JPH0568672B2 - - Google Patents
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- JPH0568672B2 JPH0568672B2 JP15551184A JP15551184A JPH0568672B2 JP H0568672 B2 JPH0568672 B2 JP H0568672B2 JP 15551184 A JP15551184 A JP 15551184A JP 15551184 A JP15551184 A JP 15551184A JP H0568672 B2 JPH0568672 B2 JP H0568672B2
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- pulse
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- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 14
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 12
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 7
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
「産業上の利用分野」
本発明は、パイルアツプが原因で正確な波高値
情報を得ることのできないパルスを、測定対象か
ら除去するためのパイルアツプリジエクタに関す
る。
情報を得ることのできないパルスを、測定対象か
ら除去するためのパイルアツプリジエクタに関す
る。
「従来の技術」
放射線のエネルギのスペクトルを測定する放射
線スペクトロスコピイの分野では、放射線検出器
から出力されたパルスを整形した後、そのエネル
ギに応じた波高値を測定することが行われてい
る。
線スペクトロスコピイの分野では、放射線検出器
から出力されたパルスを整形した後、そのエネル
ギに応じた波高値を測定することが行われてい
る。
第7図aは、放射線検出器から出力されリニア
アンプに供給される各種のパルスP1,P2,P
3を表わしている。例えばガウシアン波形整形回
路を備えたリニアアンプではこのパルス波形を積
分してガウス波形G1,G2,G3に整形する
(同図b)。同図a,bの間のピークのずれ△は整
形時定数によるものである。
アンプに供給される各種のパルスP1,P2,P
3を表わしている。例えばガウシアン波形整形回
路を備えたリニアアンプではこのパルス波形を積
分してガウス波形G1,G2,G3に整形する
(同図b)。同図a,bの間のピークのずれ△は整
形時定数によるものである。
ところでガウス波形G1,G2の各波高値は、
それぞれパルスP1,P2に対応した放射線のエ
ネルギに比例しており、図示しないADコンバー
タによつてエネルギ情報に変換することができ
る。ところがガウス波形G3については、対応す
るパルスP3がパルスP2にパイルアツプしてい
るため、波高値情報が過大となつている。このよ
うにパイルアツプによつて正確な波高値情報を得
ることのできないパルスは、測定対象から除去し
なければならない。
それぞれパルスP1,P2に対応した放射線のエ
ネルギに比例しており、図示しないADコンバー
タによつてエネルギ情報に変換することができ
る。ところがガウス波形G3については、対応す
るパルスP3がパルスP2にパイルアツプしてい
るため、波高値情報が過大となつている。このよ
うにパイルアツプによつて正確な波高値情報を得
ることのできないパルスは、測定対象から除去し
なければならない。
第8図は従来用いられたこのためのパイルアツ
プリジエクタの原理の一つを説明するためのもの
である。同図aに示すようにパルスP4とパルス
P5が近接して発生し、パイルアツプが生じたと
する。従来では第7図bに示した波形整形を行つ
た後、リニアアンプ内に付加したピークホールド
回路(ストレツチヤ)を用いて波高値情報をホー
ルドさせていた(第8図b)。そしてピークを検
出したときはゲートパルス(同図c実線)を出力
させてADコンバータにホールドされた波高値情
報を供給する一方、ピークが検出されてから所定
期間内に更にピークが検出されたときにはゲート
パルス(同図c破線)の出力を行わず、パイルア
ツプの生じた波高値情報をADコンバータの手前
でリジエクト(reject)していた。もう一つの方
法として、パイルアツプ情報をADコンバータに
デイジタル的に入力し変換結果をメモリにストア
させない方法またはデイジタル的にAD変換をイ
ンヒビツトする方法がある。
プリジエクタの原理の一つを説明するためのもの
である。同図aに示すようにパルスP4とパルス
P5が近接して発生し、パイルアツプが生じたと
する。従来では第7図bに示した波形整形を行つ
た後、リニアアンプ内に付加したピークホールド
回路(ストレツチヤ)を用いて波高値情報をホー
ルドさせていた(第8図b)。そしてピークを検
出したときはゲートパルス(同図c実線)を出力
させてADコンバータにホールドされた波高値情
報を供給する一方、ピークが検出されてから所定
期間内に更にピークが検出されたときにはゲート
パルス(同図c破線)の出力を行わず、パイルア
ツプの生じた波高値情報をADコンバータの手前
でリジエクト(reject)していた。もう一つの方
法として、パイルアツプ情報をADコンバータに
デイジタル的に入力し変換結果をメモリにストア
させない方法またはデイジタル的にAD変換をイ
ンヒビツトする方法がある。
「発明が解決しようとする問題点」
ところが前者に対してはADコンバータは本来
ピークホールド回路を内蔵しているものであり、
これをリニアアンプに付加させることは同一機能
を重複させたことになる。従つて測定精度や対雑
音性並びに測定装置の安定性を十分向上させるこ
とができない。
ピークホールド回路を内蔵しているものであり、
これをリニアアンプに付加させることは同一機能
を重複させたことになる。従つて測定精度や対雑
音性並びに測定装置の安定性を十分向上させるこ
とができない。
後者に対してはADコンバータのデイジタル回
路に依然し、特定のリニアアンプとADコンバー
タの組み合わせでなければ使えない。
路に依然し、特定のリニアアンプとADコンバー
タの組み合わせでなければ使えない。
本発明はこのような事情に鑑み、パイルアツプ
の生じている信号部分をゲートやデイジタルイン
ターフエースを用いることなく除去することので
きるパイルアツプリジエクタを提供することをそ
の目的とする。
の生じている信号部分をゲートやデイジタルイン
ターフエースを用いることなく除去することので
きるパイルアツプリジエクタを提供することをそ
の目的とする。
「問題点を解決するための手段」
本発明では第1図に原理的に示すように、パイ
ルアツプを検出するためのパイルアツプ検出手段
1と、パイルアツプが検出されたときから所定の
時間だけ入力信号2に対する出力信号3を所定の
基準信号レベルよりも高い信号レベルにまで引き
上げるレベル変換手段4をパイルアツプリジエク
タに具備させ、パイルアツプ部分をAD変換の際
に実質的に除去することとする。すなわちパイ
ルアツプされた信号部分をAD変換器のULD(ア
ツパー・レベル・デイスクリミネータ)レベルよ
りも高いレベルにまで持ち上げることにより、こ
れらの信号部分をAD変換対象外とする。また
AD変換を行つても、その結果が正常な入力信号
の信号レベルの最大値よりも高い値となるように
設定しておけば、この値を後段の回路部分で無視
することにより、同様な結果を得ることができ
る。しかもこの場合には、パイルアツプの出現率
を測定することも可能になる。
ルアツプを検出するためのパイルアツプ検出手段
1と、パイルアツプが検出されたときから所定の
時間だけ入力信号2に対する出力信号3を所定の
基準信号レベルよりも高い信号レベルにまで引き
上げるレベル変換手段4をパイルアツプリジエク
タに具備させ、パイルアツプ部分をAD変換の際
に実質的に除去することとする。すなわちパイ
ルアツプされた信号部分をAD変換器のULD(ア
ツパー・レベル・デイスクリミネータ)レベルよ
りも高いレベルにまで持ち上げることにより、こ
れらの信号部分をAD変換対象外とする。また
AD変換を行つても、その結果が正常な入力信号
の信号レベルの最大値よりも高い値となるように
設定しておけば、この値を後段の回路部分で無視
することにより、同様な結果を得ることができ
る。しかもこの場合には、パイルアツプの出現率
を測定することも可能になる。
「実施例」
以下実施例につき本発明を詳細に説明する。
第2図は本発明のパイルアツプリジエクタを使
用した放射線測定システム例を表わしたものであ
る。このシステムで検出器11は、線源12から
出る放射線を検出するたびにそのエネルギに比例
した波高値を有するパルス13を出力する。パル
ス13はプリアンプ14を経た後、パイルアツプ
リジエクタ15に供給される。
用した放射線測定システム例を表わしたものであ
る。このシステムで検出器11は、線源12から
出る放射線を検出するたびにそのエネルギに比例
した波高値を有するパルス13を出力する。パル
ス13はプリアンプ14を経た後、パイルアツプ
リジエクタ15に供給される。
パイルアツプリジエクタ15でその入力端子1
6に供給された入力信号17は、そのままリニア
アンプ18に入力されて増幅される他、信号検出
器19でパルスの到来が検出されるようになつて
いる。リトリガブルなシングルシヨツト回路21
は信号検出器19がパルスを検出するたびに所定
時間幅のパイルアツプ検出用パルス22を発生さ
せる。このパイルアツプ検出用パルス22は、例
えば整形後の単一のガウス波形G(第3図a)の
始端から終端までの時間幅の予想しうる最大値よ
りも長い時間幅T(同図b)に設定される。
6に供給された入力信号17は、そのままリニア
アンプ18に入力されて増幅される他、信号検出
器19でパルスの到来が検出されるようになつて
いる。リトリガブルなシングルシヨツト回路21
は信号検出器19がパルスを検出するたびに所定
時間幅のパイルアツプ検出用パルス22を発生さ
せる。このパイルアツプ検出用パルス22は、例
えば整形後の単一のガウス波形G(第3図a)の
始端から終端までの時間幅の予想しうる最大値よ
りも長い時間幅T(同図b)に設定される。
パルス発生器23は、シングルシヨツト回路2
1からパイルアツプ検出用パルス22が出力され
ている間に信号検出器19が次のパルスを検出す
ると、パイルアツプが発生したものとしてリジエ
クト用パルス24を出力する。ただしこのリジエ
クト用パルス24は波形整形方式に合わせて最適
な形状の波形を使用することができ、図に示すよ
うな方形波である必要はない。このリジエクト用
パルス24はリニアアンプ18に供給され、この
パルス24の存在している間、出力側の信号レベ
ルはADコンバータ26の変換上限領域(ULD)
よりも上の値に引き上げられる。
1からパイルアツプ検出用パルス22が出力され
ている間に信号検出器19が次のパルスを検出す
ると、パイルアツプが発生したものとしてリジエ
クト用パルス24を出力する。ただしこのリジエ
クト用パルス24は波形整形方式に合わせて最適
な形状の波形を使用することができ、図に示すよ
うな方形波である必要はない。このリジエクト用
パルス24はリニアアンプ18に供給され、この
パルス24の存在している間、出力側の信号レベ
ルはADコンバータ26の変換上限領域(ULD)
よりも上の値に引き上げられる。
このような信号処理を第4図と共に説明する。
パイルアツプリジエクタの入力端子16に入力信
号17として第4図aに示すようなパルスP4,
P5が入力されたものとする。アンプ18は最初
のパルスP4を整形し、ガウス波形G4の出力信
号28(第4図b)として出力端子29へ送出す
る。一方、信号検出器19はパルスP4の到来を
検出し、シングルシヨツト回路21の出力端子Q
からはこれと共にパイルアツプ検出用パルス22
(第4図c)が出力される。このパイルアツプ検
出用パルス22が出力されている時間中に信号検
出器19は次のパルスP5を検出し、検出出力を
パルス発生器23に供給する。パルス発生器23
はこれによりパイルアツプを検出し、リジエクト
用パルス24を発生させる。またリトリガブルな
シングルシヨツト回路21はこの時点から新たに
時間幅Tだけパイルアツプ検出用パルス22を延
長させる。
パイルアツプリジエクタの入力端子16に入力信
号17として第4図aに示すようなパルスP4,
P5が入力されたものとする。アンプ18は最初
のパルスP4を整形し、ガウス波形G4の出力信
号28(第4図b)として出力端子29へ送出す
る。一方、信号検出器19はパルスP4の到来を
検出し、シングルシヨツト回路21の出力端子Q
からはこれと共にパイルアツプ検出用パルス22
(第4図c)が出力される。このパイルアツプ検
出用パルス22が出力されている時間中に信号検
出器19は次のパルスP5を検出し、検出出力を
パルス発生器23に供給する。パルス発生器23
はこれによりパイルアツプを検出し、リジエクト
用パルス24を発生させる。またリトリガブルな
シングルシヨツト回路21はこの時点から新たに
時間幅Tだけパイルアツプ検出用パルス22を延
長させる。
さて、リジエクト用パルス24はリニアアンプ
18に供給され、その出力をADコンバータ26
のULDレベルよりも高い値に引き上げる(第4
図b)。先のパルスP4の場合、ADコンバータ
26は整形後のピークを検出するとその波高値を
デイジタル信号に変換し、メモリ31に書き込ん
でいる。パルスP5の場合にはリニアアンプ18
の出力レベルがULDレベルよりも高い。従つて
ADコンバータ26はその変換を行わず、メモリ
31への波高値情報(エネルギ情報)の書き込み
はない。
18に供給され、その出力をADコンバータ26
のULDレベルよりも高い値に引き上げる(第4
図b)。先のパルスP4の場合、ADコンバータ
26は整形後のピークを検出するとその波高値を
デイジタル信号に変換し、メモリ31に書き込ん
でいる。パルスP5の場合にはリニアアンプ18
の出力レベルがULDレベルよりも高い。従つて
ADコンバータ26はその変換を行わず、メモリ
31への波高値情報(エネルギ情報)の書き込み
はない。
リジエクト用パルス24が立ち下がると、整形
後のガウス波形G5のピークを越えた部分がAD
コンバータ26に入力される。この部分では信号
レベルが時間と共に減衰しているので、ADコン
バータ26はピーク値を検出することができず、
同様にデイジタル信号への変換を行わないことに
なる。この結果、パルスP5に対するエネルギ情
報の測定作業が完全にリジエクトされることにな
る。なおパイルアツプ検出用パルス22はパルス
5の存在によりその時間幅が延長されているの
で、この存続期間に新たなパルスが到来した場合
にはパイルアツプが生じたものと見做される。す
なわちこの場合にも同様にAD変換作業が拒絶さ
れることになる。
後のガウス波形G5のピークを越えた部分がAD
コンバータ26に入力される。この部分では信号
レベルが時間と共に減衰しているので、ADコン
バータ26はピーク値を検出することができず、
同様にデイジタル信号への変換を行わないことに
なる。この結果、パルスP5に対するエネルギ情
報の測定作業が完全にリジエクトされることにな
る。なおパイルアツプ検出用パルス22はパルス
5の存在によりその時間幅が延長されているの
で、この存続期間に新たなパルスが到来した場合
にはパイルアツプが生じたものと見做される。す
なわちこの場合にも同様にAD変換作業が拒絶さ
れることになる。
「変形例」
ところで以上説明した実施例ではパイルアツプ
されたパルスの測定を行わないために、パイルア
ツプの生じた信号をADコンバータ26のULDレ
ベルよりも高いレベルに引き上げたが、これに限
られるものではない。すなわちパイルアツプされ
ていない信号について予期される最も高い信号レ
ベルよりも高いレベルであれば、ULDレベルよ
りも低くて構わない。第5図は第4図に対応する
もので、ULDレベルよりも低いレベルにまで引
き上げた例を表わしたものである。
されたパルスの測定を行わないために、パイルア
ツプの生じた信号をADコンバータ26のULDレ
ベルよりも高いレベルに引き上げたが、これに限
られるものではない。すなわちパイルアツプされ
ていない信号について予期される最も高い信号レ
ベルよりも高いレベルであれば、ULDレベルよ
りも低くて構わない。第5図は第4図に対応する
もので、ULDレベルよりも低いレベルにまで引
き上げた例を表わしたものである。
この場合、パイルアツプの生じたパルスに対し
てもADコンバータ26はデイジタル信号への変
換を行うことになる。変換された波高情報はメモ
リ31に書き込まれるが、これはパイルアツプの
生じていないパルスについてのエネルギ情報とは
別個のリジエクト情報(パイルアツプの発生情
報)として利用することができる。第6図はこの
ような場合のメモリ31の記憶内容の一例を表わ
したものである。メモリ31には測定時間に関す
る情報やリジエクトされたパルスの情報が本来の
エネルギ情報と共にマルチチヤンネルで記憶され
ることになる。
てもADコンバータ26はデイジタル信号への変
換を行うことになる。変換された波高情報はメモ
リ31に書き込まれるが、これはパイルアツプの
生じていないパルスについてのエネルギ情報とは
別個のリジエクト情報(パイルアツプの発生情
報)として利用することができる。第6図はこの
ような場合のメモリ31の記憶内容の一例を表わ
したものである。メモリ31には測定時間に関す
る情報やリジエクトされたパルスの情報が本来の
エネルギ情報と共にマルチチヤンネルで記憶され
ることになる。
「発明の効果」
以上説明したように本発明によればパイルアツ
プを生じている信号を所定の信号レベルまで引き
上げて他の信号と区別するようにしたので、リ
ニアアンプの後段にピークホールド回路やサンプ
ルホールド回路を設ける必要がなく、またAD
コンバータに供給する信号をオン・オフ制御する
ための出力ゲート回路が不要となる。更に従来
のパイルアツプリジエクタに対してロジツクが簡
単になる他、パイルアツプの生じていないパル
スに対する加工を行わないので、測定精度、雑音
並びに回路の安定性で有利となる。またADコ
ンバータのデイジタル信号を使用しないので
ULDを備えたADコンバータならばどんなADコ
ンバータでも使用でき、更に変形例で説明したよ
うにパイルアツプを生じたパルスについてもそ
の発生を測定することが可能となり、パイルアツ
プによるパルスの数え落しを減少させることがで
きる。
プを生じている信号を所定の信号レベルまで引き
上げて他の信号と区別するようにしたので、リ
ニアアンプの後段にピークホールド回路やサンプ
ルホールド回路を設ける必要がなく、またAD
コンバータに供給する信号をオン・オフ制御する
ための出力ゲート回路が不要となる。更に従来
のパイルアツプリジエクタに対してロジツクが簡
単になる他、パイルアツプの生じていないパル
スに対する加工を行わないので、測定精度、雑音
並びに回路の安定性で有利となる。またADコ
ンバータのデイジタル信号を使用しないので
ULDを備えたADコンバータならばどんなADコ
ンバータでも使用でき、更に変形例で説明したよ
うにパイルアツプを生じたパルスについてもそ
の発生を測定することが可能となり、パイルアツ
プによるパルスの数え落しを減少させることがで
きる。
第1図は本発明の原理的構成を示すブロツク
図、第2図〜第4図は本発明の一実施例を示すも
ので、このうち第2図はパイルアツプリジエクタ
を使用した放射線測定システムのブロツク図、第
3図は整形後のパルスとパイルアツプ検出用パル
スの関係を示す各種波形図、第4図はパイルアツ
プリジエクタの各部の波形を示す波形図、第5図
はリニアアンプの出力信号の変形例を示す波形
図、第6図はこの変形例におけるメモリの構成を
示す説明図、第7図は各種パルスと整形後の波形
を示す各種波形図、第8図は従来のパイルアツプ
リジエクタの処理動作を説明するための各種波形
図である。 1……パイルアツプ検出手段、2……入力信
号、3……出力信号、4……レベル変換手段、1
8……リニアアンプ、19……信号検出器、23
……パルス発生器、26……ADコンバータ。
図、第2図〜第4図は本発明の一実施例を示すも
ので、このうち第2図はパイルアツプリジエクタ
を使用した放射線測定システムのブロツク図、第
3図は整形後のパルスとパイルアツプ検出用パル
スの関係を示す各種波形図、第4図はパイルアツ
プリジエクタの各部の波形を示す波形図、第5図
はリニアアンプの出力信号の変形例を示す波形
図、第6図はこの変形例におけるメモリの構成を
示す説明図、第7図は各種パルスと整形後の波形
を示す各種波形図、第8図は従来のパイルアツプ
リジエクタの処理動作を説明するための各種波形
図である。 1……パイルアツプ検出手段、2……入力信
号、3……出力信号、4……レベル変換手段、1
8……リニアアンプ、19……信号検出器、23
……パルス発生器、26……ADコンバータ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 パイルアツプを検出するためのパイルアツプ
検出手段と、パイルアツプが検出されたときから
所定の時間だけ入力信号を所定の基準信号レベル
よりも高い信号レベルにまで引き上げて出力させ
るレベル変換手段とを具備し、レベル変換手段の
信号レベル引き上げによつてパイルアツプを除去
することを特徴とするパイルアツプリジエクタ。 2 基準信号レベルが、AD変換器の信号変換の
ための上限値かこれよりも高いことを特徴とする
特許請求の範囲第1項記載のパイルアツプリジエ
クタ。 3 基準信号レベルが、AD変換器の信号変換の
ための上限値よりも低くかつ正常な入力信号の信
号レベルの最大値よりも高いことを特徴とする特
許請求の範囲第1項記載のパイルアツプリジエク
タ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15551184A JPS6135383A (ja) | 1984-07-27 | 1984-07-27 | パイルアップリジェクタ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15551184A JPS6135383A (ja) | 1984-07-27 | 1984-07-27 | パイルアップリジェクタ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6135383A JPS6135383A (ja) | 1986-02-19 |
JPH0568672B2 true JPH0568672B2 (ja) | 1993-09-29 |
Family
ID=15607646
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15551184A Granted JPS6135383A (ja) | 1984-07-27 | 1984-07-27 | パイルアップリジェクタ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6135383A (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2624682B2 (ja) * | 1987-05-29 | 1997-06-25 | 株式会社東芝 | 計数率補正装置 |
US8618495B2 (en) | 2010-05-03 | 2013-12-31 | Brookhaven Science Associates, Llc | Method and apparatus for analog pulse pile-up rejection |
JP6670092B2 (ja) * | 2015-12-22 | 2020-03-18 | セイコー・イージーアンドジー株式会社 | 放射能検出システム、及び放射能検出方法 |
-
1984
- 1984-07-27 JP JP15551184A patent/JPS6135383A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6135383A (ja) | 1986-02-19 |
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