JPH05218645A - 薄膜多層配線基板の製造方法 - Google Patents
薄膜多層配線基板の製造方法Info
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- JPH05218645A JPH05218645A JP4020096A JP2009692A JPH05218645A JP H05218645 A JPH05218645 A JP H05218645A JP 4020096 A JP4020096 A JP 4020096A JP 2009692 A JP2009692 A JP 2009692A JP H05218645 A JPH05218645 A JP H05218645A
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Landscapes
- Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 パターン設計上の制約がなく、平坦な表面層
を得ることができる薄膜多層配線基板の製造方法を提供
する。 【構成】 導体パターン2の形成された絶縁基板1に被
着された絶縁層3にヴィアホール5を形成し、その上面
全面に保護層6を形成した後、導体材料である銅を、電
解めっき法により、ヴィアホール5が十分に埋まりさら
に表面が平坦化するまで成膜し、しかる後、不要の銅を
絶縁層3上の配線分まで除去して所望の形状を得る。
を得ることができる薄膜多層配線基板の製造方法を提供
する。 【構成】 導体パターン2の形成された絶縁基板1に被
着された絶縁層3にヴィアホール5を形成し、その上面
全面に保護層6を形成した後、導体材料である銅を、電
解めっき法により、ヴィアホール5が十分に埋まりさら
に表面が平坦化するまで成膜し、しかる後、不要の銅を
絶縁層3上の配線分まで除去して所望の形状を得る。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、薄膜多層配線基板の製
造方法に関するものである。
造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】薄膜多層配線基板特にポリイミドを絶縁
層とし銅を導体層とする薄膜多層配線基板において、絶
縁層にヴィアホールを設けて上下導体層を接続する場
合、ポリイミドと銅とが反応して劣化し、導体層が絶縁
層からはがれてしまう問題があった。そのため、図4に
示すように、ポリイミドからなる絶縁層13と銅からな
る導体層12との間に、CrまたはNiなどのポリイミドと
反応しにくい保護層15およびカバー層16を形成し
て、絶縁層13と導体層12の反応による劣化を防ぐ必
要があった。なお、図4において、14はヴィアホール
である。
層とし銅を導体層とする薄膜多層配線基板において、絶
縁層にヴィアホールを設けて上下導体層を接続する場
合、ポリイミドと銅とが反応して劣化し、導体層が絶縁
層からはがれてしまう問題があった。そのため、図4に
示すように、ポリイミドからなる絶縁層13と銅からな
る導体層12との間に、CrまたはNiなどのポリイミドと
反応しにくい保護層15およびカバー層16を形成し
て、絶縁層13と導体層12の反応による劣化を防ぐ必
要があった。なお、図4において、14はヴィアホール
である。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
たように絶縁層13と導体層12との間に保護層15お
よびカバー層16を形成した場合は、通常導体層12は
スパッタにより形成されているためピラー形成が困難で
あり、ヴィアホール14内には配線層分の厚みしか導体
層12が形成されなかった。そのため、図4に示すよう
に多層にする場合、さらに上のあるいは下のヴィアホー
ル14と位置をずらす必要があり、上下にヴィアホール
14を重ねるとアスペクト比が大きくなり断線の危険が
存在するため、パターン設計上の制約が存在する問題が
あった。また、ヴィアホール14内の凹部に絶縁層13
を設けなければならないため、図4に示すように表面の
平坦性も悪く、その上微細な導体パターンを形成するこ
とが困難な問題もあった。
たように絶縁層13と導体層12との間に保護層15お
よびカバー層16を形成した場合は、通常導体層12は
スパッタにより形成されているためピラー形成が困難で
あり、ヴィアホール14内には配線層分の厚みしか導体
層12が形成されなかった。そのため、図4に示すよう
に多層にする場合、さらに上のあるいは下のヴィアホー
ル14と位置をずらす必要があり、上下にヴィアホール
14を重ねるとアスペクト比が大きくなり断線の危険が
存在するため、パターン設計上の制約が存在する問題が
あった。また、ヴィアホール14内の凹部に絶縁層13
を設けなければならないため、図4に示すように表面の
平坦性も悪く、その上微細な導体パターンを形成するこ
とが困難な問題もあった。
【0004】本発明の目的は上述した課題を解消して、
パターン設計上の制約がなく、平坦な表面層を得ること
ができる薄膜多層配線基板の製造方法を提供しようとす
るものである。
パターン設計上の制約がなく、平坦な表面層を得ること
ができる薄膜多層配線基板の製造方法を提供しようとす
るものである。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明の薄膜多層配線基
板の製造方法は、導体パターンの形成された絶縁基板に
被着された絶縁層にヴィアホールを形成し、その上面全
面に保護層を形成した後、導体材料である銅を、電解め
っき法により、ヴィアホールが十分に埋まりさらに表面
が平坦化するまで成膜し、しかる後、不要の銅を絶縁層
上の配線分まで除去して所望の形状を得ることを特徴と
するものである。
板の製造方法は、導体パターンの形成された絶縁基板に
被着された絶縁層にヴィアホールを形成し、その上面全
面に保護層を形成した後、導体材料である銅を、電解め
っき法により、ヴィアホールが十分に埋まりさらに表面
が平坦化するまで成膜し、しかる後、不要の銅を絶縁層
上の配線分まで除去して所望の形状を得ることを特徴と
するものである。
【0006】
【作用】上述した構成において、スピンコート等の手段
で設けた例えばポリイミドからなる厚さ10〜50μm
の絶縁層上および直径10〜100μm のヴィアホール
内にCr、Ni、Ti、Mo等からなる保護層を形成し、その後
保護層上に導体材料である銅を従来のようにスパッタで
はなく電解めっきにより設けているため、ヴィアホール
内が充分に埋まりさらに表面が平坦化するまで成膜可能
となる。その結果、ヴィアホールを同一位置に設けるこ
とができ、パターン設計上の制約をなくすことができる
とともに、表面も平坦にすることができる。
で設けた例えばポリイミドからなる厚さ10〜50μm
の絶縁層上および直径10〜100μm のヴィアホール
内にCr、Ni、Ti、Mo等からなる保護層を形成し、その後
保護層上に導体材料である銅を従来のようにスパッタで
はなく電解めっきにより設けているため、ヴィアホール
内が充分に埋まりさらに表面が平坦化するまで成膜可能
となる。その結果、ヴィアホールを同一位置に設けるこ
とができ、パターン設計上の制約をなくすことができる
とともに、表面も平坦にすることができる。
【0007】
【実施例】図1(a)〜(g)は本発明の薄膜多層配線
基板の製造方法の一例を工程順に示す図である。まず、
図1(a)に示すように、セラミックスからなる絶縁基
板1の上面にクロム(保護層6)−銅−ニッケル(カバ
ー層8)の3層構造の導体層2をスパッタ、電解めっ
き、無電解めっき等の方法により形成する。導体層2の
厚さは5〜10μm 程度である。次に、図1(b)に示
すように、非感光性ポリイミドからなる絶縁層3を形成
し、絶縁層3上にアルミニウムを成膜してパターニング
してマスク4を形成する。絶縁層3の厚さは10〜50
μm 程度である。次に、図1(c)に示すように、マス
ク4を利用した反応性イオンエッチングの異方性エッチ
ングにより、45゜から135゜のテーパー角度を持っ
たヴィアホール5を形成する。ヴィアホール5の直径は
10〜100μm 程度である。
基板の製造方法の一例を工程順に示す図である。まず、
図1(a)に示すように、セラミックスからなる絶縁基
板1の上面にクロム(保護層6)−銅−ニッケル(カバ
ー層8)の3層構造の導体層2をスパッタ、電解めっ
き、無電解めっき等の方法により形成する。導体層2の
厚さは5〜10μm 程度である。次に、図1(b)に示
すように、非感光性ポリイミドからなる絶縁層3を形成
し、絶縁層3上にアルミニウムを成膜してパターニング
してマスク4を形成する。絶縁層3の厚さは10〜50
μm 程度である。次に、図1(c)に示すように、マス
ク4を利用した反応性イオンエッチングの異方性エッチ
ングにより、45゜から135゜のテーパー角度を持っ
たヴィアホール5を形成する。ヴィアホール5の直径は
10〜100μm 程度である。
【0008】次に、マスク4をウェットあるいはドライ
エッチングで除去し、図1(d)に示すように、保護層
6としてクロムをスパッタリングにより成膜する。さら
に、クロムからなる保護層6とめっき銅の接着層とし
て、絶縁層上ヴィアホール5の直径と程度の厚さを保護
層6上に銅をスパッタリングにより成膜し、その後、図
1(e)に示すように、電解めっきにより銅7を表面が
平坦になるまでめっきする。最後に、図1(f)に示す
ように、ウェットエッチングにより所望の厚さまで銅を
エッチングするとともに、図1(g)に示すようにマス
クを使用してパターニングすることにより一層の配線基
板を形成し、上述した工程を繰り返すことにより図2に
その一例を示すような本発明の薄膜多層配線基板を得て
いる。
エッチングで除去し、図1(d)に示すように、保護層
6としてクロムをスパッタリングにより成膜する。さら
に、クロムからなる保護層6とめっき銅の接着層とし
て、絶縁層上ヴィアホール5の直径と程度の厚さを保護
層6上に銅をスパッタリングにより成膜し、その後、図
1(e)に示すように、電解めっきにより銅7を表面が
平坦になるまでめっきする。最後に、図1(f)に示す
ように、ウェットエッチングにより所望の厚さまで銅を
エッチングするとともに、図1(g)に示すようにマス
クを使用してパターニングすることにより一層の配線基
板を形成し、上述した工程を繰り返すことにより図2に
その一例を示すような本発明の薄膜多層配線基板を得て
いる。
【0009】ここで、電解めっきした銅7の平坦性につ
いては、図3(a)に示すように、dをヴィア直径、H
をヴィア深さ、Tをめっき銅厚さ、hを平坦度と定義し
たとき、h≦H/5のとき平坦であるとしている。例え
ば、図3(b)に示すようにTがd/2程度であるとh
は上記条件を満たさず平坦でないものと判断し、図3
(c)に示すようにTがd/2+α(α=d/2)程度
であると、hは上記条件を満たし平坦であると判断して
いる。
いては、図3(a)に示すように、dをヴィア直径、H
をヴィア深さ、Tをめっき銅厚さ、hを平坦度と定義し
たとき、h≦H/5のとき平坦であるとしている。例え
ば、図3(b)に示すようにTがd/2程度であるとh
は上記条件を満たさず平坦でないものと判断し、図3
(c)に示すようにTがd/2+α(α=d/2)程度
であると、hは上記条件を満たし平坦であると判断して
いる。
【0010】なお、上述した実施例において、導体層2
をなすクロム−銅−ニッケルの3層構造は、クロム−銅
−クロム、チタン−銅−ニッケル、チタン−銅−クロム
のいずれの構成でも良く、さらにチタン−モリブデン−
銅−ニッケル、チタン−モリブデン−銅−クロム等の4
層構造であっても良い。また、絶縁層3の材料として、
感光性ポリイミドを使用することもできる。さらに、マ
スク4としてのアルミニウムは、レジストでも良く、ニ
ッケル、クロム、チタン、モリブデン、タングステンで
も良く、さらにSiO2、Si3N4 でも良い。
をなすクロム−銅−ニッケルの3層構造は、クロム−銅
−クロム、チタン−銅−ニッケル、チタン−銅−クロム
のいずれの構成でも良く、さらにチタン−モリブデン−
銅−ニッケル、チタン−モリブデン−銅−クロム等の4
層構造であっても良い。また、絶縁層3の材料として、
感光性ポリイミドを使用することもできる。さらに、マ
スク4としてのアルミニウムは、レジストでも良く、ニ
ッケル、クロム、チタン、モリブデン、タングステンで
も良く、さらにSiO2、Si3N4 でも良い。
【0011】また、ヴィアホール5を形成するための反
応性イオンエッチングは、反応性イオンビームエッチン
グ、エキシマレーザエッチング、マグネトロンエッチン
グでも良い。このときの異方性エッチングも、ウェット
エッチング、O2プラズマエッチング等の等方性エッチン
グ、感光性ポリイミドの現像工程でも良く、この場合テ
ーパ角度は0゜から90゜となっても良い。さらに、保
護層6としてのクロムは、蒸着で形成しても良く、クロ
ム以外にニッケル、チタン、タングステン、アルミニウ
ム、またはこれらの合金であっても良い。また、接着層
の銅は無電解めっき法で形成しても良い。さらに、銅の
エッチングはドライエッチングでも良い。
応性イオンエッチングは、反応性イオンビームエッチン
グ、エキシマレーザエッチング、マグネトロンエッチン
グでも良い。このときの異方性エッチングも、ウェット
エッチング、O2プラズマエッチング等の等方性エッチン
グ、感光性ポリイミドの現像工程でも良く、この場合テ
ーパ角度は0゜から90゜となっても良い。さらに、保
護層6としてのクロムは、蒸着で形成しても良く、クロ
ム以外にニッケル、チタン、タングステン、アルミニウ
ム、またはこれらの合金であっても良い。また、接着層
の銅は無電解めっき法で形成しても良い。さらに、銅の
エッチングはドライエッチングでも良い。
【0012】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、保護層を有するヴィアホールに、ヴィアホー
ル内が充分に埋まりさらに表面が平坦化するまで銅を電
解めっきにより設け、その後不要な銅を除去しているた
め、完全に銅で満たされた蒸面の平坦なヴィアホールを
得ることができ、同一位置にヴィアホールを重ねること
が可能となり、パターン設計上の制約がなく、表面が平
坦な薄膜多層配線基板を得ることができる。
によれば、保護層を有するヴィアホールに、ヴィアホー
ル内が充分に埋まりさらに表面が平坦化するまで銅を電
解めっきにより設け、その後不要な銅を除去しているた
め、完全に銅で満たされた蒸面の平坦なヴィアホールを
得ることができ、同一位置にヴィアホールを重ねること
が可能となり、パターン設計上の制約がなく、表面が平
坦な薄膜多層配線基板を得ることができる。
【図1】本発明の薄膜多層配線基板の製造方法の一例を
工程順に示す図である。
工程順に示す図である。
【図2】本発明の薄膜多層配線基板の一例を示す図であ
る。
る。
【図3】本発明における銅めっき7の平坦性を説明する
ための図である。
ための図である。
【図4】従来の薄膜多層配線基板の一例を示す図であ
る。
る。
1 絶縁基板 2 導体層 3 絶縁層 4 マスク 5 ヴィアホール 6 保護層 7 銅 8 カバー層
Claims (1)
- 【請求項1】 導体パターンの形成された絶縁基板に被
着された絶縁層にヴィアホールを形成し、その上面全面
に保護層を形成した後、導体材料である銅を、電解めっ
き法により、ヴィアホールが十分に埋まりさらに表面が
平坦化するまで成膜し、しかる後、不要の銅を絶縁層上
の配線分まで除去して所望の形状を得ることを特徴とす
る薄膜多層配線基板の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4020096A JPH05218645A (ja) | 1992-02-05 | 1992-02-05 | 薄膜多層配線基板の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4020096A JPH05218645A (ja) | 1992-02-05 | 1992-02-05 | 薄膜多層配線基板の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05218645A true JPH05218645A (ja) | 1993-08-27 |
Family
ID=12017590
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4020096A Pending JPH05218645A (ja) | 1992-02-05 | 1992-02-05 | 薄膜多層配線基板の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH05218645A (ja) |
Cited By (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01203121A (ja) * | 1988-02-10 | 1989-08-15 | Nisshoku Corp | 砂等を圧送した泡沫を消泡させる方法 |
JPH08242077A (ja) * | 1995-02-17 | 1996-09-17 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 多層プリント基板、多層プリント基板の製造方法 |
WO1999034655A1 (fr) * | 1997-12-29 | 1999-07-08 | Ibiden Co., Ltd. | Tableau de connexions imprimees multicouche |
US6131279A (en) * | 1998-01-08 | 2000-10-17 | International Business Machines Corporation | Integrated manufacturing packaging process |
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JP2002280737A (ja) * | 2001-03-14 | 2002-09-27 | Ibiden Co Ltd | 多層プリント配線板 |
JP2002280740A (ja) * | 2001-03-16 | 2002-09-27 | Ibiden Co Ltd | 多層プリント配線板 |
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