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JPH06160748A - Optical scanner - Google Patents

Optical scanner

Info

Publication number
JPH06160748A
JPH06160748A JP31515092A JP31515092A JPH06160748A JP H06160748 A JPH06160748 A JP H06160748A JP 31515092 A JP31515092 A JP 31515092A JP 31515092 A JP31515092 A JP 31515092A JP H06160748 A JPH06160748 A JP H06160748A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lens
scanning
laser
light source
light flux
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP31515092A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tomohiro Nakajima
智宏 中島
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ricoh Co Ltd filed Critical Ricoh Co Ltd
Priority to JP31515092A priority Critical patent/JPH06160748A/en
Publication of JPH06160748A publication Critical patent/JPH06160748A/en
Pending legal-status Critical Current

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Landscapes

  • Laser Beam Printer (AREA)
  • Lens Barrels (AREA)
  • Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
  • Dot-Matrix Printers And Others (AREA)

Abstract

PURPOSE:To enable even a collimator lens which is required for high-density recording, whose diameter is comparatively large and whose focal distance is long to be fitted without deteriorating assemblability. CONSTITUTION:In an optical scanner provided with a laser light source 1 consisting of a semiconductor laser 2 and the collimator lens 3 converting the divergent luminous flux of the laser 2 to the collimated luminous flux, a laser supporting body 21 supporting the laser 2 and a lens supporting body 28 supporting the lens 3 are provided. Besides, a lens barrel 22 which is obtained by fitting the supporting bodies 21 and 28 to both ends thereof and which is freely fitted to the outside surface of a device housing in a vertical direction to the optical axis of the lens 3 is provided.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、レーザプロッタ、デジ
タル複写機のプリンタ部等に用いられる光走査装置に関
する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical scanning device used in a laser plotter, a printer section of a digital copying machine, or the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、各方面でのレーザ技術の利用が盛
んであり、その一つとして、画像記録を行うための光書
込み用にも半導体レーザ等のレーザ光源が用いられるよ
うになってきている。即ち、特開平3−33712号公
報等に示されるように、半導体レーザとこの半導体レー
ザの発散性光束を平行光束に変換するコリメータレンズ
とによるレーザ光源を設け、このレーザ光源から出射さ
れた光束を高速回転する偏向器(ポリゴンミラー)の偏
向反射面によって主走査方向に偏向走査させ、さらに、
この偏向光束をfθレンズ等による走査レンズ系で収束
させつつ感光体等の被走査面を等速的に主走査させるこ
とで光書込みを行うように構成されている。ところが、
この種の光走査装置では、通常、240〜480ドット
/インチ(dpi)程度の解像度とされており、電子製
版に匹敵する1000dpi以上の解像度を実現する上
では、種々の課題がある。
2. Description of the Related Art In recent years, laser technology has been actively used in various fields, and as one of them, a laser light source such as a semiconductor laser has come to be used for optical writing for image recording. There is. That is, as disclosed in Japanese Unexamined Patent Publication No. 3-33712, a laser light source including a semiconductor laser and a collimator lens that converts a divergent light flux of this semiconductor laser into a parallel light flux is provided, and the light flux emitted from this laser light source is provided. The deflecting and reflecting surface of the deflector (polygon mirror) rotating at a high speed causes the deflective scanning in the main scanning direction.
While the deflected light flux is converged by a scanning lens system such as an fθ lens, a surface to be scanned such as a photoconductor is main-scanned at a constant speed to perform optical writing. However,
In this type of optical scanning device, the resolution is usually about 240 to 480 dots / inch (dpi), and there are various problems in achieving a resolution of 1000 dpi or more, which is comparable to electronic plate making.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】第1に、fθレンズ等
による走査レンズ系へ入射させるビーム径dが、ほぼd
≒(4λf/π)×(dpi/25.4)×k(ただ
し、λ:光源波長、f:走査レンズ焦点距離、k:係
数)で表されることからも分かるように、高密度になる
(dpiが大きくなる)に従い、ビーム径dも大きくな
ってしまう。また、被走査面上での均一なスポット径を
得るには、結像面の平坦化、つまり、像面湾曲の低減が
必要であり、走査レンズの画角の縮小が余儀なくされて
おり、結果として、焦点距離fが拡大するものとなって
いる。
First, the beam diameter d incident on the scanning lens system including the fθ lens is approximately d.
≈ (4λf / π) × (dpi / 25.4) × k (where λ: wavelength of light source, f: focal length of scanning lens, k: coefficient) As (dpi increases), the beam diameter d also increases. Further, in order to obtain a uniform spot diameter on the surface to be scanned, it is necessary to flatten the image forming surface, that is, reduce the curvature of field, and the angle of view of the scanning lens must be reduced. As a result, the focal length f is increased.

【0004】ちなみに、レーザ光源の取付けとしては、
例えば特開昭61−175617号公報に示されるよう
に、コリメータレンズを支持するレンズ支持体と、コリ
メータレンズの光軸上に半導体レーザを位置させるため
のレーザ支持体とよりなるレーザ光源において、レンズ
支持体をフランジ状に形成し、装置筐体(光学箱)の外
側より光軸方向に位置決め固定するのが一般的である。
このようにして、装置筐体の側面にレーザ光源を取付け
固定する方式では、上記のように、従来の10倍程度の
コリメータレンズ、口径、焦点距離が必要な高密度光走
査装置への適用は困難である。
By the way, for mounting the laser light source,
For example, as disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 61-175617, in a laser light source including a lens support for supporting a collimator lens and a laser support for positioning a semiconductor laser on the optical axis of the collimator lens, It is general that the support is formed in a flange shape and is positioned and fixed in the optical axis direction from the outside of the device housing (optical box).
As described above, the method of mounting and fixing the laser light source on the side surface of the apparatus housing is not applicable to the high-density optical scanning apparatus that requires a collimator lens, aperture, and focal length that are about 10 times those of the conventional method. Have difficulty.

【0005】第2に、被走査面上でのビームスポット径
が小さくなるほど、ビーム深度が浅くなり、装置筐体の
寸法精度等による光路長のずれが無視できなくという問
題がある。
Second, there is a problem that the smaller the beam spot diameter on the surface to be scanned, the shallower the beam depth, and the deviation of the optical path length due to the dimensional accuracy of the apparatus housing cannot be ignored.

【0006】第3に、前述した特開平3−33712号
公報等によれば、走査レンズ系と被走査面との間には、
走査レンズ系と協働して偏向光束を実質的に被走査面上
に結像させるとともに副走査方向の像面湾曲を補正する
ための長尺トロイダルレンズが設けられるが、この長尺
トロイダルレンズの偏心により、結像位置が直線状とな
らず、湾曲してしまうといった走査線曲がりの問題があ
る。
Third, according to the above-mentioned Japanese Patent Laid-Open No. 3-33712, etc., between the scanning lens system and the surface to be scanned,
A long toroidal lens is provided in cooperation with the scanning lens system to substantially form the deflected light beam on the surface to be scanned and to correct the field curvature in the sub-scanning direction. Due to the eccentricity, there is a problem of scanning line bending such that the image forming position is not linear but curved.

【0007】第4に、温度による悪影響がある。一般
に、半導体レーザは温度により発振波長が変化し、光学
素子の波長変化に伴う結像位置変化が生ずる。ここに、
走査レンズ系を複数枚のレンズの組合せで構成する場合
であれば、その設計時に色消し型として設計することが
可能であり、現に、提案もなされているが、偏向反射面
に対して主走査方向に長い線像に結像させるための線像
結像系については単玉のシリンダレンズで構成されるた
め、波長変化によって焦点距離が変動してしまう問題が
ある。また、レーザ光源自体にあっても、半導体レーザ
とコリメータレンズとの間隔が熱膨張により変化した
り、波長による焦点距離の変化によって出射光束の平行
性にずれを生じ、結像位置が変化してしまうといった問
題がある。
Fourth, there is an adverse effect due to temperature. In general, the oscillation wavelength of a semiconductor laser changes depending on the temperature, and the imaging position changes with the wavelength change of the optical element. here,
If the scanning lens system is composed of a combination of a plurality of lenses, it can be designed as an achromatic type at the time of its design. Since the line image forming system for forming a line image long in the direction is composed of a single-lens cylinder lens, there is a problem that the focal length changes due to the wavelength change. Even in the laser light source itself, the distance between the semiconductor laser and the collimator lens changes due to thermal expansion, and the parallelism of the emitted light flux is deviated due to the change of the focal length due to the wavelength, and the imaging position changes. There is a problem that it will end up.

【0008】結局、これらの問題点は、被走査面上にお
いて、ビームスポット径、スポット位置に変動を起し得
ることから、画像品質を損なう原因となるものであり、
高密度で高品質な画像形成を行うための対応策が必要と
なる。
After all, these problems cause variations in the beam spot diameter and the spot position on the surface to be scanned, which causes a deterioration in image quality.
Countermeasures for high-density and high-quality image formation are required.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明で
は、半導体レーザとこの半導体レーザの発散性光束を平
行光束に変換するコリメータレンズとによるレーザ光源
を備えた光走査装置において、前記半導体レーザを支持
するレーザ支持体と前記コリメータレンズを支持するレ
ンズ支持体とを設け、両端に前記レーザ支持体と前記レ
ンズ支持体とが取付けられて装置筐体の外面に対して前
記コリメータレンズの光軸に垂直な方向に取付け自在な
鏡筒を設けた。
According to a first aspect of the present invention, there is provided an optical scanning device including a laser light source including a semiconductor laser and a collimator lens for converting a divergent light flux of the semiconductor laser into a parallel light flux. An optical axis of the collimator lens with respect to the outer surface of the apparatus housing, the laser support and the lens support supporting the collimator lens are provided, and the laser support and the lens support are attached to both ends. A lens barrel that can be attached in a direction perpendicular to the.

【0010】加えて、請求項2記載の発明では、レーザ
光源より出射されてコリメータレンズを透過した光束の
平行性を検出する検出手段を設け、レンズ支持体と鏡筒
との間に介在されて前記検出手段の出力により伸縮制御
される圧電素子を設けた。
In addition, in the invention described in claim 2, there is provided detection means for detecting the parallelism of the light beam emitted from the laser light source and transmitted through the collimator lens, and is interposed between the lens support and the lens barrel. A piezoelectric element whose expansion and contraction is controlled by the output of the detection means is provided.

【0011】また、請求項3記載の発明では、半導体レ
ーザとこの半導体レーザの発散性光束を平行光束に変換
するコリメータレンズとによるレーザ光源と、このレー
ザ光源側からの光束を主走査方向に偏向走査させる偏向
反射面を有する偏向器と、前記偏向反射面近傍に位置し
て前記レーザ光源より出射された平行光束を主走査方向
に長い線像に結像させて前記偏向反射面に入射させる線
像結像系と、前記偏向器による偏向光束を収束させつつ
被走査面を等速的に主走査させる走査レンズ系とを備え
た光走査装置において、前記線像結像系を副走査方向に
曲率を有する凹面ミラーにより形成した。
According to the invention of claim 3, a laser light source comprising a semiconductor laser and a collimator lens for converting a divergent light flux of the semiconductor laser into a parallel light flux, and a light flux from the laser light source side is deflected in the main scanning direction. A deflector having a deflecting / reflecting surface for scanning, and a line which is located near the deflecting / reflecting surface and forms a parallel light beam emitted from the laser light source into a long line image in the main scanning direction to enter the deflecting / reflecting surface. In an optical scanning device including an image forming system and a scanning lens system that converges a light beam deflected by the deflector while scanning the surface to be scanned at a uniform speed, the line image forming system is arranged in the sub-scanning direction. It is formed by a concave mirror having a curvature.

【0012】請求項4記載の発明では、半導体レーザと
この半導体レーザの発散性光束を平行光束に変換するコ
リメータレンズとによるレーザ光源と、このレーザ光源
から出射された光束を主走査方向に偏向走査させる偏向
反射面を有する偏向器と、前記偏向器による偏向光束を
収束させつつ被走査面を等速的に主走査させる走査レン
ズ系とを備えた光走査装置において、副走査方向に90
°をなす2つの反射面を有して前記走査レンズ系から前
記被走査面に向けて折返し光路を形成するルーフ状の反
射手段を設け、この反射手段を光軸方向に調整自在とす
る位置調整手段を設けた。
According to another aspect of the present invention, a laser light source including a semiconductor laser and a collimator lens that converts a divergent light flux of the semiconductor laser into a parallel light flux, and a light flux emitted from the laser light source is deflected and scanned in a main scanning direction. In a light scanning device including a deflector having a deflecting / reflecting surface for causing a deflected light beam to be converged by the deflector, and a scanning lens system for performing main scanning at a constant speed on a surface to be scanned, a light scanning device having 90
A roof-shaped reflecting means is provided which has two reflecting surfaces forming an angle and forms a folded optical path from the scanning lens system toward the surface to be scanned, and the position adjusting is such that the reflecting means is adjustable in the optical axis direction. Means were provided.

【0013】請求項5記載の発明では、半導体レーザと
この半導体レーザの発散性光束を平行光束に変換するコ
リメータレンズとによるレーザ光源と、このレーザ光源
から出射された光束を主走査方向に偏向走査させる偏向
反射面を有する偏向器と、前記偏向器による偏向光束を
収束させつつ被走査面を等速的に主走査させる走査レン
ズ系とを備えた光走査装置において、前記走査レンズ系
と前記被走査面との間に位置して前記走査レンズ系との
協働により偏向光束を前記被走査面上に結像させつつ副
走査方向の像面湾曲を補正する形状の長尺トロイダルレ
ンズを設け、この長尺トロイダルレンズの副走査方向の
起伏を調整自在とする起伏調整手段を設けた。
In a fifth aspect of the present invention, a laser light source including a semiconductor laser and a collimator lens that converts a divergent light flux of the semiconductor laser into a parallel light flux, and a light flux emitted from the laser light source is deflected and scanned in a main scanning direction. An optical scanning device comprising: a deflector having a deflecting / reflecting surface for causing a deflected light beam to be converged by the deflector; A long toroidal lens, which is positioned between the scanning surface and a shape that corrects the field curvature in the sub-scanning direction while forming a deflected light beam on the surface to be scanned by cooperation with the scanning lens system, An undulation adjusting means for adjusting the undulation in the sub-scanning direction of the long toroidal lens is provided.

【0014】[0014]

【作用】請求項1記載の発明においては、レーザ光源に
関して、レーザ支持体とレンズ支持体との間にこれらの
支持体が両端に取付けられる鏡筒を設け、この鏡筒を装
置筐体外面に対して光軸に直交する方向に取付け自在と
したので、比較的口径が大きくて焦点距離の長いコリメ
ータレンズであっても組付性を損なうことなく取付ける
ことができ、高密度記録のための光走査装置に対応し得
るものとなる。
According to the first aspect of the present invention, with respect to the laser light source, a lens barrel is provided between the laser support and the lens support, the support being attached to both ends of the lens support. Since it can be mounted in the direction orthogonal to the optical axis, even a collimator lens with a relatively large aperture and a long focal length can be mounted without impairing the assemblability, and it can be used for high-density recording. It can be applied to a scanning device.

【0015】この際、請求項2記載の発明においては、
半導体レーザの出射光の平行性を検出手段により監視
し、検出手段の検出結果に応じてレーザ光源中に介在さ
せた圧電素子を伸縮制御するので、鏡筒の熱膨張、半導
体レーザの発振波長変化等によって平行性にずれが生じ
たとしても適正に補正し得るものとなり、温度の影響に
基づき結像位置が変化することがなくなり、よって、高
密度で高品質な画像が得られるものとなる。
In this case, according to the invention of claim 2,
The parallelism of the emitted light of the semiconductor laser is monitored by the detecting means, and the piezoelectric element interposed in the laser light source is expanded and contracted according to the detection result of the detecting means, so that the thermal expansion of the lens barrel and the oscillation wavelength change of the semiconductor laser Even if the parallelism is deviated due to, for example, the correction can be properly performed, and the image formation position does not change due to the influence of the temperature, so that a high-density and high-quality image can be obtained.

【0016】また、請求項3記載の発明においては、線
像を結像させるための線像結像系を副走査方向に曲率を
有する凹面ミラーにより形成したので、材質の屈折率変
化等の影響を受けることがなく、よって、光源波長が変
化したとしても、結像位置が変化することがなく、高密
度で高品質な画像が得られるものとなる。
Further, in the third aspect of the invention, since the line image forming system for forming the line image is formed by the concave mirror having the curvature in the sub-scanning direction, the influence of the change in the refractive index of the material is affected. Therefore, even if the light source wavelength changes, the image forming position does not change, and a high-density and high-quality image can be obtained.

【0017】請求項4記載の発明においては、走査レン
ズ系から被走査面に向けて折返し光路を形成するルーフ
状の反射手段を設け、この反射手段を光軸方向に調整自
在とする位置調整手段を設けたので、被走査面上に結像
光束位置を合わせることができ、よって、装置筐体の加
工精度による寸法誤差や走査レンズ系の焦点位置のバラ
ツキ等をキャンセルすることもでき、かつ、入射前後で
ビームの平行性を確実に維持でき、高密度で高品質な画
像が得られるものとなる。
In a fourth aspect of the invention, a roof-shaped reflecting means for forming a folded optical path from the scanning lens system toward the surface to be scanned is provided, and the position adjusting means is capable of adjusting the reflecting means in the optical axis direction. Since the image forming light beam position can be aligned on the surface to be scanned, it is possible to cancel the dimensional error due to the processing accuracy of the apparatus housing, the variation in the focal position of the scanning lens system, and the like, and The parallelism of the beam can be reliably maintained before and after incidence, and a high-density and high-quality image can be obtained.

【0018】さらに、請求項5記載の発明においては、
走査レンズ系との協働により偏向光束を被走査面上に結
像させつつ副走査方向の像面湾曲を補正する形状の長尺
トロイダルレンズを、起伏調整手段により副走査方向の
起伏が調整自在となるように設けたので、結像光束の傾
きや、走査レンズ系の取付けによる傾き等による影響を
キャンセルでき、よって、主走査線の曲がりによる画像
の劣化を防止し、高密度で高品質な画像が得られるもの
となる。
Further, in the invention according to claim 5,
A long toroidal lens having a shape that corrects the field curvature in the sub-scanning direction while forming an image of the deflected light beam on the surface to be scanned in cooperation with the scanning lens system, and the undulation in the sub-scanning direction can be adjusted by the undulation adjusting means. Since it is provided so that the influence of the inclination of the image forming light beam and the inclination due to the attachment of the scanning lens system can be canceled, the deterioration of the image due to the bending of the main scanning line can be prevented, and the high density and high quality can be achieved. The image will be obtained.

【0019】[0019]

【実施例】本発明の一実施例を図面に基づいて説明す
る。まず、本実施例が適用される光走査装置における光
学系構成の基本を図2及び図3により説明する。これ
は、例えば特開平3−33712号公報に示されるもの
であり、まず、レーザ光源1を構成する半導体レーザ2
とコリメータレンズ3とが設けられている。よって、レ
ーザ光源1は半導体レーザ2からの発散性光束をコリメ
ータレンズ3で平行光束に変換して出射することにな
る。このようなレーザ光源1から出射された平行光束が
アパーチャ4を介して入射されるシリンダレンズ5が設
けられている。このシリンダレンズ5は前記レーザ光源
1からの平行光束を主走査方向に長い線像として結像さ
せるものであり、このシリンダレンズ5の結像位置近傍
に偏向反射面6を有して回転駆動されるポリゴンミラー
(偏向器)7が設けられている。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. First, the basic configuration of the optical system in the optical scanning device to which this embodiment is applied will be described with reference to FIGS. This is disclosed in, for example, Japanese Patent Laid-Open No. 3-33712. First, the semiconductor laser 2 that constitutes the laser light source 1 is described.
And a collimator lens 3 are provided. Therefore, the laser light source 1 converts the divergent light flux from the semiconductor laser 2 into a parallel light flux by the collimator lens 3 and emits it. A cylinder lens 5 into which a parallel light flux emitted from such a laser light source 1 is incident via an aperture 4 is provided. The cylinder lens 5 forms a parallel light beam from the laser light source 1 as a long line image in the main scanning direction. The cylinder lens 5 has a deflective reflection surface 6 in the vicinity of the image formation position and is rotationally driven. A polygon mirror (deflector) 7 is provided.

【0020】よって、光束はポリゴンミラー7の高速回
転に伴い主走査方向に偏向走査されることになり、この
ような偏向光束を感光体(被走査面)8上を等速的に主
走査させるための複数枚のレンズによるfθレンズ系
(走査レンズ系)9が設けられている。さらに、このf
θレンズ系9と協働して偏向光束を実質的に前記感光体
8上に結像させつつ副走査方向の像面湾曲を補正する形
状の長尺トロイダルレンズ(樽型トロイダルレンズ)1
0が設けられている。11は長尺トロイダルレンズ10
を経た光束を感光体8面側に偏向させるためのミラーで
ある。
Therefore, the light beam is deflected and scanned in the main scanning direction as the polygon mirror 7 rotates at a high speed, and such a deflected light beam is scanned at a constant speed on the photosensitive member (scanned surface) 8. An fθ lens system (scanning lens system) 9 including a plurality of lenses is provided. Furthermore, this f
A long toroidal lens (barrel-shaped toroidal lens) 1 having a shape that corrects the field curvature in the sub-scanning direction while substantially forming an image of the deflected light flux on the photoconductor 8 in cooperation with the θ lens system 9.
0 is provided. 11 is a long toroidal lens 10
This is a mirror for deflecting the light flux that has passed through to the surface of the photoconductor 8 side.

【0021】また、12は主走査方向の有効画像域外に
位置させた同期用ミラーであり、この同期用ミラー12
による反射光を受光して主走査方向の同期信号を生成す
るための同期検知器13が設けられている。
Reference numeral 12 is a synchronization mirror located outside the effective image area in the main scanning direction.
A sync detector 13 is provided for receiving the reflected light from the device and generating a sync signal in the main scanning direction.

【0022】しかして、本実施例は、こうような構成に
よるものと同等の機能を発揮し得る光学系を、如何に構
成し、如何に組付けるようにしたかを、明かにしたもの
である。
In this embodiment, however, it is made clear how the optical system capable of exhibiting the same function as that of the above structure is constructed and how the optical system is assembled. .

【0023】まず、ポリゴンミラー7及びそのポリゴン
モータ14や、fθレンズ系9が所定位置に取付けられ
るほぼ矩形状で上方開口の光学箱(装置筐体)15が設
けられている。ポリゴンミラー7の取付け部は中段高さ
の円筒状の仕切り壁16により区切られており、fθレ
ンズ系9対向側のみが開口16aにより開放されてい
る。
First, a polygon mirror 7 and its polygon motor 14 and an optical box (apparatus housing) 15 having a substantially rectangular shape and having an upper opening, in which the fθ lens system 9 is mounted at a predetermined position, are provided. The attachment portion of the polygon mirror 7 is partitioned by a cylindrical partition wall 16 having a middle height, and only the side facing the fθ lens system 9 is opened by an opening 16a.

【0024】前記光学箱15の前記仕切り壁16に隣接
する外面部分は、段差形状とされ、レーザ光源1用の取
付け部17とされている。ここに、レーザ光源1におい
ては、図1に示すように、まず、半導体レーザ2はレー
ザ支持体21の穴に圧入され、このレーザ支持体21を
介して四角筒状の鏡筒22の端面22aにねじ23によ
りねじ止め固定されている。この際、レーザ支持体21
の内面側には、鏡筒22内に入り込む突起部21aが形
成されている。鏡筒22の下面には半導体レーザ2用の
駆動回路基板24がねじ25により取付けられ、この駆
動回路基板24の一端から屈曲状態で引出したフレキシ
ブルプリントケーブル26により半導体レーザ2との電
気的接続が確保されている。一方、外周に雄ねじが形成
されたレンズセル27中に納められた前記コリメータレ
ンズ3は、このレンズセル27を介して雌ねじの切られ
たレンズ支持体28中に支持されている。このレンズ支
持体28は内面側に鏡筒22内に入り込む突起部28a
を介して前記鏡筒22の他方の端面22bに位置合わせ
されつつ、ねじ29、ワッシャ30を介して鏡筒22に
ねじ止め固定されている。なお、本実施例では、鏡筒2
2とこのレンズ支持体28との間には矩形枠状で光軸方
向に伸縮する圧電素子31が介在されている。
An outer surface portion of the optical box 15 adjacent to the partition wall 16 has a step shape and serves as a mounting portion 17 for the laser light source 1. Here, in the laser light source 1, as shown in FIG. 1, first, the semiconductor laser 2 is press-fitted into the hole of the laser supporting body 21, and the end surface 22 a of the lens barrel 22 having a square cylindrical shape is inserted through the laser supporting body 21. It is fixed by screwing to the screw 23. At this time, the laser support 21
On the inner surface side of the, a projection 21a is formed to enter the lens barrel 22. A drive circuit board 24 for the semiconductor laser 2 is attached to the lower surface of the lens barrel 22 with a screw 25, and a flexible printed cable 26 pulled out from one end of the drive circuit board 24 in a bent state makes electrical connection with the semiconductor laser 2. Has been secured. On the other hand, the collimator lens 3 housed in a lens cell 27 having an external thread formed on the outer periphery is supported via the lens cell 27 in a lens support body 28 having an internal thread. The lens support 28 has a protrusion 28a that is inserted into the lens barrel 22 on the inner surface side.
The lens barrel 22 is aligned with the other end surface 22b of the lens barrel 22, and is fixed to the lens barrel 22 by screws 29 and washers 30. In this embodiment, the lens barrel 2
A piezoelectric element 31, which has a rectangular frame shape and expands and contracts in the optical axis direction, is interposed between 2 and the lens support 28.

【0025】ここに、前記鏡筒22は光学箱15の取付
け部17下面に対してコリメータレンズ3の光軸方向に
垂直な方向(上向き方向)にねじ32によって取付けら
れるもので、鏡筒22の上面側4隅箇所には、取付け部
17に当接する基準面22cが屈曲形成されている。
Here, the lens barrel 22 is attached to the lower surface of the mounting portion 17 of the optical box 15 by a screw 32 in a direction perpendicular to the optical axis direction of the collimator lens 3 (upward direction). Reference surfaces 22c that come into contact with the mounting portion 17 are bent and formed at four corners on the upper surface side.

【0026】よって、このようなレーザ光源1は、鏡筒
22に対して半導体レーザ2とコリメータレンズ3とを
各々の支持体21,28を介して、半導体レーザ2がコ
リメータレンズ3の光軸上に位置するようにして組付け
られた後、レンズ支持体28の円筒部28bを光学箱1
5の奥側の穴33より光学箱15内に入り込ませて、取
付け部17に対してねじ32により固定される。この
際、レーザ光源1と光学箱15の穴33との間の隙間は
シールド部材34によってシールドされる。
Therefore, in the laser light source 1 as described above, the semiconductor laser 2 and the collimator lens 3 are arranged on the optical axis of the collimator lens 3 with respect to the lens barrel 22 via the supports 21 and 28, respectively. After being assembled so as to be positioned in the optical box 1, the cylindrical portion 28b of the lens support 28 is attached to the optical box 1.
It is inserted into the optical box 15 through the hole 33 on the back side of the optical disc 5, and is fixed to the mounting portion 17 with the screw 32. At this time, the gap between the laser light source 1 and the hole 33 of the optical box 15 is shielded by the shield member 34.

【0027】また、ポリゴンミラー7は例えば6個の偏
向反射面6を有するものとされ、そのポリゴンモータ1
4は図5に示すようにねじ35によって前述したレーザ
光源1と同様に光学箱15に対して下方からねじ止め固
定される。
Further, the polygon mirror 7 is assumed to have, for example, six deflection reflecting surfaces 6, and the polygon motor 1
As shown in FIG. 5, 4 is screwed and fixed to the optical box 15 from below by screws 35 as in the laser light source 1 described above.

【0028】ところで、前記光学箱15内には前記レー
ザ光源1の光軸上に位置させて45°の偏向角を持たせ
たハーフミラー41が設けられ、走査用光束42と平行
性検出光束43とに2分されるように構成されている。
ハーフミラー41により反射された走査用光束42の光
軸上には、シリンダレンズ5に代えて、線像結像系を構
成する凹面ミラー44が板ばね45及びねじ46により
固定されている。ここに、凹面ミラー44は図6に示す
ように副走査方向に曲率を持たせたもので、ポリゴンミ
ラー7の偏向反射面6の近傍に位置して、前記走査用光
束42をこれらの偏向反射面6に向けて線像として結像
する状態で反射させるものである。
By the way, in the optical box 15, there is provided a half mirror 41 which is positioned on the optical axis of the laser light source 1 and has a deflection angle of 45 °, and a scanning light beam 42 and a parallelism detecting light beam 43 are provided. It is configured to be divided into two.
On the optical axis of the scanning light beam 42 reflected by the half mirror 41, instead of the cylinder lens 5, a concave mirror 44 forming a linear image forming system is fixed by a leaf spring 45 and a screw 46. Here, the concave mirror 44 has a curvature in the sub-scanning direction as shown in FIG. 6, is located in the vicinity of the deflecting / reflecting surface 6 of the polygon mirror 7, and deflects the scanning light beam 42 to deflect and reflect these. The light is reflected in a state of forming a line image toward the surface 6.

【0029】ポリゴンミラー7の偏向反射面6による偏
向光束が入射される位置に配設されたfθレンズ系9
は、図4に示すように、これらのfθレンズ系9を覆う
形状に形成された固定部材47をねじ48により光学箱
15側のボス部49にねじ止めすることにより、各レン
ズ上に位置する板ばね部50によって押圧固定するよう
に設定されている。
An fθ lens system 9 arranged at a position where a light beam deflected by the deflecting / reflecting surface 6 of the polygon mirror 7 is incident.
4 is positioned on each lens by screwing a fixing member 47 formed to cover these fθ lens system 9 to a boss 49 on the optical box 15 side with a screw 48, as shown in FIG. It is set so as to be pressed and fixed by the leaf spring portion 50.

【0030】さらに、光学箱15においてfθレンズ系
9の出射側には副走査方向に90°をなす2つの反射面
51a,51bを有して、前記fθレンズ系9からの出
射光束を反射面51a,51bによる折返しの高さ分異
なる高さとして感光体8側に向けて折返し光路を形成す
るルーフ状のミラー(反射手段)51が設けられてい
る。このようなミラー51は支持部材52により光学箱
15の端部に取付けられるが、図7に示すように、支持
部材52の固定部52aには光学箱15底面から立設さ
せたピン53に対して光軸方向にスライド調整自在とす
る長孔52bが形成され、かつ、ねじ54が挿通される
長孔52cも形成されている。これにより、ミラー51
を光軸方向に位置調整自在に取付け固定するための位置
調整手段55が構成されている。よって、この位置調整
手段55によりミラー51の光軸方向の位置を調整する
ことにより、光路長の調整が可能となり、収束位置が感
光体8面上となるように設定・調整し得る。なお、2つ
の反射面51a,51bは支持部材52に対して板ばね
56により支持されている。
Further, in the optical box 15, there are two reflecting surfaces 51a and 51b which form 90 ° in the sub-scanning direction on the exit side of the fθ lens system 9 so as to reflect the light flux emitted from the fθ lens system 9. A roof-shaped mirror (reflecting means) 51 that forms a folding optical path toward the photoconductor 8 is provided with different heights corresponding to the folding heights of 51a and 51b. Such a mirror 51 is attached to the end portion of the optical box 15 by a supporting member 52, but as shown in FIG. 7, the fixing portion 52a of the supporting member 52 is different from the pin 53 erected from the bottom surface of the optical box 15. A long hole 52b is formed so as to be freely slidable in the optical axis direction, and a long hole 52c into which the screw 54 is inserted is also formed. This allows the mirror 51
Position adjusting means 55 is configured to attach and fix the optical axis in the optical axis direction so that the position can be adjusted. Therefore, by adjusting the position of the mirror 51 in the optical axis direction by the position adjusting means 55, the optical path length can be adjusted, and the convergent position can be set / adjusted so as to be on the surface of the photoconductor 8. The two reflecting surfaces 51a and 51b are supported by the support member 52 by a leaf spring 56.

【0031】このようなミラー51による折返し光路
は、図8に示すように、光学箱15内において、仕切り
壁16上部等を通るように設定され、感光体8に対する
出口には主走査方向に充分な開口幅をとったスリット状
の出射窓61が形成されている。このような出射窓61
の直前位置の折返し光路上に長尺トロイダルレンズ10
が配設されている。ここに、この長尺トロイダルレンズ
10は図9に示すように、そのレンズ部10aとレンズ
部10aを囲むようにしたリブ部10bとを樹脂により
一体成形してなるもので、左右両端には前記光学箱15
の内壁の所定位置に成したU字状の凹部62に落し込み
係合される下端円弧状の突起10cが形成され、図10
に示すように、ねじ63により光学箱15に取付けられ
た板ばね64によりこの突起10cが押圧固定されるよ
うに設定されている。よって、長尺トロイダルレンズ1
0は凹部62に係合した突起10cを中心として回動的
とされている。一方、下部側のリブ部10bにおいて、
その左右中心には溝10dが切欠き形成され、この溝1
0dに対しては段付きねじ65と光学箱15・リブ部1
0bとの間に介在させた折曲げ形状の板ばね66とが設
けられ、起伏調整手段67が構成されている。即ち、段
付きねじ65の締付け量を調整することにより、長尺ト
ロイダルレンズ10の回転偏心、即ち、副走査方向の起
伏を調整し得るものとなる。これは、感光体8上におけ
る走査線曲がり68を修正するためのものである。な
お、長尺トロイダルレンズ10と光学箱15の出射窓6
1との間には隙間をシールドするためのシールド部材6
9が介在されている。
As shown in FIG. 8, the folding optical path by the mirror 51 is set so as to pass through the upper portion of the partition wall 16 in the optical box 15, and the exit for the photoconductor 8 is sufficiently large in the main scanning direction. A slit-shaped exit window 61 having a wide opening width is formed. Such an exit window 61
Long toroidal lens 10 on the return optical path just before
Is provided. As shown in FIG. 9, the long toroidal lens 10 is formed by integrally molding a lens portion 10a and a rib portion 10b surrounding the lens portion 10a with a resin. Optical box 15
10 is formed with a U-shaped recess 62 formed at a predetermined position on the inner wall of the base plate, and has a lower end arc-shaped projection 10c that is engaged with the recess 62.
As shown in FIG. 5, the protrusion 10c is set to be pressed and fixed by the leaf spring 64 attached to the optical box 15 by the screw 63. Therefore, long toroidal lens 1
0 is oscillating around the protrusion 10c engaged with the recess 62. On the other hand, in the lower rib portion 10b,
A groove 10d is formed in the center of the left and right sides of the groove 1d.
For 0d, stepped screw 65, optical box 15, rib 1
0b and a bent leaf spring 66 are provided so as to constitute the undulation adjusting means 67. That is, by adjusting the tightening amount of the stepped screw 65, the rotational eccentricity of the long toroidal lens 10, that is, the undulation in the sub-scanning direction can be adjusted. This is to correct the scan line bend 68 on the photoconductor 8. The long toroidal lens 10 and the exit window 6 of the optical box 15
1 and a shield member 6 for shielding the gap
9 is interposed.

【0032】ところで、本実施例にあっては、光学箱1
5において、ハーフミラー41による平行性検出光束4
3の光軸上には透過窓71が形成され、さらに、透過窓
71の外部には検出手段72がねじ73により取付けら
れている。この検出手段72は図11及び図12に示す
ようにトーリックレンズ74と4分割フォトダイオード
75とを備えて、コリメータレンズ3による光束の平行
性を検出するものである。
By the way, in this embodiment, the optical box 1
5, the parallelism detection light beam 4 by the half mirror 41
A transmission window 71 is formed on the optical axis of 3, and a detection means 72 is attached to the outside of the transmission window 71 with a screw 73. As shown in FIGS. 11 and 12, the detecting means 72 is provided with a toric lens 74 and a four-division photodiode 75, and detects the parallelism of the light flux by the collimator lens 3.

【0033】その動作原理を図11及び図12を参照し
て説明する。まず、レーザ光源1からの光束をハーフミ
ラー41を通して平行性検出光束43としてトーリック
レンズ74に入射させる。図11において、実線が主走
査光束を示し、破線が副走査光束を示す。この時、平行
性検出光束43が平行状態にある場合にはトーリックレ
ンズ74を通過した後のビーム径が主走査光束と副走査
光束とで等しくなる位置(円形となる位置)に4分割フ
ォトダイオード75を配置すると、平行状態の場合には
図11(b)及び図12(b)に示すように4分割フォ
トダイオード75の各素子部分が等分に受光するため、
誤差増幅器76の出力は0となる。一方、平行性検出光
束43が収束気味であれば、図11(a)及び図12
(a)に示すように主走査光束側が優勢となる扁平な受
光状態となり、誤差増幅器76の出力が−Vとなる。逆
に、平行性検出光束43が発散気味であれば、図11
(c)及び図12(c)に示すように副走査光束側が優
勢となる扁平な受光状態となり、誤差増幅器76の出力
が+Vとなる。このように、平行性検出光束43の収束
状態に応じた誤差電圧が誤差増幅器76から出力される
ため、この誤差電圧を圧電素子31にフィードバックさ
せて光軸方向に収縮・膨張させることにより、コリメー
タレンズ3の光軸方向の位置を、平行光束が確保される
ように、調整し得るものとなる。これにより、常に光束
の平行性を維持できる。
The operation principle will be described with reference to FIGS. 11 and 12. First, the light flux from the laser light source 1 is made incident on the toric lens 74 as the parallelism detection light flux 43 through the half mirror 41. In FIG. 11, the solid line indicates the main scanning light flux, and the broken line indicates the sub-scanning light flux. At this time, when the parallelism detection light beam 43 is in the parallel state, the four-division photodiode is placed at a position (circular position) where the beam diameter after passing through the toric lens 74 becomes equal between the main scanning light beam and the sub-scanning light beam. When 75 is arranged, each element part of the four-division photodiode 75 receives light equally in the parallel state as shown in FIGS. 11B and 12B.
The output of the error amplifier 76 becomes zero. On the other hand, if the parallelism detection light flux 43 is likely to converge, FIG. 11A and FIG.
As shown in (a), the main-scanning light beam side is in a flat light receiving state, and the output of the error amplifier 76 becomes -V. On the other hand, if the parallelism detection light flux 43 is diverging, FIG.
As shown in (c) and FIG. 12 (c), the sub-scanning light flux side is in a predominant flat light receiving state, and the output of the error amplifier 76 becomes + V. As described above, since the error voltage corresponding to the convergence state of the parallelism detection light beam 43 is output from the error amplifier 76, the error voltage is fed back to the piezoelectric element 31 and contracted / expanded in the optical axis direction, thereby collimator. The position of the lens 3 in the optical axis direction can be adjusted so that a parallel light flux is secured. As a result, the parallelism of the light flux can always be maintained.

【0034】ちなみに、故意に結像位置を変化させるこ
とにより、感光体8上でのスポット径を変化させること
もでき、記録密度変更等に応用することも可能である。
By the way, the spot diameter on the photoconductor 8 can be changed by intentionally changing the image forming position, and it can be applied to change the recording density.

【0035】なお、77は光学箱15を覆う光学カバー
であり、78は光学箱15に形成された同期検知器13
の取付け用の開口である。
Reference numeral 77 is an optical cover for covering the optical box 15, and 78 is a sync detector 13 formed in the optical box 15.
It is an opening for mounting.

【0036】[0036]

【発明の効果】請求項1記載の発明によれば、半導体レ
ーザとこの半導体レーザの発散性光束を平行光束に変換
するコリメータレンズとによるレーザ光源を備えた光走
査装置において、前記半導体レーザを支持するレーザ支
持体と前記コリメータレンズを支持するレンズ支持体と
を設け、両端に前記レーザ支持体と前記レンズ支持体と
が取付けられて装置筐体の外面に対して前記コリメータ
レンズの光軸に垂直な方向に取付け自在な鏡筒を設けた
ので、比較的口径が大きくて焦点距離の長いコリメータ
レンズであっても組付性を損なうことなく取付けること
ができ、よって、高密度記録のための光走査装置に対応
し得るレーザ光源を提供できる。
According to the first aspect of the present invention, the semiconductor laser is supported in an optical scanning device provided with a laser light source including a semiconductor laser and a collimator lens for converting a divergent light flux of the semiconductor laser into a parallel light flux. A laser support body and a lens support body that supports the collimator lens, and the laser support body and the lens support body are attached to both ends of the laser support body and are perpendicular to the optical axis of the collimator lens with respect to the outer surface of the apparatus housing. Since a lens barrel that can be attached in any direction is provided, even a collimator lens with a relatively large aperture and a long focal length can be attached without impairing the assemblability, and therefore, it is possible to use it for high-density recording. A laser light source compatible with a scanning device can be provided.

【0037】加えて、請求項2記載の発明によれば、レ
ーザ光源より出射されてコリメータレンズを透過した光
束の平行性を検出する検出手段を設け、レンズ支持体と
鏡筒との間に介在されて前記検出手段の出力により伸縮
制御される圧電素子を設けて、半導体レーザの出射光の
平行性を検出手段により監視し、検出手段の検出結果に
応じてレーザ光源中に介在させた圧電素子を伸縮制御す
るようにしたので、鏡筒の熱膨張、半導体レーザの発振
波長変化等によって平行性にずれが生じたとしても適正
に補正できるものとなり、温度の影響に基づき結像位置
が変化することがなくなり、よって、高密度で高品質な
画像を得ることができる。
In addition, according to the second aspect of the present invention, there is provided detection means for detecting the parallelism of the light beam emitted from the laser light source and transmitted through the collimator lens, and is interposed between the lens support and the lens barrel. A piezoelectric element is provided which is expanded and contracted by the output of the detection means to monitor the parallelism of the emitted light of the semiconductor laser by the detection means, and which is interposed in the laser light source according to the detection result of the detection means. Since the expansion and contraction are controlled, even if the parallelism is deviated due to the thermal expansion of the lens barrel, the change in the oscillation wavelength of the semiconductor laser, etc., the correction can be properly performed, and the image formation position changes due to the influence of temperature. Therefore, a high-density and high-quality image can be obtained.

【0038】また、請求項3記載の発明では、半導体レ
ーザとこの半導体レーザの発散性光束を平行光束に変換
するコリメータレンズとによるレーザ光源と、このレー
ザ光源側からの光束を主走査方向に偏向走査させる偏向
反射面を有する偏向器と、前記偏向反射面近傍に位置し
て前記レーザ光源より出射された平行光束を主走査方向
に長い線像に結像させて前記偏向反射面に入射させる線
像結像系と、前記偏向器による偏向光束を収束させつつ
被走査面を等速的に主走査させる走査レンズ系とを備え
た光走査装置において、前記線像結像系を副走査方向に
曲率を有する凹面ミラーにより形成したしたので、材質
の屈折率変化等の影響を受けることがなく、よって、光
源波長が変化したとしても、結像位置が変化することが
なく、よって、高密度で高品質な画像を得ることができ
る。
According to the invention described in claim 3, a laser light source comprising a semiconductor laser and a collimator lens for converting a divergent light flux of the semiconductor laser into a parallel light flux, and a light flux from the laser light source side is deflected in the main scanning direction. A deflector having a deflecting / reflecting surface for scanning, and a line which is located near the deflecting / reflecting surface and forms a parallel light beam emitted from the laser light source into a long line image in the main scanning direction to enter the deflecting / reflecting surface. In an optical scanning device including an image forming system and a scanning lens system that converges a light beam deflected by the deflector while scanning the surface to be scanned at a uniform speed, the line image forming system is arranged in the sub-scanning direction. Since it is formed by a concave mirror having a curvature, it is not affected by changes in the refractive index of the material, etc. Therefore, even if the wavelength of the light source changes, the imaging position does not change, and therefore the high It is possible to obtain a high quality image in degrees.

【0039】請求項4記載の発明によれば、半導体レー
ザとこの半導体レーザの発散性光束を平行光束に変換す
るコリメータレンズとによるレーザ光源と、このレーザ
光源から出射された光束を主走査方向に偏向走査させる
偏向反射面を有する偏向器と、前記偏向器による偏向光
束を収束させつつ被走査面を等速的に主走査させる走査
レンズ系とを備えた光走査装置において、副走査方向に
90°をなす2つの反射面を有して前記走査レンズ系か
ら前記被走査面に向けて折返し光路を形成するルーフ状
の反射手段を設け、この反射手段を光軸方向に調整自在
とする位置調整手段を設けたので、被走査面上に結像光
束位置を合わせることができ、よって、装置筐体の加工
精度による寸法誤差や走査レンズ系の焦点位置のバラツ
キ等をキャンセルすることもでき、かつ、入射前後でビ
ームの平行性を確実に維持でき、高密度で高品質な画像
を得ることができる。
According to the invention described in claim 4, a laser light source including a semiconductor laser and a collimator lens for converting a divergent light flux of the semiconductor laser into a parallel light flux, and a light flux emitted from the laser light source in the main scanning direction. An optical scanning device including a deflector having a deflecting / reflecting surface for deflecting and scanning, and a scanning lens system for converging a deflected light beam by the deflector and performing main scanning at a uniform speed on a surface to be scanned, is provided with 90 in the sub-scanning direction. A roof-shaped reflecting means is provided which has two reflecting surfaces forming an angle and forms a folded optical path from the scanning lens system toward the surface to be scanned, and the position adjusting is such that the reflecting means is adjustable in the optical axis direction. Since the means is provided, it is possible to align the image forming light beam position on the surface to be scanned, thus canceling the dimensional error due to the processing accuracy of the device housing and the variation of the focus position of the scanning lens system. Rukoto also, and incident back and forth can reliably maintain parallelism of the beams, it is possible to obtain a high-quality image at high density.

【0040】請求項5記載の発明によれば、半導体レー
ザとこの半導体レーザの発散性光束を平行光束に変換す
るコリメータレンズとによるレーザ光源と、このレーザ
光源から出射された光束を主走査方向に偏向走査させる
偏向反射面を有する偏向器と、前記偏向器による偏向光
束を収束させつつ被走査面を等速的に主走査させる走査
レンズ系とを備えた光走査装置において、前記走査レン
ズ系と前記被走査面との間に位置して前記走査レンズ系
との協働により偏向光束を前記被走査面上に結像させつ
つ副走査方向の像面湾曲を補正する形状の長尺トロイダ
ルレンズを設け、この長尺トロイダルレンズの副走査方
向の起伏を調整自在とする起伏調整手段を設けたので、
結像光束の傾きや、走査レンズ系の取付けによる傾き等
による影響をキャンセルでき、よって、主走査線の曲が
りによる画像の劣化を防止し、高密度で高品質な画像を
得ることができる。
According to the invention described in claim 5, a laser light source including a semiconductor laser and a collimator lens for converting a divergent light flux of the semiconductor laser into a parallel light flux, and a light flux emitted from the laser light source in the main scanning direction. An optical scanning device comprising: a deflector having a deflecting / reflecting surface for deflecting and scanning; and a scanning lens system for main-scanning a surface to be scanned at a constant speed while converging a light beam deflected by the deflector. A long toroidal lens positioned between the surface to be scanned and having a shape for correcting the field curvature in the sub-scanning direction while forming an image of a deflected light beam on the surface to be scanned by cooperation with the scanning lens system. By providing the undulation adjusting means for adjusting the undulation of the long toroidal lens in the sub-scanning direction,
It is possible to cancel the influence of the inclination of the image-forming light beam, the inclination due to the attachment of the scanning lens system, and the like. Therefore, it is possible to prevent the deterioration of the image due to the bending of the main scanning line and obtain a high-density and high-quality image.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例を示すレーザ光源の分解斜視
図である。
FIG. 1 is an exploded perspective view of a laser light source showing an embodiment of the present invention.

【図2】光走査装置の基本構成を示す斜視図である。FIG. 2 is a perspective view showing a basic configuration of an optical scanning device.

【図3】光走査装置を展開して示すもので、(a)は側
面図、(b)は平面図である。
3A and 3B are exploded views of the optical scanning device, in which FIG. 3A is a side view and FIG. 3B is a plan view.

【図4】光学箱を主体として示す斜視図である。FIG. 4 is a perspective view mainly showing an optical box.

【図5】ポリゴンミラー付近を示す斜視図である。FIG. 5 is a perspective view showing the vicinity of a polygon mirror.

【図6】凹面ミラー付近を示す分解斜視図である。FIG. 6 is an exploded perspective view showing the vicinity of a concave mirror.

【図7】位置調整手段付近を示す斜視図である。FIG. 7 is a perspective view showing the vicinity of position adjusting means.

【図8】光路状態を主体として示す縦断側面図である。FIG. 8 is a vertical sectional side view mainly showing an optical path state.

【図9】長尺トロイダルレンズ付近を示す分解斜視図で
ある。
FIG. 9 is an exploded perspective view showing the vicinity of a long toroidal lens.

【図10】起伏調整手段付近を示す側面図である。FIG. 10 is a side view showing the vicinity of undulation adjusting means.

【図11】検出手段の動作を示す平面図である。FIG. 11 is a plan view showing the operation of the detection means.

【図12】4分割フォトダイオードの受光状態を示す説
明図である。
FIG. 12 is an explanatory diagram showing a light receiving state of a four-division photodiode.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 レーザ光源 2 半導体レーザ 3 コリメータレンズ 6 偏向反射面 7 偏向器 8 被走査面 9 走査レンズ系 10 長尺トロイダルレンズ 15 装置筐体 21 レーザ支持体 22 鏡筒 28 レンズ支持体 31 圧電素子 44 凹面ミラー=線像結像系 51 反射手段 51a,51b 反射面 55 位置調整手段 67 起伏調整手段 72 検出手段 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 laser light source 2 semiconductor laser 3 collimator lens 6 deflection reflection surface 7 deflector 8 scanned surface 9 scanning lens system 10 long toroidal lens 15 device housing 21 laser support 22 lens barrel 28 lens support 31 piezoelectric element 44 concave mirror = Line image forming system 51 Reflecting means 51a, 51b Reflecting surface 55 Position adjusting means 67 Rough adjusting means 72 Detection means

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 半導体レーザとこの半導体レーザの発散
性光束を平行光束に変換するコリメータレンズとによる
レーザ光源を備えた光走査装置において、前記半導体レ
ーザを支持するレーザ支持体と前記コリメータレンズを
支持するレンズ支持体とを設け、両端に前記レーザ支持
体と前記レンズ支持体とが取付けられて装置筐体の外面
に対して前記コリメータレンズの光軸に垂直な方向に取
付け自在な鏡筒を設けたことを特徴とする光走査装置。
1. An optical scanning device provided with a laser light source comprising a semiconductor laser and a collimator lens for converting a divergent light flux of the semiconductor laser into a parallel light flux, wherein a laser support for supporting the semiconductor laser and the collimator lens are supported. And a lens support that is attached to both ends of the laser support and the lens support, and a lens barrel that is attachable to the outer surface of the apparatus housing in a direction perpendicular to the optical axis of the collimator lens. An optical scanning device characterized in that
【請求項2】 レーザ光源より出射されてコリメータレ
ンズを透過した光束の平行性を検出する検出手段を設
け、レンズ支持体と鏡筒との間に介在されて前記検出手
段の出力により伸縮制御される圧電素子を設けたことを
特徴とする請求項1記載の光走査装置。
2. A detection means for detecting the parallelism of the light beam emitted from the laser light source and transmitted through the collimator lens is provided, and the expansion / contraction control is provided by the output of the detection means interposed between the lens support and the lens barrel. The optical scanning device according to claim 1, further comprising a piezoelectric element.
【請求項3】 半導体レーザとこの半導体レーザの発散
性光束を平行光束に変換するコリメータレンズとによる
レーザ光源と、このレーザ光源側からの光束を主走査方
向に偏向走査させる偏向反射面を有する偏向器と、前記
偏向反射面近傍に位置して前記レーザ光源より出射され
た平行光束を主走査方向に長い線像に結像させて前記偏
向反射面に入射させる線像結像系と、前記偏向器による
偏向光束を収束させつつ被走査面を等速的に主走査させ
る走査レンズ系とを備えた光走査装置において、前記線
像結像系を副走査方向に曲率を有する凹面ミラーにより
形成したことを特徴とする光走査装置。
3. A laser light source comprising a semiconductor laser and a collimator lens for converting a divergent light flux of the semiconductor laser into a parallel light flux, and a deflection having a deflection reflection surface for deflecting and scanning the light flux from the laser light source side in a main scanning direction. A linear image forming system for forming a parallel light beam emitted from the laser light source near the deflecting / reflecting surface into a long line image in the main scanning direction and entering the linear image into the deflecting / reflecting surface; In a light scanning device having a scanning lens system for converging a light beam deflected by a mirror and performing a main scan at a constant speed on a surface to be scanned, the linear image forming system is formed by a concave mirror having a curvature in the sub-scanning direction. An optical scanning device characterized by the above.
【請求項4】 半導体レーザとこの半導体レーザの発散
性光束を平行光束に変換するコリメータレンズとによる
レーザ光源と、このレーザ光源から出射された光束を主
走査方向に偏向走査させる偏向反射面を有する偏向器
と、前記偏向器による偏向光束を収束させつつ被走査面
を等速的に主走査させる走査レンズ系とを備えた光走査
装置において、副走査方向に90°をなす2つの反射面
を有して前記走査レンズ系から前記被走査面に向けて折
返し光路を形成するルーフ状の反射手段を設け、この反
射手段を光軸方向に調整自在とする位置調整手段を設け
たことを特徴とする光走査装置。
4. A laser light source comprising a semiconductor laser and a collimator lens for converting a divergent light flux of the semiconductor laser into a parallel light flux, and a deflecting / reflecting surface for deflecting and scanning the light flux emitted from the laser light source in a main scanning direction. In an optical scanning device including a deflector and a scanning lens system that converges a light beam deflected by the deflector and main-scans a surface to be scanned at a constant speed, two reflecting surfaces forming 90 ° in the sub-scanning direction are provided. A roof-shaped reflecting means for forming a folded optical path from the scanning lens system toward the surface to be scanned is provided, and position adjusting means for adjusting the reflecting means in the optical axis direction is provided. Optical scanning device.
【請求項5】 半導体レーザとこの半導体レーザの発散
性光束を平行光束に変換するコリメータレンズとによる
レーザ光源と、このレーザ光源から出射された光束を主
走査方向に偏向走査させる偏向反射面を有する偏向器
と、前記偏向器による偏向光束を収束させつつ被走査面
を等速的に主走査させる走査レンズ系とを備えた光走査
装置において、前記走査レンズ系と前記被走査面との間
に位置して前記走査レンズ系との協働により偏向光束を
前記被走査面上に結像させつつ副走査方向の像面湾曲を
補正する形状の長尺トロイダルレンズを設け、この長尺
トロイダルレンズの副走査方向の起伏を調整自在とする
起伏調整手段を設けたことを特徴とする光走査装置。
5. A laser light source comprising a semiconductor laser and a collimator lens for converting a divergent light flux of the semiconductor laser into a parallel light flux, and a deflection reflection surface for deflecting and scanning the light flux emitted from the laser light source in the main scanning direction. In an optical scanning device including a deflector and a scanning lens system that converges a light beam deflected by the deflector and performs main scanning at a uniform speed on a surface to be scanned, a scanning lens system is provided between the scanning lens system and the surface to be scanned. A long toroidal lens having a shape that corrects the field curvature in the sub-scanning direction while forming a deflected light beam on the surface to be scanned by cooperation with the scanning lens system is provided. An optical scanning device comprising undulation adjusting means for adjusting the undulation in the sub-scanning direction.
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