[go: up one dir, main page]

JPH06267486A - 荷電ビーム装置 - Google Patents

荷電ビーム装置

Info

Publication number
JPH06267486A
JPH06267486A JP5056700A JP5670093A JPH06267486A JP H06267486 A JPH06267486 A JP H06267486A JP 5056700 A JP5056700 A JP 5056700A JP 5670093 A JP5670093 A JP 5670093A JP H06267486 A JPH06267486 A JP H06267486A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wire
magnetic conductive
charged
shield
conductive material
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP5056700A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuyoshi Sugihara
和佳 杉原
Itsuko Sakai
伊都子 酒井
Motosuke Miyoshi
元介 三好
Katsuya Okumura
勝弥 奥村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP5056700A priority Critical patent/JPH06267486A/ja
Publication of JPH06267486A publication Critical patent/JPH06267486A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Electron Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 導線又はシールド線として、アウトガスが極
めて少なく、柔軟性があり、しかも自立性を持たせら
れ、F* やO* を含むガスにさらされても腐食しせず、
耐熱性があり、耐電圧性があるなどの極めて優れた特長
を持つもの真空槽内で使用した電子ビーム露光装置を提
供する。 【構成】 電子ビームを放射する電子銃と該電子ビーム
を集束させる電子レンズと該電子ビームの断面形状を整
える絞りと基板を載置するXYステージ等を有する荷電
ビーム装置において、真空槽内で使用する導線又はシー
ルド線は、非磁性導電性芯線と、絶縁被覆材と、非磁性
導電材シールドとから構成されて、前記シールドはシー
ルドを構成する線が、又はシールド全体が少なくとも弗
素元素と酸素元素とを含む反応性ガスに対して耐食性の
ある材料で被覆構成されたことを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、電子ビーム装置、特に
その真空槽内で用いられる信号又は電力供給導線の改良
に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体装置は日を追って微細化、大規模
集積化の方向に向っており、そのためフォトレジスト膜
に形成されるパターニングもますます微細化と高精度化
されている。
【0003】特に超LSIなどにおいて微細、かつ、高
精度なパターンを必要とする場合、従来の光を照射して
フォトレジスト膜に露光する方法では光の波長などによ
る制限があって所要のパターニングを得られない。これ
を打破する一つの方法として光の代りに電子ビームを使
用する方法がある。
【0004】図5は荷電ビーム装置の一例を示すもの
で、21は真空槽、22は電子銃、23及び24は絞
り、25及び26は電子レンズ、27は基板、28はX
−Yステージ、29は電子ビーム、30は偏向電極であ
る。
【0005】図5の真空槽21内において、電子銃22
より放射された電子ビーム29は絞り23によって断面
形状を整えられた後、電子レンズ25によって適宜集束
される。しかる後、絞り24によって再度断面形状を整
えられた電子ビーム29は電子レンズ26によって、X
−Yステージ28上に基板27表面のレジスト膜面に焦
点を結び、偏向電極30によって走査され、露光する。
【0006】このような荷電ビーム装置のX−Yステー
ジ28は電子ビーム29のスポットが基板27上を逐次
露光してパターニングするため、二軸方向に制御される
可動構造となっている。また、絞り24及び25並びに
電子レンズ26及び27は電子ビーム29の焦点調整及
び電子ビーム軸調整のための可動機構を具備している。
これらの可動構造の摺動部等には従来、潤滑油としてシ
リコンオイルまたはアピエゾンオイル(商品名)等が使
用されていた。
【0007】しかし、これらの潤滑油の微量が真空槽2
1内で蒸発して電子光学系に飛散し、それに電子ビーム
29が当ると黒色タール化して電気的不良導体の膜を、
該電子光学系の表面に作り、所謂チャージ・アップの原
因となっていた。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】このようなチャージア
ップを引き起こすコンタミネーションを除去する方法と
して、最近、弗素元素や酸素元素を含むガスを用いて行
う手法が酒井伊都子らによって提案されている。しかし
ながらこの種のガスは腐食性が強いため、コンタミネー
ションの除去以外に不要な部分を腐食する危険性が高
い。
【0009】上記提案に基づく、コンタミネーション除
去の手法は、以下の通りである。コンタミネーションが
付いた部品を電子光学系から取り出し、これを洗浄用チ
ャンバーに入れ、部品を弗素元素や酸素元素を含むガス
にさらし、コンタミネーションを除去する。コンタミネ
ーションがよく付着する偏向電極は通常、表面の酸化を
防ぐために予め金めっき等がされている、複数の電極を
電気的に絶縁する絶縁体には真空中でのアウトガス(ou
t gas )量をできるだけ抑えるために高純度Al23
が使われている等、上記弗素元素や酸素元素を含むガス
にさらされても問題ない。ところが電極に電圧を供給す
る同軸ケーブルには、一般の銅網線、銅の銀めっき網線
のシールド線で被覆されたテフロン線が使われている。
ところが組立精度の極めて高い偏向電極体からの同軸ケ
ーブルを取りはずすことによる組立精度劣化を避けるた
めにはどうしても同軸ケーブルを付けたままで洗浄せざ
るをえず、この結果、同軸ケーブルが腐食し、その電気
特性が低下するという問題が発生していた。
【0010】本発明の目的は、上記弗素元素や酸素元素
を含むガスに部品をさらして、コンタミネーションを除
去する際に腐食されて電気特性の低下等を引き起こさな
い信号又は電力供給のための導線を用いた荷電ビーム装
置を提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明の骨子は、荷電ビ
ーム装置の真空槽内にある信号又は電力供給のための導
線を非磁性導電性芯線と、絶縁被覆材と、非磁性導電体
とで構成し、この非磁性導電体は、少なくとも弗素元素
や酸素元素を含む反応性ガスに対して耐食性のある材料
でコートされていることにある。
【0012】
【作用】本発明によれば、アウトガスが極めて少なく、
柔軟性があり、耐熱性があり、耐電圧性があり、さら
に、F* やO* を含むガスにさらされても腐食しない等
の特長を持つ導線を使用するので、洗浄などでのメンテ
ナンスの容易な荷電ビーム装置を提供することができ
る。
【0013】
【実施例】以下、本発明の詳細を以下に示す実施例によ
って説明する。尚、以下の説明において、本発明の荷電
ビーム装置の構造は、装置内の各部を接続する配線以外
は、従来のものと同じであるため、その説明を省略す
る。
【0014】図1は第1の実施例を示す図で、荷電ビー
ム装置内の各部(偏向電極など)に電気的に接続されて
いる配線100の要部を構造的に示す斜視図である。こ
こで示す配線100は、シールド線であり、銅線1、ア
ルミナクラッド2、アルミナ3、網4で構成されてい
る。芯線1は、銅からなり、その外側にはアルミクラッ
ド2を介してアルミナ3が被覆されている。このアルミ
ナ3は例えば電解析出法によってつけられる。いちばん
外側には金が、例えばメッキ法、蒸着法、スパッタ法な
どでコートされた銅網シールド4又は金線の網がまき付
けられている。このようなシールド線100の両端には
例えば金めっきされた圧着端子5がかしめて取付けられ
ている。このようなシールド線であれば、電子光学系部
品のコンタミネーション除去のための洗浄の際にF*
* などを含むガスにさらされても腐食の心配がなく、
その電気特性が低下することもない。さらにこのような
構成のシールド線であれば絶縁材として無機物を使用し
ているので、アウトガスが極めて少なく、耐熱性があ
り、さらに芯線のまわりにつけられた絶縁材の厚さが極
めて薄いため、柔軟性のあるシールド線となっている。
【0015】図2は第2の実施例の要部を示す図であ
る。アルミナ3と金めっき銅シールド4との間に耐電圧
性能を向上させるために極細のガラス繊維を緻密に編巻
きした耐電圧向上のための第2の絶縁層10が設けられ
たシールド線である。このような構成にすると第1の実
施例で示した効果を保持したままで、耐電圧特性を向上
することができる。
【0016】図3は第3の実施例の要部を示す図であ
る。アルミナ3の外周に直接金11を蒸着法、スパッタ
法でコートした電線であるシールド網がないことでスペ
ースファクターがより良好となる。
【0017】図4は第4の実施例の要部を示す図であ
る。第1の実施例で説明した金めっき銅網シールド4の
替りにコイルバネ状のシールド12がかぶせられてい
る。コイルバネ状のシールド12の構成をまず示す。金
めっきされたばね性リン青銅の細線をアルミナ被覆の電
線が入る内径に石巻きでち密にコイツ巻きする。この石
巻きコイル13が入る様に、上述の細線を左巻きでち密
にコイル巻きして、左巻きコイル14を作る。左巻きコ
イル14内に右巻きコイル13を入れ両者の両端を接続
して電気的にも一体の導体とする。最後に内側コイル1
3内にアルミナ被覆電線を入れてシールド線が構成され
る。右巻きと左巻きのコイルを重ねることでコイルの持
つインダクタンスをキャンセルし、全体としてはインダ
クタンスを持たないシールドとすることができる。外側
のシールドをばね性コイルとすることで、シールド線は
自立できる様になる。電子光学系の部品は複雑な形状を
していることが多く、溝や、細穴などにシールド線を通
す際には自立したシールド線は極めて作業性を向上させ
る。他の効果は上述したことと同じである。
【0018】なお上述では本発明に係わる導線を荷電ビ
ーム電圧装置に限って説明して来たが、走査型電子顕微
鏡(SEM)でも使えることは明らかである。また、部
品の洗浄は装置から取りはずして行うこととしている
が、in-siter洗浄であっても本発明の効果が何んら失な
われるものではない。
【0019】さらに絶縁被覆材として上述では無機物を
使った場合を開示したが、テフロン材等のアウトガスの
少ない絶縁物を使っても良いことは明らかである。さら
に芯線は銅線でも良いことは明らかである。
【0020】
【発明の効果】本発明によれば、アウトガスが極めて少
なく、柔軟性があり、しかも自立可能であり、F* やO
* を含むガスにさらされても腐食せず、耐熱性があり、
耐電圧性があるなど、極めて有利な特長を持つものを導
線又はシールド線として真空槽内で使用するので、真空
槽内の洗浄が容易で、保守性の良い荷電ビーム装置を提
供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の第1の実施例を示す要部斜視図。
【図2】 本発明の第2の実施例を示す要部斜視図。
【図3】 本発明の第3の実施例を示す要部斜視図。
【図4】 本発明の第4の実施例を示す要部斜視図。
【図5】 荷電ビーム装置の概略構成を説明するための
構造図。
【符号の説明】
1…芯線、2…アルミクラッド、3…アルミナ、4…網
シールド、5…圧着端子、10…ガラス繊維絶縁層、1
1…金膜、12…コイルシールド、13…右巻きコイ
ル、14…左巻きコイル、21…真空槽、22…電子
銃、23,24…絞り、25,26…電子レンズ,27
…基板,28…XYステージ,29…電子ビーム,30
…偏向電極,100…配線。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 奥村 勝弥 神奈川県川崎市幸区小向東芝町1番地 株 式会社東芝研究開発センター内

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電子ビームを放射する電子銃と該電子ビ
    ームを集束させる電子レンズと該電子ビームの断面形状
    を整える絞りと基板を載置するX−Yステージとを真空
    槽内に配置し、前記真空槽内で使用する線体を有する荷
    電ビーム装置において、前記真空槽内で使用する線体は
    非磁性導電性芯線と、この芯線を被覆する絶縁被覆材
    と、この被覆材に外装して前記芯線をシールドする非磁
    性導電材シールドとから構成し、前記非磁性導電材シー
    ルドは、少なくとも弗素元素もしくは酸素元素を含む反
    応性ガスに対する耐食性を有することを特徴とする荷電
    ビーム装置。
  2. 【請求項2】 非磁性導電性芯線は、アルミニウム、銅
    ・アルミニウムクラッド、銅・カーボン・アルミニウム
    クラッドの内のいずれかの線であることを特徴とする請
    求項1記載の荷電ビーム装置。
  3. 【請求項3】 絶縁被覆材は、無機物絶縁被覆材とした
    ことを特徴とする請求項1記載の荷電ビーム装置。
  4. 【請求項4】 無機物絶縁被覆材は、アルミナもしくは
    シリケートの内のいずれかの上にガラス繊維もしくは石
    英ガラス繊維の内のいずれかを巻き付けたことを特徴と
    する請求項3記載の荷電ビーム装置。
  5. 【請求項5】 非磁性導電材シールドは、金もしくは白
    金の内のいずれかで少なくとも弗素元素もしくは酸素元
    素を含む反応性ガスに対して耐食性を持たせたことを特
    徴とする請求項1記載の荷電ビーム装置。
  6. 【請求項6】 非磁性導電材シールドは非磁性導電体の
    母材と、この母材の表面に金もしくは白金の内のいずれ
    かをコートしてなることを特徴とする請求項1記載の荷
    電ビーム装置。
  7. 【請求項7】 芯線は、マグネシウム、チタニウム、ジ
    ルコニウムの内のいずれかひとつをクラッド材料とした
    ことを特徴とする請求項1記載の荷電ビーム装置。
  8. 【請求項8】 非磁性導電材シールドは、非磁性導電材
    をコイル状に巻いて形成したことを特徴とする請求項1
    記載の荷電ビーム装置。
  9. 【請求項9】 コイル状に巻かれた導電性シールドは、
    少なくとも2本以上のコイル状筒を重ねたものであっ
    て、その際に、各コイルの巻き方向は互いのインダクタ
    ンスを打ち消す様に、すなわち反対方向に巻かれたこと
    を特徴とする請求項8記載の荷電ビーム装置。
JP5056700A 1993-03-17 1993-03-17 荷電ビーム装置 Pending JPH06267486A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5056700A JPH06267486A (ja) 1993-03-17 1993-03-17 荷電ビーム装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5056700A JPH06267486A (ja) 1993-03-17 1993-03-17 荷電ビーム装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH06267486A true JPH06267486A (ja) 1994-09-22

Family

ID=13034750

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5056700A Pending JPH06267486A (ja) 1993-03-17 1993-03-17 荷電ビーム装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH06267486A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006123437A1 (ja) * 2005-05-20 2006-11-23 Advantest Corporation 荷電粒子ビーム装置、コンタミネ-ションの除去方法及び試料の観察方法
US7294906B2 (en) 2003-09-29 2007-11-13 Canon Kabushiki Kaisha Wiring technique
US8077287B2 (en) 2003-05-09 2011-12-13 Asml Netherlands B.V. Method of preparing components, prepared component, lithographic apparatus and device manufacturing method

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8077287B2 (en) 2003-05-09 2011-12-13 Asml Netherlands B.V. Method of preparing components, prepared component, lithographic apparatus and device manufacturing method
US7294906B2 (en) 2003-09-29 2007-11-13 Canon Kabushiki Kaisha Wiring technique
US7955938B2 (en) 2003-09-29 2011-06-07 Canon Kabushiki Kaisha Wiring technique
WO2006123437A1 (ja) * 2005-05-20 2006-11-23 Advantest Corporation 荷電粒子ビーム装置、コンタミネ-ションの除去方法及び試料の観察方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0419882B1 (en) Optical fiber cable coated with conductive metal coating and process therefor
CN1222980C (zh) 带电粒子束设备的光学柱
US8416920B2 (en) Target for X-ray generation, X-ray generator, and method for producing target for X-ray generation
CN106548913A (zh) 用于高分辨率电子束成像的设备及方法
JP3090802B2 (ja) 静電レンズおよびその製造方法
JPH06267486A (ja) 荷電ビーム装置
US5031200A (en) Cathode for an X-ray tube and a tube including such a cathode
CN1042622A (zh) 阴极射线管
US5293045A (en) Electrostatic lens
US8450917B2 (en) High-definition cathode ray tube and electron gun
US4024041A (en) Method of forming deposition films for use in multi-layer metallization
JP2001093821A (ja) 製造装置組立部品、製造装置組立部品の製造方法、半導体製造装置及び電子ビーム露光装置
JP2002231170A (ja) 静電偏向器及びその製造方法、静電レンズ及びその製造方法、電子ビーム照射装置及びそのクリーニング方法
JP4959288B2 (ja) 電子光学多層コラム
JP2886277B2 (ja) 電子ビーム露光装置
US6624561B2 (en) Color cathode ray tube having an internal voltage-dividing resistor
CA1074852A (en) Method of manufacturing a post-deflection focusing colour selection electrode
CN1162890C (zh) 具有内部分压电阻的彩色阴极射线管
JP4083768B2 (ja) 電子ビーム照射装置
CN1620710A (zh) 适用于电子枪组件的电阻器,具有电阻器的电子枪组件,以及具有电阻器的阴极射线管装置
CN1072837C (zh) 阴极射线管用电子枪
CN112071732A (zh) 一种可编码阵列式静电偏转器、聚焦偏转系统及设计方法
Kurihara Low-aberration einzel lens for a focused-ion-beam system
TWI749693B (zh) 遮蔽偏向器以及帶電粒子束描繪裝置
JP7625017B2 (ja) 荷電粒子を放出するための放出器

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20031222

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20040130

A912 Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912

Effective date: 20040312

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20050415

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20050606