JPH05111460A - ３次元計測用内視鏡装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 少なくとも、術者が反射光の強度により測定
誤差が大きく測定不能の状態を認識でき、さらに、照射
光及び測定光のうち少なくとも測定光の照射強度を制御
できる３次元計測用内視鏡装置を得る。 【構成】 ピークホールド回路４４は、ＣＣＤ３２から
の撮像信号のピーク値をホールドし、ピーク値は比較回
路４５で所定の基準電圧４６と比較され、基準電圧４６
よりも小さい場合、カウンタ４７でカウントし、所定の
カウント数に達したら距離表示回路４３に、エラー情報
を表示させるようになっている。信号処理手段４は、前
記ピークホールド回路４４及び前記カウンタ４７をリセ
ットし、カウンタ４７が所定のカウント数に達したら、
前記測定光走査制御手段３０の走査及び前記半導体レー
ザ２３の発光を停止させるコントロール回路４８を備え
ている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、撮像手段により得られ
た撮像信号に基づいて、少なくとも測定光投影光学系か
らの測定光を制御する３次元計測用内視鏡装置に関す
る。

【０００２】

【従来技術】体腔内などに挿入することによって、体腔
内の深部などを観察したり、必要に応じて処置具を用い
ることにより、治療処置なども行うことのできる内視鏡
が医療分野において広く用いられるようになった。又、
工業分野においても、ジェットエンジン内部とかプラン
ト内部などの検査に内視鏡が広く用いられる。

【０００３】この内視鏡による観察の場合において、腫
瘍などの被検査対象物の大きさなどを計測することが診
断などを行う場合必要になる。

【０００４】このため、例えば特願平１ー３４２２２９
号で、本出願人は計測のための測定光を投影する測定光
投影光学系と通常照明光により立体観察を可能とする装
置を提案した。

【０００５】

【発明が解決しようとする問題点】しかしながら、この
ような従来例の３次元計測用内視鏡装置は、測定光投影
光学系による測定光の照射強度は固定され、一方、被写
体からの反射光は距離等により一定していない。このた
め、反射光の強度により測定誤差が大きくなり測定不能
になる場合がある。従来の３次元計測用内視鏡装置で
は、術者は、このような状態を認識できず、反射光の強
度により測定誤差の大きな測定を行う虞があった。

【０００６】本発明は上述した点にかんがみてなされた
もので、少なくとも、術者が反射光の強度により測定誤
差が大きく測定不能の状態を認識でき、さらに、照射光
及び測定光のうち少なくとも測定光の照射強度を制御で
きる３次元計測用内視鏡装置を提供することを目的とす
る。

【０００７】

【問題点を解決する手段】本発明の３次元計測用内視鏡
装置は、距離などの計測のための３次元的計測用の測定
光を投影する測定光投影光学系と、照明光を広域的に照
射する照明光学系と、前記測定光投影光学系に測定光を
伝送する測定光伝送部材と、前記照明光学系に通常照明
光を伝送する照明光伝送部材と、前記測定光または照明
光による光学像を撮像する撮像手段とを有する計測用内
視鏡と、前記測定光伝送部材と前記照明光伝送部材と
に、測定光及び照明光を供給する機能を有する光源装置
と、前記撮像手段により得られた撮像信号により、前記
測定光投影光学系からの測定光及び前記照明光学系から
の照明光のうち少なくとも該測定光投影光学系からの測
定光を制御する制御手段とを備えている。

【０００８】

【作用】 前記広域照射手段により、少なくとも前記撮
像手段の全撮像領域に、前記測定光投影光学系からの測
定光を照射する。

【０００９】

【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を具体
的に説明する。

【００１０】図１ないし図３は本発明の第１実施例に係
り、図１は第１実施例の３次元計測用内視鏡装置の全体
構成を示す構成図、図２は電子内視鏡の先端面を示す断
面図、図３は測定光を入射端面側でスキャンした場合に
おけるＣＣＤで撮像される光スポットを示す説明図であ
る。

【００１１】図１に示すように、第１実施例の３次元計
測用内視鏡装置１は、撮像手段を内蔵した３次元計測用
電子内視鏡（以下、電子スコープと記す）２と、この電
子スコープ２に通常照明光を供給する通常照明光供給手
段及び測定光光源手段３と信号処理及び距離計算を行う
信号処理手段４とを内蔵した光源・処理装置５と、信号
処理手段４で信号処理されて生成された標準的な映像信
号を表示するカラーモニタ６とから構成される。

【００１２】上記電子スコープ２は、体腔内などに挿入
できるように細長で可撓性を有する挿入部７と、この挿
入部７の後端に連設された太幅の操作部８と、この操作
部８の側部から延出されたユニバーサルケーブル９とか
らなり、このユニバーサルケーブル９の端部に取り付け
た総合コネクタ１１を光源・処理装置５に着脱自在で接
続することができる。

【００１３】上記挿入部７は先端側から硬質の先端部１
２と、湾曲自在の湾曲部１３と、可撓性の可撓管部１４
とからなり、操作部８の側面に設けた湾曲ノブ１５を操
作することによって、湾曲部１３を湾曲できるようにな
っている。

【００１４】上記挿入部７内には通常照明光を伝送する
ライトガイド１６と、測定光を伝送する測定光伝送手段
としてのイメージガイド１７が挿通され、これらライト
ガイド１６とイメージガイド１７は、ユニバーサルケー
ブル９内も挿通され、各端部のライトガイドコネクタ１
６ａとイメージガイドコネクタ１７ａが総合コネクタ１
１で一体的に固定されている。

【００１５】上記光源・処理装置５には上記ライトガイ
ドコネクタ１６ａとイメージガイドコネクタ１７ａをそ
れぞれ着脱自在で接続できるライトガイドコネクタ受け
１８とイメージガイドコネクタ受け１９が設けてある。
上記光源・処理装置５内には上記ライトガイドコネクタ
受け１８の奥に白色光を発生するランプ２１及びコンデ
ンサレンズ２２が配置され、ランプ２１の白色照明光を
レンズ２２で集光してライトガイドコネクタ１６ａに供
給できるようにしてある。

【００１６】また、イメージガイドコネクタ受け１９の
奥にレーザ光を発生する半導体レーザ２３とコンデンサ
レンズ２４が配置され、半導体レーザ２３による可集光
性のレーザ光、つまり測定光をコンデンサレンズ２４で
集光し、イメージガイドコネクタ１７ａを形成するファ
イババンドル端面に例えば図３（ａ）に示すように直線
状にスキャンする測定光を照射する。

【００１７】上記ライトガイドコネクタ１６ａに供給さ
れた照明光は、ライトガイド１６で伝送され、先端部１
２に固定された出射側の端面からさらに照明レンズ２５
を経て被写体２６側に出射され、被写体２６側を広域照
明する。この照明レンズ２５はライトガイド１６の出射
側端面から該照明レンズ２５のフォーカス距離とは異な
る距離に取付けられている。

【００１８】また、イメージガイドコネクタ１７ａに照
射された測定光はイメージガイド１７における測定光が
照射されたファイバで伝送され、先端部１２に固定され
た出射側端面からさらに投影（投光）レンズ２７を経て
被写体２６側に出射され、被写体２６面に微小な光スポ
ットを形成する。この投影レンズ２７はイメージガイド
１７の出射側端面から該投影レンズ２７のフォーカス距
離に取付けられており、出射側端面のファイバから出射
される測定光は殆ど広がることなく、被写体２６面上に
微小な光スポットを形成できるようにしてある。

【００１９】上記半導体レーザ２３とコンデンサレンズ
２４は、圧電素子２８によって振動的に駆動される台２
９に取り付けられ、この圧電素子２８に測定光走査制御
手段３０から駆動信号を印加することによって、圧電素
子２８は図１において、例えば矢印で示すように上下方
向に振動移動する。この上下方向に振動移動により、半
導体レーザ２３も同様に振動移動され、投影レンズ２７
を経て被写体２６側に測定光が直線状にスキャンする。

【００２０】この圧電素子２８は測定光走査制御手段３
０から例えば階段波の駆動信号によって、駆動され、こ
の駆動により、イメージガイドコネクタ１７ａのファイ
ババンドルに照射される測定光は一定間隔を隔てたファ
イバ毎に順次照射され、図３（ａ）に示すようにファイ
ババンドルのほぼ直径の範囲を段階的でかつ直線的に走
査する。

【００２１】上記照明光で広域的に照明された被写体２
６は先端部１２の観察窓に取り付けられた対物レンズ３
１によって、その焦点面に配置された撮像素子としての
ＣＣＤ３２の撮像面に結像される。

【００２２】この撮像面の前には例えばモザイクカラー
フィルタ３３が取り付けてあり、光学的に色分離する。
このＣＣＤ３２は信号ケーブル３４を介してコネクタ１
１の信号コネクタ３５と接続され、この信号コネクタ３
５が接続される信号コネクタ受け３６を経て映像回路４
１と、距離計算回路４２、ピークホールド回路４４に接
続される。この映像回路４１は、ＣＣＤ３２からの撮像
信号より標準的な映像信号を生成し、モニタ６に出力す
るようになっている。また、距離計算回路４２は、測定
光による撮像信号から被写体２６までの距離を計算しそ
の値を距離表示回路４３に出力し、この距離表示回路４
３により距離が表示できるようになっている。

【００２３】前記ピークホールド回路４４は、ＣＣＤ３
２からの撮像信号のピーク値をホールドし、このホール
ドされたピーク値は、比較回路４５で所定の基準電圧４
６と比較され、ＣＣＤ３２からの撮像信号のピーク値が
この基準電圧４６よりも小さい場合、すなわち、測定光
に対する被写体２６からの反射光が小さい場合、カウン
タ４７でカウントし、所定のカウント数に達したら距離
表示回路４３に、例えば、「測定不能」等のエラー情報
を表示させるようになっている。

【００２４】また、前記信号処理手段４は、前記ピーク
ホールド回路４４及び前記カウンタ４７をリセットし、
カウンタ４７が所定のカウント数に達したら、前記測定
光走査制御手段３０の走査及び前記半導体レーザ２３の
発光を停止させるコントロール回路４８を備えている。

【００２５】この実施例では、対物レンズ３１と投影レ
ンズ２７は、例えば、図２に示すように、隣接して先端
部１２に設けられ、これらの一方または、点線で示すよ
うに両側に照明レンズ２５が設けてある。

【００２６】また、この実施例では図１に示すように台
２９を上下方向に振動した場合、イメージガイド１７の
入射端面側ではレーザ光はファイババンドルを上下方向
に走査し、この走査により、出射端面側では、図１では
水平方向にスキャンした状態に対応し、投影レンズ２７
を経て被写体２６側に投影される測定光は図２に示す対
物レンズ３１の光軸と投影レンズ２７の光軸を含む面ｍ
内で、該投影レンズ２７により放射状に出射されるよう
にしてある。

【００２７】このように構成された３次元計測用内視鏡
装置１は、上述のように台２９は段階的に走査されるの
で、例えば被写体２６の表面が平面であり、この面に垂
直に先端部１２の端面が臨む状態で測定光をスキャンし
た場合には、ＣＣＤ３２の撮像面には図３（ｂ）に示す
ように段階的な走査に対応して、殆ど一定間隔のスポッ
ト列ｓが現れるようになる。このスポット列ｓの間隔は
スコープ２の先端面と被写体２６との距離に依存して変
化し、三角測量の原理から実際のスポットの距離を算出
することができる。このスポット列ｓの数或いは段階波
のピッチは１フィールドまたは１フレームの期間におい
て、各スポットをＣＣＤ３２の出力信号から分離認識で
きる数以内或いはピッチ以上に設定される。

【００２８】一方、被写体２６の表面が凹凸面である場
合には、その凹凸面に応じて一定間隔でないスポット列
が直線状に現れるようになる。この場合にもＣＣＤ３２
上での各スポットの位置情報から三角測量の原理を用い
て、被写体２６面に実際に形成されているそのスポット
位置までの距離を算出することができ、上記距離計算回
路４２はこの距離の算出を行う。

【００２９】なお、凹凸量の大きい部分では被写体２６
の面上のスポットが重なってしまうこともあるため、使
用状況に応じて上記段階波のピッチの大きさを可変設定
できるようにしている。上記距離計算回路４２はＣＣＤ
３２の出力信号を色分離し、例えば、レーザ光の波長の
信号成分を抽出し、この信号成分からこの信号成分の包
絡線検波信号或いは低域信号を減算してスポットを検出
して、ＣＣＤ３２面上でのスポット位置を求めるように
している。

【００３０】また、ピークホールド回路４４は、ＣＣＤ
３２からの撮像信号のピーク値をホールドし、このホー
ルドされたピーク値は、比較回路４５で所定の基準電圧
４６と比較され、ＣＣＤ３２からの撮像信号のピーク値
がこの基準電圧４６よりも小さい場合、すなわち、測定
光に対する被写体２６からの反射光が小さい場合、カウ
ンタ４７でカウントし、所定のカウント数に達したら、
距離表示回路４３に、例えば、「測定不能」等のエラー
情報を表示させるとともに、コントロール回路４８は、
ピークホールド回路４４及びカウンタ４７をリセット
し、カウンタ４７が所定のカウント数に達したら、測定
光走査制御手段３０の走査及び前記半導体レーザ２３の
発光を停止させる。

【００３１】したがって、本第１実施例の３次元計測用
内視鏡装置１は、測定光に対する被写体２６からの反射
光が小さく測定誤差を大きくなり距離測定が不可能な場
合、距離表示回路４３にエラー情報を表示させるととも
に、コントロール回路４８により測定光走査制御手段３
０の走査及び前記半導体レーザ２３の発光を停止させ、
３次元測定が不能であることを術者に速やかに知らせる
とともに、測定を停止できるので、術者は測定系の調整
あるいは変更等を行うことにより、確実かつ効率的に、
所望の測定強度は得られる測定系で３次元測定を行うこ
とができる。

【００３２】図４は第２実施例に係る３次元計測用内視
鏡装置の全体構成を示す構成図である。

【００３３】第２実施例の３次元計測用内視鏡装置１０
０は、第１実施例の３次元計測用内視鏡装置とほとんど
同じなので、異なる構成のみ説明し、同一の構成に対し
ては同一の符号をつけ説明を省略する。

【００３４】図４に示すように、第２実施例の光源・処
理装置５ａの信号処理手段４ａは、ピークホールド回路
４４によりホールドされたＣＣＤ３２からの撮像信号の
ピーク値を積分する積分回路５１と、半導体レーザの照
射強度を制御するレーザ駆動制御回路５０と、前記積分
回路５１の値によりレーザ駆動制御回路５０及び、測定
光走査制御手段３０を制御するコントロール回路４８ａ
とを備えている。

【００３５】その他の構成は第１実施例と同じである。

【００３６】このような構成された３次元計測用内視鏡
装置１００は、積分回路５１でＣＣＤ３２からの各スポ
ットの撮像信号のピーク値を積分し、コントロール回路
４８ａは、この積分値が所定の値よりも小さい場合ある
いは大きい場合には、測定光走査制御手段３０を制御し
て該当するスポット位置に対応したファイバ端面に測定
光を照射させるとともに、レーザ駆動制御回路５０に対
して、適正な測定強度が得られるように測定光の照射強
度を制御する。また、レーザ駆動制御回路５０により、
適正な測定強度が得られず測定不能の場合は、第１実施
例と同様に、距離表示回路４３にエラー情報を表示させ
るとともに、測定光走査制御手段３０の走査及び半導体
レーザ２３の発光を停止させる。

【００３７】その他の作用は第１実施例と同じである。

【００３８】したがって、本第２実施例の３次元計測用
内視鏡装置１００は、第１実施例の効果に加えて、測定
光に対する被写体２６からの反射光が所定の測定強度の
範囲外にあり、測定に誤差が生じる場合においても、測
定光の照射強度を制御することにより所定の測定強度を
得ることができる。

【００３９】図５は第３実施例に係る３次元計測用内視
鏡装置の全体構成を示す構成図である。

【００４０】第３実施例の３次元計測用内視鏡装置１０
１は、第１実施例の３次元計測用内視鏡装置とほとんど
同じなので、異なる構成のみ説明し、同一の構成に対し
ては同一の符号をつけ説明を省略する。

【００４１】すなわち、第３実施例の３次元計測用内視
鏡装置１０１の光源・処理装置５ｂの信号処理手段４ｂ
は、映像回路４１と、距離計算回路４２及び距離表示回
路４３と、この距離計算回路４２により計算された距離
に応じて半導体レーザ２３の照射強度を制御するレーザ
駆動制御回路５０とから構成され、レーザ駆動制御回路
５０により、適正な測定強度が得られず測定不能の場合
は、第１実施例と同様に、距離表示回路４３にエラー情
報を表示させるとともに、測定光走査制御手段３０の走
査及び半導体レーザ２３の発光を停止させる。その他の
構成、作用は第１実施例と同じである。

【００４２】このように構成された本第３実施例の３次
元計測用内視鏡装置１０１は、第１実施例の効果に加え
て、距離計算回路４２により計算された距離に応じて、
半導体レーザ２３の照射強度を制御することができるの
で、常に所定の測定強度で３次元測定を行うことができ
る。

【００４３】図６は第４実施例に係る３次元計測用内視
鏡装置の全体構成を示す構成図である。

【００４４】第４実施例の３次元計測用内視鏡装置１０
２は、第３実施例の３次元計測用内視鏡装置とほとんど
同じである。すなわち、光源・処理装置５ｃの測定光光
源手段３ｃは、コンデンサレンズ２２とライトガイドコ
ネクタ１６ａとの間に、ライトガイドコネクタ１６ａ端
面に入射するランプ２１からの白色照明光の入射光量を
制御する絞り装置５２を備え、信号処理手段４ｃは、距
離計算回路４２により計算された距離に応じて、この絞
り装置５２の絞り量を制御する絞り駆動回路５３を備え
ていて、その他の構成は第３実施例と同じである。

【００４５】このように構成された本第４実施例の３次
元計測用内視鏡装置１０２は、第３実施例の効果に加
え、絞り駆動回路５３により距離に応じて絞り装置５２
の絞り量を制御するので、常に適切な照明光下で、被写
体２６を観察できるという効果もある。

【００４６】図７は第５実施例に係る３次元計測用内視
鏡装置の全体構成を示す構成図である。

【００４７】第５実施例の３次元計測用内視鏡装置１０
３は、第３実施例の３次元計測用内視鏡装置とほとんど
同じである。すなわち、図７に示すように、第５実施例
の３次元計測用内視鏡装置１０３においては、光源・処
理装置５ｄは、ランプ２１のランプ電流を制御するラン
プ電流制御回路６３と、ＣＣＤ３２からの撮像信号より
観察時の照明光量の平均値を算出する平均値算出回路６
０と、この平均値算出回路６０からの照明光量の平均値
に基づいて所定の照明光量が得られるように前記ランプ
電流制御回路６３を制御する自動調光回路６１と、ＣＣ
Ｄ３２からの撮像信号のピーク値をホールドするピーク
ホールド回路４４と前記平均値算出回路６を切り換える
切換スイッチ（以下、ＳＷと略記する）６４と、半導体
レーザ２３の照射強度を制御するレーザ駆動制御回路５
０と自動調光回路６１及び切換ＳＷ６４に測光開始指示
を出す測光開始指示ＳＷ６２とを備え、前記自動調光回
路６１は前記測光開始指示ＳＷ６２により測光開始指示
を受けると、前記ピークホールド回路４４にホールドさ
れたピーク値を切換ＳＷ６４を介して入力し、このピー
ク値をに基づいて前記レーザ駆動制御回路５０を制御
し、適正な測定強度が得られるように測定光の照射強度
を制御するようになっている。尚、前記自動調光回路６
１での前記レーザ駆動制御回路５０の制御は、たとえ
ば、第１実施例で示したように、比較器を用いることに
よって制御を行っても良いし、また、第２実施例で示し
たように積分器を用いて行っても良い。

【００４８】その他の構成は第３実施例と同じである。

【００４９】このように構成された本第５実施例の３次
元計測用内視鏡装置１０３は、第３実施例の効果に加
え、平均値算出回路６０及び自動調光回路６１により観
察時において、所定の照明光量が得られるように照明光
量の平均値に基づいてランプ２１のランプ電流を制御す
るので、常に適切な照明光下で、被写体２６を観察でき
るという効果がある。

【００５０】尚、各実施例において、電子スコープは、
照明光を伝送するライトガイドと、測定光を伝送するイ
メージガイドとを備えて構成したが、本発明はこれに限
らず、１つのイメージガイドを用いてハーフプリズムに
より分離して照明光と測定光とを照射する構成とした電
子スコープでも良い。

【００５１】また、各実施例において、カラー画像を得
るために、照明光発生手段は、ランプ２１の白色照明光
を照射しＣＣＤ３２撮像面の前に、モザイクカラーフィ
ルタ３３を取り付け、光学的に色分離する色分離方式と
したが、本発明はこれに限らず、例えば、モータによっ
て回転駆動されるＲＧＢ回転円板にランプの白色照明光
が照射され、このＲＧＢ回転円板を通して生成されたＲ
ＧＢ光を照射する面順次方式としても良い。

【００５２】さらに、各実施例において、少なくとも測
定光を伝送するのに用いられるイメージガイドの代わり
に、屈折率分布型レンズとかリレーレンズ系を用いるこ
ともできるし、ライトガイドのように一方の端面と他方
の端面におけるファイバの配置に規則性がないものに対
して、相関付ける手段を設けたライトガイドを用いるこ
ともできる。

【００５３】さらにまた、上述の各実施例では光源装置
側で測定光を、例えば圧電素子でメカニカルにスキャン
して、像伝送手段の一方の端面への入射位置を変えてい
るが、圧電素子の代わりにＫＤＰなどの光学素子を用い
て、この素子の電気信号に対する光学特性を制御して同
等の機能をもたせることもできる。また、メカニカルな
どでスキャンするのでなく、像伝送手段の一方の端面に
対向して複数のＬＥＤを一定間隔などでライン状などに
配置し、これらを同時に点灯させても良い（選択的に駆
動しても良い）。

【００５４】また、測定光スポットは図３などでは直線
に沿って形成される場合について説明してあるが、これ
に限定されるものでなく、例えば正方格子状など２次元
的な広がりを有するように形成しても良い。また、２次
元的に測定光スポットを形成した場合には、それらの測
定光スポットの距離を算出して、被写体表面の凹凸形状
を３次元的に表示させることもできる。この場合、必要
に応じ、補間して測定点以外の凹凸形状を求めるように
しても良い。

【００５５】尚、測定光の波長は可視光域内でもよい
し、可視光域以外でも良い。また、上述した各実施例を
部分的に組み合わせて異なる実施例を形成しても良い。

【００５６】さらに、総合コネクタにより電子スコープ
を一体的に光源処理装置に接続するとしたが、これに限
らず、ライトガイドコネクタ、イメージガイドコネクタ
及び信号コネクタを、それぞれ別体あるいは複数組み合
わせて光源処理装置に着脱自在に接続するように構成し
ても良い。

【００５７】

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、本
発明の３次元計測用内視鏡装置は、少なくとも、術者が
反射光の強度により測定誤差が大きく測定不能の状態を
認識でき、さらに、照射光及び測定光のうち少なくとも
測定光の照射強度を制御できるという効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】 第１実施例に係る３次元計測用内視鏡装置の
全体構成を示す構成図である。

【図２】 第１実施例に係る電子スコープの先端面を示
す説明図である。

【図３】 第１実施例に係る測定光を入射端面側でスキ
ャンした場合におけるＣＣＤで撮像される光スポットを
示す説明図である。

【図４】 第２実施例に係る３次元計測用内視鏡装置の
全体構成を示す構成図である。

【図５】 第３実施例に係る３次元計測用内視鏡装置の
全体構成を示す構成図である。

【図６】 第４実施例に係る３次元計測用内視鏡装置の
全体構成を示す構成図である。

【図７】 第５実施例に係る３次元計測用内視鏡装置の
全体構成を示す構成図である。

【符号の説明】

１…３次元計測用内視鏡装置 ２…電子スコープ ３…光源手段 ４…信号処理手段 ５…光源・処理装置 ２３…半導体レーザ ２７…投影レンズ ２８…圧電素子 ３０…測定光走査制御手段 ３２…ＣＣＤ ４１…映像回路 ４２…距離計算回路 ４３…距離表示回路 ４４…ピークホールド回路 ４５…比較回路 ４７…カウンタ ４８…コントロール回路

【手続補正書】

【提出日】平成４年３月３日

【手続補正１】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】００４７

【補正方法】変更

【補正内容】

【００４７】第５実施例の３次元計測用内視鏡装置１０
３は、第３実施例の３次元計測用内視鏡装置とほとんど
同じである。すなわち、図７に示すように、第５実施例
の３次元計測用内視鏡装置１０３においては、光源・処
理装置５ｄは、ランプ２１のランプ電流を制御するラン
プ電流制御回路６３と、ＣＣＤ３２からの撮像信号より
観察時の照明光量の平均値を算出する平均値算出回路６
０と、この平均値算出回路６０からの照明光量の平均値
に基づいて所定の照明光量が得られるように前記ランプ
電流制御回路６３を制御する自動調光回路６１と、ＣＣ
Ｄ３２からの撮像信号のピーク値をホールドするピーク
ホールド回路４４と前記平均値算出回路６０を切り換え
る切換スイッチ（以下、ＳＷと略記する）６４と、半導
体レーザ２３の照射強度を制御するレーザ駆動制御回路
５０と自動調光回路６１及び切換ＳＷ６４に測光開始指
示を出す測光開始指示ＳＷ６２とを備え、前記自動調光
回路６１は前記測光開始指示ＳＷ６２により測光開始指
示を受けると、前記平均値算出回路６０にて算出された
観察光の平均値を切換ＳＷ６４を介して入力し、このピ
ーク値をに基づいて前記レーザ駆動制御回路５０を制御
し、適正な測定強度が得られるように測定光の照射強度
を制御するようになっている。尚、前記自動調光回路６
１での前記レーザ駆動制御回路５０の制御は、たとえ
ば、第１実施例で示したように、比較器を用いることに
よって制御を行っても良いし、また、第２実施例で示し
たように積分器を用いて行っても良い。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 距離などの計測のための３次元的計測用
   の測定光を投影する測定光投影光学系と、 照明光を広域的に照射する照明光学系と、 前記測定光投影光学系に測定光を伝送する測定光伝送部
   材と、前記照明光学系に通常照明光を伝送する照明光伝
   送部材と、前記測定光または照明光による光学像を撮像
   する撮像手段とを有する計測用内視鏡と、 前記測定光伝送部材と前記照明光伝送部材とに、測定光
   及び照明光を供給する機能を有する光源装置と、 前記撮像手段により得られた撮像信号により、前記測定
   光投影光学系からの測定光及び前記照明光学系からの照
   明光のうち少なくとも該測定光投影光学系からの測定光
   を制御する制御手段とを備えたことを特徴とする３次元
   計測用内視鏡装置。