JPH0593811A - 光吸収膜 - Google Patents
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- JPH0593811A JPH0593811A JP33352191A JP33352191A JPH0593811A JP H0593811 A JPH0593811 A JP H0593811A JP 33352191 A JP33352191 A JP 33352191A JP 33352191 A JP33352191 A JP 33352191A JP H0593811 A JPH0593811 A JP H0593811A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 クラックを生じることのない高品質の反射防
止の光吸収膜を提供すること。 【構成】 光吸収膜は、誘電体膜と金属膜とを交互に多
数積層することによって構成されている。光吸収膜の中
心部付近にある層の膜はSiO2 で形成されている。
止の光吸収膜を提供すること。 【構成】 光吸収膜は、誘電体膜と金属膜とを交互に多
数積層することによって構成されている。光吸収膜の中
心部付近にある層の膜はSiO2 で形成されている。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、NDフィルター,位相
差顕微鏡用位相板,変調コントラスト用瞳変調フィルタ
ー,その他の瞳変調フィルターとして用いられる反射防
止用の光吸収膜に関する。
差顕微鏡用位相板,変調コントラスト用瞳変調フィルタ
ー,その他の瞳変調フィルターとして用いられる反射防
止用の光吸収膜に関する。
【0002】
【従来の技術】この種の光吸収膜としては、(1)特開
昭57−195207号に示された如き、誘電体膜と金
属膜とを含んでいて単独で用いても反射防止効果を有す
る二枚の多層膜で他の誘電体膜を挾んで成るものや、
(2)特公昭55−47361号に示された如き、金属
膜と誘電膜を交互に順次積層して成るものが知られてい
る。
昭57−195207号に示された如き、誘電体膜と金
属膜とを含んでいて単独で用いても反射防止効果を有す
る二枚の多層膜で他の誘電体膜を挾んで成るものや、
(2)特公昭55−47361号に示された如き、金属
膜と誘電膜を交互に順次積層して成るものが知られてい
る。
【0003】又、薄膜の加工技術上、薄膜には応力が発
生するが、高屈折率物質と低屈折率物質とを交互に積層
して成る多層膜では、圧縮応力と引張り応力を生じる物
質を組み合わせることにより、応力が打ち消されること
が知られている(藤原編「光学薄膜」,共立出版(株)
発行)。
生するが、高屈折率物質と低屈折率物質とを交互に積層
して成る多層膜では、圧縮応力と引張り応力を生じる物
質を組み合わせることにより、応力が打ち消されること
が知られている(藤原編「光学薄膜」,共立出版(株)
発行)。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記(1)
の場合、金属膜を二層しか使用していないため、分光透
過率を均一にし且つ反射率を小さく設計することは非常
に難しい。又、上記(2)の場合、Ti又はCrから成
る金属膜とMgF2 から成る透明膜を用いると、分光透
過率が均一となり且つ反射率の小さい膜を設計すること
はできるが、積層数が多くなって膜全体の厚さが厚くな
り、膜の応力でクラックが発生し易くなるという問題が
あり、特に位相膜の場合、図1に示すような光線AとB
の位相差が1/4λとなるように設計することになるた
め、膜厚は更に厚くなってしまう。
の場合、金属膜を二層しか使用していないため、分光透
過率を均一にし且つ反射率を小さく設計することは非常
に難しい。又、上記(2)の場合、Ti又はCrから成
る金属膜とMgF2 から成る透明膜を用いると、分光透
過率が均一となり且つ反射率の小さい膜を設計すること
はできるが、積層数が多くなって膜全体の厚さが厚くな
り、膜の応力でクラックが発生し易くなるという問題が
あり、特に位相膜の場合、図1に示すような光線AとB
の位相差が1/4λとなるように設計することになるた
め、膜厚は更に厚くなってしまう。
【0005】又、位相膜などのコートとして用いる場合
は、レジスト等を用いてパターンを形成した後真空蒸着
を行うため、基板温度を120℃以上にすることができ
ず、クラックが発生し易い条件となってしまう。
は、レジスト等を用いてパターンを形成した後真空蒸着
を行うため、基板温度を120℃以上にすることができ
ず、クラックが発生し易い条件となってしまう。
【0006】そこで、図2に示されるような物質を用い
て膜の引張り応力と圧縮応力とにより膜全体としての応
力を打ち消す方法が開示されているが、この方法を用い
て1/4λの位相差を有する位相膜を設計しようとする
と、屈折率の高い膜を組合せて用いなければならず、加
工の難しい厚い膜しか設計できない。
て膜の引張り応力と圧縮応力とにより膜全体としての応
力を打ち消す方法が開示されているが、この方法を用い
て1/4λの位相差を有する位相膜を設計しようとする
と、屈折率の高い膜を組合せて用いなければならず、加
工の難しい厚い膜しか設計できない。
【0007】本発明は、従来の技術の有するこのような
問題点に鑑みてなされたものであり、その目的とすると
ころは、膜厚を薄くすることができ且つクラックを生じ
ることのない、NDフィルター,位相差顕微鏡用位相
板,変調コントラスト瞳変調フィルター,その他の瞳変
調フィルターとして用い得る反射防止用の光吸収膜を提
供しようとするものである。
問題点に鑑みてなされたものであり、その目的とすると
ころは、膜厚を薄くすることができ且つクラックを生じ
ることのない、NDフィルター,位相差顕微鏡用位相
板,変調コントラスト瞳変調フィルター,その他の瞳変
調フィルターとして用い得る反射防止用の光吸収膜を提
供しようとするものである。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明による光吸収膜は、下記のような誘電体膜と
金属膜とを積層させた光吸収膜を構成している。即ち、
積層されるべき膜数をMとしたとき、膜総数が偶数の場
合は(M/2)±n〔但し、n=0,1,2,‥‥,
{(M/2)−2}〕層目の膜の何れかがSiO2 で形
成されている。又、膜総数が奇数の場合には、{(M+
1)/2}±n〔但し、n=0,1,2,‥‥,
{〔(M+1)/2〕−2}〕層目の膜の何れかがSi
O2 で形成されている。或いは、積層された誘電体膜の
うち少なくとも一層は氷晶石で形成されている。
に、本発明による光吸収膜は、下記のような誘電体膜と
金属膜とを積層させた光吸収膜を構成している。即ち、
積層されるべき膜数をMとしたとき、膜総数が偶数の場
合は(M/2)±n〔但し、n=0,1,2,‥‥,
{(M/2)−2}〕層目の膜の何れかがSiO2 で形
成されている。又、膜総数が奇数の場合には、{(M+
1)/2}±n〔但し、n=0,1,2,‥‥,
{〔(M+1)/2〕−2}〕層目の膜の何れかがSi
O2 で形成されている。或いは、積層された誘電体膜の
うち少なくとも一層は氷晶石で形成されている。
【0009】
【作用】反射防止のための分光透過率の均一な光吸収膜
をTiやインコネルを用いて設計すると、膜は、低屈折
率の誘電体膜と金属膜を交互に積層した構成となり、特
に7層以上の多層膜とすると良好な特性が得られる。こ
の場合、誘電体膜にはMgF2 が多く用いられるが、M
gF2 は図2に示されるように膜の応力が大きいことか
ら、総膜厚が厚い設計となった場合には、膜にクラック
が発生し易くなる。そこで図2に示されている如く膜の
応力の発生が少ないSiO2 を用いることで、MgF2
の膜の応力を相殺することができる。
をTiやインコネルを用いて設計すると、膜は、低屈折
率の誘電体膜と金属膜を交互に積層した構成となり、特
に7層以上の多層膜とすると良好な特性が得られる。こ
の場合、誘電体膜にはMgF2 が多く用いられるが、M
gF2 は図2に示されるように膜の応力が大きいことか
ら、総膜厚が厚い設計となった場合には、膜にクラック
が発生し易くなる。そこで図2に示されている如く膜の
応力の発生が少ないSiO2 を用いることで、MgF2
の膜の応力を相殺することができる。
【0010】しかしながら、1/4λの位相差を有する
位相膜にこれを用いようとすると、図1に示すように膜
を射出する光線Aの位相と接合剤を通る光線Bの位相と
の間の差を1/4λとしなければならないことから、M
gF2 を総てSiO2 にしてしまうと膜の屈折率と接合
剤の屈折率との差が小さくなってしまい、厚い膜となっ
てしまう。そこで、膜の中心部付近、即ち、積層される
べき膜数をMとしたとき、膜総数が偶数の場合は(M/
2)±n〔但し、n=0,1,2,‥‥,{(M/2)
−2}〕層目の膜に、又膜総数が奇数の場合は{(M+
1)/2}±n〔但し、n=0,1,2,‥‥,
{〔(M+1)/2〕−2}〕層目の膜をSiO2 で形
成することにより、膜前半部におけるMgF2 で発生し
た応力を膜中心部で相殺することができ、且つ全体の膜
厚も余り厚くなることのない而も加工し易い光吸収膜を
作ることができる。
位相膜にこれを用いようとすると、図1に示すように膜
を射出する光線Aの位相と接合剤を通る光線Bの位相と
の間の差を1/4λとしなければならないことから、M
gF2 を総てSiO2 にしてしまうと膜の屈折率と接合
剤の屈折率との差が小さくなってしまい、厚い膜となっ
てしまう。そこで、膜の中心部付近、即ち、積層される
べき膜数をMとしたとき、膜総数が偶数の場合は(M/
2)±n〔但し、n=0,1,2,‥‥,{(M/2)
−2}〕層目の膜に、又膜総数が奇数の場合は{(M+
1)/2}±n〔但し、n=0,1,2,‥‥,
{〔(M+1)/2〕−2}〕層目の膜をSiO2 で形
成することにより、膜前半部におけるMgF2 で発生し
た応力を膜中心部で相殺することができ、且つ全体の膜
厚も余り厚くなることのない而も加工し易い光吸収膜を
作ることができる。
【0011】又、氷晶石(Na3 AIF6 )は分子中に
Naを含むため潮解性を有するという問題点はあるが、
MgF2 に比べて応力の発生が可成り小さい(図2参
照)ので、誘電体膜の少なくとも一層を氷晶石で形成す
れば、膜総厚を厚くしたり層数を多くしても、MgF2
を用いた膜に比べてクラックは発生しにくくなる。又、
位相膜として氷晶石を用いる場合は、接合剤を用いて膜
全体をガラス板で挾み、膜への水分の浸入を防止する構
成とすることが好ましい。
Naを含むため潮解性を有するという問題点はあるが、
MgF2 に比べて応力の発生が可成り小さい(図2参
照)ので、誘電体膜の少なくとも一層を氷晶石で形成す
れば、膜総厚を厚くしたり層数を多くしても、MgF2
を用いた膜に比べてクラックは発生しにくくなる。又、
位相膜として氷晶石を用いる場合は、接合剤を用いて膜
全体をガラス板で挾み、膜への水分の浸入を防止する構
成とすることが好ましい。
【0012】
【実施例】実施例1 光吸収膜はTiとMgF2 とSiO2 を用いて9層から
成っており、膜全体を屈折率n=1.56の接合剤を用
いて、屈折率n=1.516の基板ガラスとガラス板と
で挾み、位相差は1/4λとなるようにした(図1参
照)。基板ガラス上に順次積層された各層1乃至9の成
分,厚さd,屈折率n及び550nmの波長の光の透過率
Tは下記の通りである。 層 成分 d n T(%) 1 MgF2 286.4 1.37914 2 Ti 70.9 3 MgF2 77.6 1.37914 4 Ti 48.9 5 SiO2 70.9 1.46019 6 Ti 48.9 7 MgF2 77.6 1.37914 8 Ti 70.9 9 MgF2 286.4 1.37914 光吸収膜の構成は、入射側と射出側の膜構成を対称にす
ることにより、両面反射防止とした。尚、透過率25%
以下の光吸収膜を両面反射防止とした場合には、9層以
上とした方がよい。分光特性は図3に示す通りである。
成っており、膜全体を屈折率n=1.56の接合剤を用
いて、屈折率n=1.516の基板ガラスとガラス板と
で挾み、位相差は1/4λとなるようにした(図1参
照)。基板ガラス上に順次積層された各層1乃至9の成
分,厚さd,屈折率n及び550nmの波長の光の透過率
Tは下記の通りである。 層 成分 d n T(%) 1 MgF2 286.4 1.37914 2 Ti 70.9 3 MgF2 77.6 1.37914 4 Ti 48.9 5 SiO2 70.9 1.46019 6 Ti 48.9 7 MgF2 77.6 1.37914 8 Ti 70.9 9 MgF2 286.4 1.37914 光吸収膜の構成は、入射側と射出側の膜構成を対称にす
ることにより、両面反射防止とした。尚、透過率25%
以下の光吸収膜を両面反射防止とした場合には、9層以
上とした方がよい。分光特性は図3に示す通りである。
【0013】実施例2 光吸収膜はTiとMgF2 とSiO2 を用いて11層か
ら成っていて、全体を実施例1と同様に構成した。各層
の成分,厚さd,屈折率n及び透過率Tは下記の通りで
ある。 層 成分 d n T(%) 1 MgF2 314.5 1.37914 2 Ti 57.7 3 MgF2 80.3 1.37914 4 Ti 31.4 5 SiO2 81.7 1.46019 6 Ti 31.4 7 SiO2 81.7 1.46019 8 Ti 31.4 9 MgF2 80.3 1.37914 10 Ti 57.7 11 MgF2 314.5 1.37914 第5層と第7層をSiO2 で形成することにより、光吸
収膜の特性は良好となる。特に光吸収膜の透過率を15
%以下にした場合は、総膜厚が厚くなるため、積層数を
11層程度とした方がクラックが発生しにくい。分光特
性は図4に示す通りである。
ら成っていて、全体を実施例1と同様に構成した。各層
の成分,厚さd,屈折率n及び透過率Tは下記の通りで
ある。 層 成分 d n T(%) 1 MgF2 314.5 1.37914 2 Ti 57.7 3 MgF2 80.3 1.37914 4 Ti 31.4 5 SiO2 81.7 1.46019 6 Ti 31.4 7 SiO2 81.7 1.46019 8 Ti 31.4 9 MgF2 80.3 1.37914 10 Ti 57.7 11 MgF2 314.5 1.37914 第5層と第7層をSiO2 で形成することにより、光吸
収膜の特性は良好となる。特に光吸収膜の透過率を15
%以下にした場合は、総膜厚が厚くなるため、積層数を
11層程度とした方がクラックが発生しにくい。分光特
性は図4に示す通りである。
【0014】実施例3 光吸収膜はインコネルと氷晶石を用いて11層から成っ
ており、全体を実施例1と同様に構成した。各層の成
分,厚さd,屈折率n及び透過率Tは下記の通りであ
る。 層 成分 d n T(%) 1 氷晶石 224.2 1.371 2 インコネル 70.9 3 氷晶石 64.8 1.371 4 インコネル 58.4 5 氷晶石 37.4 1.371 6 インコネル 58.4 7 氷晶石 37.4 1.371 8 インコネル 58.4 9 氷晶石 64.8 1.371 10 インコネル 70.9 11 氷晶石 224.2 1.371 分光特性は図5に示す通りである。
ており、全体を実施例1と同様に構成した。各層の成
分,厚さd,屈折率n及び透過率Tは下記の通りであ
る。 層 成分 d n T(%) 1 氷晶石 224.2 1.371 2 インコネル 70.9 3 氷晶石 64.8 1.371 4 インコネル 58.4 5 氷晶石 37.4 1.371 6 インコネル 58.4 7 氷晶石 37.4 1.371 8 インコネル 58.4 9 氷晶石 64.8 1.371 10 インコネル 70.9 11 氷晶石 224.2 1.371 分光特性は図5に示す通りである。
【0015】実施例4 光吸収膜はTiとMgF2 とSiO2 を用いて11層か
ら成っていて、実施例2の第5層と第7層をMgF2 と
し、又第3層と第9層をSiO2 として本実施例による
膜を構成した。各層の成分,厚さd,屈折率n及び透過
率Tは下記の通りである。 層 成分 d n T(%) 1 MgF2 400 1.37914 2 Ti 65.9 3 SiO2 74.89 1.46019 4 Ti 47.4 5 MgF2 93.94 1.37914 6 Ti 47.4 7 MgF2 93.94 1.37914 8 Ti 47.4 9 SiO2 74.89 1.46019 10 Ti 65.9 11 MgF2 400. 1.37914 尚、より厚い光吸収膜を構成する場合、屈折率nの大き
な位置にSiO2 膜を入れることで、更に応力を小さく
することができる。本実施例は屈折率nが3の場合に相
当する。又、分光特性は図6に示す通りである。
ら成っていて、実施例2の第5層と第7層をMgF2 と
し、又第3層と第9層をSiO2 として本実施例による
膜を構成した。各層の成分,厚さd,屈折率n及び透過
率Tは下記の通りである。 層 成分 d n T(%) 1 MgF2 400 1.37914 2 Ti 65.9 3 SiO2 74.89 1.46019 4 Ti 47.4 5 MgF2 93.94 1.37914 6 Ti 47.4 7 MgF2 93.94 1.37914 8 Ti 47.4 9 SiO2 74.89 1.46019 10 Ti 65.9 11 MgF2 400. 1.37914 尚、より厚い光吸収膜を構成する場合、屈折率nの大き
な位置にSiO2 膜を入れることで、更に応力を小さく
することができる。本実施例は屈折率nが3の場合に相
当する。又、分光特性は図6に示す通りである。
【0016】実施例5 光吸収膜はTiとMgF2 とSiO2 を用いて13層か
ら構成されている。各層の成分,厚さd,屈折率n及び
透過率Tは下記の通りである。 層 成分 d n T(%) 1 MgF2 250 1.37914 2 Ti 67.9 3 SiO2 83.48 1.46019 4 Ti 67.9 5 MgF2 140.84 1.37914 6 Ti 67.9 7 MgF2 87.07 1.37914 8 Ti 67.9 9 MgF2 140.84 1.37914 10 Ti 67.9 11 SiO2 83.48 1.46019 12 Ti 67.9 13 MgF2 250. 1.37914 本実施例は屈折率nが4の場合である。又、分光特性は
図7に示す通りである。
ら構成されている。各層の成分,厚さd,屈折率n及び
透過率Tは下記の通りである。 層 成分 d n T(%) 1 MgF2 250 1.37914 2 Ti 67.9 3 SiO2 83.48 1.46019 4 Ti 67.9 5 MgF2 140.84 1.37914 6 Ti 67.9 7 MgF2 87.07 1.37914 8 Ti 67.9 9 MgF2 140.84 1.37914 10 Ti 67.9 11 SiO2 83.48 1.46019 12 Ti 67.9 13 MgF2 250. 1.37914 本実施例は屈折率nが4の場合である。又、分光特性は
図7に示す通りである。
【0017】
【発明の効果】上述の如く本発明によれば、膜全体とし
て応力発生が少なく、クラックの発生することのない高
品質の光吸収膜を提供することができる。
て応力発生が少なく、クラックの発生することのない高
品質の光吸収膜を提供することができる。
【図1】本発明に係る光吸収膜の一実施例の全体構成図
である。
である。
【図2】各種物質から成る薄膜の応力の膜厚依存性を示
す特性線図である。
す特性線図である。
【図3】本発明に係る光吸収膜の第1実施例の分光特性
線図である。
線図である。
【図4】本発明に係る光吸収膜の第2実施例の分光特性
線図である。
線図である。
【図5】本発明に係る光吸収膜の第3実施例の分光特性
線図である。
線図である。
【図6】本発明に係る光吸収膜の第4実施例の分光特性
線図である。
線図である。
【図7】本発明に係る光吸収膜の第5実施例の分光特性
線図である。
線図である。
Claims (3)
- 【請求項1】誘電体膜と金属膜とを積層することによっ
て構成される光吸収膜において、積層されるべき膜数を
Mとしたとき、膜総数が偶数の場合、(M/2)±n
〔但し、n=0,1,2,‥‥,{(M/2)−2}〕
層目の膜の何れかをSiO2 により形成したことを特徴
とする光吸収膜。 - 【請求項2】誘電体膜と金属膜とを積層することによっ
て構成される光吸収膜において、積層されるべき膜数を
Mとしたとき、膜総数が奇数の場合、{(M+1)/
2}±n〔但し、n=0,1,2,‥‥,{〔(M+
1)/2〕−2}〕層目の膜の何れかをSiO2 により
形成したことを特徴とする光吸収膜。 - 【請求項3】誘電体膜と金属膜とを積層することによっ
て構成される光吸収膜において、少なくとも一層の誘電
体膜を氷晶石によって構成したことを特徴とする光吸収
膜。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19657391 | 1991-08-06 | ||
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Cited By (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0933959A (ja) * | 1995-07-14 | 1997-02-07 | Olympus Optical Co Ltd | 位相制御膜構造体 |
US5715103A (en) * | 1993-08-26 | 1998-02-03 | Canon Kabushiki Kaisha | Neutral density (ND) filter |
US6671109B2 (en) | 2001-07-27 | 2003-12-30 | Nidec Copal Corporation | ND filter having composite PVD film of metal and its oxide |
WO2007083833A1 (ja) * | 2006-01-20 | 2007-07-26 | Sumitomo Metal Mining Co., Ltd. | 吸収型多層膜ndフィルターおよびその製造方法 |
WO2011108040A1 (ja) * | 2010-03-03 | 2011-09-09 | ナルックス株式会社 | 薄膜型光吸収膜 |
US9727178B2 (en) | 2013-09-05 | 2017-08-08 | Apple Inc. | Opaque white coating with non-conductive mirror |
JP2017167557A (ja) * | 2017-05-22 | 2017-09-21 | 旭硝子株式会社 | 光吸収体及びこれを用いた撮像装置 |
US9790126B2 (en) | 2013-09-05 | 2017-10-17 | Apple Inc. | Opaque color stack for electronic device |
US9844898B2 (en) | 2011-09-30 | 2017-12-19 | Apple Inc. | Mirror feature in devices |
US10099506B2 (en) | 2016-09-06 | 2018-10-16 | Apple Inc. | Laser bleach marking of an anodized surface |
US10919326B2 (en) | 2018-07-03 | 2021-02-16 | Apple Inc. | Controlled ablation and surface modification for marking an electronic device |
US11033984B2 (en) | 2013-06-09 | 2021-06-15 | Apple Inc. | Laser-formed features |
US11200385B2 (en) | 2018-09-27 | 2021-12-14 | Apple Inc. | Electronic card having an electronic interface |
US11299421B2 (en) | 2019-05-13 | 2022-04-12 | Apple Inc. | Electronic device enclosure with a glass member having an internal encoded marking |
US11571766B2 (en) | 2018-12-10 | 2023-02-07 | Apple Inc. | Laser marking of an electronic device through a cover |
-
1991
- 1991-12-17 JP JP33352191A patent/JPH0593811A/ja active Pending
Cited By (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5715103A (en) * | 1993-08-26 | 1998-02-03 | Canon Kabushiki Kaisha | Neutral density (ND) filter |
JPH0933959A (ja) * | 1995-07-14 | 1997-02-07 | Olympus Optical Co Ltd | 位相制御膜構造体 |
US6671109B2 (en) | 2001-07-27 | 2003-12-30 | Nidec Copal Corporation | ND filter having composite PVD film of metal and its oxide |
WO2007083833A1 (ja) * | 2006-01-20 | 2007-07-26 | Sumitomo Metal Mining Co., Ltd. | 吸収型多層膜ndフィルターおよびその製造方法 |
JPWO2007083833A1 (ja) * | 2006-01-20 | 2009-06-18 | 住友金属鉱山株式会社 | 吸収型多層膜ndフィルターおよびその製造方法 |
US7894148B2 (en) | 2006-01-20 | 2011-02-22 | Sumitomo Metal Mining Co., Ltd. | Absorption type multi-layer film ND filter and process for producing the same |
JP4692548B2 (ja) * | 2006-01-20 | 2011-06-01 | 住友金属鉱山株式会社 | 吸収型多層膜ndフィルターおよびその製造方法 |
WO2011108040A1 (ja) * | 2010-03-03 | 2011-09-09 | ナルックス株式会社 | 薄膜型光吸収膜 |
JP2011180532A (ja) * | 2010-03-03 | 2011-09-15 | Nalux Co Ltd | 薄膜型光吸収膜 |
US9844898B2 (en) | 2011-09-30 | 2017-12-19 | Apple Inc. | Mirror feature in devices |
US11033984B2 (en) | 2013-06-09 | 2021-06-15 | Apple Inc. | Laser-formed features |
US12083623B2 (en) | 2013-06-09 | 2024-09-10 | Apple Inc. | Laser-formed features |
US9790126B2 (en) | 2013-09-05 | 2017-10-17 | Apple Inc. | Opaque color stack for electronic device |
US9727178B2 (en) | 2013-09-05 | 2017-08-08 | Apple Inc. | Opaque white coating with non-conductive mirror |
TWI612342B (zh) * | 2013-09-05 | 2018-01-21 | 蘋果公司 | 用於電子裝置之不透光色彩堆疊 |
US10592053B2 (en) | 2013-09-05 | 2020-03-17 | Apple Inc. | Opaque white coating with non-conductive mirror |
US10781134B2 (en) | 2013-09-05 | 2020-09-22 | Apple Inc. | Opaque color stack for electronic device |
US10099506B2 (en) | 2016-09-06 | 2018-10-16 | Apple Inc. | Laser bleach marking of an anodized surface |
JP2017167557A (ja) * | 2017-05-22 | 2017-09-21 | 旭硝子株式会社 | 光吸収体及びこれを用いた撮像装置 |
US10919326B2 (en) | 2018-07-03 | 2021-02-16 | Apple Inc. | Controlled ablation and surface modification for marking an electronic device |
US11772402B2 (en) | 2018-07-03 | 2023-10-03 | Apple Inc. | Controlled ablation and surface modification for marking an electronic device |
US11200385B2 (en) | 2018-09-27 | 2021-12-14 | Apple Inc. | Electronic card having an electronic interface |
US11200386B2 (en) | 2018-09-27 | 2021-12-14 | Apple Inc. | Electronic card having an electronic interface |
US12190192B2 (en) | 2018-09-27 | 2025-01-07 | Apple Inc. | Electronic card having an electronic interface |
US11571766B2 (en) | 2018-12-10 | 2023-02-07 | Apple Inc. | Laser marking of an electronic device through a cover |
US11299421B2 (en) | 2019-05-13 | 2022-04-12 | Apple Inc. | Electronic device enclosure with a glass member having an internal encoded marking |
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