JPH0518686Y2 - - Google Patents
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- JPH0518686Y2 JPH0518686Y2 JP17459687U JP17459687U JPH0518686Y2 JP H0518686 Y2 JPH0518686 Y2 JP H0518686Y2 JP 17459687 U JP17459687 U JP 17459687U JP 17459687 U JP17459687 U JP 17459687U JP H0518686 Y2 JPH0518686 Y2 JP H0518686Y2
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- spectrometer
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Links
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 10
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims description 8
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Landscapes
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
(イ) 産業上の利用分野
本考案は試料による光吸収及び反射を測定する
分光分析装置に関する。
分光分析装置に関する。
(ロ) 従来の技術
従来、試料による光の吸収スペクトルを測定す
るには例えばハロゲンランプ等の光源からの光を
スリツトによつて細いビームにして試料を透過さ
せ、透過光を回折格子等の分光器と光電管等の検
出器を含む分光計に導き分光測定していた。また
試料面の光反射率、反射スペクトルを測定するに
は細い光ブームを試料面に照射してその反射光を
分光計で設定していた。
るには例えばハロゲンランプ等の光源からの光を
スリツトによつて細いビームにして試料を透過さ
せ、透過光を回折格子等の分光器と光電管等の検
出器を含む分光計に導き分光測定していた。また
試料面の光反射率、反射スペクトルを測定するに
は細い光ブームを試料面に照射してその反射光を
分光計で設定していた。
(ハ) 解決すべき問題点
以上のような吸光測定装置、反射光測定装置を
用いて一つの試料の光吸収、反射を測定しようと
すると、装置が2台必要となるうえ、試料を移し
代える必要が生じ、測定の能率が良くないという
問題がある。また単純に吸収、反射測定装置を組
み合わせただけでは装置が大型化し広い設置スペ
ースを要しコスト高になるという問題もある。
用いて一つの試料の光吸収、反射を測定しようと
すると、装置が2台必要となるうえ、試料を移し
代える必要が生じ、測定の能率が良くないという
問題がある。また単純に吸収、反射測定装置を組
み合わせただけでは装置が大型化し広い設置スペ
ースを要しコスト高になるという問題もある。
(ニ) 問題点を解決するための手段
本考案においては、以上の問題を解決するた
め、試料の位置で収束する第1、第2の光束をつ
くる夫々の光学系と、試料面が第1の光束と直交
する角度又は試料面に第2の光束が一定角度で入
射する角度に試料を設置する回転台と、第1の光
束が試料を透過した透過光及び第2の光束が試料
面で反射された反射光を分光計に導く光学系と、
前記透過光及び反射光を分光測定する分光計と
を、前記透過光及び反射光の光軸が一致するよう
に配置した。
め、試料の位置で収束する第1、第2の光束をつ
くる夫々の光学系と、試料面が第1の光束と直交
する角度又は試料面に第2の光束が一定角度で入
射する角度に試料を設置する回転台と、第1の光
束が試料を透過した透過光及び第2の光束が試料
面で反射された反射光を分光計に導く光学系と、
前記透過光及び反射光を分光測定する分光計と
を、前記透過光及び反射光の光軸が一致するよう
に配置した。
(ホ) 作用
第1、第2の光束を選択的に(交互に)試料に
当てるとともに、回転台の操作によつて試料透過
光と反射光を連続的に(交互に)測定できる。
当てるとともに、回転台の操作によつて試料透過
光と反射光を連続的に(交互に)測定できる。
(ヘ) 実施例
第1図は本考案の一実施例を示す装置構成図で
ある。
ある。
第1図において1は光源(ハロゲンランプ)、
2,3,4,5,6は凹面鏡、7は試料、8は試
料を設置する回転台、9,10はシヤツター、1
1は分光器及び光電検出素子を含む分光計であ
る。光源1からの光はシヤツター9を介して凹面
鏡2によつて試料7の位置で収束する第1の光束
21をつくるとともに、シヤツター10を介して
凹面鏡3によつて試料7の位置に収束する第2の
光束22をつくる。シヤツター9,10は光源と
試料の間の光路のいずれかの位置に配置し、吸収
(透過)測定と反射測定の夫々の場合に選択的に
光路に挿入する。回転台8は試料を図の実線のよ
うに光束21と直交する角度、又は点線のように
光束22が45度の角度で試料面に入射する角度に
設置することができる。凹面鏡4,5,6は試料
透過光及び反射光を分光計11に導く光学系であ
る。
2,3,4,5,6は凹面鏡、7は試料、8は試
料を設置する回転台、9,10はシヤツター、1
1は分光器及び光電検出素子を含む分光計であ
る。光源1からの光はシヤツター9を介して凹面
鏡2によつて試料7の位置で収束する第1の光束
21をつくるとともに、シヤツター10を介して
凹面鏡3によつて試料7の位置に収束する第2の
光束22をつくる。シヤツター9,10は光源と
試料の間の光路のいずれかの位置に配置し、吸収
(透過)測定と反射測定の夫々の場合に選択的に
光路に挿入する。回転台8は試料を図の実線のよ
うに光束21と直交する角度、又は点線のように
光束22が45度の角度で試料面に入射する角度に
設置することができる。凹面鏡4,5,6は試料
透過光及び反射光を分光計11に導く光学系であ
る。
シヤツター9が開きシヤツター10が閉じ、試
料面が第1の光束と直交している場合、第1の光
束が試料を透過した透過光が分光計11に導かれ
て分光測定され、吸収スペクトルが求められる。
逆にシヤツター9が閉じシヤツター10が開いた
場合には試料面は第2の光束と45度になるように
回転台が設定され、直角方向に反射した反射光が
上記透過光と同一の光軸を有して試料から凹面鏡
4に進み、凹面鏡5,6をかいして分光計11に
導かれる。最も反射光測定の場合の光入射角は目
的によつては45度でない場合もあるし、反射角と
入射角が同一の場合(正反射光)以外を測定する
場合もある。
料面が第1の光束と直交している場合、第1の光
束が試料を透過した透過光が分光計11に導かれ
て分光測定され、吸収スペクトルが求められる。
逆にシヤツター9が閉じシヤツター10が開いた
場合には試料面は第2の光束と45度になるように
回転台が設定され、直角方向に反射した反射光が
上記透過光と同一の光軸を有して試料から凹面鏡
4に進み、凹面鏡5,6をかいして分光計11に
導かれる。最も反射光測定の場合の光入射角は目
的によつては45度でない場合もあるし、反射角と
入射角が同一の場合(正反射光)以外を測定する
場合もある。
第2図は本発明の測定装置に用いる回転台の一
例を示す断面図である。本図において22は基台
21に固定した固定部、23は固定部22から突
出した軸でテフロン球24に当接する傾斜面25
を有し、回転部26と摺合接続している。テフロ
ン球24は押しネジ19によつて傾斜面25に押
し当てている。27は回転部26から突出した位
置出しピンである。この回転台は位置出しピン2
7を手動操作して回転部より上の部分を回転させ
ることができる。回転部26の上には試料固定用
の支柱28,29と、試料30を支柱28,29
の間に挟んで固定するためのバネ31が乗つてい
る。このバネ31は支柱28にネジ32で止めて
ある。
例を示す断面図である。本図において22は基台
21に固定した固定部、23は固定部22から突
出した軸でテフロン球24に当接する傾斜面25
を有し、回転部26と摺合接続している。テフロ
ン球24は押しネジ19によつて傾斜面25に押
し当てている。27は回転部26から突出した位
置出しピンである。この回転台は位置出しピン2
7を手動操作して回転部より上の部分を回転させ
ることができる。回転部26の上には試料固定用
の支柱28,29と、試料30を支柱28,29
の間に挟んで固定するためのバネ31が乗つてい
る。このバネ31は支柱28にネジ32で止めて
ある。
第3図a,bは吸収測定、反射測定の夫々の場
合の回転台と試料の状態を例示するもので、吸収
測定の場合(第3図a)は試料30は入射光33
に垂直で、位置出しピン27は位置決め支柱34
に当接している。反射測定の場合(第3図b)は
位置出しピン27は位置決め支柱35に当接し、
試料30の表面は入射光36と45度の角度を成
す。出射光37は両方の測定の場合で同じ方向で
ある。なお、位置決め支柱34,35は基台21
(第2図に図示)の上に固定されている。
合の回転台と試料の状態を例示するもので、吸収
測定の場合(第3図a)は試料30は入射光33
に垂直で、位置出しピン27は位置決め支柱34
に当接している。反射測定の場合(第3図b)は
位置出しピン27は位置決め支柱35に当接し、
試料30の表面は入射光36と45度の角度を成
す。出射光37は両方の測定の場合で同じ方向で
ある。なお、位置決め支柱34,35は基台21
(第2図に図示)の上に固定されている。
(ト) 効果
本考案の吸収反射測定装置は非常にコンパクト
な構成を有し、吸収・反射測定が1台の装置で行
なえ、また両方の測定で試料を設定し直す必要が
ないので、測定の能率が良い等の優れた効果を奏
する。
な構成を有し、吸収・反射測定が1台の装置で行
なえ、また両方の測定で試料を設定し直す必要が
ないので、測定の能率が良い等の優れた効果を奏
する。
第1図は本考案の1実施例を示す構成図、第2
図はその要部構成図(断面図)であり、第3図は
本装置の状態を説明するための図である。 1……光源、2,3,4,5,6……凹面鏡、
7,30……試料、8……回転台、9,10……
シヤツター、11……分光計、21,22……光
束。
図はその要部構成図(断面図)であり、第3図は
本装置の状態を説明するための図である。 1……光源、2,3,4,5,6……凹面鏡、
7,30……試料、8……回転台、9,10……
シヤツター、11……分光計、21,22……光
束。
Claims (1)
- 試料の位置で収束する第1、第2の光束をつく
る夫々の化学系と、試料面が第1の光束と直交す
る角度又は試料面に第2の光束が一定角度で入射
する角度に試料を設置する回転台と、第1の光束
が試料を透過した透過光及び第2の光束が試料面
で反射された反射光を分光計に導く光学系と、前
記透過光及び反射光を分光測定する分光計とを、
前記透過光及び反射光の光軸が一致するように配
置したことを特徴とする吸収反射測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17459687U JPH0518686Y2 (ja) | 1987-11-16 | 1987-11-16 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17459687U JPH0518686Y2 (ja) | 1987-11-16 | 1987-11-16 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0178938U JPH0178938U (ja) | 1989-05-26 |
JPH0518686Y2 true JPH0518686Y2 (ja) | 1993-05-18 |
Family
ID=31466443
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP17459687U Expired - Lifetime JPH0518686Y2 (ja) | 1987-11-16 | 1987-11-16 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0518686Y2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013533769A (ja) * | 2010-06-22 | 2013-08-29 | センスペック・ゲゼルシャフト・ミット・ベシュレンクテル・ハフツング | 測定媒体の成分または特性、特に生理的血液値を特定およびモニタするための装置ならびに方法 |
-
1987
- 1987-11-16 JP JP17459687U patent/JPH0518686Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013533769A (ja) * | 2010-06-22 | 2013-08-29 | センスペック・ゲゼルシャフト・ミット・ベシュレンクテル・ハフツング | 測定媒体の成分または特性、特に生理的血液値を特定およびモニタするための装置ならびに方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0178938U (ja) | 1989-05-26 |
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