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JPH0445199Y2 - - Google Patents

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JPH0445199Y2
JPH0445199Y2 JP1985182321U JP18232185U JPH0445199Y2 JP H0445199 Y2 JPH0445199 Y2 JP H0445199Y2 JP 1985182321 U JP1985182321 U JP 1985182321U JP 18232185 U JP18232185 U JP 18232185U JP H0445199 Y2 JPH0445199 Y2 JP H0445199Y2
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transistor
base
current
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hold
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Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この考案はサンプルホールド回路に関する。[Detailed explanation of the idea] [Industrial application field] This invention relates to a sample and hold circuit.

〔考案の概要〕[Summary of the idea]

この考案は、サンプルホールド回路において、
第1のトランジスタと第2のトランジスタとが差
動接続され、第1のトランジスタのベースに入力
信号が印加され、第1のトランジスタのコレクタ
及び第2のトランジスタのコレクタの夫々と電源
の一端間にカレントミラー回路が接続され、第2
のトランジスタのコレクタと第2のトランジスタ
のベースとが接続されて、この接続点がホールド
コンデンサを介して電源の他端に接続され、ホー
ルドコンデンサの端子電圧がバツフア用の第3の
トランジスタを介して導出され、第1のトランジ
スタ及び第2のトランジスタがサンプル期間にオ
ンせしめられ、第1のトランジスタのコレクタが
第4のトランジスタのベースに接続され、第3の
トランジスタのベース電流と第4のトランジスタ
のベース電流が略等しくなされたもので、サンプ
ルホールド回路の出力バツフアを構成する第3の
トランジスタのベース電流によるドループ(リー
クによる信号レベル低下)を補償するものであ
る。
This idea is based on the sample and hold circuit.
The first transistor and the second transistor are differentially connected, an input signal is applied to the base of the first transistor, and an input signal is connected between the collector of the first transistor and the collector of the second transistor, respectively, and one end of the power supply. A current mirror circuit is connected and the second
The collector of the transistor and the base of the second transistor are connected, this connection point is connected to the other end of the power supply via a hold capacitor, and the terminal voltage of the hold capacitor is connected to the base of the second transistor for buffering. the first transistor and the second transistor are turned on during the sample period, the collector of the first transistor is connected to the base of the fourth transistor, and the base current of the third transistor and the fourth transistor are connected. The base currents are made approximately equal, and the droop (signal level drop due to leakage) due to the base current of the third transistor constituting the output buffer of the sample and hold circuit is compensated for.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来のサンプルホールド回路として、例えば第
3図に示されるものがある。この第3図に示され
た例においては、トランジスタ31とトランジス
タ32とが差動接続され、トランジスタ31のベ
ースに端子33より入力信号が印加されると共
に、トランジスタ32のベースとトランジスタ3
2のコレクタが接続される。トランジスタ31の
コレクタがダイオード34のカソードに接続され
ると共にダイオード34のアノードが抵抗素子3
5を介して電圧Vccの電源端子36に接続され
る。トランジスタ32のコレクタがPNPトラン
ジスタ37のコレクタに接続され、トランジスタ
37のエミツタが抵抗素子38を介して電圧レベ
ルVccの電源素子36に接続される。トランジス
タ37のベースがダイオード34のカソードに接
続され、比較器を構成するトランジスタ31及び
トランジスタ32の負荷としてカレントミラー回
路が形成される。
As a conventional sample and hold circuit, there is one shown in FIG. 3, for example. In the example shown in FIG. 3, transistor 31 and transistor 32 are differentially connected, and an input signal is applied to the base of transistor 31 from terminal 33, and the base of transistor 32 and transistor 3
2 collectors are connected. The collector of the transistor 31 is connected to the cathode of the diode 34, and the anode of the diode 34 is connected to the resistive element 3.
5 to a power supply terminal 36 of voltage Vcc. The collector of transistor 32 is connected to the collector of PNP transistor 37, and the emitter of transistor 37 is connected via resistor element 38 to power supply element 36 at voltage level Vcc. The base of transistor 37 is connected to the cathode of diode 34, and a current mirror circuit is formed as a load for transistor 31 and transistor 32 forming a comparator.

トランジスタ31及びトランジスタ32のスイ
ツチングを行うトランジスタ39のベースに端子
40よりサンプルホールドパルスが供給される。
トランジスタ39のエミツタがトランジスタ31
のエミツタ及びトランジスタ32のエミツタに接
続されると共に、トランジスタ39のコレクタが
電源端子36に接続される。
A sample and hold pulse is supplied from a terminal 40 to the base of a transistor 39 that switches transistors 31 and 32.
The emitter of transistor 39 is transistor 31
and the emitter of the transistor 32, and the collector of the transistor 39 is connected to the power supply terminal 36.

トランジスタ32のベースがホールドコンデン
サ41を介して接地される。トランジスタ32の
ベースがバツフアを形成するエミツタホロワトラ
ンジスタ42のベースに接続されると共に、トラ
ンジスタ42のコレクタが電源端子36に接続さ
れる。トランジスタ42のエミツタが定電流源を
介して接地されると共に、トランジスタ42のエ
ミツタからサンプルホールド出力信号が出力端子
43に導出される。
The base of transistor 32 is grounded via hold capacitor 41. The base of transistor 32 is connected to the base of emitter follower transistor 42 forming a buffer, and the collector of transistor 42 is connected to power supply terminal 36. The emitter of the transistor 42 is grounded via a constant current source, and a sample and hold output signal is derived from the emitter of the transistor 42 to an output terminal 43.

この従来例では、入力端子33に第4図Aに示
す所定レベルの信号が供給され、サンプルホール
ドパルス(第4図C参照)がローレベル“0”で
トランジスタ39がオフすると、カレントミラー
回路に電流が流れ、ホールドコンデンサ41の端
子電圧が入力電圧と等しくなるように、ホールド
コンデンサ41が充放電される。そして、バツフ
アを形成するエミツタホロワトランジスタ42の
エミツタからサンプルホールド出力が得られる。
In this conventional example, when a signal of a predetermined level shown in FIG. 4A is supplied to the input terminal 33, and the sample and hold pulse (see FIG. 4C) is low level "0" and the transistor 39 is turned off, the current mirror circuit is activated. Current flows and the hold capacitor 41 is charged and discharged so that the terminal voltage of the hold capacitor 41 becomes equal to the input voltage. A sample and hold output is obtained from the emitter of the emitter follower transistor 42 forming the buffer.

〔考案が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention attempts to solve]

第3図に示された従来のサンプルホールド回路
では、サンプルホールド出力はバツフアとしての
トランジスタ42のベース電流によつてホールド
期間中にドループを生じる。即ち、サンプルホー
ルドパルス(第4図C)がハイレベル“1”のホ
ールド期間に、端子33に印加される入力信号
(第4図A)に対しトランジスタ42のエミツタ
から得られるサンプルホールド出力信号(第4図
B)は、洩れ電流(トランジスタ42のベース電
流)により電圧降下し、所謂ドループが生じてし
まう。このドループ量は、ホールド時間Δt、ホ
ールドコンデンサ41の容量C、トランジスタ4
2のベース電流IB(トランジスタ42のエミツタ
電流とトランジスタ42の電流増幅率hFEに依存)
によつて決まる。
In the conventional sample and hold circuit shown in FIG. 3, the sample and hold output droops during the hold period due to the base current of transistor 42 as a buffer. That is, during the hold period in which the sample-and-hold pulse (FIG. 4C) is at a high level "1", the sample-and-hold output signal obtained from the emitter of the transistor 42 ( In FIG. 4B), the voltage drops due to leakage current (base current of the transistor 42), resulting in a so-called droop. This droop amount is determined by the hold time Δt , the capacitance C of the hold capacitor 41, and the transistor 4.
Base current I B of 2 (depends on emitter current of transistor 42 and current amplification factor h FE of transistor 42)
Depends on.

出力バツフアが電界効果トランジスタのような
高入力インピーダンスのものならドループは生じ
ないが、トランジスタのバツフアではどうしても
ドループを生じてしまい、容量Cが小さい場合や
ベース電流IBが大きいときにはドループがかなり
の量となる。
Droop will not occur if the output buffer is of high input impedance such as a field effect transistor, but droop will inevitably occur in a transistor buffer, and when the capacitance C is small or the base current I B is large, the droop will be considerable. becomes.

この考案の目的は、ホールド期間におけるドル
ープの発生が防止されたサンプルホールド回路を
提供することにある。
An object of this invention is to provide a sample and hold circuit in which droop is prevented from occurring during the hold period.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

この考案は、第1のトランジスタ1と第2のト
ランジスタ2とが差動接続され、第1のトランジ
スタ1のベースに入力信号が印加され、第1のト
ランジスタ1のコレクタ及び第2のトランジスタ
2のコレクタの夫々と電源の一端3間にカレント
ミラー回路が接続され、第2のトランジスタ2の
コレクタと第2のトランジスタ2のベースとが接
続され、この接続点がホールドコンデンサ8を介
して電源の他端に接続され、ホールドコンデンサ
8の端子電圧がバツフア用の第3のトランジスタ
11を介して導出され、第1のトランジスタ1及
び第2のトランジスタ2がサンプル期間にオンせ
しめられ、第1のトランジスタ1のコレクタが第
4のトランジスタ13のベースに接続され、第3
のトランジスタ11のベース電流と第4のトラン
ジスタ13のベース電流が略等しくなされたもの
である。
In this invention, a first transistor 1 and a second transistor 2 are differentially connected, an input signal is applied to the base of the first transistor 1, and the input signal is applied to the collector of the first transistor 1 and the second transistor 2. A current mirror circuit is connected between each of the collectors and one end 3 of the power supply, the collector of the second transistor 2 is connected to the base of the second transistor 2, and this connection point is connected to the other end of the power supply via the hold capacitor 8. The terminal voltage of the hold capacitor 8 is derived through the third buffer transistor 11, and the first transistor 1 and the second transistor 2 are turned on during the sample period. The collector of the transistor 13 is connected to the base of the fourth transistor 13, and the collector of the third
The base current of the fourth transistor 11 and the base current of the fourth transistor 13 are made approximately equal.

〔作用〕[Effect]

この考案においては、ホールド期間中、出力バ
ツフアとなる第3のトランジスタ11のベースに
流れる電流と、第4のトランジスタ13のベース
に流れる電流とが略等しくなるようにしたので、
ホールド期間中にトランジスタ11のベース電流
が流れてもホールドコンデンサ8にチヤージされ
ている電荷量が変動しないようにカレントミラー
回路に電流が流れ、ホールド期間におけるサンプ
ルホールド回路の出力バツフアによるドループの
発生が防止される。
In this invention, during the hold period, the current flowing to the base of the third transistor 11 serving as an output buffer and the current flowing to the base of the fourth transistor 13 are made to be approximately equal.
Even if the base current of the transistor 11 flows during the hold period, current flows through the current mirror circuit so that the amount of charge charged in the hold capacitor 8 does not change, and droop due to the output buffer of the sample and hold circuit during the hold period is prevented. Prevented.

〔実施例〕〔Example〕

以下、この考案の一実施例を第1図を参照して
説明する。
An embodiment of this invention will be described below with reference to FIG.

トランジスタ1とトランジスタ2とが差動接続
され、トランジスタ1のベースに入力端子17よ
り入力信号が印加される。トランジスタ1のコレ
クタがダイオード4のカソードに接続され、ダイ
オード4のアノードが抵抗素子5を介して電源端
子3に接続される。トランジスタ2のコレクタが
PNPトランジスタ6のコレクタに接続され、ト
ランジスタ6のエミツタが抵抗素子7を介して電
源端子3に接続される。トランジスタ2のベース
とトランジスタ2のコレクタとが接続され、トラ
ンジスタ2のベースがホールドコンデンサ8を介
して接地される。トランジスタ1のエミツタとト
ランジスタ2のエミツタの接続点にトランジスタ
9のエミツタが接続され、トランジスタ9のベー
スにサンプルホールドパルスが端子10から印加
されると共にトランジスタ9のコレクタが電源端
子3に接続される。
Transistor 1 and transistor 2 are differentially connected, and an input signal is applied to the base of transistor 1 from input terminal 17 . The collector of transistor 1 is connected to the cathode of diode 4, and the anode of diode 4 is connected to power supply terminal 3 via resistance element 5. The collector of transistor 2 is
It is connected to the collector of a PNP transistor 6, and the emitter of the transistor 6 is connected to the power supply terminal 3 via a resistor element 7. The base of transistor 2 and the collector of transistor 2 are connected, and the base of transistor 2 is grounded via hold capacitor 8 . The emitter of transistor 9 is connected to the connection point between the emitter of transistor 1 and the emitter of transistor 2, a sample and hold pulse is applied to the base of transistor 9 from terminal 10, and the collector of transistor 9 is connected to power supply terminal 3.

サンプルホールドパルスがハイレベル“1”に
なると、トランジスタ9がオンして、トランジス
タ1及び2のオフしホールド期間にされ、サンプ
ルホールドパルスがローレベル“0”になるとト
ランジスタ9がオフして、入力信号とホールド電
圧との差に応じてカレントミラー回路を構成する
ダイオード4、抵抗素子5、トランジスタ6、抵
抗素子7に電流が流れる。11は出力バツフアを
形成するエミツタホロワトランジスタを示し、こ
のトランジスタ11のエミツタより出力端子12
にサンプルホールド出力信号が導出されると共
に、トランジスタ11のコレクタが電源端子3に
接続される。
When the sample and hold pulse becomes high level "1", transistor 9 is turned on and transistors 1 and 2 are turned off, resulting in a hold period. When the sample and hold pulse becomes low level "0", transistor 9 is turned off and the input signal is Current flows through the diode 4, resistance element 5, transistor 6, and resistance element 7 that constitute the current mirror circuit according to the difference between the signal and the hold voltage. Reference numeral 11 indicates an emitter follower transistor forming an output buffer, and the output terminal 12 is connected from the emitter of this transistor 11.
A sample and hold output signal is derived at , and the collector of transistor 11 is connected to power supply terminal 3 .

トランジスタ13は、トランジスタ11と等し
いベース電流をそのベースに流すためのトランジ
スタで、トランジスタ13のエミツタ電流とトラ
ンジスタ11のエミツタ電流とが共に定電流で相
等しくなるように、ベースの共通接続された定電
流用のトランジスタ14及び15が設けられてい
る。トランジスタ14のベースが、抵抗素子を介
して電源端子3に接続されると共に、ダイオード
及び抵抗素子を介して接地され、トランジスタ1
4のコレクタがトランジスタ13のエミツタに接
続され、トランジスタ14のエミツタが抵抗素子
を介して接地され、定電流回路16が構成され
る。トランジスタ15のコレクタがトランジスタ
11のエミツタに接続されると共に、トランジス
タ15のエミツタが抵抗素子を介して接地され、
定電流回路19が構成される。
The transistor 13 is a transistor for causing a base current equal to that of the transistor 11 to flow through its base.The transistor 13 has a constant base connected in common so that the emitter current of the transistor 13 and the emitter current of the transistor 11 are constant currents and are equal to each other. Current transistors 14 and 15 are provided. The base of the transistor 14 is connected to the power supply terminal 3 via a resistance element, and is grounded via a diode and a resistance element.
The collector of transistor 4 is connected to the emitter of transistor 13, and the emitter of transistor 14 is grounded via a resistive element, thereby forming a constant current circuit 16. The collector of the transistor 15 is connected to the emitter of the transistor 11, and the emitter of the transistor 15 is grounded via a resistive element.
A constant current circuit 19 is configured.

この一実施例においては、サンプルホールドパ
ルスがローレベル“0”になるとトランジスタ9
がオフし、トランジスタ1のベースに印加される
入力信号とホールド電圧とに応じて、カレントミ
ラー回路に電流が流れ、ホールドコンデンサ8が
充放電されるサンプル期間になる。
In this embodiment, when the sample and hold pulse becomes low level "0", the transistor 9
is turned off, a current flows through the current mirror circuit according to the input signal applied to the base of the transistor 1, and the hold voltage, and a sample period begins in which the hold capacitor 8 is charged and discharged.

また、サンプルホールドパルスがハイレベル
“1”になるとトランジスタ9がオンし、トラン
ジスタ1及びトランジスタ2がオフしてホールド
期間になる。このとき、トランジスタ13のベー
ス電流が抵抗素子5及びダイオード4を介して流
れる。これに対応して、カレントミラー回路のた
めに、抵抗素子7及びトランジスタ6のエミツタ
−コレクタ経路を介して、トランジスタ11のベ
ースにトランジスタ13のベース電流と等しい電
流が流れる。したがつて、従来のサンプルホール
ド回路と異なり、ホールド期間中にトランジスタ
11のベースに電流が流れても、このベース電流
に見合つた分の電流がホールドコンデンサ8に流
れ込むことになる。それゆえ、ホールドコンデン
サ8の電荷のリークがなくなるように補償され、
トランジスタ11のベース電流が流れても、トラ
ンジスタ11のエミツタ電圧のレベルは一定に保
たれる。したがつて、ホールド期間にサンプルホ
ールド出力信号のドループは生じない。
Further, when the sample hold pulse becomes high level "1", transistor 9 is turned on, transistor 1 and transistor 2 are turned off, and a hold period begins. At this time, the base current of the transistor 13 flows through the resistance element 5 and the diode 4. Correspondingly, a current equal to the base current of transistor 13 flows through the resistive element 7 and the emitter-collector path of transistor 6 into the base of transistor 11 due to the current mirror circuit. Therefore, unlike a conventional sample and hold circuit, even if a current flows into the base of the transistor 11 during the hold period, a current corresponding to this base current flows into the hold capacitor 8. Therefore, the leakage of charge from the hold capacitor 8 is compensated for,
Even if the base current of transistor 11 flows, the level of the emitter voltage of transistor 11 is kept constant. Therefore, no droop occurs in the sample-and-hold output signal during the hold period.

また、第2図はこの考案の他の実施例を示す。
この第2図において、第1図と同一部分には同一
符号を付しその詳細な説明は省略する。
Moreover, FIG. 2 shows another embodiment of this invention.
In FIG. 2, the same parts as in FIG. 1 are given the same reference numerals, and detailed explanation thereof will be omitted.

第2図に示す例において、18はNPNトラン
ジスタを示し、このNPNトランジスタ18がサ
ンプルホルードパルスの供給されるトランジスタ
9と差動接続される。トランジスタ18のベース
に直流電源20が接続される。トランジスタ18
のコレクタがトランジスタ1及びトランジスタ2
のエミツタに接続され、トランジスタ1及びトラ
ンジスタ2に流れる電流のスイツチングがトラン
ジスタ18により行われる。他の部分は上述の一
実施例同様に構成する。
In the example shown in FIG. 2, 18 indicates an NPN transistor, and this NPN transistor 18 is differentially connected to the transistor 9 to which the sample-and-hold pulse is supplied. A DC power supply 20 is connected to the base of the transistor 18 . transistor 18
The collectors of transistor 1 and transistor 2
Transistor 18 is connected to the emitter of transistor 18, and switches the current flowing through transistor 1 and transistor 2. The other parts are constructed in the same manner as in the above-mentioned embodiment.

この一実施例においては、ダイオード4と抵抗
素子5、トランジスタ6と抵抗素子7によりカレ
ントミラー回路が形成され、トランジスタ1とト
ランジスタ2によつて比較器が形成され、トラン
ジスタ18とトランジスタ9によつて電流スイツ
チが形成される。
In this embodiment, a current mirror circuit is formed by a diode 4 and a resistance element 5, a transistor 6 and a resistance element 7, a comparator is formed by a transistor 1 and a transistor 2, and a comparator is formed by a transistor 18 and a transistor 9. A current switch is formed.

サンプルホールドパルスによつて、トランジス
タ9のベース電圧がトランジスタ18のベース電
圧より下がると、トランジスタ9がオフすると共
にトランジスタ18がオンし、カレントミラー回
路に電流が流れ、入力信号に応じてトランジスタ
6のコレクタ電流が追従して流れ、ホールドコン
デンサ8の電荷が充放電されるサンプル期間にな
る。また、トランジスタ9のベース電圧がトラン
ジスタ18のベース電圧より上がると、トランジ
スタ9がオンすると共に、トランジスタ18がオ
フしてホールド期間になる。
When the base voltage of transistor 9 falls below the base voltage of transistor 18 due to the sample and hold pulse, transistor 9 is turned off and transistor 18 is turned on, current flows through the current mirror circuit, and transistor 6 is turned off according to the input signal. A sample period is reached in which the collector current follows and the charge in the hold capacitor 8 is charged and discharged. Further, when the base voltage of transistor 9 becomes higher than the base voltage of transistor 18, transistor 9 is turned on and transistor 18 is turned off, resulting in a hold period.

この一実施例では、上述実施例の作用効果に加
え、トランジスタ18のベースに印加される直流
信号のレベルをサンプルホールド電圧と無関係に
小さいものに選定できるので、サンプルホールド
パルスの振幅が小さくともトランジスタ18及び
トランジスタ9のオンオフによるスイツチングに
より良好にサンプルホールド動作がなされる利益
がある。
In this embodiment, in addition to the effects of the above-described embodiment, the level of the DC signal applied to the base of the transistor 18 can be selected to be small regardless of the sample-and-hold voltage, so even if the amplitude of the sample-and-hold pulse is small, the There is an advantage that the sample and hold operation can be performed well by switching on and off of the transistor 18 and the transistor 9.

〔考案の効果〕[Effect of idea]

この考案に依れば、第3のトランジスタ11の
ベース電流と第4のトランジスタ13のベース電
流が略等しくなされたので、ホールド期間に第3
のトランジスタ11のベース電流が流れることに
よるホールドコンデンサ8の電圧レベルの降下が
補償される。したがつて、サンプルホールド回路
の出力バツフアによるドループがなくなり、良好
にサンプルホールド出力が得られる利益がある。
According to this invention, since the base current of the third transistor 11 and the base current of the fourth transistor 13 are made approximately equal, the third
The drop in the voltage level of the hold capacitor 8 due to the flow of the base current of the transistor 11 is compensated for. Therefore, there is an advantage that droop due to the output buffer of the sample and hold circuit is eliminated, and a good sample and hold output can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図はこの考案の一実施例を示す接続図、第
2図はこの考案の他の実施例を示す接続図、第3
図は従来のサンプルホールド回路の例を示す接続
図、第4図は従来のサンプルホールド回路の各部
波形図である。 図面における主要な符号の説明、1……第1の
トランジスタ、2……第2のトランジスタ、3…
…電源端子、8……ホールドコンデンサ、11…
…第3のトランジスタ、13……第4のトランジ
スタ。
Figure 1 is a connection diagram showing one embodiment of this invention, Figure 2 is a connection diagram showing another embodiment of this invention, and Figure 3 is a connection diagram showing another embodiment of this invention.
The figure is a connection diagram showing an example of a conventional sample-and-hold circuit, and FIG. 4 is a waveform diagram of each part of the conventional sample-and-hold circuit. Explanation of main symbols in the drawings: 1...first transistor, 2...second transistor, 3...
...Power supply terminal, 8...Hold capacitor, 11...
...Third transistor, 13...Fourth transistor.

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】 第1のトランジスタと第2のトランジスタとが
差動接続され、上記第1のトランジスタのベース
に入力信号が印加され、上記第1のトランジスタ
のコレクタ及び上記第2のトランジスタのコレク
タの夫々と電源の一端間にカレントミラー回路が
上記第2のトランジスタのコレクタが出力となる
ように接続され、上記第2のトランジスタのコレ
クタと上記第2のトランジスタのベースとが接続
された差動増幅器と、 上記差動接続された第1のトランジスタと第2
のトランジスタのエミツタに接続された第1の電
流源と、 上記差動増幅器の出力端(上記第2のトランジ
スタのコレクタと上記第2のトランジスタのベー
スとの接続点)に第1の端子が接続されるととも
に、第2の端子が上記第1の電流源の他端に接続
されたホールドコンデンサと、 上記差動接続された上記第1のトランジスタと
上記第2のトランジスタのエミツタと上記第1の
電流源の間に接続されるとともに、ホールド期間
に上記第1の電流源の電流路を他の端子に切り換
え上記差動増幅器による入力信号のサンプルを不
動作にし、サンプルされた入力信号を上記ホール
ドコンデンサによりホールドせしめる電流切り換
えスイツチ回路と、 上記ホールドコンデンサの第1の端子に接続さ
れた上記ホールドコンデンサの第1の端子の電圧
を導出する第3のトランジスタと、 上記第3のトランジスタのエミツタに接続され
た第2の電流源と、 上記第1のトランジスタのコレクタにベースが
接続された第4のトランジスタと、 上記第4のトランジスタのエミツタに接続され
るとともに、上記第4のトランジスタのベース電
流が上記第3のトランジスタのベース電流と略等
しくなるように電流値が設定された第3の電流源
とを備えたサンプルホールド回路。
[Claims for Utility Model Registration] A first transistor and a second transistor are differentially connected, an input signal is applied to the base of the first transistor, and the collector of the first transistor and the second transistor are connected differentially. A current mirror circuit is connected between each of the collectors of the transistors and one end of the power supply such that the collector of the second transistor serves as an output, and the collector of the second transistor is connected to the base of the second transistor. a differential amplifier, the differentially connected first transistor and the second transistor;
a first current source connected to the emitter of the transistor; and a first terminal connected to the output terminal of the differential amplifier (the connection point between the collector of the second transistor and the base of the second transistor). and a hold capacitor whose second terminal is connected to the other end of the first current source; the emitters of the differentially connected first transistor and second transistor; The circuit is connected between the current sources, switches the current path of the first current source to another terminal during the hold period, disables sampling of the input signal by the differential amplifier, and holds the sampled input signal. a current changeover switch circuit held by a capacitor; a third transistor connected to the first terminal of the hold capacitor for deriving the voltage at the first terminal of the hold capacitor; and a third transistor connected to the emitter of the third transistor. a fourth transistor whose base is connected to the collector of the first transistor; and a fourth transistor whose base is connected to the emitter of the fourth transistor, and whose base current is connected to the collector of the fourth transistor. and a third current source whose current value is set to be approximately equal to the base current of the third transistor.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS60160099A (en) * 1984-01-30 1985-08-21 Toshiba Corp Compensating circuit of holding voltage

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JPS60160099A (en) * 1984-01-30 1985-08-21 Toshiba Corp Compensating circuit of holding voltage

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