JPH0610127A - マグネトロンスパッタ装置 - Google Patents
マグネトロンスパッタ装置Info
- Publication number
- JPH0610127A JPH0610127A JP19334892A JP19334892A JPH0610127A JP H0610127 A JPH0610127 A JP H0610127A JP 19334892 A JP19334892 A JP 19334892A JP 19334892 A JP19334892 A JP 19334892A JP H0610127 A JPH0610127 A JP H0610127A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- target
- magnet
- magnetron sputtering
- magnet device
- plasma
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
上させると共に、スパッタによる不純物の発生等を防止
することの可能なマグネトロンスパッタ装置を提供する
ことにある。 【構成】この発明のマグネトロンスパッタ装置は、ター
ゲット12を表面に取り付けたバッキングプレート11
の裏面側に配設した磁石装置13に移動手段14を取り
付け、その磁石装置13をバッキングプレート11の裏
面に沿って移動させ、かつ、その移動により、高密度の
プラズマがターゲット12の一端部と他端部との間で各
端部においてはみ出すようになるまで、磁石装置13を
動かすことを特徴とするものである。
Description
取り付けたバッキングプレートの裏面側に配設した磁石
装置を移動させるマグネトロンスパッタ装置に関するも
のである。
ッキングプレートの裏面側に磁石装置を配設し、この磁
石装置によりターゲットの表面近傍の空間にマグネトロ
ン放電を起こさせて、高密度のプラズマを発生させ、タ
ーゲット材料のITO(インジュウム・スズ・酸化物)
等をスパッタして、基板にITO等の薄膜を形成するマ
グネトロンスパッタ装置が広く工業的に用いられてき
た。
図18、図19、図20に示されている。これらの図に
おいて、バッキングプレート1の表面にはターゲット2
が取り付けられ、また、バッキングプレート1の裏面側
には磁石装置3が移動できないように配設されている。
磁石装置3は中央部磁石3aの廻りにこれと間隔をおい
て配置された周縁部磁石3bとが備えられている。ター
ゲット2の上方にはこれと対向するように基板4が配置
され、また、ターゲット2の端部の廻りには接地された
アースシールド5がターゲット2を取り囲むように端部
と隙間をもって配置され、隙間にプラズマが流入しない
ようにしている。ターゲット2と基板4との間の空間に
はリング状のアノード電極6が配置され、このアノード
電極6は接地電位となっている。一方、バッキングプレ
ート1には負電圧が印加されている。
イプである。
21に示されるようにターゲット2の表面近傍の空間に
おいて磁石装置3による湾曲したポロイダル磁場が形成
されると共に、ターゲット2とアノード電極6との間の
電位差による電場が形成され、これらの磁場と電場とに
よって直交電磁場が生じるようになる。ターゲット2の
表面から宇宙線、自然放射能による二次電子またはエキ
ソ電子が放射されたとすると、これらの電子はターゲッ
ト2の表面近傍の空間の直交電磁場により、これに垂直
な方向で電場ベクトル(E)と磁場ベクトル(B)との
ベクトル積(E×B)の向きに数回のサイクロイドを描
きながら運動する。この間にキャリヤー・ガス(普通ア
ルゴンが用いられる)分子と衝突してエネルギーの一部
を失った電子は、電子に対するポテンシャルの高いター
ゲット2には戻れず直交電磁場中をトロコイド軌道を描
きながら、レース・トラック状のポロイダル磁場の中を
ドリフトしてゆく。1cmドリフトして行く間のトロコ
イド軌道の延べ軌道長は数十cmから数百cmに達す
る。此の間にキャリア・ガスと衝突してイオン化し、電
子とイオンを発生させる(α作用)機会を生じ、生じた
電子はやはりトロコイド軌道を描きながらドリフトし、
生じたイオンはターゲット2へと加速されてこれと衝突
し、ターゲット2の材料のスパッタと二次電子の放出を
行い(γ(ガンマー)作用)、放出された二次電子は一
次電子と同様のことをおこなう。この様にして、プラズ
マが成長し、ターゲット2の表面近傍の空間にレース・
トラック状のプラズマが発生する。ターゲット2、プラ
ズマ間のシース電圧によってキャリア・ガスのイオンが
ターゲット2へと加速され、ターゲット2の材料をスパ
ッタして基板4に薄膜を形成させる。上記のトロコイド
軌道を描きながらベクトル積(E×B)の方向にドリフ
トをしてゆく電子は図21に示されるように磁力線が上
方に凸に湾曲しているため、シースまたはシースの遷移
領域における電場と直交しない場合には、電子が電場ベ
クトル(E)からうける力 −e×ベクトル(E)の磁
力線方向の力の成分により湾曲している磁力線の頂点の
方向へと曲がってゆき、この部分がもっとも電子の濃度
が高くなる。従ってイオンも此処に集まりプラズマはこ
の部分が最も粒子密度が高くなり、従ってこの部分に対
応するターゲット2の部分が最もスパッタされ、部分的
にエロードされる。
パッタ装置は、上記のようにターゲット2を表面に取り
付けたバッキングプレート1の裏面側に移動できない磁
石装置3を配設しているので、ターゲット2の表面近傍
の空間において形成される湾曲したポロイダル磁場によ
り高密度のプラズマが形成されるようになる。そのた
め、ターゲット2の上では、形成された高密度のプラズ
マ直下の部分が最もスパッタされ、部分的にエロードさ
れるようになる。逆にいえば、ターゲット2の周縁部で
はスパッタされる機会に恵まれず、ターゲット2の使用
効率が低下する原因となっていた。
例が図22、図23に示されている。これらの図におい
て、バッキングプレート1の表面にはターゲット2が取
り付けられ、また、バッキングプレート1の裏面にはタ
ーゲット2の表面にレーストラック状のポロイダル磁場
を発生させる磁石装置3と、この磁石装置3をバッキン
グプレート1の裏面に沿って移動させる移動装置9が取
り付けられている。但し、磁石装置3はターゲット2の
表面に発生したプラズマがターゲット2外にはみ出さな
い範囲で移動し、また、ターゲット2の端部に特別に電
子を発生させるような外部電子発生装置は設けていな
い。
の一例では、プラズマは磁石装置3の移動と共に、ター
ゲット2の表面に沿って移動し、磁石装置の固定型で見
られるような部分的にエロードされる領域がターゲット
2にそって動いてゆくので、磁石装置の固定型より広い
範囲のターゲット2がエロードされる。しかし、ターゲ
ット2の端に特別に電子を発生させるような外部電子発
生装置は設けていないので、プラズマがターゲット2の
外にはみ出すような位置まで移動させると、レーストラ
ック状のポロイダル磁場の中をトロコイド軌跡を描きな
がら運動して、α作用によって、イオン・電子対を発生
させていた電子の道筋が、プラズマの一部がターゲット
2の外にはみ出した途端に中断されて、プラズマが消え
てしまうので、磁石装置3を、ターゲット2をはみ出さ
ない所までしか移動させることができない。したがっ
て、ターゲット2の周辺部がエロードされずに残り、
又、磁石装置3の移動にも制限がつけられるので、ター
ゲット2の使用効率は十分にあがらない。又、エロード
されずに残った部分にスパッタされたターゲット材料が
付着して、はがれ、好ましくないゴミ(パーティキュレ
イト)を発生し、又、異常放電を発生させる原因とな
る。
決して、ターゲットの使用効率を向上させると共に、ス
パッタによる不純物の発生等を防止することの可能なマ
グネトロンスパッタ装置を提供することにある。
に、この発明は、バッキングプレートの表面にターゲッ
トを取り付け、バッキングプレートの裏面側に磁石装置
を配設し、この磁石装置によってターゲット表面近傍の
空間に湾曲した磁場を形成し、この湾曲した磁場により
ターゲット表面近傍の空間に高密度のプラズマを発生
し、この高密度のプラズマ中のイオンをターゲットに加
速衝突させてターゲットをスパッタして、ターゲットに
対向して配置された基板に薄膜を形成するマグネトロン
スパッタ装置において、上記磁石装置に移動手段を取り
付け、この移動手段によって上記磁石装置を上記バッキ
ングプレートの裏面に沿って移動させ、かつ、その移動
により上記高密度のプラズマが上記ターゲットの一端部
と他端部との間で各端部においてはみ出すようになるま
で、上記磁石装置を動かすことを特徴とするものであ
る。
トの端部の廻りを取り囲むように、この端部と隙間をお
いてアースシールドを配置する。そして、上記隙間にプ
ラズマを流入させないようにすることが必要である。ま
た、上記磁石装置は、中央部磁石と、この中央部磁石の
廻りにこれと間隔をおいて配置された周縁部磁石とを備
えたものを使用することが必要である。更に、上記磁石
装置は少なくとも2つの棒状磁石を間隔をおいて平行に
配置したものであって、各棒状磁石は上記ターゲットの
端部と同方向に伸びているものを使用することも必要で
ある。更にその上、上記ターゲットの端部に光電子又は
熱電子を供給する電子供給手段、もしくは、上記ターゲ
ットに接続する高周波電力供給手段、又は、ターゲット
の端部に局所的にマイクロ波電力を供給する手段を備
え、この部分に電子サイクトロン共鳴(ECR)放電を
起こさせることも必要である。
り付け、この移動手段によって磁石装置をバッキングプ
レートの裏面に沿って移動させ、その移動により高密度
のプラズマをターゲットの一端部と他端部との間で各端
部においてはみ出すようになるまで動かしているので、
ターゲットの周縁部においてもスパッタされ、ターゲッ
トが全体にわたって均等にスパッタされるようになる。
ように、端部と隙間をもってアースシールドを配置し、
隙間にプラズマを流入させないようにしたときには、タ
ーゲット以外の物質をスパッタすることがなくなるの
で、スパッタによる不純物の発生を防止させることがで
きるようになる。また、ターゲットの端部に光電子又は
熱電子を供給する電子供給手段、もしくは、ターゲット
に接続する高周波電力供給手段、又は、マイクロ波電力
供給手段を備えているときには、プラズマの出発点で光
電子、熱電子の補給、RF電圧による強勢、又はマイク
ロ波によるECR放電が起こり、上記の手段を設けない
従来の他の一例では、レーストラック状のプラズマの一
部分がターゲットの外側にはみ出すような位置まで磁石
装置が移動してきたとき、ターゲットの外側にはみ出し
た部分のプラズマが消えるばかりでなく、磁石装置の他
の一部がターゲットの下にあるような部分までプラズマ
が非常に弱くなるが、本発明のように上記の手段を設け
ることにより、このような位置まで磁石装置が動いてき
たときもターゲットの外側にはみ出したプラズマの部分
は消えるが、磁石装置の他の一部がターゲットの下にあ
るような部分では、磁石装置がターゲットの下にある部
分のはじまりの場所からプラズマが強く立ち上がり、プ
ラズマを出発点から強くし、ターゲットの外にはみ出し
た一部は消えても、残りの部分では磁石装置がターゲッ
トの外にはみ出さない場合と全く同一の強度となり、ス
パッタの不均一性を生じさせなくなる。
いってもこの言葉から連想されるように長手方向の両端
にN極とS極とがあるものとは全くことなり、上方にS
極、下方にN極をもつ立方体磁石辺を横一列に図9、図
10のように並べたものと、上方にN極、下方にS極を
もつ立方体磁石辺を横一列に並べたものとを、図9、図
10のように向い合せたものであるが、以後、棒状磁石
(直線コース状磁石)と称するが、直線コース状磁石で
はターゲット上に上方に凸の磁場トンネルができるが、
これはレーストラック状磁石のように環状に閉じている
ものではないので、レーストラック状磁石の場合、環状
ポロイダル磁場中をレースライン磁場の一端から発生
し、長手方向に成長して行かねばならぬ。このとき、特
別の電子発生装置がない場合にはこの部分に発生する電
子が少なく長手方向にトロコイド運動をしながら進んで
いって数を増してゆくのであるが、普通の条件ではプラ
ズマが成長するまでに進まねばならぬ距離が10cmに
もなり、この間はプラズマは非常に弱いものである。し
かし、上記の特別に電子を発生させる手段の一つを備え
ていれば、始めから十分な数の電子が存在し、プラズマ
は1〜2cmで十分強くなり、プラズマの弱い部分は無
視できるほど短くなる。
明する。この発明の第1実施例は図1および図2に示さ
れており、これらの図において、バッキングプレート1
1の表面にはターゲット12が取り付けられ、また、バ
ッキングプレート1の裏面側には磁石装置13が配設さ
れている。磁石装置13にはネジ棒をもった移動手段1
4が取り付けられ、この移動手段14によって磁石装置
13がバッキングプレート11の裏面に沿って直線移動
するようになっている。磁石装置13は中央部磁石13
aの廻りにこれと間隔をおいて配置された周縁部磁石1
3bとが備えられている。ターゲット12の上方にはこ
れと対向するように基板15が配置され、また、ターゲ
ット12の端部の廻りには接地されたアースシールド1
6がターゲット12を取り囲むように端部と隙間をもっ
て配置され、隙間にプラズマが流入しないようにしてい
る。ターゲット12と基板15との間の空間にはリング
状のアノード電極17が配置され、このアノード電極1
7は接地電位となっている。一方、バッキングプレート
11には負電圧が印加されている。ターゲット12の左
右端部上方の空間には紫外線または近紫外線光源18が
配置され、この光源18からの紫外線または近紫外線を
当てて光電子をターゲット12の左端部の符号12aの
場所および右端部の符号12bの場所に補給している。
バッキングプレート11内には冷却パイプ19が配設さ
れている。
表面近傍の空間において磁石装置13による湾曲したポ
ロイダル磁場が形成されると共に、ターゲット12とア
ノード電極17との間の電位差による電場が形成され、
これらの磁場と電場とによって直交電磁場が生じるよう
になる。しかしながら、移動手段14によって磁石装置
13をバッキングプレート11の裏面に沿って直線移動
させるようにしているので、直交電磁場もそれに伴って
移動し、高密度のプラズマがターゲット12の左端部と
右端部との間で各端部においてはみ出すようになるまで
動くようになる。その際、ターゲット12の左端部の符
号12aの場所および右端部の符号12bの場所に光源
18からの紫外線または近紫外線を当てて光電子を補給
すると、磁石装置13がターゲット12よりはみ出して
いても、プラズマ30は図17に示されるようにターゲ
ット12の左端部又は右端部においても発生するように
なる。電子はターゲット2の表面近傍の空間の直交電磁
場により、これに垂直な方向で電場ベクトル(E)と磁
場ベクトル(B)とのベクトル積(E×B)の向きに数
回のサイクロイドを描きながら運動する。この間にキャ
リヤー・ガス(普通アルゴンが用いられる)分子と衝突
してエネルギーの一部を失った電子は、電子に対するポ
テンシャルの高いターゲット12には戻れず直交電磁場
中をトロコイド軌道を描きながら、レース・トラック状
のポロイダル磁場の中をドリフトしてゆく。1cmドリ
フトして行く間のトロコイド軌道の延べ軌道長は数十c
mから数百cmに達する。此の間にキャーリヤー・ガス
と衝突してイオン化し、電子とイオンを発生させる(α
作用)機会を生じ、生じた電子はやはりトロコイド軌道
を描きながらドリフトし、生じたイオンはターゲット1
2へと加速されてこれと衝突し、ターゲット12の材料
のスパッタと二次電子の放出を行い(γ(ガンマー)作
用)、放出された二次電子は一次電子と同様のことをお
こなう。この様にして、ターゲット12の表面近傍の空
間にレース・トラック状のプラズマが成長する。しか
し、ターゲット12の端部の廻りを取り囲むように、端
部と隙間をもってアースシールド16を配置し、隙間に
プラズマを流入させないようにしていると、プラズマは
ターゲット12の手前で切れ、アースシールド16まで
も広がらず、しかも、ターゲット12以外の物質をスパ
ッタすることがなく、スパッタによる不純物の発生を防
止させることができるようになる。
れている。第2実施例は第1実施例の紫外線または近紫
外線光源18の代わりに、熱陰極20を用いて、熱電子
を補給するものである。
る。第3実施例は第1実施例の紫外線または近紫外線光
源18の代わりに、ターゲット12に高周波電力供給手
段21を接続したものである。
る。第4実施例は第1実施例の紫外線または近紫外線光
源18の代わりに、マイクロ波電力供給手段22を備え
たものである。
いる。第5実施例は第1実施例の磁石装置13の代わり
に、少なくとも2つの棒状磁石(レースライン磁石)1
3c、13dを間隔をおいて平行に配置し、各棒状磁石
13c、13dをターゲット12の端部と同方向に伸ば
した磁石装置13を用いたものである。レースライン磁
石は、上方にN極、下方にS極をもつ立方体磁石片を横
一列に並べたもの、及び、上方にS極、下方にN極をも
つ立方体磁石片を横一列に並べたものがあり、図9、図
10のように配置されている。
ている。第6実施例は第5実施例の紫外線または近紫外
線光源18の代わりに、熱陰極20を用いて、熱電子を
補給するものである。
ている。第7実施例は第5実施例の紫外線または近紫外
線光源18の代わりに、ターゲット12に高周波電力供
給手段21を接続したものである。
ている。第8実施例は第5実施例の紫外線または近紫外
線光源18の代わりに、マイクロ波電力供給手段22を
備えたものである。
段を取り付け、この移動手段によって磁石装置をバッキ
ングプレートの裏面に沿って移動させ、その移動により
高密度のプラズマをターゲットの一端部と他端部との間
で各端部においてはみ出すようになるまで動かしている
ので、ターゲットの周縁部においてもスパッタされ、タ
ーゲットが全体にわたって均等にスパッタされるように
なる。また、ターゲットの端部の廻りを取り囲むよう
に、端部と隙間をもってアースシールドを配置し、隙間
にプラズマを流入させないようにしたときには、ターゲ
ット以外の物質をスパッタすることがなくなるので、ス
パッタによる不純物の発生を防止させることができるよ
うになる。更に、ターゲットの端部に電子を供給する電
子供給手段、もしくは、ターゲットに接続する高周波電
力供給手段、又は、マイクロ波電力供給手段を備えてい
るときには、プラズマの出発点で光電子、熱電子の補
給、RF電圧による強勢、又はマイクロ波によるECR
放電が起こり、プラズマを出発点から強くし、スパッタ
の不均一性を生じさせなくなる。更に、図17a、17
bにプラズマの成長が示されている。レーストラック状
磁石の一部が図17aのようにターゲットの外にまでは
み出すような位置まで動いてくると、プラズマははみ出
し部分はとぎれ、磁石がターゲットにかかっている部分
から徐々に10cm位の暗部をへ発生するが、非常に弱
い。しかし、光電子、熱電子、rf放電、マイクロ波に
よる電子サイクトロン放電(ECR)放電が端部にあっ
て、十分な電子を補給すると、図17bのように端部1
〜2cmから太く強いプラズマが立ち、スパッタリング
の端部における効率低下が全然起こらなくなり、ターゲ
ットは全面的に一様にスパッタエロードされる。
成長を示す説明図
成長を示す説明図
示す説明図
石装置の移動を示す説明図
Claims (8)
- 【請求項1】バッキングプレートの表面にターゲットを
取り付け、バッキングプレートの裏面側に磁石装置を配
設し、この磁石装置によってターゲット表面近傍の空間
に湾曲した磁場を形成し、この湾曲した磁場によりター
ゲット表面近傍の空間に高密度のプラズマを発生し、こ
の高密度のプラズマ中のイオンをターゲットに加速衝突
させてターゲットをスパッタして、ターゲットに対向し
て配置された基板に薄膜を形成するマグネトロンスパッ
タ装置において、上記磁石装置に移動手段を取り付け、
この移動手段によって上記磁石装置を上記バッキングプ
レートの裏面に沿って移動させ、かつ、その移動により
上記高密度のプラズマが上記ターゲットの一端部と他端
部との間で各端部においてはみ出すようになるまで、上
記磁石装置を動かすことを特徴とするマグネトロンスパ
ッタ装置。 - 【請求項2】上記ターゲットの端部の廻りを取り囲むよ
うに、この端部と隙間をもってアースシールドを配置
し、上記隙間にプラズマを流入させないことを特徴とす
る請求項1記載のマグネトロンスパッタ装置。 - 【請求項3】上記磁石装置は、中央部磁石と、この中央
部磁石の廻りにこれと間隔をおいて配置された周縁部磁
石とを備えることを特徴とする請求項1又は2記載のマ
グネトロンスパッタ装置。 - 【請求項4】上記磁石装置は少なくとも2つの棒状磁石
を間隔をおいて平行に配置したものであって、各棒状磁
石は上記ターゲットの端部と同方向に伸びていることを
特徴とする請求項1又は2記載のマグネトロンスパッタ
装置。 - 【請求項5】上記ターゲットの端部に近紫外又は紫外線
を照射して光電子を発生させ、その光電子をプラズマに
供給する電子供給手段を備えていることを特徴とする請
求項3又は4記載のマグネトロンスパッタ装置。 - 【請求項6】上記ターゲットの端部に熱電子を供給する
電子供給手段を備えていることを特徴とする請求項3又
は4記載のマグネトロンスパッタ装置。 - 【請求項7】上記ターゲットに高周波電力供給手段を備
えたことを特徴とする請求項3又は4記載のマグネトロ
ンスパッタ装置。 - 【請求項8】上記ターゲットの端部にマイクロ波電力供
給手段を備え、その部分に局部的に電子サイクトロン共
鳴(ECR)放電を起こさせる特徴とする請求項3又は
4記載のマグネトロンスパッタ装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19334892A JP3558655B2 (ja) | 1992-06-28 | 1992-06-28 | マグネトロンスパッタ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19334892A JP3558655B2 (ja) | 1992-06-28 | 1992-06-28 | マグネトロンスパッタ装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0610127A true JPH0610127A (ja) | 1994-01-18 |
JP3558655B2 JP3558655B2 (ja) | 2004-08-25 |
Family
ID=16306410
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP19334892A Expired - Lifetime JP3558655B2 (ja) | 1992-06-28 | 1992-06-28 | マグネトロンスパッタ装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3558655B2 (ja) |
Cited By (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100262768B1 (ko) * | 1996-04-24 | 2000-08-01 | 니시히라 순지 | 스퍼터성막장치 |
EP1070767A1 (en) * | 1999-07-19 | 2001-01-24 | Kaneka Corporation | Method for magnetron sputtering |
WO2002012932A2 (en) * | 2000-08-07 | 2002-02-14 | Symmorphix, Inc. | Methods for manufacturing planar optical devices |
US7205662B2 (en) | 2003-02-27 | 2007-04-17 | Symmorphix, Inc. | Dielectric barrier layer films |
US7238628B2 (en) | 2003-05-23 | 2007-07-03 | Symmorphix, Inc. | Energy conversion and storage films and devices by physical vapor deposition of titanium and titanium oxides and sub-oxides |
JP2008081806A (ja) * | 2006-09-28 | 2008-04-10 | Ulvac Japan Ltd | スパッタリング装置 |
US7404877B2 (en) | 2001-11-09 | 2008-07-29 | Springworks, Llc | Low temperature zirconia based thermal barrier layer by PVD |
US7413998B2 (en) | 2002-03-16 | 2008-08-19 | Springworks, Llc | Biased pulse DC reactive sputtering of oxide films |
US7469558B2 (en) | 2001-07-10 | 2008-12-30 | Springworks, Llc | As-deposited planar optical waveguides with low scattering loss and methods for their manufacture |
EP2039665A2 (en) | 2007-08-17 | 2009-03-25 | Ulvac Materials Inc. | Method of producing a lithium phosphate sintered body and sputtering target |
CN102122599A (zh) * | 2010-01-08 | 2011-07-13 | 郭信生 | 衬底处理系统,和衬底处理方法 |
WO2011152481A1 (ja) * | 2010-06-03 | 2011-12-08 | 株式会社アルバック | スパッタ成膜装置 |
WO2011152482A1 (ja) * | 2010-06-03 | 2011-12-08 | 株式会社アルバック | スパッタ成膜装置 |
US9634296B2 (en) | 2002-08-09 | 2017-04-25 | Sapurast Research Llc | Thin film battery on an integrated circuit or circuit board and method thereof |
US9786873B2 (en) | 2008-01-11 | 2017-10-10 | Sapurast Research Llc | Thin film encapsulation for thin film batteries and other devices |
US9793523B2 (en) | 2002-08-09 | 2017-10-17 | Sapurast Research Llc | Electrochemical apparatus with barrier layer protected substrate |
WO2019244786A1 (ja) * | 2018-06-19 | 2019-12-26 | 株式会社アルバック | スパッタリング方法、スパッタリング装置 |
US10680277B2 (en) | 2010-06-07 | 2020-06-09 | Sapurast Research Llc | Rechargeable, high-density electrochemical device |
-
1992
- 1992-06-28 JP JP19334892A patent/JP3558655B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (32)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100262768B1 (ko) * | 1996-04-24 | 2000-08-01 | 니시히라 순지 | 스퍼터성막장치 |
EP1070767A1 (en) * | 1999-07-19 | 2001-01-24 | Kaneka Corporation | Method for magnetron sputtering |
US6315874B1 (en) | 1999-07-19 | 2001-11-13 | Kaneka Corporation | Method of depositing thin film of metal oxide by magnetron sputtering apparatus |
WO2002012932A2 (en) * | 2000-08-07 | 2002-02-14 | Symmorphix, Inc. | Methods for manufacturing planar optical devices |
WO2002012932A3 (en) * | 2000-08-07 | 2002-10-03 | Symmorphix Inc | Methods for manufacturing planar optical devices |
US6506289B2 (en) | 2000-08-07 | 2003-01-14 | Symmorphix, Inc. | Planar optical devices and methods for their manufacture |
US6827826B2 (en) | 2000-08-07 | 2004-12-07 | Symmorphix, Inc. | Planar optical devices and methods for their manufacture |
US7469558B2 (en) | 2001-07-10 | 2008-12-30 | Springworks, Llc | As-deposited planar optical waveguides with low scattering loss and methods for their manufacture |
US7404877B2 (en) | 2001-11-09 | 2008-07-29 | Springworks, Llc | Low temperature zirconia based thermal barrier layer by PVD |
US7413998B2 (en) | 2002-03-16 | 2008-08-19 | Springworks, Llc | Biased pulse DC reactive sputtering of oxide films |
US7544276B2 (en) | 2002-03-16 | 2009-06-09 | Springworks, Llc | Biased pulse DC reactive sputtering of oxide films |
US9634296B2 (en) | 2002-08-09 | 2017-04-25 | Sapurast Research Llc | Thin film battery on an integrated circuit or circuit board and method thereof |
US9793523B2 (en) | 2002-08-09 | 2017-10-17 | Sapurast Research Llc | Electrochemical apparatus with barrier layer protected substrate |
US7262131B2 (en) | 2003-02-27 | 2007-08-28 | Symmorphix, Inc. | Dielectric barrier layer films |
US7205662B2 (en) | 2003-02-27 | 2007-04-17 | Symmorphix, Inc. | Dielectric barrier layer films |
US7238628B2 (en) | 2003-05-23 | 2007-07-03 | Symmorphix, Inc. | Energy conversion and storage films and devices by physical vapor deposition of titanium and titanium oxides and sub-oxides |
JP2008081806A (ja) * | 2006-09-28 | 2008-04-10 | Ulvac Japan Ltd | スパッタリング装置 |
EP2039665A2 (en) | 2007-08-17 | 2009-03-25 | Ulvac Materials Inc. | Method of producing a lithium phosphate sintered body and sputtering target |
US9786873B2 (en) | 2008-01-11 | 2017-10-10 | Sapurast Research Llc | Thin film encapsulation for thin film batteries and other devices |
CN102122599A (zh) * | 2010-01-08 | 2011-07-13 | 郭信生 | 衬底处理系统,和衬底处理方法 |
CN102906302A (zh) * | 2010-06-03 | 2013-01-30 | 株式会社爱发科 | 溅射成膜装置 |
US20130068614A1 (en) * | 2010-06-03 | 2013-03-21 | Ulvac, Inc. | Sputter deposition apparatus |
JP5265811B2 (ja) * | 2010-06-03 | 2013-08-14 | 株式会社アルバック | スパッタ成膜装置 |
JP5282167B2 (ja) * | 2010-06-03 | 2013-09-04 | 株式会社アルバック | スパッタ成膜装置 |
TWI488988B (zh) * | 2010-06-03 | 2015-06-21 | Ulvac Inc | 濺鍍成膜裝置 |
CN102906303A (zh) * | 2010-06-03 | 2013-01-30 | 株式会社爱发科 | 溅射成膜装置 |
WO2011152482A1 (ja) * | 2010-06-03 | 2011-12-08 | 株式会社アルバック | スパッタ成膜装置 |
WO2011152481A1 (ja) * | 2010-06-03 | 2011-12-08 | 株式会社アルバック | スパッタ成膜装置 |
US10680277B2 (en) | 2010-06-07 | 2020-06-09 | Sapurast Research Llc | Rechargeable, high-density electrochemical device |
WO2019244786A1 (ja) * | 2018-06-19 | 2019-12-26 | 株式会社アルバック | スパッタリング方法、スパッタリング装置 |
KR20200093604A (ko) * | 2018-06-19 | 2020-08-05 | 가부시키가이샤 아루박 | 스퍼터링 방법, 스퍼터링 장치 |
JPWO2019244786A1 (ja) * | 2018-06-19 | 2021-01-07 | 株式会社アルバック | スパッタリング方法、スパッタリング装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3558655B2 (ja) | 2004-08-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3558655B2 (ja) | マグネトロンスパッタ装置 | |
KR100659828B1 (ko) | 이온화 물리적 증착 방법 및 장치 | |
KR100396456B1 (ko) | 절단된 코니칼 스퍼터링 타겟용 고 타겟 이용 자기 장치 | |
CA2326202C (en) | Method and apparatus for deposition of biaxially textured coatings | |
US20090032393A1 (en) | Mirror Magnetron Plasma Source | |
US20070205096A1 (en) | Magnetron based wafer processing | |
US20050178654A1 (en) | High deposition rate sputtering | |
JPH0353065A (ja) | スパッタ装置 | |
EP2045353B1 (en) | Capacitive-coupled magnetic neutral loop plasma sputtering system | |
Shidoji et al. | An anomalous erosion of a rectangular magnetron system | |
US4749910A (en) | Electron beam-excited ion beam source | |
JP3204527B2 (ja) | Ito薄膜形成用プレーナマグネトロンスパッタ装置 | |
US6740212B2 (en) | Rectangular magnetron sputtering cathode with high target utilization | |
JP2796765B2 (ja) | 薄膜形成装置 | |
Shidoji et al. | A comparative study of an unbalanced magnetron with dielectric substrate with a conventional magnetron through the use of hybrid modelling | |
CA2249157C (en) | Uniform distribution monoenergetic ion implantation | |
JPS62167878A (ja) | Ecrスパツタ装置 | |
CN113745079B (zh) | 离子源和方法 | |
JPH01201467A (ja) | イオン源 | |
JP2003073824A (ja) | 薄膜作成法 | |
JP3100242B2 (ja) | プラズマ処理装置 | |
JPH01201466A (ja) | イオン源 | |
JPH0539569A (ja) | 対向ターゲツト式スパツタ装置及びスパツタ方法 | |
JPH0251827A (ja) | スパッタ型イオン源 | |
van Roosmalen et al. | Reactor Technology |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Effective date: 20040518 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Effective date: 20040519 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 |
|
R150 | Certificate of patent (=grant) or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 9 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130528 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term | ||
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130528 Year of fee payment: 9 |