JPH0587935A - 放射線測定装置 - Google Patents
放射線測定装置Info
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- JPH0587935A JPH0587935A JP24813191A JP24813191A JPH0587935A JP H0587935 A JPH0587935 A JP H0587935A JP 24813191 A JP24813191 A JP 24813191A JP 24813191 A JP24813191 A JP 24813191A JP H0587935 A JPH0587935 A JP H0587935A
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- scintillator
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Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【目的】複合放射線場を構成する二種類の要素放射線
を、手間をかけることなく一度に、かつ放射線入射面に
おける放射線入射位置に依存することのない放射線検出
感度で測定する。 【構成】第１シンチレータ９、第１光フィルタ１４、第
２シンチレーション１０を順次積層し、さらに第２シン
チレータ１０上に第２光フィルタ１６を介して第１光電
変換器１１を取り付け、また第２シンチレータ１０上に
第３光フィルタ１７を介するかまたは介さないで第２光
電変換器１２を取り付け、両光電変換器１１，１２の各
出力信号を一個の非同時回路１３に入力する。
を、手間をかけることなく一度に、かつ放射線入射面に
おける放射線入射位置に依存することのない放射線検出
感度で測定する。 【構成】第１シンチレータ９、第１光フィルタ１４、第
２シンチレーション１０を順次積層し、さらに第２シン
チレータ１０上に第２光フィルタ１６を介して第１光電
変換器１１を取り付け、また第２シンチレータ１０上に
第３光フィルタ１７を介するかまたは介さないで第２光
電変換器１２を取り付け、両光電変換器１１，１２の各
出力信号を一個の非同時回路１３に入力する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はシンチレーション検出器
を用いた放射線測定装置、特に、二種類の要素放射線か
らなる複合放射線場において各要素放射線を短時間のう
ちにかつ高精度に測定することができる測定装置に関す
る。
を用いた放射線測定装置、特に、二種類の要素放射線か
らなる複合放射線場において各要素放射線を短時間のう
ちにかつ高精度に測定することができる測定装置に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】図５はそれぞれ要素放射線としてのβ線
１とγ線２とからなる複合放射線３の場Ｇにおいて両要
素放射線１，２を測定するようにした従来の放射線測定
装置４の構成図で、図において、５はアルミニウムやア
クリル樹脂等によって形成した板状のβ線吸収体、６は
放射線入射面６ａが吸収体５の一面５ａに接近して対向
するように配置されかつ入射面６ａから入射する放射線
に応じた検出信号６ｂを出力するようにした放射線検出
器であって、測定装置４はこの検出器６と吸収体５とで
構成されており、かつこの場合吸収体５は着脱自在とな
っている。測定装置４はこのように構成されているの
で、吸収体５の他面５ｂを放射線場Ｇに対向させると検
出信号６ｂによってγ線２について測定を行うことがで
き、面５ｂを場Ｇに対向させた状態で吸収体５を取り外
すと信号６ｂによって複合放射線３について測定を行う
ことができるので、両測定結果からβ線１にかかわる測
定が行えることになって、結局、この測定装置４によっ
て両放射線１，２に対する測定が行なえることになる。
図６は放射線場Ｇにおいて両放射線１，２を測定するよ
うにした、測定装置４とは別の従来の放射線測定装置７
の構成図である。図６において、８は厚さの薄い板状の
第１シンチレータ９とβ線吸収体５と厚さの厚い板状の
第２シンチレータ１０とを図示のように積層して形成し
かつ第１シンチレータ９の側を放射線場Ｇに対向させた
シンチレーション光発光部、１１は受光面１１ａをシン
チレータ９の側面に当接させるように配置されてシンチ
レータ９内に発生したシンチレーション光を受光するよ
うにした第１光電変換器、１２は受光面１２ａをシンチ
レータ１０の側面に当接させるように配置されてシンチ
レータ１０内に発生したシンチレーション光を受光する
ようにした第２光電変換器で、１３は第１入力端子１３
ａと第２入力端子１３ｂとが設けられ、かつ端子１３ｂ
にパルスが入力されていない時に端子１３ａにパルスが
入力されるとこのパルスに応じたパルス信号１３ｃを出
力し、端子１３ａにパルスが入力されてもこの時端子１
３ｂにパルスが入力されていると信号１３ｃを出力しな
いようにした非同時回路である。そうして、測定装置７
は上述の各部からなる装置で、ここに、シンチレータ９
は放射線場Ｇから入射する両放射線１，２のうちのβ線
１を充分吸収しかつγ線２を殆ど吸収することのない
０．１ｍｍ乃至１０ｍｍ程度の厚さとなっており、また
シンチレータ１０は上記γ線２を充分吸収し得る厚さに
形成されている。そうして、この場合、吸収体５はシン
チレータ９がβ線１を充分吸収する厚さに形成されてい
れば省略されても差し支えないものである。放射線測定
装置７は上述のように構成されているので、両放射線１
及び２によってシンチレータ９内に生じたシンチレーシ
ョン光にもとづくパルス列信号１１ｂが光電変換器１１
から出力され、かつγ線２によってシンチレータ１０内
に生じたシンチレーション光にもとづくパルス列信号１
２ｂが光電変換器１２から出力される結果、パルス１３
ｃからなるパルス列信号１３ｄがβ線１に応じた信号と
して非同時回路１３から出力されることになって、結
局、この測定装置７の場合、パルス列信号１３ｄ，１２
ｂにおける各パルスを計数することによって両放射線
１，２の各線量等を一度に測定し得ることが明らかであ
る。
１とγ線２とからなる複合放射線３の場Ｇにおいて両要
素放射線１，２を測定するようにした従来の放射線測定
装置４の構成図で、図において、５はアルミニウムやア
クリル樹脂等によって形成した板状のβ線吸収体、６は
放射線入射面６ａが吸収体５の一面５ａに接近して対向
するように配置されかつ入射面６ａから入射する放射線
に応じた検出信号６ｂを出力するようにした放射線検出
器であって、測定装置４はこの検出器６と吸収体５とで
構成されており、かつこの場合吸収体５は着脱自在とな
っている。測定装置４はこのように構成されているの
で、吸収体５の他面５ｂを放射線場Ｇに対向させると検
出信号６ｂによってγ線２について測定を行うことがで
き、面５ｂを場Ｇに対向させた状態で吸収体５を取り外
すと信号６ｂによって複合放射線３について測定を行う
ことができるので、両測定結果からβ線１にかかわる測
定が行えることになって、結局、この測定装置４によっ
て両放射線１，２に対する測定が行なえることになる。
図６は放射線場Ｇにおいて両放射線１，２を測定するよ
うにした、測定装置４とは別の従来の放射線測定装置７
の構成図である。図６において、８は厚さの薄い板状の
第１シンチレータ９とβ線吸収体５と厚さの厚い板状の
第２シンチレータ１０とを図示のように積層して形成し
かつ第１シンチレータ９の側を放射線場Ｇに対向させた
シンチレーション光発光部、１１は受光面１１ａをシン
チレータ９の側面に当接させるように配置されてシンチ
レータ９内に発生したシンチレーション光を受光するよ
うにした第１光電変換器、１２は受光面１２ａをシンチ
レータ１０の側面に当接させるように配置されてシンチ
レータ１０内に発生したシンチレーション光を受光する
ようにした第２光電変換器で、１３は第１入力端子１３
ａと第２入力端子１３ｂとが設けられ、かつ端子１３ｂ
にパルスが入力されていない時に端子１３ａにパルスが
入力されるとこのパルスに応じたパルス信号１３ｃを出
力し、端子１３ａにパルスが入力されてもこの時端子１
３ｂにパルスが入力されていると信号１３ｃを出力しな
いようにした非同時回路である。そうして、測定装置７
は上述の各部からなる装置で、ここに、シンチレータ９
は放射線場Ｇから入射する両放射線１，２のうちのβ線
１を充分吸収しかつγ線２を殆ど吸収することのない
０．１ｍｍ乃至１０ｍｍ程度の厚さとなっており、また
シンチレータ１０は上記γ線２を充分吸収し得る厚さに
形成されている。そうして、この場合、吸収体５はシン
チレータ９がβ線１を充分吸収する厚さに形成されてい
れば省略されても差し支えないものである。放射線測定
装置７は上述のように構成されているので、両放射線１
及び２によってシンチレータ９内に生じたシンチレーシ
ョン光にもとづくパルス列信号１１ｂが光電変換器１１
から出力され、かつγ線２によってシンチレータ１０内
に生じたシンチレーション光にもとづくパルス列信号１
２ｂが光電変換器１２から出力される結果、パルス１３
ｃからなるパルス列信号１３ｄがβ線１に応じた信号と
して非同時回路１３から出力されることになって、結
局、この測定装置７の場合、パルス列信号１３ｄ，１２
ｂにおける各パルスを計数することによって両放射線
１，２の各線量等を一度に測定し得ることが明らかであ
る。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上記測定装置４におい
ては、両放射線１，２を測定するために、上述したよう
に吸収体５を取り付けた場合と取り外した場合との二度
にわたって測定操作をしなければならないので、この装
置４には両放射線１，２の弁別測定に手間がかかるとい
う問題点がある。ところが、これに反して、放射線測定
装置７は上述のように構成されているので両放射線１，
２の測定に手間がかからないという利点はあるが、一
方、この装置７では、光電変換器受光面１１ａに当接す
るシンチレータ９の部分の面積が上述の理由で狭いので
該受光面１１ａの利用効率が悪いという問題点があり、
さらに、この装置７の場合シンチレータ９，１０内に発
生したシンチレーション光はこの光の発生位置から変換
器受光面１１ａ，１２ａに至る距離に応じた減衰を受け
て該受光面１１ａ，１２ａに到達し、かつこの場合受光
面１１ａ，１２ａがシンチレータ９，１０の各側面に当
接させられているので、測定装置７には、放射線１，２
が入射するシンチレータ９の場所によってシンチレーシ
ョン光に対する検出感度が異なる、換言すればシンチレ
ータ９の放射線場Ｇに対向する面９ａにおける放射線検
出感度分布が一様でないという問題点もある。本発明の
目的は、二個の板状シンチレータと二個の光電変換器と
を用いて複合放射線場を構成する二種類の要素放射線を
一度に測定できるようにした放射線測定装置において、
一個のシンチレータの一面から両光電変換器の各受光面
にシンチレーション光が入射することになるようにし
て、前記両受光面の各々の利用効率がよくかつシンチレ
ータの放射線入射面における放射線検出感度分布がほぼ
一様な放射線測定装置を得ることにある。
ては、両放射線１，２を測定するために、上述したよう
に吸収体５を取り付けた場合と取り外した場合との二度
にわたって測定操作をしなければならないので、この装
置４には両放射線１，２の弁別測定に手間がかかるとい
う問題点がある。ところが、これに反して、放射線測定
装置７は上述のように構成されているので両放射線１，
２の測定に手間がかからないという利点はあるが、一
方、この装置７では、光電変換器受光面１１ａに当接す
るシンチレータ９の部分の面積が上述の理由で狭いので
該受光面１１ａの利用効率が悪いという問題点があり、
さらに、この装置７の場合シンチレータ９，１０内に発
生したシンチレーション光はこの光の発生位置から変換
器受光面１１ａ，１２ａに至る距離に応じた減衰を受け
て該受光面１１ａ，１２ａに到達し、かつこの場合受光
面１１ａ，１２ａがシンチレータ９，１０の各側面に当
接させられているので、測定装置７には、放射線１，２
が入射するシンチレータ９の場所によってシンチレーシ
ョン光に対する検出感度が異なる、換言すればシンチレ
ータ９の放射線場Ｇに対向する面９ａにおける放射線検
出感度分布が一様でないという問題点もある。本発明の
目的は、二個の板状シンチレータと二個の光電変換器と
を用いて複合放射線場を構成する二種類の要素放射線を
一度に測定できるようにした放射線測定装置において、
一個のシンチレータの一面から両光電変換器の各受光面
にシンチレーション光が入射することになるようにし
て、前記両受光面の各々の利用効率がよくかつシンチレ
ータの放射線入射面における放射線検出感度分布がほぼ
一様な放射線測定装置を得ることにある。
【０００４】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明によれば、 １）いずれも板状に形成された第１シンチレータ、第１
光フィルタ及び第２シンチレータを順次積層して得たシ
ンチレーション光発光部と、前記シンチレーション光発
光部で生じたシンチレーション光を前記第２シンチレー
タの前記第１光フィルタに接触しない側の面としてのシ
ンチレーション光出射面に接触させた第２光フィルタを
介して受光する第１光電変換器と、前記第２光フィルタ
と、前記シンチレーション光を前記第２シンチレータの
前記シンチレーション光出射面に接触させた第３光フィ
ルタを介して受光する第２光電変換器と、前記第３光フ
ィルタと、前記両光電変換器の各出力信号が入力される
非同時回路とを備え、この非同時回路の出力信号と前記
第２光電変換器の出力信号とによって前記第１シンチレ
ータの前記第１光フィルタに接触しない側の面から前記
シンチレーション光発光部に入射する二種類の放射線の
測定を行う放射線測定装置であって、前記両シンチレー
タは同じ材料製であり、かつ前記第１及び第２光フィル
タは同じ光透過特性を有するバンドパス光フィルタであ
り、かつ前記第３光フィルタは前記第１及び第２光フィ
ルタの光透過波長帯域とは異なる波長帯域の光を透過さ
せるバンドパス光フィルタであるように放射線測定装置
を構成し、また、 ２）いずれも板状に形成された第１シンチレータ、第１
光フィルタ及び第２シンチレータを順次積層して得たシ
ンチレーション光発光部と、前記シンチレーション光発
光部で生じたシンチレーション光を前記第２シンチレー
タの前記第１光フィルタに接触しない側の面としてのシ
ンチレーション光出射面に接触させた第２光フィルタを
介して受光する第１光電変換器と、前記第２光フィルタ
と、前記シンチレーション光を前記シンチレーション光
出射面を介して直接受光する第２光電変換器と、前記両
光電変換器の各出力信号が入力される非同時回路とを備
え、この非同時回路の出力信号と前記第１光電変換器の
出力信号とによって前記第１シンチレータの前記第１光
フィルタに接触しない側の面から前記シンチレーション
光発光部に入射する二種類の放射線の測定を行う放射線
測定装置であって、前記両光フィルタは同じ透過特性を
有するバンドパス光フィルタであり、かつ前記第２シン
チレータは前記放射線が入射すると前記両光フィルタの
光透過波長帯域とは異なる波長帯域の前記シンチレーシ
ョン光を発光するシンチレータであるように放射線測定
装置を構成し、また、 ３）上記１）項に記載の放射線測定装置において、両シ
ンチレータをふっ化バリウム（ＢａＦ2 ）製とし、かつ
第１および第２光フィルタの光透過波長帯域の中心波長
と第３光フィルタの光透過波長帯域の中心波長とを、前
記ふっ化バリウムに放射線が入射した時このふっ化バリ
ウム内に生じるシンチレーション光の強度の分光スペク
トラムにおける異なる二個のピーク波長のそれぞれに一
致さて放射線測定装置を構成し、また、 ４）上記１）項乃至上記３）項のいずれかに記載の放射
線測定装置において、二種類の放射線をβ線とγ線とし
て放射線測定装置を構成する。
め、本発明によれば、 １）いずれも板状に形成された第１シンチレータ、第１
光フィルタ及び第２シンチレータを順次積層して得たシ
ンチレーション光発光部と、前記シンチレーション光発
光部で生じたシンチレーション光を前記第２シンチレー
タの前記第１光フィルタに接触しない側の面としてのシ
ンチレーション光出射面に接触させた第２光フィルタを
介して受光する第１光電変換器と、前記第２光フィルタ
と、前記シンチレーション光を前記第２シンチレータの
前記シンチレーション光出射面に接触させた第３光フィ
ルタを介して受光する第２光電変換器と、前記第３光フ
ィルタと、前記両光電変換器の各出力信号が入力される
非同時回路とを備え、この非同時回路の出力信号と前記
第２光電変換器の出力信号とによって前記第１シンチレ
ータの前記第１光フィルタに接触しない側の面から前記
シンチレーション光発光部に入射する二種類の放射線の
測定を行う放射線測定装置であって、前記両シンチレー
タは同じ材料製であり、かつ前記第１及び第２光フィル
タは同じ光透過特性を有するバンドパス光フィルタであ
り、かつ前記第３光フィルタは前記第１及び第２光フィ
ルタの光透過波長帯域とは異なる波長帯域の光を透過さ
せるバンドパス光フィルタであるように放射線測定装置
を構成し、また、 ２）いずれも板状に形成された第１シンチレータ、第１
光フィルタ及び第２シンチレータを順次積層して得たシ
ンチレーション光発光部と、前記シンチレーション光発
光部で生じたシンチレーション光を前記第２シンチレー
タの前記第１光フィルタに接触しない側の面としてのシ
ンチレーション光出射面に接触させた第２光フィルタを
介して受光する第１光電変換器と、前記第２光フィルタ
と、前記シンチレーション光を前記シンチレーション光
出射面を介して直接受光する第２光電変換器と、前記両
光電変換器の各出力信号が入力される非同時回路とを備
え、この非同時回路の出力信号と前記第１光電変換器の
出力信号とによって前記第１シンチレータの前記第１光
フィルタに接触しない側の面から前記シンチレーション
光発光部に入射する二種類の放射線の測定を行う放射線
測定装置であって、前記両光フィルタは同じ透過特性を
有するバンドパス光フィルタであり、かつ前記第２シン
チレータは前記放射線が入射すると前記両光フィルタの
光透過波長帯域とは異なる波長帯域の前記シンチレーシ
ョン光を発光するシンチレータであるように放射線測定
装置を構成し、また、 ３）上記１）項に記載の放射線測定装置において、両シ
ンチレータをふっ化バリウム（ＢａＦ2 ）製とし、かつ
第１および第２光フィルタの光透過波長帯域の中心波長
と第３光フィルタの光透過波長帯域の中心波長とを、前
記ふっ化バリウムに放射線が入射した時このふっ化バリ
ウム内に生じるシンチレーション光の強度の分光スペク
トラムにおける異なる二個のピーク波長のそれぞれに一
致さて放射線測定装置を構成し、また、 ４）上記１）項乃至上記３）項のいずれかに記載の放射
線測定装置において、二種類の放射線をβ線とγ線とし
て放射線測定装置を構成する。
【０００５】
【作用】上記のように構成すると、いずれの放射線測定
装置の場合にも、ひとつのシンチレータで生じるシンチ
レーション光の殆どが両放射線のうちのこのシンチレー
タに対応した一方の放射線にもとづくものであり、また
他のシンチレータで生じるシンチレーション光の殆どが
両放射線のうちの他方の放射線にもとづくものであるよ
うに両シンチレータの各厚さを設定することによって、
非同時回路の出力信号と第２または第１光電変換器の各
出力信号とで両放射線の線量等を一度に測定することが
できるが、さらに、いずれの放射線測定装置の場合に
も、両光電変換器の各受光面を第２及び第３光フィルタ
のそれぞれを介してあるいは第２光電変換器の受光面を
第３光フィルタを介することなく直接シンチレーション
光発光部のシンチレーション光出射面に対向させること
ができるので、シンチレーション光発光部におけるシン
チレーション光の発生位置から両光電変換器の各受光面
に至るそれぞれの距離がシンチレーション光発光部の放
射線入射面における放射線入射位置によらずほぼ一様と
なって、したがって、上記両受光面のそれぞれの利用効
率がよくかつ上記放射線入射面における放射線検出感度
分布がほぼ一様な放射線測定装置が得られることにな
る。
装置の場合にも、ひとつのシンチレータで生じるシンチ
レーション光の殆どが両放射線のうちのこのシンチレー
タに対応した一方の放射線にもとづくものであり、また
他のシンチレータで生じるシンチレーション光の殆どが
両放射線のうちの他方の放射線にもとづくものであるよ
うに両シンチレータの各厚さを設定することによって、
非同時回路の出力信号と第２または第１光電変換器の各
出力信号とで両放射線の線量等を一度に測定することが
できるが、さらに、いずれの放射線測定装置の場合に
も、両光電変換器の各受光面を第２及び第３光フィルタ
のそれぞれを介してあるいは第２光電変換器の受光面を
第３光フィルタを介することなく直接シンチレーション
光発光部のシンチレーション光出射面に対向させること
ができるので、シンチレーション光発光部におけるシン
チレーション光の発生位置から両光電変換器の各受光面
に至るそれぞれの距離がシンチレーション光発光部の放
射線入射面における放射線入射位置によらずほぼ一様と
なって、したがって、上記両受光面のそれぞれの利用効
率がよくかつ上記放射線入射面における放射線検出感度
分布がほぼ一様な放射線測定装置が得られることにな
る。
【０００６】
【実施例】図１は本発明の一実施例の構成図で、本図の
図６と異なる所は、図６のβ線吸収体５にかわる第１光
フィルタ１４と両シンチレータ９，１０とで前述のシン
チレーション光発光部８に対応したシンチレーション光
発光部１５が構成されていることと、第１光電変換器１
１がシンチレーション光発光部１５で生じたシンチレー
ション光をシンチレータ１０の光フィルタ１４に接触し
ない側の面としてシンチレーション光出射面１０ａに接
触させた第２光フィルタ１６を介して受光するように、
該変換器１１の受光面１１ａがフィルタ１６に当接させ
られかつフィルタ１６が面１０ａに当接させられている
ことと、第２光電変換器１２が発光部１５で生じたシン
チレーション光を面１０ａに接触させた第３光フィルタ
１７を介して受光するように、該変換器１２の受光面１
２ａがフィルタ１７に当接させられかつフィルタ１７が
面１０ａに当接させられていることである。そうして、
図１においては、両シンチレータ９，１０が共にふっ化
バリウム（ＢａＦ2 ）製となっており、かつ第１及び第
２光フィルタ１４，１６が図２に示した同じ帯域光透過
特性１８を有するバンドパス光フィルタとなっており、
かつ第３光フィルタ１７が上記特性１８が占める光透過
波長帯域とは異なる光透過波長帯域にわたる図２に示し
た帯域光透過特性１９を有するバンドパス光フィルタと
なっていて、ここに、特性１８，１９の各中心波長はそ
れぞれ２２０ｎｍ，３００ｎｍである。そうして、図上
における２０はふっ化バリウムに放射線が入射した時こ
のふっ化バリウム内に生じるシンチレーション光の強度
の分光スペクトラムで、このスペクトラム２０は図２に
示したように光波長２２０ｎｍ，３００ｎｍのそれぞれ
にピークを有する双峰性スペクトラムである。図１にお
ける２１は図１図示の各部からなる放射線測定装置であ
る。放射線測定装置２１は上述のように構成されてい
て、かつこの場合もシンチレータ９，１０がそれぞれ測
定装置７の場合と同様な厚さに形成されているので、
今、シンチレータ９の一面９ａとしての放射線入射面９
ａからβ線１が入射することによって所定時間τ内にシ
ンチレータ９，１０の各々で生じるシンチレーション光
の各発光回数をＮβ１，Ｎβ２とし、かつ入射面９ａか
らγ線２が入射することによって同じ上記τ内にシンチ
レータ９，１０の各々で生じるシンチレーション光の各
発生回数をＮγ１，Ｎγ２とすると、変換器１１が出力
するパルス列信号１１ｂは（Ｎβ１＋Ｎβ２＋Ｎγ１＋
Ｎγ２）に対応した信号となり、変換器１２が出力する
パルス列信号１２ｂは（Ｎβ２＋Ｎγ２）に対応した信
号になって、したがって非同時回路１３が出力するパル
ス列信号１３ｄは（Ｎβ１＋Ｎγ１）に対応した信号に
なる。そうして、ここに、Ｎβ２≪Ｎγ２，Ｎβ１≫Ｎ
γ１であることは上述した発光部１５の構成から明らか
であるから、この測定装置２１によれば信号１３ｄと１
２ｂとによって両放射線１，２の線量等を一度に測定で
きることになる。そうして、また、この測定装置２１で
は、上述したように光電変換器受光面１１ａがその全面
にわたってフィルタ１６を介してシンチレーション光出
射面１０ａに対向させられかつ光電変換器受光面１２ａ
がその全面にわたってフィルタ１７を介して面１０ａに
対向させられているので、発光部１５におけるシンチレ
ーション光の発光位置から受光面１１ａ，１２ａに至る
各距離が放射線入射面９ａにおける放射線入射位置によ
らずほぼ一様になっていて、したがって、この放射線測
定装置２１は受光面１１ａ，１２ａの各利用効率がよく
かつ放射線入射面９ａにおける放射線検出感度分布がほ
ぼ一様な装置であるということになる。
図６と異なる所は、図６のβ線吸収体５にかわる第１光
フィルタ１４と両シンチレータ９，１０とで前述のシン
チレーション光発光部８に対応したシンチレーション光
発光部１５が構成されていることと、第１光電変換器１
１がシンチレーション光発光部１５で生じたシンチレー
ション光をシンチレータ１０の光フィルタ１４に接触し
ない側の面としてシンチレーション光出射面１０ａに接
触させた第２光フィルタ１６を介して受光するように、
該変換器１１の受光面１１ａがフィルタ１６に当接させ
られかつフィルタ１６が面１０ａに当接させられている
ことと、第２光電変換器１２が発光部１５で生じたシン
チレーション光を面１０ａに接触させた第３光フィルタ
１７を介して受光するように、該変換器１２の受光面１
２ａがフィルタ１７に当接させられかつフィルタ１７が
面１０ａに当接させられていることである。そうして、
図１においては、両シンチレータ９，１０が共にふっ化
バリウム（ＢａＦ2 ）製となっており、かつ第１及び第
２光フィルタ１４，１６が図２に示した同じ帯域光透過
特性１８を有するバンドパス光フィルタとなっており、
かつ第３光フィルタ１７が上記特性１８が占める光透過
波長帯域とは異なる光透過波長帯域にわたる図２に示し
た帯域光透過特性１９を有するバンドパス光フィルタと
なっていて、ここに、特性１８，１９の各中心波長はそ
れぞれ２２０ｎｍ，３００ｎｍである。そうして、図上
における２０はふっ化バリウムに放射線が入射した時こ
のふっ化バリウム内に生じるシンチレーション光の強度
の分光スペクトラムで、このスペクトラム２０は図２に
示したように光波長２２０ｎｍ，３００ｎｍのそれぞれ
にピークを有する双峰性スペクトラムである。図１にお
ける２１は図１図示の各部からなる放射線測定装置であ
る。放射線測定装置２１は上述のように構成されてい
て、かつこの場合もシンチレータ９，１０がそれぞれ測
定装置７の場合と同様な厚さに形成されているので、
今、シンチレータ９の一面９ａとしての放射線入射面９
ａからβ線１が入射することによって所定時間τ内にシ
ンチレータ９，１０の各々で生じるシンチレーション光
の各発光回数をＮβ１，Ｎβ２とし、かつ入射面９ａか
らγ線２が入射することによって同じ上記τ内にシンチ
レータ９，１０の各々で生じるシンチレーション光の各
発生回数をＮγ１，Ｎγ２とすると、変換器１１が出力
するパルス列信号１１ｂは（Ｎβ１＋Ｎβ２＋Ｎγ１＋
Ｎγ２）に対応した信号となり、変換器１２が出力する
パルス列信号１２ｂは（Ｎβ２＋Ｎγ２）に対応した信
号になって、したがって非同時回路１３が出力するパル
ス列信号１３ｄは（Ｎβ１＋Ｎγ１）に対応した信号に
なる。そうして、ここに、Ｎβ２≪Ｎγ２，Ｎβ１≫Ｎ
γ１であることは上述した発光部１５の構成から明らか
であるから、この測定装置２１によれば信号１３ｄと１
２ｂとによって両放射線１，２の線量等を一度に測定で
きることになる。そうして、また、この測定装置２１で
は、上述したように光電変換器受光面１１ａがその全面
にわたってフィルタ１６を介してシンチレーション光出
射面１０ａに対向させられかつ光電変換器受光面１２ａ
がその全面にわたってフィルタ１７を介して面１０ａに
対向させられているので、発光部１５におけるシンチレ
ーション光の発光位置から受光面１１ａ，１２ａに至る
各距離が放射線入射面９ａにおける放射線入射位置によ
らずほぼ一様になっていて、したがって、この放射線測
定装置２１は受光面１１ａ，１２ａの各利用効率がよく
かつ放射線入射面９ａにおける放射線検出感度分布がほ
ぼ一様な装置であるということになる。
【０００７】図３は図１に実施例を示した本発明とは別
の本発明の一実施例として放射線測定装置２２の構成図
で、本図の図１と異なる２３は、図１の第２シンチレー
タ１０に対応した第２シンチレータ２３がγ線２を充分
吸収し得る厚さのタリウム活性化よう化セシウムＣｓＩ
（Ｔｌ）となっていて、このＣｓＩ（Ｔｌ）内で生じた
シンチレーション光の強度の分光スペクトラム２４は、
図４に示したように、上述の帯域光透過特性１８が占め
る光波長帯域とは別の波長帯域に存在する単峰性スペク
トラムであることと、光電変換器１２の受光面１２ａが
シンチレータ２３の光フィルタ１４に接触しない側の面
としてのシンチレーション光出射面２３ａに当接させら
れていることと、非同時回路１３の第１入力端子１３ａ
に変換器１２が出力するパルス列信号１２ｂが入力され
て回路１３の第２入力端子１３ｂに変換器１１が出力す
るパルス列信号１１ｂが入力されていることである。そ
うして、図３において、２５は両シンチレータ９，２３
とフィルタ１４とからなるシンチレーション光発光部で
ある。放射線測定装置２２は上述のように構成されてい
るので、この装置２２では信号１２ｂが（Ｎβ１＋Ｎβ
２＋Ｎγ１＋Ｎγ２）に対応した信号となり、信号１１
ｂが（Ｎβ１＋Ｎγ１）に対応した信号になって、した
がって、回路１３が出力するパルス列信号１３ｄが（Ｎ
β２＋Ｎγ２）に対応した信号になる。そうして、ここ
にＮβ１≫Ｎγ１，Ｎβ２≪Ｎγ２であることは図１の
場合と同じであるから、この装置２２によれば信号１１
ｂと１３ｄとによって両放射線１，２の線量等を一度に
測定できることになる。そうして、また、この装置２２
では両光電変換器受光面１１ａ，１２ａが図示のように
シンチレーション光発光部２５に対向させられているの
で、この装置２２も受光面１１ａ，１２ａの各利用効率
がよくかつ放射線入射面９ａにおける放射線検出感度分
布が一様な放射線測定装置であるということになる。
の本発明の一実施例として放射線測定装置２２の構成図
で、本図の図１と異なる２３は、図１の第２シンチレー
タ１０に対応した第２シンチレータ２３がγ線２を充分
吸収し得る厚さのタリウム活性化よう化セシウムＣｓＩ
（Ｔｌ）となっていて、このＣｓＩ（Ｔｌ）内で生じた
シンチレーション光の強度の分光スペクトラム２４は、
図４に示したように、上述の帯域光透過特性１８が占め
る光波長帯域とは別の波長帯域に存在する単峰性スペク
トラムであることと、光電変換器１２の受光面１２ａが
シンチレータ２３の光フィルタ１４に接触しない側の面
としてのシンチレーション光出射面２３ａに当接させら
れていることと、非同時回路１３の第１入力端子１３ａ
に変換器１２が出力するパルス列信号１２ｂが入力され
て回路１３の第２入力端子１３ｂに変換器１１が出力す
るパルス列信号１１ｂが入力されていることである。そ
うして、図３において、２５は両シンチレータ９，２３
とフィルタ１４とからなるシンチレーション光発光部で
ある。放射線測定装置２２は上述のように構成されてい
るので、この装置２２では信号１２ｂが（Ｎβ１＋Ｎβ
２＋Ｎγ１＋Ｎγ２）に対応した信号となり、信号１１
ｂが（Ｎβ１＋Ｎγ１）に対応した信号になって、した
がって、回路１３が出力するパルス列信号１３ｄが（Ｎ
β２＋Ｎγ２）に対応した信号になる。そうして、ここ
にＮβ１≫Ｎγ１，Ｎβ２≪Ｎγ２であることは図１の
場合と同じであるから、この装置２２によれば信号１１
ｂと１３ｄとによって両放射線１，２の線量等を一度に
測定できることになる。そうして、また、この装置２２
では両光電変換器受光面１１ａ，１２ａが図示のように
シンチレーション光発光部２５に対向させられているの
で、この装置２２も受光面１１ａ，１２ａの各利用効率
がよくかつ放射線入射面９ａにおける放射線検出感度分
布が一様な放射線測定装置であるということになる。
【０００８】
【発明の効果】上述したように、本発明においては、 １）いずれも板状に形成された第１シンチレータ、第１
光フィルタ及び第２シンチレータを順次積層して得たシ
ンチレーション光発光部と、このシンチレーション光発
光部で生じたシンチレーション光を第２シンチレータの
第１光フィルタに接触しない側の面としてのシンチレー
ション光出射面に接触させた第２光フィルタを介して受
光する第１光電変換器と、前記第２光フィルタと、前記
シンチレーション光を第２シンチレータのシンチレーシ
ョン光出射面に接触させた第３光フィルタを介して受光
する第２光電変換器と、前記第３光フィルタと、両光電
変換器の各出力信号が入力される非同時回路とを備え、
この非同時回路の出力信号と第２光電変換器の出力信号
とによって第１シンチレータの第１光フィルタに接触し
ない側の面からシンチレーション光発光部に入射する二
種類の放射線の測定を行う放射線測定装置であって、前
記両シンチレータは同じ材料製であり、かつ第１及び第
２光フィルタは同じ光透過特性を有するバンドパス光フ
ィルタであり、かつ第３光フィルタは第１及び第２光フ
ィルタの光透過波長帯域とは異なる波長帯域の光を透過
させるバンドパス光フィルタであるように放射線測定装
置を構成し、また、 ２）いずれも板状に形成された第１シンチレータ、第１
光フィルタ及び第２シンチレータを順次積層して得たシ
ンチレーション光発光部と、このシンチレーション光発
光部で生じたシンチレーション光を第２シンチレータの
第１光フィルタに接触しない側の面としてのシンチレー
ション光出射面に接触させた第２光フィルタを介して受
光する第１光電変換器と、前記第２光フィルタと、前記
シンチレーション光をシンチレーション光出射面を介し
て直接受光する第２光電変換器と、両光電変換器の各出
力信号が入力される非同時回路とを備え、この非同時回
路の出力信号と第１光電変換器の出力信号とによって第
１シンチレータの第１光フィルタに接触しない側の面か
らシンチレーション光発光部に入射する二種類の放射線
の測定を行う放射線測定装置であって、前記両光フィル
タは同じ透過特性を有するバンドパス光フィルタであ
り、かつ第２シンチレータは前記放射線が入射すると両
光フィルタの光透過波長帯域とは異なる波長帯域の前記
シンチレーション光を発光するシンチレータであるよう
に放射線測定装置を構成し、また、 ３）上記１）項に記載の放射線測定装置において、両シ
ンチレータをふっ化バリウム（ＢａＦ2 ）製とし、かつ
第１および第２光フィルタの光透過波長帯域の中心波長
と第３光フィルタの光透過波長帯域の中心波長とを、前
記ふっ化バリウムに放射線が入射した時このふっ化バリ
ウム内に生じるシンチレーション光の強度の分光スペク
トラムにおける異なる二個のピーク波長のそれぞれに一
致させて放射線測定装置を構成し、また、 ４）上記１）項乃至上記３）項のいずれかに記載の放射
線測定装置において、二種類の放射線をβ線とγ線とし
て放射線測定装置を構成した。
光フィルタ及び第２シンチレータを順次積層して得たシ
ンチレーション光発光部と、このシンチレーション光発
光部で生じたシンチレーション光を第２シンチレータの
第１光フィルタに接触しない側の面としてのシンチレー
ション光出射面に接触させた第２光フィルタを介して受
光する第１光電変換器と、前記第２光フィルタと、前記
シンチレーション光を第２シンチレータのシンチレーシ
ョン光出射面に接触させた第３光フィルタを介して受光
する第２光電変換器と、前記第３光フィルタと、両光電
変換器の各出力信号が入力される非同時回路とを備え、
この非同時回路の出力信号と第２光電変換器の出力信号
とによって第１シンチレータの第１光フィルタに接触し
ない側の面からシンチレーション光発光部に入射する二
種類の放射線の測定を行う放射線測定装置であって、前
記両シンチレータは同じ材料製であり、かつ第１及び第
２光フィルタは同じ光透過特性を有するバンドパス光フ
ィルタであり、かつ第３光フィルタは第１及び第２光フ
ィルタの光透過波長帯域とは異なる波長帯域の光を透過
させるバンドパス光フィルタであるように放射線測定装
置を構成し、また、 ２）いずれも板状に形成された第１シンチレータ、第１
光フィルタ及び第２シンチレータを順次積層して得たシ
ンチレーション光発光部と、このシンチレーション光発
光部で生じたシンチレーション光を第２シンチレータの
第１光フィルタに接触しない側の面としてのシンチレー
ション光出射面に接触させた第２光フィルタを介して受
光する第１光電変換器と、前記第２光フィルタと、前記
シンチレーション光をシンチレーション光出射面を介し
て直接受光する第２光電変換器と、両光電変換器の各出
力信号が入力される非同時回路とを備え、この非同時回
路の出力信号と第１光電変換器の出力信号とによって第
１シンチレータの第１光フィルタに接触しない側の面か
らシンチレーション光発光部に入射する二種類の放射線
の測定を行う放射線測定装置であって、前記両光フィル
タは同じ透過特性を有するバンドパス光フィルタであ
り、かつ第２シンチレータは前記放射線が入射すると両
光フィルタの光透過波長帯域とは異なる波長帯域の前記
シンチレーション光を発光するシンチレータであるよう
に放射線測定装置を構成し、また、 ３）上記１）項に記載の放射線測定装置において、両シ
ンチレータをふっ化バリウム（ＢａＦ2 ）製とし、かつ
第１および第２光フィルタの光透過波長帯域の中心波長
と第３光フィルタの光透過波長帯域の中心波長とを、前
記ふっ化バリウムに放射線が入射した時このふっ化バリ
ウム内に生じるシンチレーション光の強度の分光スペク
トラムにおける異なる二個のピーク波長のそれぞれに一
致させて放射線測定装置を構成し、また、 ４）上記１）項乃至上記３）項のいずれかに記載の放射
線測定装置において、二種類の放射線をβ線とγ線とし
て放射線測定装置を構成した。
【０００９】このため、上記のように構成すると、いず
れの放射線測定装置の場合にも、両光電変換器の各受光
面を第２及び第３光フィルタのそれぞれを介してあるい
は第２光電変換器の受光面を第３光フィルタを介するこ
となく直接シンチレーション光発光部のシンチレーショ
ン光出射面に対向させることができるので、シンチレー
ション光発光部におけるシンチレーション光の発生位置
から両光電変換器の各受光面に至るそれぞれの距離がシ
ンチレーション光発光部の放射線入射面における放射線
入射位置によらずほぼ一様となって、したがって、上記
両受光面のそれぞれの利用効率がよくかつ上記放射線入
射面における放射線検出感度分布がほぼ一様な放射線測
定装置が得られることになる。故に、本発明には両放射
線の測定に手間がかからないので、両放射線が半減期の
短い放射線である場合放射線測定の精度が向上する効果
があり、また、シンチレーション光発光部の放射線入射
面における放射線検出感度分布が一様であるのでこうい
う理由によっても放射線測定の精度が向上する効果があ
る。
れの放射線測定装置の場合にも、両光電変換器の各受光
面を第２及び第３光フィルタのそれぞれを介してあるい
は第２光電変換器の受光面を第３光フィルタを介するこ
となく直接シンチレーション光発光部のシンチレーショ
ン光出射面に対向させることができるので、シンチレー
ション光発光部におけるシンチレーション光の発生位置
から両光電変換器の各受光面に至るそれぞれの距離がシ
ンチレーション光発光部の放射線入射面における放射線
入射位置によらずほぼ一様となって、したがって、上記
両受光面のそれぞれの利用効率がよくかつ上記放射線入
射面における放射線検出感度分布がほぼ一様な放射線測
定装置が得られることになる。故に、本発明には両放射
線の測定に手間がかからないので、両放射線が半減期の
短い放射線である場合放射線測定の精度が向上する効果
があり、また、シンチレーション光発光部の放射線入射
面における放射線検出感度分布が一様であるのでこうい
う理由によっても放射線測定の精度が向上する効果があ
る。
【図１】本発明の一実施例の構成図
【図２】図１に示した実施例における要部の特性説明図
【図３】図１に実施例を示した本発明とは別の本発明の
一実施例の構成図
一実施例の構成図
【図４】図３に示した実施例における要部の特性説明図
【図５】従来の放射線測定装置の構成図
【図６】図５に示した放射線測定装置とは別の従来の放
射線測定装置の構成図
射線測定装置の構成図
１ β線 ２ γ線 ９ 第１シンチレータ １０ 第２シンチレータ １０ａ シンチレーション光出射面 １１ 第１光電変換器 １２ 第２光電変換器 １３ 非同時回路 １４ 第１光フィルタ １５ シンチレーション光発光部 １６ 第２光フィルタ １７ 第３光フィルタ ２０ シンチレーション光の強度の分光スペクトラム ２１ 放射線測定装置 ２２ 放射線測定装置 ２３ 第２シンチレータ ２３ａ シンチレーション光出射面 ２４ シンチレーション光の強度の分光スペクトラム ２５ シンチレーション光発光部
Claims (4)
- 【請求項１】いずれも板状に形成された第１シンチレー
タ、第１光フィルタ及び第２シンチレータを順次積層し
て得たシンチレーション光発光部と、前記シンチレーシ
ョン光発光部で生じたシンチレーション光を前記第２シ
ンチレータの前記第１光フィルタに接触しない側の面と
してのシンチレーション光出射面に接触させた第２光フ
ィルタを介して受光する第１光電変換器と、前記第２光
フィルタと、前記シンチレーション光を前記第２シンチ
レータの前記シンチレーション光出射面に接触させた第
３光フィルタを介して受光する第２光電変換器と、前記
第３光フィルタと、前記両光電変換器の各出力信号が入
力される非同時回路とを備え、この非同時回路の出力信
号と前記第２光電変換器の出力信号とによって前記第１
シンチレータの前記第１光フィルタに接触しない側の面
から前記シンチレーション光発光部に入射する二種類の
放射線の測定を行う放射線測定装置であって、前記両シ
ンチレータは同じ材料製であり、かつ前記第１及び第２
光フィルタは同じ光透過特性を有するバンドパス光フィ
ルタであり、かつ前記第３光フィルタは前記第１及び第
２光フィルタの光透過波長帯域とは異なる波長帯域の光
を透過させるバンドパス光フィルタでであることを特徴
とする放射線測定装置。 - 【請求項２】いずれも板状に形成された第１シンチレー
タ、第１光フィルタ及び第２シンチレータを順次積層し
て得たシンチレーション光発光部と、前記シンチレーシ
ョン光発光部で生じたシンチレーション光を前記第２シ
ンチレータの前記第１光フィルタに接触しない側の面と
してのシンチレーション光出射面に接触させた第２光フ
ィルタを介して受光する第１光電変換器と、前記第２光
フィルタと、前記シンチレーション光を前記シンチレー
ション光出射面を介して直接受光する第２光電変換器
と、前記両光電変換器の各出力信号が入力される非同時
回路とを備え、この非同時回路の出力信号と前記第１光
電変換器の出力信号とによって前記第１シンチレータの
前記第１光フィルタに接触しない側の面から前記シンチ
レーション光発光部に入射する二種類の放射線の測定を
行う放射線測定装置であって、前記両光フィルタは同じ
光透過特性を有するバンドパス光フィルタであり、かつ
前記第２シンチレータは前記放射線が入射すると前記両
光フィルタの光透過波長帯域とは異なる波長帯域の前記
シンチレーション光を発光するシンチレータであること
を特徴とする放射線測定装置。 - 【請求項３】請求項１に記載の放射線測定装置におい
て、両シンチレータをふっ化バリウム（ＢａＦ2 ）製と
し、かつ第１および第２光フィルタの光透過波長帯域の
中心波長と第３光フィルタの光透過波長帯域の中心波長
とを、前記ふっ化バリウムに放射線が入射した時このふ
っ化バリウム内に生じるシンチレーション光の強度の分
光スペクトラムにおける異なる二個のピーク波長のそれ
ぞれに一致させたことを特徴とする放射線測定装置。 - 【請求項４】請求項１乃至請求項３のいずれかに記載の
放射線測定装置において、二種類の放射線をβ線とγ線
としたことを特徴とする放射線測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24813191A JPH0587935A (ja) | 1991-09-27 | 1991-09-27 | 放射線測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24813191A JPH0587935A (ja) | 1991-09-27 | 1991-09-27 | 放射線測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0587935A true JPH0587935A (ja) | 1993-04-09 |
Family
ID=17173693
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24813191A Pending JPH0587935A (ja) | 1991-09-27 | 1991-09-27 | 放射線測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0587935A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009264985A (ja) * | 2008-04-25 | 2009-11-12 | Nara Institute Of Science & Technology | 放射線検出器 |
| WO2013080104A3 (en) * | 2011-12-02 | 2013-08-08 | Koninklijke Philips N.V. | Detection apparatus comprising two scintillators for detecting x-ray radiation |
| JP2013174474A (ja) * | 2012-02-24 | 2013-09-05 | Tokuyama Corp | 放射線検出器 |
| KR101352143B1 (ko) * | 2012-03-16 | 2014-01-24 | 마루엘에스아이 주식회사 | 방사선 검출기 및 방사선 검출방법 |
| CN108535758A (zh) * | 2017-03-06 | 2018-09-14 | 中国辐射防护研究院 | 一种可测量β能谱和定向剂量当量率的叠层闪烁探测器 |
| GB2560552A (en) * | 2017-03-15 | 2018-09-19 | Smiths Heimann Sas | Method and apparatus |
-
1991
- 1991-09-27 JP JP24813191A patent/JPH0587935A/ja active Pending
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009264985A (ja) * | 2008-04-25 | 2009-11-12 | Nara Institute Of Science & Technology | 放射線検出器 |
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| CN103959097A (zh) * | 2011-12-02 | 2014-07-30 | 皇家飞利浦有限公司 | 包括用于探测x射线辐射的两个闪烁体的探测装置 |
| JP2015504521A (ja) * | 2011-12-02 | 2015-02-12 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ | 放射線を検出する検出装置 |
| US9423514B2 (en) | 2011-12-02 | 2016-08-23 | Koninklijke Philips N.V. | Detection apparatus comprising two scintillators for detecting X-ray radiation |
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| CN108535758B (zh) * | 2017-03-06 | 2023-09-15 | 中国辐射防护研究院 | 一种脉冲形状甄别算法 |
| GB2560552A (en) * | 2017-03-15 | 2018-09-19 | Smiths Heimann Sas | Method and apparatus |
| GB2560552B (en) * | 2017-03-15 | 2020-09-09 | Smiths Heimann Sas | Method and apparatus |
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