JPH05273119A - 拡散反射光とり出し方法及び拡散反射分光計測方法 - Google Patents
拡散反射光とり出し方法及び拡散反射分光計測方法Info
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- JPH05273119A JPH05273119A JP6707392A JP6707392A JPH05273119A JP H05273119 A JPH05273119 A JP H05273119A JP 6707392 A JP6707392 A JP 6707392A JP 6707392 A JP6707392 A JP 6707392A JP H05273119 A JPH05273119 A JP H05273119A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 被検体からの反射光から被検体の品質、特性
を反映した拡散反射光のみをとり出すことのできる拡散
反射光とり出し方法及び拡散反射分光計測方法を提供す
ること。 【構成】 光源装置からの光から偏光ビームスプリッタ
により、所定方向の直線偏光をつくり被検体に向けて照
射し且つ被検体からの反射光のうちからこの照射した直
線偏光と光波の振動方向が異なる方向の直線偏光をとり
出してこの光を検出する。
を反映した拡散反射光のみをとり出すことのできる拡散
反射光とり出し方法及び拡散反射分光計測方法を提供す
ること。 【構成】 光源装置からの光から偏光ビームスプリッタ
により、所定方向の直線偏光をつくり被検体に向けて照
射し且つ被検体からの反射光のうちからこの照射した直
線偏光と光波の振動方向が異なる方向の直線偏光をとり
出してこの光を検出する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、被検体、例えば果物、
野菜などの農産物、その他の植物、材木、食肉、或いは
医薬品、岩石等の品質、特性を、非破壊的に計測するた
めに、被検体に光を照射すると共にこの被検体からの反
射光から被検体の品質、特性を反映した光のみをとり出
す拡散反射光とり出し方法及び拡散反射分光計測方法に
関する。
野菜などの農産物、その他の植物、材木、食肉、或いは
医薬品、岩石等の品質、特性を、非破壊的に計測するた
めに、被検体に光を照射すると共にこの被検体からの反
射光から被検体の品質、特性を反映した光のみをとり出
す拡散反射光とり出し方法及び拡散反射分光計測方法に
関する。
【0002】
【従来の技術】従来、被検体からの反射光を計測するこ
とにより、その被検体の品質、特性を調べる方法は、被
検体の種類に応じて可視光、近赤外光又はその他の波長
領域の光を用いて行われており、例えば、近赤外光を用
いたものとして図3に示される構成のものが基本的なも
のとしてある。
とにより、その被検体の品質、特性を調べる方法は、被
検体の種類に応じて可視光、近赤外光又はその他の波長
領域の光を用いて行われており、例えば、近赤外光を用
いたものとして図3に示される構成のものが基本的なも
のとしてある。
【0003】この従来の装置は、偏光していない自然光
を被検体に照射しその反射光の分光分析から被検体の品
質、特性等を調ベるものであり、非接触且つ非破壊で被
検体の品質、特性を調ベることができるため、農産物、
食肉、岩石等を取扱う分野において広く利用されてい
る。
を被検体に照射しその反射光の分光分析から被検体の品
質、特性等を調ベるものであり、非接触且つ非破壊で被
検体の品質、特性を調ベることができるため、農産物、
食肉、岩石等を取扱う分野において広く利用されてい
る。
【0004】この反射光は被検体表面から鏡面反射され
た成分と、被検体表面または内部において散乱及び/又
は拡散反射(以下、本明細書では「散乱及び/又は拡散
反射」を単に「拡散反射」と略記する。)された成分か
ら構成される。このうち、被検体の品質、特性を反映し
ているのは後者であり、これを有効に検出することが品
質、特性を評価する上で重要であるが、従来のものにお
いては、この2つを分離しないで検出を行っていた。
た成分と、被検体表面または内部において散乱及び/又
は拡散反射(以下、本明細書では「散乱及び/又は拡散
反射」を単に「拡散反射」と略記する。)された成分か
ら構成される。このうち、被検体の品質、特性を反映し
ているのは後者であり、これを有効に検出することが品
質、特性を評価する上で重要であるが、従来のものにお
いては、この2つを分離しないで検出を行っていた。
【0005】一方、鏡面反射光の検出を避けるために、
鏡面反射の発生する角度を外して反射光を計測すべく反
射光のとり出し方向を設定することも公知の方法として
行われている。
鏡面反射の発生する角度を外して反射光を計測すべく反
射光のとり出し方向を設定することも公知の方法として
行われている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上記図3に示す従来の
装置では、検出装置により検出される反射光が拡散反射
光だけでなく鏡面反射光を含むため、鏡面反射の多い被
検体については、検出された光の中に、被検体の品質、
特性を反映した拡散反射光の成分の占める割合が低くな
り、品質、特性を反映した高いレベルのデータを得るこ
とができないという欠点があった。
装置では、検出装置により検出される反射光が拡散反射
光だけでなく鏡面反射光を含むため、鏡面反射の多い被
検体については、検出された光の中に、被検体の品質、
特性を反映した拡散反射光の成分の占める割合が低くな
り、品質、特性を反映した高いレベルのデータを得るこ
とができないという欠点があった。
【0007】また、鏡面反射の発生する角度を外して反
射光を計測すべく反射光のとり出し方向を設定する従来
の方法は、被検体表面の状態によっては、鏡面反射を確
実に避けるような正確な設定は困難であり、しかも被検
体が移動している場合では鏡面反射を避けることは一層
困難であって、これらいずれの場合もやはり鏡面反射光
により拡散反射光の成分の占める割合が低くなり、結
局、被検体の品質、特性を高い精度で測定することがで
きないという欠点があった。
射光を計測すべく反射光のとり出し方向を設定する従来
の方法は、被検体表面の状態によっては、鏡面反射を確
実に避けるような正確な設定は困難であり、しかも被検
体が移動している場合では鏡面反射を避けることは一層
困難であって、これらいずれの場合もやはり鏡面反射光
により拡散反射光の成分の占める割合が低くなり、結
局、被検体の品質、特性を高い精度で測定することがで
きないという欠点があった。
【0008】この発明が解決しようとする課題は、被検
体からの反射光から該被検体の品質、特性を反映しない
鏡面反射光を除去し品質、特性を反映した拡散反射光の
みをとり出すことのできる拡散反射光とり出し方法及び
拡散反射分光計測方法を提供することである。
体からの反射光から該被検体の品質、特性を反映しない
鏡面反射光を除去し品質、特性を反映した拡散反射光の
みをとり出すことのできる拡散反射光とり出し方法及び
拡散反射分光計測方法を提供することである。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するために、光波の振動方向が所定方向の直線偏光を
被検体に照射すると、被検体からの反射光のうち鏡面反
射光は偏光が解消されず入射光と光波の振動方向が同一
の直線偏光となるが、被検体表面又は内部において拡散
反射された拡散反射光は偏光が解消され、入射光と光波
の振動方向が異なる方向の偏光成分を有することに着目
し、以下の如く構成したものである。
成するために、光波の振動方向が所定方向の直線偏光を
被検体に照射すると、被検体からの反射光のうち鏡面反
射光は偏光が解消されず入射光と光波の振動方向が同一
の直線偏光となるが、被検体表面又は内部において拡散
反射された拡散反射光は偏光が解消され、入射光と光波
の振動方向が異なる方向の偏光成分を有することに着目
し、以下の如く構成したものである。
【0010】即ち、本発明の拡散反射光とり出し方法
は、光源装置から照射される光から偏光ビームスプリッ
タにより、所定方向(光波の振動方向が所定方向)の直
線偏光をつくり被検体に向けて照射し且つ被検体からの
反射光のうちから該照射した直線偏光と光波の振動方向
が異なる方向の直線偏光をとり出す構成にある。
は、光源装置から照射される光から偏光ビームスプリッ
タにより、所定方向(光波の振動方向が所定方向)の直
線偏光をつくり被検体に向けて照射し且つ被検体からの
反射光のうちから該照射した直線偏光と光波の振動方向
が異なる方向の直線偏光をとり出す構成にある。
【0011】次に、本発明の一つである拡散反射分光計
測方法の特徴は、光源装置から照射される光から偏光ビ
ームスプリッタにより、所定方向の直線偏光をつくり被
検体に向けて照射し且つ被検体からの反射光のうちから
該照射した直線偏光と光波の振動方向が異なる方向の直
線偏光をとり出し、この直線偏光を分光し、この分光後
の光を検出する構成にある。
測方法の特徴は、光源装置から照射される光から偏光ビ
ームスプリッタにより、所定方向の直線偏光をつくり被
検体に向けて照射し且つ被検体からの反射光のうちから
該照射した直線偏光と光波の振動方向が異なる方向の直
線偏光をとり出し、この直線偏光を分光し、この分光後
の光を検出する構成にある。
【0012】次に、本発明の他の一つである拡散反射分
光計測方法の特徴は、光源装置から照射される光を分光
し、この分光した光から偏光ビームスプリッタにより、
所定方向の直線偏光をつくり被検体に向けて照射し且つ
被検体からの反射光のうちから該照射した直線偏光と光
波の振動方向が異なる方向の直線偏光をとり出し、この
直線偏光を検出する構成にある。
光計測方法の特徴は、光源装置から照射される光を分光
し、この分光した光から偏光ビームスプリッタにより、
所定方向の直線偏光をつくり被検体に向けて照射し且つ
被検体からの反射光のうちから該照射した直線偏光と光
波の振動方向が異なる方向の直線偏光をとり出し、この
直線偏光を検出する構成にある。
【0013】
【作用】本発明においては、光源装置からの光は、偏光
ビームスプリッタによりスプリットされ、光波の振動方
向が所定方向の直線偏光がつくられてこの直線偏光が被
検体に照射される。この直線偏光の照射により被検体か
ら反射される反射光は、被検体表面において鏡面反射さ
れた鏡面反射光と被検体表面又は内部で拡散反射された
拡散反射光とからなるが、このうち鏡面反射光は偏光が
解消されず入射光と光波の振動方向が同一の直線偏光と
して反射され、一方拡散反射光は偏光が解消されて入射
光と光波の振動方向が異なる方向の偏光成分を有して反
射される。この2つの成分を含んだ反射光は、再び同じ
光路をたどり前記偏光ビームスプリッタに再び入射され
る。そして、この偏光ビームスプリッタにより反射光の
うちから前記照射した直線偏光と光波の振動方向が異な
る一定方向の直線偏光がとり出される。これにより、被
検体からの反射光のうちから鏡面反射光が分離除去され
拡散反射光のみを検出することができる。
ビームスプリッタによりスプリットされ、光波の振動方
向が所定方向の直線偏光がつくられてこの直線偏光が被
検体に照射される。この直線偏光の照射により被検体か
ら反射される反射光は、被検体表面において鏡面反射さ
れた鏡面反射光と被検体表面又は内部で拡散反射された
拡散反射光とからなるが、このうち鏡面反射光は偏光が
解消されず入射光と光波の振動方向が同一の直線偏光と
して反射され、一方拡散反射光は偏光が解消されて入射
光と光波の振動方向が異なる方向の偏光成分を有して反
射される。この2つの成分を含んだ反射光は、再び同じ
光路をたどり前記偏光ビームスプリッタに再び入射され
る。そして、この偏光ビームスプリッタにより反射光の
うちから前記照射した直線偏光と光波の振動方向が異な
る一定方向の直線偏光がとり出される。これにより、被
検体からの反射光のうちから鏡面反射光が分離除去され
拡散反射光のみを検出することができる。
【0014】
【実施例】以下、本発明の方法を実施するための反射分
光計測装置を示す図1に基づいて本発明を説明する。
光計測装置を示す図1に基づいて本発明を説明する。
【0015】1は光源装置であり、該光源装置1は、可
視光及び/又は近赤外光、又はその他の波長領域の光を
被検体3に照射するためのもので、好ましくは近赤外光
を少なくとも含む光を発するものがよく、例えばハロゲ
ンランプや白熱電球等が用いられる。
視光及び/又は近赤外光、又はその他の波長領域の光を
被検体3に照射するためのもので、好ましくは近赤外光
を少なくとも含む光を発するものがよく、例えばハロゲ
ンランプや白熱電球等が用いられる。
【0016】2は偏光ビームスプリッタであり、該偏光
ビームスプリッタ2は、2個のプリズムの45゜カット
面に薄膜2′を真空蒸着して再び組み合わせたもので、
入射した光を薄膜2′表面により反射及び透過させるも
のであるが、P偏光成分の光に対しては薄膜2′表面が
ブリュースター角(偏光角)になっているので反射率が
殆ど0%となり、このP偏光成分の光は薄膜2′を透過
して直線偏光として直進するようになっており、S偏光
成分の光については薄膜2′表面で反射して直線偏光と
してとり出されるようになっている。尚、この薄膜2′
は多層膜になっており干渉作用により反射率が高くなる
ようになっている。
ビームスプリッタ2は、2個のプリズムの45゜カット
面に薄膜2′を真空蒸着して再び組み合わせたもので、
入射した光を薄膜2′表面により反射及び透過させるも
のであるが、P偏光成分の光に対しては薄膜2′表面が
ブリュースター角(偏光角)になっているので反射率が
殆ど0%となり、このP偏光成分の光は薄膜2′を透過
して直線偏光として直進するようになっており、S偏光
成分の光については薄膜2′表面で反射して直線偏光と
してとり出されるようになっている。尚、この薄膜2′
は多層膜になっており干渉作用により反射率が高くなる
ようになっている。
【0017】上記の如く、偏光ビームスプリッタ2は、
薄膜の干渉作用とブリュースター角の効果により、少な
い光損失で偏光を得ることができるものであり、更に、
薄膜の設計により種々の波長範囲に適用でき、しかも口
径の大きなものを製作することが可能なものである。そ
してこの偏光ビームスプリッタ2は、光源装置1からの
光を受けてこの受けた光のうちP偏光成分の直線偏光を
光吸収部24に向けて直進させ、S偏光成分の直線偏光
を被検体3に照射し且つこの被検体3からの反射光を受
けてこの反射光のうちから、鏡面反射光がすべて含まれ
るS偏光成分の光を薄膜の表面により反射させて光源装
置1の方向に放出し、被検体3に照射した直線偏光と光
波(電気ベクトル)の振動方向が異なる方向のP偏光成
分の直線偏光をとり出すようになっている。
薄膜の干渉作用とブリュースター角の効果により、少な
い光損失で偏光を得ることができるものであり、更に、
薄膜の設計により種々の波長範囲に適用でき、しかも口
径の大きなものを製作することが可能なものである。そ
してこの偏光ビームスプリッタ2は、光源装置1からの
光を受けてこの受けた光のうちP偏光成分の直線偏光を
光吸収部24に向けて直進させ、S偏光成分の直線偏光
を被検体3に照射し且つこの被検体3からの反射光を受
けてこの反射光のうちから、鏡面反射光がすべて含まれ
るS偏光成分の光を薄膜の表面により反射させて光源装
置1の方向に放出し、被検体3に照射した直線偏光と光
波(電気ベクトル)の振動方向が異なる方向のP偏光成
分の直線偏光をとり出すようになっている。
【0018】この実施例では、S偏光成分の直線偏光を
被検体3に照射してこの被検体3からの反射光からP偏
光成分の直線偏光をとり出す如く構成したが、それぞれ
の直線偏光はPとSとが逆であってもよい。
被検体3に照射してこの被検体3からの反射光からP偏
光成分の直線偏光をとり出す如く構成したが、それぞれ
の直線偏光はPとSとが逆であってもよい。
【0019】即ち、P偏光成分の直線偏光を被検体3に
照射してこの被検体3からの反射光からS偏光成分の直
線偏光をとり出すようにしてもよい。
照射してこの被検体3からの反射光からS偏光成分の直
線偏光をとり出すようにしてもよい。
【0020】尚、S偏光成分とは、入射面に対して光波
(電気べクトル)の振動方向が垂直な偏光成分であり、
P偏光成分とは入射面に対して光波の振動方向が平行な
偏光成分である。又、本実施例では、偏光ビームスプリ
ッタ2に入射する光は図示しない集光レンズ及びレンズ
21により、またレンズ22によりほぼ平行な光となっ
て入射するようにしている。
(電気べクトル)の振動方向が垂直な偏光成分であり、
P偏光成分とは入射面に対して光波の振動方向が平行な
偏光成分である。又、本実施例では、偏光ビームスプリ
ッタ2に入射する光は図示しない集光レンズ及びレンズ
21により、またレンズ22によりほぼ平行な光となっ
て入射するようにしている。
【0021】被検体3は農産物又は食肉、或いは岩石な
どであるが、図例では青果物が用いられている。
どであるが、図例では青果物が用いられている。
【0022】4は分光器であり、前記偏光ビームスプリ
ッタ2と後述する検出装置5との光路途中に設けられ、
偏光ビームスプリッタ2によりとり出された前記直線偏
光を分光して近赤外領域における特定の波長範囲の光を
とり出すようになっている。この分光器4は回折格子型
の分光器又はプリズム型の分光器を用いるのが好ましい
が、狭い帯域の光をとり出す干渉フィルタ等を用いるこ
ともできる。
ッタ2と後述する検出装置5との光路途中に設けられ、
偏光ビームスプリッタ2によりとり出された前記直線偏
光を分光して近赤外領域における特定の波長範囲の光を
とり出すようになっている。この分光器4は回折格子型
の分光器又はプリズム型の分光器を用いるのが好ましい
が、狭い帯域の光をとり出す干渉フィルタ等を用いるこ
ともできる。
【0023】5は検出装置であり、前記分光器4により
とり出された光を受光して電気信号に変換するものであ
る。
とり出された光を受光して電気信号に変換するものであ
る。
【0024】尚、前記分光器4及び検出装置5につい
て、図例及び上記説明は、分光器4を偏光ビームスプリ
ッタ2と検出装置5との光路途中に設けていわゆる後分
光方式とし、分光器4によりとり出された光を検出装置
5により検出する請求項2の発明のものであるが、請求
項3の発明では、分光器4の配置位置を異ならせ、光源
装置1と偏光ビームスプリッタ2との光路途中(レンズ
21よりも光源装置1側)に設けていわゆる前分光方式
とし、分光器4は光源装置1からの光を分光して所定波
長帯の光をとり出し偏光ビームスプリッタ2に向けるよ
うになっており、検出装置5は偏光ビームスプリッタ2
からの直線偏光を検出するようになっている。23はレ
ンズである。レンズ21,22,23の他に、レンズは
光路途中の適所に必要に応じて適宜な種類のものを用い
ることができる。尚、図示しないが光路途中の適所に反
射鏡を用いることもできるものである。
て、図例及び上記説明は、分光器4を偏光ビームスプリ
ッタ2と検出装置5との光路途中に設けていわゆる後分
光方式とし、分光器4によりとり出された光を検出装置
5により検出する請求項2の発明のものであるが、請求
項3の発明では、分光器4の配置位置を異ならせ、光源
装置1と偏光ビームスプリッタ2との光路途中(レンズ
21よりも光源装置1側)に設けていわゆる前分光方式
とし、分光器4は光源装置1からの光を分光して所定波
長帯の光をとり出し偏光ビームスプリッタ2に向けるよ
うになっており、検出装置5は偏光ビームスプリッタ2
からの直線偏光を検出するようになっている。23はレ
ンズである。レンズ21,22,23の他に、レンズは
光路途中の適所に必要に応じて適宜な種類のものを用い
ることができる。尚、図示しないが光路途中の適所に反
射鏡を用いることもできるものである。
【0025】以上のように構成された反射分光計測襲置
によれば、光源装置1から照射された光が偏光ビームス
プリッタ2に入射すると、偏光ビームスプリッタ2によ
り、光波の振動方向が所定方向の直線偏光がつくられて
この直線偏光が被検体3に照射される。この被検体3か
らの反射光は、被検体表面において鏡面反射された鏡面
反射光と被検体表面又は内部で拡散反射された拡散反射
光とからなるが、このうち被検体3の品質、特性を反映
しているのは拡散反射光であり、鏡面反射光は品質、特
性を反映していない。ところが、この鏡面反射光は偏光
解消がおきず、入射光と光波の振動方向が同一の直線偏
光として反射され、一方拡散反射光は偏光が解消されて
入射光と光波の振動方向が異なる方向の偏光成分を有し
て反射される。
によれば、光源装置1から照射された光が偏光ビームス
プリッタ2に入射すると、偏光ビームスプリッタ2によ
り、光波の振動方向が所定方向の直線偏光がつくられて
この直線偏光が被検体3に照射される。この被検体3か
らの反射光は、被検体表面において鏡面反射された鏡面
反射光と被検体表面又は内部で拡散反射された拡散反射
光とからなるが、このうち被検体3の品質、特性を反映
しているのは拡散反射光であり、鏡面反射光は品質、特
性を反映していない。ところが、この鏡面反射光は偏光
解消がおきず、入射光と光波の振動方向が同一の直線偏
光として反射され、一方拡散反射光は偏光が解消されて
入射光と光波の振動方向が異なる方向の偏光成分を有し
て反射される。
【0026】この2つの成分を含んだ反射光は、再び同
じ光路をたどり偏光ビームスプリッタ2に入射される。
前記2つの成分を含んだ光が入射されると、偏光ビーム
スプリッタ2は、反射光のうちから前記照射した直線偏
光と光波の振動方向が異なる一定方向の偏光成分のみを
分光器4又は検出装置5に向けるべくとり出す。これに
より、被検体3からの反射光のうちから鏡面反射光が分
離除去され拡散反射光のみをとり出すことができる。こ
の拡散反射光は、本発明の請求項2の発明では、分光器
4により特定の波長範囲の光に分光されこの分光された
光が検出装置5により検出されて電気信号に変換され
る。請求項3の発明では、上記の如くとり出された拡散
反射光は検出装置5により検出されて電気信号に変換さ
れる。こうしてこれらいずれの発明においても、被検体
3の品質、特性を反映した高いレベルのデータを得るこ
とができる。
じ光路をたどり偏光ビームスプリッタ2に入射される。
前記2つの成分を含んだ光が入射されると、偏光ビーム
スプリッタ2は、反射光のうちから前記照射した直線偏
光と光波の振動方向が異なる一定方向の偏光成分のみを
分光器4又は検出装置5に向けるべくとり出す。これに
より、被検体3からの反射光のうちから鏡面反射光が分
離除去され拡散反射光のみをとり出すことができる。こ
の拡散反射光は、本発明の請求項2の発明では、分光器
4により特定の波長範囲の光に分光されこの分光された
光が検出装置5により検出されて電気信号に変換され
る。請求項3の発明では、上記の如くとり出された拡散
反射光は検出装置5により検出されて電気信号に変換さ
れる。こうしてこれらいずれの発明においても、被検体
3の品質、特性を反映した高いレベルのデータを得るこ
とができる。
【0027】図2は、前記反射分光計測装置Aを用いて
構成した青果物の選別装置を示す平面図であるが、これ
について簡単に説明する。尚、反射分光計測装置Aは請
求項2の発明を適用したものとして説明する。
構成した青果物の選別装置を示す平面図であるが、これ
について簡単に説明する。尚、反射分光計測装置Aは請
求項2の発明を適用したものとして説明する。
【0028】6はコンベアであり、被検体3が載置され
たトレイ7を一列で搬送するようになっている。
たトレイ7を一列で搬送するようになっている。
【0029】このコンベア6の搬送路の側方所定位置に
は、反射分光計測装置Aを配設してなり、この反射分光
計測装置Aは、コンベア6によって搬送されてくるトレ
イ7上の被検体3が所定位置に達すると、光源装置1か
らの光から偏光ビームスプリッタ2により所定方向の直
線偏光を被検体3に照射すると共に、被検体3からの反
射光のうちから該照射した直線偏光と光波の振動方向が
異なる方向の直線偏光をとり出し、この直線偏光を分光
器4により特定の波長範囲の光に分光して検出装置5に
送り、検出装置5では前記分光された光を検出し電気信
号に変換して後述する演算処理手段8へ送るようになっ
ている。
は、反射分光計測装置Aを配設してなり、この反射分光
計測装置Aは、コンベア6によって搬送されてくるトレ
イ7上の被検体3が所定位置に達すると、光源装置1か
らの光から偏光ビームスプリッタ2により所定方向の直
線偏光を被検体3に照射すると共に、被検体3からの反
射光のうちから該照射した直線偏光と光波の振動方向が
異なる方向の直線偏光をとり出し、この直線偏光を分光
器4により特定の波長範囲の光に分光して検出装置5に
送り、検出装置5では前記分光された光を検出し電気信
号に変換して後述する演算処理手段8へ送るようになっ
ている。
【0030】演算処理手段8は、演算手段9、判定手段
10、設定手段11、出力手段(仕分制御装置)12、
表示手段13から概略構成されており、演算手段9は前
記検出装置5からの電気信号が入力されると、特定波長
の反射率が算出されてその算出結果が判定手段10に送
られる。判定手段10は、前記反射率の算出結果から、
設定手段11に設定されている品質、特性に関するデー
タに基づき被検体3の品質、特性を判定し、その判定結
果を出力手段12と表示手段13とに送るようになって
いる。尚、この設定手段11に設定されている品質、特
性に関するデータは、例えば、品質、特性の判明してい
る標準青果物についての熟度又は糖度或いは硬度に関す
るデータ(モデル式等)とすることができる。
10、設定手段11、出力手段(仕分制御装置)12、
表示手段13から概略構成されており、演算手段9は前
記検出装置5からの電気信号が入力されると、特定波長
の反射率が算出されてその算出結果が判定手段10に送
られる。判定手段10は、前記反射率の算出結果から、
設定手段11に設定されている品質、特性に関するデー
タに基づき被検体3の品質、特性を判定し、その判定結
果を出力手段12と表示手段13とに送るようになって
いる。尚、この設定手段11に設定されている品質、特
性に関するデータは、例えば、品質、特性の判明してい
る標準青果物についての熟度又は糖度或いは硬度に関す
るデータ(モデル式等)とすることができる。
【0031】出力手段12は、コンベア6の所定移動量
に対して出力されるクロック信号発信器14からの信号
を入力しており、この信号と前記判定手段10からの判
定結果とに基づき、仕分け排出信号を該当する排出作動
装置15ヘ出力する。これにより、該当する被検体3が
搬送されてきたとき排出作動装置15が作動して被検体
3をトレイ7ごと排出コンベア16上へ仕分け排出す
る。
に対して出力されるクロック信号発信器14からの信号
を入力しており、この信号と前記判定手段10からの判
定結果とに基づき、仕分け排出信号を該当する排出作動
装置15ヘ出力する。これにより、該当する被検体3が
搬送されてきたとき排出作動装置15が作動して被検体
3をトレイ7ごと排出コンベア16上へ仕分け排出す
る。
【0032】表示手段13は、判定手段10から送られ
てくる判定結果に応じて所定の表示をするもので、図例
の如く演算処理手段8の一部に設けられる場合と、図示
しないが演算処理手段8とは別個に設けられる場合とが
ある。
てくる判定結果に応じて所定の表示をするもので、図例
の如く演算処理手段8の一部に設けられる場合と、図示
しないが演算処理手段8とは別個に設けられる場合とが
ある。
【0033】17は被検体検出手段であり、検出装置5
からの電気信号を演算手段9において所定時間とり込む
ために、被検体3を検知したとき演算手段9に信号を出
力するようになっている。
からの電気信号を演算手段9において所定時間とり込む
ために、被検体3を検知したとき演算手段9に信号を出
力するようになっている。
【0034】以上の如く本発明の方法を実施するための
反射分光計測装置Aを青果物の選別装置に用いることに
より、コンベア6上で搬送される被検体3としての青果
物は、その内部の特性、品質を非破壊で正確に検査さ
れ、所定の仕分けを行うことができる。
反射分光計測装置Aを青果物の選別装置に用いることに
より、コンベア6上で搬送される被検体3としての青果
物は、その内部の特性、品質を非破壊で正確に検査さ
れ、所定の仕分けを行うことができる。
【0035】尚、図示しないがカメラ装置などの撮像手
段を組み合わせて、青果物の外観上の品質を測定してよ
り高いレベルの選別を行うこともできる。
段を組み合わせて、青果物の外観上の品質を測定してよ
り高いレベルの選別を行うこともできる。
【0036】
【発明の効果】本発明は、以上述べた如く、光源装置か
らの光から偏光ビームスプリッタにより、所定方向の直
線偏光をつくり被検体に向けて照射し且つ被検体からの
反射光のうちから該照射した直線偏光と光波の振動方向
が異なる方向の直線偏光をとり出し、この光を検出する
ようにしたものであるから、被検体からの反射光のうち
から被検体の品質、特性を反映しない鏡面反射光を分離
して被検体の品質、特性を反映した拡散反射光のみを検
出できるので、被検体の品質、特性を反映した高いレベ
ルのデータを得ることができるものである。
らの光から偏光ビームスプリッタにより、所定方向の直
線偏光をつくり被検体に向けて照射し且つ被検体からの
反射光のうちから該照射した直線偏光と光波の振動方向
が異なる方向の直線偏光をとり出し、この光を検出する
ようにしたものであるから、被検体からの反射光のうち
から被検体の品質、特性を反映しない鏡面反射光を分離
して被検体の品質、特性を反映した拡散反射光のみを検
出できるので、被検体の品質、特性を反映した高いレベ
ルのデータを得ることができるものである。
【0037】また、偏光ビームスプリッタを用いること
により光学系の調整を簡略にすることができると共に計
測に大きな口径(最大100mm程度)が要求される場
合でもこの要求を満たすことができる。
により光学系の調整を簡略にすることができると共に計
測に大きな口径(最大100mm程度)が要求される場
合でもこの要求を満たすことができる。
【図1】本発明を実施するための反射分光計測装置の概
略図である。
略図である。
【図2】本発明を実施するための反射分光計測装置を用
いて構成した青果物選別装置の平面図である。
いて構成した青果物選別装置の平面図である。
【図3】徒来の近赤外反射分光計測装置のブロック図で
ある。
ある。
1:光源装置、 2:偏光ビームスプリッタ 3:被検体、 4:分光器 5:検出装置、 6:コンベア 7:トレイ、 8:演算処理手段 9:演算手段、 10:判定手段 11:設定手段、 12:出力手段 i3:表示手段、 14:クロック信号発信器 15:排出作動装置、 16:搬出コンベア 17:被検体検出手段、21,22,23:レンズ 24:光吸収部、 2’:薄膜
Claims (3)
- 【請求項1】 光源装置から照射される光から偏光ビー
ムスプリッタにより、所定方向の直線偏光をつくり被検
体に向けて照射し且つ被検体からの反射光のうちから該
照射した直線偏光と光波の振動方向が異なる方向の直線
偏光をとり出すことを特徴とする拡散反射光とり出し方
法。 - 【請求項2】 光源装置から照射される光から偏光ビー
ムスプリッタにより、所定方向の直線偏光をつくり被検
体に向けて照射し且つ被検体からの反射光のうちから該
照射した直線偏光と光波の振動方向が異なる方向の直線
偏光をとり出し、この直線偏光を分光し、この分光後の
光を検出することを特徴とする拡散反射分光計測方法。 - 【請求項3】 光源装置から照射される光を分光し、こ
の分光した光から偏光ビームスプリッタにより、所定方
向の直線偏光をつくり被検体に向けて照射し且つ被検体
からの反射光のうちから該照射した直線偏光と光波の振
動方向が異なる方向の直線偏光をとり出し、この直線偏
光を検出することを特徴とする拡散反射分光計測方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6707392A JPH05273119A (ja) | 1992-03-25 | 1992-03-25 | 拡散反射光とり出し方法及び拡散反射分光計測方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6707392A JPH05273119A (ja) | 1992-03-25 | 1992-03-25 | 拡散反射光とり出し方法及び拡散反射分光計測方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05273119A true JPH05273119A (ja) | 1993-10-22 |
Family
ID=13334329
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6707392A Pending JPH05273119A (ja) | 1992-03-25 | 1992-03-25 | 拡散反射光とり出し方法及び拡散反射分光計測方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH05273119A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007292512A (ja) * | 2006-04-21 | 2007-11-08 | Matsushita Electric Works Ltd | 食用肉の鮮度評価装置及びこれを用いた食用肉の鮮度維持装置 |
CN106925534A (zh) * | 2015-12-29 | 2017-07-07 | 合肥美亚光电技术股份有限公司 | 物料的检测方法及物料的检测装置及色选机 |
WO2019022157A1 (ja) * | 2017-07-27 | 2019-01-31 | グローリー株式会社 | 媒体通過検知装置及び一対の媒体通過検知装置 |
WO2021258148A1 (en) * | 2020-06-24 | 2021-12-30 | Rubens IP Pty Ltd | Detecting plant product properties |
-
1992
- 1992-03-25 JP JP6707392A patent/JPH05273119A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007292512A (ja) * | 2006-04-21 | 2007-11-08 | Matsushita Electric Works Ltd | 食用肉の鮮度評価装置及びこれを用いた食用肉の鮮度維持装置 |
CN106925534A (zh) * | 2015-12-29 | 2017-07-07 | 合肥美亚光电技术股份有限公司 | 物料的检测方法及物料的检测装置及色选机 |
CN106925534B (zh) * | 2015-12-29 | 2019-03-12 | 合肥美亚光电技术股份有限公司 | 物料的检测装置及色选机 |
WO2019022157A1 (ja) * | 2017-07-27 | 2019-01-31 | グローリー株式会社 | 媒体通過検知装置及び一対の媒体通過検知装置 |
WO2021258148A1 (en) * | 2020-06-24 | 2021-12-30 | Rubens IP Pty Ltd | Detecting plant product properties |
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