータ 101 出力ノード 102 出力ノード 110 制御論理回路 111 Pチャネル型トランジスタ 112,113 Nチャネル型トランジスタ 116,117 インバータ 118 NAND論理ゲート 119 インバータ 121,122,123,124 インバータ 126 NAND論理ゲート 127,128,129 インバータ 131 NAND論理ゲート 132,133,134 インバータ 136 NAND論理ゲート 137 インバータ 138 NAND論理ゲート 139 インバータ 141,142,143,144 Nチャネル型トラン
ジスタ 146,147 コンデンサ 148,149 Pチャネル型トランジスタ 151 Pチャネル型トランジスタ 152,153,154,155,156,157 N
チャネル型トランジスタ 170 電圧増幅回路 171,172,173,174 Nチャネル型トラン
ジスタ 176 Nチャネル型トランジスタ 177,178,179 コンデンサ 181,182,183,184 Pチャネル型トラン
ジスタ 186,187 Nチャネル型トランジスタ 188 Pチャネル型トランジスタ 189 Nチャネル型トランジスタ 191,192,193,194 Nチャネル型トラン
ジスタ 200 上昇率を制御したチャージ・ポンプ 201 ノード 202 ノード 210 NAND論理ゲート 211 インバータ 214 インバータ 216 NAND論理ゲート 218 インバータ 220 周波数分割回路 222,223,224,225,226,227,2
28,229 Dタイプ・フリップ・フロップ 236 インバータ 238 トリガ回路 240 Pチャネル型トランジスタ 242 Pチャネル型トランジスタ 244 Pチャネル型トランジスタ負荷手段 246 Nチャネル型トランジスタ 248 Pチャネル型トランジスタ負荷手段 250 Nチャネル型トランジスタスイッチ 251 バッファ/インバータ回路 252,253,254 インバータ 256 インバータ 258 RC微分回路 260 コンデンサ 261 切り換えられたコンデンサ回路 262 Nチャネル型トランジスタ 264 Nチャネル型トランジスタ 266 コンデンサ 268 クロック制御論理回路 270 NAND論理ゲート 272 インバータ 274 インバータ 276 インバータ 278 インバータ 280 インバータ 282 NAND論理ゲート 284 インバータ 286 インバータ 288 インバータ 290 インバータ D入力端子 INH1,INH2 抑制信号 K,反転K クロック入力端子 K1,K2 出力端子 KBST1,KBST2 増幅されたクロック信号 K’BST1,K’BST2 増幅されたクロック信号 KEXT 外部クロック信号 KINT1,KINT2,KINT3,KINT4 内部クロック信号 Q,反転Q 出力端子 t1,t2,t3,t4,t5 時刻 VDD 電源電圧端子 VI 入力電圧 VO1,VO2,VO3,VO4,VO5 VPP 出力電圧 VSS 電源電圧端子
Claims (3)
- 【請求項1】 上昇率を制御するチャージ・ポンプ(2
00)であって:クロック信号を受信し、それに応答し
て前記クロック信号の大きさよりも大きい出力電圧を導
出するチャージ・ポンプ(65);前記チャージ・ポン
プ(65)に結合し、前記出力電圧を受け取り前記出力
電圧の上昇率に比例する制御電圧を導出するRC微分回
路(258);および前記RC微分回路(258)に結
合し、前記制御電圧を受け取り、設定したスイッチング
・ポイント以上に増加する前記制御電圧に応答して前記
チャージ・ポンプ(65)をディスエーブルするための
第1制御信号を導出し、また設定したスイッチング・ポ
イント以下に減少する前記制御電圧に応答して前記チャ
ージ・ポンプ(65)をエネーブルするための第2制御
信号を導出するトリガ回路(238);から構成される
ことを特徴とする、上昇率を制御するチャージ・ポン
プ。 - 【請求項2】 上昇率を制御するチャージ・ポンプ(2
00)であって:クロック信号を受信し、それに応答し
て前記クロック信号の大きさよりも大きい出力電圧を導
出するための、直列に接続された複数のポンプ・ステー
ジ(66)を有するチャージ・ポンプ(65);RC微
分回路(258)であって:前記チャージ・ポンプ(6
5)に結合し、前記出力電圧を受け取るための第1端子
を有し、また前記出力電圧の上昇率に比例する制御電圧
を導出する第2端子を有する第1コンデンサ(26
0);および前記第1コンデンサ(260)の前記第2
端子に結合する第1端子、および負の電源電圧端子に結
合する第2端子を有し、第1および第2ノンオーバラッ
プ・クロック信号を受信し、前記第1コンデンサ(26
0)の前記第2端子を前記負の電源電圧端子に抵抗を介
して結合する切り換えられたコンデンサ回路(26
1);から構成されるRC微分回路;および前記RC微
分回路(258)に結合し、前記制御電圧を受け取り、
設定したスイッチング・ポイント以上に増加する前記制
御信号に応答して前記チャージ・ポンプ(65)をディ
スエーブルする第1制御信号を導出し、また設定したス
イッチング・ポイント以下に減少する前記制御信号に応
答して前記チャージ・ポンプ(65)をイネーブルする
第2信号を導出するトリガ回路(238);から構成さ
れることを特徴とする、上昇率を制御するチャージ・ポ
ンプ。 - 【請求項3】 上昇率を制御したチャージ・ポンプ(2
00)であって:クロック信号を受信し、それに応答し
て前記クロック信号の大きさよりも大きい出力電圧を導
出する、直列に接続された複数のポンプ・ステージ(6
6)を有するチャージ・ポンプ(65);RC微分回路
(258)であって:前記チャージ・ポンプ(65)に
結合し、前記出力電圧を受け取るための第1端子を有
し、また前記出力電圧の上昇率に比例する制御電圧を導
出する第2端子を有する第1コンデンサ(260);お
よび前記第1コンデンサ(260)の前記第2端子に結
合する第1端子、および負の電源電圧端子に結合する第
2端子を有し、第1および第2ノンオーバラップ・クロ
ック信号を受信し、前記第1コンデンサ(260)の前
記第2端子を前記負の電源電圧端子に抵抗を介して結合
する切り換えられたコンデンサ回路(261);から構
成されるRC微分回路;およびヒステリシスをもつトリ
ガ回路(238)であって:正の電源電圧端子に結合す
る第1端子、制御端子、および第2端子を有し、 前記トリガ回路(238)に負荷を与えるための負荷手
段(244,248);および前記負荷手段(244,
248)の前記第2端子に結合する第1端子を有するス
イッチ(250)であって、設定したスイッチング・ポ
イント以上に増加する前記制御電圧に応答して前記チャ
ージ・ポンプ(65)をイネーブルするための第1制御
信号を導出し、前記設定したスイッチング・ポイント以
下に減少する前記制御電圧に応答して前記負荷手段(2
44,248)をディスエーブルする第2制御信号を導
出し、前記負の電源電圧端子に結合する第2端子を有す
るスイッチ(250);から構成される、ヒステリシス
をもつトリガ回路;から構成されることを特徴とする、
上昇率を制御するチャージ・ポンプ。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US08/028,006 US5365121A (en) | 1993-03-08 | 1993-03-08 | Charge pump with controlled ramp rate |
US028006 | 1993-03-08 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06284705A true JPH06284705A (ja) | 1994-10-07 |
JP3323936B2 JP3323936B2 (ja) | 2002-09-09 |
Family
ID=21841028
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4058694A Expired - Fee Related JP3323936B2 (ja) | 1993-03-08 | 1994-02-16 | 上昇率を制御するチャージ・ポンプ |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5365121A (ja) |
JP (1) | JP3323936B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5912575A (en) * | 1996-09-24 | 1999-06-15 | Mitsubishi Electric Semiconductor Software Co., Ltd. | Phase-locked loop circuit with charge pump and time constant circuit |
CN107659128A (zh) * | 2017-07-06 | 2018-02-02 | 深圳市华芯邦科技有限公司 | Dc/dc开关变换器功率输出晶体管集成驱动电路 |
Families Citing this family (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07194095A (ja) * | 1993-12-28 | 1995-07-28 | Fujitsu Ltd | 電位生成回路 |
US5694074A (en) * | 1994-10-31 | 1997-12-02 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor integrated circuit being able to generate sufficient boost potential disregarding generation of noise |
US5872733A (en) * | 1995-06-06 | 1999-02-16 | International Business Machines Corporation | Ramp-up rate control circuit for flash memory charge pump |
FR2738386B1 (fr) * | 1995-09-05 | 1997-10-24 | Sgs Thomson Microelectronics | Procede et circuit de programmation et d'effacement d'une memoire |
JP2730530B2 (ja) * | 1995-10-31 | 1998-03-25 | 日本電気株式会社 | 半導体集積回路及びその駆動方法 |
EP0786778B1 (en) * | 1996-01-24 | 2003-11-12 | STMicroelectronics S.r.l. | Method for erasing an electrically programmable and erasable non-volatile memory cell |
DE69632999D1 (de) * | 1996-01-24 | 2004-09-02 | St Microelectronics Srl | Löschspannungs-Steuerschaltkreis für eine löschbare, nichtflüchtige Speicherzelle |
KR100244465B1 (ko) * | 1997-04-21 | 2000-02-01 | 김영환 | 동기식 승압전압 발생기 |
US6166585A (en) * | 1998-08-31 | 2000-12-26 | Conexant Systems, Inc. | Methods and apparatus for a high efficiency charge pump that includes a MOSFET capacitor operating in an accumulation region |
JP4015793B2 (ja) * | 2000-02-16 | 2007-11-28 | 株式会社東芝 | 位相比較回路およびpll回路 |
JP3696125B2 (ja) * | 2000-05-24 | 2005-09-14 | 株式会社東芝 | 電位検出回路及び半導体集積回路 |
US6407618B1 (en) * | 2001-05-07 | 2002-06-18 | National Semiconductor Corp. | Method and apparatus for a bias generator with output current dependent on clock frequency |
US6980047B1 (en) | 2002-06-20 | 2005-12-27 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company | Low power high voltage ramp-up control circuit |
DE102006002712B4 (de) * | 2006-01-19 | 2015-11-26 | Austriamicrosystems Ag | Schaltungsanordnung zur Spannungsversorgung und Verfahren |
US7348829B2 (en) * | 2006-03-24 | 2008-03-25 | Intersil Americas Inc. | Slew rate control of a charge pump |
US7536618B2 (en) * | 2006-05-25 | 2009-05-19 | Micron Technology, Inc. | Wide frequency range signal generator and method, and integrated circuit test system using same |
US7466171B2 (en) | 2007-01-15 | 2008-12-16 | International Business Machines Corporation | Voltage detection circuit and circuit for generating a trigger flag signal |
US7573300B2 (en) * | 2007-01-15 | 2009-08-11 | International Business Machines Corporation | Current control mechanism for dynamic logic keeper circuits in an integrated circuit and method of regulating same |
US7542351B2 (en) * | 2007-05-31 | 2009-06-02 | Freescale Semiconductor, Inc. | Integrated circuit featuring a non-volatile memory with charge/discharge ramp rate control and method therefor |
US7873921B2 (en) * | 2007-11-30 | 2011-01-18 | International Business Machines Corporation | Structure for a voltage detection circuit in an integrated circuit and method of generating a trigger flag signal |
US8742833B2 (en) * | 2008-12-02 | 2014-06-03 | Himax Technologies Limited | Charge pump circuit and method thereof |
US8310300B2 (en) | 2010-08-27 | 2012-11-13 | Freescale Semiconductor, Inc. | Charge pump having ramp rate control |
CN111681698B (zh) * | 2020-05-25 | 2022-05-20 | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 | 正负电压生成电路 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4326134A (en) * | 1979-08-31 | 1982-04-20 | Xicor, Inc. | Integrated rise-time regulated voltage generator systems |
US4527180A (en) | 1983-01-31 | 1985-07-02 | Intel Corporation | MOS Voltage divider structure suitable for higher potential feedback regulation |
NL8800287A (nl) * | 1988-02-08 | 1989-09-01 | Philips Nv | Geheugenschakeling met een uitwisbaar programmeerbaar geheugen, generator voor het opwekken van een programmeerspanning voor het geheugen, spanningsregelaar en flankregelaar, beide geschikt voor toepassing in de generator, en een diode-element. |
JPH077912B2 (ja) * | 1988-09-13 | 1995-01-30 | 株式会社東芝 | 昇圧回路 |
US5111064A (en) * | 1990-09-05 | 1992-05-05 | Vlsi Technology, Inc. | Slow ramp high drive output pad |
NL9200056A (nl) | 1992-01-14 | 1993-08-02 | Sierra Semiconductor Bv | Hoogspanningsgenerator met uitgangsstroomregeling. |
-
1993
- 1993-03-08 US US08/028,006 patent/US5365121A/en not_active Expired - Lifetime
-
1994
- 1994-02-16 JP JP4058694A patent/JP3323936B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5912575A (en) * | 1996-09-24 | 1999-06-15 | Mitsubishi Electric Semiconductor Software Co., Ltd. | Phase-locked loop circuit with charge pump and time constant circuit |
CN107659128A (zh) * | 2017-07-06 | 2018-02-02 | 深圳市华芯邦科技有限公司 | Dc/dc开关变换器功率输出晶体管集成驱动电路 |
CN107659128B (zh) * | 2017-07-06 | 2023-07-07 | 深圳市华芯邦科技有限公司 | Dc/dc开关变换器功率输出晶体管集成驱动电路 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3323936B2 (ja) | 2002-09-09 |
US5365121A (en) | 1994-11-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3323936B2 (ja) | 上昇率を制御するチャージ・ポンプ | |
JP3422838B2 (ja) | 高電圧チャ−ジ・ポンプ | |
US4970409A (en) | Voltage multiplier for nonvolatile semiconductor memory | |
US6661682B2 (en) | High voltage generating charge pump circuit | |
US5422590A (en) | High voltage negative charge pump with low voltage CMOS transistors | |
US6195307B1 (en) | Booster circuit and semiconductor memory device having the same | |
JP4557577B2 (ja) | チャージポンプ回路 | |
US6980045B1 (en) | Merged charge pump | |
US6198340B1 (en) | High efficiency CMOS pump circuit | |
JP3244601B2 (ja) | 半導体集積回路 | |
US6201434B1 (en) | Semiconductor integrated circuit device having an oscillation circuit using reference current source independent from influence of variation of power supply voltage and threshold voltage of transistor | |
JP3043201B2 (ja) | 昇圧回路 | |
US5757714A (en) | Semiconductor memory device with on-chip boosted power supply voltage generator | |
KR930001654B1 (ko) | 반도체 메모리 집적회로 | |
JPH06217527A (ja) | 高効率nチャネルチャージポンプ | |
JPH03205683A (ja) | 半導体集積回路装置 | |
KR19990050472A (ko) | 승압전압 발생회로 | |
US6191642B1 (en) | Charge pump circuit | |
JP4306821B2 (ja) | 半導体記憶装置 | |
KR0149224B1 (ko) | 반도체 집적장치의 내부전압 승압회로 | |
JPH09294367A (ja) | 電圧供給回路 | |
JP2003243516A (ja) | 半導体集積回路装置 | |
KR100298912B1 (ko) | 전원전압보다높은전압을공급하는장치를갖는반도체장치 | |
US5977816A (en) | Positive charge pumping circuit | |
JPH0430207B2 (ja) |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070705 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080705 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080705 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090705 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100705 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110705 Year of fee payment: 9 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |