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JPH04363914A - Synchronization clock generator - Google Patents

Synchronization clock generator

Info

Publication number
JPH04363914A
JPH04363914A JP3193033A JP19303391A JPH04363914A JP H04363914 A JPH04363914 A JP H04363914A JP 3193033 A JP3193033 A JP 3193033A JP 19303391 A JP19303391 A JP 19303391A JP H04363914 A JPH04363914 A JP H04363914A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
clock
delayed
circuit
flip
output
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP3193033A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2792759B2 (en
Inventor
Makoto Hatanaka
真 畠中
Yukio Miyazaki
行雄 宮崎
Takenori Okidaka
沖▲高▼ 毅則
Junji Mano
純司 真野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP3193033A priority Critical patent/JP2792759B2/en
Priority to DE4142825A priority patent/DE4142825A1/en
Publication of JPH04363914A publication Critical patent/JPH04363914A/en
Priority to US08/289,837 priority patent/US5491438A/en
Priority to US08/449,496 priority patent/US5534805A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2792759B2 publication Critical patent/JP2792759B2/en
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  • Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)

Abstract

PURPOSE:To realize the synchronization clock having high synchronization precision without need of a high frequency clock. CONSTITUTION:Delay clocks DC1-DC5 generated by delaying a reference clock S1 are given in a one-to-one correspondence to clock input terminals CK of flip-flips 201-205. Moreover, the delay clocks DC1-DC5 are given to an input terminal group of as clock selection circuit 221. Furthermore, output signals S201-S205 are given to the other input terminal group of the clock selection circuit 221. Moreover, an asynchronous signal S2 is given to a reset input terminal R of the flip-flops 201-205, and output signals S201-S205 from a data output terminal Q of the clock selection circuit 221. In the circuit 221, a clock closest to an edge of the asynchronizing signal S2 among the delay clocks DC1-DC5 is detected and a desired clock is selected among the delay clocks DC1-DC5 in response to the result of detection, Thus, the synchronization clock is outputted with high precision from the clock selection circuit 221.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】0001

【産業上の利用分野】この発明は、基準クロック入力信
号を外部からの非同期入力信号に同期させて同期クロッ
クとして出力する同期クロック発生回路に関するもので
ある。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a synchronous clock generation circuit that synchronizes a reference clock input signal with an external asynchronous input signal and outputs it as a synchronous clock.

【0002】0002

【従来の技術】図12は従来の同期クロック発生回路を
示すブロック図である。同図に示すように、非同期のト
リガ信号を入力する非同期信号入力端子2から非同期信
号S2がカウンタ402の一方の入力に与えられており
、カウンタ402の出力である分周イネーブル信号S4
02が分周器403に与えられている。また、高周波ク
ロック発生回路401の出力である高周波クロックS4
01がカウンタ402の他方の入力と分周器403の他
方の入力に与えられており、分周器403の出力である
同期クロックS5が同期クロック出力端子5に与えられ
ている。
2. Description of the Related Art FIG. 12 is a block diagram showing a conventional synchronous clock generation circuit. As shown in the figure, an asynchronous signal S2 is applied to one input of a counter 402 from an asynchronous signal input terminal 2 into which an asynchronous trigger signal is input, and a frequency division enable signal S4 is an output of the counter 402.
02 is given to the frequency divider 403. Also, a high frequency clock S4 which is the output of the high frequency clock generation circuit 401
01 is applied to the other input of the counter 402 and the other input of the frequency divider 403, and the synchronous clock S5, which is the output of the frequency divider 403, is applied to the synchronous clock output terminal 5.

【0003】なお、高周波クロックS401の周波数は
同期クロックS5の周波数に比べて高い周波数である。
Note that the frequency of the high frequency clock S401 is higher than the frequency of the synchronous clock S5.

【0004】次に動作について説明する。図13は従来
の同期クロック発生回路の動作を示すタイミングチャー
トである。同図に示すように、カウンタ402は非同期
信号入力端子2からの非同期信号S2のトリガを検出す
ると高周波クロック発生回路401の出力である高周波
クロックS401のカウントを開始する。カウント数が
一定数(この例では3)に達するとカウンタ402は分
周器403に対して分周イネーブル信号S402を出力
する。分周イネーブル信号S402により、分周器40
3は高周波クロックS401を定められた分周比(この
例では8)で分周をして同期クロックS5として同期ク
ロック出力端子5から出力する。
Next, the operation will be explained. FIG. 13 is a timing chart showing the operation of a conventional synchronous clock generation circuit. As shown in the figure, when the counter 402 detects the trigger of the asynchronous signal S2 from the asynchronous signal input terminal 2, it starts counting the high frequency clock S401 which is the output of the high frequency clock generation circuit 401. When the count reaches a certain number (3 in this example), the counter 402 outputs a frequency division enable signal S402 to the frequency divider 403. By the frequency division enable signal S402, the frequency divider 40
3 divides the high frequency clock S401 by a predetermined frequency division ratio (8 in this example) and outputs it from the synchronous clock output terminal 5 as the synchronous clock S5.

【0005】この従来回路では非同期信号S2のトリガ
入力の立ち下がりが図13の破線で示した範囲で変動し
ても同期クロックS5は同じタイミングで出てくること
になる。すなわち、同期精度は高周波クロックS401
の周波数が高いほど良くなり、近似的に、同期精度=高
周波クロックS401の周期ということができる。
In this conventional circuit, even if the falling edge of the trigger input of the asynchronous signal S2 fluctuates within the range shown by the broken line in FIG. 13, the synchronous clock S5 comes out at the same timing. In other words, the synchronization accuracy is high frequency clock S401
The higher the frequency, the better the synchronization accuracy, and approximately, it can be said that the synchronization accuracy = the period of the high frequency clock S401.

【0006】例えば、1nsの同期精度を得たい場合は
、高周波クロックS401の周波数に1GHzを必要と
することになる。
For example, if it is desired to obtain a synchronization accuracy of 1 ns, the frequency of the high frequency clock S401 must be 1 GHz.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】従来の同期クロック発
生回路は以上のように構成されているので、同期精度を
上げるために高周波クロックの周波数を高くすることが
必要であった。しかしながら、同期クロック発生回路内
部に発生するノイズの問題などがあり、高周波クロック
の周波数を高くすることには限界があり、高い同期精度
が得られないという問題点があった。
Since the conventional synchronous clock generation circuit is constructed as described above, it has been necessary to increase the frequency of the high-frequency clock in order to improve the synchronization accuracy. However, there are problems with noise generated inside the synchronization clock generation circuit, and there is a limit to increasing the frequency of the high-frequency clock, resulting in the problem that high synchronization accuracy cannot be obtained.

【0008】この発明は上記のような問題点を解決する
ためになされたもので、高周波クロックを必要とせず、
高い同期精度を有する同期クロック発生回路を得ること
を目的としている。
[0008] This invention was made to solve the above problems, and does not require a high frequency clock.
The purpose of this invention is to obtain a synchronous clock generation circuit with high synchronization accuracy.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】第1の発明に係る同期ク
ロック発生回路は、非同期入力信号に同期した同期クロ
ックを発生する同期クロック発生回路において、遅延素
子を直列に複数個接続して構成され、基準クロックを遅
延素子で順次遅延させることにより複数の遅延クロック
を生成する遅延クロック生成回路と、非同期入力信号に
応答して活性化され、複数の遅延クロックそれぞれの制
御によって、所定の値を記憶する複数の記憶素子からな
る記憶回路と、複数の記憶素子の出力を制御信号として
、複数の遅延クロックの中から、非同期入力信号のエッ
ジに時間的に最も近いエッジを有するものを検出し、そ
の検出結果に応じて複数の遅延クロックの中から所望の
遅延クロックを選択し、これを同期クロックとして出力
するクロック選択回路とを備えて構成されている。
[Means for Solving the Problems] A synchronous clock generation circuit according to a first aspect of the present invention is a synchronous clock generation circuit that generates a synchronous clock synchronized with an asynchronous input signal, and is configured by connecting a plurality of delay elements in series. , a delay clock generation circuit that generates a plurality of delayed clocks by sequentially delaying a reference clock with a delay element, and a delay clock generation circuit that is activated in response to an asynchronous input signal and stores a predetermined value by controlling each of the plurality of delay clocks. A memory circuit consisting of a plurality of memory elements, and outputs of the plurality of memory elements are used as control signals to detect the clock whose edge is temporally closest to the edge of the asynchronous input signal from among the plurality of delayed clocks. The clock selection circuit selects a desired delay clock from a plurality of delay clocks according to the detection result and outputs the selected delay clock as a synchronization clock.

【0010】第2の発明に係る同期クロック発生回路は
、非同期入力信号に同期した同期クロックを発生する同
期クロック発生回路において、遅延素子を直列に複数個
接続して構成され、基準クロックを遅延素子で順次遅延
させることにより複数の遅延クロックを生成する遅延ク
ロック生成回路と、非同期入力信号の制御によって複数
の遅延クロックをそれぞれ記憶する複数の記憶素子から
なる記憶回路と、複数の記憶素子の出力を制御信号とし
て、複数の遅延クロックの中から、非同期入力信号のエ
ッジに時間的に最も近いエッジを有するものを検出し、
その検出結果に応じて複数の遅延クロックの中から所望
の遅延クロックを選択し、これを同期クロックとして出
力するクロック選択回路とを備えて構成されている。
A synchronous clock generation circuit according to a second aspect of the invention is a synchronous clock generation circuit that generates a synchronous clock synchronized with an asynchronous input signal, and is configured by connecting a plurality of delay elements in series, and a reference clock is connected to the delay element. A delay clock generation circuit that generates multiple delayed clocks by sequentially delaying them with As a control signal, one of the plurality of delayed clocks whose edge is temporally closest to the edge of the asynchronous input signal is detected,
The clock selection circuit selects a desired delay clock from among the plurality of delay clocks according to the detection result and outputs the selected delay clock as a synchronization clock.

【0011】[0011]

【作用】第1の発明においては、基準クロックを遅延素
子で順次遅延させることにより複数の遅延クロックを生
成し、非同期入力信号に応答して活性化される複数の記
憶素子からなる記憶回路に、複数の遅延クロックそれぞ
れの制御によって、所定の値を記憶し、複数の記憶素子
の出力を制御信号として、複数の遅延クロックの中から
、非同期入力信号のエッジに時間的に最も近いエッジを
有するものを検出し、その検出結果に応じて複数の遅延
クロックの中から所望の遅延クロックを選択し、これを
同期クロックとして出力しているので、高周波クロック
発生回路を必要とせずに高精度の同期クロックを生成す
ることができる。
[Operation] In the first aspect of the invention, a plurality of delayed clocks are generated by sequentially delaying a reference clock using a delay element, and a memory circuit consisting of a plurality of memory elements activated in response to an asynchronous input signal. A predetermined value is stored by controlling each of the plurality of delay clocks, and the output of the plurality of storage elements is used as a control signal, and from among the plurality of delay clocks, the clock whose edge is temporally closest to the edge of the asynchronous input signal is used. , selects the desired delayed clock from among multiple delayed clocks according to the detection result, and outputs it as a synchronous clock. Therefore, a high-precision synchronous clock can be generated without the need for a high-frequency clock generation circuit. can be generated.

【0012】第2の発明においては、基準クロックを遅
延素子で順次遅延させることにより複数の遅延クロック
を生成し、複数の記憶素子からなる記憶回路に、非同期
入力信号の制御によって複数の遅延クロックをそれぞれ
記憶し、複数の記憶素子の出力を制御信号として、複数
の遅延クロックの中から、非同期入力信号のエッジに時
間的に最も近いエッジを有するものを検出し、その検出
結果に応じて複数の遅延クロックの中から所望の遅延ク
ロックを選択し、これを同期クロックとして出力してい
るので、高周波クロック発生回路を必要とせずに高精度
の同期クロックを生成することができる。
[0012] In the second invention, a plurality of delayed clocks are generated by sequentially delaying a reference clock using delay elements, and a plurality of delayed clocks are generated by controlling an asynchronous input signal to a storage circuit made up of a plurality of storage elements. Using the outputs of multiple storage elements as control signals, one of the multiple delayed clocks whose edge is temporally closest to the edge of the asynchronous input signal is detected, and multiple delayed clocks are stored in accordance with the detection result. Since a desired delayed clock is selected from among the delayed clocks and outputted as a synchronous clock, a highly accurate synchronous clock can be generated without requiring a high frequency clock generation circuit.

【0013】[0013]

【実施例】図1はこの発明の第1の実施例を示す同期ク
ロック発生回路の回路図である。同図に示すように、基
準クロック入力端子1から入力される基準クロックS1
が遅延素子211の入力に、遅延素子211の出力であ
る遅延クロックDC1が遅延素子212の入力にという
ように、基準クロック入力端子1から入力される基準ク
ロックS1が遅延素子211ないし215に順々に与え
られている。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS FIG. 1 is a circuit diagram of a synchronous clock generation circuit showing a first embodiment of the present invention. As shown in the figure, the reference clock S1 is input from the reference clock input terminal 1.
is input to the delay element 211, and the delayed clock DC1, which is the output of the delay element 211, is input to the delay element 212.The reference clock S1 input from the reference clock input terminal 1 is input to the delay elements 211 to 215 in turn. is given to.

【0014】また、遅延素子211の出力である遅延ク
ロックDC1がフリップフロップ201の負論理のクロ
ック入力端子CKに、遅延素子212の出力である遅延
クロックDC2がフリップフロップ202の負論理のク
ロック入力端子CKにというように、各遅延素子211
ないし215の出力である遅延クロックDC1ないしD
C5が各フリップフロップ201ないし205の負論理
のクロック入力端子CKに1対1で与えられている。さ
らに、遅延クロックDC1ないしDC5はクロック選択
回路221の一方の入力端子群に与えられている。
Further, the delayed clock DC1, which is the output of the delay element 211, is connected to the negative logic clock input terminal CK of the flip-flop 201, and the delayed clock DC2, which is the output of the delay element 212, is connected to the negative logic clock input terminal CK of the flip-flop 202. CK, each delay element 211
Delayed clocks DC1 to D, which are the outputs of
C5 is applied to the negative logic clock input terminals CK of each of the flip-flops 201 to 205 on a one-to-one basis. Further, the delayed clocks DC1 to DC5 are applied to one input terminal group of the clock selection circuit 221.

【0015】また、非同期信号入力端子2から入力され
る非同期信号S2がフリップフロップ201ないし20
5のリセット入力端子Rに与えられており、データ出力
端子Qからの出力信号S201ないしS205がクロッ
ク選択回路221の他方の入力端子群に与えられている
。さらに、クロック選択回路221の出力端子群の出力
信号S201DないしS205Dがフリップフロップ2
01ないし205それぞれのデータ入力端子Dに与えら
れている。
Further, the asynchronous signal S2 inputted from the asynchronous signal input terminal 2 is input to the flip-flops 201 to 20.
The output signals S201 to S205 from the data output terminal Q are applied to the other input terminal group of the clock selection circuit 221. Furthermore, the output signals S201D to S205D of the output terminal group of the clock selection circuit 221 are output to the flip-flop 2.
01 to 205 are applied to each data input terminal D.

【0016】なお、遅延素子215以降の遅延素子、お
よびフリップフロップ205以降のフリップフロップは
省略されている。
Note that the delay elements after delay element 215 and the flip-flops after flip-flop 205 are omitted.

【0017】次に図1の回路の動作について説明する。 図2は図1の回路の動作を示すタイミングチャートであ
る。同図に示すように、基準クロックS1が遅延素子2
11ないし215によって所定時間づつ遅延されて、遅
延クロックDC1ないしDC5が生成される。
Next, the operation of the circuit shown in FIG. 1 will be explained. FIG. 2 is a timing chart showing the operation of the circuit shown in FIG. As shown in the figure, the reference clock S1 is applied to the delay element 2.
11 to 215, delay clocks DC1 to DC5 are generated by being delayed by a predetermined time.

【0018】今、図のように、非同期信号S2に“H”
レベルから“L”レベルへの立ち下がりトリガが発生す
ると、フリップフロップ201ないし205のリセット
入力端子Rが“L”レベルになり、フリップフロップ2
01ないし205は動作可能状態となる。従って、各フ
リップフロップ201ないし205はクロック入力端子
CKへ入力される信号の立ち下がりでデータを取り込み
始める。遅延素子211,212の出力である遅延クロ
ックDC1,DC2の立ち下がりエッジE1,E2が発
生したとき、非同期信号S2はまだ“H”レベルである
ので、このタイミングではフリップフロップ201,2
02は動作できない。このため、フリップフロップ20
1,202は遅延クロックDC1,DC2の次の立ち下
がりエッジE6,E7でデータ入力端子Dに与えられて
いるレベル(後述するようにフリップフロップ201の
データ入力端子Dは“H”レベル、フリップフロップ2
02のデータ入力端子Dは“L”レベル)を出力Qに出
力信号S201,S202として出力する。
Now, as shown in the figure, the asynchronous signal S2 is set to "H".
When a falling trigger from the level to the "L" level occurs, the reset input terminals R of the flip-flops 201 to 205 go to the "L" level, and the flip-flop 2
01 to 205 are ready for operation. Therefore, each of the flip-flops 201 to 205 starts taking in data at the falling edge of the signal input to the clock input terminal CK. When the falling edges E1 and E2 of the delayed clocks DC1 and DC2, which are the outputs of the delay elements 211 and 212, occur, the asynchronous signal S2 is still at the "H" level, so at this timing, the flip-flops 201 and 2
02 cannot operate. For this reason, the flip-flop 20
1, 202 is the level applied to the data input terminal D at the next falling edge E6, E7 of the delayed clocks DC1, DC2 (as described later, the data input terminal D of the flip-flop 201 is at "H" level, the flip-flop 2
The data input terminal D of 02 outputs "L" level) to the output Q as output signals S201 and S202.

【0019】次に、遅延素子213ないし215の出力
である遅延クロックDC3ないしDC5の立ち下がりエ
ッジE3ないしE5が発生したとき、非同期信号S2は
“L”レベルであるので、フリップフロップ203ない
し205はこのタイミングでデータ入力端子Dに与えら
れているレベルを出力端子Qに出力信号S203ないし
S205として出力する。ここで、後述するように、ク
ロック選択回路221からフリップフロップ201ない
し205のデータ入力端子Dに与えられる入力信号S2
01DないしS205Dのレベルは最初はすべて“H”
レベルであるので、フリップフロップ203ないし20
5の出力信号S203ないしS205は“H”レベルと
なる。
Next, when the falling edges E3 to E5 of the delayed clocks DC3 to DC5, which are the outputs of the delay elements 213 to 215, occur, the asynchronous signal S2 is at the "L" level, so the flip-flops 203 to 205 are At this timing, the level applied to the data input terminal D is outputted to the output terminal Q as output signals S203 to S205. Here, as will be described later, an input signal S2 is applied from the clock selection circuit 221 to the data input terminals D of the flip-flops 201 to 205.
The levels of 01D to S205D are all “H” at first.
level, so flip-flops 203 to 20
The output signals S203 to S205 of No. 5 become "H" level.

【0020】クロック選択回路221は、フリップフロ
ップ201ないし205の出力信号S201ないしS2
05のなかで時間的に最も早く立ち上がるものに対応す
る遅延クロック、すなわち非同期入力信号S2のエッジ
に時間的に最も近いエッジを有する遅延クロック(図2
の例では遅延クロックDC3)を遅延クロックDC1な
いしDC5のなかから検出する。次に、これをもとに遅
延クロックDC1ないしDC5のなかから所望の遅延ク
ロック(図2の例では、同じく遅延クロックDC3)を
選択して、同期クロックS3として同期クロック出力端
子3から出力するとともに、その選択状態が以後変化し
ないように、フリップフロップ201ないし205のデ
ータ入力端子Dのレベルを設定する。なお、クロック選
択回路221の詳細については後述する。
The clock selection circuit 221 selects the output signals S201 to S2 of the flip-flops 201 to 205.
05, the delay clock corresponding to the one that rises earliest in time, that is, the delay clock whose edge is temporally closest to the edge of the asynchronous input signal S2 (Fig. 2
In the example, the delayed clock DC3) is detected from among the delayed clocks DC1 to DC5. Next, based on this, a desired delayed clock (in the example of FIG. 2, the delayed clock DC3) is selected from among the delayed clocks DC1 to DC5, and outputted from the synchronized clock output terminal 3 as the synchronized clock S3. , the levels of the data input terminals D of the flip-flops 201 to 205 are set so that their selection states do not change thereafter. Note that details of the clock selection circuit 221 will be described later.

【0021】次にこの発明の他の実施例について説明す
る。図3はこの発明の第2の実施例を示す同期クロック
発生回路の回路図である。同図に示すように、基準クロ
ック入力端子1から入力される基準クロックS1が遅延
素子211の入力に、遅延素子211の出力である遅延
クロックDC1が遅延素子212の入力にというように
、基準クロック入力端子1から入力される基準クロック
S1が遅延素子211ないし215に順々に与えられて
いる。
Next, another embodiment of the present invention will be described. FIG. 3 is a circuit diagram of a synchronous clock generation circuit showing a second embodiment of the invention. As shown in the figure, the reference clock S1 input from the reference clock input terminal 1 is input to the delay element 211, the delayed clock DC1 which is the output of the delay element 211 is input to the delay element 212, and so on. A reference clock S1 input from an input terminal 1 is sequentially applied to delay elements 211 to 215.

【0022】また、遅延素子211の出力である遅延ク
ロックDC1がフリップフロップ201の負論理のクロ
ック入力端子CKに、遅延素子212の出力である遅延
クロックDC2がフリップフロップ202の負論理のク
ロック入力端子CKにというように、各遅延素子211
ないし215の出力である遅延クロックDC1ないしD
C5が各フリップフロップ201ないし205の負論理
のクロック入力端子CKに1対1で与えられている。さ
らに、遅延クロックDC1ないしDC5はクロック選択
回路221の一方の入力端子群に与えられている。
Further, the delayed clock DC1, which is the output of the delay element 211, is connected to the negative logic clock input terminal CK of the flip-flop 201, and the delayed clock DC2, which is the output of the delay element 212, is connected to the negative logic clock input terminal CK of the flip-flop 202. CK, each delay element 211
Delayed clocks DC1 to D, which are the outputs of
C5 is applied to the negative logic clock input terminals CK of each of the flip-flops 201 to 205 on a one-to-one basis. Further, the delayed clocks DC1 to DC5 are applied to one input terminal group of the clock selection circuit 221.

【0023】また、非同期信号入力端子2から入力され
る非同期信号S2がフリップフロップ201ないし20
5のセット入力端子Sに与えられている。さらに、クロ
ック選択回路221の出力端子群の出力信号S201D
ないしS205Dがフリップフロップ201ないし20
5それぞれのデータ入力端子Dに接続されている。
Further, the asynchronous signal S2 inputted from the asynchronous signal input terminal 2 is input to the flip-flops 201 to 20.
It is applied to the set input terminal S of No. 5. Furthermore, the output signal S201D of the output terminal group of the clock selection circuit 221
or S205D are flip-flops 201 to 20
5 are connected to each data input terminal D.

【0024】なお、遅延素子215以降の遅延素子、お
よびフリップフロップ205以降のフリップフロップは
省略されている。
Note that the delay elements after delay element 215 and the flip-flops after flip-flop 205 are omitted.

【0025】この実施例の動作において、先の実施例と
比べ、後述するクロック選択回路221の出力信号S2
01DないしS205Dの極性が反転され、図2のタイ
ミングチャートで示した各信号のうち、フリップフロッ
プ201ないし205の出力信号S201ないしS20
5の極性がすべて反転する以外は、先の実施例と同じで
ある。
In the operation of this embodiment, compared to the previous embodiment, the output signal S2 of the clock selection circuit 221, which will be described later, is
The polarities of 01D to S205D are inverted, and the output signals S201 to S20 of flip-flops 201 to 205 among the signals shown in the timing chart of FIG.
This embodiment is the same as the previous embodiment except that the polarities of 5 are all reversed.

【0026】以上のように、図1,図3の実施例では非
同期信号S2のトリガ入力が図2の破線で示した範囲で
変動しても、各フリップフロップ201ないし205の
出力信号S201ないしS205の状態は変化せず、同
期クロックS3は同じタイミングで出てくることになる
。すなわち、同期精度は遅延素子211ないし215の
1段分の遅延値に近似できる。つまり、近似的に、同期
精度=遅延素子1段分の遅延値ということができる。 半導体集積回路においては、遅延素子1段分の遅延値を
1ns以下にとることが可能であり、従来の同期クロッ
ク発生回路に比べて、非常に高い同期精度を得ることが
できる。
As described above, in the embodiments shown in FIGS. 1 and 3, even if the trigger input of the asynchronous signal S2 fluctuates within the range shown by the broken line in FIG. The state of is not changed, and the synchronized clock S3 will come out at the same timing. That is, the synchronization accuracy can be approximated to the delay value of one stage of delay elements 211 to 215. In other words, approximately, it can be said that synchronization accuracy=delay value for one stage of delay element. In a semiconductor integrated circuit, the delay value for one stage of delay elements can be set to 1 ns or less, and extremely high synchronization accuracy can be obtained compared to conventional synchronous clock generation circuits.

【0027】図4は図1及び図3で示したクロック選択
回路221の一構成例を示す回路図である。同図に示す
ように、クロック選択回路221の一方の入力端子群に
与えられたフリップフロップ201ないし205の出力
信号S201ないしS205がフリップフロップ出力変
化点検出回路301に入力され、フリップフロップ出力
変化点検出回路301の出力がスイッチ311ないし3
15の導通,非導通を制御するゲート端子Gにそれぞれ
接続されている。また、遅延素子212ないし216(
図1,図3には遅延素子216は図示せず)の出力であ
る遅延クロックDC2ないしDC6がスイッチ311な
いし315の入力端子に与えられており、スイッチ31
1ないし315それぞれの出力端子が多入力OR回路3
21の入力に接続されている。さらに、多入力OR回路
321の出力が同期クロック出力端子3に接続されてい
る。また、フリップフロップ出力変化点検出回路301
の出力信号S201DないしS205Dが図1,図3の
フリップフロップ201ないし205のデータ入力端子
Dに与えられている。
FIG. 4 is a circuit diagram showing an example of the structure of the clock selection circuit 221 shown in FIGS. 1 and 3. In FIG. As shown in the figure, the output signals S201 to S205 of the flip-flops 201 to 205 applied to one input terminal group of the clock selection circuit 221 are input to the flip-flop output change point detection circuit 301, and the flip-flop output change detection circuit 301 detects the change in the flip-flop output. The output of the output circuit 301 is connected to the switches 311 to 3.
15 are connected to gate terminals G for controlling conduction and non-conduction. Moreover, the delay elements 212 to 216 (
Delayed clocks DC2 to DC6, which are the outputs of the delay elements 216 (not shown in FIGS. 1 and 3), are applied to the input terminals of the switches 311 to 315.
Each output terminal of 1 to 315 is a multi-input OR circuit 3
21 input. Further, the output of the multi-input OR circuit 321 is connected to the synchronous clock output terminal 3. In addition, the flip-flop output change point detection circuit 301
Output signals S201D to S205D are applied to data input terminals D of flip-flops 201 to 205 in FIGS. 1 and 3.

【0028】図5はクロック選択回路221の構成要素
であるフリップフロップ出力変化点検出回路301の一
構成例を示す回路図である。同図に示すように、フリッ
プフロップ201ないし205の出力信号S201ない
しS205の隣り合う2つのフリップフロップの出力信
号の一方を反転させて他方を反転せずにNAND回路5
01ないし505に入力することによって、一方が“L
”レベル他方が“H”レベルのときNAND回路311
ないし315それぞれの出力S311ないしS315が
“L”レベルになり、それ以外のときは“H”レベルに
なるように構成されている。さらに、NAND回路50
1ないし505の出力は前記信号S201DないしS2
05Dとしても、図1のフリップフロップ201ないし
205のデータ入力端子Dに与えられている。なお、図
3の実施例の場合、前述したように、NAND回路50
1ないし505の出力を反転したものが信号S201D
ないしS205Dとなる。
FIG. 5 is a circuit diagram showing an example of the configuration of a flip-flop output change point detection circuit 301, which is a component of the clock selection circuit 221. As shown in the figure, one of the output signals S201 to S205 of the flip-flops 201 to 205 is inverted, and the other is not inverted.
By inputting 01 to 505, one side can be set to “L”.
” level When the other one is “H” level, the NAND circuit 311
The outputs S311 to S315 of the output terminals S311 to S315 are at "L" level, and are at "H" level at other times. Furthermore, the NAND circuit 50
The outputs from 1 to 505 correspond to the signals S201D to S2.
05D is also applied to the data input terminals D of the flip-flops 201 to 205 in FIG. In the case of the embodiment shown in FIG. 3, as described above, the NAND circuit 50
The inverted output of 1 to 505 is the signal S201D.
or S205D.

【0029】次に、図3のクロック選択回路及び図4の
フリップフロップ出力変化点検出回路の動作について説
明する。フリップフロップ出力変化点検出回路301は
フリップフロップ201ないし205の出力信号S20
1ないしS205のうち、隣り合う出力信号同士を一方
の入力が反転されたNAND回路501ないし505に
よって比較し、その2つの入力のレベルが前述した定め
られたパターンになったときにその出力S311ないし
S315のうちのひとつを“L”レベルにして(それま
ではすべて“H”レベル状態にある)対応するスイッチ
311ないし315のうちのひとつを導通させるように
動作する。図2の例ではNAND回路502の出力S3
12が“L”レベルになり、対応のスイッチ312が導
通する。スイッチ311ないし315のうちのひとつが
導通すると、遅延クロックDC1ないしDC5のうちの
対応するひとつ(図2の例では遅延クロックDC3)が
導通したスイッチを介してOR回路321の入力に与え
られ、OR回路321の出力から同期クロックS3とし
て同期クロック出力端子3に出力される。
Next, the operations of the clock selection circuit shown in FIG. 3 and the flip-flop output change point detection circuit shown in FIG. 4 will be explained. The flip-flop output change point detection circuit 301 detects the output signals S20 of the flip-flops 201 to 205.
1 to S205, adjacent output signals are compared by NAND circuits 501 to 505 in which one input is inverted, and when the levels of the two inputs become the above-described predetermined pattern, the output signals S311 to S205 are compared. It operates by setting one of the switches 315 to "L" level (until then, all of them are in the "H" level state) to make one of the corresponding switches 311 to 315 conductive. In the example of FIG. 2, the output S3 of the NAND circuit 502
12 becomes "L" level, and the corresponding switch 312 becomes conductive. When one of the switches 311 to 315 becomes conductive, a corresponding one of the delayed clocks DC1 to DC5 (delayed clock DC3 in the example of FIG. 2) is applied to the input of the OR circuit 321 through the conductive switch, and the OR circuit The output of the circuit 321 is outputted to the synchronous clock output terminal 3 as the synchronous clock S3.

【0030】また、このとき、導通したスイッチ312
に対応するNAND回路502の“L”レベルの出力が
、信号S202Dとしてフリップフロップ202のデー
タ入力端子Dに帰還されるので、遅延クロックDC2の
立ち下がりエッジE7が生じてもフリップフロップ20
2の出力信号S202は“L”レベルを保ち、このため
NAND回路502の出力の“L”レベルも変化しない
[0030] Also, at this time, the conductive switch 312
Since the "L" level output of the NAND circuit 502 corresponding to the signal S202D is fed back to the data input terminal D of the flip-flop 202, even if the falling edge E7 of the delayed clock DC2 occurs, the output of the flip-flop 20
The output signal S202 of No. 2 maintains the "L" level, and therefore the "L" level of the output of the NAND circuit 502 also does not change.

【0031】図6は図4に示したクロック選択回路の他
の構成例を示す回路図である。同図に示すように、遅延
クロックとスイッチの接続関係が図4に示したクロック
選択回路と異なる。すなわち、遅延クロックDC1〜D
C5がそれぞれスイッチ311ないし315の入力端子
に接続されている。その他の構成は図4に示したクロッ
ク選択回路と同じであるので、説明は省略する。
FIG. 6 is a circuit diagram showing another example of the structure of the clock selection circuit shown in FIG. 4. As shown in the figure, the connection relationship between the delayed clock and the switch is different from that of the clock selection circuit shown in FIG. That is, the delayed clocks DC1 to D
C5 are connected to the input terminals of switches 311-315, respectively. The rest of the configuration is the same as the clock selection circuit shown in FIG. 4, so the explanation will be omitted.

【0032】図6に示すクロック選択回路においては、
図4に示すクロック選択回路と同一タイミング条件のも
とで、同期クロック出力端子3から出力される同期クロ
ックS3が異なる。すなわち、例えば、図4において、
同期クロックDC2が選択されるタイミング条件のとき
に、図6において同期クロックDC1が選択され、図4
において、同期クロックDC2が選択されるタイミング
条件のときに、図6において同期クロックDC1が選択
される。このように、同期クロックS3として同期クロ
ック出力端子3から出力される遅延クロックを1つずら
せることができる。このように、遅延クロックとスイッ
チの接続関係を、変えることによって、所望の遅延クロ
ックを同期クロックS3として、同期クロック出力端子
から出力することができる。
In the clock selection circuit shown in FIG.
Under the same timing conditions as the clock selection circuit shown in FIG. 4, the synchronous clock S3 output from the synchronous clock output terminal 3 is different. That is, for example, in FIG.
When the timing condition is such that the synchronous clock DC2 is selected, the synchronous clock DC1 is selected in FIG.
In FIG. 6, when the timing condition is such that the synchronous clock DC2 is selected, the synchronous clock DC1 is selected. In this way, the delayed clock output from the synchronous clock output terminal 3 as the synchronous clock S3 can be shifted by one. In this manner, by changing the connection relationship between the delayed clock and the switch, a desired delayed clock can be output from the synchronous clock output terminal as the synchronous clock S3.

【0033】なお、図4の構成では、最初の遅延素子2
11からの遅延クロックDC1が同期クロックS3とし
て選択されない構成となっており、図6の構成では、最
後の遅延素子が出力する遅延クロックが同期クロックS
3として選択されない構成となっている。しかし、図4
においては、遅延素子の数を基準クロックS1が1周期
分以上遅延できるように用意すれば、遅延クロックDC
1と同相の遅延クロックが遅延クロックDC5以降に現
れるので、遅延クロックDC1と同相の遅延クロックを
同期クロックS3として選択することができる。また、
図6においても、遅延素子の数を基準クロックS1が1
周期分以上遅延できるように用意すれば、最後の遅延素
子が出力する遅延クロックと同相の遅延クロックが最後
の遅延素子の出力する遅延クロック以前に現れるので、
最後の遅延素子が出力する遅延クロックと同相の遅延ク
ロックを同期クロックS3として選択することができる
Note that in the configuration of FIG. 4, the first delay element 2
The configuration is such that the delayed clock DC1 from 11 is not selected as the synchronous clock S3, and in the configuration of FIG. 6, the delayed clock output from the last delay element is the synchronous clock S3.
The configuration is such that it is not selected as 3. However, Figure 4
In this case, if the number of delay elements is prepared so that the reference clock S1 can be delayed by one period or more, the delayed clock DC
Since a delayed clock having the same phase as 1 appears after the delayed clock DC5, a delayed clock having the same phase as the delayed clock DC1 can be selected as the synchronous clock S3. Also,
Also in FIG. 6, the number of delay elements is set to 1 when the reference clock S1 is
If you prepare for a delay of more than one cycle, the delayed clock that is in phase with the delayed clock output from the last delay element will appear before the delayed clock output from the last delay element.
A delayed clock that is in phase with the delayed clock output by the last delay element can be selected as the synchronized clock S3.

【0034】また、本実施例では、フリップフロップ2
01ないし205のクロック入力端子CKの有効エッジ
をネガティブエッジとしたがポジティブエッジとしても
良い。
Furthermore, in this embodiment, the flip-flop 2
Although the valid edges of the clock input terminals CK from 01 to 205 are negative edges, they may also be positive edges.

【0035】さらに、遅延クロックとスイッチとの接続
関係は、図4及び図6に示したものに限る必要はない。
Furthermore, the connection relationship between the delayed clock and the switch is not limited to that shown in FIGS. 4 and 6.

【0036】また、本実施例では、非同期信号入力端子
2から与えられる非同期信号S2のエッジに対し時間的
に後でもっとも近いエッジを有する遅延クロックをもと
に同期クロックを選択しているが、非同期信号S2のエ
ッジに対し時間的に前でもっとも近いエッジを有する遅
延クロックをもとに同期クロックを選択してもよいし、
前後関係なく時間的にもっとも近いエッジを有する遅延
クロックをもとに同期クロックを選択しても良い。
Furthermore, in this embodiment, the synchronous clock is selected based on the delayed clock whose edge is closest in time to the edge of the asynchronous signal S2 applied from the asynchronous signal input terminal 2. The synchronous clock may be selected based on the delayed clock whose edge is temporally earlier and closest to the edge of the asynchronous signal S2, or
The synchronization clock may be selected based on the delayed clock having the temporally closest edge regardless of the context.

【0037】次にこの発明のさらに他の実施例について
説明する。図7はこの発明の第3の実施例を示す同期ク
ロック発生回路の回路図である。同図に示すように、基
準クロック入力端子1から入力される基準クロックS1
が遅延素子211の入力に、遅延素子211の出力であ
る遅延クロックDC1が遅延素子212の入力にという
ように、基準クロック入力端子1から入力される基準ク
ロックS1が遅延素子211ないし215に順々に与え
られている。
Next, still another embodiment of the present invention will be described. FIG. 7 is a circuit diagram of a synchronous clock generation circuit showing a third embodiment of the present invention. As shown in the figure, the reference clock S1 is input from the reference clock input terminal 1.
is input to the delay element 211, and the delayed clock DC1, which is the output of the delay element 211, is input to the delay element 212.The reference clock S1 input from the reference clock input terminal 1 is input to the delay elements 211 to 215 in turn. is given to.

【0038】また、遅延素子211の出力である遅延ク
ロックDC1がフリップフロップ201のデータ入力端
子Dに、遅延素子212の出力である遅延クロックDC
2がフリップフロップ202のデータ入力端子Dにとい
うように、各遅延素子211ないし215の出力である
遅延クロックDC1ないしDC5が各フリップフロップ
201ないし205のデータ入力端子Dに1対1で与え
られている。さらに、遅延クロックDC1ないしDC5
はクロック選択回路221の一方の入力端子群に与えら
れている。
Further, the delayed clock DC1, which is the output of the delay element 211, is connected to the data input terminal D of the flip-flop 201, and the delayed clock DC1, which is the output of the delay element 212, is connected to the data input terminal D of the flip-flop 201.
2 is applied to the data input terminal D of the flip-flop 202, and the delay clocks DC1 to DC5, which are the outputs of the respective delay elements 211 to 215, are applied to the data input terminals D of each of the flip-flops 201 to 205 on a one-to-one basis. There is. Furthermore, the delay clocks DC1 to DC5
is applied to one input terminal group of the clock selection circuit 221.

【0039】また、非同期信号入力端子2から入力され
る非同期信号S2がフリップフロップ201ないし20
5の負論理のクロック入力端子CKに与えられている。 さらに、リセット信号入力端子4から与えられるリセッ
ト信号S4がフリップフロップ201ないし205のリ
セット入力端子Rに与えられている。また、各フリップ
フロップ201ないし205のデータ出力端子Qからの
出力信号S201ないしS205がクロック選択回路2
21の他方の入力端子群に与えられているなお、遅延素
子215以降の遅延素子、およびフリップフロップ20
5以降のフリップフロップは省略されている。
Further, the asynchronous signal S2 inputted from the asynchronous signal input terminal 2 is input to the flip-flops 201 to 20.
5 is applied to the negative logic clock input terminal CK. Furthermore, a reset signal S4 applied from the reset signal input terminal 4 is applied to the reset input terminals R of the flip-flops 201 to 205. Further, the output signals S201 to S205 from the data output terminals Q of each flip-flop 201 to 205 are outputted to the clock selection circuit 2.
It should be noted that the delay elements after the delay element 215 and the flip-flop 20 provided to the other input terminal group of 21
Flip-flops after 5 are omitted.

【0040】次に図7の回路の動作について説明する。 図8は図7の回路の動作を示すタイミングチャートであ
る。同図に示すように、基準クロックS1が遅延素子2
11ないし215によって所定時間づつ遅延されて、遅
延クロックDC1ないしDC5が生成される。
Next, the operation of the circuit shown in FIG. 7 will be explained. FIG. 8 is a timing chart showing the operation of the circuit shown in FIG. As shown in the figure, the reference clock S1 is applied to the delay element 2.
11 to 215, delay clocks DC1 to DC5 are generated by being delayed by a predetermined time.

【0041】また、リセット信号入力端子4からのリセ
ット信号S4が“L”レベルに立ち下がり、フリップフ
ロップ201ないし205のリセット入力端子Rが“L
”レベルになるとフリップフロップ201ないし205
が動作可能状態となる。
Further, the reset signal S4 from the reset signal input terminal 4 falls to the "L" level, and the reset input terminals R of the flip-flops 201 to 205 become "L".
``When it comes to the level, flip-flops 201 to 205
becomes operational.

【0042】今、同図に示すように、非同期信号S2に
“H”レベルから“L”レベルへの立ち下がりトリガが
発生すると、フリップフロップ201ないし205はそ
のクロック入力端子CKへ入力される非同期信号S2の
の立ち下がりでデータ入力端子Dのデータを取り込む。 この時、遅延素子211,212の出力である遅延クロ
ックDC1,DC2は“L”レベル,遅延素子213な
いし215の出力である遅延クロックDC3ないしDC
5は“H”レベルであるので、フリップフロップ201
ないし205の出力信号S201ないしS205は図示
のようになる。
Now, as shown in the figure, when a falling trigger occurs in the asynchronous signal S2 from the "H" level to the "L" level, the flip-flops 201 to 205 switch to the asynchronous signal S2 input to the clock input terminal CK. The data at the data input terminal D is taken in at the falling edge of the signal S2. At this time, the delay clocks DC1 and DC2, which are the outputs of the delay elements 211 and 212, are at "L" level, and the delay clocks DC3 and DC2, which are the outputs of the delay elements 213 to 215, are at "L" level.
5 is the “H” level, so the flip-flop 201
The output signals S201 to S205 of the output signals S201 to S205 are as shown in the figure.

【0043】クロック選択回路221は、フリップフロ
ップ201ないし205の出力信号S201ないしS2
05のなかで時間的に最も早く立ち上がるものに対応す
る遅延クロック、すなわち非同期入力信号S2のエッジ
に時間的に最も近いエッジを有する遅延クロック(図8
の例では遅延クロックDC3)を遅延クロックDC1な
いしDC5のなかから検出する。次に、これをもとに遅
延クロックDC1ないしDC5のなかから所望の遅延ク
ロック(図8の例では、同じく遅延クロックDC3)を
選択して、同期クロックS3として同期クロック出力端
子3から出力する。なお、クロック選択回路221の詳
細については後述する。
The clock selection circuit 221 selects the output signals S201 to S2 of the flip-flops 201 to 205.
05, the delay clock corresponding to the clock that rises earliest temporally, that is, the delayed clock whose edge is temporally closest to the edge of the asynchronous input signal S2 (Fig. 8
In the example, the delayed clock DC3) is detected from among the delayed clocks DC1 to DC5. Next, based on this, a desired delayed clock (in the example of FIG. 8, the delayed clock DC3) is selected from among the delayed clocks DC1 to DC5 and outputted from the synchronized clock output terminal 3 as the synchronized clock S3. Note that details of the clock selection circuit 221 will be described later.

【0044】以上のように、図8の例では非同期信号S
2のトリガ入力が図8の破線で示した範囲で変動しても
、各フリップフロップ201ないし205の出力信号S
201ないしS205の状態は変化せず、同期クロック
S3は同じタイミングで出てくることになる。すなわち
、同期精度は遅延素子211ないし215の1段分の遅
延値に近似できる。つまり、近似的に、同期精度=遅延
素子1段分の遅延値 ということができる。半導体集積回路においては、遅延
素子1段分の遅延値を1ns以下にとることが可能であ
り、従来の同期クロック発生回路に比べて、非常に高い
同期精度を得ることができる。
As described above, in the example of FIG.
Even if the trigger inputs of the flip-flops 201 to 205 fluctuate within the range indicated by the broken line in FIG.
The states of 201 to S205 do not change, and the synchronized clock S3 comes out at the same timing. That is, the synchronization accuracy can be approximated to the delay value of one stage of delay elements 211 to 215. In other words, approximately, it can be said that synchronization accuracy=delay value for one stage of delay element. In a semiconductor integrated circuit, the delay value for one stage of delay elements can be set to 1 ns or less, and extremely high synchronization accuracy can be obtained compared to conventional synchronous clock generation circuits.

【0045】図9は図7で示したクロック選択回路22
1の一構成例を示す回路図である。同図に示すように、
クロック選択回路221の一方の入力端子群に与えられ
たフリップフロップ201ないし205の出力信号S2
01ないしS205がフリップフロップ出力変化点検出
回路301に入力され、フリップフロップ出力変化点検
出回路301の出力がスイッチ311ないし315の導
通,非導通を制御するゲート端子Gにそれぞれ接続され
ている。また、遅延素子212ないし216(図7には
遅延素子216は図示せず)の出力である遅延クロック
DC2ないしDC6がスイッチ311ないし315の入
力端子に与えられており、スイッチ311ないし315
それぞれの出力端子が多入力OR回路321の入力に接
続されている。さらに、多入力OR回路321の出力が
同期クロック出力端子3に接続されている。
FIG. 9 shows the clock selection circuit 22 shown in FIG.
1 is a circuit diagram showing an example of the configuration of No. 1. FIG. As shown in the figure,
Output signal S2 of flip-flops 201 to 205 applied to one input terminal group of clock selection circuit 221
01 to S205 are input to the flip-flop output change point detection circuit 301, and the outputs of the flip-flop output change point detection circuit 301 are connected to gate terminals G that control conduction and non-conduction of the switches 311 to 315, respectively. Further, delay clocks DC2 to DC6, which are outputs of delay elements 212 to 216 (delay element 216 is not shown in FIG. 7), are applied to input terminals of switches 311 to 315.
Each output terminal is connected to an input of a multi-input OR circuit 321. Further, the output of the multi-input OR circuit 321 is connected to the synchronous clock output terminal 3.

【0046】図10はクロック選択回路221の構成要
素であるフリップフロップ出力変化点検出回路301の
一構成例を示す回路図である。同図に示すように、フリ
ップフロップ201ないし205の出力信号S201な
いしS205の隣り合う2つのフリップフロップの出力
信号の一方を反転させて他方を反転せずにNAND回路
501ないし505に入力することによって、一方が“
L”レベル他方が“H”レベルのときNAND回路の出
力S311ないしS315が“L”レベルになり、それ
以外のときは“H”レベルになるように構成されている
FIG. 10 is a circuit diagram showing an example of the configuration of a flip-flop output change point detection circuit 301, which is a component of the clock selection circuit 221. As shown in the figure, by inverting one of the output signals S201 to S205 of two adjacent flip-flops and inputting the other to the NAND circuits 501 to 505 without inverting the output signals S201 to S205 of the flip-flops 201 to 205. , one side is “
The outputs S311 to S315 of the NAND circuits are configured to be at the "L" level when the other one is at the "H" level, and to be at the "H" level otherwise.

【0047】次に、図9のクロック選択回路及び図10
のフリップフロップ出力変化点検出回路の動作について
説明する。フリップフロップ出力変化点検出回路301
はフリップフロップ201ないし205の出力信号S2
01ないしS205のうち、隣り合う出力信号同士を一
方の入力が反転されたNAND回路501ないし505
によって比較し、その2つの入力のレベルが前述した定
められたパターンになったときにその出力S311ない
しS315のうちのひとつを“L”レベルにして対応す
るスイッチ311ないし315のうちのひとつを導通さ
せるように動作する。図8の例ではNAND回路502
の出力S312が“L”レベルになり、対応のスイッチ
312が導通する。スイッチ311ないし315のうち
のひとつが導通すると、遅延クロックDC2ないしDC
6のうちの対応するひとつ(図8の例では遅延クロック
DC3)が導通したスイッチを介して多入力OR回路3
21の入力に与えられ、多入力OR回路321の出力か
ら同期クロックS3として同期クロック出力端子3に出
力される。
Next, the clock selection circuit of FIG. 9 and the clock selection circuit of FIG.
The operation of the flip-flop output change point detection circuit will be explained. Flip-flop output change point detection circuit 301
is the output signal S2 of the flip-flops 201 to 205
NAND circuits 501 to 505 in which one input of adjacent output signals is inverted among 01 to S205.
When the levels of the two inputs match the predetermined pattern described above, one of the outputs S311 to S315 is set to "L" level and one of the corresponding switches 311 to 315 is made conductive. It works like that. In the example of FIG. 8, the NAND circuit 502
The output S312 of the switch becomes "L" level, and the corresponding switch 312 becomes conductive. When one of the switches 311 to 315 conducts, the delayed clock DC2 to DC
6 (delayed clock DC3 in the example of FIG. 8) is connected to the multi-input OR circuit 3 through the conductive switch.
21, and is output from the output of the multi-input OR circuit 321 to the synchronous clock output terminal 3 as the synchronous clock S3.

【0048】図11は図9に示したクロック選択回路の
他の構成例を示す回路図である。同図に示すように、遅
延クロックとスイッチの接続関係が図9に示したクロッ
ク選択回路と異なる。すなわち、遅延クロックDC1〜
DC5がそれぞれスイッチ311ないし315の入力端
子に接続されている。その他の構成は図9に示したクロ
ック選択回路と同じであるので、説明は省略する。
FIG. 11 is a circuit diagram showing another example of the structure of the clock selection circuit shown in FIG. 9. As shown in the figure, the connection relationship between the delayed clock and the switch is different from that of the clock selection circuit shown in FIG. That is, the delay clock DC1~
DC5 is connected to the input terminals of switches 311 to 315, respectively. The rest of the configuration is the same as the clock selection circuit shown in FIG. 9, so the explanation will be omitted.

【0049】図11に示すクロック選択回路においては
、図9に示すクロック選択回路と同一タイミング条件の
もとで、同期クロック出力端子3から出力される同期ク
ロックS3が異なる。すなわち、例えば、図9において
、同期クロックDC2が選択されるタイミング条件のと
きに、図11において同期クロックDC1が選択され、
図9において、同期クロックDC2が選択されるタイミ
ング条件のときに、図11において同期クロックDC1
が選択される。このように、同期クロックS3として同
期クロック出力端子3から出力される遅延クロックを1
つずらせることができる。このように、遅延クロックと
スイッチの接続関係を、変えることによって、所望の遅
延クロックを同期クロックS3として、同期クロック出
力端子から出力することができる。
In the clock selection circuit shown in FIG. 11, the synchronous clock S3 outputted from the synchronous clock output terminal 3 is different from that of the clock selection circuit shown in FIG. 9 under the same timing conditions. That is, for example, when the timing condition is such that the synchronous clock DC2 is selected in FIG. 9, the synchronous clock DC1 is selected in FIG.
In FIG. 9, when the timing condition is such that the synchronous clock DC2 is selected, the synchronous clock DC1 in FIG.
is selected. In this way, the delayed clock output from the synchronous clock output terminal 3 as the synchronous clock S3 is
It can be made to fall. In this manner, by changing the connection relationship between the delayed clock and the switch, a desired delayed clock can be output from the synchronous clock output terminal as the synchronous clock S3.

【0050】なお、図9の構成では、最初の遅延素子2
11からの遅延クロックDC1が同期クロックS3とし
て選択されない構成となっており、図11の構成では、
最後の遅延素子が出力する遅延クロックが同期クロック
S3として選択されない構成となっている。しかし、図
9においては、遅延素子の数を基準クロックS1が1周
期分以上遅延できるように用意すれば、遅延クロックD
C1と同相の遅延クロックが遅延クロックDC5以降に
現れるので、遅延クロックDC1と同相の遅延クロック
を同期クロックS3として選択することができる。また
、図11においても、遅延素子の数を基準クロックS1
が1周期分以上遅延できるように用意すれば、最後の遅
延素子が出力する遅延クロックと同相の遅延クロックが
最後の遅延素子の出力する遅延クロック以前に現れるの
で、最後の遅延素子が出力する遅延クロックと同相の遅
延クロックを同期クロックS3として選択することがで
きる。
Note that in the configuration of FIG. 9, the first delay element 2
In the configuration of FIG. 11, the delayed clock DC1 from 11 is not selected as the synchronous clock S3.
The configuration is such that the delayed clock output from the last delay element is not selected as the synchronization clock S3. However, in FIG. 9, if the number of delay elements is prepared so that the reference clock S1 can be delayed by one period or more, the delayed clock D
Since a delayed clock having the same phase as C1 appears after the delayed clock DC5, the delayed clock having the same phase as the delayed clock DC1 can be selected as the synchronous clock S3. Also in FIG. 11, the number of delay elements is set to the reference clock S1.
If it is prepared so that it can be delayed by one cycle or more, a delayed clock that is in phase with the delayed clock output by the last delay element will appear before the delayed clock output by the last delay element, so the delay output by the last delay element will be delayed. A delayed clock that is in phase with the clock can be selected as the synchronous clock S3.

【0051】また、本実施例ではフリップフロップ20
1ないし205のクロック入力端子CKの有効エッジを
ネガティブエッジとしたがポジティブエッジとしても良
い。
Furthermore, in this embodiment, the flip-flop 20
Although the valid edges of the clock input terminals CK 1 to 205 are negative edges, they may be positive edges.

【0052】さらに、遅延クロックとスイッチとの接続
関係は、図9及び図11に示したものに限る必要はない
Furthermore, the connection relationship between the delayed clock and the switch is not limited to that shown in FIGS. 9 and 11.

【0053】また、本実施例では、非同期信号入力端子
2から与えられる非同期信号S2のエッジに対し時間的
に後でもっとも近いエッジを有する遅延クロックをもと
に、同期クロックを選択しているが、非同期信号S2の
エッジに対し時間的に前でもっとも近いエッジを有する
遅延クロックをもとに同期クロックを選択しても良いし
、前後関係なく時間的にもっとも近いエッジを有する遅
延クロックをもとに同期クロックを選択しても良い。
Furthermore, in this embodiment, the synchronous clock is selected based on the delayed clock whose edge is closest in time to the edge of the asynchronous signal S2 applied from the asynchronous signal input terminal 2. , the synchronous clock may be selected based on the delayed clock whose edge is temporally previous and closest to the edge of the asynchronous signal S2, or the synchronous clock may be selected based on the delayed clock whose edge is temporally closest to the edge of the asynchronous signal S2. You may also select a synchronous clock.

【0054】さらに、本実施例では、リセット信号入力
端子4からのリセット信号S4をフリップフロップ20
1ないし205のリセット入力端子Rに与えたが、リセ
ット信号入力端子4に代えてセット信号入力端子を設け
、この端子からのセット信号をフリップフロップ201
ないし205のセット入力端子に与えるようにしてもよ
く、この場合にも上記実施例と同様の効果を奏する。
Furthermore, in this embodiment, the reset signal S4 from the reset signal input terminal 4 is input to the flip-flop 20.
However, a set signal input terminal is provided in place of the reset signal input terminal 4, and the set signal from this terminal is applied to the flip-flop 201.
It may be applied to the set input terminals 205 to 205, and the same effects as in the above embodiment can be obtained in this case as well.

【0055】[0055]

【発明の効果】以上のように、請求項1記載の発明によ
れば、非同期入力信号に同期した同期クロックを発生す
る同期クロック発生回路において、遅延素子を直列に複
数個接続して構成され、基準クロックを遅延素子で順次
遅延させることにより複数の遅延クロックを生成する遅
延クロック生成回路と、非同期入力信号に応答して活性
化され、複数の遅延クロックそれぞれの制御によって、
所定の値を記憶する複数の記憶素子からなる記憶回路と
、複数の記憶素子の出力を制御信号として、複数の遅延
クロックの中から、非同期入力信号のエッジに時間的に
最も近いエッジを有するものを検出し、その検出結果に
応じて複数の遅延クロックの中から所望の遅延クロック
を選択し、これを同期クロックとして出力するクロック
選択回路とを設けたので、高周波クロック発生回路が不
要で、同期精度の高い同期クロック発生回路が得られる
という効果がある。
As described above, according to the first aspect of the invention, in a synchronous clock generation circuit that generates a synchronous clock synchronized with an asynchronous input signal, a plurality of delay elements are connected in series. A delay clock generation circuit generates multiple delayed clocks by sequentially delaying a reference clock using a delay element, and is activated in response to an asynchronous input signal and controls each of the multiple delayed clocks.
A memory circuit consisting of a plurality of memory elements that stores a predetermined value, and a clock that uses the outputs of the plurality of memory elements as a control signal, and has an edge temporally closest to the edge of the asynchronous input signal from among the plurality of delayed clocks. A clock selection circuit is provided that detects the delay clock, selects a desired delay clock from among multiple delay clocks according to the detection result, and outputs it as a synchronization clock, eliminating the need for a high-frequency clock generation circuit and achieving synchronization. This has the effect of providing a highly accurate synchronous clock generation circuit.

【0056】また、請求項2記載の発明によれば、非同
期入力信号に同期した同期クロックを発生する同期クロ
ック発生回路において、遅延素子を直列に複数個接続し
て構成され、基準クロックを遅延素子で順次遅延させる
ことにより複数の遅延クロックを生成する遅延クロック
生成回路と、非同期入力信号の制御によって複数の遅延
クロックをそれぞれ記憶する複数の記憶素子からなる記
憶回路と、複数の記憶素子の出力を制御信号として、複
数の遅延クロックの中から、非同期入力信号のエッジに
時間的に最も近いエッジを有するものを検出し、その検
出結果に応じて複数の遅延クロックの中から所望の遅延
クロックを選択し、これを同期クロックとして出力する
クロック選択回路とを設けたので、高周波クロック発生
回路が不要で、同期精度の高い同期クロック発生回路が
得られるという効果がある。
According to the second aspect of the invention, in the synchronous clock generation circuit that generates a synchronous clock synchronized with an asynchronous input signal, the synchronous clock generation circuit is configured by connecting a plurality of delay elements in series, and the reference clock is connected to the delay element. A delay clock generation circuit that generates multiple delayed clocks by sequentially delaying them with As a control signal, the one whose edge is temporally closest to the edge of the asynchronous input signal is detected from among multiple delayed clocks, and a desired delayed clock is selected from among the multiple delayed clocks according to the detection result. However, since a clock selection circuit for outputting this as a synchronization clock is provided, a high frequency clock generation circuit is not required and a synchronization clock generation circuit with high synchronization accuracy can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

【図1】この発明の第1の実施例を示す同期クロック発
生回路の回路図である。
FIG. 1 is a circuit diagram of a synchronous clock generation circuit showing a first embodiment of the present invention.

【図2】図1に示す回路の動作を示すタイミングチャー
トである。
FIG. 2 is a timing chart showing the operation of the circuit shown in FIG. 1;

【図3】この発明の第2の実施例を示す同期クロック発
生回路の回路図である。
FIG. 3 is a circuit diagram of a synchronous clock generation circuit showing a second embodiment of the invention.

【図4】図1,図3のクロック選択回路の一構成例を示
す回路図である。
FIG. 4 is a circuit diagram showing a configuration example of the clock selection circuit of FIGS. 1 and 3;

【図5】図4に示すクロック選択回路の構成要素である
フリップフロップ出力変化点検出回路の一構成例を示す
回路図である。
5 is a circuit diagram showing a configuration example of a flip-flop output change point detection circuit which is a component of the clock selection circuit shown in FIG. 4; FIG.

【図6】図3に示すクロック選択回路の他の構成例を示
す回路図である。
FIG. 6 is a circuit diagram showing another configuration example of the clock selection circuit shown in FIG. 3;

【図7】この発明の第3の実施例を示す同期クロック発
生回路の回路図である。
FIG. 7 is a circuit diagram of a synchronous clock generation circuit showing a third embodiment of the invention.

【図8】図7の回路の動作を示すタイミングチャートで
ある。
FIG. 8 is a timing chart showing the operation of the circuit in FIG. 7;

【図9】図7のクロック選択回路の一構成例を示す回路
図である。
9 is a circuit diagram showing a configuration example of the clock selection circuit of FIG. 7; FIG.

【図10】図9のクロック選択回路の構成要素であるフ
リップフロップ出力変化点検出回路の一構成例を示す回
路図である。
10 is a circuit diagram showing a configuration example of a flip-flop output change point detection circuit which is a component of the clock selection circuit of FIG. 9; FIG.

【図11】図9のクロック選択回路の他の構成例を示す
回路図である。
FIG. 11 is a circuit diagram showing another configuration example of the clock selection circuit of FIG. 9;

【図12】従来の同期クロック発生回路を示す回路図で
ある。
FIG. 12 is a circuit diagram showing a conventional synchronous clock generation circuit.

【図13】図12に示した回路の動作を示すタイミング
チャートである。
13 is a timing chart showing the operation of the circuit shown in FIG. 12. FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1  基準クロック入力端子 2  非同期信号入力端子 3  同期クロック出力端子 4  リセット信号入力端子 201〜205  フリップフロップ 211〜215  遅延素子 221  クロック選択回路 301  フリップフロップ出力変化点検出回路311
〜315  スイッチ 321  多入力OR回路 401〜405  一方の入力が反転されたNAND回
路501〜505  NAND回路
1 Reference clock input terminal 2 Asynchronous signal input terminal 3 Synchronous clock output terminal 4 Reset signal input terminals 201 to 205 Flip-flops 211 to 215 Delay element 221 Clock selection circuit 301 Flip-flop output change point detection circuit 311
~315 Switch 321 Multi-input OR circuit 401-405 NAND circuit with one input inverted 501-505 NAND circuit

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】  非同期入力信号に同期した同期クロッ
クを発生する同期クロック発生回路であって、遅延素子
を直列に複数個接続して構成され、基準クロックを前記
遅延素子で順次遅延させることにより複数の遅延クロッ
クを生成する遅延クロック生成回路と、前記非同期入力
信号に応答して活性化され、前記複数の遅延クロックそ
れぞれの制御によって、所定の値を記憶する複数の記憶
素子からなる記憶回路と、前記複数の記憶素子の出力を
制御信号として、前記複数の遅延クロックの中から、前
記非同期入力信号のエッジに時間的に最も近いエッジを
有するものを検出し、その検出結果に応じて前記複数の
遅延クロックの中から所望の遅延クロックを選択し、こ
れを前記同期クロックとして出力するクロック選択回路
とを備える同期クロック発生回路。
1. A synchronous clock generation circuit that generates a synchronous clock synchronized with an asynchronous input signal, comprising a plurality of delay elements connected in series, and by sequentially delaying a reference clock with the delay elements. a delayed clock generation circuit that generates a delayed clock; a storage circuit that is activated in response to the asynchronous input signal and that stores a predetermined value under the control of each of the plurality of delay clocks; Using the outputs of the plurality of storage elements as a control signal, one of the plurality of delayed clocks having an edge temporally closest to the edge of the asynchronous input signal is detected, and the plurality of delayed clocks are controlled according to the detection result. A synchronous clock generation circuit comprising: a clock selection circuit that selects a desired delayed clock from among delayed clocks and outputs it as the synchronous clock.
【請求項2】  非同期入力信号に同期した同期クロッ
クを発生する同期クロック発生回路であって、遅延素子
を直列に複数個接続して構成され、基準クロックを前記
遅延素子で順次遅延させることにより複数の遅延クロッ
クを生成する遅延クロック生成回路と、前記非同期入力
信号の制御によって前記複数の遅延クロックをそれぞれ
記憶する複数の記憶素子からなる記憶回路と、前記複数
の記憶素子の出力を制御信号として、前記複数の遅延ク
ロックの中から、前記非同期入力信号のエッジに時間的
に最も近いエッジを有するものを検出し、その検出結果
に応じて前記複数の遅延クロックの中から所望の遅延ク
ロックを選択し、これを前記同期クロックとして出力す
るクロック選択回路とを備える同期クロック発生回路。
2. A synchronous clock generation circuit that generates a synchronous clock synchronized with an asynchronous input signal, comprising a plurality of delay elements connected in series, and by sequentially delaying a reference clock with the delay elements. a delayed clock generation circuit that generates a delayed clock; a storage circuit including a plurality of storage elements that respectively store the plurality of delayed clocks under the control of the asynchronous input signal; and an output of the plurality of storage elements as a control signal; Among the plurality of delayed clocks, one having an edge temporally closest to an edge of the asynchronous input signal is detected, and a desired delayed clock is selected from among the plurality of delayed clocks according to the detection result. , and a clock selection circuit that outputs this as the synchronous clock.
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