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JPH0599623A - 変位計測装置 - Google Patents

変位計測装置

Info

Publication number
JPH0599623A
JPH0599623A JP3283873A JP28387391A JPH0599623A JP H0599623 A JPH0599623 A JP H0599623A JP 3283873 A JP3283873 A JP 3283873A JP 28387391 A JP28387391 A JP 28387391A JP H0599623 A JPH0599623 A JP H0599623A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
displacement
moving object
lines
image processing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP3283873A
Other languages
English (en)
Inventor
Masahiro Kawachi
雅弘 河内
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Omron Corp
Original Assignee
Omron Corp
Omron Tateisi Electronics Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Omron Corp, Omron Tateisi Electronics Co filed Critical Omron Corp
Priority to JP3283873A priority Critical patent/JPH0599623A/ja
Publication of JPH0599623A publication Critical patent/JPH0599623A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】 【目的】移動物体を微小かつ2次元方向の変位を高精度
で計測することを可能とする。 【構成】移動物体の表面に観測媒体を設け、この観測媒
体に複数の線を等配列に表すとともに、この観測媒体を
CCDカメラで撮像したとき、その撮像面上に結像した
各線の画像17´の配列が各CCD素子19の配列から
位置ずれするよう各線の配列間隔が設定される。この観
測媒体をカメラで撮像して得られた画像を画像処理装置
に取り込み、前記観測媒体の画像につき線方向と直交す
る方向に走査して濃度分布A,Bを計測した後、計測値
のピークP1,P2の位置Y1,Y2を検出し、ピーク
位置Y1,Y2の位置ずれ量を計測する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、移動物体の変位,位
置,速度などを計測するのに用いられる変位計測装置に
関連し、殊にこの発明は、画像処理技術を用いて移動物
体の変位などを高精度に計測するための変位計測装置に
関する。
【0002】
【従来の技術】従来、画像処理技術が用いられた変位計
測装置として、移動物体を撮像して得られた濃淡画像信
号を画像処理装置に取り込んで2値化処理した後、その
2値画像の重心位置を計測し、その重心位置の基準位置
に対する位置ずれ量を計測して、移動物体の変位,位
置,速度などを算出するものが存在する。図7は、移動
物体を撮像して得られた2値画像1であって、Gがこの
2値画像1の重心位置、G0が移動前の基準位置2での
重心位置である。前記した従来の変位計測装置では、こ
れら重心位置G,G0間の位置ずれ量dを計測し、その
計測値から移動物体の変位,位置,速度などを算出する
ものである。
【0003】図8は、画像処理によらない従来の変位計
測装置の構成を示す。この従来例は、光源3と受光体4
とを対向配置し、その中間位置に光路と直交して第1の
スリット板5を固定すると共に、この第1のスリット板
5と平行して第2のスリット板6を矢印方向に移動可能
に配備した構成のものである。各スリット板5,6に
は、同一幅のスリット7,8が同じ間隔で複数設けられ
ており、第2のスリット板6に計測対象の移動物体が連
繋されている。
【0004】図9は、この変位計測装置の原理説明図で
あって、図9(1) が移動前の第1,第2の各スリット板
5,6の相対位置関係を、図9(2)が移動後の第1,第
2の各スリット板5,6間の相対位置関係を、それぞれ
示す。図9(1) の状態では、第1,第2の各スリット板
5,6のスリット7,8は完全に重なるため、光の透過
面積Sは最大となり、従って受光体4による透過光の受
光量は最大の値となる。
【0005】図9(2) の状態では、第2のスリット板6
は移動物体の変位Dだけ位置ずれして、各スリット7,
8は完全に重ならないため、光の透過面積Sは狭めら
れ、従って受光体4による透過光の受光量は図9(1) の
ときより小さくなる。この受光体4での受光量は第2の
スリット板6の変位Dに応じて減少するから、透過光の
受光量を計測することにより第2のスリット板6の変位
D、すなわち移動物体の変位Dを算出できるのである。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら図7に示
す変位計測装置の場合、前記重心位置の位置ずれ量dは
画素単位の精度でしか得られないため、移動物体の微小
変位を高精度で計測することが困難である。また図8に
示す変位計測装置の場合、外乱光など、周囲の環境の影
響を受け易く、しかも1方向の変位しか計測できず、用
途が限定されるという問題がある。
【0007】この発明は、上記問題に着目してなされた
もので、移動物体の微小かつ2次元方向の変位を高精度
で計測できる変位計測装置を提供することを目的とす
る。
【0008】
【課題を解決するための手段】この発明の変位計測装置
は、移動物体の表面に設けられる観測媒体と、前記観測
媒体を観測視野に含む撮像装置と、前記撮像装置より前
記観測媒体の画像を取り込み所定の画像処理を行って前
記移動物体の変位を計測する画像処理装置とから成る。
前記撮像装置は、複数の撮像素子が等配列された撮像面
を備えている。また前記観測媒体は、複数本の線が等配
列に表されるとともに、前記撮像面上に結像した各線の
画像の配列が各撮像素子の配列から位置ずれするよう各
線の配列間隔が設定される。さらに前記画像処理装置
は、前記観測媒体の画像につき線方向と直交する方向に
走査して画素毎の濃度を計測する手段と、濃度の計測値
のピーク位置を検出する手段と、前記ピーク位置の基準
位置に対する位置ずれ量を計測する手段とを備えてい
る。
【0009】
【作用】前記撮像面上に結像した観測媒体の各線の画像
の配列を各撮像素子の配列から位置ずれするよう観測媒
体における各線の配列間隔を設定するので、移動物体が
変位すると、濃度のピーク位置がずれ、その位置ずれ量
を計測することにより移動物体の変位,位置,速度など
の算出が可能である。前記各線の画像の配列と各撮像素
子の配列との位置ずれ量を小さくしかつ各線の配列を縦
横に設定することにより、移動物体の微小変位に対して
も前記ピーク位置がずれることになり、移動物体の微小
かつ2次元方向の変位を高精度に計測できる。
【0010】
【実施例】図1は、この発明の一実施例にかかる変位計
測装置の外観を示している。図示例の変位計測装置は、
XYテーブル10のX軸およびY軸方向の各変位を計測
するためのもので、XYテーブル10の表面適所に観測
媒体として表示シート11を貼付し、その表示シート1
1の真上位置に前記表示シート11を観測視野に含むよ
うテレビカメラ12が位置決め配置してある。このテレ
ビカメラ12には画像処理装置13が接続され、画像処
理装置13にはモニタテレビ14が設けられている。
【0011】前記テレビカメラ12は、CCDカメラで
あって、複数のCCD素子を縦横等間隔に整列配置して
撮像面が形成されている。
【0012】前記表示シート11には、図2(1) (2) に
示すように、一定幅aを有する複数の縦線15が等間隔
bに表された縦縞表示部16と、同じ幅aを有する複数
の横線17が等間隔bに表された横縞表示部18とがテ
レビカメラ12の観測視野内に位置するよう隣接して設
けられており、各縦線15がXYテーブル10のY軸方
向に、各横線17がXYテーブル10のX軸方向に、そ
れぞれ一致するよう表示シート11がXYテーブル10
に貼付してある。
【0013】図3は、表示シート11の他の例を示すも
ので、前記線幅aより小さな一定幅cを有する複数の縦
線15および横線17が等間隔bに格子状に表してあ
る。なお上記の縦線15および横線17はXYテーブル
10の表面に直接表してもよい。
【0014】前記縦線15,15間および横線17,1
7間の各間隔bは、この表示シート11を前記テレビカ
メラ12で撮像したときに、前記撮像面上に結像した各
線の画像の配列が各CCD素子の配列から位置ずれする
ように設定される。
【0015】図4には、CCD素子19の配列と各横線
の画像17′の配列との関係を一例として示してある。
この実施例においては、CCD素子19の幅gと各横線
の画像17′の幅hとが一致しかつCCD素子19,1
9間の間隔kに対する横線の画像17′,17′間の間
隔tが9/10となるよう横線17の幅aおよび横線1
7,17間の各間隔bが設定してある。なお縦線15,
15間の各間隔についても上記と同様に設定することは
勿論である。
【0016】各横線の画像17′が複数のCCD素子1
9より成る撮像面上に生成された場合において、これを
Y軸方向(横線方向と直交する方向)に走査して1ライ
ン分の画素データ(濃度値)を計測すると、図4に示す
ような濃度分布Aが得られる。この濃度分布Aによれ
ば、CCD素子19と横線の画像17′とは画素位置Y
1において完全に重なるもので、従ってこの画素位置Y
1での濃度が最大となって濃度分布AのピークP1が現
れる。
【0017】また図5において、BはXYテーブル10
がY軸方向に1/10画素分だけ移動したときの濃度分
布であって、CCD素子19と横線の画像17′とは画
素位置Y2において完全に重なるため、その画素位置Y
2に濃度分布BのピークP2が現れる。従って濃度分布
のピークの位置ずれ量を計測することによりXYテーブ
ル10の変位を算出できるもので、この実施例では測定
精度は1/10画素となる。もしCCD素子19,19
間の間隔kに対し横線の画像17′,17′間の間隔t
が99/100となるよう横線17,17間の各間隔b
を設定すれば、測定精度は1/100画素となる。なお
この例ではピーク位置として山の頂点位置を求めている
が、谷の底部位置を求めてもよい。
【0018】図5は、前記画像処理装置13の構成例を
示す。図中、A/D変換器20はテレビカメラ12より
取り込まれた表示シート11の濃淡画像信号をディジタ
ル量の濃淡画像信号に変換して前処理回路21へ出力す
る。前処理回路21は前記濃淡画像にエッジ強調などの
前処理を施こすためのもので、前処理後の画像は画像メ
モリ23に記憶される。
【0019】計測部24は前記画像メモリ23より横縞
表示部18および縦縞表示部16の各画像を読み出し横
縞表示部18の画像についてはY軸方向に、また縦縞表
示部16の画像についてはX軸方向に、それぞれ走査し
て1走査ライン分の各画素データ(濃度)を計測してそ
の計測値をCPU25へ出力する。
【0020】CPU25はマイクロコンピュータの制御
・演算の主体であって、前記計測部24より入力した計
測値の微分演算または濃淡重心演算を行ってピーク位置
のX座標値およびY座標値を計測すると共に、ピーク位
置の基準位置に対する位置ずれ量を算出するもので、こ
のCPU25にはバス26を介してROM27やRAM
28が格納されている。前記ROM27にはXYテーブ
ル10の変位や位置などを計測するためのプログラムが
格納され、またRAM28は各種データの読み書きに供
される。表示制御部22は、前処理回路21より濃淡画
像信号を入力し、D/A変換器29を経てビデオモニタ
14へ出力する。
【0021】図6は、上記変位計測装置の動作手順を示
す。同図のステップ1(図中「ST1」で示す)におい
て、テレビカメラ12で撮像された表示シート11の画
像を画像処理装置13に取り込み、A/D変換および前
処理を実行してその濃淡画像を画像メモリ23に格納す
る。
【0022】つぎのステップ2において、計測部24は
縦縞表示部16の画像をX軸方向に走査して1ライン分
の各画素データ(濃度)を計測してCPU25へ出力す
る。ついでCPU25は微分演算または濃淡重心演算を
実行してピーク位置のX座標値を求めてその値をRAM
28に記憶させる(ステップ3,4)。つぎのステップ
5でCPU25はピーク位置のX座標値の基準位置に対
する位置ずれ量Lxを算出し、その算出結果を出力す
る。
【0023】つぎにステップ6において、計測部24は
横縞表示部16の画像をY軸方向に走査して1ライン分
の各画素データ(濃度)を計測してCPU25へ出力す
る。ついでCPU25は微分演算または濃淡重心演算を
実行してピーク位置のY座標値を求めてその値をRAM
28に記憶させる(ステップ7,8)。つぎのステップ
9でCPU25はピーク位置のY座標値の基準位置に対
する位置ずれ量Lyを算出し、その算出結果を出力す
る。このステップ1〜9の各手順は所定時間毎(1フレ
ーム期間毎)に繰り返し実施される(ステップ10)。
【0024】
【発明の効果】この発明は上記の如く、観測媒体と撮像
装置と画像処理装置とで構成し、前記観測媒体には複数
本の線を等配列に表しかつ撮像装置の撮像面上に結像し
た各線の画像の配列が各撮像素子の配列から位置ずれす
るよう各線の配列間隔を設定すると共に、画像処理装置
において、観測媒体の画像につき線方向と直交する方向
に走査して画素毎の濃度を計測し、濃度の計測値のピー
ク位置を検出した後、前記ピーク位置の基準位置に対す
る位置ずれ量を計測するようにしたから、移動物体の微
小変位に対しても前記ピーク位置が移動し、移動物体の
微小かつ2次元方向の変位を高精度に計測できるという
効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施例にかかる変位計測装置の外
観を示す斜面図である。
【図2】表示シートの表面に表された縦縞表示部および
横縞表示部を示す説明図である。
【図3】表示シートの他の実施例を示す説明図である。
【図4】変位計測の原理を示す説明図である。
【図5】この発明の変位計測装置の構成例を示すブロッ
ク図である。
【図6】変位計測装置の動作の手順を示すフローチャー
トである。
【図7】従来の変位計測装置の原理を示す説明図であ
る。
【図8】従来の変位計測装置の構成を示す説明図であ
る。
【図9】図8の従来例の原理を示す説明図である。
【符号の説明】
11 表示シート 12 テレビカメラ 13 画像処理装置 15 縦線 17 横線 19 CCD素子 24 計測部 25 CPU

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 移動物体の表面に設けられる観測媒体
    と、前記観測媒体を観測視野に含む撮像装置と、前記撮
    像装置より前記観測媒体の画像を取り込み所定の画像処
    理を行って前記移動物体の変位を計測する画像処理装置
    とから成り、 前記撮像装置は、複数の撮像素子が等配列された撮像面
    を備え、 前記観測媒体は、複数本の線が等配列に表されるととも
    に、前記撮像面上に結像した各線の画像の配列が各撮像
    素子の配列から位置ずれするよう各線の配列間隔が設定
    され、 前記画像処理装置は、前記観測媒体の画像につき線方向
    と直交する方向に走査して画素毎の濃度を計測する手段
    と、濃度の計測値のピーク位置を検出する手段と、前記
    ピーク位置の基準位置に対する位置ずれ量を計測する手
    段とを備えて成る変位計測装置。
JP3283873A 1991-10-03 1991-10-03 変位計測装置 Pending JPH0599623A (ja)

Priority Applications (1)

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JP3283873A JPH0599623A (ja) 1991-10-03 1991-10-03 変位計測装置

Applications Claiming Priority (1)

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JP3283873A JPH0599623A (ja) 1991-10-03 1991-10-03 変位計測装置

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JPH0599623A true JPH0599623A (ja) 1993-04-23

Family

ID=17671283

Family Applications (1)

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JP3283873A Pending JPH0599623A (ja) 1991-10-03 1991-10-03 変位計測装置

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JP (1) JPH0599623A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008216086A (ja) * 2007-03-06 2008-09-18 Microdent:Kk 定量化規格化(位相差)顕微鏡装置
JP2011007744A (ja) * 2009-06-29 2011-01-13 Nissan Motor Co Ltd 三次元計測装置、及び三次元計測方法
CN101968350A (zh) * 2010-09-07 2011-02-09 上海市计量测试技术研究院 二维线间隔的正交角度提取方法
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