JPH06230351A - Liquid crystal display device - Google Patents
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Landscapes
- Liquid Crystal (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は液晶を用いた画像表示装
置及びその製造方法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an image display device using liquid crystal and a manufacturing method thereof.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来、画像表示装置はCRT(Cath
od Ray Tube)が広く利用されていたが、近
年CRTに変わる画像表示装置として薄型化、軽量化が
可能な液晶表示装置が注目されている。2. Description of the Related Art Conventionally, an image display device is a CRT (Cath).
od Ray Tube) has been widely used, but in recent years, a liquid crystal display device which can be made thinner and lighter has been attracting attention as an image display device replacing a CRT.
【0003】本発明者等は、先願の発明として、2枚の
半導体基板を絶縁物層を介して貼り合わせ、片方の基板
を薄層化し、以て、絶縁物上に単結晶Si半導体層を形
成したシリコンオンインシュレータ(SOI)形の基板
構造を得ると共に、その非光透過性基板における液晶画
素部の下方の部分を除去することにより、液晶画素部に
光を透過可能にした液晶画像表示装置を提案している。
これにより光透過性基体上に良質な単結晶層を得るとい
う目的が達成されるものである。The inventors of the present invention, as the invention of the prior application, bond two semiconductor substrates with each other through an insulator layer, and thin one of the substrates so that a single crystal Si semiconductor layer is formed on the insulator. A silicon-on-insulator (SOI) type substrate structure is formed, and a liquid crystal image display in which light can be transmitted to the liquid crystal pixel portion by removing the portion below the liquid crystal pixel portion in the non-light transmissive substrate. Proposing a device.
This achieves the purpose of obtaining a good quality single crystal layer on the light transmissive substrate.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来例の液晶表示装置では、温度、圧力等の環境変化の影
響で液晶層のギャップ、駆動用トランジスタ等が変形
し、画質の劣化、更には信頼性の低下を引き起こしてい
た。However, in the above-mentioned conventional liquid crystal display device, the gap in the liquid crystal layer, the driving transistor, etc. are deformed due to the influence of environmental changes such as temperature and pressure, and the image quality is deteriorated and the reliability is improved. It caused a decrease in sex.
【0005】また、上記先願の発明に係る技術では、く
り抜き面部の上側の「メンブレン(Membrane)
部」、つまり投光性になった領域の表面の電子デバイス
が組み込まれている薄層(単結晶Si層、又は単結晶S
i層と絶縁層)は、その厚さが数μm以下であり、その
強度アップが必要である。これは、特にくり抜き面積が
大きくなるにつれて必要となる。Further, in the technique according to the invention of the above-mentioned prior application, the "membrane (Membrane)" on the upper side of the cut-out surface portion is used.
Part, that is, a thin layer (single crystal Si layer or single crystal S layer) in which an electronic device on the surface of the light-transmitting region is incorporated.
The i layer and the insulating layer) have a thickness of several μm or less, and it is necessary to increase the strength. This becomes necessary especially as the cut-out area increases.
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】即ち、本発明は液晶駆動
用素子を設けた薄膜層をはさむ2枚の基板間の一方に液
晶材料を有する液晶表示装置において、前記他方の薄膜
層と基板の間に流動性材料を充填することにより液晶駆
動用素子を設けた薄膜層を補強し、かつ、上記薄膜層を
補強する流動性材料の温度、気圧等の変化による体積変
化を吸収する領域を画像表示部の外に設けることにより
環境の変化に強くしたものである。That is, according to the present invention, in a liquid crystal display device having a liquid crystal material on one side between two substrates sandwiching a thin film layer provided with a liquid crystal driving element, the other thin film layer and the substrate are provided. Image a region that reinforces the thin film layer on which the liquid crystal driving element is provided by filling a fluid material in between, and absorbs volume change due to changes in temperature, pressure, etc. of the fluid material that reinforces the thin film layer. By installing it outside the display, it is resistant to environmental changes.
【0007】更に、画像表示領域と外気を結ぶ通路を設
けることにより、上記薄膜層を補強する流動性材料の温
度、気圧等の変化による体積変化を液晶表示装置の外部
へ逃がす様にして環境の変化に強くしたものである。Further, by providing a passage connecting the image display area and the outside air, the volume change due to the change of temperature, atmospheric pressure and the like of the fluid material for reinforcing the thin film layer is released to the outside of the liquid crystal display device. It is resistant to change.
【0008】[0008]
(第1実施例)図1(a)は本発明による液晶表示装置
の該略図の平面図、図1(b)はそのA−A’断面図で
ある。以下に図の説明及び実施例の説明を行う。(First Embodiment) FIG. 1A is a plan view of the schematic view of a liquid crystal display device according to the present invention, and FIG. 1B is a sectional view taken along line AA '. The drawings and the examples will be described below.
【0009】本発明による液晶表示装置は画像表示用液
晶セル部と、ポッティング材を注入して液晶セル部の補
強を行うポッティングセル部よりなる。液晶セル部は透
明基板51と液晶駆動素子層60と枠材52によって囲
まれた部分に注入された液晶50から構成される。透明
基板51にはカラーフィルターとカラーフィルター間を
遮光する遮光層と、液晶に電圧を印加するための透明電
極と、液晶を一定方向に配向させるための配向膜が設け
られている。液晶駆動素子層60は、画素部には画素電
極、上記電極へ信号を印加するための薄膜トランジスタ
(TFT)、TFTへ信号を送る信号線、TFT駆動用
駆動線、画素TFTを駆動する水平、垂直シフトレジス
タからなる。The liquid crystal display device according to the present invention comprises an image display liquid crystal cell portion and a potting cell portion for injecting a potting material to reinforce the liquid crystal cell portion. The liquid crystal cell portion is composed of the transparent substrate 51, the liquid crystal driving element layer 60, and the liquid crystal 50 injected into the portion surrounded by the frame member 52. The transparent substrate 51 is provided with a light-shielding layer for shielding light between the color filters, a transparent electrode for applying a voltage to the liquid crystal, and an alignment film for aligning the liquid crystal in a certain direction. The liquid crystal driving element layer 60 includes a pixel electrode in the pixel portion, a thin film transistor (TFT) for applying a signal to the electrode, a signal line for transmitting a signal to the TFT, a driving line for driving the TFT, and horizontal and vertical driving the pixel TFT. It consists of a shift register.
【0010】液晶駆動素子層60は、図18に示す方法
により製造されたSi基板上に作成される。該Si基板
は経済性に優れて、大面積に渡り均一平坦な極めて優れ
た結晶性を有するSi単結晶基板であり、半導体アクテ
ィブ素子が、欠陥の著しく少ないSi単結晶層上に作成
されているため、上記半導体素子の浮遊容量が低減し、
高速動作が可能で、ラッチアップ現象等のない、耐放射
線特性の優れた素子及び回路を液晶画像表示画素と同一
基板上に集積した高性能な液晶表示装置を提供できる。The liquid crystal driving element layer 60 is formed on the Si substrate manufactured by the method shown in FIG. The Si substrate is a Si single crystal substrate which is highly economical and has an extremely excellent crystallinity which is uniform and flat over a large area, and a semiconductor active element is formed on a Si single crystal layer having extremely few defects. Therefore, the stray capacitance of the semiconductor element is reduced,
It is possible to provide a high-performance liquid crystal display device in which elements and circuits which can operate at high speed and have excellent radiation resistance without latch-up phenomenon are integrated on the same substrate as liquid crystal image display pixels.
【0011】以下に、図18に従いSi基板の製造方法
の一例を説明する。An example of a method of manufacturing a Si substrate will be described below with reference to FIG.
【0012】図18(a)に示す様に300ミクロンの
厚みを持ったP型(100)単結晶Si基板にHF溶液
中において陽極化成を施し、多孔質Si基板を形成す
る。As shown in FIG. 18A, a P-type (100) single crystal Si substrate having a thickness of 300 μm is anodized in an HF solution to form a porous Si substrate.
【0013】上記陽極化性条件は以下の通りであった。The anodizing conditions were as follows.
【0014】印加電圧: 2.6 (V) 電流密度: 30 (mA・cm-2) 陽極化成溶液: HF:H2 O:C2 H5 OH=1:
1:1 時間: 2.4 (時間) 多孔質Siの厚み:300 (μm) Porosity: 56 (%) こうして得られたP型(100)多孔質Si基板101
上に減圧CVD法により、Siエピタキシャル層102
を1.0ミクロンの層厚で成長させる。堆積条件は以下
のとおりである。Applied voltage: 2.6 (V) Current density: 30 (mA · cm -2 ) Anodizing solution: HF: H 2 O: C 2 H 5 OH = 1:
1: 1 time: 2.4 (hour) Porous Si thickness: 300 (μm) Porosity: 56 (%) P-type (100) porous Si substrate 101 thus obtained
The Si epitaxial layer 102 is formed on the upper surface by low pressure CVD.
Are grown with a layer thickness of 1.0 micron. The deposition conditions are as follows.
【0015】ソースガス: SiH4 キャリヤーガス: H2 温度: 850℃ 圧力: 1×10-2Torr 成長速度: 3.3nm/sec 次に、このエピタキシャル層102の表面に1000オ
ングストロームの酸化層103を形成し、その酸化表面
に、図18(b)に示す様に、表面に5000オングス
トロームの酸化層104、1000オングストロームの
窒化層105を形成したもう一方のSi基板107を重
ね合せ、窒素雰囲気中で800℃、0.5時間加熱する
ことにより、2つのSi基板を、強固に貼り合わせる。Source gas: SiH 4 carrier gas: H 2 Temperature: 850 ° C. Pressure: 1 × 10 -2 Torr Growth rate: 3.3 nm / sec Next, an oxide layer 103 of 1000 Å is formed on the surface of the epitaxial layer 102. As shown in FIG. 18B, another oxide Si substrate 107 having a 5000 angstrom oxide layer 104 and a 1000 angstrom nitride layer 105 formed on the oxidized surface is superposed on the oxidized surface, and the surface is placed in a nitrogen atmosphere. The two Si substrates are firmly bonded together by heating at 800 ° C. for 0.5 hours.
【0016】その後、該貼り合わせた基板を49%弗酸
とアルコールと30%過酸化水素水との混合液(10:
6:50)中で攪拌することなく選択エッチングした。
65分後には、図18(c)に示す様に、非多孔質Si
層だけがエッチングされずに残り、単結晶Siをエッチ
ング・ストップ材料として、多孔質Si基板101は選
択エッチングされ、完全に除去された。Thereafter, the bonded substrates are mixed with a mixed solution of 49% hydrofluoric acid, alcohol, and 30% hydrogen peroxide solution (10:
Selective etching was carried out in a 6:50) without stirring.
After 65 minutes, as shown in FIG. 18 (c), non-porous Si
Only the layer remained without being etched, and the porous Si substrate 101 was selectively etched and completely removed using the single crystal Si as an etching stop material.
【0017】非多孔質Si単結晶の該エッチング液に対
するエッチング速度は、極めて低く65分後でもエッチ
ング層は50オングストローム以下であり、多孔質層の
エッチング速度との選択比は十の五乗以下にも達し、非
多孔質層におけるエッチング量(数十オングストロー
ム)は実用上無視できる程度のものである。こうする
と、200ミクロンの厚みをもった多孔質化されたSi
基板101は、除去され、SiO2 103上に1.0μ
mの厚みをもった単結晶Si層102が形成できる。ソ
ースガスとして、SiH2 Clを用いた場合には、成長
温度を数十度上昇させる必要があるが、多孔質基板に特
有な増速エッチング特性は、維持される。The etching rate of the non-porous Si single crystal with respect to the etching solution is extremely low, the etching layer is 50 angstroms or less even after 65 minutes, and the selectivity with respect to the etching rate of the porous layer is not more than 10 <5>. The amount of etching in the non-porous layer (tens of angstroms) is practically negligible. In this way, porous Si having a thickness of 200 microns is obtained.
Substrate 101 was removed and 1.0 μ on SiO 2 103
A single crystal Si layer 102 having a thickness of m can be formed. When SiH 2 Cl is used as the source gas, it is necessary to raise the growth temperature by several tens of degrees, but the enhanced etching characteristic peculiar to the porous substrate is maintained.
【0018】上記単結晶シリコン薄膜102にTFTを
形成し、液晶駆動素子層60とするが、液晶駆動素子層
60はSi基板1上に作成されるため、可視光不透明で
ある。そこで、次に、可視光透過可能にするために、開
口部2をエッチングによってくりぬく。エッチング液と
してはテトラメチルアンモニウムハイドライド(TMA
H)水溶液を用いた。エッチング条件は、TMAH22
%水溶液、90℃、10時間である。なお、Si基板1
として、Si基板上に薄い絶縁層が存在し、更にその上
部に単結晶Si層が重なった構造(Silicon O
n Insulater構造、SOI)のSi基板を用
いると絶縁層3がエッチングストップ層となり、均一な
エッチングに有効であり望ましい。ここで、エッチング
液としてKOH等SiとSiO2 との選択比が充分とれ
るものであれば特に限定はされない。A TFT is formed on the single crystal silicon thin film 102 to form a liquid crystal driving element layer 60. Since the liquid crystal driving element layer 60 is formed on the Si substrate 1, it is opaque to visible light. Therefore, next, the opening 2 is hollowed by etching in order to allow visible light to pass therethrough. As an etching solution, tetramethylammonium hydride (TMA
H) An aqueous solution was used. Etching conditions are TMAH22
% Aqueous solution, 90 ° C., 10 hours. The Si substrate 1
As a structure in which a thin insulating layer is present on a Si substrate and a single crystal Si layer is overlaid on the thin insulating layer (Silicon O
When a Si substrate having an n Insulator structure, SOI) is used, the insulating layer 3 serves as an etching stop layer, which is effective and desirable for uniform etching. Here, the etching solution is not particularly limited as long as it has a sufficient selection ratio of Si such as KOH and SiO 2 .
【0019】次に、ポッティングセル部分の作成方法に
ついて述べる。工程は大きく分けて、ポッティング材充
填領域作成工程、ポッティング材注入工程、注入口封止
工程の3工程に分けることができる。以下、この順で説
明する。Next, a method of forming the potting cell portion will be described. The process can be roughly divided into three processes of a potting material filling region creating process, a potting material injecting process, and an injection port sealing process. Hereinafter, description will be made in this order.
【0020】Si基板1を前述の開口部2エッチングと
同時に、ポッティング材体積変化吸収領域20、開口部
2とポッティング材体積変化吸収領域20を結ぶ通路、
開口部2とポッティング材注入口25結ぶ通路をエッチ
ングによりくりぬく。次にポッティング材体積変化吸収
領域20のまわりのSi基板1上に接着剤(枠材4)を
塗布する。枠材4としてはエポキシ樹脂(三井東圧化学
(株)ストラクトボンドEH454NF)を用いた。接
着剤による枠材4は、ディスペンサーにより注射針先か
ら吐き出させパターンをトレースする、またはスキージ
印刷のどちらの方法で形成してもよい。その上にゴム製
膜21等、温度あるいは気圧等によるポッティング材の
体積変化を吸収する弾力性を有する膜をのせ、次に開口
部2の回りとゴム製膜21上の一部に枠材4を同様に形
成し、その上にガラス基板5をのせ、所望のギャップに
するために加圧し、80℃、2時間オーブン中で焼成
し、ポッティング材充填領域を形成した。Simultaneously with the etching of the opening 2 of the Si substrate 1, the potting material volume change absorbing region 20, the passage connecting the opening 2 and the potting material volume change absorbing region 20,
A passage connecting the opening 2 and the potting material injection port 25 is hollowed by etching. Next, an adhesive (frame member 4) is applied on the Si substrate 1 around the potting material volume change absorbing region 20. As the frame material 4, an epoxy resin (Structbond EH454NF, manufactured by Mitsui Toatsu Chemicals, Inc.) was used. The frame material 4 made of an adhesive may be formed by either a method of discharging the injection needle tip with a dispenser to trace a pattern or a method of squeegee printing. A rubber film 21 or the like, which has elasticity to absorb a volume change of the potting material due to temperature, atmospheric pressure, or the like, is placed thereon, and then the frame member 4 is provided around the opening 2 and a part of the rubber film 21. Was similarly formed, the glass substrate 5 was placed thereon, and pressure was applied to form a desired gap, followed by baking in an oven at 80 ° C. for 2 hours to form a potting material filled region.
【0021】ここで、ガラス基板5にはSi基板1と熱
膨張率が近い材料を用いることが液晶表示装置の反り抑
制に有効であり望ましい。本実施例においてはガラス基
板5としてSiと比較的熱膨張率の近い旭硝子(株)製
ALガラス(熱膨張率36×10-7;Siは32×10
-7)を使用した。ギャップは所望の厚さのギャップ材
(ガラス、注射針等)をガラス基板5とSi基板1の間
にはさむことにより抑制した。また、非常に狭いギャッ
プ(10μm程度)が必要な時はエポキシ樹脂中にφ1
0μm程度のビーズ(セキスイファインケミカル
(株)、ミクロパールSP)を混ぜて枠材4を形成し、
所望のギャップ厚とした。Here, it is preferable that the glass substrate 5 is made of a material having a coefficient of thermal expansion close to that of the Si substrate 1 because it is effective in suppressing warpage of the liquid crystal display device. In this embodiment, as the glass substrate 5, AL glass manufactured by Asahi Glass Co., Ltd. (coefficient of thermal expansion 36 × 10 −7 ; Si is 32 × 10), which has a thermal expansion coefficient relatively close to that of Si.
-7 ) was used. The gap was suppressed by sandwiching a gap material (glass, injection needle, etc.) having a desired thickness between the glass substrate 5 and the Si substrate 1. When a very narrow gap (about 10 μm) is needed, φ1 in the epoxy resin
The beads of about 0 μm (Sekisui Fine Chemical Co., Ltd., Micropearl SP) are mixed to form the frame material 4,
The desired gap thickness was set.
【0022】次に、ポッティング材を上記の様にして形
成したポッティングセルの中に充填する注入工程につい
て述べる。ポッティング材は注入前に真空脱泡(10-3
Torr、12時間)を行い、気泡の混入がない状態に
した。枠の形成が終了している液晶表示装置(液晶セ
ル)とシャーレ等に入れたポッティング材を真空装置内
にセットし、10-3Torr程度の真空度まで真空引き
する。真空引きの時間は10-3Torrに到達後1〜2
4時間の間とした。その後、真空状態のまま、液晶セル
をポッティング材の入ったシャーレ中に挿入し、ポッテ
ィング材に浸す。毛細管現象による注入が平衡状態に達
した後、20分〜1時間かけてゆっくり真空装置のリー
クを行い、ポッティング材を枠内に充分注入した。Next, the injection process for filling the potting cell formed as described above with the potting material will be described. The potting material should be vacuum degassed (10 -3 before injection).
Torr, 12 hours) was performed to make it free from bubbles. The liquid crystal display device (liquid crystal cell) in which the frame has been formed and the potting material placed in a petri dish are set in a vacuum device, and vacuumed to a degree of vacuum of about 10 −3 Torr. Evacuation time is 1-2 after reaching 10 -3 Torr
It took 4 hours. Then, in a vacuum state, the liquid crystal cell is inserted into a petri dish containing a potting material and immersed in the potting material. After the equilibrium state of the injection due to the capillary phenomenon was reached, the vacuum device was slowly leaked over 20 minutes to 1 hour to sufficiently inject the potting material into the frame.
【0023】ポッティング材は上記の様に10-3Tor
r程度の真空中で注入する。そのため、蒸気圧が低く、
しかも透明、−20℃〜80℃の温度範囲で固化及び気
化しない液体である必要がある。具体的には、液晶、ポ
リエチレングリコール(関東化学(株)、ポリエチレン
グリコール#200)、シリコーンオイル(信越化学工
業(株)、信越シリコーン)を用いた。The potting material is 10 -3 Tor as described above.
It is injected in a vacuum of about r. Therefore, the vapor pressure is low,
Moreover, it must be a transparent liquid that does not solidify or vaporize in the temperature range of -20 ° C to 80 ° C. Specifically, liquid crystal, polyethylene glycol (Kanto Chemical Co., Inc., polyethylene glycol # 200), and silicone oil (Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., Shin-Etsu Silicone) were used.
【0024】封口は次の様にして行う。真空装置中から
液晶セルを取り出し、注入口25をアセトン等で良く拭
き脱脂する。ポッティング材注入口25に封口材22を
盛り、封口を行った。封口は、ポッティング材として液
晶、ポリエチレングリコールを用いた時はエポキシ樹脂
(三井東圧化学(株)ストラクトボンドES280)、
あるいは紫外線硬化型樹脂を、シリコーンオイルをポッ
ティング材とした時にはシリコーンボンド(信越化学工
業(株)、信越シリコーン)を封口材として使用した。
硬化は、エポキシ樹脂を用いた時は12時間、室温で行
った。シリコーン樹脂の場合には80℃、2時間行っ
た。それに対して、紫外線硬化型樹脂の封口時間は紫外
線を当て、1分程度であるために短時間で、強固に封口
が可能であり、非常に有効である。The sealing is performed as follows. The liquid crystal cell is taken out from the vacuum apparatus, and the inlet 25 is thoroughly wiped with acetone or the like to degrease. The potting material injection port 25 was filled with the sealing material 22, and the sealing was performed. Liquid crystal as the potting material, epoxy resin when polyethylene glycol was used (Structbond ES280, Mitsui Toatsu Chemicals Inc.),
Alternatively, when a UV curable resin was used as a potting material for silicone oil, a silicone bond (Shin-Etsu Silicone Co., Ltd., Shin-Etsu Silicone) was used as a sealing material.
Curing was done at room temperature for 12 hours when using an epoxy resin. In the case of silicone resin, it was carried out at 80 ° C. for 2 hours. On the other hand, since the sealing time of the ultraviolet curable resin is about 1 minute by applying ultraviolet rays, the sealing can be performed firmly in a short time, which is very effective.
【0025】本発明による液晶表示装置は、液晶駆動素
子層60に作り込まれた液晶駆動素子によって開口部2
の液晶50を駆動し、開口部2にて表示が行われる。枠
材52によって規定されたガラス基板51と液晶駆動素
子層60との距離(以下セルギャップという)は、光の
透過率に影響を与えるため、全面に均一な表示を行うた
めには開口部2全面にわたってセルギャップが均一であ
ることが望まれる。本実施例において液晶駆動素子層6
0の厚さは、開口に対して1/1000以下と非常に薄
く、変形が起こり易く、更には割れ易い。そのため、本
発明に示す様なポッティングによる補強を行う構造は本
液晶表示装置において、耐久性、信頼性が向上するばか
りでなく、画質向上に非常に有効である。In the liquid crystal display device according to the present invention, the opening 2 is formed by the liquid crystal driving element built in the liquid crystal driving element layer 60.
The liquid crystal 50 is driven to display at the opening 2. The distance between the glass substrate 51 and the liquid crystal driving element layer 60 (hereinafter referred to as the cell gap) defined by the frame member 52 affects the light transmittance, and therefore the opening 2 is required to perform uniform display on the entire surface. It is desired that the cell gap be uniform over the entire surface. In this embodiment, the liquid crystal driving element layer 6
The thickness of 0 is very thin, 1/1000 or less with respect to the opening, so that deformation is likely to occur and further cracking is likely to occur. Therefore, the structure for reinforcing by potting as shown in the present invention is very effective not only for improving durability and reliability but also for improving image quality in the present liquid crystal display device.
【0026】また、本発明による液晶表示装置は、温度
あるいは気圧等によるポッティング材の体積変化をゴム
製膜21の変形により吸収する構造であるため、環境の
変化にも強いものとなっている。Further, since the liquid crystal display device according to the present invention has a structure in which the volume change of the potting material due to the temperature or the atmospheric pressure is absorbed by the deformation of the rubber film 21, it is resistant to the environmental change.
【0027】(第2実施例)本発明の第2実施例の平面
図を図2に、そのA−A’断面図を図3(a)に、B−
B’断面図を図3(b)に示す。本実施例の特徴は、ポ
ッティング材体積変化吸収領域23のエッチングによる
くりぬきの深さと、開口部2とポッティング材体積変化
吸収領域20を結ぶ通路、開口部2とポッティング材注
入口25結ぶ通路のエッチングによるくりぬきの深さを
開口部2よりも浅くした点である。(Second Embodiment) A plan view of a second embodiment of the present invention is shown in FIG. 2, a sectional view taken along the line AA 'is shown in FIG.
A B ′ cross-sectional view is shown in FIG. The feature of the present embodiment is that the depth of the hollow by etching the potting material volume change absorbing region 23, the passage connecting the opening 2 and the potting material volume change absorbing region 20, and the passage connecting the opening 2 and the potting material injection port 25. This is the point where the depth of the hollowing is smaller than that of the opening 2.
【0028】その形成方法を以下に説明する。開口部2
をくりぬく際、開口部2以外のくりぬきを浅くする領域
をテフロンテープ、シリコーン樹脂等のTMAHに対し
てマスキング効果を有する材料でマスキングしておく。
開口部2を所望の深さにエッチングした後、上記マスキ
ングを除去し、更にエッチングし、開口部2のエッチン
グが絶縁層3に達したところでエッチングを終了する。
このようにして上記の構造が実現できる。The forming method will be described below. Opening 2
When hollowing out, the area other than the opening 2 where the hollowing is shallow is masked with a material having a masking effect on TMAH such as Teflon tape or silicone resin.
After etching the opening 2 to a desired depth, the masking is removed and further etching is performed. When the etching of the opening 2 reaches the insulating layer 3, the etching is finished.
In this way, the above structure can be realized.
【0029】(第3実施例)図4は本発明の第3実施例
である。本実施例の特徴はポッティング材体積変化吸収
領域20を複数形成した点である。ポッティング材体積
変化吸収領域20のくりぬきの深さは開口部2のくりぬ
きの深さと等しくなっている。また、本実施例の発展型
として、複数のポッティング材体積変化吸収領域20の
少なくとも一部が開口部2のくりぬきの深さよりも浅い
構造も可能である。(Third Embodiment) FIG. 4 shows a third embodiment of the present invention. The feature of this embodiment is that a plurality of potting material volume change absorbing regions 20 are formed. The depth of the hollow of the potting material volume change absorbing region 20 is equal to the depth of the hollow of the opening 2. Further, as a development of this embodiment, a structure in which at least a part of the plurality of potting material volume change absorbing regions 20 is shallower than the depth of the hollow of the opening 2 is also possible.
【0030】(第4実施例)図5は本発明の第4実施例
である。本実施例の特徴は開口部2よりもくりぬきの深
さが浅いポッティング材体積変化吸収領域23を複数形
成した点である。ポッティング材体積変化吸収領域23
のくりぬきの深さは全て等しいか、あるいは少なくとも
一部が他と異なる深さの構造も可能である。(Fourth Embodiment) FIG. 5 shows a fourth embodiment of the present invention. The feature of this embodiment is that a plurality of potting material volume change absorbing regions 23 having a smaller depth of hollowing than the opening 2 are formed. Potting material volume change absorbing area 23
It is also possible that the depths of the hollows are all equal, or at least some of them differ from others.
【0031】(第5実施例)図6(a)は本発明の第5
実施例の平面図、図6(b)はそのA−A’断面図であ
る。本実施例の特徴は気体を封入したポッティング材体
積変化吸収領域26を設けた点である。封入した気体は
ポッティング材体積変化吸収領域26の全体あるいは一
部にすることも可能である。ポッティングセルの形成方
法及び気体の封入方法を以下に説明する。(Fifth Embodiment) FIG. 6A shows a fifth embodiment of the present invention.
A plan view of the embodiment, and FIG. 6B is a sectional view taken along the line AA '. The feature of this embodiment is that a potting material volume change absorption region 26 in which a gas is enclosed is provided. The enclosed gas can be the whole or a part of the potting material volume change absorbing region 26. The method for forming the potting cell and the method for enclosing the gas will be described below.
【0032】エッチングにより所望のパターンにくりぬ
いた後、くりぬき部の回りに枠材4を塗布し、ガラス板
5をのせポッティングセルを形成する。ポッティング材
を前記真空注入方法で注入した後、所望の気体雰囲気中
で100℃前後に加熱し、1時間程度保持する。その
後、室温まで徐冷し、ポッティング材注入口25を封口
材22で封口する。また、ポッティング材を注入した後
再び真空に引き所望の量のポッティング材をセル内から
出した後、所望の気体でリークし、常圧にもどして封口
する方法も可能である。After hollowing out into a desired pattern by etching, a frame material 4 is applied around the hollowed portion, and a glass plate 5 is placed thereon to form a potting cell. After injecting the potting material by the above-mentioned vacuum injecting method, the potting material is heated to about 100 ° C. in a desired gas atmosphere and kept for about 1 hour. After that, the temperature is gradually cooled to room temperature, and the potting material injection port 25 is sealed with the sealing material 22. In addition, it is also possible to inject the potting material, then evacuate it again to discharge a desired amount of the potting material from the inside of the cell, then leak with a desired gas and return to normal pressure for sealing.
【0033】(第6実施例)図7(a)は本発明の第6
実施例の平面図、図7(b)はそのA−A’断面図であ
る。本実施例の特徴はポッティング材注入口25を封口
せず、ポッティング材注入口25から開口部2までの通
路27の距離を長くし、通路27の断面積を小さくした
点である。通路27の長さlと断面積Sは以下の様に規
定する。まず断面積Sは1mm2 以下とする。ポッティ
ング材注入口25からポッティング材が充填されている
ポッティング材液面28までの距離をl1 とした時、 S×l1 >VP (80℃)−VP (Room) S×(l−l1 )>VP (Room)−VP (−20
℃) ゆえに l1 >(VP (80℃)−VP (Room))/S l>((VP (Room)−VP (−20℃))/S)
+l1 ここで、VP (Room)はセル内に注入されたポッテ
ィング材の室温での体積、VP (80℃)は同80℃で
の体積、VP (−20℃)は同−20℃での体積であ
る。この構造を用いることによりポッティング材の環境
変化による体積変化はポッティング材液面28が通路2
7内を前後することにより吸収される。(Sixth Embodiment) FIG. 7A shows a sixth embodiment of the present invention.
FIG. 7B is a plan view of the embodiment, and FIG. 7B is a sectional view taken along the line AA '. The feature of this embodiment is that the potting material inlet 25 is not sealed, the distance of the passage 27 from the potting material inlet 25 to the opening 2 is increased, and the cross-sectional area of the passage 27 is reduced. The length l and the cross-sectional area S of the passage 27 are defined as follows. First, the cross-sectional area S is set to 1 mm 2 or less. When the distance from the potting material inlet 25 to the potting material liquid surface 28 which potting material is filled to the l 1, S × l 1> V P (80 ℃) -V P (Room) S × (l- l 1 )> V P (Room) −V P (−20)
Therefore, l 1 > (V P (80 ° C.) − V P (Room)) / S l> ((V P (Room) −V P (−20 ° C.)) / S)
+ L 1 where V P (Room) is the volume of the potting material injected into the cell at room temperature, V P (80 ° C.) is the volume at 80 ° C., and V P (−20 ° C.) is the same −20. Volume in ° C. By using this structure, when the volume of the potting material changes due to the environmental change, the potting material liquid level 28 is changed to the passage 2
It is absorbed by moving back and forth inside 7.
【0034】(第7実施例)図8は本発明の第7実施例
である。本実施例の特徴は、針7の一方の先端にポッテ
ィング材体積変化を吸収するゴム製袋9を設けた点であ
る。本実施例のポッティングセルの形成方法を以下に説
明する。(Seventh Embodiment) FIG. 8 shows a seventh embodiment of the present invention. A feature of this embodiment is that a rubber bag 9 for absorbing a change in potting material volume is provided at one end of the needle 7. The method for forming the potting cell of this embodiment will be described below.
【0035】エッチングにより開口部2をくりぬいた後
枠材4を形成し、針7を枠材4の内と外の通路となる様
に設置し、ガラス板5をのせポッティングセルを形成す
る。ガラス板5とSi基板1のギャップを均一にするた
めにスぺーサー8を複数設置した。ポッティング材を針
7のセルの外側の端まで注入しておき、ポッティング材
を完全に充填したゴム製袋9を針7の端に装着する。装
着部にエポキシ系の室温硬化樹脂10で封口し、室温で
12時間以上保持し硬化させる。After the opening 2 is hollowed out by etching, the frame member 4 is formed, the needles 7 are installed so as to form the inner and outer passages of the frame member 4, and the glass plate 5 is placed to form a potting cell. A plurality of spacers 8 were installed to make the gap between the glass plate 5 and the Si substrate 1 uniform. The potting material is injected up to the outer end of the cell of the needle 7, and the rubber bag 9 completely filled with the potting material is attached to the end of the needle 7. The mounting portion is sealed with an epoxy-based room temperature curing resin 10 and kept at room temperature for 12 hours or more to be cured.
【0036】この構造を用いることにより、画像表示部
のポッティングによる補強と、環境変化に対する強さが
実現される。また、針7とゴム製袋9と封口材10で構
成されるポッティング材体積変化吸収領域は複数形成す
ることもできる。By using this structure, reinforcement by potting of the image display portion and strength against environmental changes are realized. Further, a plurality of potting material volume change absorbing regions composed of the needle 7, the rubber bag 9 and the sealing material 10 can be formed.
【0037】(第8実施例)図9は本発明の第8実施例
である。本実施例の特徴は、塩化ビニル等の柔軟なチュ
ーブ11を設けた点である。本実施例のポッティングセ
ルの形成方法を説明する。(Eighth Embodiment) FIG. 9 shows an eighth embodiment of the present invention. The feature of this embodiment is that a flexible tube 11 made of vinyl chloride or the like is provided. A method for forming the potting cell of this embodiment will be described.
【0038】枠材4とガラス板5と針7とスぺーサー8
で構成されるセル部を形成し、針7のセルの外側の端に
チューブ11を装着し、封口材10で装着を封口する。
その後、チューブ11のもう一方の口からポッティング
材を真空注入で注入し、チューブ11を押し縮めチュー
ブ11の内容積を小さくした状態でハンダごて等で注入
口を融着封口する。ここでチューブの内容積Vとチュー
ブの変形させた容積V1 を次の様に規定する。Frame member 4, glass plate 5, needle 7, spacer 8
Then, the tube 11 is attached to the outer end of the cell of the needle 7, and the attachment is sealed with the sealing material 10.
After that, a potting material is injected from the other port of the tube 11 by vacuum injection, and the injection port is fusion-sealed with a soldering iron or the like in a state where the tube 11 is compressed and the inner volume of the tube 11 is reduced. Here, the inner volume V of the tube and the deformed volume V 1 of the tube are defined as follows.
【0039】 V−V1 >VP (Room)−VP (−20℃) V1 >VP (80℃)−VP (Room) ここで、VP (Room)はポッティングセル内の室温
におけるポッティング材の全体積、VP (−20℃)は
同−20℃での体積、VP (80℃)は同80℃での体
積である。この針7とチューブ11と封口材10で構成
されるポッティング材体積変化吸収領域は複数形成する
こともできる。V−V 1 > V P (Room) −V P (−20 ° C.) V 1 > V P (80 ° C.) − V P (Room) where V P (Room) is the room temperature in the potting cell. The total volume of the potting material in the above, V P (−20 ° C.) is the volume at −20 ° C., and V P (80 ° C.) is the volume at 80 ° C. It is also possible to form a plurality of potting material volume change absorbing regions composed of the needle 7, the tube 11 and the sealing material 10.
【0040】(第9実施例)図10は本発明の第9実施
例である。本実施例の特徴は容器12の中に一部気体を
封入した点である。封入した気体の体積VGAS は次の様
に規定する。(Ninth Embodiment) FIG. 10 shows a ninth embodiment of the present invention. The feature of this embodiment is that a part of gas is enclosed in the container 12. The volume V GAS of the enclosed gas is defined as follows.
【0041】 VGAS >VP (80℃)−VP (Room) ここで、VP (Room)はポッティングセル内の室温
におけるポッティング材の全体積、VP (80℃)は同
80℃での体積である。また針7の径は0.5mm以下
である。この針7と容器12と封口材10で構成される
ポッティング材体積変化吸収領域は複数形成することも
できる。V GAS > V P (80 ° C.) − V P (Room) where V P (Room) is the total volume of the potting material in the potting cell at room temperature, and V P (80 ° C.) is the same at 80 ° C. Is the volume of. The diameter of the needle 7 is 0.5 mm or less. It is also possible to form a plurality of potting material volume change absorbing regions composed of the needle 7, the container 12 and the sealing material 10.
【0042】(第10実施例)図11は本発明の第10
実施例である。本実施例の特徴は口を閉じない針7を設
けた点である。針7の径d、針7の長さlは次の様に規
定する。(Tenth Embodiment) FIG. 11 shows a tenth embodiment of the present invention.
This is an example. The feature of this embodiment is that the needle 7 that does not close the mouth is provided. The diameter d of the needle 7 and the length 1 of the needle 7 are defined as follows.
【0043】dは0.5mm以下とする。ポッティング
セル内の針7の一方の端からポッティング材液面16ま
での距離をl1 とし、ポッティング材液面16から針7
の他方の端までの距離をl2 とした時、 d・l1 >VP (Room)−VP (−20℃) d・l2 >VP (80℃)−VP (Room) l=l1 +l2 ここで、VP (Room)は室温におけるセル内ポッテ
ィング材の室温の全体積、VP (80℃)は同80℃で
の体積、VP (−20℃)は同−20℃での体積であ
る。ポッティング材液面16の設定方法は、ポッティン
グ材をセルの外側の針7の端まで充填しておき、セルを
80℃以上に1時間保持した後徐冷する。あるいは、同
様に針7の端までポッティング材を充填した後真空に引
き所望のポッティング材をセル外にはきだす等の方法が
ある。針7は複数設定することが可能であり、その数を
nとした時、それぞれの針7の長さはlの1/nであ
る。D is 0.5 mm or less. The distance from one end of the needle 7 in the potting cell to the potting material liquid surface 16 is set to l 1 , and the potting material liquid surface 16 to the needle 7
Let l 2 be the distance to the other end of d. L 1 > V P (Room) −V P (−20 ° C.) d · l 2 > V P (80 ° C.) − V P (Room) l = L 1 + l 2 where V P (Room) is the total volume of the potting material in the cell at room temperature at room temperature, V P (80 ° C.) is the volume at 80 ° C., and V P (−20 ° C.) is the same. Volume at 20 ° C. The potting material liquid level 16 is set by filling the potting material up to the end of the needle 7 outside the cell, holding the cell at 80 ° C. or higher for 1 hour, and then gradually cooling. Alternatively, similarly, there is a method in which the potting material is filled up to the end of the needle 7 and then a vacuum is drawn to eject a desired potting material outside the cell. It is possible to set a plurality of needles 7, and when the number is n, the length of each needle 7 is 1 / n of l.
【0044】(第11実施例)図12は本発明の第11
実施例である。本実施例の特徴はゴアテックッス等の気
体は通すが液体は通さない膜13を設けた点である。針
7の長さは第10実施例で規定した長さである。膜13
はポッティング材を注入し、所望のポッティング材液面
16を設定した後装着し、封口材10で封口する。この
針7と膜13と封口材10で構成されるポッティング材
体積変化吸収領域は複数形成することもできる。(Eleventh Embodiment) FIG. 12 shows the eleventh embodiment of the present invention.
This is an example. The feature of the present embodiment is that a film 13 such as a GORE-TEX is provided, which allows gas to pass therethrough but does not allow liquid to pass therethrough. The length of the needle 7 is the length defined in the tenth embodiment. Membrane 13
Is injected with a potting material, and after setting a desired potting material liquid surface 16, it is mounted and sealed with the sealing material 10. It is also possible to form a plurality of potting material volume change absorbing regions composed of the needle 7, the film 13 and the sealing material 10.
【0045】(第12実施例)図13は本発明の第12
実施例である。本実施例の特徴は針7の中にスポンジ等
の詰め物14を設けた点である。針7の長さは第10実
施例で規定した長さである。この針7と詰め物14と封
口材10で構成されるポッティング材体積変化吸収領域
は複数形成することもできる。(Twelfth Embodiment) FIG. 13 shows a twelfth embodiment of the present invention.
This is an example. The feature of this embodiment is that a padding 14 such as a sponge is provided in the needle 7. The length of the needle 7 is the length defined in the tenth embodiment. It is also possible to form a plurality of potting material volume change absorbing regions composed of the needle 7, the padding 14 and the sealing material 10.
【0046】(第13実施例)図14は本発明の第13
実施例である。本実施例の特徴は開口部2と枠材4で隔
離され、針15でつながる気泡だめ領域17が形成され
ている点である。針15の径は針7よりも小さくなって
いる。気泡だめ領域17を設けることにより、針7から
気泡が入った場合でも開口部2に気泡が侵入しない様に
できる。針15と針7と気泡だめ領域17からなる部分
を開口部2のまわりに複数設けることも可能である。(Thirteenth Embodiment) FIG. 14 shows the thirteenth embodiment of the present invention.
This is an example. The feature of this embodiment is that a bubble reservoir area 17 is formed which is isolated by the opening 2 and the frame member 4 and is connected by the needle 15. The diameter of the needle 15 is smaller than that of the needle 7. By providing the bubble storage area 17, it is possible to prevent bubbles from entering the opening 2 even when bubbles enter from the needle 7. It is also possible to provide a plurality of portions including the needle 15, the needle 7, and the bubble trap region 17 around the opening 2.
【0047】(第14実施例)図15(a)は本発明の
第14実施例の平面図、図15(b)はそのA−A’断
面図である。本実施例の特徴は枠材4でポッティング材
の通路18を形成した点である。(Fourteenth Embodiment) FIG. 15A is a plan view of a fourteenth embodiment of the present invention, and FIG. 15B is a sectional view taken along the line AA '. The feature of this embodiment is that the frame member 4 forms the passage 18 of the potting material.
【0048】枠材4を所望のパターンに形成し、ガラス
板5をのせポッティングセルを形成する。ガラス板5と
Si基板1のギャップを均一にするためにスぺーサー8
を設置する。スぺーサー8の径は0.5mm以下とす
る。開口部2からポッティング材注入口25までの通路
18の長さl5 は次の様に規定する。The frame material 4 is formed in a desired pattern, and the glass plate 5 is placed thereon to form a potting cell. A spacer 8 is provided to make the gap between the glass plate 5 and the Si substrate 1 uniform.
Set up. The diameter of the spacer 8 is 0.5 mm or less. The length l 5 of the passage 18 from the opening 2 to the potting material inlet 25 is defined as follows.
【0049】通路18の幅をW、高さをh(スぺーサー
8の径と等しい)とし、ポッティング材注入口25から
ポッティング材液面16までの通路18の長さをl6 と
し、ポッティング材液面16から開口部2までの通路1
8の長さをl7 とした時、 l6 ・W・h>VP (80℃)−VP (Room) l7 ・W・h>VP (Room)−VP (−20℃) ゆえに l6 >(VP (80℃)−VP (Room))/W・h l7 >(VP (Room)−VP (−20℃))/W・
h l5 =l6 +l7 となる。また通路18は互いに独立した複数の通路を設
けることも可能である。総数nの複数の通路を形成した
時、各々の通路の長さはl5 の1/nの長さとなる。The width of the passage 18 is W, the height is h (equal to the diameter of the spacer 8), the length of the passage 18 from the potting material inlet 25 to the potting material liquid surface 16 is l 6, and potting is performed. Passage 1 from liquid surface 16 to opening 2
When the length of the 8 was l 7, l 6 · W · h> V P (80 ℃) -V P (Room) l 7 · W · h> V P (Room) -V P (-20 ℃) therefore l 6> (V P (80 ℃) -V P (Room)) / W · h l 7> (V P (Room) -V P (-20 ℃)) / W ·
h l 5 = l 6 + l 7 . Further, the passage 18 may be provided with a plurality of passages independent of each other. When a total of n passages are formed, the length of each passage is 1 / n of l 5 .
【0050】(第15実施例)図16は本発明の第15
実施例である。本実施例の特徴はポッティング材注入口
25の内側の通路18にスポンジ等の詰め物14を設け
た点である。通路18の長さ、高さは第14実施例で規
定したものと同じである。また通路18、詰め物14は
互いに独立した複数のものを形成することも可能であ
る。(Fifteenth Embodiment) FIG. 16 shows the fifteenth embodiment of the present invention.
This is an example. The feature of this embodiment is that a filling material 14 such as a sponge is provided in the passage 18 inside the potting material inlet 25. The length and height of the passage 18 are the same as those defined in the fourteenth embodiment. It is also possible to form a plurality of passages 18 and paddings 14 independent of each other.
【0051】(第16実施例)図17は本発明の第16
実施例である。本実施例の特徴は枠材4でポッティング
材体積変化吸収領域を形成し、その中に気体を封入した
点である。(Sixteenth Embodiment) FIG. 17 shows a sixteenth embodiment of the present invention.
This is an example. The feature of this embodiment is that the frame material 4 forms a potting material volume change absorbing region, and gas is enclosed therein.
【0052】ポッティング材をポッティング材注入口2
5から注入した後、セルを所望の気体雰囲気中で90℃
以上の温度で、1時間保持し、その後徐冷する、あるい
は、セルを真空引きし、所望の体積ポッティング材をは
きだした後、所望の気体でリークし、常圧に戻す等の方
法で気体封入領域19内に気体を導入した後、注入口2
5を封口材22で封口し、ポッティングセルを形成す
る。通路18と気体封入領域19で構成されるポッティ
ング材体積変化吸収領域は互いに独立した複数を形成す
ることもできる。A potting material injection port 2
After injection from 5, the cell was heated to 90 ° C in a desired gas atmosphere.
Hold at the above temperature for 1 hour and then cool slowly, or after vacuuming the cell and ejecting the desired volume potting material, leaking with the desired gas and returning to normal pressure. After introducing gas into the region 19, the inlet 2
5 is sealed with a sealing material 22 to form a potting cell. It is also possible to form a plurality of potting material volume change absorbing regions, which are composed of the passages 18 and the gas sealing regions 19, independent of each other.
【0053】[0053]
【発明の効果】以上説明した様に、液晶駆動用素子を設
けた薄膜層をはさむ2枚の基板間の一方に液晶材料を有
する液晶表示装置において、 1、上記他方の薄膜層と基板の間に流動性材料を充填し
た 2、前記流動性材料の温度、気圧等の変化による体積変
化を吸収する領域を設けた 3、画像表示領域と外気を結ぶ通路を設けたことによ
り、耐久性、信頼性が向上するばかりでなく、画質向上
に有効な液晶表示装置が実現できる。As described above, in a liquid crystal display device having a liquid crystal material on one side between two substrates sandwiching a thin film layer provided with a liquid crystal driving element, 1. Filled with a fluid material 2, an area for absorbing a volume change due to a change in temperature, atmospheric pressure, etc. of the fluid material 3, and a passage connecting the image display area and the outside air for durability and reliability. The liquid crystal display device which is effective not only in improving the image quality but also in improving the image quality can be realized.
【図1】本発明第1実施例の該略図である。FIG. 1 is the schematic diagram of the first embodiment of the present invention.
【図2】本発明第2実施例の平面図である。FIG. 2 is a plan view of a second embodiment of the present invention.
【図3】図2の断面図である。3 is a cross-sectional view of FIG.
【図4】本発明第3実施例の平面図である。FIG. 4 is a plan view of a third embodiment of the present invention.
【図5】本発明第4実施例の平面図である。FIG. 5 is a plan view of a fourth embodiment of the present invention.
【図6】本発明第5実施例の該略図である。FIG. 6 is a schematic view of a fifth embodiment of the present invention.
【図7】本発明第6実施例の該略図である。FIG. 7 is a schematic view of a sixth embodiment of the present invention.
【図8】本発明第7実施例の平面図である。FIG. 8 is a plan view of a seventh embodiment of the present invention.
【図9】本発明第8実施例の平面図である。FIG. 9 is a plan view of an eighth embodiment of the present invention.
【図10】本発明第9実施例の平面図である。FIG. 10 is a plan view of a ninth embodiment of the present invention.
【図11】本発明第10実施例の平面図である。FIG. 11 is a plan view of a tenth embodiment of the present invention.
【図12】本発明第11実施例の平面図である。FIG. 12 is a plan view of an eleventh embodiment of the present invention.
【図13】本発明第12実施例の平面図である。FIG. 13 is a plan view of a twelfth embodiment of the present invention.
【図14】本発明第13実施例の平面図である。FIG. 14 is a plan view of a thirteenth embodiment of the present invention.
【図15】本発明第14実施例の該略図である。FIG. 15 is a schematic view of a fourteenth embodiment of the present invention.
【図16】本発明第15実施例の平面図である。FIG. 16 is a plan view of a fifteenth embodiment of the present invention.
【図17】本発明第16実施例の平面図である。FIG. 17 is a plan view of a sixteenth embodiment of the present invention.
【図18】Si基板の製造方法を示す図である。FIG. 18 is a diagram showing a method for manufacturing a Si substrate.
1 Si基板 2 開口部 3 絶縁層 4 枠材 5 ガラス板 6 ポッティング材 7 針 8 スぺーサー 9 ゴム製膜 10 封口材 11 チューブ 12 容器 13 膜 14 詰め物 15 針 16 ポッティング材液面 17 気泡だめ領域 18 通路 19 気体封入領域 20 ポッティング材体積変化吸収領域 21 ゴム製膜 22 封口材 23 ポッティング材体積変化吸収領域 25 ポッティング材注入口 26 気体封入領域 27 通路 28 ポッティング材液面 50 液晶 51 ガラス基板 52 枠材 60 液晶駆動素子層 1 Si substrate 2 Opening 3 Insulating layer 4 Frame material 5 Glass plate 6 Potting material 7 Needle 8 Spacer 9 Rubber film 10 Sealing material 11 Tube 12 Container 13 Membrane 14 Filling 15 Needle 16 Potting material Liquid level 17 Bubble trap area 18 passage 19 gas sealing area 20 potting material volume change absorbing area 21 rubber film 22 sealing material 23 potting material volume change absorbing area 25 potting material injection port 26 gas sealing area 27 passage 28 potting material liquid level 50 liquid crystal 51 glass substrate 52 frame Material 60 Liquid crystal drive element layer
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 玄地 裕 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キヤ ノン株式会社内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Hiroshi Genji 3-30-2 Shimomaruko, Ota-ku, Tokyo Canon Inc.
Claims (3)
枚の基板間の一方に液晶材料、他方に流動性材料を有す
る液晶表示装置において、前記流動性材料の体積変化を
吸収する領域を有することを特徴とする液晶表示装置。1. A thin film layer provided with a liquid crystal driving element is sandwiched 2
A liquid crystal display device comprising a liquid crystal material on one side of a substrate and a fluid material on the other side, wherein the liquid crystal display device has a region for absorbing a volume change of the fluid material.
前記流動性材料と同じ流動性材料が充填されていること
を特徴とする請求項1記載の液晶表示装置。2. A region for absorbing a volume change of a fluid material,
The liquid crystal display device according to claim 1, wherein the same fluid material as the fluid material is filled.
なくとも一部に気体が封入されていることを特徴とする
請求項1記載の液晶表示装置。3. A liquid crystal display device according to claim 1, wherein gas is sealed in at least a part of a region for absorbing a volume change of the fluid material.
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3396293A JPH06230351A (en) | 1993-02-01 | 1993-02-01 | Liquid crystal display device |
EP94101398A EP0609809B8 (en) | 1993-02-01 | 1994-01-31 | Liquid crystal display device |
DE69427882T DE69427882T2 (en) | 1993-02-01 | 1994-01-31 | liquid-crystal display |
US08/189,169 US5691794A (en) | 1993-02-01 | 1994-01-31 | Liquid crystal display device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3396293A JPH06230351A (en) | 1993-02-01 | 1993-02-01 | Liquid crystal display device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06230351A true JPH06230351A (en) | 1994-08-19 |
Family
ID=12401126
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3396293A Withdrawn JPH06230351A (en) | 1993-02-01 | 1993-02-01 | Liquid crystal display device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH06230351A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN114296277A (en) * | 2021-11-18 | 2022-04-08 | 蚌埠高华电子股份有限公司 | Glue injection sealing structure device and method for peripheral frame of LCD (liquid crystal display) large-plate glass |
-
1993
- 1993-02-01 JP JP3396293A patent/JPH06230351A/en not_active Withdrawn
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN114296277A (en) * | 2021-11-18 | 2022-04-08 | 蚌埠高华电子股份有限公司 | Glue injection sealing structure device and method for peripheral frame of LCD (liquid crystal display) large-plate glass |
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