JPH05296843A - 可視近赤外放射計の校正装置 - Google Patents
可視近赤外放射計の校正装置Info
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- JPH05296843A JPH05296843A JP4102973A JP10297392A JPH05296843A JP H05296843 A JPH05296843 A JP H05296843A JP 4102973 A JP4102973 A JP 4102973A JP 10297392 A JP10297392 A JP 10297392A JP H05296843 A JPH05296843 A JP H05296843A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 可視近赤外放射計の性能測定を行うために真
空中においても既知の分光放射輝度を可視近赤外放射計
に入射することのできる可視近赤外放射計の校正装置を
得る。 【構成】 分光放射輝度の既知なる基準光源２と可視近
赤外放射計検出器出力１１及び異なる分光放射輝度をも
つ校正光８入射による放射計検出器出力１１とにより、
校正光源６の分光放射輝度の絶対値を求め、この分光放
射輝度の既知となった校正光８を発する校正光源６から
なる。 【効果】 この分光放射輝度の既知となった校正光８を
発する校正光源６を用いて真空中においても可視近赤外
放射計１の性能試験を行うことが可能である。
空中においても既知の分光放射輝度を可視近赤外放射計
に入射することのできる可視近赤外放射計の校正装置を
得る。 【構成】 分光放射輝度の既知なる基準光源２と可視近
赤外放射計検出器出力１１及び異なる分光放射輝度をも
つ校正光８入射による放射計検出器出力１１とにより、
校正光源６の分光放射輝度の絶対値を求め、この分光放
射輝度の既知となった校正光８を発する校正光源６から
なる。 【効果】 この分光放射輝度の既知となった校正光８を
発する校正光源６を用いて真空中においても可視近赤外
放射計１の性能試験を行うことが可能である。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、可視近赤外放射計を
光学的に校正する可視近赤外放射計の校正装置の改良に
関するものである。
光学的に校正する可視近赤外放射計の校正装置の改良に
関するものである。
【０００２】
【従来の技術】近年、宇宙から地表を観測するリモート
センシングの分野で、植生調査、資源探査等への利用の
点から、単に地表の画像を得るだけでなく、定量的な観
測が非常に重要となってきており、一種の計測器ともい
える放射計にとって校正は欠くことのできない重要項目
である。これまでは単に画像を取ることが最優先事項で
あったが、これからは得られたデータを使用することに
重点が置かれる。例えば、衛星に搭載される可視近赤外
放射計は、打ち上げ前に地上において絶対校正される
が、宇宙環境下では、脱ガスによる汚れ、放射線の影響
等により、放射計の感度に経時変化が生じると考えられ
る。衛星打ち上げ後、軌道上で放射計の感度の経時変化
を校正するため、輝度が既知である基準光を可視近赤外
放射計に入射する光学的校正装置が搭載される。
センシングの分野で、植生調査、資源探査等への利用の
点から、単に地表の画像を得るだけでなく、定量的な観
測が非常に重要となってきており、一種の計測器ともい
える放射計にとって校正は欠くことのできない重要項目
である。これまでは単に画像を取ることが最優先事項で
あったが、これからは得られたデータを使用することに
重点が置かれる。例えば、衛星に搭載される可視近赤外
放射計は、打ち上げ前に地上において絶対校正される
が、宇宙環境下では、脱ガスによる汚れ、放射線の影響
等により、放射計の感度に経時変化が生じると考えられ
る。衛星打ち上げ後、軌道上で放射計の感度の経時変化
を校正するため、輝度が既知である基準光を可視近赤外
放射計に入射する光学的校正装置が搭載される。
【０００３】図５は従来の衛星搭載用可視近赤外放射計
及び従来の光学的校正装置を示す構成図であり、図６は
真空試験時の構成図である。
及び従来の光学的校正装置を示す構成図であり、図６は
真空試験時の構成図である。
【０００４】図５で、１は可視近赤外放射計、２は基準
光源、３は基準光、４は主光学系、５は放射計検出器、
６は校正光源、７は校正光学系、８は校正光、９は校正
光検出器、１０は校正回路、１１は放射計検出器出力、
１２は校正光源電源であり、図６で１３は真空容器、１
４は真空容器光学窓である。
光源、３は基準光、４は主光学系、５は放射計検出器、
６は校正光源、７は校正光学系、８は校正光、９は校正
光検出器、１０は校正回路、１１は放射計検出器出力、
１２は校正光源電源であり、図６で１３は真空容器、１
４は真空容器光学窓である。
【０００５】図５において、大気中の性能試験時及び観
測時には、基準光源２から発せられる基準光３は、可視
近赤外放射計１の主光学系４を通り、この主光学系４の
焦点面上に位置している放射計検出器５上に結像され、
光電変換された後に放射計検出器出力１１として出力さ
れる。一方、校正時には、校正光源電源１２は単一のレ
ベルの電力を校正光源６に供給し、校正光源６から校正
光８が発せられる。この校正光８の大部分は、校正光学
系７を通り、可視近赤外放射計１の主光学系４を通り、
この主光学系４の焦点面上に位置している放射計検出器
５上に結像され、光電変換された後に放射計検出器出力
１１として出力される。また、校正光８の一部は校正光
検出器９に入射し、校正回路１０より出力される。な
お、校正回路１０は校正光検出器９の駆動及び信号処理
を行うものである。
測時には、基準光源２から発せられる基準光３は、可視
近赤外放射計１の主光学系４を通り、この主光学系４の
焦点面上に位置している放射計検出器５上に結像され、
光電変換された後に放射計検出器出力１１として出力さ
れる。一方、校正時には、校正光源電源１２は単一のレ
ベルの電力を校正光源６に供給し、校正光源６から校正
光８が発せられる。この校正光８の大部分は、校正光学
系７を通り、可視近赤外放射計１の主光学系４を通り、
この主光学系４の焦点面上に位置している放射計検出器
５上に結像され、光電変換された後に放射計検出器出力
１１として出力される。また、校正光８の一部は校正光
検出器９に入射し、校正回路１０より出力される。な
お、校正回路１０は校正光検出器９の駆動及び信号処理
を行うものである。
【０００６】図６において、真空試験時の性能試験の際
には、可視近赤外放射計１を真空環境下におくために真
空容器１３の内部を真空にする。そのため、基準光源２
より発せられた基準光３は直接可視近赤外放射計１の主
光学系４に入らず、いったん真空容器光学窓１４を通っ
てから可視近赤外放射計１の主光学系４を通り、この主
光学系４の焦点面上に位置している放射計検出器５上に
結像され、光電変換された後に放射計検出器出力１１と
して出力される。
には、可視近赤外放射計１を真空環境下におくために真
空容器１３の内部を真空にする。そのため、基準光源２
より発せられた基準光３は直接可視近赤外放射計１の主
光学系４に入らず、いったん真空容器光学窓１４を通っ
てから可視近赤外放射計１の主光学系４を通り、この主
光学系４の焦点面上に位置している放射計検出器５上に
結像され、光電変換された後に放射計検出器出力１１と
して出力される。
【０００７】可視近赤外放射計１の主要な性能として、
解像度の指標の一つであるＭＴＦ（Modulation Transf
er Function 、変調伝達関数）、Ｓ／Ｎ（Signal-to-N
oiseratio 、信号対雑音比）およびリニアリティがあ
る。一般にＭＴＦは空間周波数特性を表し、電気回路で
の周波数特性に対応するものである。Ｓ／Ｎは基準光源
２から放射される基準光３を可視近赤外放射計１に入射
させて出てきた放射計検出器出力１１を複数フレーム回
の平均をとり、その平均出力と標準偏差との比により求
められる。リニアリティは基準光源２から異なった強さ
の基準光３を可視近赤外放射計１に入射させて出てきた
放射計検出器出力１１と異なった強さの基準光３との直
線関係により求められる。真空試験時には基準光源２と
可視近赤外放射計１の途中に真空容器光学窓１４がある
ので、Ｓ／Ｎ及びリニアリティの測定の際には真空容器
光学窓１４の影響を除くために分光透過率の測定を精度
よく行わなければならないといった問題があった。
解像度の指標の一つであるＭＴＦ（Modulation Transf
er Function 、変調伝達関数）、Ｓ／Ｎ（Signal-to-N
oiseratio 、信号対雑音比）およびリニアリティがあ
る。一般にＭＴＦは空間周波数特性を表し、電気回路で
の周波数特性に対応するものである。Ｓ／Ｎは基準光源
２から放射される基準光３を可視近赤外放射計１に入射
させて出てきた放射計検出器出力１１を複数フレーム回
の平均をとり、その平均出力と標準偏差との比により求
められる。リニアリティは基準光源２から異なった強さ
の基準光３を可視近赤外放射計１に入射させて出てきた
放射計検出器出力１１と異なった強さの基準光３との直
線関係により求められる。真空試験時には基準光源２と
可視近赤外放射計１の途中に真空容器光学窓１４がある
ので、Ｓ／Ｎ及びリニアリティの測定の際には真空容器
光学窓１４の影響を除くために分光透過率の測定を精度
よく行わなければならないといった問題があった。
【０００８】次に光学的校正方法について説明する。従
来の光学的校正装置は上記のように構成されており、校
正を行うにあたり、まず可視近赤外放射計１を用いて校
正の基準を基準光源２から校正光源６に移す必要があ
る。
来の光学的校正装置は上記のように構成されており、校
正を行うにあたり、まず可視近赤外放射計１を用いて校
正の基準を基準光源２から校正光源６に移す必要があ
る。
【０００９】すなわち、基準光源２より発せられる基準
光３を主光学系４を通し放射計検出器５に入射させるこ
とによって出力される放射計検出器出力１１と基準光源
２の分光放射輝度との対応関係から可視近赤外放射計の
持つ感度を決定することができる。可視近赤外放射計の
感度が決定した後校正光源６より発せられる校正光８を
校正光学系７を通し上記基準光３と同様に主光学系４を
通して得られる放射計検出器出力１１を用い、基準光３
入射のときの放射計検出器出力１１と校正光８入射のと
きの放射計検出器出力１１との比から校正光源６の分光
放射輝度が求められる。こうして校正の基準が校正光源
６に移ったことになり、以降は校正光源６が校正の基準
となる。
光３を主光学系４を通し放射計検出器５に入射させるこ
とによって出力される放射計検出器出力１１と基準光源
２の分光放射輝度との対応関係から可視近赤外放射計の
持つ感度を決定することができる。可視近赤外放射計の
感度が決定した後校正光源６より発せられる校正光８を
校正光学系７を通し上記基準光３と同様に主光学系４を
通して得られる放射計検出器出力１１を用い、基準光３
入射のときの放射計検出器出力１１と校正光８入射のと
きの放射計検出器出力１１との比から校正光源６の分光
放射輝度が求められる。こうして校正の基準が校正光源
６に移ったことになり、以降は校正光源６が校正の基準
となる。
【００１０】機上ではこの校正された校正光源６を基準
として可視近赤外放射計１を校正する。すなわち機上に
おいて温度や放射線等の原因により主光学系４や放射計
検出器５が劣化した場合、校正光源６の発する校正光８
により放射計検出器出力１１および校正回路１０の出力
を用いて、あらためてこの可視近赤外放射計１の感度を
求めることができる。
として可視近赤外放射計１を校正する。すなわち機上に
おいて温度や放射線等の原因により主光学系４や放射計
検出器５が劣化した場合、校正光源６の発する校正光８
により放射計検出器出力１１および校正回路１０の出力
を用いて、あらためてこの可視近赤外放射計１の感度を
求めることができる。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】従来の可視近赤外放射
計校正装置は、単一電源だったので放射輝度は固定であ
り、可視近赤外放射計校正装置を用いてリニアリティ特
性のような分光放射輝度の異なる入力に対する出力の測
定はされなかった。
計校正装置は、単一電源だったので放射輝度は固定であ
り、可視近赤外放射計校正装置を用いてリニアリティ特
性のような分光放射輝度の異なる入力に対する出力の測
定はされなかった。
【００１２】さらに可視近赤外放射計の性能測定に関し
ては、大気中でのＳ／Ｎ特性及びリニアリティ特性は測
定できても、基準光源２を真空中に入れることが困難で
あること及び真空中に入れての基準光源２の性能の保証
が困難であることにより真空中における特性測定が非常
に困難であるという問題点があった。
ては、大気中でのＳ／Ｎ特性及びリニアリティ特性は測
定できても、基準光源２を真空中に入れることが困難で
あること及び真空中に入れての基準光源２の性能の保証
が困難であることにより真空中における特性測定が非常
に困難であるという問題点があった。
【００１３】加えて、例えばＭＴＦの測定とＳ／Ｎ及び
リニアリティ測定とでは、基準光源２の代わりに解像度
を評価するＭＴＦ試験装置に光軸をあわせなおさなけれ
ばならないという問題点があり、特に真空試験では作業
上困難であるという問題点があった。
リニアリティ測定とでは、基準光源２の代わりに解像度
を評価するＭＴＦ試験装置に光軸をあわせなおさなけれ
ばならないという問題点があり、特に真空試験では作業
上困難であるという問題点があった。
【００１４】また、異なった強さの校正光を出射させる
ために、異なった電圧を供給する複数の安定化電源にし
た場合、ハロゲンランプのようにフィラメントを加熱し
て発光する光源では分光放射輝度特性式１に従って変化
する。フィラメント温度は電源の電圧や投入する電力に
関係があるので、分光放射輝度特性と電源の電圧及び電
力とは関係があるが、一般には物体の放射率は波長依存
性もあるので簡単には求まらない。さらに異なった強さ
の校正光を出射させるために、濾過器により透過率を変
えた場合、濾過器には波長依存性があるので分光放射輝
度を求めることはさらに困難となる。 プランクの放射式 Ｌe ＝（ε／π）＊（Ｃ1／λ5）＊（１／（ｅｘｐ（Ｃ2 ／λＴ）−１）） ・・・・・ 式１ ここで Ｌe ：分光放射輝度 Ｗ／（ｍ2 ｓｒμ
ｍ） ε ：放射率 π ：円周率 Ｃ1 ：定数＝３．７４１５＊１０8 Ｗμｍ4 ／ｍ2 λ ：波長 μｍ Ｃ2 ：定数＝１．４３８８＊１０4 μｍＫ Ｔ ：絶対温度 Ｋ である。
ために、異なった電圧を供給する複数の安定化電源にし
た場合、ハロゲンランプのようにフィラメントを加熱し
て発光する光源では分光放射輝度特性式１に従って変化
する。フィラメント温度は電源の電圧や投入する電力に
関係があるので、分光放射輝度特性と電源の電圧及び電
力とは関係があるが、一般には物体の放射率は波長依存
性もあるので簡単には求まらない。さらに異なった強さ
の校正光を出射させるために、濾過器により透過率を変
えた場合、濾過器には波長依存性があるので分光放射輝
度を求めることはさらに困難となる。 プランクの放射式 Ｌe ＝（ε／π）＊（Ｃ1／λ5）＊（１／（ｅｘｐ（Ｃ2 ／λＴ）−１）） ・・・・・ 式１ ここで Ｌe ：分光放射輝度 Ｗ／（ｍ2 ｓｒμ
ｍ） ε ：放射率 π ：円周率 Ｃ1 ：定数＝３．７４１５＊１０8 Ｗμｍ4 ／ｍ2 λ ：波長 μｍ Ｃ2 ：定数＝１．４３８８＊１０4 μｍＫ Ｔ ：絶対温度 Ｋ である。
【００１５】この発明は上記のような問題点を解消する
ためになされたもので、検出器の全画素にわたって入射
輝度が既知の基準光を真空中においても得ることがで
き、真空中での校正及びＳ／Ｎ測定及びリニアリティ測
定のための光源をもつ可視近赤外放射計校正装置を得る
ことを目的としている。
ためになされたもので、検出器の全画素にわたって入射
輝度が既知の基準光を真空中においても得ることがで
き、真空中での校正及びＳ／Ｎ測定及びリニアリティ測
定のための光源をもつ可視近赤外放射計校正装置を得る
ことを目的としている。
【００１６】
【課題を解決するための手段】この発明に係わる可視近
赤外放射計校正装置は、検出器へ入射する校正光を発生
させる校正光源と、この校正光源に異なった電力を供給
する複数の校正光源電源と、複数の校正光源電源の中か
ら一つを選択する電源選択手段と、校正光を検出器に導
くための校正光学系と、校正光を検出する校正光検出器
と、校正光検出器の駆動及び校正光検出器の出力信号の
信号処理を行う校正回路とを設けたものである。
赤外放射計校正装置は、検出器へ入射する校正光を発生
させる校正光源と、この校正光源に異なった電力を供給
する複数の校正光源電源と、複数の校正光源電源の中か
ら一つを選択する電源選択手段と、校正光を検出器に導
くための校正光学系と、校正光を検出する校正光検出器
と、校正光検出器の駆動及び校正光検出器の出力信号の
信号処理を行う校正回路とを設けたものである。
【００１７】この発明に係わる可視近赤外放射計校正装
置は、検出器へ入射する校正光を発生させる校正光源
と、この光源に電力を供給する校正光源電源と、校正光
を検出器に導く際に校正光のエネルギを段階的に変える
ことができる濾過器と、濾過器の選択移動手段と、校正
光のエネルギを検出する校正光検出器と、校正光検出器
を駆動及び校正光検出器の出力信号の信号処理を行う校
正回路とを設けたものである。
置は、検出器へ入射する校正光を発生させる校正光源
と、この光源に電力を供給する校正光源電源と、校正光
を検出器に導く際に校正光のエネルギを段階的に変える
ことができる濾過器と、濾過器の選択移動手段と、校正
光のエネルギを検出する校正光検出器と、校正光検出器
を駆動及び校正光検出器の出力信号の信号処理を行う校
正回路とを設けたものである。
【００１８】
【作用】この発明においては、分光放射輝度−印加電圧
の関係を用いて校正光源の印加電圧を変え検出器に入射
するエネルギを変えることにより、また別の発明では分
光放射輝度−透過率の関係を用いて濾過器を選択し校正
光学系の透過率を変え放射計検出器に入射するエネルギ
を変えることにより、可視近赤外放射計に多段階の既知
なる光エネルギ（既知の分光放射輝度）を入射すること
ができるので、上記多段階入射光を用いて可視近赤外放
射計の基本性能を大気中及び真空中ともに試験すること
ができる。
の関係を用いて校正光源の印加電圧を変え検出器に入射
するエネルギを変えることにより、また別の発明では分
光放射輝度−透過率の関係を用いて濾過器を選択し校正
光学系の透過率を変え放射計検出器に入射するエネルギ
を変えることにより、可視近赤外放射計に多段階の既知
なる光エネルギ（既知の分光放射輝度）を入射すること
ができるので、上記多段階入射光を用いて可視近赤外放
射計の基本性能を大気中及び真空中ともに試験すること
ができる。
【００１９】
実施例１．図１はこの発明による可視近赤外放射計校正
装置の校正図である。図１において、１５は校正光源６
用の異なる電力を供給する多段校正光源電源、１６は複
数の校正光源電源を選択する電源選択手段である。
装置の校正図である。図１において、１５は校正光源６
用の異なる電力を供給する多段校正光源電源、１６は複
数の校正光源電源を選択する電源選択手段である。
【００２０】図２はこの発明による真空試験中における
可視近赤外放射計校正装置の構成図である。
可視近赤外放射計校正装置の構成図である。
【００２１】図１において、基準光源２より発せられる
基準光３を主光学系４を通し放射計検出器５に入射さ
せ、そのときの放射計検出器出力１１を記録し、再度基
準光３を変えて放射計検出器出力１１を記録する。基準
光源２は分光放射輝度が既知なので分光放射輝度−放射
計検出器出力特性のグラフが得られる。次に、異なる電
力を供給する多段校正光源電源１５を電源選択手段１６
を用いて選択し（例えば多段校正光源電源１５ａ）、校
正光源６に電力を投入する。そのときに得られる放射計
検出器出力１１により校正光源電源１５ａを用いたとき
の校正光８の分光放射輝度が求めることができ、次に校
正光源電源１５ｂ、１５ｃを選択することにより校正光
８の分光放射輝度−印加電圧特性が得られる。この分光
放射輝度−印加電圧特性により基準光源２以外を用い
て、可視近赤外放射計１に既知な異なるレベルの分光放
射輝度の光を入射することが可能になる。
基準光３を主光学系４を通し放射計検出器５に入射さ
せ、そのときの放射計検出器出力１１を記録し、再度基
準光３を変えて放射計検出器出力１１を記録する。基準
光源２は分光放射輝度が既知なので分光放射輝度−放射
計検出器出力特性のグラフが得られる。次に、異なる電
力を供給する多段校正光源電源１５を電源選択手段１６
を用いて選択し（例えば多段校正光源電源１５ａ）、校
正光源６に電力を投入する。そのときに得られる放射計
検出器出力１１により校正光源電源１５ａを用いたとき
の校正光８の分光放射輝度が求めることができ、次に校
正光源電源１５ｂ、１５ｃを選択することにより校正光
８の分光放射輝度−印加電圧特性が得られる。この分光
放射輝度−印加電圧特性により基準光源２以外を用い
て、可視近赤外放射計１に既知な異なるレベルの分光放
射輝度の光を入射することが可能になる。
【００２２】図２において、上記で得られた分光放射輝
度−印加電圧特性を用いることにより、多段校正光源電
源１５を選択し校正光源６を用いれば真空中においても
可視近赤外放射計１に既知な異なるレベルの分光放射輝
度の光を入射することが可能になる。
度−印加電圧特性を用いることにより、多段校正光源電
源１５を選択し校正光源６を用いれば真空中においても
可視近赤外放射計１に既知な異なるレベルの分光放射輝
度の光を入射することが可能になる。
【００２３】実施例２．図３において、１７は濾過器、
１８は濾過器選択駆動手段である。
１８は濾過器選択駆動手段である。
【００２４】図３において、基準光源２より発せられる
基準光３を主光学系４を通し放射計検出器５に入射さ
せ、そのときの放射計検出器出力１１を記録し、再度基
準光３を変えて放射計検出器出力１１を記録する。基準
光源２は分光放射輝度が既知なので分光放射輝度−放射
計検出器出力特性のグラフが得られる。次に、校正光源
６より発せられる校正光８を濾過器１７を濾過器選択駆
動手段１８を用いて選択し（例えば濾過器１７ａ）、校
正光学系全体としての透過率を変化させ、放射計検出器
５に入射する校正光８の入射エネルギを変化させる。そ
のときに得られる放射計検出器出力１１により濾過器１
７ａを用いたときの校正光８の分光放射輝度が求めるこ
とができ、次に濾過器１７ｂ、１７ｃと選択することに
より校正光の分光放射輝度−透過率特性が得られる。こ
の分光放射輝度−透過率特性により基準光源２以外を用
いて、可視近赤外放射計１に既知な異なるレベルの分光
放射輝度の光を入射することが可能になる。
基準光３を主光学系４を通し放射計検出器５に入射さ
せ、そのときの放射計検出器出力１１を記録し、再度基
準光３を変えて放射計検出器出力１１を記録する。基準
光源２は分光放射輝度が既知なので分光放射輝度−放射
計検出器出力特性のグラフが得られる。次に、校正光源
６より発せられる校正光８を濾過器１７を濾過器選択駆
動手段１８を用いて選択し（例えば濾過器１７ａ）、校
正光学系全体としての透過率を変化させ、放射計検出器
５に入射する校正光８の入射エネルギを変化させる。そ
のときに得られる放射計検出器出力１１により濾過器１
７ａを用いたときの校正光８の分光放射輝度が求めるこ
とができ、次に濾過器１７ｂ、１７ｃと選択することに
より校正光の分光放射輝度−透過率特性が得られる。こ
の分光放射輝度−透過率特性により基準光源２以外を用
いて、可視近赤外放射計１に既知な異なるレベルの分光
放射輝度の光を入射することが可能になる。
【００２５】図４において、上記で得られた分光放射輝
度−透過率特性を用いることにより、濾過器１７を選択
し校正光源６を用いれば真空中においても可視近赤外放
射計１に既知な異なるレベルの分光放射輝度の光を入射
することが可能になる。
度−透過率特性を用いることにより、濾過器１７を選択
し校正光源６を用いれば真空中においても可視近赤外放
射計１に既知な異なるレベルの分光放射輝度の光を入射
することが可能になる。
【００２６】他の用途への転用例なお、上記実施例１で
は複数個の安定化電源によって校正光源に電気エネルギ
を供給したが、電圧（供給電力）可変の安定化電源を用
いても構わない。
は複数個の安定化電源によって校正光源に電気エネルギ
を供給したが、電圧（供給電力）可変の安定化電源を用
いても構わない。
【００２７】また、上記実施例２では濾過器を校正光学
系と主光学系の間に配置したが校正光源と校正光学系の
間または校正光学系内部に配置しても構わない。
系と主光学系の間に配置したが校正光源と校正光学系の
間または校正光学系内部に配置しても構わない。
【００２８】また、上記実施例２では濾過器によって透
過率を可変にすることにより校正光源の光エネルギを変
化させたが機械的な絞りにより光エネルギを制限するこ
とも可能である。ただしこの場合、校正光検出器には可
視近赤外放射計の検出器と比例関係をもちながら光エネ
ルギが入射する必要がある。また、上記実施例１、２で
は可視近赤外放射計に校正光源をもち、その校正光源か
ら校正光を放射計検出器に入射させたが、外部より校正
光を導き放射計検出器に校正光を出射することも可能で
ある。また、上記実施例１および２の両方を備える、す
なわち複数安定化電源と濾過器の両方を備えることも可
能であり、さらに、複数の校正光源を使用しても構わな
い。また、以上の実施例は衛星搭載用の可視近赤外放射
計校正装置に適用した場合について説明したが、可視近
赤外放射計は衛星搭載用に限らず、また可視近赤外放射
計の検出器も一次元アレイ検出器の場合に限るものでは
なく、この発明は一般の可視近赤外放射計にも適用で
き、上記同様の効果を奏することはいうまでもない。
過率を可変にすることにより校正光源の光エネルギを変
化させたが機械的な絞りにより光エネルギを制限するこ
とも可能である。ただしこの場合、校正光検出器には可
視近赤外放射計の検出器と比例関係をもちながら光エネ
ルギが入射する必要がある。また、上記実施例１、２で
は可視近赤外放射計に校正光源をもち、その校正光源か
ら校正光を放射計検出器に入射させたが、外部より校正
光を導き放射計検出器に校正光を出射することも可能で
ある。また、上記実施例１および２の両方を備える、す
なわち複数安定化電源と濾過器の両方を備えることも可
能であり、さらに、複数の校正光源を使用しても構わな
い。また、以上の実施例は衛星搭載用の可視近赤外放射
計校正装置に適用した場合について説明したが、可視近
赤外放射計は衛星搭載用に限らず、また可視近赤外放射
計の検出器も一次元アレイ検出器の場合に限るものでは
なく、この発明は一般の可視近赤外放射計にも適用で
き、上記同様の効果を奏することはいうまでもない。
【００２９】
【発明の効果】この発明の可視近赤外放射計校正装置に
よれば、複数の安定化電源により校正光源に印加する電
圧を変えて放射計検出器に入射することができるので、
校正光は一つのレベルだけでなく複数の分光放射輝度を
発生することができ、可視近赤外放射計の基本性能を大
気中だけでなく真空中においても試験できる。
よれば、複数の安定化電源により校正光源に印加する電
圧を変えて放射計検出器に入射することができるので、
校正光は一つのレベルだけでなく複数の分光放射輝度を
発生することができ、可視近赤外放射計の基本性能を大
気中だけでなく真空中においても試験できる。
【００３０】また別の発明の可視近赤外放射計校正装置
によれば、複数の濾過器により校正光源からでる校正光
の光エネルギを変えて放射計検出器に入射することがで
きるので、校正光は一つのレベルだけでなく複数の分光
放射輝度を発生することができ、可視近赤外放射計の基
本性能を大気中だけでなく真空中においても試験でき
る。
によれば、複数の濾過器により校正光源からでる校正光
の光エネルギを変えて放射計検出器に入射することがで
きるので、校正光は一つのレベルだけでなく複数の分光
放射輝度を発生することができ、可視近赤外放射計の基
本性能を大気中だけでなく真空中においても試験でき
る。
【図１】この発明の実施例１による大気中の可視近赤外
放射計の構成図である。
放射計の構成図である。
【図２】この発明の実施例１による真空試験の可視近赤
外放射計の構成図である。
外放射計の構成図である。
【図３】この発明の実施例２による大気中の可視近赤外
放射計の構成図である。
放射計の構成図である。
【図４】この発明の実施例２による真空試験の可視近赤
外放射計の構成図である。
外放射計の構成図である。
【図５】従来の大気中の可視近赤外放射計の構成図であ
る。
る。
【図６】従来の真空試験の可視近赤外放射計の構成図で
ある。
ある。
１ 可視近赤外放射計 ２ 基準光源 ６ 校正光源 ７ 校正光学系 ９ 校正光検出器 １０ 校正回路 １１ 放射計検出器出力 １５ 多段校正光源電源 １６ 電源選択手段 １７ 濾過器 １８ 濾過器選択駆動手段
Claims (2)
- 【請求項１】 可視近赤外放射計のもつ光源による校正
光を可視近赤外放射計に入射させ上記放射計を光学的に
校正する可視近赤外放射計校正装置において、上記校正
光を発生する校正光源と、上記校正光源に安定に電気エ
ネルギを供給する複数の安定化電源と、上記複数の安定
化電源から一つを選択する安定化電源選択手段と、校正
光のエネルギを検出する校正光検出器と、上記検出器を
駆動し、この検出器の出力信号の処理を行う校正回路
と、上記校正光を上記放射計検出器上に出射する校正光
学系とを備えたことを特徴とする可視近赤外放射計の校
正装置。 - 【請求項２】 可視近赤外放射計のもつ光源による校正
光を可視近赤外放射計に入射させ上記放射計を光学的に
校正する可視近赤外放射計校正装置において、上記校正
光を発生する校正光源と、上記校正光源に安定にエネル
ギを供給する電源と、校正光のエネルギを検出する校正
光検出器と、上記検出器を駆動し、この検出器の出力信
号の処理を行う校正回路と、上記校正光を上記放射計検
出器上に出射する際に上記校正光のもつエネルギを段階
的に変えることができる濾過器及び校正光学系内の濾過
器選択手段とを備えたことを特徴とする可視近赤外放射
計の校正装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4102973A JPH05296843A (ja) | 1992-04-22 | 1992-04-22 | 可視近赤外放射計の校正装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4102973A JPH05296843A (ja) | 1992-04-22 | 1992-04-22 | 可視近赤外放射計の校正装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05296843A true JPH05296843A (ja) | 1993-11-12 |
Family
ID=14341699
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4102973A Pending JPH05296843A (ja) | 1992-04-22 | 1992-04-22 | 可視近赤外放射計の校正装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05296843A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06300635A (ja) * | 1993-03-25 | 1994-10-28 | Raytek Sensorik Gmbh | 放射測定器 |
| CN110750118A (zh) * | 2019-11-18 | 2020-02-04 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 一种在轨红外辐射基准源温度控制系统 |
| WO2020241850A1 (ja) * | 2019-05-31 | 2020-12-03 | 株式会社荏原製作所 | 放射温度計を較正する方法、およびシステム |
| JP2020197528A (ja) * | 2019-05-31 | 2020-12-10 | 株式会社荏原製作所 | 放射温度計を較正する方法、およびシステム |
-
1992
- 1992-04-22 JP JP4102973A patent/JPH05296843A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06300635A (ja) * | 1993-03-25 | 1994-10-28 | Raytek Sensorik Gmbh | 放射測定器 |
| WO2020241850A1 (ja) * | 2019-05-31 | 2020-12-03 | 株式会社荏原製作所 | 放射温度計を較正する方法、およびシステム |
| JP2020197528A (ja) * | 2019-05-31 | 2020-12-10 | 株式会社荏原製作所 | 放射温度計を較正する方法、およびシステム |
| US12181345B2 (en) | 2019-05-31 | 2024-12-31 | Ebara Corporation | Method of calibrating radiation thermometer and system thereof |
| CN110750118A (zh) * | 2019-11-18 | 2020-02-04 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 一种在轨红外辐射基准源温度控制系统 |
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