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JPH0465116A - 周縁露光装置 - Google Patents

周縁露光装置

Info

Publication number
JPH0465116A
JPH0465116A JP2178230A JP17823090A JPH0465116A JP H0465116 A JPH0465116 A JP H0465116A JP 2178230 A JP2178230 A JP 2178230A JP 17823090 A JP17823090 A JP 17823090A JP H0465116 A JPH0465116 A JP H0465116A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
exposure
wafer
light beam
light
peripheral edge
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2178230A
Other languages
English (en)
Inventor
Takeshi Hattori
健 服部
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP2178230A priority Critical patent/JPH0465116A/ja
Publication of JPH0465116A publication Critical patent/JPH0465116A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、ウェハの周縁部分を選択的に露光する周縁露
光装置に関するものである。
〔従来の技術〕
半導体集積回路製造工程において、ウェハに微細パター
ンを形成するために塗布されるレジストは、ウェハ周縁
部分で剥がれ易く、剥がれたレジストがウェハの表面に
付着し、その後の工程において悪影響を及ぼすというこ
とが問題となっている。
従来、このような悪影響を及ぼすウェハ周縁部分におけ
るレジスト剥離を防止するためには、例えば特開平2−
56924号公報に示すように、ウェハをウェハの表面
とほぼ平行な面内で回転させる機構を持つとともに、所
定形状に成形された露光光束とウェハとをウェハの回転
の半径方向(以下単に「ウェハの半径方向」とする。)
に相対移動可能な機構を持ち、ウェハエツジからウェハ
の半径方向に関する所定の範囲内でウェハを照射するた
めのサーボ動作機構を持った専用の露光装置でウェハの
周縁部分のみを選択的に露光するということが行われて
いる。ここで、露光光束の形状は必要最小限の露光量で
露光をおこなえるように、円形ではな(扇形、方形形状
等としている。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、上記の如き従来の技術においては、ウェ
ハ円周部では周縁部を一定の幅でほぼ均一に露光できる
が、OF部(周辺部に設けられた直線状の平坦部)では
周縁部を一定の幅で均一に露光できなかった。
これは、露光光束はウェハの半径方向の動きしかできな
いためである。つまり、サーボ動作が完全に追従した場
合でも、OF部の露光の際には、露光光束の断面(この
場合光束断面は方形状に成形されているものとする)の
先端が描く実際の軌跡11は、第7図に示すように曲線
状となり、要求される光束断面先端の軌跡12を満たさ
ず、露光幅はウェハの半径方向に関する所定の範囲内と
ならない(軌跡11がOF部と平行な直線状の軌跡とな
らない)ためである。
つまり、従来の技術では、第7図中のウェハの半径方向
に関する所定幅Wを一定にしようとするサーボ動作を行
っても、実際の軌跡1’lと要求される軌跡12との間
には偏差dが生じる。又、露光光束は、第7図に示すよ
うにOF部の両端にいくほどウェハ○F部に対して傾い
て動作するので偏差dは大きくなる。
従って、光束先端の軌跡は、偏差dによって要求される
所定範囲内となるような軌跡を描かず周縁露光幅が一定
でな(なるという問題点かあった。
この偏差dは、ウェハの回転中心と交わるOF直線部の
垂直2等分線13とウェハの回転中心とOF部端部を結
ぶ直線14とのなす角度をθ。、とすると d=W−Wcosθ−(1) で表すことができる。これは例えば6インチウェハの場
合で、OF直線部長57.5mm、周縁露光幅(W)5
mmの場合d=0.38mm程度となる。
一方、OF部を露光する場合、露光光束がOF部に対し
て傾いていることにより、露光光束の角部の一点が描く
軌跡における積算露光量と露光光束の中心近傍部の一点
が描く軌跡における積算露光量は異なる。この積算露光
量の相違はOF端部にいくほど大きくなる。これは、露
光光束は、第8図に示す如<OF部の両端にいくほど、
OF部に対して傾いて作用するためOF端部での偏差d
による影響が大きくなることによる。
更に、露光光束はスループットを低下させないためにも
ある程度の面積を持っていなければならず(露光光束の
ウェハ円周の接線方向の太さがある程度の太さを持って
いなければならない)、光束の面積に起因して、OF端
部にいくほど偏差dによる影響が大きくなるためである
(図中−点鎖線はウェハの半径を示すものである。)。
よって、周縁露光後のOF端部付近(第7図中の斜線部
)では積算露光量が一定でなくなる上、レジスト端部の
膜ベリや周縁露光幅のばらつきの原因となる不都合があ
った。
本発明は以上の点を考慮してなされたもので、ウェハO
F部の露光の際にも露光幅、積算露光量が一定となるよ
うに、露光光束を制御可能な周縁露光装置を得ることを
目的としている。
〔課題を解決する為の手段〕
かかる問題点を解決するため本発明においては周辺に直
線的な平坦部を有するとともに、表面にほぼ均一な感光
層を有する基板の中央近傍を中心として、該基板を前記
表面とほぼ平行な面内で回転させる第1の回転手段(1
,3,11)と、少なくとも一部を直線状に成形した断
面形状の光束を該基板の周縁部に照射する照射手段(4
,5)と、前記光束と前記基板を前記回転の半径方向に
相対的に移動させる移動手段(10)とを備え、前記第
1の回転手段によって前記基板を回転させながら、前記
移動手段を駆動させて、前記光束で前記周縁部を露光す
る周縁露光装置において、前記平坦部の直線方向と前記
光束の断面形状における直線状端辺の方向との相対的な
傾きに関する情報を検出する検出手段(De、8)と;
前記表面とほぼ平行な面内で、前記光束の中心近傍を回
転中心として前記光束を回転する第2の回転手段(9)
と; 前記検出手段からの信号に基づいて、前記基板の平坦部
と前記光束の断面形状における直線状端辺とが略平行に
なるように前記第2の回転手段を制御する制御手段(1
7)とを設ける。
〔作 用〕
本発明によれば、光束を回転させることによりウェハの
OF部においても正確に一定の露光幅で均一な露光がで
きるので、ウェハ全周に渡って周縁部分の積算露光量が
一様となり、レジスト端の膜べりも少なく精度良く周縁
露光することができる。
〔実 施 例〕
以下、図面を参照して本発明の実施例について詳述する
。第1図は本発明の第1実施例による周縁露光装置の全
体構成を示す図である。
不図示のウェハ搬送路に沿ってターンテーブル1上に搬
送されてきたウェハ2は、その中心とターンテーブルl
の回転中心が概略一致する位置でターンテーブル1上に
真空吸着される。ターンテーブル1は、ウェハ2を保持
したままモータ3によって所定の速度で回転される。
ここで、モータ3にはロータリエンコーダ11が設けら
れており、ターンテーブル1の回転角を検出可能となっ
ている。
又、光源7はレジストに対して感応性が高い波長域の照
明光(露光光)を発生し、この照明光はファイバFBに
よって、ウェハ2の周縁部上方に配置された発光部4ま
で導かれる。さらに照明光は、発光部4の内部に設けら
れたレンズ系4aによりほぼ平行な光束となって絞り5
を照射する。
光源7からの照明光は、絞り5により所定の断面形状に
規定(成形)され、露光光束6として発光部4から射出
されて選択的にウェハ2の周縁部に照射される。
ここで、絞り5は、露光光束6の断面形状を第2図(a
)で斜線に示すように少なくともウェハ側の端辺lが直
線状となる方形形状に成形する。例えば、絞り5は、直
線状端辺lを作成可能な直線部を有するL字型の2枚の
遮光板で構成され、本実施例では2枚の遮光板をレンズ
系4aの光軸を基準として駆動し、光束6の幅、大きさ
を調整可能になっているものとする。この方形形状は長
方形に限るものではなく、台形等であってもかまわない
次に受光部8は、ウェハ2の周縁部分を挟んで、発光部
4と対向するように配置されている。
受光部8には、第2図(b)に示すように間隔して平行
に併設されたリニアポジションセンサ(又はシリコン・
フォトダイオード等)8a、8bが光束6を検出できる
よう配置されている。又、本実施例では、発光部4.受
光部8とは別に、第2図[a)に示すようなウェハ外形
検出センサDeを設け、レジストを感光させない光(非
露光光)を射出する光源をウェハ2を介して対向する位
置に設けている。そして、周縁露光前にターンテーブル
を回転し、ウェハ2で遮光されない非露光光をセンサD
eで受光する。このセンサから出力される受光量に対応
する出力値から非接触にウェハ外形情報(OFの位置、
長さ等)を検出し、ターンテーブル1に直結したロータ
リーエンコーダ11によってウェハ外形情報を、角度情
報として検出する構成をとることとしている。
光束6の断面における直線部lと受光部8とは、予め傾
きに関して一定の対応関係に定められているものとする
。ここでは、光束6の直線部lと受光部8に設けられた
センサ8a、8bの長手方向とが垂直になるように調整
を行ってお((第2図(bン) 。
センサ8a、8bは、ウェハ2で遮光されない光束6を
受光し、センサ8a、8bの各々から出力される光電信
号に基づいて一ウェハ2のエツジが検出されるとともに
、センサ8a、8bの長手方向に対するOF部の傾きに
関する情報を検出するようになっている。この傾きに関
する情報の検出は、センサ8a、8bの出力差(電圧値
の差)から求めるものである。(センサの長手方向に対
してOF部が傾くと8a、8bに出力差が生じる)又、
発光部4と受光部8は、一体に金物21に固定され、露
光ユニットUを形成している。さらに金物21はスライ
ダ(移動ステージ)10aに固設されている。移動手段
10は露光ユニットUを載置する移動ステージ10a、
ガイド10b。
モータ10cより構成され、露光ユニットUをウェハ2
の半径方向に移動可能とすることにより、光束6とウェ
ハ2を相対移動可能な構造になっている。
露光ユニットUは、光束6の概略中心(レンズ4aの光
軸)を回転中心としてモータ9によりウェハ2の表面と
略平行な面内にそって、回転可能な構造となっている。
前述の如くレンズ系4aの光軸(光束6の概略中心)を
基準として遮光板を駆動することにより、光束6の形状
が変化しても、光束6の概略中心と露光ユニットUの回
転中心(レンズ4aの光軸)との相対位置関係は変化し
ない。
又、光束6の概略中心(レンズ4aの光軸)以外の点を
回転中心とすることも可能であるが、このように光束6
の概略中心(レンズ4aの光軸)を回転中心とすること
が望ましい。上記構成の場合回転モーメントが少なくな
り、回転制御が容易となる。更に後述のウェハ2の半径
方向のサーボ動作を行う際には、光束6のウェハ2に対
する移動量が少な(てすむといった利点がある。
次に、本実施例におけるウェハ周縁部の露光制御につい
て第3図のブロック図を用いて説明する。
受光部8は、光束6の光強度(光量)に応じた信号を出
力し、該信号はアンプ12.A/Dコンバータ13を介
してRAM14にCPU15からのクロックパルスに応
じて記憶される。
RAM14には、周縁部の必要露光領域に関するデータ
DI、使用レジストについての適正露光量に関するデー
タD2が予め記憶されているものとする。ここで、デー
タD1について更に詳しく述べると、データDIはウェ
ハ2の露光動作前に行われるキャリブレーション(ウェ
ハ露光動作前にダミーのウェハ等を使って必要露光幅で
露光されるように設定した場合における、必要露光幅と
センサ8からの出力信号電圧値の対応付け)によって求
めた必要露光幅に対応したセンサ8a。
8bからの出力信号の電圧値である。後述のサーボ動作
は、センサ8a、8bからの出力電圧値とこのデータD
Iとを比較することによって行われる。
ウェハ2周縁の露光を行うに際し、CPU15は、RA
M14に格納された周縁部の必要露光領域に関するデー
タDI、使用レジストについての適正露光量に関係する
データD2に基づいて適正露光量を算出し、露光条件(
露光光強度、絞り幅等)およびターンテーブル1の回転
速度を決定する。
そして、CPU15は、露光光強度に関するデータD2
’ を光源7へ、絞り5を制御して光束を所定の形状に
整形する光束形状信号Eを絞り制御部16へ、ターンテ
ーブル1が所定の回転速度となるようにモータ3を制御
する制御信号Fを第1の回転制御部19へ夫々送る。絞
り5は、光束の中心とユニットUの回転中心とは不変と
なるように制御される。
発光部4と受光部8は、ウェハの回転開始後、必要露光
領域に見合う位置に駆動手段10によってウェハ2の周
縁部分を挟みこむように配置された後、露光開始信号D
3′(光源7をON)が、CPU15によって光源7に
伝達されることにより、発光部4から露光光束6が射出
される。
又、ターンテーブル1が所定の速度で回転し、露光が開
始されたとき、発光部4から射出される露光光束6を受
光部8で受光する。CPUl5はセンサ8a、8bから
の信号(電圧値)とRAM14に格納されているデータ
D1とを比較するこトニヨリ、ウェハ円周部において常
にウェハエツジから所定の距離までの領域を露光するよ
うに移動子段10を制御するサーボ制御信号Gをサーボ
制御部18へと送る。
本実施例では、予め、露光の前にウェハ外形検出を行い
、OF部情報をエンコーダの角度情報に対応つけてRA
M14に格納させている。
OF部を露光する際には、RAM14に記憶されている
OF部と対応したエンコーダの角度情報よりOF部と円
周部を判別する。
更に、CPU15は第4図に示すように、間隔りで配置
した2つのポジションセンサ8a、8bにより構成され
た受光部8の各々のセンサからの出力差(電圧差)信号
をセンサ8a、8bとOF部の傾きに関する情報として
検出する。
この出力差に基づいてCPU15は、露光光束6がOF
部において、この出力差が零となるよう、すなわちOF
部のエツジと光束6の直線部lとが略平行となるように
OF部のエツジに対して光束6を回転させるモータ9の
制御信号Hを第2の回転制御部17に送る。その結果、
第2の回転制御部17は、光束6の断面の直線状の端辺
lとOF部とが略平行になるようモータ9の回転を制御
する。
適正露光量で露光が完了すると、CPU15は光源7に
露光終了信号D3”を送るとともに、第1の回転制御手
段19を介してモータ3の回転を停止して周縁露光が終
了する。
次に、本実施例の動作について第5図を参照にして説明
する。
まず最初に、ステップ100で、露光動作の前に、ウェ
ハ2を載置したターンテーブルを1回転させ、センサD
eによって非接触にOF部を検出し、このOF部の位置
情報D4をエンコーダ11の角度情報としてエンコーダ
のパルスに応じてRAM14に記憶させておく。
次にCPU15は、ステップ101で受光部8より得ら
れた信号と予めRAM14に格納されているデータDi
、D2により露光条件(露光光の強度、絞り幅等)とタ
ーンテーブル1の回転速度とを決定する。
これらの条件に基づき、露光光強度に関するデータD2
’ を光源7に、光束形状信号Eを絞り制御部16に、
モータ3の制御信号Fを第1の回転制御部19に夫々送
る。
ここで、前述の如く絞り5は、光束6の幅を2枚の遮光
板によって、調整可能となっている。
ターンテーブル1の回転速度を決定する際、露光光の強
度を一定とした場合、ターンテーブル1の回転速度を上
げるには、絞り5のスリット幅を狭くし、逆に回転速度
を下げるにはスリット幅を広くすることとすればよい。
尚、露光中に設定した露光条件が適切かどうか確認する
に際しては、適宜、ウェハ2を退けた状態で受光部8で
露光光を受け、露光光束6の強度を実測するようにすれ
ば、光源の劣化等による露光量変化を防止することがで
きる。光源の劣化等により、露光光束の強度が弱くなっ
た場合は、ターンテーブルlの回転速度を下げても構わ
ないが、劣化光量に相当する分だけ絞り幅を広げること
により、ターンテーブル1の回転速度を一定にしたまま
所定の露光量を確保することも可能である。
これは、スループットを一定に保つ点で有利である。
次にステップ102でCPU15からモータ3制御信号
Fを受けた第1の回転制御部19は、モータ3の回転を
開始し、モータ3を制御して、ターンテーブルlを所定
の速度で回転させる。
次に、移動手段10によって、露光ユニットUは、予め
設定されている必要露光領域に見合う位置にウェハ2の
周縁部分を挟み込むように配置される。
次にステップ103で露光開始信号D3°がCPU15
から光源7に送られることによって、光源7をONとし
、発光部4から露光光束6が射出される。
CPU15は、RAM14に記憶されているOF部に対
応するエンコーダの角度情報(データD4)よりウェハ
OF部を検知可能である。
ステップ104でCPU15は、エンコーダ11の角度
情報を基に、OF部か円周部かを判断し、円周部の場合
はステップ10−5で、CPU15は、データD1と受
光部8からの信号に基づいて、ウェハ2のエツジから常
に一定の露光幅で露光されるようにサーボ制御信号Gを
サーボ制御部18に送る。サーボ動作はセンサ8からの
信号とデータD1とが等しくなるように行う。サーボ制
御部18はこの信号Gに基づき移動手段10をサーボ制
御する。これにより、ウェハエツジから半径方向に任意
の距離までの領域が、一定の幅で均一に露光される。(
この時センサ8aと8bからの出力差はないものとする
。) ステップ104でOF部と判断された場合は、ステップ
200で受光部8からの信号に基づいて、CPU15は
モータ9の制御信号Hを第2の回転制御手段17に送り
、第2の回転制御手段17はOF部において露光光束6
のウェハ側の端辺lとOF部が常に平行となるように、
光束6を回転すべくモータ9を制御する。モータ9を制
御することによる光束の回転動作の制御の方法としては
、例えば第4図において、2つのセンサ8a、8bから
のセンサ信号が等しくなるようにCPU15により、発
光部4と受光部8を一体にして回転させるよう制御すれ
ば良い。同時にサーボ制御部18により一定の幅で露光
が行われるようにウエノ1の半径方向にサーボ制御が行
われる。
この動作はステップ201で光束がOF部から円周部に
差し掛かるまで続けられる。(OF部。
円周部の判別はエンコーダ11の角度情報により判別さ
れる。) 光束6が円周部に差し掛かると、光束6の断面の端辺l
がウェハの半径方向と略垂直になる位置(センサ8a、
8bとの出力差がなくなる位置)でモータ9による光束
6の回転が止まり、ステップ105により前述の如くウ
ェハの半径方向のサーボ制御のみが行われる。
そして、所定回転が実行された後、CPU15は、ステ
ップ106で露光終了信号D3″を光源7に送って光源
7をOFFし、ターンテーブル1を停止して、−枚のウ
ェハの周縁露光が終了する。
尚、露光光束の回転動作とウェハの半径方向の移動動作
を同時に制御する時に、ターンテーブルlを等速度で回
転させた場合には、ウェハ円周部に比べてOF部におい
ては、露光光の照射時間が長くなり、特にOF部両端で
露光量が多くなる。
通常OF部特にOF部両端において、レジストは盛り上
がった状態となっているので、OF部で露光時間が長く
なっても特に問題はない。
又、全周均一な露光量で露光する必要がある場合には、
OF部においては円周部より高速で回転させてやれば良
い。
以上の通り、本実施例においては、ファイバFBとウェ
ハ2との間にレンズ系4a、絞り5を設けることとして
いるが、射出端を方形形状に成形したファイバを、ウェ
ハ2の周縁部分上方にウェハ2に極近接してもよい。こ
の場合はファイバより射出される光束6で直接ウェハ2
を露光することになり、露光量はターンテーブル1の回
転速度を調整することにより制御可能である。
次に、本発明の第2の実施例について第6図を参照にし
て説明する。
第1の実施例では、発光部4と受光部8を一体にした露
光ユニットUをウェハの半径方向に移動することにより
、所定の露光領域を得るようにしているが、本実施例で
は第6図に示すように、発光部4と受光部8は回転動作
のみを行い、ウェハ2を保持するターンテーブル1をウ
ェハの半径方向に移動可能なステージ20上に配置し、
ステージ20のサーボ制御を行うことにより、所定の露
光領域を得ようとするものである。ステージ20はモー
タ2.Obによって、ガイド2Oa上をウェハの半径方
向に移動可能な構造となっている。他の構成は第1の実
施例と同様である。
次に、本発明の第3の実施例について説明する。
第1の実施例では、発光部4と受光部8とが一体構造の
露光ユニットUとなっており、この露光ユニットUを一
体回転させる構成をとっているが、本実施例では、モー
タ9によって発光部4のみを回転させる構成をとるもの
とする。他の構成は第1の実施例と同様である。
本実施例では発光部4の回転に伴って露光光束6と受光
部8とが相対的に変化(回転)するため、更にモータ9
にロータリーエンコーダ等の角度検出手段を設ける。そ
してOF部の露光にあたっては、受光部8のセンサ8a
、8bの出力差から求まる角度θと前記角度検出手段に
より求まる角度θ1が等しくなるようにCPU15によ
りモータ9を制御するような構成をとるものとする。こ
こで、受光部8とOF部の傾きを求める方法としては、
第4図に示すように間隔して配置した2つのポジション
センサ8a、8bからの信号に基づいて、各々のセンサ
上でのOF部の位置S、、S2を求める。そしてこの位
置S、、S2の差を求めるとこれらと既知の間隔りから
、受光部8とOF部との角度θが として求まる。
尚、本実施例では、光束6は発光部4が回転しても光束
の側面Kがセンサ8a、8bからはずれることのない大
きさに成形されているものとする。
これは、傾きの検出精度の低下を防止するため、発光部
4のみが回転しても、ウェハ2の外側部分でのセンサ8
aと8b全域に渡って光束6を受光する必要があるから
である。
尚、ロータリーエンコーダ等の角度検出手段は、光束6
の直線部lとセンサ8a、8bとが直交した状態のとき
、予めカウンタはプリセットされているものとする。
本実施例では、発光部4のみが回転する構成をとるため
、受光部8はOF部に対して傾いた状態のままである。
従って、露光幅に関するウェハ2の半径方向のサーボ制
御を行なう場合は、センサ8a、8bからの出力値に、
傾きに応じたオフセット量を加えた値でサーボ制御を行
なうものとする。
一方、露光動作前のOF検出結果から既知のウェハ長、
ウェハ半径を使いCPU15の演算によってOF部の傾
きを求め、センサ8a、8bからの出力値を使うことな
く回転制御を行うことも可能である。
次に第4の実施例について説明する。
上記の第1〜第3実施例では、露光動作前にウェハ外形
情報(OF検出情報)をとることとし、ウェハ外形検出
用センサDeとセンサ8を別構成としていたが、本実施
例では光学系を同一としてセンサDeをセンサ8で共用
とする構成をとるものである。
この場合、露光光を射出する光源と非露光光を射出する
光源の2つの光源を設けて、ダイクロイックミラーを介
して夫々の光源から射出される光束を上述の光学系へ導
くような構成にすればよい。
露光光と非露光光の切替えの一例としては光源のON、
OFFによる切替えや光源とダイクロイックミラーの間
にシャッタを設けて適宜切り換える等の方法が考えられ
る。或いは、水銀ランプ等の広帯域を持つ露光光源を使
用する場合は、光路中に非露光波長のみを選択する波長
選択フィルターを設けて、このフィルターの出し入れに
より露光光と非露光光とを適宜選択するようにすればよ
い。
そして、露光動作の前に、非露光光をセンサ8で受光す
ることによってウェハ外形情報を検出する。以下露光動
作については上記第1〜第3実施例と同様である。
次に本発明の第5の実施例について説明する。
以上の実施例では、露光前に求めたウェハ外形情報から
光束6の回転(露光ユニットU全体又は発光部4のみの
回転)の開始、終了のタイミングをとることとしていた
が、本実施例では、OF部と円周部との境界部でセンサ
8aと8bに出力差が生じることから、この出力差を検
知した時点で光束6の回転の開始、終了のタイミングを
とるものである。円周部若しくはOF部から露光を開始
することとし円周部とOF部との境界を検知した時点で
光束6の回転の開始、終了を制御することによって、そ
れぞれに応した制御動作が可能となる。
次に、第6の実施例について説明する。
上記実施例では、光源からウェハへ光束をファイバを介
して導くような構成をとっているが、本実施例では、ウ
ェハ照射部から離れたところに設けられた光源からウェ
ハへ光束をミラー系や光学系を介して導(ような構成を
とるものである。
このような構成をとることにより、ターンテーブル1を
固定したまま、ミラー系や光学系を駆動させることによ
って、光束のウェハの半径方向の移動や回転が可能とな
る。
光源より射出された光束は、照明系を介して均、略平行
光とされ、絞りにより所定形状に成形された後、ミラー
系や光学系を介してウェハに照射される。 第1の実施
例で発光部4を移動させた場合と同様に光束をウェハの
半径方向に移動させるには、例えば、ウェハの被照射面
上方にウェハ面に対して45度傾いて設けられたミラー
を移動させたり、絞りとウェハとの間にプレーンパラレ
ル等の光学系を設け、これらを所定の角度で傾けてやれ
ばよい。これによって所定の幅でウェハを露光すること
ができる。更に、光束を回転させる場合は、平行光束と
なっている光路中で、絞りとウェハの間にイメージロー
テータを設けて、所望の光束回転角の1/2の角度分だ
け回転させればよい。
又、絞り面とウェハ面とを共役関係としたい場合は、ア
フォーカルリレー系を設けることとする。
ウェハの半径方向に光束を移動する場合は、リレー系の
ウェハ側のレンズとウェハの照射面上方にウェハ面に対
して45度傾いて設けられたミラーを一体として移動す
るか或いはプレーンパラレル等を傾けることとし、光束
を回転させる場合は絞りを回転させるか或いはイメージ
ローテータを光路中絞りとウェハの間に設けてこれを回
転させてやればよい。
〔発明の効果〕
以上のように本発明によれば、光束に対するウェハOF
部の傾きに関する情報を検出して、ウェハの円周部と同
様に常にウェハOF部が一定の露光幅となるように制御
しているので、ウェハ全周にわたって露光幅のばらつき
や膜べりの少ない周縁露光を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1の実施例による全体構成を示す図
であり、第2図(a)は本発明の第1の実施例による露
光光束の断面形状を示す図、第2図(b)は本発明の第
1の実施例による受光部を示す図、第3図は本発明の第
1の実施例による露光制御を示すブロック図であり、第
4図は本発明の第1の実施例によるOF部の角度を検出
する方法を示す図であり、第5図は本発明の第1の実施
例による露光の動作を示す流れ図であり、第6図は本発
明の第2の実施例による装置構成を示す図であり、第7
図は従来の技術における光束先端の軌跡を示す図であり
、第8図は従来の技術におけるOF部両端での光束の傾
きを示す図である。 〔主要部分の符号の説明〕 1・・・ターンテーブル、2・・・ウェハ、3,9・・
・モータ、4・・・発光部、5・・・絞り部、6・・・
光束、8・・・受光部、10・・・移動手段、15・・
・CPU、17・・・第2の回転手段制御部、19・・
・第1の回転手段制御部、De・・・センサ 第2図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 周辺に直線的な平坦部を有するとともに、表面にほぼ均
    一な感光層を有する基板の中央近傍を中心として、該基
    板を前記表面とほぼ平行な面内で回転させる第1の回転
    手段と、少なくとも一部を直線状に成形した断面形状の
    光束を該基板の周縁部に照射する照射手段と、前記光束
    と前記基板を前記回転の半径方向に相対的に移動させる
    移動手段とを備え、前記第1の回転手段によって前記基
    板を回転させながら、前記移動手段を駆動させて、前記
    光束で前記周縁部を露光する周縁露光装置において、 前記平坦部の直線方向と前記光束の断面形状における直
    線状端辺の方向との相対的な傾きに関する情報を検出す
    る検出手段と; 前記表面とほぼ平行な面内で、前記光束の中心近傍を回
    転中心として前記光束を回転する第2の回転手段と; 前記検出手段からの信号に基づいて、前記基板の平坦部
    と前記光束の断面形状における直線状端辺とが略平行に
    なるように前記第2の回転手段を制御する制御手段と; を有することを特徴とする周縁露光装置。
JP2178230A 1990-07-05 1990-07-05 周縁露光装置 Pending JPH0465116A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100724478B1 (ko) * 2003-06-30 2007-06-04 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정표시소자 제조방법

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100724478B1 (ko) * 2003-06-30 2007-06-04 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정표시소자 제조방법

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