JPH05264469A - 長く伸びたテキスタイル構造物において不純物、特に異質繊維を検出するための装置 - Google Patents
長く伸びたテキスタイル構造物において不純物、特に異質繊維を検出するための装置Info
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- JPH05264469A JPH05264469A JP4354504A JP35450492A JPH05264469A JP H05264469 A JPH05264469 A JP H05264469A JP 4354504 A JP4354504 A JP 4354504A JP 35450492 A JP35450492 A JP 35450492A JP H05264469 A JPH05264469 A JP H05264469A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 糸状の構造物の太さによって異質繊維検出の
測定結果が左右されることがなく、糸状構造物が装填し
易い異質繊維の検出装置を提供する。 【構成】 平滑なスリット（２）として構成されている
測定域を有する構造体（１）は、内側に向かってハーフ
ミラー加工され、および／または、拡散性の反射を行な
う塗料層（５）を有している。測定域における糸状構造
物（３）にあらゆる方向から光が当たるよう、複数光源
（Ｄ1〜Ｄ3）によって該構造体に光を照射する。異質繊
維がない場合、センサー（４）が受け取る糸状構造物
（３）からの反射による輝度が測定域のバックグランド
の輝度に基本的に相応するよう、光源（Ｄ1〜Ｄ3）を配
置するとともに相互に調整を行なう。
測定結果が左右されることがなく、糸状構造物が装填し
易い異質繊維の検出装置を提供する。 【構成】 平滑なスリット（２）として構成されている
測定域を有する構造体（１）は、内側に向かってハーフ
ミラー加工され、および／または、拡散性の反射を行な
う塗料層（５）を有している。測定域における糸状構造
物（３）にあらゆる方向から光が当たるよう、複数光源
（Ｄ1〜Ｄ3）によって該構造体に光を照射する。異質繊
維がない場合、センサー（４）が受け取る糸状構造物
（３）からの反射による輝度が測定域のバックグランド
の輝度に基本的に相応するよう、光源（Ｄ1〜Ｄ3）を配
置するとともに相互に調整を行なう。
Description
【０００１】
【技術分野】本発明は、例えばテキスタイルの糸または
糸状の構造物など、長く伸びたテキスタイル構造物にお
いて、不純物、特に異質繊維を検出するための装置に関
するものである。
糸状の構造物など、長く伸びたテキスタイル構造物にお
いて、不純物、特に異質繊維を検出するための装置に関
するものである。
【０００２】
【従来技術】例えば綿繊維などの原材料繊維は、紡ぐ前
に、カーディング機によって機械的に清掃が行なわれ
る。これによって、綿の殼皮の残りかすなどといった目
の粗い不純物を除去することが可能である。しかしなが
ら、機械的な清掃を完全に行なっても、異質繊維などの
小さな不純物が紡いだ糸状構造物に現れるのを排除する
ことはできない。以前より、糸の望まれない欠陥部分、
すなわち糸の太くなった部分または細くなった部分を検
出し、除去する方法は周知である。いわゆるヤーンクリ
ーナーは該当する糸の部分の自動的な切除を行なう。近
年において、糸の欠陥部分のみならず、糸の不純物、特
に異質繊維による不純物を識別するとともに除去しよう
とする努力が払われている。このような装置は、例えば
ヨーロッパ特許明細書0 197 763より周知である。この
装置の測定原理は拡散性の光で糸状構造物に不透明領域
を通して照射を行ない、それによって糸状構造物がバッ
クグランドから識別できないようにし、不純物がない限
りにおいて光センサにとって糸状構造物を識別できない
ようにするという原理に基づいている。これによって特
に、糸状構造物の太さによってセンサ信号がこうむる影
響を排除することが可能である。ところが、上記した特
許明細書において開示されている解決法では、ヤーンク
リーナーで通常行なわれているようには、糸状構造物を
装置に装填することができないという欠点がある。装填
できない理由は、外部光が侵入するのを不可能にするよ
うな、湾曲したチャンネルの底部を糸状構造物が走行し
ているためである。そのため、このような装置は、従来
の糸状構造物の装填装置とともに使用することができな
い。
に、カーディング機によって機械的に清掃が行なわれ
る。これによって、綿の殼皮の残りかすなどといった目
の粗い不純物を除去することが可能である。しかしなが
ら、機械的な清掃を完全に行なっても、異質繊維などの
小さな不純物が紡いだ糸状構造物に現れるのを排除する
ことはできない。以前より、糸の望まれない欠陥部分、
すなわち糸の太くなった部分または細くなった部分を検
出し、除去する方法は周知である。いわゆるヤーンクリ
ーナーは該当する糸の部分の自動的な切除を行なう。近
年において、糸の欠陥部分のみならず、糸の不純物、特
に異質繊維による不純物を識別するとともに除去しよう
とする努力が払われている。このような装置は、例えば
ヨーロッパ特許明細書0 197 763より周知である。この
装置の測定原理は拡散性の光で糸状構造物に不透明領域
を通して照射を行ない、それによって糸状構造物がバッ
クグランドから識別できないようにし、不純物がない限
りにおいて光センサにとって糸状構造物を識別できない
ようにするという原理に基づいている。これによって特
に、糸状構造物の太さによってセンサ信号がこうむる影
響を排除することが可能である。ところが、上記した特
許明細書において開示されている解決法では、ヤーンク
リーナーで通常行なわれているようには、糸状構造物を
装置に装填することができないという欠点がある。装填
できない理由は、外部光が侵入するのを不可能にするよ
うな、湾曲したチャンネルの底部を糸状構造物が走行し
ているためである。そのため、このような装置は、従来
の糸状構造物の装填装置とともに使用することができな
い。
【０００３】
【目的】本発明は、上述のごとき実情に鑑みてなされた
もので、糸状構造物を装填するための開口部が、通常の
ヤーンクリーナーの開口部に相応するよう、上記したよ
うな装置を作成することを目的としてなされたものであ
る。
もので、糸状構造物を装填するための開口部が、通常の
ヤーンクリーナーの開口部に相応するよう、上記したよ
うな装置を作成することを目的としてなされたものであ
る。
【０００４】
【構成】この課題の解決法は、本特許請求項の特徴より
得られる。ＥＰ 0 197 763に開示されている装置では、
不透明領域を通して光が測定域に照射されるが、本発明
の装置では、該装置とは異なって、ガラス様透明構造体
の、ハーフミラー加工され、および／または拡散性の反
射を行なう外表面での反射によって光源から測定域に光
が到達する。周知の配置によれば、空間的に狭く限定さ
れた測定域のみが拡散光で満たされるが、その一方で、
透明材料からなり、その外表面がハーフミラー加工され
るか、または拡散性の反射を行なう構造体は、拡散光で
満たされる空間がはるかに大きな空間である。相応し
て、測定域をより大きな広がりとすることが可能であ
る。さらに、装填用開口部を通しての光の損失が比較的
に少なくなる。したがって、糸状構造物の位置を狭めて
導く必要がなくなりそれによって従来のヤーンクリーナ
ーの場合と同じように、開口した状態で構造体に設けら
れている平滑なスリットを通して糸状構造物を走行させ
ることが可能である。拡散光で満たされるこのように形
成された空間においては、糸状構造物において光を吸収
するいかなる不純物も、エネルギー密度を減じる。この
エネルギー密度の減少が、測定域に配置されている光セ
ンサにおいて、信号の変化として識別される。センサの
信号が糸状構造物の太さに基本的に左右されないように
するためには、不純物がない場合においてセンサが受け
取る糸状構造物の反射による輝度が、測定域のバックグ
ランドの輝度と基本的に相応するよう、測定域の両側に
光源を配置し、相互に調整を行なう。
得られる。ＥＰ 0 197 763に開示されている装置では、
不透明領域を通して光が測定域に照射されるが、本発明
の装置では、該装置とは異なって、ガラス様透明構造体
の、ハーフミラー加工され、および／または拡散性の反
射を行なう外表面での反射によって光源から測定域に光
が到達する。周知の配置によれば、空間的に狭く限定さ
れた測定域のみが拡散光で満たされるが、その一方で、
透明材料からなり、その外表面がハーフミラー加工され
るか、または拡散性の反射を行なう構造体は、拡散光で
満たされる空間がはるかに大きな空間である。相応し
て、測定域をより大きな広がりとすることが可能であ
る。さらに、装填用開口部を通しての光の損失が比較的
に少なくなる。したがって、糸状構造物の位置を狭めて
導く必要がなくなりそれによって従来のヤーンクリーナ
ーの場合と同じように、開口した状態で構造体に設けら
れている平滑なスリットを通して糸状構造物を走行させ
ることが可能である。拡散光で満たされるこのように形
成された空間においては、糸状構造物において光を吸収
するいかなる不純物も、エネルギー密度を減じる。この
エネルギー密度の減少が、測定域に配置されている光セ
ンサにおいて、信号の変化として識別される。センサの
信号が糸状構造物の太さに基本的に左右されないように
するためには、不純物がない場合においてセンサが受け
取る糸状構造物の反射による輝度が、測定域のバックグ
ランドの輝度と基本的に相応するよう、測定域の両側に
光源を配置し、相互に調整を行なう。
【０００５】以下に、本発明に係わる検出装置の実施例
を、図面を参照しながら詳しく説明する。特に、図１と
図３から明らかなように、拡大して表示されている検出
装置は、ガラス様透明プラスチックからなる測定用構造
体（１）を有し、該測定用構造体（１）は、プラスチッ
ク射出成形品で構成されることが好ましく、また、検査
される糸状構造物（３）のために平滑なスリット（２）
を有している。測定域を定義するスリット（２）は、通
常のヤーンクリーナーにおいて一般的に見られる糸状構
造物のための装填用開口部ともなっている。糸構造物
は、測定域において固定されておらず、特にはねること
がありうる。この作用は、測定域を拡大することによっ
て対処される。図２と図３から明らかなように、光セン
サ（４）は、検査すべき糸状構造物が走行する測定域の
一方の側の境界をなしている。
を、図面を参照しながら詳しく説明する。特に、図１と
図３から明らかなように、拡大して表示されている検出
装置は、ガラス様透明プラスチックからなる測定用構造
体（１）を有し、該測定用構造体（１）は、プラスチッ
ク射出成形品で構成されることが好ましく、また、検査
される糸状構造物（３）のために平滑なスリット（２）
を有している。測定域を定義するスリット（２）は、通
常のヤーンクリーナーにおいて一般的に見られる糸状構
造物のための装填用開口部ともなっている。糸構造物
は、測定域において固定されておらず、特にはねること
がありうる。この作用は、測定域を拡大することによっ
て対処される。図２と図３から明らかなように、光セン
サ（４）は、検査すべき糸状構造物が走行する測定域の
一方の側の境界をなしている。
【０００６】ガラス様透明構造体（１）には、合計３個
の発光ダイオードＤ1〜Ｄ3によって光を照射する。ま
た、ダイオードの代わりに光ガイドもしくは類似するそ
の他の光源を設けることも可能である。光は、その内側
に向かってハーフミラー加工されているか、または、拡
散性の反射を行なう塗料層（５）が設けられている構造
体（１）の外表面において、構造体内側へと反射され、
それによって構造体内部、特に測定域において拡散性の
照明が生み出される。
の発光ダイオードＤ1〜Ｄ3によって光を照射する。ま
た、ダイオードの代わりに光ガイドもしくは類似するそ
の他の光源を設けることも可能である。光は、その内側
に向かってハーフミラー加工されているか、または、拡
散性の反射を行なう塗料層（５）が設けられている構造
体（１）の外表面において、構造体内側へと反射され、
それによって構造体内部、特に測定域において拡散性の
照明が生み出される。
【０００７】対応すべき反射のため、構造体（１）は、
そのダイオードＤ1〜Ｄ3と反対側の面において屋根状の
傾斜面（６）を有する。さらに、センサ（４）の方向か
らも糸状構造物に光が当たるよう、２個のダイオードＤ
1〜Ｄ2の光が糸状構造物に斜方から照射されるべく、セ
ンサ（４）の両側において構造体（１）に光ガイド
（７）が設けられている。第３のダイオードＤ3は測定
域（２）の反対側に配置されており、その役割は、糸状
構造物（３）によってセンサ（４）に反射される光の輝
度と基本的に相応し、センサ（４）に対するバックグラ
ンドの輝度を発生することである。これによって、ダイ
オードＤ3を相応して調整を行なった場合で、不純物が
ない場合には、糸状構造物（３）は、センサ（４）にと
って基本的に“見えない”ものとなり、それによってセ
ンサの信号は糸状構造物の太さによって影響をこうむる
ことがない。
そのダイオードＤ1〜Ｄ3と反対側の面において屋根状の
傾斜面（６）を有する。さらに、センサ（４）の方向か
らも糸状構造物に光が当たるよう、２個のダイオードＤ
1〜Ｄ2の光が糸状構造物に斜方から照射されるべく、セ
ンサ（４）の両側において構造体（１）に光ガイド
（７）が設けられている。第３のダイオードＤ3は測定
域（２）の反対側に配置されており、その役割は、糸状
構造物（３）によってセンサ（４）に反射される光の輝
度と基本的に相応し、センサ（４）に対するバックグラ
ンドの輝度を発生することである。これによって、ダイ
オードＤ3を相応して調整を行なった場合で、不純物が
ない場合には、糸状構造物（３）は、センサ（４）にと
って基本的に“見えない”ものとなり、それによってセ
ンサの信号は糸状構造物の太さによって影響をこうむる
ことがない。
【０００８】表面がハーフミラー加工されていることに
より、構造体（１）全体には光が満ちている。それによ
って白い糸状構造物（３）における暗い繊維は、たとえ
その繊維が糸状構造物によって検出器に対して覆い隠さ
れているとしても、エラー信号を発生する。調整が正し
く行なわれている場合に、正常な位置、すなわち、セン
サ（４）の前の中央位置にある任意の太さの白い糸状構
造物はその糸状構造物がそこに存在しない場合と同一の
信号をもたらす。すなわち、受信する光の強度は、糸状
構造物がある場合でもない場合でも同一である。
より、構造体（１）全体には光が満ちている。それによ
って白い糸状構造物（３）における暗い繊維は、たとえ
その繊維が糸状構造物によって検出器に対して覆い隠さ
れているとしても、エラー信号を発生する。調整が正し
く行なわれている場合に、正常な位置、すなわち、セン
サ（４）の前の中央位置にある任意の太さの白い糸状構
造物はその糸状構造物がそこに存在しない場合と同一の
信号をもたらす。すなわち、受信する光の強度は、糸状
構造物がある場合でもない場合でも同一である。
【０００９】図４は、前記装置の制御回路を模式的に示
す図である。ダイオードＤ1〜Ｄ3からのパルス光は、セ
ンサ（４）によって受信され、抵抗Ｒ１で方形波電圧を
発生する。この方形波電圧は、増幅器Ａによって増幅さ
れる。増幅器Ａの出力電圧は、整流器Ｇにおいて整流が
行なわれる。もう一方の増幅器ＤＶにおいて、パルス光
によって生じる直流電圧が、再度増幅される。受信する
光の強度が減じられる場合、直流電圧増幅器の出力にお
いて正の電圧が生じる。この電圧は、ダイオードＤ1〜
Ｄ3のための調整器Ｒの入力にもかかっており、この電
圧によって、調整された照明が直流電圧増幅器の出力に
おいて再び０Ｖを生じるまで、調整器Ｒはその出力電圧
を変動する。
す図である。ダイオードＤ1〜Ｄ3からのパルス光は、セ
ンサ（４）によって受信され、抵抗Ｒ１で方形波電圧を
発生する。この方形波電圧は、増幅器Ａによって増幅さ
れる。増幅器Ａの出力電圧は、整流器Ｇにおいて整流が
行なわれる。もう一方の増幅器ＤＶにおいて、パルス光
によって生じる直流電圧が、再度増幅される。受信する
光の強度が減じられる場合、直流電圧増幅器の出力にお
いて正の電圧が生じる。この電圧は、ダイオードＤ1〜
Ｄ3のための調整器Ｒの入力にもかかっており、この電
圧によって、調整された照明が直流電圧増幅器の出力に
おいて再び０Ｖを生じるまで、調整器Ｒはその出力電圧
を変動する。
【００１０】ダイオードＤ1〜Ｄ3を制御するため、クロ
ックト・ドライバＴがあり、このドライバＴは調整器Ｒ
の出力によって供給を受ける。バックグランドの輝度を
調整する役割を果たすダイオードＤ3は、ダイオードを
通る電流とは無関係に、ポテンショメータＰおよび／ま
たは制御電圧ＳＴによって調整を行なうことが可能であ
る。
ックト・ドライバＴがあり、このドライバＴは調整器Ｒ
の出力によって供給を受ける。バックグランドの輝度を
調整する役割を果たすダイオードＤ3は、ダイオードを
通る電流とは無関係に、ポテンショメータＰおよび／ま
たは制御電圧ＳＴによって調整を行なうことが可能であ
る。
【００１１】不純物がある場合に増幅器ＤＶの出力に生
じる信号は、検査が行なわれている糸状構造物もしくは
糸において望まれない不純物が出現した場合にエラー信
号を発生すベく、周知の方法で分析が行なわれる。次に
該当する箇所が、ヤーンクリーナーによって切除され
る。その後、平滑な測定域スリットのため、上述の検出
装置に簡単な方法で糸状構造物を再度装填することが可
能である。
じる信号は、検査が行なわれている糸状構造物もしくは
糸において望まれない不純物が出現した場合にエラー信
号を発生すベく、周知の方法で分析が行なわれる。次に
該当する箇所が、ヤーンクリーナーによって切除され
る。その後、平滑な測定域スリットのため、上述の検出
装置に簡単な方法で糸状構造物を再度装填することが可
能である。
【００１２】
【効果】以上の説明から明らかなように、本発明による
と、糸状構造物の太さによって異質繊維検出の測定結果
が左右されることがない。又、本発明による測定域の配
置のため、糸状構造物は、従来のヤーンクリーナーの場
合と同様に装填することが可能になる。
と、糸状構造物の太さによって異質繊維検出の測定結果
が左右されることがない。又、本発明による測定域の配
置のため、糸状構造物は、従来のヤーンクリーナーの場
合と同様に装填することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図１】 光学的に透明な材料からなる構造体を示す外
観図である。
観図である。
【図２】 図１の構造体の上面図である。
【図３】 図２の矢印 III-III 線に沿った断面図であ
る。
る。
【図４】 制御回路の部分的な模式回路図である。
１…測定用構造体、２…スリット、３…糸状構造物、４
…光センサ、５…塗料層、６…傾斜面、７…光のガイ
ド、Ａ…増幅器、Ｇ…整流器、ＤＶ…増幅器、Ｒ…調整
器、ＳＴ…制御電圧、Ｔ…ドライバ、Ｐ…ポテンショメ
ータ、Ｄ1〜Ｄ3…ダイオード。
…光センサ、５…塗料層、６…傾斜面、７…光のガイ
ド、Ａ…増幅器、Ｇ…整流器、ＤＶ…増幅器、Ｒ…調整
器、ＳＴ…制御電圧、Ｔ…ドライバ、Ｐ…ポテンショメ
ータ、Ｄ1〜Ｄ3…ダイオード。
Claims (7)
- 【請求項１】 長く伸びたテキスタイル構造物における
不純物を検出するための装置において、光学的に透明な
材料からなり、測定域を定義する平滑なスリット（２）
を有し、該平滑なスリット（２）を介してテキスタイル
構造物（３）を長軸方向に通すことが可能であるととも
に、内側に向かってハーフミラー加工され、および／ま
たは、拡散性の反射を行なう外表面（５）を有する測定
構造体（１）を持つことを特徴とし、さらに、測定域
（２）におけるテキスタイル構造物には基本的にあらゆ
る方向から光があたるよう、該測定構造体の中に光を送
り込むため、一つまた複数の光源（Ｄ1〜Ｄ3）を有する
とともに、測定域（２）の一方の側に配置されている少
なくとも一つの光センサ（４）を有し、不純物がない場
合においてはセンサ（４）が受け取るテキスタイル構造
物の反射による輝度が、測定域のバックグランドの輝度
と基本的に相応するよう、光源（Ｄ1〜Ｄ3）が配置さ
れ、相互に調整が行なわれていることを特徴とする長く
伸びたテキスタイル構造物において不純物、特に異質繊
維を検出するための装置。 - 【請求項２】 請求項１に記載の装置において、測定構
造体（１）が光源（Ｄ1〜Ｄ3）からの光を測定域の方に
反射するための傾斜面（６）を測定域スリット（２）の
両側に有することを特徴とする長く伸びたテキスタイル
構造物において不純物、特に異質繊維を検出するための
装置。 - 【請求項３】 請求項２記載の装置において、光源（Ｄ
1〜Ｄ3）が、傾斜面（６）とは反対側となる構造体
（１）面に配置されていることを特徴とする長く伸びた
テキスタイル構造物において不純物、特に異質繊維を検
出するための装置。 - 【請求項４】 上記請求項のいずれかに記載の装置にお
いて、２つの光源群（Ｄ1，Ｄ2；Ｄ3）を設け、基本的
には一つの光源群（Ｄ1，Ｄ2）がテキスタイル構造物に
当たり、かつ、光センサ４によってその反射が把握され
る光を発生する役割を果たすとともに、他方の群
（Ｄ3）がバックグランドの輝度を調整する役割を果た
すことを特徴とする長く伸びたテキスタイル構造物にお
いて不純物、特に異質繊維を検出するための装置。 - 【請求項５】 請求項４に記載の装置において、２つ光
源群（Ｄ1，Ｄ2；Ｄ3）がそれぞれ、測定域スリットを
介して相対する側に配置されていることを特徴とする長
く伸びたテキスタイル構造物において不純物、特に異質
繊維を検出するための装置。 - 【請求項６】 請求項４または５に記載の装置におい
て、光源群（Ｄ1，Ｄ2；Ｄ3）が、両群によって発生さ
れる光の輝度の比率を調整することが可能な供給回路
（Ｐ，Ｔ）に接続されていることを特徴とする長く伸び
たテキスタイル構造物において不純物、特に異質繊維を
検出するための装置。 - 【請求項７】 上記請求項のいずれかに記載の装置にお
いて、光センサ（４）および光源（Ｄ1〜Ｄ3）が調整回
路（Ｒ）に接続され、該調整回路（Ｒ）は、欠陥が存在
しない場合において、前記装置の出力信号を一定の電圧
値、望ましくは０ボルトに設定するよう、光源の輝度を
調整することを特徴とする長く伸びたテキスタイル構造
物において不純物、特に異質繊維を検出するための装
置。
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|---|---|---|---|
| CH283/92A CH683294A5 (de) | 1992-01-31 | 1992-01-31 | Vorrichtung zur Detektion von Verunreinigungen, insbesondere Fremdfasern in einem langgestreckten, textilen Gebilde. |
| CH00283/92-4 | 1992-01-31 |
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| JPH05264469A true JPH05264469A (ja) | 1993-10-12 |
| JP3200486B2 JP3200486B2 (ja) | 2001-08-20 |
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| JP2003535335A (ja) * | 2000-05-31 | 2003-11-25 | ツエルヴエーゲル・ルーヴア・アクチエンゲゼルシヤフト | 長手方向に動かされる糸状製品中の夾雑物を確認する方法及び装置 |
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