JPH0624511B2 - 眼科装置 - Google Patents
眼科装置Info
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- JPH0624511B2 JPH0624511B2 JP61066731A JP6673186A JPH0624511B2 JP H0624511 B2 JPH0624511 B2 JP H0624511B2 JP 61066731 A JP61066731 A JP 61066731A JP 6673186 A JP6673186 A JP 6673186A JP H0624511 B2 JPH0624511 B2 JP H0624511B2
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- Japan
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- radius
- ring
- diaphragm
- curvature
- cornea
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 32
- 210000004087 cornea Anatomy 0.000 claims description 21
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 11
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 15
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 101100328887 Caenorhabditis elegans col-34 gene Proteins 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 238000001356 surgical procedure Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Eyeglasses (AREA)
- Eye Examination Apparatus (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、角膜やコンタクトレンズの曲率半径を自動的
に測定するオートケラトメーターを備えた手術用顕微鏡
等の眼科装置に関する。
に測定するオートケラトメーターを備えた手術用顕微鏡
等の眼科装置に関する。
(従来技術) 被検角膜または被検コンタクトレンズに所定半径を有す
るリング状パターンを投影し、このリング状パターンの
角膜による虚像を観察光学系を介して光検出器上に投影
し、投影像の大きさ、形状から被検角膜又は被検コンタ
クトレンズの曲率半系を自動的に測定するオートケラト
メーターが知られている。
るリング状パターンを投影し、このリング状パターンの
角膜による虚像を観察光学系を介して光検出器上に投影
し、投影像の大きさ、形状から被検角膜又は被検コンタ
クトレンズの曲率半系を自動的に測定するオートケラト
メーターが知られている。
そして、従来のオートケラトメーターでは、被検角膜と
装置との作動距離誤差が測定に影響しないようにするた
めに、上記リング状パターンが無限遠方から投影される
ように光学的に構成されていた。
装置との作動距離誤差が測定に影響しないようにするた
めに、上記リング状パターンが無限遠方から投影される
ように光学的に構成されていた。
(発明が解決しようとする問題点) しかし、従来のオートケラトメーターでは、上述のリン
グ状パターン投影型式を有するため、そのパターン投影
系は円環状の投影レンズを必要とし、構造が複雑かつ高
価であった。また、リング状パターンの角膜による虚像
の像高(リング虚像の半径)は角膜の曲率半径により変
化するため、その曲率測定は被検角膜毎に異なる角膜輪
帯上で測定される。それゆえ、一定の半径をもつ輪帯上
で曲率半径を測定する必要のあるコンタクトレンズの測
定や、RK(Radial Keratotomy)手術時の角膜の測定に
は利用できない欠点があった。
グ状パターン投影型式を有するため、そのパターン投影
系は円環状の投影レンズを必要とし、構造が複雑かつ高
価であった。また、リング状パターンの角膜による虚像
の像高(リング虚像の半径)は角膜の曲率半径により変
化するため、その曲率測定は被検角膜毎に異なる角膜輪
帯上で測定される。それゆえ、一定の半径をもつ輪帯上
で曲率半径を測定する必要のあるコンタクトレンズの測
定や、RK(Radial Keratotomy)手術時の角膜の測定に
は利用できない欠点があった。
また、1つの角膜あるいはコンタクトレンズを互に異な
る任意の半径を有する輪帯上でそれぞれの曲率半径を測
定したいときには、従来のオートケラトメーターでは、
異なる半径を有するリングパターンを複数設けなければ
ならず、装置の構成が複雑になる欠点があった。
る任意の半径を有する輪帯上でそれぞれの曲率半径を測
定したいときには、従来のオートケラトメーターでは、
異なる半径を有するリングパターンを複数設けなければ
ならず、装置の構成が複雑になる欠点があった。
本発明は係る従来の眼科装置の欠点に鑑みなされたもの
で、その第1の目的はリングパターンを有限距離から投
影する形式にしても精度よく曲率半径の測定ができる眼
科装置を提供することにある。
で、その第1の目的はリングパターンを有限距離から投
影する形式にしても精度よく曲率半径の測定ができる眼
科装置を提供することにある。
本発明の第2の目的は、常に一定の所定半径の輪帯上で
いずれの被検物の曲率半径の測定ができる眼科装置を提
供することにある。
いずれの被検物の曲率半径の測定ができる眼科装置を提
供することにある。
本発明の第3の目的は、任意の半径の輪帯上で1つの被
検物の曲率半径の測定ができる眼科装置を提供すること
にある。
検物の曲率半径の測定ができる眼科装置を提供すること
にある。
[発明の構成] (問題点を解決するための手段) 本発明は上記目的を達成するため、被検眼角膜上にリン
グパターンを有限距離から投影するパターン投影手段
と、対物レンズの焦点位置に配置した第1の絞りと、第
1の絞りと光学的に異なる位置に配置した第2の絞りと
を有し、前記第1の絞りを通過した光束と前記第2の絞
りとを通過した光束のそれぞれを検出する検出手段と、
前記検出手段により求めた各位置情報に基づき被検眼の
角膜形状を演算する演算手段とを有することを特徴とす
る。
グパターンを有限距離から投影するパターン投影手段
と、対物レンズの焦点位置に配置した第1の絞りと、第
1の絞りと光学的に異なる位置に配置した第2の絞りと
を有し、前記第1の絞りを通過した光束と前記第2の絞
りとを通過した光束のそれぞれを検出する検出手段と、
前記検出手段により求めた各位置情報に基づき被検眼の
角膜形状を演算する演算手段とを有することを特徴とす
る。
(作 用) 第1の測定光学系により輪帯の半径を知ることができ、
第2の測定光学系により作動距離を知ることができ、リ
ングパターンの虚像位置が決定できるため、これに基づ
いて被検眼の曲率半径を測定できる。
第2の測定光学系により作動距離を知ることができ、リ
ングパターンの虚像位置が決定できるため、これに基づ
いて被検眼の曲率半径を測定できる。
(実施例) 第1図は本発明に係る眼科装置としてのオートケラトメ
ーターの光学系を示す図であり、パターン投影手段とし
て円環状の蛍光管またはストロボ放電管からなるリング
状光源10と、この光源10からの光束を通過させるリング
パターン11a付のマスク板11を有している。リングパタ
ーン11aからの光束は被検角膜Cまたは被検コンタクト
レンズである被検物に投影され、リングパターンの虚像
iを作る。第1の観察光学系1は、対物レンズ12と、こ
の対物レンズ12の後側焦点位置に配置された絞り14と、
絞り14の位置に前側焦点を有する結像レンズ15と、その
後方に例えばエリアCCDからなる二次元のポジションセ
ンサーからなる第1の光検出器16とから構成されてい
る。この構成により、光検出器16と虚像iは光学的に共
役となる。また、絞り14は、光軸Oに平行な光束のみを
光検出器16上に投射するよう作用する。
ーターの光学系を示す図であり、パターン投影手段とし
て円環状の蛍光管またはストロボ放電管からなるリング
状光源10と、この光源10からの光束を通過させるリング
パターン11a付のマスク板11を有している。リングパタ
ーン11aからの光束は被検角膜Cまたは被検コンタクト
レンズである被検物に投影され、リングパターンの虚像
iを作る。第1の観察光学系1は、対物レンズ12と、こ
の対物レンズ12の後側焦点位置に配置された絞り14と、
絞り14の位置に前側焦点を有する結像レンズ15と、その
後方に例えばエリアCCDからなる二次元のポジションセ
ンサーからなる第1の光検出器16とから構成されてい
る。この構成により、光検出器16と虚像iは光学的に共
役となる。また、絞り14は、光軸Oに平行な光束のみを
光検出器16上に投射するよう作用する。
他方、第2の観察光学系2は、前記対物レンズ12と、穴
13aを有する穴開きミラー13と、コリメータレンズ17
と、対物レンズ12及びコリメータレンズ17により予め光
軸O上に定めた位置Pと光学的に共役な位置に配置され
た絞り18と、絞り18の後方に配置された例えばリニア型
またはエリア型のCCDからなるポジションセンサーで構
成された第2の光検出器19とを有する。この第2の観察
光学系2では、位置Pから射出された如く振舞う光束の
みを絞り18が通過させ、この通過した光束を光検出器19
上に投影するように作用する。
13aを有する穴開きミラー13と、コリメータレンズ17
と、対物レンズ12及びコリメータレンズ17により予め光
軸O上に定めた位置Pと光学的に共役な位置に配置され
た絞り18と、絞り18の後方に配置された例えばリニア型
またはエリア型のCCDからなるポジションセンサーで構
成された第2の光検出器19とを有する。この第2の観察
光学系2では、位置Pから射出された如く振舞う光束の
みを絞り18が通過させ、この通過した光束を光検出器19
上に投影するように作用する。
なお、この様な投影パターン手段や第1,第2の観察光学
系は後述する装置本体としての装置筺体100に装着され
ている。
系は後述する装置本体としての装置筺体100に装着され
ている。
上記光学構成により第1の観察光学系1は、虚像iから
でて、光軸Oに平行な光束Aの像を第1光検出器16で検
出するため、その投影位置A′と光軸Oとの距離aを検
出することにより虚像iの像高hを知ることができる。
でて、光軸Oに平行な光束Aの像を第1光検出器16で検
出するため、その投影位置A′と光軸Oとの距離aを検
出することにより虚像iの像高hを知ることができる。
また、第2の観察光学系2は、角膜Cで反射する反射光
のうち位置Pと虚像iを結ぶ直線上の光束Bのみが絞り
18を通り第2光検出器19に投影されるため、その投影位
置B′と光軸O′との距離bを検出することにより、光束
Bの角膜Cからの反射方向がわかり、光束Aと光束Bの
交点である虚像iの位置を一義的に決定できる。それゆ
え、作動距離dを知ることができる。
のうち位置Pと虚像iを結ぶ直線上の光束Bのみが絞り
18を通り第2光検出器19に投影されるため、その投影位
置B′と光軸O′との距離bを検出することにより、光束
Bの角膜Cからの反射方向がわかり、光束Aと光束Bの
交点である虚像iの位置を一義的に決定できる。それゆ
え、作動距離dを知ることができる。
これにより、リングパターン11aの半径をH、虚像iの
像高hとすると図中の角度θ0は として求められる。
像高hとすると図中の角度θ0は として求められる。
ここでθ0と像高hすなわち半径hの輪帯上に投射され
る光束とその反射光束Aとのなす角θとの差Δθ=
(θ−θ0)は、作動距離dと被検角膜Cの曲率半径r
の関数となる。そこで予め既知の曲率半径rと作動距離
dとの組合せに基づくΔθの換算表を求めておき、まず
最初の測定による被検角膜の曲率半径rを で求め、(2)式の曲率半径rと作動距離dとから前述の
Δθの換算表を用いてΔθを求め、最終的な曲率半径r
を として求める。
る光束とその反射光束Aとのなす角θとの差Δθ=
(θ−θ0)は、作動距離dと被検角膜Cの曲率半径r
の関数となる。そこで予め既知の曲率半径rと作動距離
dとの組合せに基づくΔθの換算表を求めておき、まず
最初の測定による被検角膜の曲率半径rを で求め、(2)式の曲率半径rと作動距離dとから前述の
Δθの換算表を用いてΔθを求め、最終的な曲率半径r
を として求める。
所定の半径hを有する輪帯でいずれの被検角膜もその曲
率半径を測定したいときは、第1観察光学系の第1光検
出器16の所定半径hに対応する検出位置(半径a)に投
影光束Aが位置するまで光学装置を光軸O方向に沿って
移動させて、半径aの投影位置上に光束Aが投影された
とき所定半径hの輪帯上に虚像iが位置したと判定し、
そのときの第2の観察光学系2の第2光検器19の光束B
の投影位置B′から作動距離dを求め、第(1)式ないし
第(3)式を使って所定輪帯上での曲率半径測定ができ
る。
率半径を測定したいときは、第1観察光学系の第1光検
出器16の所定半径hに対応する検出位置(半径a)に投
影光束Aが位置するまで光学装置を光軸O方向に沿って
移動させて、半径aの投影位置上に光束Aが投影された
とき所定半径hの輪帯上に虚像iが位置したと判定し、
そのときの第2の観察光学系2の第2光検器19の光束B
の投影位置B′から作動距離dを求め、第(1)式ないし
第(3)式を使って所定輪帯上での曲率半径測定ができ
る。
また1つの被検角膜を異なる任意の半径の複数の輪帯上
で測定したいときは、その輪帯の半径に応じた第1光検
出器への光束Aの投影されるべき位置を予め定め、その
位置に光束Aがくるように装置を光軸O方向に沿って移
動すればよい。
で測定したいときは、その輪帯の半径に応じた第1光検
出器への光束Aの投影されるべき位置を予め定め、その
位置に光束Aがくるように装置を光軸O方向に沿って移
動すればよい。
第2図は本光学装置の電気制御系を示すブロック図で、
本光学装置の装置本体である装置筺体100は移動機構20
により光軸O方向に移動可能に構成されている。この移
動機構20は、装置筺体100の雌ネジ部に螺合した送りネ
ジ21と、この送りネジ21を回動するパルスモータ22とか
ら構成されている。
本光学装置の装置本体である装置筺体100は移動機構20
により光軸O方向に移動可能に構成されている。この移
動機構20は、装置筺体100の雌ネジ部に螺合した送りネ
ジ21と、この送りネジ21を回動するパルスモータ22とか
ら構成されている。
所定の輪帯で角膜Cの曲率半径を測定する場合には演算
制御回路37は、ROM40に予め記憶されている、所定半径
hの輪帯に相応する第1光検出器16の投影検出位置A′
(所定半径aの検出軌跡となる)を読み出して比較器38
へ入力しておき、次にドライバ回路32を作動させて第1
光検出16を走査し、その検出出力をA/D変換器33を介し
てRAM35に一時的に記憶させる。そして、演算制御回路3
7は、RAM35のデータに基づいて検出器16への投影リング
パターンのリング像の中央軌跡を求め、そのデータを比
較器38に出力する。比較器38は、中央軌跡データがRAM4
0から入力されている投影検出位置A′すなわち所定検出
軌跡上にあるか否かを判定し、否の場合は両者のズレ量
に基づいてドライバ回路23を介してパルスモータ22を必
要量回転し装置筺体100を移動させる。
制御回路37は、ROM40に予め記憶されている、所定半径
hの輪帯に相応する第1光検出器16の投影検出位置A′
(所定半径aの検出軌跡となる)を読み出して比較器38
へ入力しておき、次にドライバ回路32を作動させて第1
光検出16を走査し、その検出出力をA/D変換器33を介し
てRAM35に一時的に記憶させる。そして、演算制御回路3
7は、RAM35のデータに基づいて検出器16への投影リング
パターンのリング像の中央軌跡を求め、そのデータを比
較器38に出力する。比較器38は、中央軌跡データがRAM4
0から入力されている投影検出位置A′すなわち所定検出
軌跡上にあるか否かを判定し、否の場合は両者のズレ量
に基づいてドライバ回路23を介してパルスモータ22を必
要量回転し装置筺体100を移動させる。
演算制御回路37は、所定の輪帯上に虚像iがくる位置に
装置を移動したことを比較器38が確認すると、ドライバ
回路31を介して第2光検出器19を走査し、その検出デー
タをA/D変換器34を介してRAM36に一時的に記憶させる。
次に演算制御回路37は、RAM36のデータから距離bを知
り、以下第(1)式ないし第(3)式を利用して曲率半径rを
求め、その結果を表示器39で表示する。なおΔθの換算
表はROM40に予め記憶されている。
装置を移動したことを比較器38が確認すると、ドライバ
回路31を介して第2光検出器19を走査し、その検出デー
タをA/D変換器34を介してRAM36に一時的に記憶させる。
次に演算制御回路37は、RAM36のデータから距離bを知
り、以下第(1)式ないし第(3)式を利用して曲率半径rを
求め、その結果を表示器39で表示する。なおΔθの換算
表はROM40に予め記憶されている。
任意の輪帯での曲率半径rを測定するときは、入力装置
42で任意の輪帯半径hi(i=1,2,3…n)を入力す
る。これにより、換算器41はROM40に予め記憶されてい
る輪帯半径hiとそれに対応する第1光検出器の投影位置
データA′iまたは検出軌跡データai(i=1,2,3…
n)から入力された輪帯半径hiに対応する検出軌跡デー
タaiを選び出し、その値を比較器38に入力する。以下上
述と同様の動作で任意の輪帯上の曲率半径riを求め
る。
42で任意の輪帯半径hi(i=1,2,3…n)を入力す
る。これにより、換算器41はROM40に予め記憶されてい
る輪帯半径hiとそれに対応する第1光検出器の投影位置
データA′iまたは検出軌跡データai(i=1,2,3…
n)から入力された輪帯半径hiに対応する検出軌跡デー
タaiを選び出し、その値を比較器38に入力する。以下上
述と同様の動作で任意の輪帯上の曲率半径riを求め
る。
なお、更に広範囲の輪帯半径上で測定を可能にするため
には、絞り18,第2光検出器19を作動距離に応じて段階
的に光軸に沿って動かす。更に、第1光検出器16も光軸
に沿って動かし、ピントを合わせる様に構成すると良
い。
には、絞り18,第2光検出器19を作動距離に応じて段階
的に光軸に沿って動かす。更に、第1光検出器16も光軸
に沿って動かし、ピントを合わせる様に構成すると良
い。
(発明の効果) 本発明によれば、以上説明したように、被検眼角膜上に
リングパターンを有限距離から投影するパターン投影手
段と、対物レンズの焦点位置に配置した第1の絞りと、
第1の絞りと光学的に異なる位置に配置した第2の絞り
とを有し、前記第1の絞りを通過した光束と前記第2の
絞りとを通過した光束のそれぞれを検出する検出手段
と、前記検出手段により求めた各位置情報に基づき被検
眼の角膜形状を演算する演算手段とから眼科装置を構成
したので、有限距離からリングパターンを投影する型式
でも精度よく曲率半径が測定でき、パターン投影系を簡
単にできる眼科装置を提供できる。しかも、所定の輪帯
上で常に曲率半径を測定できる眼科装置を提供できる。
リングパターンを有限距離から投影するパターン投影手
段と、対物レンズの焦点位置に配置した第1の絞りと、
第1の絞りと光学的に異なる位置に配置した第2の絞り
とを有し、前記第1の絞りを通過した光束と前記第2の
絞りとを通過した光束のそれぞれを検出する検出手段
と、前記検出手段により求めた各位置情報に基づき被検
眼の角膜形状を演算する演算手段とから眼科装置を構成
したので、有限距離からリングパターンを投影する型式
でも精度よく曲率半径が測定でき、パターン投影系を簡
単にできる眼科装置を提供できる。しかも、所定の輪帯
上で常に曲率半径を測定できる眼科装置を提供できる。
また、前記パターン投影手段及び第1,第2の観察光学系
を挿置する装置本体を設け、前記第1の光検出器の検出
データに基づいて前記装置本体を前記光軸に沿って移動
する移動手段が設けられた眼科装置とした場合には、任
意の輪帯上で曲率半径を測定できる眼科装置を提供でき
る。
を挿置する装置本体を設け、前記第1の光検出器の検出
データに基づいて前記装置本体を前記光軸に沿って移動
する移動手段が設けられた眼科装置とした場合には、任
意の輪帯上で曲率半径を測定できる眼科装置を提供でき
る。
第1図は本発明に係る眼科装置としてのオートケラトメ
ーターの光学装置を示す図、第2図はその電気系を示す
ブロック図である。 1……第1の観察光学系 2……第2の観察光学系 10……光源、11a……リングパターン 12……対物レンズ、10……第1の絞り 16……第1の光検出器 18……第2の絞り 19……第2の光検出器 20……移動手段 100……装置筺体(装置本体)
ーターの光学装置を示す図、第2図はその電気系を示す
ブロック図である。 1……第1の観察光学系 2……第2の観察光学系 10……光源、11a……リングパターン 12……対物レンズ、10……第1の絞り 16……第1の光検出器 18……第2の絞り 19……第2の光検出器 20……移動手段 100……装置筺体(装置本体)
Claims (2)
- 【請求項1】被検眼角膜上にリングパターンを有限距離
から投影するパターン投影手段と、対物レンズの焦点位
置に配置した第1の絞りと、第1の絞りと光学的に異な
る位置に配置した第2の絞りとを有し、前記第1の絞り
を通過した光束と前記第2の絞りとを通過した光束のそ
れぞれを検出する検出手段と、前記検出手段により求め
た各位置情報に基づき被検眼の角膜形状を演算する演算
手段とを有することを特徴とする眼科装置。 - 【請求項2】前記パターン投影手段及び第1、第2の絞
りを有する装置本体を設け、前記検出手段の検出データ
に基づいて前記装置本体を前記光軸に沿って移動する移
動手段が設けられたことを特徴とする特許請求の範囲第
1項に記載の眼科装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61066731A JPH0624511B2 (ja) | 1986-03-25 | 1986-03-25 | 眼科装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61066731A JPH0624511B2 (ja) | 1986-03-25 | 1986-03-25 | 眼科装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62224330A JPS62224330A (ja) | 1987-10-02 |
JPH0624511B2 true JPH0624511B2 (ja) | 1994-04-06 |
Family
ID=13324325
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61066731A Expired - Lifetime JPH0624511B2 (ja) | 1986-03-25 | 1986-03-25 | 眼科装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0624511B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3015741U (ja) * | 1995-03-13 | 1995-09-12 | 由美子 黒川 | 携帯用貼り付けボタン |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0265832A (ja) * | 1988-08-31 | 1990-03-06 | Topcon Corp | 眼科装置 |
JPH0265833A (ja) * | 1988-08-31 | 1990-03-06 | Topcon Corp | オートケラトメータ |
JP2536127B2 (ja) * | 1989-02-17 | 1996-09-18 | オムロン株式会社 | 基板検査装置 |
BRPI0612383A2 (pt) * | 2005-06-30 | 2016-09-06 | Wavefront Sciences Inc | método e sistema para medir a curvatura de uma superfície de um objeto |
JP2019170464A (ja) * | 2018-03-27 | 2019-10-10 | 株式会社トプコン | 眼科装置 |
-
1986
- 1986-03-25 JP JP61066731A patent/JPH0624511B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3015741U (ja) * | 1995-03-13 | 1995-09-12 | 由美子 黒川 | 携帯用貼り付けボタン |
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Publication number | Publication date |
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JPS62224330A (ja) | 1987-10-02 |
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