JPH0619243B2 - 座標測定方法及びその装置 - Google Patents
座標測定方法及びその装置Info
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- JPH0619243B2 JPH0619243B2 JP60207676A JP20767685A JPH0619243B2 JP H0619243 B2 JPH0619243 B2 JP H0619243B2 JP 60207676 A JP60207676 A JP 60207676A JP 20767685 A JP20767685 A JP 20767685A JP H0619243 B2 JPH0619243 B2 JP H0619243B2
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S11/00—Systems for determining distance or velocity not using reflection or reradiation
- G01S11/12—Systems for determining distance or velocity not using reflection or reradiation using electromagnetic waves other than radio waves
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C11/00—Photogrammetry or videogrammetry, e.g. stereogrammetry; Photographic surveying
- G01C11/04—Interpretation of pictures
- G01C11/06—Interpretation of pictures by comparison of two or more pictures of the same area
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/50—Depth or shape recovery
- G06T7/55—Depth or shape recovery from multiple images
- G06T7/593—Depth or shape recovery from multiple images from stereo images
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- General Physics & Mathematics (AREA)
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- Electromagnetism (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 ３Ａ 産業上の利用分野 本発明は座標測定方法及び装置、さらに詳しくは、物体
上の測定点の３次元座標あるいはステレオ画像中に任意
を設けた測定点の３次元座標を非接触で測定するための
方法及び装置に関する。
上の測定点の３次元座標あるいはステレオ画像中に任意
を設けた測定点の３次元座標を非接触で測定するための
方法及び装置に関する。
３Ｂ 従来技術 従来の非接触型の３次元座標測定方法の例としては、１
対のステレオ写真の双方において対応した測定点を抽出
し、これら測定点の座標値から３次元座標値を算出する
方法が知られている。
対のステレオ写真の双方において対応した測定点を抽出
し、これら測定点の座標値から３次元座標値を算出する
方法が知られている。
３Ｃ 発明が解決しようとする問題点 上記従来の３次元座標の測定方法においては、測定点の
抽出に熟練と時間を要し、特に測定対象物の形状が複雑
で測定点が多い場合の疲労は多大であり、極めて非能率
的な作業が必要とされていた。
抽出に熟練と時間を要し、特に測定対象物の形状が複雑
で測定点が多い場合の疲労は多大であり、極めて非能率
的な作業が必要とされていた。
本発明は従来の３次元座標測定方法の上記問題に鑑みな
されたものであって、測定点の指定を一つの画像データ
にのみに入力し、他の画像データにおける対応点は相関
処理によって自動的に決められ何ら熟練を要せず、容易
に測定可能な座標測定方法及び装置を提供することを目
的とする。
されたものであって、測定点の指定を一つの画像データ
にのみに入力し、他の画像データにおける対応点は相関
処理によって自動的に決められ何ら熟練を要せず、容易
に測定可能な座標測定方法及び装置を提供することを目
的とする。
本発明は、さらに、指定された測定点に対し誤った対応
点を抽出（以下、「ミスマッチング」という）がなされ
た場合、該測定点の座標測定を中止し、ミスマッチング
による誤測定を有効に防止する座標測定方法及び装置を
提供することを目的とする。
点を抽出（以下、「ミスマッチング」という）がなされ
た場合、該測定点の座標測定を中止し、ミスマッチング
による誤測定を有効に防止する座標測定方法及び装置を
提供することを目的とする。
３Ｄ 発明の構成 本発明は、同一点につき少なくとも３方向から得た画像
を形成する情報を第１ないし第３情報として得る検出部
と、 測定すべき参照点を上記第２情報にとり、上記第１及び
第２情報の相関をとることにより上記参照点に対応する
第１対応点を第１情報に、また上記第２及び第３情報の
相関をとることにより上記参照点に対応する第２対応点
を第３情報に求める相関部と、 上記参照点と上記第１対応点との位置関係から第１座標
を、また上記参照点と上記第２対応点との位置関係から
第２座標を演算す演算手段と、 上記第１座標及び上記第２座標が略一致していないとき
に相関部が求めた対応点が誤っていることを意味するミ
スマッチングと判定する判定手段と、 を包含することを特徴とする座標測定装置である。
を形成する情報を第１ないし第３情報として得る検出部
と、 測定すべき参照点を上記第２情報にとり、上記第１及び
第２情報の相関をとることにより上記参照点に対応する
第１対応点を第１情報に、また上記第２及び第３情報の
相関をとることにより上記参照点に対応する第２対応点
を第３情報に求める相関部と、 上記参照点と上記第１対応点との位置関係から第１座標
を、また上記参照点と上記第２対応点との位置関係から
第２座標を演算す演算手段と、 上記第１座標及び上記第２座標が略一致していないとき
に相関部が求めた対応点が誤っていることを意味するミ
スマッチングと判定する判定手段と、 を包含することを特徴とする座標測定装置である。
本発明はまた、同一点につき少なくとも３方向から得た
画像を形成する情報を第１ないし第３情報として得る第
１ステップと、 測定すべき参照点を上記第２情報にとる第２ステップ
と、 上記第１及び第２情報の相関をとることにより上記参照
点に対応する第１対応点を第１情報に得る第３ステップ
と、 上記参照点と上記第１対応点との位置関係から第１座標
を求める第４ステップと、 上記第２及び第３情報の相関をとることにより上記参照
点に対応する第２対応点を第３情報に得る第５ステップ
と、 上記参照点と上記第２対応点との位置関係から第２座標
を求める第６ステップと、 上記第１及び第２座標が略一致していないといは上記第
３又は第５ステップで求めた対応点が誤っていることを
意味するミスマッチングと判断する第６ステップと、 上記第１及び第２対応点並びに上記参照点のうちの２つ
から測定座標を求める第７ステップとから成ることを特
徴とする座標測定法である。
画像を形成する情報を第１ないし第３情報として得る第
１ステップと、 測定すべき参照点を上記第２情報にとる第２ステップ
と、 上記第１及び第２情報の相関をとることにより上記参照
点に対応する第１対応点を第１情報に得る第３ステップ
と、 上記参照点と上記第１対応点との位置関係から第１座標
を求める第４ステップと、 上記第２及び第３情報の相関をとることにより上記参照
点に対応する第２対応点を第３情報に得る第５ステップ
と、 上記参照点と上記第２対応点との位置関係から第２座標
を求める第６ステップと、 上記第１及び第２座標が略一致していないといは上記第
３又は第５ステップで求めた対応点が誤っていることを
意味するミスマッチングと判断する第６ステップと、 上記第１及び第２対応点並びに上記参照点のうちの２つ
から測定座標を求める第７ステップとから成ることを特
徴とする座標測定法である。
３Ｅ 発明の原理 以下、本発明の原理を図に基づいて説明する。
本発明は例えば、第１図に示すように、測定点Ｐ１の像
を３つの対物レンズＯＬ１，ＯＬ２，ＯＬ３によってリ
ニアイメージセンサＬＧ１，ＬＧ２，ＬＧ３上に投影し
て構成される。そして、リニアイメージセンサＬＳ１，
ＬＳ２，ＬＳ３のそれぞれにおける構成素子の間隔を
β、対物レンズＬＯＬ１とＯＬ２の中心間隔及び対物レ
ンズＯＬ２とＯＬ３の中心間隔をＬ２、対物レンズＯＬ
１，ＯＬ２，ＯＬ３とリニアイメージセンサＬＳ１，Ｌ
Ｓ２，ＬＳ３の間隔をｆ、とする。
を３つの対物レンズＯＬ１，ＯＬ２，ＯＬ３によってリ
ニアイメージセンサＬＧ１，ＬＧ２，ＬＧ３上に投影し
て構成される。そして、リニアイメージセンサＬＳ１，
ＬＳ２，ＬＳ３のそれぞれにおける構成素子の間隔を
β、対物レンズＬＯＬ１とＯＬ２の中心間隔及び対物レ
ンズＯＬ２とＯＬ３の中心間隔をＬ２、対物レンズＯＬ
１，ＯＬ２，ＯＬ３とリニアイメージセンサＬＳ１，Ｌ
Ｓ２，ＬＳ３の間隔をｆ、とする。
また、対物レンズＯＬ１の中心を原点とする座標系Ｏ１
において、測定点Ｐ１の座標を（Ｘ１，Ｚ１）とし、対
物レンズＯＬ２の中心を原点とする座標系Ｏ２におい
て、測定点Ｐ１の座標を（Ｘ２，Ｚ２）とする。リニア
イメージセンサＬＳ１，ＬＳ２，ＬＳ３のそれぞれの構
成検出素子を左端部のものから順にＵＳＰ１，ＵＳ
Ｐ２，…とするとき、リニアイメージセンサＬＳ１，Ｌ
Ｓ２，ＬＳ３の各構成検出素子ＵＳＰ１が対物レンズＯ
Ｌ１，ＯＬ２，ＯＬ３の中心からＸ軸方向に距離Ｌ１だ
け離れているものとする。
において、測定点Ｐ１の座標を（Ｘ１，Ｚ１）とし、対
物レンズＯＬ２の中心を原点とする座標系Ｏ２におい
て、測定点Ｐ１の座標を（Ｘ２，Ｚ２）とする。リニア
イメージセンサＬＳ１，ＬＳ２，ＬＳ３のそれぞれの構
成検出素子を左端部のものから順にＵＳＰ１，ＵＳ
Ｐ２，…とするとき、リニアイメージセンサＬＳ１，Ｌ
Ｓ２，ＬＳ３の各構成検出素子ＵＳＰ１が対物レンズＯ
Ｌ１，ＯＬ２，ＯＬ３の中心からＸ軸方向に距離Ｌ１だ
け離れているものとする。
上記の符号を使用して、リニアイメージセンサＬＳ１，
ＬＳ２の出力Ｘｐ１，Ｘｐ２から、 により座標値（Ｘ１，Ｚ１）を得るとができる。同様
に、リニアイメージセンサＬＳ２，ＬＳ３の出力Ｘ
ｐ２，Ｘｐ３から、 により座標値（Ｘ２，Ｚ２）を得ることができる。続い
て、上記座標値より Ｘ１＝Ｘ２＋Ｌ２′ ……(5) Ｚ１＝Ｚ２ ……(6) を演算し、式(5)，(6)が成立したときは、リニアイメー
ジセンサＬＳ１，ＬＳ２の出力Ｘｐ１とＸｐ３の画像デ
ータが正しい対応点であると判断する。対物レンズＯＬ
１の中心を原点とする座標系において、測定点Ｐ１の座
標Ｐ１の座標（Ｘ１ Ｚ）は、リニアイメージセンサＬ
Ｓ１，ＬＳ３の出力Ｘｐ１，Ｘｐ３から次式により求め
る。
ＬＳ２の出力Ｘｐ１，Ｘｐ２から、 により座標値（Ｘ１，Ｚ１）を得るとができる。同様
に、リニアイメージセンサＬＳ２，ＬＳ３の出力Ｘ
ｐ２，Ｘｐ３から、 により座標値（Ｘ２，Ｚ２）を得ることができる。続い
て、上記座標値より Ｘ１＝Ｘ２＋Ｌ２′ ……(5) Ｚ１＝Ｚ２ ……(6) を演算し、式(5)，(6)が成立したときは、リニアイメー
ジセンサＬＳ１，ＬＳ２の出力Ｘｐ１とＸｐ３の画像デ
ータが正しい対応点であると判断する。対物レンズＯＬ
１の中心を原点とする座標系において、測定点Ｐ１の座
標Ｐ１の座標（Ｘ１ Ｚ）は、リニアイメージセンサＬ
Ｓ１，ＬＳ３の出力Ｘｐ１，Ｘｐ３から次式により求め
る。
また、第２図は、測定点Ｐ２が指定され、これがリニア
イメージセンサＬＳ１に関し死角に当り、ミスマッチン
グが生じた状態を示す。そして、点Ｐ′が測定点Ｐ２と
画像データ上において類似している場合、リニアイメー
ジセンサＬＳ１は点Ｐ′を測定点として検出し、リニア
イメージセンサＬＳ２は測定点Ｐ２を測定点として検出
する。従って、リニアイメージセンサＬＳ１，ＬＳ２の
出力Ｘ′ｐ１，Ｘ′ｐ２による測定ｐ″２は直線Ｏ，
Ｐ′と直値Ｏ２Ｐ２の延長線の交点上の座標（Ｘ１′，
Ｚ１′）となる。一方、リニアイメージセンサＬＳ１，
ＬＳ２の出力Ｘｐ２′，Ｘｐ３による測定点は指定され
た座標（Ｘ２′，Ｚ２′）となる。
イメージセンサＬＳ１に関し死角に当り、ミスマッチン
グが生じた状態を示す。そして、点Ｐ′が測定点Ｐ２と
画像データ上において類似している場合、リニアイメー
ジセンサＬＳ１は点Ｐ′を測定点として検出し、リニア
イメージセンサＬＳ２は測定点Ｐ２を測定点として検出
する。従って、リニアイメージセンサＬＳ１，ＬＳ２の
出力Ｘ′ｐ１，Ｘ′ｐ２による測定ｐ″２は直線Ｏ，
Ｐ′と直値Ｏ２Ｐ２の延長線の交点上の座標（Ｘ１′，
Ｚ１′）となる。一方、リニアイメージセンサＬＳ１，
ＬＳ２の出力Ｘｐ２′，Ｘｐ３による測定点は指定され
た座標（Ｘ２′，Ｚ２′）となる。
従って、式(5)，(6)については、 Ｘ１≠Ｘ２′＋Ｌ２ Ｚ１≠Ｚ２ となり、本測定においてミスマッチングが行われている
ことが判別される。
ことが判別される。
３Ｆ 実施例 以下、本発明の実施例について説明する。
（データ読取り系） データ読取り系１００は、第３図に示すように、測定の
対象物体３の光学像を得るための光学系と該光学像を光
電式に検出する手段からなる検出部１０と、検出部１０
からのデータを得てこれを処理する制御系２０と、制御
系２０から得られるデータを記憶する記憶部３０とから
なる。
対象物体３の光学像を得るための光学系と該光学像を光
電式に検出する手段からなる検出部１０と、検出部１０
からのデータを得てこれを処理する制御系２０と、制御
系２０から得られるデータを記憶する記憶部３０とから
なる。
まず、対象物体３を考慮して、第３図に示すように、
ｘ，ｙ，ｚ座標を定める。検出部１０は、対象物体３の
上方位置に３つの対物レンズＯＬ１，ＯＬ２，ＯＬ３を
ｘ軸方向に並べて配置し、さらに対物レンズＯＬ１，Ｏ
Ｌ２，ＯＬ３による対象物体３の結像位置にリニアイメ
ージセンサＬＳ１，ＬＳ２，ＬＳ３を、検出方向がｘ軸
方向と平行となるように配置する。センサＬＳ１，ＬＳ
２，ＬＳ３及び対物レンズＯＬ１，ＯＬ２，ＯＬ３はそ
れぞれ検出装置１０１，１０２，１０３を構成し、これ
らは一体とってパルスモータ１０７によってｙ軸方向に
移動可能である。
ｘ，ｙ，ｚ座標を定める。検出部１０は、対象物体３の
上方位置に３つの対物レンズＯＬ１，ＯＬ２，ＯＬ３を
ｘ軸方向に並べて配置し、さらに対物レンズＯＬ１，Ｏ
Ｌ２，ＯＬ３による対象物体３の結像位置にリニアイメ
ージセンサＬＳ１，ＬＳ２，ＬＳ３を、検出方向がｘ軸
方向と平行となるように配置する。センサＬＳ１，ＬＳ
２，ＬＳ３及び対物レンズＯＬ１，ＯＬ２，ＯＬ３はそ
れぞれ検出装置１０１，１０２，１０３を構成し、これ
らは一体とってパルスモータ１０７によってｙ軸方向に
移動可能である。
検出装置１０１，１０２，１０３の近傍には、対物レン
ズ１０９，パターンフイルム１１０及び光源１１１から
なる照明ユニット１０８が配置される。照明ユニット１
０８は、対象物体３の表面に模様がない場合に、その表
面に格子状、ストライプ状、あるいは濃度や周期に係る
ランダムパターンを投影するために使用される。
ズ１０９，パターンフイルム１１０及び光源１１１から
なる照明ユニット１０８が配置される。照明ユニット１
０８は、対象物体３の表面に模様がない場合に、その表
面に格子状、ストライプ状、あるいは濃度や周期に係る
ランダムパターンを投影するために使用される。
制御系２０は、センサＬＳ１，ＬＳ２，ＬＳ３の出力を
Ａ／Ｄ変換して記憶部３０へ出力する第１ないし第３Ａ
／Ｄ変換器１２１，１２２，１２３と、センサＬＳ１，
ＬＳ２，ＬＳ３及び第１ないし第３Ａ／Ｄ変換器１２
１，１２２，１２３のタイミングをとるタイミングパル
スを発生するタイミングパルス発生部１２８と、装置の
電気系全体を制御する制御部１３０とを包含する。
Ａ／Ｄ変換して記憶部３０へ出力する第１ないし第３Ａ
／Ｄ変換器１２１，１２２，１２３と、センサＬＳ１，
ＬＳ２，ＬＳ３及び第１ないし第３Ａ／Ｄ変換器１２
１，１２２，１２３のタイミングをとるタイミングパル
スを発生するタイミングパルス発生部１２８と、装置の
電気系全体を制御する制御部１３０とを包含する。
（処理出力系） 処理出力系２００は、第４図に示すように、記憶部３０
に記憶された３つの画線データ(1)，(2)，(3)から、対
象物体３の画像をモニタＴＶ２５４上に交互に表示し、
これを左右交互に開閉するシヤッターを有する分離用メ
ガネ２５９によって観察して対象物体画像を立体視する
とともに、対象物体３上の任意の測定点のｘ，ｙ，ｚ軸
の座標を演算して表示する。
に記憶された３つの画線データ(1)，(2)，(3)から、対
象物体３の画像をモニタＴＶ２５４上に交互に表示し、
これを左右交互に開閉するシヤッターを有する分離用メ
ガネ２５９によって観察して対象物体画像を立体視する
とともに、対象物体３上の任意の測定点のｘ，ｙ，ｚ軸
の座標を演算して表示する。
処理出力系２００は、第４図に示すように、ステレオ画
像を形成する画像データ(1)，(2)，(3)を記憶する記憶
部２１０と、画像データ(2)における測定点を設定する
測定点設定部２２０と、上記測定点に対する画像データ
(1)，(2)及び(2)，(3)における対応点を相関処理によっ
て求める相関部２３０と、設定部２２０によって設定さ
れた測定点に基づいて画像データ(2)に測定点マークデ
ータを加え、かつ相関部２３０からの対応点に基づいて
画像データ(1)，(3)，(2)及び(2)，(3)における対応点
を相関処理によって求める相関部２３０と、設定部２２
０によって設定された測定点に基づいて画像データ(2)
に測定点マークデータを加え、かつ相関部２３０からの
対応点に基づいて画像データ(1)，(3)に対応点マークデ
ータを加えて出力するマーカ部２４０と、マーカ部２４
０から出力された、上記対応点マークデータを含む画像
データ(1)，(3)によって画像を形成する画像形成部２５
０と、上記測定点マークデータと上記対応点マークデー
タから測定点を表示する表示部２６０とから構成され
る。上記構成の処理出力系２００は制御部１３０によっ
て制御され、制御部１３０は、所望の制御を行うように
操作部４と接続される。
像を形成する画像データ(1)，(2)，(3)を記憶する記憶
部２１０と、画像データ(2)における測定点を設定する
測定点設定部２２０と、上記測定点に対する画像データ
(1)，(2)及び(2)，(3)における対応点を相関処理によっ
て求める相関部２３０と、設定部２２０によって設定さ
れた測定点に基づいて画像データ(2)に測定点マークデ
ータを加え、かつ相関部２３０からの対応点に基づいて
画像データ(1)，(3)，(2)及び(2)，(3)における対応点
を相関処理によって求める相関部２３０と、設定部２２
０によって設定された測定点に基づいて画像データ(2)
に測定点マークデータを加え、かつ相関部２３０からの
対応点に基づいて画像データ(1)，(3)に対応点マークデ
ータを加えて出力するマーカ部２４０と、マーカ部２４
０から出力された、上記対応点マークデータを含む画像
データ(1)，(3)によって画像を形成する画像形成部２５
０と、上記測定点マークデータと上記対応点マークデー
タから測定点を表示する表示部２６０とから構成され
る。上記構成の処理出力系２００は制御部１３０によっ
て制御され、制御部１３０は、所望の制御を行うように
操作部４と接続される。
画像形成部２５０の映像信号制御部２５２は、カウンタ
等により構成された発振部２５１の出力信号をクロック
信号として水平同期信号Ｈ、垂直同期信号Ｖ及びブラン
キング信号ＢをモニタＴＶ２５４に出力し、また記憶部
２１０の映像メモリＶＲＡＭ(1)２１３、及びＶＲＡＭ
(3)２１５の画像データをモニタＴＶ２５４上の所定位
置に表示するためのアドレスデータをアドレスデータ線
ＡＤＶを通してＶＲＡＭ２１３，２１４に出力する。そ
して、映像信号制御部２５２は、制御部１３０から信号
線ＶＣＥを通して出力される禁止信号が入力されるとア
ドレスデータをＶＲＡＭ(1)２１３，ＶＲＡＭ(2)２１
４，ＶＲＡＭ(3)２１５に出力するとを停止するが、そ
れ以外の時には常にアドレスデータをＶＲＡＭ(1)２１
３，ＶＲＡＭ(2)２１４，ＶＲＡＭ(3)２１５に繰返して
出している。なお、制御部１３０は、操作部４によって
記憶部３０にある画像データのうち所望とする領域の画
像データをＶＲＡＭ(1)２１３，ＶＲＡＭ(2)２１４，Ｖ
ＲＡＭ(3)２１５に入力する。
等により構成された発振部２５１の出力信号をクロック
信号として水平同期信号Ｈ、垂直同期信号Ｖ及びブラン
キング信号ＢをモニタＴＶ２５４に出力し、また記憶部
２１０の映像メモリＶＲＡＭ(1)２１３、及びＶＲＡＭ
(3)２１５の画像データをモニタＴＶ２５４上の所定位
置に表示するためのアドレスデータをアドレスデータ線
ＡＤＶを通してＶＲＡＭ２１３，２１４に出力する。そ
して、映像信号制御部２５２は、制御部１３０から信号
線ＶＣＥを通して出力される禁止信号が入力されるとア
ドレスデータをＶＲＡＭ(1)２１３，ＶＲＡＭ(2)２１
４，ＶＲＡＭ(3)２１５に出力するとを停止するが、そ
れ以外の時には常にアドレスデータをＶＲＡＭ(1)２１
３，ＶＲＡＭ(2)２１４，ＶＲＡＭ(3)２１５に繰返して
出している。なお、制御部１３０は、操作部４によって
記憶部３０にある画像データのうち所望とする領域の画
像データをＶＲＡＭ(1)２１３，ＶＲＡＭ(2)２１４，Ｖ
ＲＡＭ(3)２１５に入力する。
ＶＲＡＭ(1)２１３，ＶＲＡＭ(3)２１５の出力データ
は、マーカ部２４０のマーカ(A)２４２、マーカ(B)２４
４を介して画像形成部２５０の切換器２５６に入力さ
れ。切換器２５６は映像信号制御部２５２の垂直同期信
号Ｖがフリップフロップ２５８を通して1/2に分周され
た周波数の信号を入力され、これに基づいてマーカ(A)
２４２、(B)２４４からの出力を交互に切換えてブラン
キング２５７に出力する。従って、モニタＴＶ２５４
は、切換器２５６のこの切換え作動により画像データ
(1)，(3)による対象物体像を交互に表示することにな
る。
は、マーカ部２４０のマーカ(A)２４２、マーカ(B)２４
４を介して画像形成部２５０の切換器２５６に入力さ
れ。切換器２５６は映像信号制御部２５２の垂直同期信
号Ｖがフリップフロップ２５８を通して1/2に分周され
た周波数の信号を入力され、これに基づいてマーカ(A)
２４２、(B)２４４からの出力を交互に切換えてブラン
キング２５７に出力する。従って、モニタＴＶ２５４
は、切換器２５６のこの切換え作動により画像データ
(1)，(3)による対象物体像を交互に表示することにな
る。
ブランキング部２５７は、映像信号制御部２５２から出
力されるブランキング信号ＢによってモニタＴＶ２５４
の帰線時に画像データの出力を停止し、その他の時は切
換器２５６の出力をＤ／Ａ変換器２５８に出力する。Ｄ
／Ａ変換器２５８はブランキング部２５７からのデジタ
ル画像データ信号をアナログ信号に変換してモニタＴＶ
２５４に出力する。
力されるブランキング信号ＢによってモニタＴＶ２５４
の帰線時に画像データの出力を停止し、その他の時は切
換器２５６の出力をＤ／Ａ変換器２５８に出力する。Ｄ
／Ａ変換器２５８はブランキング部２５７からのデジタ
ル画像データ信号をアナログ信号に変換してモニタＴＶ
２５４に出力する。
測定者がモニタＴＶ２５４を観察するときに使用する分
離用メガネ２５９は、液晶等によって作られた光学シャ
ッタを左右メガネレンズ枠用に設け、該光学シャッタ
を、フリップフロップ２５８の出力により、モニタＴＶ
２５４上の切換え画像に同期されて左右交互に開閉させ
ることにより、画像データ(1)，(3)による対象物体像を
それぞれ測定者の左右眼により観察させて対象物体３の
立体視を可能にする。
離用メガネ２５９は、液晶等によって作られた光学シャ
ッタを左右メガネレンズ枠用に設け、該光学シャッタ
を、フリップフロップ２５８の出力により、モニタＴＶ
２５４上の切換え画像に同期されて左右交互に開閉させ
ることにより、画像データ(1)，(3)による対象物体像を
それぞれ測定者の左右眼により観察させて対象物体３の
立体視を可能にする。
測定点設定部２２０はモニタＴＶ２５４上における測定
点を設定するために座標Ｘｐ，Ｙｐを入力するためのも
のであり、測定点の座標を入力するタブレット又はキイ
ー２２１の出力は設定部２２２に入力される。設定部２
２２は入力された測定点座標Ｘｐ２，Ｙｐ２を記憶して
これを後述の比較器に出力するとともに、座標Ｘｐ２に
関してあらかじめ入力されているウインドウ定数±ωを
加えて、（Ｘｐ２＋ω）、（Ｘｐ２−ω）をそれぞれ比
較器２２４に出力する。
点を設定するために座標Ｘｐ，Ｙｐを入力するためのも
のであり、測定点の座標を入力するタブレット又はキイ
ー２２１の出力は設定部２２２に入力される。設定部２
２２は入力された測定点座標Ｘｐ２，Ｙｐ２を記憶して
これを後述の比較器に出力するとともに、座標Ｘｐ２に
関してあらかじめ入力されているウインドウ定数±ωを
加えて、（Ｘｐ２＋ω）、（Ｘｐ２−ω）をそれぞれ比
較器２２４に出力する。
後述する相関器においては画像データ(2)における測定
点近傍のデータ列に対し類似したデータ列を画像データ
(1)，(3)から抽出するものであるから、ウインド定数
（±ω）はこの時のデータ列長さを規制するものであ
る。
点近傍のデータ列に対し類似したデータ列を画像データ
(1)，(3)から抽出するものであるから、ウインド定数
（±ω）はこの時のデータ列長さを規制するものであ
る。
比較器２２４は、映像信号制御部２５２からのアドレス
データと設定部２２２からのウインド定数信号（Ｘｐ２
＋ω）、（Ｘｐ２−ω）とを受取り、ｘ軸方向に関する
アドレスデータが （Ｘｐ２＋ω）と（Ｘｐ２−ω）との間にある時に出力
信号を発生する。比較器２２６は映像信号制御部２５２
からのアドレスデータと設定部 ２２２からの座標Ｙ
ｐ２とを受取り、ｙ軸方向に関するアドレスデータがＹ
ｐ２と一致した時に出力信号を発生する。
データと設定部２２２からのウインド定数信号（Ｘｐ２
＋ω）、（Ｘｐ２−ω）とを受取り、ｘ軸方向に関する
アドレスデータが （Ｘｐ２＋ω）と（Ｘｐ２−ω）との間にある時に出力
信号を発生する。比較器２２６は映像信号制御部２５２
からのアドレスデータと設定部 ２２２からの座標Ｙ
ｐ２とを受取り、ｙ軸方向に関するアドレスデータがＹ
ｐ２と一致した時に出力信号を発生する。
相関部２３０のＡＮＤ回路２３２は比較器２２４及び比
較器２２６の出力信号の両方を受けると出力を発生す
る。相関器(A)２３４は発振部２５１の出力信号を端子
ＣＬを通してクロック信号として受取り、端子ＡにＡＮ
Ｄ回路２３２の出力信号が入力している時にはＶＲＡＭ
(2)２１４からの出力データを端子ＤＡを通して入力さ
れる。
較器２２６の出力信号の両方を受けると出力を発生す
る。相関器(A)２３４は発振部２５１の出力信号を端子
ＣＬを通してクロック信号として受取り、端子ＡにＡＮ
Ｄ回路２３２の出力信号が入力している時にはＶＲＡＭ
(2)２１４からの出力データを端子ＤＡを通して入力さ
れる。
一方、端子Ｂに比較器２２６の出力信号が入力している
時にはＶＲＡＭ(1)２１３からの出力データを端子ＤＢ
を通して入力される。すなわち、相関器(A)２３４に
は、相関用データとしてＶＲＡＭ(1)２１３に記憶され
ている座標Ｙｐ２の行の “Ｘｐ２±ω”の範囲の画像データと、ＶＲＡＭ(2)２
１４に記憶されているＹｐ２の行の一走査分の画像デー
タとが入力される。相関器(A)２３４は、端子ＤＢから
入力した一走査分の画像データの中から端子ＤＡから入
力した（Ｘｐ２±ω）の画像データに類似した画像デー
タの部分を検出して、この部分の位置に係る位置信号い
いかえると座標Ｘｏに対応する画像データ(1)に係る対
応点の座標Ｘｐ１を比較器２３６へ出力する。相関器
(B)２３５の作用も同様であって、座標Ｘｏに対応する
画像データ(3)に係る対応点の座標Ｘｐ３′を比較器２
３８へ出力する。
時にはＶＲＡＭ(1)２１３からの出力データを端子ＤＢ
を通して入力される。すなわち、相関器(A)２３４に
は、相関用データとしてＶＲＡＭ(1)２１３に記憶され
ている座標Ｙｐ２の行の “Ｘｐ２±ω”の範囲の画像データと、ＶＲＡＭ(2)２
１４に記憶されているＹｐ２の行の一走査分の画像デー
タとが入力される。相関器(A)２３４は、端子ＤＢから
入力した一走査分の画像データの中から端子ＤＡから入
力した（Ｘｐ２±ω）の画像データに類似した画像デー
タの部分を検出して、この部分の位置に係る位置信号い
いかえると座標Ｘｏに対応する画像データ(1)に係る対
応点の座標Ｘｐ１を比較器２３６へ出力する。相関器
(B)２３５の作用も同様であって、座標Ｘｏに対応する
画像データ(3)に係る対応点の座標Ｘｐ３′を比較器２
３８へ出力する。
相関部２３０の比較器２３６は、相関器(B)２３５から
入力されたデータＸｐ１の信号と、映像信号制御部２５
２からｘ軸方向のアドレスデータ信号とを受取り、両者
が一致した時に出力を発生してこれをマーカ部２４０の
マーカ(A)２４２に出力する。マーカ(A)２４２は比較器
２２６と比較器２３６の両方から出力信号が入力される
と、ＶＲＡＭ(1)２１３からの出力データをマークデー
タ、例えば画像データの最大値が１６進数で“ＦＦ”よ
り小さい時はマークデータを“ＦＦ”に置換えて出力す
る。すなわち、ＶＲＡＭ(1)２１３からの画像データ(1)
は測定点を示すマークデータ（例えば、記号や輝点）の
入った画像データ(1)となってマーカ(A)２４２から出力
される。
入力されたデータＸｐ１の信号と、映像信号制御部２５
２からｘ軸方向のアドレスデータ信号とを受取り、両者
が一致した時に出力を発生してこれをマーカ部２４０の
マーカ(A)２４２に出力する。マーカ(A)２４２は比較器
２２６と比較器２３６の両方から出力信号が入力される
と、ＶＲＡＭ(1)２１３からの出力データをマークデー
タ、例えば画像データの最大値が１６進数で“ＦＦ”よ
り小さい時はマークデータを“ＦＦ”に置換えて出力す
る。すなわち、ＶＲＡＭ(1)２１３からの画像データ(1)
は測定点を示すマークデータ（例えば、記号や輝点）の
入った画像データ(1)となってマーカ(A)２４２から出力
される。
比較器２３６は、相関器(A)２３４から出力される座標
Ｘｐ２に対応した対応点の座標Ｘｐ１の信号と、映像信
号制御部２５２からｘ軸方向のアドレスデータ信号を受
取り、両者が一致した時に出力を発生してこれをマーカ
(B)２４４に出力する。マーカ(B)２４４は、比較器２２
６と比較器２３６に接続され、両比較器２２６，２３６
の出力が入力されると、ＶＲＡＭ(3)２１５からの出力
データをマークデータに置換えて出力する。すなわち、
ＶＲＡＭ(3)２１５からの画像データ(3)は対応点を示す
マークデータの入った画像データ(3)としてマーカ(B)２
４４から出力される。
Ｘｐ２に対応した対応点の座標Ｘｐ１の信号と、映像信
号制御部２５２からｘ軸方向のアドレスデータ信号を受
取り、両者が一致した時に出力を発生してこれをマーカ
(B)２４４に出力する。マーカ(B)２４４は、比較器２２
６と比較器２３６に接続され、両比較器２２６，２３６
の出力が入力されると、ＶＲＡＭ(3)２１５からの出力
データをマークデータに置換えて出力する。すなわち、
ＶＲＡＭ(3)２１５からの画像データ(3)は対応点を示す
マークデータの入った画像データ(3)としてマーカ(B)２
４４から出力される。
マーカ(A)２４３、(B)２４４から出力されたマークデー
タを含む画像データ(1)，(3)は、切換器２５６、ブラン
キング２５７、Ｄ／Ａ変換器２５８を介してモニタＴＶ
２５４に入力されて、モニタＴＶ２５４に対象物体像と
して表示され、該対象物体像は分離メガネ２５９を通し
て立体的に観察される。しかし、もしセンサＬＳ１，Ｌ
Ｓ２の出力によって検出された測定点を座標を、センサ
ＬＳ２，ＬＳ３の出力によって検出された測定点の座標
とが異なっていると、すなわちミスマッチングが行われ
ていると、測点は近傍の高低に比較して著しく浮沈して
観察される。
タを含む画像データ(1)，(3)は、切換器２５６、ブラン
キング２５７、Ｄ／Ａ変換器２５８を介してモニタＴＶ
２５４に入力されて、モニタＴＶ２５４に対象物体像と
して表示され、該対象物体像は分離メガネ２５９を通し
て立体的に観察される。しかし、もしセンサＬＳ１，Ｌ
Ｓ２の出力によって検出された測定点を座標を、センサ
ＬＳ２，ＬＳ３の出力によって検出された測定点の座標
とが異なっていると、すなわちミスマッチングが行われ
ていると、測点は近傍の高低に比較して著しく浮沈して
観察される。
測定点の（Ｘ，Ｙ，Ｚ）を計算して表示するための表示
部２６０は、演算処理部(Y)及び演算処理部（Ｘ，Ｚ）
２６４を包含する。演算処理部(Y)２６２は、設定部２
２２からの座標Ｙｐ２の信号を受け、Ｙ＝α・Ｙｐ２＋
Ｙｏを演算する。ここで、αはパルスモータ１０７によ
るＹ軸方向の移動ピッチを示し、Ｙｏは対象物体３を置
く台に任意に定められた原点に対するＶＲＡＭ(2)２１
４の基準アドレス（例えば、ｘ＝０，ｙ＝０）のＹ軸方
向の位置を示す。
部２６０は、演算処理部(Y)及び演算処理部（Ｘ，Ｚ）
２６４を包含する。演算処理部(Y)２６２は、設定部２
２２からの座標Ｙｐ２の信号を受け、Ｙ＝α・Ｙｐ２＋
Ｙｏを演算する。ここで、αはパルスモータ１０７によ
るＹ軸方向の移動ピッチを示し、Ｙｏは対象物体３を置
く台に任意に定められた原点に対するＶＲＡＭ(2)２１
４の基準アドレス（例えば、ｘ＝０，ｙ＝０）のＹ軸方
向の位置を示す。
演算処理部（Ｘ，Ｚ）２６４は設定部２２２から入力さ
れた座標信号Ｘｐ２と、相関器２３４，２３５により検
出された座標信号Ｘｐ１，Ｘｐ３から、上記３Ｅ発明の
原理の中で説明した式(1)ないし(8)により座標Ｘ，Ｚを
求める。
れた座標信号Ｘｐ２と、相関器２３４，２３５により検
出された座標信号Ｘｐ１，Ｘｐ３から、上記３Ｅ発明の
原理の中で説明した式(1)ないし(8)により座標Ｘ，Ｚを
求める。
演算処理部２６２，２６４の作動を、第８図に示すフロ
ーチャートに基づいて説明する。ステップＳ１におい
て、測定点設定部２２０によりセンサＬＳ２上の測定点
の座標Ｘｐ２を選定する。ステップＳ２において、セン
サＬＳ１，ＬＳ３により検出された座標信号Ｘｐ１，Ｘ
ｐ３を取込む。ステップＳ３において、センサＬＳ１，
ＬＳ２の出力Ｘｐ１，Ｘｐ２により式(1)，(2)を演算し
て、 Ｘ１＝ｆ１（Ｘｐ１，Ｘｐ２）、 Ｚ１＝ｇ１（Ｘｐ１，Ｘｐ２）を求める。次いで、ステ
ップＳ４において、センサＬＳ２，ＬＳ３の出力Ｘ
ｐ１，Ｘｐ２により式(3)，(4)を演算して Ｘ２＝ｆ１（Ｘｐ２，Ｘｐ３）、 Ｚ２＝ｇ１（Ｘｐ２，Ｘｐ３）を求める。ステップＳ５
において、式(5)，(6)の両方が成立するか否かが判別さ
れ、成立する場合にはステップＳ６へ進む。ステップＳ
６において、センサＬＳ１，ＬＳ３の出力Ｘｐ１，Ｘｐ
３に基づいて式(7)，(8)を演算して、Ｘ＝ｆ２（Ｘ
ｐ１，Ｘｐ３）， Ｚ＝ｇ２（Ｘｐ１，Ｘｐ３）を求め、ステップＳ７にお
いて、Ｘ，Ｚの表示信号を表示部２６６へ出力する。ス
テップＳ８において作動が終了か否かが判別され、まだ
終了でないと判別されるとステップＳ１へ戻る ステップＳ５において、式(5)，(6)の少なくとも一方の
式が成立ないと判別されると、ステップＳ９へ進んで、
ミスマッチングの表示信号を表示部２６６へ出力してス
テップＳ８へ進む。
ーチャートに基づいて説明する。ステップＳ１におい
て、測定点設定部２２０によりセンサＬＳ２上の測定点
の座標Ｘｐ２を選定する。ステップＳ２において、セン
サＬＳ１，ＬＳ３により検出された座標信号Ｘｐ１，Ｘ
ｐ３を取込む。ステップＳ３において、センサＬＳ１，
ＬＳ２の出力Ｘｐ１，Ｘｐ２により式(1)，(2)を演算し
て、 Ｘ１＝ｆ１（Ｘｐ１，Ｘｐ２）、 Ｚ１＝ｇ１（Ｘｐ１，Ｘｐ２）を求める。次いで、ステ
ップＳ４において、センサＬＳ２，ＬＳ３の出力Ｘ
ｐ１，Ｘｐ２により式(3)，(4)を演算して Ｘ２＝ｆ１（Ｘｐ２，Ｘｐ３）、 Ｚ２＝ｇ１（Ｘｐ２，Ｘｐ３）を求める。ステップＳ５
において、式(5)，(6)の両方が成立するか否かが判別さ
れ、成立する場合にはステップＳ６へ進む。ステップＳ
６において、センサＬＳ１，ＬＳ３の出力Ｘｐ１，Ｘｐ
３に基づいて式(7)，(8)を演算して、Ｘ＝ｆ２（Ｘ
ｐ１，Ｘｐ３）， Ｚ＝ｇ２（Ｘｐ１，Ｘｐ３）を求め、ステップＳ７にお
いて、Ｘ，Ｚの表示信号を表示部２６６へ出力する。ス
テップＳ８において作動が終了か否かが判別され、まだ
終了でないと判別されるとステップＳ１へ戻る ステップＳ５において、式(5)，(6)の少なくとも一方の
式が成立ないと判別されると、ステップＳ９へ進んで、
ミスマッチングの表示信号を表示部２６６へ出力してス
テップＳ８へ進む。
（相関器） 次に、上述の相関器２３４、２３５について説明する。
相関器の原理としては、絶対差法と相関係数法がある。
以下データ群Ａｘｐｎとデータ群Ｂｘｐｎとで相関をと
る場合について説明する。絶対差法は、 において、Ｘｐ′を順次変化させ、Ｇ１が最小となるＸ
ｐ′を求める方法である。一方、相関係数法は、 において、Ｘｐ′を順次変化させ、Ｇ２が最も“１”に
近づいた時のＸｐ′を求める方法である。ここで
Ａｘｐ，Ｂｘｐ′は平均値を意味する。
相関器の原理としては、絶対差法と相関係数法がある。
以下データ群Ａｘｐｎとデータ群Ｂｘｐｎとで相関をと
る場合について説明する。絶対差法は、 において、Ｘｐ′を順次変化させ、Ｇ１が最小となるＸ
ｐ′を求める方法である。一方、相関係数法は、 において、Ｘｐ′を順次変化させ、Ｇ２が最も“１”に
近づいた時のＸｐ′を求める方法である。ここで
Ａｘｐ，Ｂｘｐ′は平均値を意味する。
以下に、上記絶対差法による相関器２３４の構成につい
て、第５図を参照して説明する。ＡＮＤ回路２３２の出
力が入力する端子Ａは、ＡＮＤ回路３０１及び切換器３
０４に接続され、比較器２２６の出力が入力する端子Ｂ
は、カウンタ(1)３０７のリセット端子ＲＳＴ、ＡＮＤ
回路３０８、ＲＡＭ３０５及びインバータ３０６に接続
される。ＶＲＡＭ(2)２１４の出力が入力する端子ＤＡ
は切換器３０４に接続され、ＶＲＡＭ(1)２１３の出力
が入力する端子ＤＢはＲＡＭ３０５に接続される。発振
器２５１の出力が入力する端子ＣＬはカウンタ(1)３０
７のクロック端子ＣＬ，ＡＮＤ回路３０１、３０２、Ｒ
ＡＭ３０５、累積加算器(1)、(2)３１４、３１５に接続
される。
て、第５図を参照して説明する。ＡＮＤ回路２３２の出
力が入力する端子Ａは、ＡＮＤ回路３０１及び切換器３
０４に接続され、比較器２２６の出力が入力する端子Ｂ
は、カウンタ(1)３０７のリセット端子ＲＳＴ、ＡＮＤ
回路３０８、ＲＡＭ３０５及びインバータ３０６に接続
される。ＶＲＡＭ(2)２１４の出力が入力する端子ＤＡ
は切換器３０４に接続され、ＶＲＡＭ(1)２１３の出力
が入力する端子ＤＢはＲＡＭ３０５に接続される。発振
器２５１の出力が入力する端子ＣＬはカウンタ(1)３０
７のクロック端子ＣＬ，ＡＮＤ回路３０１、３０２、Ｒ
ＡＭ３０５、累積加算器(1)、(2)３１４、３１５に接続
される。
カウンタ(1)３０７の出力端子は、カウンタ(2)３０９、
累積加算器(1)３１４、最小値検出器317累積加算器(2)
３１５、さらに加算器３１０及び比較器３２０に接続さ
れる。ＡＮＤ回路３０８の出力端子はカウンタ(2)３０
９に接続される。インバータ３０６の出力端子はＡＮＤ
回路３０２及び遅延素子３２２に接続され、ＡＮＤ回路
３０１、３０２の出力はシフトレジスタ３０３に入力さ
れる。切換器３０４の出力はシフトレジスタ３０３に入
力され、シフトレジスタ３０３の出力は切換器３０４及
び減算器３１２に入力される。
累積加算器(1)３１４、最小値検出器317累積加算器(2)
３１５、さらに加算器３１０及び比較器３２０に接続さ
れる。ＡＮＤ回路３０８の出力端子はカウンタ(2)３０
９に接続される。インバータ３０６の出力端子はＡＮＤ
回路３０２及び遅延素子３２２に接続され、ＡＮＤ回路
３０１、３０２の出力はシフトレジスタ３０３に入力さ
れる。切換器３０４の出力はシフトレジスタ３０３に入
力され、シフトレジスタ３０３の出力は切換器３０４及
び減算器３１２に入力される。
カウンタ2)３０９の出力は加算器(1)３１０及び加算器
(2)３２３に入力され、加算器(1)３１０の出力はＲＡＭ
３０５及び比較器（ＥＮＤ）３１１に入力される。比較
器（ＥＮＤ）３１１の出はカウンタ(2)３０９及びＡＮ
Ｄ回路３２１に入力され、ＡＮＤ回路３２１には遅延素
子３２２の出力も入力される。
(2)３２３に入力され、加算器(1)３１０の出力はＲＡＭ
３０５及び比較器（ＥＮＤ）３１１に入力される。比較
器（ＥＮＤ）３１１の出はカウンタ(2)３０９及びＡＮ
Ｄ回路３２１に入力され、ＡＮＤ回路３２１には遅延素
子３２２の出力も入力される。
一方、ＲＡＭ３０５の出力は減算器３１２、絶対値演算
器３１３を介して累積加算器(1)３１４及び累積加算器
(2)３１５に入力され。累積加算器(1)３１４及び累加算
器(2)３１５の出力は合成器３１６に入力され、合成器
３１６の出力は最小値検出器３１７に入力される。ＡＮ
Ｄ回路３２１の出力はラッチ３１９及び最小値検出器３
１７に入力される。さらに、加算器(2)の出力はアドレ
スラッチ３１８を介してラッチ３１９に入力され、アド
レスラッチ３１８には最小値検出器３１７の出力が入力
される。ラッチ３１９の出力は相関器２３４の出力とな
る。
器３１３を介して累積加算器(1)３１４及び累積加算器
(2)３１５に入力され。累積加算器(1)３１４及び累加算
器(2)３１５の出力は合成器３１６に入力され、合成器
３１６の出力は最小値検出器３１７に入力される。ＡＮ
Ｄ回路３２１の出力はラッチ３１９及び最小値検出器３
１７に入力される。さらに、加算器(2)の出力はアドレ
スラッチ３１８を介してラッチ３１９に入力され、アド
レスラッチ３１８には最小値検出器３１７の出力が入力
される。ラッチ３１９の出力は相関器２３４の出力とな
る。
相関器２３４は、上記構成において、端子ＡにＡＮＤ回
路２３２から信号が入力ると、端子ＣＬから入力したク
ロッ信号がＡＮＤ回路３０１を通してシフトレジスタ３
０３に入力し、また端子ＤＡから入力したＶＲＡＭ(2)
２１４からの出力データが切換器３０４を通してシフト
レジスタ３０３に順次入力する。シフトレジスタ３０３
は、（Ｘｐ２±ω）のデータに対応した（２ω＋１）段
のシフトレジスタがデータを構成するビット数と等しい
数だけ並列に配置してあり、データ内容を並列にシフト
する。一方、端子ＡにＡＮＤ回路２３２から信号が入力
しなくなると、切換器３０４はシフトレジスタ３０３の
出力データをシフトレジスタ３０３の入力に供給する。
従って、切換器３０４とシフトレジスタ３０３によって
リング状のシフトレジスタ、すなわちリングレジスタが
形成される。
路２３２から信号が入力ると、端子ＣＬから入力したク
ロッ信号がＡＮＤ回路３０１を通してシフトレジスタ３
０３に入力し、また端子ＤＡから入力したＶＲＡＭ(2)
２１４からの出力データが切換器３０４を通してシフト
レジスタ３０３に順次入力する。シフトレジスタ３０３
は、（Ｘｐ２±ω）のデータに対応した（２ω＋１）段
のシフトレジスタがデータを構成するビット数と等しい
数だけ並列に配置してあり、データ内容を並列にシフト
する。一方、端子ＡにＡＮＤ回路２３２から信号が入力
しなくなると、切換器３０４はシフトレジスタ３０３の
出力データをシフトレジスタ３０３の入力に供給する。
従って、切換器３０４とシフトレジスタ３０３によって
リング状のシフトレジスタ、すなわちリングレジスタが
形成される。
端子Ｂに比較器２２６から信号が入力すると、カウンタ
(1)３０７はリセット状態、ＲＡＭ３０５は書込み状
態、カウンタ(2)３０９はＡＮＤ回路３０８を通してク
ロック信号を受取って計数状態となる。すなわち、カウ
ンタ(1)３０７のカウントは０であるから、ＲＡＭ３０
５は、カウンタ(2)３０９の内容をそのまま加算器(1)３
１０を通してアドレス信号として受取り、端子ＤＢから
のデータをカウンタ(2)３０９の出力に従ったアドレス
位置に書込む。比較器（ＥＮＤ）３１１は、対応点検出
のための対象となる一走査分のデータ数ｎと加算器(1)
３１０からの値を比較し、一致した時はカウンタ(2)３
０９をリセットする。
(1)３０７はリセット状態、ＲＡＭ３０５は書込み状
態、カウンタ(2)３０９はＡＮＤ回路３０８を通してク
ロック信号を受取って計数状態となる。すなわち、カウ
ンタ(1)３０７のカウントは０であるから、ＲＡＭ３０
５は、カウンタ(2)３０９の内容をそのまま加算器(1)３
１０を通してアドレス信号として受取り、端子ＤＢから
のデータをカウンタ(2)３０９の出力に従ったアドレス
位置に書込む。比較器（ＥＮＤ）３１１は、対応点検出
のための対象となる一走査分のデータ数ｎと加算器(1)
３１０からの値を比較し、一致した時はカウンタ(2)３
０９をリセットする。
なお、端子Ｂに比較器２２６から信号が入力している時
には、インバータ３０６によりＡＮＤ回路３０２とＡＮ
Ｄ回路３２１は禁止状態となり、それらは信号を発生し
ない。ここで、遅延素子３２２は、カウンタ(2)３０
９、加算器(1)３１０及び比較器（ＥＮＤ）３１１によ
る遅延時間によってＡＮＤ回路３２１が信号を発生する
ことを防止する。
には、インバータ３０６によりＡＮＤ回路３０２とＡＮ
Ｄ回路３２１は禁止状態となり、それらは信号を発生し
ない。ここで、遅延素子３２２は、カウンタ(2)３０
９、加算器(1)３１０及び比較器（ＥＮＤ）３１１によ
る遅延時間によってＡＮＤ回路３２１が信号を発生する
ことを防止する。
前述したように、映像信号制御部２５２からのｙ軸に関
するアドレスデータがｙｐ２である間、端子Ｂに信号が
発生し、さらにその発生期間でｘ軸に関するアドドレス
データが（ｘｐ２±ω）の範囲にある間、端子Ａに信号
が発生する。従って、RAM３０５にはＶＲＡＭ(1)２１３
に記憶されている画像データ(1)のうちのｙｐ２行の一
走査分の画像データが入力され、一方シフトレジスタ３
０３にはＶＲＡＭ(2)２１４に画像データ(2)のうちｙ
ｐ２行の“Ｘｐ２±ω”の範囲の画像データが順次入力
される。
するアドレスデータがｙｐ２である間、端子Ｂに信号が
発生し、さらにその発生期間でｘ軸に関するアドドレス
データが（ｘｐ２±ω）の範囲にある間、端子Ａに信号
が発生する。従って、RAM３０５にはＶＲＡＭ(1)２１３
に記憶されている画像データ(1)のうちのｙｐ２行の一
走査分の画像データが入力され、一方シフトレジスタ３
０３にはＶＲＡＭ(2)２１４に画像データ(2)のうちｙ
ｐ２行の“Ｘｐ２±ω”の範囲の画像データが順次入力
される。
端子Ｂにおける信号発生終了は、相関処理の開始を意味
する。なわち、端子Ｂに比較器（ｙｐ２）２２６から信
号が印加さなくなると、カウンタ(1)３０７はクロック
信号を計数し始め、また切換器３０４とシフトレジスタ
３０３によって構成される上記リングレジスタがＡＮＤ
回路３０２の禁止解除によりクロック信号に従って作動
する。
する。なわち、端子Ｂに比較器（ｙｐ２）２２６から信
号が印加さなくなると、カウンタ(1)３０７はクロック
信号を計数し始め、また切換器３０４とシフトレジスタ
３０３によって構成される上記リングレジスタがＡＮＤ
回路３０２の禁止解除によりクロック信号に従って作動
する。
端子Ｂにおける信号発生終了はまた、ＲＡＭ３０５を読
取り状態にし、かつＡＮＤ回路３２１を少し遅延させて
禁止解除状態、すなわち比較器（ＥＮＤ）３１１の出力
状態をラッチ３１９に伝達可能とする。
取り状態にし、かつＡＮＤ回路３２１を少し遅延させて
禁止解除状態、すなわち比較器（ＥＮＤ）３１１の出力
状態をラッチ３１９に伝達可能とする。
カウンタ(1)３０７は計数が（２ω＋１）で１サイクル
するカウンタであり、上記リングレジスタと同期して作
動する。カウンタ(1)３０７の計数値は式(9)のｉを意味
し、相関器２３４はカウンタ(1)３０７が１サイクルす
るごとに式(9)のＧ１を演算することになる。
するカウンタであり、上記リングレジスタと同期して作
動する。カウンタ(1)３０７の計数値は式(9)のｉを意味
し、相関器２３４はカウンタ(1)３０７が１サイクルす
るごとに式(9)のＧ１を演算することになる。
カウンタ(2)３０９の計値は、（Ｘｐ１−ω）を意味
し、カウンタ(1)３０７が１サイクルする毎に１増加す
る。加算器(1)３１０カウンタ(1)３０７とカウンタ(2)
３０９の計数値を加算し、この加算値をアドレスデータ
としてＲＡＭ３０５に入力する。従って、ＲＡＭ３０５
カウンタ(1)３０７の最初のサイクル時にはＢ０、
Ｂ１、…、Ｂ２ωの出力データを出力し、次のサイクル
時にはＢ１、Ｂ２、…、Ｂ２ω±１の出力データを出力
し、さらに次のサイクル時にはＢ２、Ｂ３、…Ｂ２ω＋
２の出力データを出力する。すなわち、ＲＡＭ３０５の
出力はカウンタ(1)３０７の１サイクル毎に１データだ
けずれたデータ列となる。
し、カウンタ(1)３０７が１サイクルする毎に１増加す
る。加算器(1)３１０カウンタ(1)３０７とカウンタ(2)
３０９の計数値を加算し、この加算値をアドレスデータ
としてＲＡＭ３０５に入力する。従って、ＲＡＭ３０５
カウンタ(1)３０７の最初のサイクル時にはＢ０、
Ｂ１、…、Ｂ２ωの出力データを出力し、次のサイクル
時にはＢ１、Ｂ２、…、Ｂ２ω±１の出力データを出力
し、さらに次のサイクル時にはＢ２、Ｂ３、…Ｂ２ω＋
２の出力データを出力する。すなわち、ＲＡＭ３０５の
出力はカウンタ(1)３０７の１サイクル毎に１データだ
けずれたデータ列となる。
シフトレジスタ３０３は、カウンタ(2)３０９の１サイ
クル毎にＡ０、Ａ１、…、Ａ２ωのデータ列を繰り返し
て出力する。カウンタ(1)３０７のこの動作は、加算器
(1)３１１が出力値がｎとなって比較器（ＥＮＡ）３１
１が出力信号を発生して相関処理が終了するまで続けら
れる。
クル毎にＡ０、Ａ１、…、Ａ２ωのデータ列を繰り返し
て出力する。カウンタ(1)３０７のこの動作は、加算器
(1)３１１が出力値がｎとなって比較器（ＥＮＡ）３１
１が出力信号を発生して相関処理が終了するまで続けら
れる。
減算器３１２はシフトレジスタ３０３の出力データから
ＲＡＭ３０５の出力データを減じて出力する。絶対値演
算器３１３は減算器３１２の出力データが負の時、正に
変換して出力する。
ＲＡＭ３０５の出力データを減じて出力する。絶対値演
算器３１３は減算器３１２の出力データが負の時、正に
変換して出力する。
累積加算器(1)３１４は加算器とラッチから構成され、
カウンタ(1)３０７が１サイクルする間、絶縁値演算器
３１３の出力データをラッチ内に順次加算する。合成器
３１６は後で詳しく説明するが、ここでは説明の便宜上
累積加算器(1)３１４の出力を最小値検出器３１７に入
力させるものとする。
カウンタ(1)３０７が１サイクルする間、絶縁値演算器
３１３の出力データをラッチ内に順次加算する。合成器
３１６は後で詳しく説明するが、ここでは説明の便宜上
累積加算器(1)３１４の出力を最小値検出器３１７に入
力させるものとする。
最小値検出器３１７は比較器とラッチから構成される。
該ラッチはリセット状状態で最も大きな値（例えば８bi
tの場合“ＦＦ”）をとり、上記比較器が入力データと
ラッチの内容とを比較して入力データが小さければ入力
データが上記ラッチに入力し、上記ラッチ内のデータ変
更を意味する出力信号を最小値検出器３１７からアドレ
スラッチ３１８へ出力する。累積加算器(1)３１４及び
最小値検出器３１７にはカウンタ(1)３０７の出力信号
が供給されており、カウンタ(1)３０７が１サイクルす
る毎にその出力信号の発生により最小値検出器３１７が
動作する。そして、カウンタ(1)３０７の出力信号の発
生終了により累積加算器(1)３１４はリセットされ、最
小値検出器３１７の出力信号は停止する。
該ラッチはリセット状状態で最も大きな値（例えば８bi
tの場合“ＦＦ”）をとり、上記比較器が入力データと
ラッチの内容とを比較して入力データが小さければ入力
データが上記ラッチに入力し、上記ラッチ内のデータ変
更を意味する出力信号を最小値検出器３１７からアドレ
スラッチ３１８へ出力する。累積加算器(1)３１４及び
最小値検出器３１７にはカウンタ(1)３０７の出力信号
が供給されており、カウンタ(1)３０７が１サイクルす
る毎にその出力信号の発生により最小値検出器３１７が
動作する。そして、カウンタ(1)３０７の出力信号の発
生終了により累積加算器(1)３１４はリセットされ、最
小値検出器３１７の出力信号は停止する。
アドレスラッチ３１８には、加算器(2)３２３によりカ
ウンタ(2)３０９の計数値にωを加えた値、すなわちカ
ウンタ(2)３０９の計数値が（Ｘｐ１−ω）であるから
Ｘｐ１−ω＋ω＝Ｘｐ１の値が供給され、該Ｘｐ１は最
小値検出器３１７の出力信号の発生に伴いラッチ３１９
に記憶される。従って、より小さいＧ１が得られる時の
Ｘｐ１の値がアドレスラッチ３１８に記憶される。比較
器（ＥＮＤ）３１１の出力信号はＡＮＤ回路３２１を通
してラッチ３１９及び最小値検出器３１７に供給され
る。これによりアドレスラッチ３１８の内容がラッチ３
１９に記憶され、相関器２３４の外部に出力データとし
て出力される。一方、最小値検出器３１７はリセット状
態となり次の相関処理に備える。
ウンタ(2)３０９の計数値にωを加えた値、すなわちカ
ウンタ(2)３０９の計数値が（Ｘｐ１−ω）であるから
Ｘｐ１−ω＋ω＝Ｘｐ１の値が供給され、該Ｘｐ１は最
小値検出器３１７の出力信号の発生に伴いラッチ３１９
に記憶される。従って、より小さいＧ１が得られる時の
Ｘｐ１の値がアドレスラッチ３１８に記憶される。比較
器（ＥＮＤ）３１１の出力信号はＡＮＤ回路３２１を通
してラッチ３１９及び最小値検出器３１７に供給され
る。これによりアドレスラッチ３１８の内容がラッチ３
１９に記憶され、相関器２３４の外部に出力データとし
て出力される。一方、最小値検出器３１７はリセット状
態となり次の相関処理に備える。
ところで、相関処理におけるウインド幅（２ω）は広い
程測定点に対する対応点の不一致、すなわちミスマッチ
ングは少ないがＸｐ１の変化に対するＧ１の値が滑らか
であり、検出感度は低い。一方、ウインド幅（２ω）が
狭いと、検出感度は高くなるが、相関演算の対象となる
データが少ないためミスマッチングが多くなる。本実施
例の相関器２３４はこの不具合をなくすため、ウインド
幅を２つ以上使用し、その各々から得られる相関状態を
合成して最終的な対応点を検出するように構成されてお
り、以下に説明する合成器３１６、累積加算器(2)３１
５、比較器３２０はこのために作用する。
程測定点に対する対応点の不一致、すなわちミスマッチ
ングは少ないがＸｐ１の変化に対するＧ１の値が滑らか
であり、検出感度は低い。一方、ウインド幅（２ω）が
狭いと、検出感度は高くなるが、相関演算の対象となる
データが少ないためミスマッチングが多くなる。本実施
例の相関器２３４はこの不具合をなくすため、ウインド
幅を２つ以上使用し、その各々から得られる相関状態を
合成して最終的な対応点を検出するように構成されてお
り、以下に説明する合成器３１６、累積加算器(2)３１
５、比較器３２０はこのために作用する。
比較器３２０はカウンタ(1)３０７の出力値が（ω±
ω′）の範囲で出力信号を発生する。カウンタ(1)３０
７がωの時、シフトレジスタ３０３の出力はＸｐである
から、（ω＋ω′）は （Ｘｐ１±ω′）を意味する（但し、ω＞ω′）。
ω′）の範囲で出力信号を発生する。カウンタ(1)３０
７がωの時、シフトレジスタ３０３の出力はＸｐである
から、（ω＋ω′）は （Ｘｐ１±ω′）を意味する（但し、ω＞ω′）。
累積加算器(2)３１５は比較器３２０が出力信号を発生
している時だけ累積の加算をする。合成器３１６は累加
算器(1)３１４と累積加算器(2)３１５の値を合成して最
小値検出器３１７に出力する。
している時だけ累積の加算をする。合成器３１６は累加
算器(1)３１４と累積加算器(2)３１５の値を合成して最
小値検出器３１７に出力する。
次に合成器３１６について説明する。第１実施例の合成
器は、第６図に示すように、累積加算器(1)３１４の出
力が入力する比較器４０１と、比較器４０１と累積加算
器(2)３１５の出力が入力するゲート４０２とから構成
される。そして、比較器４０１は、第６図に示す累積加
算器(1)３１４からの出力とあらかじめ設定されたス
レッシヨルドレベルとを比較し、累積加算器(1)３１４
からの出力がより小さい場合は、ゲート４０２を解除
して累積加算器(2)３１５の出力を、一方出力が上
記スレッシヨルドレベルよりも大きい場合は、ゲート４
０２を禁止して最も大きな値（８bitの場合、“Ｆ
Ｆ”）を出力として最小値検出器３１７に出力する。
器は、第６図に示すように、累積加算器(1)３１４の出
力が入力する比較器４０１と、比較器４０１と累積加算
器(2)３１５の出力が入力するゲート４０２とから構成
される。そして、比較器４０１は、第６図に示す累積加
算器(1)３１４からの出力とあらかじめ設定されたス
レッシヨルドレベルとを比較し、累積加算器(1)３１４
からの出力がより小さい場合は、ゲート４０２を解除
して累積加算器(2)３１５の出力を、一方出力が上
記スレッシヨルドレベルよりも大きい場合は、ゲート４
０２を禁止して最も大きな値（８bitの場合、“Ｆ
Ｆ”）を出力として最小値検出器３１７に出力する。
従って、第１実施例の合成器においては、大きなウイン
ド幅での相関状態が良くない時には、小さなウインド幅
での相関状態を無視して相関状態にないとし、一方大き
なウインド幅での相関状態が良い時には、より正確な相
関処理が期待できる小さなウインド幅での相関状態によ
って対応点を検出するものである。
ド幅での相関状態が良くない時には、小さなウインド幅
での相関状態を無視して相関状態にないとし、一方大き
なウインド幅での相関状態が良い時には、より正確な相
関処理が期待できる小さなウインド幅での相関状態によ
って対応点を検出するものである。
第２実施例の合成器は、第７図に示すように加算器４０
３によって構成され、累積加算器(1)３１４の出力と
累積加算器(2)３１５の出力を加算器４０３によって
加算した出力を最小値検出器３１７に出力する。
３によって構成され、累積加算器(1)３１４の出力と
累積加算器(2)３１５の出力を加算器４０３によって
加算した出力を最小値検出器３１７に出力する。
相関器(B)の構造は上述した相関器(A)と同様の構成を有
しており、端子ＤＢにＶＲＡＭ(1)２１３の出力の代わ
りにＶＲＡＭ(3)の出力を入力させている点が相違する
のみなのでその詳細な説明は省略する。
しており、端子ＤＢにＶＲＡＭ(1)２１３の出力の代わ
りにＶＲＡＭ(3)の出力を入力させている点が相違する
のみなのでその詳細な説明は省略する。
次に、本発明により航空写真を解析する他の実施例につ
いて説明する。第９図に示すように、撮影位置を異にし
て３枚の航空写真ＡＰ、ＢＰ、ＣＰを撮影したものとす
る。そして、第２の実施例においては、第１０図に示す
ように、対物レンズＯＬ１０とリニアイメージセンサＬ
Ｓ１０からなる検出装置１０５を構成し、検出装置１０
５の合焦位置へ航空写真ＡＰ、ＢＰ、ＣＰを順次配置し
て、各出力信号Ｘｐ２、Ｘｐ３を得る。
いて説明する。第９図に示すように、撮影位置を異にし
て３枚の航空写真ＡＰ、ＢＰ、ＣＰを撮影したものとす
る。そして、第２の実施例においては、第１０図に示す
ように、対物レンズＯＬ１０とリニアイメージセンサＬ
Ｓ１０からなる検出装置１０５を構成し、検出装置１０
５の合焦位置へ航空写真ＡＰ、ＢＰ、ＣＰを順次配置し
て、各出力信号Ｘｐ２、Ｘｐ３を得る。
また、この実施例の変形例の一つは、第１１図に示すよ
うに、３つの対物レンズＯＬ２１、ＯＬ２２、ＯＬ２３
と３つのリニアイメージセンサＬＳ２１、ＬＳ２２、Ｌ
Ｓ２３から３つの検出装置１０６、１０７、１０８を構
成し、各検出装置１０６、１０７、１０８の合焦位置に
航空写真ＡＰ、ＢＰ、ＣＰを配置して、各出力信号Ｘｐ
１、Ｘｐ２、Ｘｐ３を得る。
うに、３つの対物レンズＯＬ２１、ＯＬ２２、ＯＬ２３
と３つのリニアイメージセンサＬＳ２１、ＬＳ２２、Ｌ
Ｓ２３から３つの検出装置１０６、１０７、１０８を構
成し、各検出装置１０６、１０７、１０８の合焦位置に
航空写真ＡＰ、ＢＰ、ＣＰを配置して、各出力信号Ｘｐ
１、Ｘｐ２、Ｘｐ３を得る。
３Ｇ．発明の効果 上述の構成を有する本発明においては、測定点の指定を
一つの画像データについてのみ入力し、観察によって他
の画像データについてはその対応点を抽出することを要
しないから、作業者は何ら熟練を要せず容易かつ正確に
座標測定を行うことができる効果を有する。
一つの画像データについてのみ入力し、観察によって他
の画像データについてはその対応点を抽出することを要
しないから、作業者は何ら熟練を要せず容易かつ正確に
座標測定を行うことができる効果を有する。
また、本発明においては、座標測定装置がミスマッチン
グを起こしたことを判定可能であり、そのときの測定座
標を測定結果として取扱わないことにより、信頼性の高
い座標測定を可能にする効果を有する。
グを起こしたことを判定可能であり、そのときの測定座
標を測定結果として取扱わないことにより、信頼性の高
い座標測定を可能にする効果を有する。
さらに、本発明においては、３つの異なった視準角度を
もった画像データのうち中間の視準角度をもった画像デ
ータにおいて測定点を指定し、他の２つの画像データに
よって最終的な座標測定を行うように構成することによ
り、座標測定用画像データの視準角度のなす角度を大き
くして高精度の座標測定を可能とすることができる。
もった画像データのうち中間の視準角度をもった画像デ
ータにおいて測定点を指定し、他の２つの画像データに
よって最終的な座標測定を行うように構成することによ
り、座標測定用画像データの視準角度のなす角度を大き
くして高精度の座標測定を可能とすることができる。
さらに、本発明は、被測定物にランダムパターンを投影
する室内的測定に限らず、写真測量にも応用可能であ
り、写真測量の測量効率や測定精度を有効に向上させる
効果を有する。
する室内的測定に限らず、写真測量にも応用可能であ
り、写真測量の測量効率や測定精度を有効に向上させる
効果を有する。
第１図及び第２図は本発明の原理説明図、第３図は本発
明の実施例の座標測定装置のデータ読取り系のブロツク
図、第４図は処理出力系のブロツク図、第５図は相関器
のブロツク図、第６図は上記実施例の合成記のブロツク
図、第７図は第６図に示した合成器の波形図、第８図は
上記実施例の演算処理部のフローチャート図、第９図は
他の実施例で使用する航空写真の撮影方法の説明図、第
１０図及び第１１図は第９図に示した航空写真による座
標測定方法の説明図である。 ＯＬ１、ＯＬ２、ＯＬ３……対物レンズ ＬＳ１、ＬＳ２、ＬＳ３……リニアイメージセンサ １０……検出部 １００……データ読取り系 １０１、１０２、１０３……検出装置 １０７……パルスモータ １３０……制御部 ２００……処理出力系 ２２０……測定点設定部 ２３０……相関部 ２５０……画像形成部。
明の実施例の座標測定装置のデータ読取り系のブロツク
図、第４図は処理出力系のブロツク図、第５図は相関器
のブロツク図、第６図は上記実施例の合成記のブロツク
図、第７図は第６図に示した合成器の波形図、第８図は
上記実施例の演算処理部のフローチャート図、第９図は
他の実施例で使用する航空写真の撮影方法の説明図、第
１０図及び第１１図は第９図に示した航空写真による座
標測定方法の説明図である。 ＯＬ１、ＯＬ２、ＯＬ３……対物レンズ ＬＳ１、ＬＳ２、ＬＳ３……リニアイメージセンサ １０……検出部 １００……データ読取り系 １０１、１０２、１０３……検出装置 １０７……パルスモータ １３０……制御部 ２００……処理出力系 ２２０……測定点設定部 ２３０……相関部 ２５０……画像形成部。
Claims (7)
- 【請求項１】同一点につき少なくとも３方向から得た画
像を形成する情報を第１ないし第３情報として得る検出
部と、 測定すべき参照点を上記第２情報にとり、上記第１及び
第２情報の相関をとることにより上記参照点に対応する
第１対応点を第１情報に求め、また上記第２及び第３情
報の相関をとることにより上記参照点に対応する第２対
応点を第３情報上に求める相関部と、 上記参照点と上記第１対応点との位置関係から第１座標
を、また上記参照点と上記第２対応点との位置関係から
第２座標を演算する演算手段と、 上記第１座標及び上記第２座標が略一致していないとき
に相関部が求めた対応点が誤っていることを意味するミ
スマッチングと判定する判定手段と、 を包含することを特徴とする座標測定装置。 - 【請求項２】特許請求の範囲第１項記載の座標測定装置
において上記検出部が、３方向から重複部分を有して被
測定物の像を形成する３つの光学系と、上記光学系によ
って形成される像位置に配置される３つのイメージセン
サから構成されることを特徴とする座標測定装置。 - 【請求項３】特許請求の範囲第２項記載の座標測定装置
において、上記第２情報が、上記第１情報と上記第３情
報とを得た方向の間の方向から得たものであり、上記演
算手段が、さらに上記第１対応点と上記第２対応点から
第３座標を測定座標として演算することを特徴とする座
標測定装置。 - 【請求項４】特許請求の範囲第１項記載の座標測定装置
において、上記検出部がイメージセンサを有し、視差を
もって形成された少なくとも３枚の写真からイメージセ
ンサにより第１ないし第３情報を検出することを特徴と
する座標測定装置。 - 【請求項５】特許請求の範囲第４項記載の座標測定装置
において、上記イメージセンサが、上記写真ごとに対応
して配置されていることを特徴とする座標測定装置。 - 【請求項６】同一点につき少なくとも３方向から得た画
像を形成する情報を第１ないし第３情報として得る第１
ステップと、 測定すべき参照点を上記第２情報にとる第２ステップ
と、 上記第１及び第２情報の相関をとることにより上記参照
点に対応する第１対応点を第１情報に得る第３ステップ
と、 上記参照点と上記第１対応点との位置関係から第１座標
を求める第４ステップと、 上記第２及び第３情報の相関をとることにより上記参照
点に対応する第２対応点を第３情報に得る第５ステップ
と、 上記参照点と上記第２対応点との位置関係から第２座標
を求める第６ステップと、 上記第１及び第２座標が略一致していないといは上記第
３又は第５ステップで求めた対応点が誤っていることを
意味するミスマッチングと判断する第６ステップと、 上記第１及び第２対応点並びに上記参照点のうちの２つ
から測定座標を求める第７ステップとから成ることを特
徴とする座標測定法。 - 【請求項７】特許請求の範囲第６項記載の座標測定方法
において、上記第１ステップが第２の情報を第１情報と
第３情報の間の方向から求めたものであり、また上記第
７ステップが上記第１及び第２対応点から測定座標を求
めることを特徴とする座標測定方法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60207676A JPH0619243B2 (ja) | 1985-09-19 | 1985-09-19 | 座標測定方法及びその装置 |
| US06/909,254 US4803645A (en) | 1985-09-19 | 1986-09-18 | Method and apparatus for measuring coordinates |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60207676A JPH0619243B2 (ja) | 1985-09-19 | 1985-09-19 | 座標測定方法及びその装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6266113A JPS6266113A (ja) | 1987-03-25 |
| JPH0619243B2 true JPH0619243B2 (ja) | 1994-03-16 |
Family
ID=16543720
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60207676A Expired - Lifetime JPH0619243B2 (ja) | 1985-09-19 | 1985-09-19 | 座標測定方法及びその装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4803645A (ja) |
| JP (1) | JPH0619243B2 (ja) |
Families Citing this family (38)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0623656B2 (ja) * | 1987-07-13 | 1994-03-30 | 新技術事業団 | 多眼視覚装置 |
| JP2575848B2 (ja) * | 1988-11-10 | 1997-01-29 | 松下電工株式会社 | 画像処理方法 |
| US5039868A (en) * | 1988-11-24 | 1991-08-13 | Omron Corporation | Method of and apparatus for inspecting printed circuit boards and the like |
| JPH02231510A (ja) * | 1989-03-02 | 1990-09-13 | Omron Tateisi Electron Co | 基板検査装置 |
| US5198877A (en) * | 1990-10-15 | 1993-03-30 | Pixsys, Inc. | Method and apparatus for three-dimensional non-contact shape sensing |
| DE69133548T2 (de) * | 1990-10-19 | 2007-01-11 | St. Louis University | System zum Anzeigen einer Stelle in dem Körper eines Patienten |
| US6347240B1 (en) | 1990-10-19 | 2002-02-12 | St. Louis University | System and method for use in displaying images of a body part |
| US5619587A (en) * | 1991-05-10 | 1997-04-08 | Aluminum Company Of America | System and method for contactlessly gauging the thickness of a contoured object, such as a vehicle wheel |
| US5293687A (en) * | 1991-05-10 | 1994-03-15 | Aluminum Company Of America | Wheel manufacturing method |
| US5175601A (en) * | 1991-10-15 | 1992-12-29 | Electro-Optical Information Systems | High-speed 3-D surface measurement surface inspection and reverse-CAD system |
| US5603318A (en) * | 1992-04-21 | 1997-02-18 | University Of Utah Research Foundation | Apparatus and method for photogrammetric surgical localization |
| EP0997109B1 (en) * | 1993-04-26 | 2003-06-18 | ST. Louis University | Indicating the position of a surgical probe |
| DE19581099B4 (de) * | 1994-09-28 | 2006-07-27 | William Richard Fright | Optisches Oberflächenabtastgerät und Vermessungsverfahren |
| US6978166B2 (en) * | 1994-10-07 | 2005-12-20 | Saint Louis University | System for use in displaying images of a body part |
| CA2201877C (en) | 1994-10-07 | 2004-06-08 | Richard D. Bucholz | Surgical navigation systems including reference and localization frames |
| US5742291A (en) * | 1995-05-09 | 1998-04-21 | Synthonics Incorporated | Method and apparatus for creation of three-dimensional wire frames |
| US6167145A (en) * | 1996-03-29 | 2000-12-26 | Surgical Navigation Technologies, Inc. | Bone navigation system |
| ES2116927B1 (es) * | 1996-09-20 | 1999-03-01 | Tecnologico Robotiker Centro | Escaner tridimensional. |
| DE69823116D1 (de) | 1997-08-05 | 2004-05-19 | Canon Kk | Bildverarbeitungsverfahren und -gerät |
| EP0901105A1 (en) | 1997-08-05 | 1999-03-10 | Canon Kabushiki Kaisha | Image processing apparatus |
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