JPH05274675A

JPH05274675A - 光ディスクの検査方法

Info

Publication number: JPH05274675A
Application number: JP10211192A
Authority: JP
Inventors: Hisaaki Sugita; 寿明杉田
Original assignee: Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
Current assignee: Hitachi High Tech Corp
Priority date: 1992-03-27
Filing date: 1992-03-27
Publication date: 1993-10-22

Abstract

(57)【要約】【目的】相変化記録方式の光ディスクにおいて、相変
化媒体の品質を劣化することなく、複数回テストできる
検査方法を提供する。【構成】繰り返されるデータの書込みごとに、テスト
データの位置をランダムにシフトして、相変化媒体の異
なる部分に対して書込みする。これを読み出して、元の
テストデータと比較して変化媒体を検査する。【効果】テストデータの書込み位置が、テストの都度
ランダムに変化するため、書込み、読み出しおよび消去
を繰り返しても媒体が劣化しない。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、相変化記録方式の光
ディスクの検査方法に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】情報処理装置の記録媒体には、相変化媒
体を使用した書き換え可能な光ディスクがある。相変化
媒体は、例えばテルルの酸化物にゲルマニゥムと錫を加
えたものが用いられ、これを基板に蒸着する。蒸着直後
は非晶質で反射率が低い（１５％）が、これを加熱後冷
却すると結晶化して反射率が高く（３０％）なる性質が
ある。この結晶化した状態を未記録媒体として相変化記
録方式の光ディスク（以下単に光ディスクという）が構
成される。図３により光ディスクに対するデータの書込
み／読み出しおよび消去方法を説明する。図３の(イ)
は、基板１a に相変化媒体( 以下単に媒体という）１b
を蒸着した光ディスク1 を示し、媒体１b はこの段階で
反射率の高い結晶体である。これに対して(ロ) のよう
に、書込みレベルのレーザスポットＳ_W を照射すると、
照射された部分が加熱・急冷して非晶質に戻り、反射率
が低下してデータが記録される。(ハ) はデータの読み出
しを示し、読み出しレベルのスポットＳ_r を照射する
と、反射光の強度の相違によりデータが読み出しされ
る。次、にデータを消去するには(ニ) のように、消去レ
ベルのスポットＳ_e を照射して媒体を徐々に加熱・冷却
すると再結晶化することにより消去される。以上におい
て、媒体の結晶化には一定の臨界温度があり、これをレ
ーザスポットの強度に換算すると、例えば約１０ｍＷで
あり、書込みスポットＳ_W,は２０ｍＷ、読み出しスポッ
トＳ_r は５ｍＷとし、消去スポットＳ_e は１０ｍＷの３
段階とされている。

【０００３】図４により上記の光ディスクのデータの記
録エリアを説明する。(a) において、光ディスク１には
円周方向に多数のトラックＴ_R の溝が穿溝され、各トラ
ックＴ_R は複数のセクタＳ₀ 〜Ｓ_m に区分される。(b)
はセクタの展開図を示し、各セクタＳ₀ 〜Ｓ_m は、セク
タ番号などの識別情報を記録するＩＤ部と、データを記
録するデータ（ＤＡＴＡ）部よりなる。(c) はトラック
Ｔ_R に対して記録されたデータを●で示す。光ディスク
１の製作においては、まず原盤にトラックＴ_R の溝をエ
ッチングにより穿溝し、原盤よりニッケルメッキにより
スタンパが作られ、これより多数の光ディスクが複製さ
れる。なお、ＤＡＴＡ部のデータは書き換えされるが、
ＩＤ部は書き換えの必要がないので、予め原盤の段階で
トラックとともにＩＤ情報がプリホーマットされてい
る。

【０００４】上記の光ディスクの媒体になんらかの欠陥
があると、記録性能が低下するので、検査装置により欠
陥を検出し、その結果により品質が評価、分類されてい
る。検査は、ＤＡＴＡ部に対してテストデータの書込み
と読み出しを行い、元の書込みデータと比較して欠陥を
検出し、これが終了するとデータは消去される。ただ
し、信頼性の高い検査のためには単なる１回のテストで
は不十分であるので、各トラックのＤＡＴＡ部に対して
複数回の繰り返しテストがなされている。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】さて、上記の複数回の
テストにおいては、同一のテストデータがＤＡＴＡ部の
同一部分に対して書込み、読み出しおよび消去が繰り返
される。このためのレーザスポットの照射により、媒体
の同一部分が溶融して結晶化と非結晶化が繰り返される
ので、媒体は流動性が変化して記録性能が劣化する危険
がある。そこで、繰り返しテストによっても性能が劣化
しない検査方法が必要とされている。これに対して、テ
ストデータを媒体の同一部分に書込みしないことが有効
で、かつ簡便な方法である。この発明は以上の考えによ
り、光ディスクの相変化媒体の品質を劣化することな
く、複数回テストできる検査方法を提供すことを目的と
する。

【０００６】

【課題を解決するための手段】この発明は上記の目的を
達成する検査方法であって、上記の光ディスク検査装置
において、繰り返されるデータの書込みごとに、テスト
データの位置をランダムにシフトして、相変化媒体の異
なる部分に対して書込みする。書込みされたテストデー
タを読み出し、読み出されたデータマークにより書込み
前の元のテストデータを発生し、発生した元のテストデ
ータと読み出されたテストデータとを比較して相変化媒
体を検査する。

【０００７】

【作用】上記の検査方法においては、繰り返されるデー
タの書込みごとに、テストデータの位置をランダムにシ
フトして媒体の異なる部分書込みされる。読み出しにお
いては、データマークにより元のテストデータを発生
し、これを読み出されたテストデータに比較するもの
で、書込み、読み出しおよび消去される媒体の位置がテ
ストの都度変化するため、繰り返しテストによっても媒
体が劣化する危険がない。

【０００８】

【実施例】図１、図２はこの発明の一実施例を示し、図
１はテストデータ発生・書込み部、図２はデータ再生・
検査部のそれぞれの概略のブロック構成を示す。図１に
おいて、２は光ヘッドを、３はテストデータ発生部を示
す。テストデータ発生部３のタイミング発生器31より出
力されるスタート信号およびゲート信号は、シフトレジ
スタ32により任意のシフト量に変換される。一方、光ヘ
ッド２においては、回転するディスク１に対して、光源
21より読み出しレベルのレーザスポットＳ_r （図３参
照）がディスク１に照射され、その反射光がビームスプ
リッタ22を経て符号検出器23に入力する。検出されたデ
ータ信号はデータ読み出し部33により、書込み開始セク
タが解読されてシフト量データ発生器34に入力する。シ
フト量発生器34には、予め１トラックごとのランダムな
シフト量データが記憶されており、開始セクタの入力に
よりシフト量データを発生し、これがシフトデータセレ
クタ35を動作させ、上記のスタート信号およびゲート信
号が１トラックごとにランダムにシフトされる。シフト
された両信号はライトデータ発生回路36が発生するライ
トデータの位置をランダムにシフトし、このライトデー
タはパルス幅補正回路37を経て光ヘッド２の光源21に入
力する。光源21はライトデータに対応して書込みレベル
のスポットＳ_W を出力し、ディスク１に対して書込みが
なされる。１トラックに対する書込みが終了すると、つ
ぎのディスクの１回転において、下記のデータの読み出
し、再生および欠陥検出に移行する。

【０００９】図２において、光源21より読み出しレベル
のレーザスポットＳ_r を出力し、上記により書込みされ
たテストデータの読み出しを行う。読み出し信号はデー
タ再生部４の微分回路41により微分され、その出力の一
部はデータマーク検出回路42に入力し、テストデータの
先頭にあるデータマークが検出される。検出されたデー
タマークの入力により、ライトデータ発生回路43が書込
み前の元のテストデータを発生して比較処理部44に入力
する。一方、微分回路41の出力の一部は比較処理回路44
に入力し、上記の元のテストデータと比較されて欠陥が
検出され、ついで、ディスクのつぎの１回転において光
源21より消去レベルのスポットＳ_e を出力してデータが
消去されて１回のテストが終了する。以上のテストが複
数回繰り返され、上記によりえられた欠陥検出信号はテ
ストごとに、逐次にデータ処理部５により所定の処理が
なされ、媒体の品質を評価する評価データが作成され
る。なお、図１、図２のブロック構成の各要素は通常の
技術によるもので、それぞれの詳細な動作説明は省略す
る。また、各ブロック構成は一実施例であって、細部が
これらと異なるものであっても、特許請求の範囲を実現
できるものであればよい。

【００１０】

【発明の効果】以上の説明のとおり、この発明による光
ディスクの検査方法においては、テストデータが書込み
される媒体の位置が、テストの都度ランダムに変化する
ため、書込み、読み出しおよび消去の繰り返しテストに
よっても媒体が劣化しないもので、相変化記録方式の光
ディスクの厳密な検査に寄与するところが大きい。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の一実施例における、テストデータ
発生・書込み部の概略のブロック構成を示す。

【図２】この発明の一実施例における、データ再生・
検査部の概略のブロック構成を示す。

【図３】相変化媒体記録方式の光ディスクの記録原理
の説明図である。

【図４】相変化媒体記録方式の光ディスクのデータエ
リアの説明図である。

【符号の説明】

１…相変化記録方式の光ディスク、１a …基板、１b …
相変化記録媒体、２…光ヘッド、21…光源、22…ビーム
スプリッタ、23…符号検出器、３…テストデータ発生
部、31…タイミング発生器、32…シフトレジスタ、33…
データ読み出し部、34…シフト量データレジスタ、35…
シフトセレクタ、36…ライトデータ発生回路、37…パル
ス幅補正回路、４…データ再生部、41…微分回路、42…
データマーク検出回路、43…ライトデータ発生回路、44
…比較処理部、５…データ処理部。

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】相変化記録方式の光ディスクのデータ部
に対して、データマークを先頭とするテストデータの書
込み、読み出しおよび消去を繰り返して行い、相変化媒
体の性能を検査する検査装置において、前記繰り返され
る書込みごとに、前記テストデータの位置をランダムに
シフトして、前記相変化媒体の異なる部分に対する書込
みを行い、該書込みされたテストデータを読み出し、該
読み出されたデータマークにより書込み前の元のテスト
データを発生し、該発生した元のテストデータと前記読
み出されたテストデータとを比較して、前記相変化媒体
を検査することを特徴とする、光ディスクの検査方法。