JPH05872Y2 - - Google Patents
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- JPH05872Y2 JPH05872Y2 JP1983022806U JP2280683U JPH05872Y2 JP H05872 Y2 JPH05872 Y2 JP H05872Y2 JP 1983022806 U JP1983022806 U JP 1983022806U JP 2280683 U JP2280683 U JP 2280683U JP H05872 Y2 JPH05872 Y2 JP H05872Y2
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- printed wiring
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- wiring board
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 71
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 7
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 4
- 239000003550 marker Substances 0.000 description 6
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 3
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 1
- 239000011295 pitch Substances 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
この考案は、プリント配線基板の断混線試験装
置、特に同一の単位回路パターンを多数印刷して
成るプリント配線基板の断混線試験に適した断混
線試験装置に関するものである。
置、特に同一の単位回路パターンを多数印刷して
成るプリント配線基板の断混線試験に適した断混
線試験装置に関するものである。
プリント配線基板の断混線を試験する基本的な
方法は、プリント配線の各端子部に試験ピンを挿
入接触させ、この試験ピンを介して当該プリント
回路の導通試験を行なうように構成される。
方法は、プリント配線の各端子部に試験ピンを挿
入接触させ、この試験ピンを介して当該プリント
回路の導通試験を行なうように構成される。
プリント配線基板が同一印刷パタンのプリント
配線部の複数個を含む場合の従来の試験装置の一
例を第１図について説明する。試験すべきプリン
ト配線基板２が同一の印刷パタンを有する複数の
単位回路パターンP1，P2，…Poを含む場合には、
この基板２を定位置に位置決めするための合わせ
ピン１１とガイドピン１２が上面に穿設された試
験台板１上に載置し、前記単位回路パターン群の
各端子部２１に対応した位置にそれぞれ試験ピン
３２Ａ，３２Ｂ，３２Ｃ，３２Ｄの設けられたピ
ン台板３をガイドピン１２に係合するガイド孔３
１を利用して試験台板１と平行状態に下降させて
これらの試験ピン３２Ａ，３２Ｂ，…を各端子部
２１のすべてに対して同時に接触させ、この試験
ピン３２Ａ，３２Ｂ，…を介してこのプリント回
路の導通試験を行なうものである。
配線部の複数個を含む場合の従来の試験装置の一
例を第１図について説明する。試験すべきプリン
ト配線基板２が同一の印刷パタンを有する複数の
単位回路パターンP1，P2，…Poを含む場合には、
この基板２を定位置に位置決めするための合わせ
ピン１１とガイドピン１２が上面に穿設された試
験台板１上に載置し、前記単位回路パターン群の
各端子部２１に対応した位置にそれぞれ試験ピン
３２Ａ，３２Ｂ，３２Ｃ，３２Ｄの設けられたピ
ン台板３をガイドピン１２に係合するガイド孔３
１を利用して試験台板１と平行状態に下降させて
これらの試験ピン３２Ａ，３２Ｂ，…を各端子部
２１のすべてに対して同時に接触させ、この試験
ピン３２Ａ，３２Ｂ，…を介してこのプリント回
路の導通試験を行なうものである。
したがつて、プリント配線基板に含まれる同一
単位回路パターンの数ｎが多いときは単一の回路
パターンに対応する試験ピンの組３２も数多いｎ
組必要になつて、加工も煩雑となり、また試験台
板１もピン台板３もそれだけ横拡がりの大きい大
面積のものが必要になるわけであるから、これら
両台板１，３の平行度も出にくく、また両者の近
傍および離隔方向の案内運動も円滑さを欠くなど
の欠点がある。
単位回路パターンの数ｎが多いときは単一の回路
パターンに対応する試験ピンの組３２も数多いｎ
組必要になつて、加工も煩雑となり、また試験台
板１もピン台板３もそれだけ横拡がりの大きい大
面積のものが必要になるわけであるから、これら
両台板１，３の平行度も出にくく、また両者の近
傍および離隔方向の案内運動も円滑さを欠くなど
の欠点がある。
この考案はこのような従来の欠点を排除するた
めになされたものであつて、一つの単位回路パタ
ーンに対応した試験ピンを備えた試験台を床面に
対して定位置で繰り返して往復移動させて、多数
の単位回路パターンを印刷して成るプリント配線
基板の断混線を簡単に検査しうる装置を提供する
ことを目的とする。
めになされたものであつて、一つの単位回路パタ
ーンに対応した試験ピンを備えた試験台を床面に
対して定位置で繰り返して往復移動させて、多数
の単位回路パターンを印刷して成るプリント配線
基板の断混線を簡単に検査しうる装置を提供する
ことを目的とする。
つぎにこの考案を図示の例によつて詳細に説明
する。
する。
第２図はこの考案の一例をしめすものであつ
て、同一の印刷パタンを持つ単位回路パターン
P1，P2，…を含むプリント配線基板２は試験台
板４上の定位置に載置される。載置位置を一定に
するために試験台板４上に位置ぎめ用の合わせピ
ン４１を突設し、プリント配線基板２にもその隅
の一定位置にこの合わせピン４１に係合する孔を
穿設する。
て、同一の印刷パタンを持つ単位回路パターン
P1，P2，…を含むプリント配線基板２は試験台
板４上の定位置に載置される。載置位置を一定に
するために試験台板４上に位置ぎめ用の合わせピ
ン４１を突設し、プリント配線基板２にもその隅
の一定位置にこの合わせピン４１に係合する孔を
穿設する。
試験台板４の下部には直交する２方向に延びる
ピツチの比較的小さい送りねじ５１、同６１を係
合させ、それぞれの送りねじ５１，６１にはこれ
を回転駆動させるパルスモータを取りつける。こ
れがすなわち試験台板４をその平面のｘ，ｙ両軸
方向に移動させるためのｘ軸駆動装置５およびｙ
軸駆動装置６である。各軸方向の駆動装置として
はこの例のパルスモータと送りねじとの組み合わ
せに限らないが、送り量を精密に制御できるもの
でなければならない。
ピツチの比較的小さい送りねじ５１、同６１を係
合させ、それぞれの送りねじ５１，６１にはこれ
を回転駆動させるパルスモータを取りつける。こ
れがすなわち試験台板４をその平面のｘ，ｙ両軸
方向に移動させるためのｘ軸駆動装置５およびｙ
軸駆動装置６である。各軸方向の駆動装置として
はこの例のパルスモータと送りねじとの組み合わ
せに限らないが、送り量を精密に制御できるもの
でなければならない。
試験台板４の上方には少くとも１個の単位回路
パターンを試験するに必要な試験ピン７１を備え
たピン台板７を試験台板４と平行に設け、試験台
板４に近傍または離隔する方向に動かすための、
たとえば流体圧シリンダのようなピン台板駆動装
置７２を取りつける。
パターンを試験するに必要な試験ピン７１を備え
たピン台板７を試験台板４と平行に設け、試験台
板４に近傍または離隔する方向に動かすための、
たとえば流体圧シリンダのようなピン台板駆動装
置７２を取りつける。
さらに試験の結果不良となつたプリント配線部
にマークをつけるための適宜のマーカ８が、これ
を突出および退去させるための、たとえば流体圧
シリンダのようなマーカ作動装置８１を介して設
けられる。
にマークをつけるための適宜のマーカ８が、これ
を突出および退去させるための、たとえば流体圧
シリンダのようなマーカ作動装置８１を介して設
けられる。
この実施例ではマーカ８はピン台板７に併設さ
れているが、もちろんこれに限らず別途に取りつ
けてもよい。
れているが、もちろんこれに限らず別途に取りつ
けてもよい。
試験すべきプリント配線基板２を試験台板４上
に移し、またここから運び去るための装置が別に
設けられる。第２図に符号９で示したものはこの
ための吸盤であつて、吸盤９は流体圧シリンダ９
１によつて試験台板４の表面に垂直な方向に昇降
し、またアーム９２によつて回動あるいは進退運
動を与えられ、試験すべきプリント配線基板２
の、この試験装置へのセツトおよび取外しを行な
うのである。
に移し、またここから運び去るための装置が別に
設けられる。第２図に符号９で示したものはこの
ための吸盤であつて、吸盤９は流体圧シリンダ９
１によつて試験台板４の表面に垂直な方向に昇降
し、またアーム９２によつて回動あるいは進退運
動を与えられ、試験すべきプリント配線基板２
の、この試験装置へのセツトおよび取外しを行な
うのである。
次にこの考案の試験装置の作用について説明す
る。まず試験ピン７１をプリント回路の端子部２
１に接触させて行なう導通試験については従来装
置と全く同様なので説明を省略する。
る。まず試験ピン７１をプリント回路の端子部２
１に接触させて行なう導通試験については従来装
置と全く同様なので説明を省略する。
試験すべきプリント配線基板２は吸盤９、ある
いは作業者の手によつて試験台板４上の所定位置
に載置される。このときピン台板７はプリント配
線基板２の一番端の単位回路パターンP1の直上
にあるように設定する。次にピン台板駆動装置７
２を駆動させてピン台板７を下降させ、既述のよ
うに従来と同一のやり方ではじめのプリント配線
部P1について導通試験を行なう。この導通試験
に合格ならば次に移るが、もし断混線が存在して
不合格ならば前記試験ピンからの信号によつてマ
ーカ作動装置８１に指令されてマーカ８が作動
し、不合格と判定されたプリント配線部P1上に
適宜のマークがつけられる。
いは作業者の手によつて試験台板４上の所定位置
に載置される。このときピン台板７はプリント配
線基板２の一番端の単位回路パターンP1の直上
にあるように設定する。次にピン台板駆動装置７
２を駆動させてピン台板７を下降させ、既述のよ
うに従来と同一のやり方ではじめのプリント配線
部P1について導通試験を行なう。この導通試験
に合格ならば次に移るが、もし断混線が存在して
不合格ならば前記試験ピンからの信号によつてマ
ーカ作動装置８１に指令されてマーカ８が作動
し、不合格と判定されたプリント配線部P1上に
適宜のマークがつけられる。
次にひとつの単位回路パターンP1の導通試験
が終了してピン台板７が上昇すると、ｘ軸駆動装
置５が作動して試験台板４が正確にプリント配線
部１個分の横幅だけ移動し、次の単位回路パター
ンP2がピン台板７の直下にきて試験ピン７１に
対向する。こうして再びピン台板７が下降して単
位回路パターンP2の導通試験が実施される。
が終了してピン台板７が上昇すると、ｘ軸駆動装
置５が作動して試験台板４が正確にプリント配線
部１個分の横幅だけ移動し、次の単位回路パター
ンP2がピン台板７の直下にきて試験ピン７１に
対向する。こうして再びピン台板７が下降して単
位回路パターンP2の導通試験が実施される。
このようにして試験台板４をｘ軸およびｙ軸方
向に移動して順次各単位回路パターンの導通試験
を行なう。たとえばプリント配線基板２が４×４
＝16個の単位回路パターンを含むとすれば、上述
のようにまずｘ軸方向に移動して試験を進めると
して、ｘ軸駆動装置５を正、負方向を含めて12
回、ｙ軸駆動装置６を３回作動させて試験台板４
を移動させることによつて全プリント配線部P1，
P2，…P16の挿通試験が完了するわけである。な
おこの例で、ピン台板７にプリント配線部の横並
び２個分の試験ピンを突設しておき、横並び２個
分のプリント配線部P1，P2を１度に試験するや
り方とすれば、試験台板４の移動回数はｘ軸方向
に４回、ｙ軸方向に３回となる。
向に移動して順次各単位回路パターンの導通試験
を行なう。たとえばプリント配線基板２が４×４
＝16個の単位回路パターンを含むとすれば、上述
のようにまずｘ軸方向に移動して試験を進めると
して、ｘ軸駆動装置５を正、負方向を含めて12
回、ｙ軸駆動装置６を３回作動させて試験台板４
を移動させることによつて全プリント配線部P1，
P2，…P16の挿通試験が完了するわけである。な
おこの例で、ピン台板７にプリント配線部の横並
び２個分の試験ピンを突設しておき、横並び２個
分のプリント配線部P1，P2を１度に試験するや
り方とすれば、試験台板４の移動回数はｘ軸方向
に４回、ｙ軸方向に３回となる。
以上詳述したようにこの考案によれば、同一の
単位回路パターンが一枚のシートに多数にわたつ
て印刷されて成るプリント配線基板の断混線試験
装置であつて、該プリント配線基板の隅部に穿設
した位置合わせ孔に係合してその位置決めをする
ための位置合わせピン４１を備えた試験台板４
と、この試験台板４をｘ，ｙ両方向に駆動させる
ｘ軸駆動装置５およびｙ軸駆動装置６と、前記試
験台板４上に載置されるプリント配線板がｘ方向
またはＹ方向に一単位移動するごとに、単位回路
パターンの各端子部に対応して試験ピン７１、…
…の植設された断混線検出ピン台板７が床面に対
して固定された位置で下降および上昇を行い、該
各単位回路パターンに接触および離隔を繰り返す
断混線検出ピン台板駆動装置７２と、前記断混線
検出ピン台板７の近傍に配置され、前記試験ピン
７１、……によつて検出された単位回路パターン
の断混線信号によつて当該単位回路パターンの表
面に不良標識を付記する不良標識表示装置８１と
を具備するように構成されるので、一つの単位回
路パターンにのみ対応した試験ピンを備えた断混
線検出ピン台板を往復移動させるだけで多数の単
位回路パターン群を有する面積の大きなプリント
配線板を効率よく検査することができる。このた
め断混線検出ピン台板のサイズを小さくすること
ができ、したがつて複雑な多数の試験ピンの植設
作業が不要となり、また不良箇所に標識が自動的
に付記されるので各単位回路パターンごとに切り
離し、製品として出荷する際に不良製品を判別す
ることが容易になる等効果がある。
単位回路パターンが一枚のシートに多数にわたつ
て印刷されて成るプリント配線基板の断混線試験
装置であつて、該プリント配線基板の隅部に穿設
した位置合わせ孔に係合してその位置決めをする
ための位置合わせピン４１を備えた試験台板４
と、この試験台板４をｘ，ｙ両方向に駆動させる
ｘ軸駆動装置５およびｙ軸駆動装置６と、前記試
験台板４上に載置されるプリント配線板がｘ方向
またはＹ方向に一単位移動するごとに、単位回路
パターンの各端子部に対応して試験ピン７１、…
…の植設された断混線検出ピン台板７が床面に対
して固定された位置で下降および上昇を行い、該
各単位回路パターンに接触および離隔を繰り返す
断混線検出ピン台板駆動装置７２と、前記断混線
検出ピン台板７の近傍に配置され、前記試験ピン
７１、……によつて検出された単位回路パターン
の断混線信号によつて当該単位回路パターンの表
面に不良標識を付記する不良標識表示装置８１と
を具備するように構成されるので、一つの単位回
路パターンにのみ対応した試験ピンを備えた断混
線検出ピン台板を往復移動させるだけで多数の単
位回路パターン群を有する面積の大きなプリント
配線板を効率よく検査することができる。このた
め断混線検出ピン台板のサイズを小さくすること
ができ、したがつて複雑な多数の試験ピンの植設
作業が不要となり、また不良箇所に標識が自動的
に付記されるので各単位回路パターンごとに切り
離し、製品として出荷する際に不良製品を判別す
ることが容易になる等効果がある。
第１図は従来技術の一例を示す斜視図、第２図
はこの考案の一実施例を示す斜視図である。 P1，P2……プリント配線部、２……プリント
配線板、４……試験台板、５……ｘ軸駆動装置、
６……ｙ軸駆動装置、７……ピン台板、７１……
試験ピン、７２……断混線検出ピン台板駆動装
置。
はこの考案の一実施例を示す斜視図である。 P1，P2……プリント配線部、２……プリント
配線板、４……試験台板、５……ｘ軸駆動装置、
６……ｙ軸駆動装置、７……ピン台板、７１……
試験ピン、７２……断混線検出ピン台板駆動装
置。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (イ) 同一の単位回路パターンが一枚のシートに多
数にわたつて印刷されて成るプリント配線基板
の断混線試験装置であつて、該プリント配線基
板の隅部に穿設した位置合わせ孔に係合してそ
の位置決めをするための位置合わせピン４１を
備えた試験台板４と、 (ロ) この試験台板４をｘ，ｙ両方向に駆動させる
ｘ軸駆動装置５およびｙ軸駆動装置６と、 (ハ) 前記試験台板４上に載置されるプリント配線
板がｘ方向またはＹ方向に一単位移動するごと
に、単位回路パターンの各端子部に対応して試
験ピン７１、……の植設された断混線検出ピン
台板７が床面に対して固定された位置で下降お
よび上昇を行い、該各単位回路パターンに接触
および離隔を繰り返す断混線検出ピン台板駆動
装置７２と、 (ニ) 前記断混線検出ピン台板７の近傍に配置さ
れ、前記試験ピン７１、……によつて検出され
た単位回路パターンの断混線信号によつて当該
単位回路パターンの表面に不良標識を付記する
不良標識表示装置８１とを具備することを特徴
とする同一の単位回路パターンが一枚のシート
に多数にわたつて印刷されて成るプリント配線
基板の断混線試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2280683U JPS59128577U (ja) | 1983-02-18 | 1983-02-18 | プリント配線基板の断混線試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2280683U JPS59128577U (ja) | 1983-02-18 | 1983-02-18 | プリント配線基板の断混線試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59128577U JPS59128577U (ja) | 1984-08-29 |
| JPH05872Y2 true JPH05872Y2 (ja) | 1993-01-11 |
Family
ID=30153899
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2280683U Granted JPS59128577U (ja) | 1983-02-18 | 1983-02-18 | プリント配線基板の断混線試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59128577U (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1994000404A1 (en) * | 1992-06-24 | 1994-01-06 | Cosmo Enterprise Co., Ltd. | Organic substance liquefying apparatus |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01260591A (ja) * | 1988-04-11 | 1989-10-17 | Toshiba Corp | 紙葉類処理装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS533848A (en) * | 1976-06-30 | 1978-01-13 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Automatic position measurement device |
| JPS5367878A (en) * | 1976-11-29 | 1978-06-16 | Fujitsu Ltd | Device for inspecting electrode |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53118056U (ja) * | 1977-02-28 | 1978-09-20 | ||
| JPS54176860U (ja) * | 1978-06-01 | 1979-12-13 |
-
1983
- 1983-02-18 JP JP2280683U patent/JPS59128577U/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS533848A (en) * | 1976-06-30 | 1978-01-13 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Automatic position measurement device |
| JPS5367878A (en) * | 1976-11-29 | 1978-06-16 | Fujitsu Ltd | Device for inspecting electrode |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1994000404A1 (en) * | 1992-06-24 | 1994-01-06 | Cosmo Enterprise Co., Ltd. | Organic substance liquefying apparatus |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59128577U (ja) | 1984-08-29 |
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