JPH04355221A - 光ディスク装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は情報の記録および再生が
可能な光ディスク装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】近年、ＣＤプレーヤ等再生専用の光ディ
スク装置に加え、記録可能な光ディスクとその記録再生
装置の開発が盛んである。光ディスクの記録密度は非常
に高く、ピッチ間隔約１．６μｍの同心円あるいは螺旋
状トラックに情報が記録されている。したがって、情報
の記録再生には、レーザスポットをそのようなトラック
に安定かつ正確に追随させる高精度な装置制御が必須と
なる。

【０００３】そこで、一般に記録可能な光ディスクには
案内溝として同心円状あるいは螺旋状の連続した溝が設
けられ、これを基にレーザスポットのトラッキング制御
が行われている。情報は、基盤の凹凸形状として、ある
いは記録膜の光学的性質の変化として、案内溝の中また
は案内溝と案内溝の間に記録されている。このような光
ディスク（以降、これを第１の種類の光ディスクと呼ぶ
。）に対しては、いわゆるプッシュプル法と呼ばれるト
ラッキング制御手段が適用されている。（以降、これを
第１のトラッキング制御手段と呼ぶ。）また、このよう
な案内溝を持つ光ディスクには記録方式によって異なる
記録膜が着けられているが、一般に書換可能なものでは
反射率が低く、一度だけ記録可能なものでは反射率が高
い。

【０００４】一方、再生専用光ディスクには、基盤の凸
凹形状のピットの配列として情報が記録され、これらは
同心円状あるいは螺旋状の情報トラックを形成し、案内
溝は存在しない。レーザスポットのトラッキングは、こ
の情報トラックに対して行われる。このような光ディス
ク（以降、これを第２の種類の光ディスクと呼ぶ。）に
対するトラッキング制御手段が、例えば特開昭５２−９
３２２２または特開昭５７−１８１４３３に示されてい
る（以降、これを第２のトラッキング制御手段と呼ぶ。 ）。このような光ディスクは、一般に書換可能な光ディ
スクに比べて反射率が高い。

【０００５】以下に、４分割受光素子を用いて構成され
たフォーカシング制御手段とトラッキング制御手段を有
する光ディスク装置に関する従来技術を説明する。

【０００６】まず、前記２種類のトラッキング制御手段
に共通に適用される光ヘッド光学系について説明する。 図４ａは、そのような光ヘッド光学系の配置図である。 図４ａにおいて、半導体レーザ５２から発せられた光束
は、コリメータレンズ５１によって平行光束とされ、光
路に４５度の角度を成して配置されたハーフミラー３に
よって反射され、対物レンズ２によって光ディスク１の
記録面に収束される。光ディスク１の記録面から反射さ
れた光束は、対物レンズ２によって再び平行光束とされ
、ハーフミラー３を透過して、集光レンズ４および円柱
レンズ５によって４分割受光素子６に導かれる。４分割
受光素子６は、光ディスクの記録面にレーザ光がフォー
カスされているときに円柱レンズ５によって非点光束と
された受光光束が最小錯乱円となる位置に置かれ、円柱
レンズ５の軸は、４分割受光素子６の分割線と４５度を
成すように置かれている。４分割受光素子６の各構成要
素を、図４ｂに示すようにＳ１，Ｓ２，Ｓ３，Ｓ４とし
、その光電変換出力も同じ符号とする。

【０００７】次に、第１のトラッキング制御手段の特徴
とそれによって構成された従来の光ディスク装置の構成
について図５を参照しながら説明する。図５は、そのよ
うな光ディスク装置の主要部のブロック図である。７，
９，１１は各々、加算可能な増幅器であり、入力端子に
記された符号がプラスのときは正相で、マイナスのとき
は逆相で加算され、増幅される。６は、図４に示した４
分割受光素子であり、各構成要素の出力は、増幅器７，
９，１１に入力される。増幅器７の出力は、次式で表さ
れる信号ＦＥ

【０００８】

【数１】

【０００９】であり、これはフォーカシングエラー信号
としてフォーカシング制御部８へ送られる。増幅器９の
出力は、次式で表される信号ＴＥ１

【００１０】

【数２】

【００１１】であり、これはトラッキングエラー信号と
してトラッキング制御部１０へ送られる。増幅器１１の
出力は、次式で表される信号ＡＳ

【００１２】

【数３】

【００１３】であり、この信号には光ディスクに記録さ
れた情報が含まれているため、情報信号検出部１２に送
られる。

【００１４】ここで、信号ＴＥ１が得られる原因につい
て説明する。第１の種類の光ディスクには案内溝が存在
するためトラッキングは、この案内溝をもとに第１のト
ラッキング制御手段をもって行われる。図９は、連続し
た案内溝に対するレーザスポットの位置に応じて、図４
ａに示した対物レンズ２の瞳上における反射光の光量分
布が変化する様子を示す。トラック方向は、紙面に垂直
である。図示したように、レーザスポットがトラックか
らずれると光量分布は、対物レンズ２の瞳のトラックに
平行な中心線について非対称になる。一方、瞳のトラッ
クに垂直な中心線については案内溝が連続であるから対
称となる。図４ａにおいて４分割受光素子６は、瞳のト
ラックに平行な中心線が受光光学系によって変換された
方向と、その各構成要素Ｓ１とＳ２の分割線およびＳ３
とＳ４の分割線が対応するように配置されているから、
対称性を持った光量分布に依存した光電変換出力が４分
割受光素子６の各構成要素に生ずる。これは、（数２）
で定義した信号ＴＥ１の値はトラックずれが無いときに
は零で、トラックずれがあるときにはその量と方向に応
じた正または負の値となることを意味する。図１０は、
レーザスポットのトラックずれ量に対する信号ＴＥ１の
応答を示したものである。同図において、グラフの横軸
はトラックずれ量を、縦軸は信号ＴＥ１の強度を表す。 以上のことから、第１のトラッキング制御手段の特徴は
、４分割受光素子の各構成要素の光電変換出力の内、ト
ラックずれに応じた強度差を生じる一対の出力からトラ
ッキングエラー信号ＴＥ１を得ることであると言える。

【００１５】次に、第２のトラッキング制御手段の特徴
とそれによって構成された従来の光ディスク装置の構成
について図６を参照しながら説明する。図６は、そのよ
うな光ディスク装置の主要部のブロック図である。図５
で示したものと共通なものには同一の番号を付して、詳
細な説明は省略する。４分割受光素子６の各構成要素の
出力Ｓ１とＳ３は、増幅器１３に入力され、Ｓ２とＳ４
は増幅器１４に入力される。増幅器１３の出力を、信号
Ｐ１とし次式

【００１６】

【数４】

【００１７】で表し、増幅器１４の出力を、信号Ｐ２と
し次式で表す。

【００１８】

【数５】

【００１９】減算器１５によって、信号Ｐ１から信号Ｐ
２が差し引かれ、信号ＦＥと等価なフォーカシングエラ
ー信号となり、これはフォーカシング制御部８に送られ
る。また、信号Ｐ１とＰ２は位相差検出部１６によって
相互の位相差を検出され、検出された位相差は変換部１
７によってその位相差量に対応する電圧に変換されて信
号ＴＥ１と同様なトラッキングエラー信号（以降、こう
して得られたトラッキングエラー信号をＰＴＥと呼ぶ。 ）となってトラッキング制御部１０へ送られる。

【００２０】ここで、信号Ｐ１とＰ２とに位相差が生ず
る原因について説明する。第２の種類の光ディスクには
案内溝が存在しないためトラッキングは、トラック上に
分布する凸凹形状のピットをもとに第２のトラッキング
制御手段をもって行われる。図１１は、ピットとレーザ
スポットとの位置関係で生ずる、図４ａに示す対物レン
ズ２の瞳上における反射光の光量分布の違いを示すもの
である。図１１において、ｂ列は、トラックずれが無い
場合を示し、ａおよびｃ列は、トラックが左および右に
ずれた場合を示す。各々の列には、ピットとレーザスポ
ットの位置とその位置で生じる反射光の対物レンズ２の
瞳上での光量分布を示してある。左側に記した符号ｔ１
，ｔ２，ｔ３は、ピットがレーザスポットを通り過ぎる
過程の時刻に相当する。ｔ１とｔ３の時刻では、各々の
時刻のａ列とｃ列の光量分布は、トラックに平行な方向
に関して互いに鏡影対称であり、トラックに垂直な方向
に関しては互いに非対称である。したがって、図１１ｄ
のように対物レンズ２の瞳を分割すると、領域Ａ１とＡ
３を通過する光量の和と領域Ａ２とＡ４を通過する光量
の和との間には、その変化に時間的ずれが生じ、更に、
トラックずれの方向が変わるとその時間的ずれは逆に生
ずることが分かる。加えて、図４ａに示した光学系によ
って対物レンズ２の瞳上における光量分布は対称性を保
存したまま４分割受光素子６に導かれるため、この光量
分布に依存した光電変換出力が、４分割受光素子６の各
構成要素に生じる。よって、（数４），（数５）によっ
て定義された信号Ｐ１，Ｐ２に、トラックずれの方向に
依存した極性の位相差が生ずることになる。これらの信
号Ｐ１，Ｐ２相互の位相差量に応じた電圧からなる信号
ＰＴＥは、トラックからのずれ量に対して、信号ＴＥ１
と同様に図１０に示した応答を示すことになる。以上の
ことから、第２のトラッキング制御手段の特徴は、４分
割受光素子６の各構成要素の光電変換出力の内、トラッ
クずれに応じた位相差を生じる一対の出力Ｐ１，Ｐ２の
位相差をもとにトラッキングエラー信号を作り出すこと
であると言える。

【００２１】以上のように構成された前記２種類の従来
の光ディスク装置について、以下にその動作について説
明する。図７は、光ヘッドのフォーカス状態によって変
化する４分割受光素子６上での光束の形状であり、図８
は、信号ＦＥのグラフである。図８において、横軸はデ
フォーカス量を、縦軸は信号ＦＥの強度を表す。まず、
両方に共通の動作として、光ヘッドのフォーカス点を回
転している光ディスクに近づけていくと、光ディスクの
面ぶれによって受光光束は、４分割受光素子６上で図７
ａ，図７ｂ，図７ｃに示すごとく変化する。この光束は
、光ディスク上にレーザ光がフォーカスされたときは図
７ｂのごとく円形に、前後にデフォーカスされたときは
図７ａまたは図７ｃのごとく楕円形になる。したがって
、（数１）にて定義された信号ＦＥとして得られる図５
における増幅器７の出力あるいは図６における減算器１
５の出力は、デフォーカス量に対して図８のような応答
を示すことになる。図５および図６におけるフォーカシ
ング制御部８は、この信号ＦＥが零となるように光ヘッ
ドのフォーカシング制御を行う。

【００２２】次に、光ディスクの偏心等によって生ずる
トラックの移動に追随すべくレーザスポットのトラッキ
ングが行われる。前述のように、第１の種類の光ディス
クな対しては第１のトラッキング制御手段によってトラ
ッキングエラー信号ＴＥ１が得られ、第２の種類の光デ
ィスクに対しては第２のトラッキング制御手段によって
トラッキングエラー信号ＰＴＥが得られている。これら
のトラッキングエラー信号ＴＥ１あるいはＰＴＥは図５
および図６における各々のトラッキング制御部１０に送
られ、トラッキング制御部１０は、これらの信号が零と
なるようにレーザスポットの位置制御を行う。

【００２３】こうして安定なフォーカシング制御とトラ
ッキング制御が行われると、図５および図６における増
幅器１１の出力ＡＳに含まれる光ディスクに記録された
情報が情報信号検出部１２によって検出可能となる。

【００２４】

【発明が解決しようとする課題】ところが、上記従来の
技術では、連続した溝に対しては、反射光の前述した対
称性により信号Ｐ１，Ｐ２に位相差が生じないため、第
１の種類の光ディスクの案内溝に対して第２のトラッキ
ング制御手段を用いてトラッキングを行うことは困難で
ある。一方、信号ＴＥ１は、トラックの溝によって回折
された光の干渉状態がレーザスポットと溝との位置関係
によって異なることから生じるため、ＴＥ１の振幅は、
溝の深さがλ／８（λ；レーザ光の波長）のとき最大と
なり、λ／４のとき零となることが知られている。通常
、第１の種類の光ディスクの案内溝の深さはλ／８であ
り、第２の種類の光ディスクのトラックの凸凹の深さは
、λ／４からλ／６であることから、第２の種類の光デ
ィスクに対しては、第１のトラッキング制御手段によっ
て得られる信号ＴＥ１の振幅が小さくなってしまい安定
なトラッキング制御が困難となる。

【００２５】すなわち、従来のトラッキング制御手段で
は、２種類の光ディスク、つまり、記録可能な光ディス
クとＣＤ等の再生専用光ディスクに対し、両方とも安定
にトラッキングを行うことはできないという問題点を有
しており、かかる光ディスク相互の再生装置の共通化が
成されていなかった。

【００２６】本発明は上記の問題点を解決するもので、
光ディスクに案内溝が存在するしないにかかわらず、安
定かつ正確なトラッキング制御ができる光ディスク装置
を提供することを目的とする。

【００２７】

【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に本発明による第１の光ディスク装置は、光ディスクの
トラックに形成された溝からの反射光を検出して動作す
る複数の異なるトラッキング制御手段と、溝の深さを検
出する手段と、検出された溝の深さ情報に従って複数の
異なるトラッキング制御手段から一つを選び出す手段と
を備えた構成を有している。

【００２８】また、第２の光ディスク装置は、光ディス
クのトラックに形成された溝からの反射光を検出して動
作する複数の異なるトラッキング制御手段と、光ディス
クの記録面の反射率を検出する手段と、検出された反射
率情報に応じて前記複数の異なるトラッキング制御手段
から一つを選択する手段とを備えた構成を有している。

【００２９】さらに、第３の光ディスク装置は、光ディ
スクのトラックに形成された溝からの反射光を検出して
動作する複数の異なるトラッキング制御手段と、複数の
異なるトラッキング制御手段各々についてレーザスポッ
トがトラックを横切るときに生じるトラッキングエラー
信号の振幅を検出する手段と、検出された振幅に応じて
複数の異なるトラッキング制御手段から一つを選択する
手段とを備えた構成を有している。

【００３０】

【作用】本発明は上記した構成により、再生しようとし
ている光ディスクに適したトラッキング制御手段を、用
意された複数の異なるトラッキング制御手段の中から選
択し、その手段で動作する構成に切り換えることにより
、光ディスクの種類にかかわらず、安定かつ正確なトラ
ッキングが可能となる。

【００３１】

【実施例】（実施例１）以下、本発明の第１の実施例に
ついて、図面を参照しながら説明する。本実施例の光ヘ
ッドの光学系は、前述の従来例と同様に、図４ａに示し
た構成から成るため、説明は省略する。

【００３２】図１は本実施例における光ディスク装置の
主要部のブロック図である。図１において、４分割受光
素子６は、図４ａに示した光学系に対して、従来例で説
明したのと同様に配置されている。したがって、４分割
受光素子６の各構成要素から、第１の種類の光のディス
クに対しては第１のトラッキング制御手段で説明した光
電変換出力が、第２の種類の光ディスクに対しては第２
のトラッキング制御手段で説明した光電変換出力が生ず
ることになる。図１において、４分割受光素子６，フォ
ーカシング制御部８，増幅器９，トラッキング制御部１
０，増幅器１１，情報信号検出部１２，増幅器１３，１
４，減算器１５，位相差検出部１６，変換部１７は従来
技術の説明で図５，図６に記した構成要素と同一である
ため、詳細な説明は省略する。増幅器９の出力ＴＥ１は
、第１のトラッキング制御手段で用いられるトラッキン
グエラー信号であり、演算部１８に入力される。増幅器
１１の出力ＡＳは演算部１８に入力され、演算部１８は
信号ＴＥ１に対して、ＡＳを分母とする除算を実行し、
次に示す信号ＴＥ２

【００３３】

【数６】

【００３４】を出力する。信号ＡＳは全受光量に相当す
る光電変換出力であるから、この演算によって得られる
信号ＴＥ２は、光ディスクの記録面の反射率の違いに影
響されないトラック溝の深さおよび形状を反映した信号
である。信号ＴＥ２は、比較部１９によって既定値と比
較され、比較部１９は、比較結果に基づく指示をセレク
タ２０に与える。増幅器１３，１４の出力Ｐ１，Ｐ２は
、図６に示したのと同様に処理され、変換部１７の出力
に生じるトラッキングエラー信号ＰＴＥはセレクタ２０
へ、減算器１５の出力に生じるフォーカシングエラー信
号ＦＥはフォーカシング制御部８へ送られる。セレクタ
２０は、比較部１９あるいはシステムコントローラ２１
からの指示に従って信号ＰＴＥまたはＴＥ２を選択し、
どちらか一方をトラッキング制御部１０へ送る。フォー
カシング制御部８およびトラッキング制御部１０は、各
々に入力された信号を基に、レーザスポットのフォーカ
シング制御およびトラッキング制御を行う。信号ＡＳは
、情報信号検出部１２へ送られ、光ディスクに記録され
た情報が検出される。システムコントローラ２１は、フ
ォーカシング制御部８，トラッキング制御部１０，演算
部１８およびセレクタ２０の状態の把握とそれらの制御
を行う。

【００３５】以上のように構成された本実施例について
、以下その動作を説明する。光ディスクが装置に挿入さ
れると、システムコントローラ２１は、まず光ディスク
の記録面にレーザ光が収束するようにフォーカシング制
御部８を促す。システムコントローラ２１は、安定した
フォーカシング制御が行われていることを確認した後、
トラッキング制御部１０を制御し、トラックと直交する
方向にレーザスポットを強制的に移動させる。こうする
と、信号ＴＥ２は、レーザスポットがトラックを横切る
度に振動するようになる。比較部１９は、この信号ＴＥ
２の振幅を調べ、既定値より大きいか小さいかを判断し
、大きい場合は信号ＴＥ２を、小さい場合は信号ＰＴＥ
を、トラッキング制御部１０へ出力するようにセレクタ
２０に対して指示を与える。信号ＴＥ２の振幅はトラッ
ク溝の深さを反映しているから、振幅の大きさをこのよ
うに判断することによって、λ／８の深さの案内溝とλ
／４からλ／６にわたる深さの溝とを区別することがで
きる。すなわち、案内溝が存在する光ディスクである第
１の種類の光ディスクと、案内溝が存在しない光ディス
クである第２の種類の光ディスクとを区別することがで
きる。

【００３６】こうして、再生されようとしている光ディ
スクに適切なトラッキング制御手段が選択されると、シ
ステムコントローラ２１が行っていたトラッキング制御
部１０に対する強制的な強制が中止され、セレクタ２０
は、前記選択に従って信号ＰＴＥまたはＴＥ２のどちら
か一方をトラッキング制御部１０に対し出力する。トラ
ッキング制御部１０は、この入力信号を基にレーザスポ
ットを光ディスクのトラックにトラッキングさせる。ま
た、選択されたセレクタ２０の経路は、システムコント
ローラ２１から指示があるまでは保持され、システムコ
ントローラ２１は、新たに他の光ディスクが装置に挿入
されたときには、光ディスクの種類を判断すべく前述の
動作を繰り返す。

【００３７】以上のように本発明の第１の実施例の光デ
ィスク装置によれば、レーザスポットがトラックを横切
るときに信号ＴＥ２に生じる変動の振幅の大きさと既定
値とを比較することによって、再生されようとしている
光ディスクの種類を判断し、その光ディスクに適したト
ラッキング制御手段で動作する制御回路に切り換えるこ
とによって、光ディスクの種類にかかわらず安定かつ正
確なトラッキング制御を行う光ディスク装置を構成する
ことができる。

【００３８】（実施例２）以下、本発明の第２の実施例
について図２を参照しながら説明する。図２は、本実施
例の構成の主要部のブロック図である。なお、本実施例
の光ディスク装置構成の一部である光ヘッドの構成は、
第１の実施例で説明した図４ａに示した構成から成るた
め説明は省略する。図２において、図１と同じ番号を付
した構成要素については、第１の実施例と同じであるか
ら詳細な説明は省略する。図１と異なるのは、演算部１
８の代わりにピークホールド部２２を設けた点である。 減算器１５の出力ＦＥはピークホールド部２２に入力さ
れ、そこでビーク値を検出される。検出されたピーク値
は比較部２３で既定値と比較され、比較部２３は比較結
果に基づく指示をセレクタ２０へ送る。増幅器９の出力
ＴＥ１は直接セレクタ２０に導かれ、増幅器１１の出力
は情報信号検出部のみに送られる。セレクタ２０は、入
力されている信号ＴＥ１とＰＴＥを比較部１９またはシ
ンテムコントローラ２１からの指示に基づいて選択し、
どちらか一方をトラッキング制御部１０に送る。

【００３９】以上のように構成された本実施例について
、以下その動作を説明する。その動作についても第１の
実施例とおおむね共通であるから、異なるものについて
のみ図２を参照しながら説明する。まず、光ディスクの
記録面にレーザ光をフォーカスすべくスポット位置を近
づけていくと、フォーカシングエラー信号としてＦＥは
図８に示したように２つのピークを持つＳ字状の応答を
示す。このビーク値ｍ１，ｍ２の一方または両方をピー
クホールド部２２によって検出する。信号ＦＥの定義よ
り明らかなように、これらピーク値ｍ１，ｍ２は光ディ
スクの反射率に依存している。従来技術の説明で述べた
ように、一般に書換可能な光ディスクの反射率は低く、
再生専用の光ディスクの反射率は高いことを利用すると
、信号ＦＥのピーク値の大きさを調べることによって光
ディスクの種類を区別することができる。したがって比
較部２３によって限定値よりもピーク値が低いと判断さ
れたときは、光ディスクに案内溝があると判断してセレ
クタ２０が信号ＴＥ１を出力し、既定値よりも高いとき
は案内溝は無いと判断してセレクタ２０が信号ＰＴＥを
出力する。こうして再生されようとしている光ディスク
に適したトラッキング制御手段を選択することができる
。図２に示したその他の構成要素の動作については、図
１と同様であるから説明は省略する。

【００４０】なお、本実施例ではデフォーカスによって
生じた信号ＦＥの変動量から光ディスクの反射率を検出
したが、この反射率の検出はフォーカシング制御が安定
した後で、信号ＡＳからピットによる変調成分を除いた
値を検出することによっても可能である。すなわち、図
２において、ピークホールド部２２を廃止し、信号ＦＥ
は直接フォーカシング制御部８へ送り、信号ＡＳをロー
パスフィルタを通した後、比較部２３に入力して既定地
と比較させることによって可能である。さらに、トラッ
ク横切りによる変動成分およびピットによる変調成分を
除くための所定の処置を行えば、フォーカシング制御が
安定しているときに生じている４分割受光素子６の各構
成要素の単独の出力を用いても可能であることは言うま
でもない。（実施例３）以下、本発明の第３の実施例に
ついて図３を参照しながら説明する。図３は、本発明の
主要部のブロック図である。光ヘッドの構成と、図１に
示した構成要素と同じ番号を付したものについては、第
１の実施例と同じであるから説明を省略する。図３にお
いて、図１と異なるのは演算部１８を廃止し、比較部２
４を設けた点である。信号ＴＥ１および信号ＰＴＥはセ
レクタ２０および比較部２４に入力され、比較部２４は
ＴＥ１およびＰＴＥの振幅を比較し、その結果に基づい
た指示をセレクタ２０へ送る。

【００４１】以上のように構成された本実施例について
、以下その動作を図３を参照しながら説明する。まず、
システムコントローラ２１は、第１の実施例と同様に、
フォーカシング制御部８を促して安定なフォーカシング
制御を実行させる。次に、システムコントローラ２１は
トラッキング制御部１０を制御し、レーザスポットのト
ラック横切りを強制的に生じさせる。こうすると、信号
ＴＥ１またはＰＴＥは、図１０に示した波形を連続させ
た正弦波状のトラッキングエラー信号となる。比較部２
４は、このとき生じている二つの信号ＴＥ１とＰＴＥの
振幅を比較し、大きい方の信号を出力するようにセレク
タ２０へ指示を送る。セレクタ２０は、この指示に従っ
て回路を選択し、どちらか一方の信号をトラッキング制
御部１０へ出力する。こうしてトラッキング制御手段の
選択が終了すると、システムコントローラ２１はトラッ
キング制御部１０に対して行っていた強制的な前記制御
を中止し、トラッキング制御の実行を促す。その他の構
成要素の動作については、第１の実施例と同様であるた
め説明を省略する。

【００４２】このように本発明の実施例の光ディスク装
置によれば、装置に構成された各々のトラッキング制御
手段が使用するトラッキングエラー信号を直接比較する
ことによって再生しようとしている光ディスクに適した
トラッキング制御手段を選択するため、確実な選択がで
きる。

【００４３】なお、一連の本発明は、再生専用の光ディ
スク装置だけでなく、従来から知られている色々な記録
方式で構成されている記録再生用光ディスク装置に対し
て何ら制限を受けることなく適用することができる。例
えば、いわゆる相変化型の記録再生用光ディスクに対す
る装置としては、本実施例の光ヘッド構成をそのまま適
用できるため、そのような光ディスクの記録再生装置と
して必要な従来技術に本発明の構成を加えることで実現
される。また、いわゆる光磁気ディスクに対する記録再
生用光ディスク装置に適用することも可能である。

【００４４】

【発明の効果】以上の実施例から明らかなように本発明
によれば、光ディスクのトラックに形成された溝の深さ
情報を検出することによって、または、光ディスクの反
射率を検出することによって、再生されようとしている
光ディスクの種類を自動的に判断し、用意された複数の
トラッキング制御手段の中からその光ディスクに適した
ものを選択し、それで動作させることによって、光ディ
スクの種類にかかわらず安定かつ正確なトラッキング制
御を行うことが可能となる。また、再生しようとしてい
る光ディスクに対して、用意された複数のトラッキング
制御手段各々の構成が作り出すトラッキングエラー信号
を出力させて評価し、その中から最適なものを選択し動
作させることによって、光ディスクの種類にかかわらず
安定かつ正確にトラッキング制御を行うことが可能とな
る。したがって、本発明の構成によれば、光ディスクの
種類を選ばない光ディスク装置の実現を可能にする。さ
らに、本発明によれば、かかる光ディスク装置はただ一
つの光ヘッドをもって構成されるため、かかる機能を持
つコンパクトで安価な光ディスク装置を提供することが
可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施例における光ディスク装置
の主要部のブロック図

【図２】本発明の第２の実施例における光ディスク装置
の主要部のブロック図

【図３】本発明の第３の実施例における光ディスク装置
の主要部のブロック図

【図４】従来例および本発明の各実施例における光ヘッ
ドの光学系の構成図

【図５】第１のトラッキング制御手段によって構成され
た従来の光ディスク装置の主要部のブロック図

【図６】
第２のトラッキング制御手段によって構成される従来の
光ディスク装置の主要部のブロック図

【図７】デフォー
カスによって生ずる受光光束の形状変化を示す構成図

【図８】デフォーカス量に対するフォーカスエラー信号
ＦＥの応答を示すグラフ

【図９】光ディスクの案内溝に対するレーザスポットの
位置に応じて変化する、図４ａに示す対物レンズ２の瞳
上における反射光の光量分布を示す構成図

【図１０】レ
ーザスポットのトラックずれ量に対するトラッキングエ
ラー信号ＴＥ１，ＴＥ２またはＰＴＥの応答を示すグラ
フ

【図１１】ピットとレーザスポットの位置関係で生ずる
図４ａに示す対物レンズ２の瞳上での反射光の光量分布
の違いを示す構成図

【符号の説明】

６　　　　４分割受光素子 ９，１１，１３，１４　　増幅器 １０　　トラッキング制御部 １５　　減算器 １６　　位相差検出部 １７　　変換部 １８　　演算部 １９，２３，２４　　　　　　比較部 ２０　　セレクタ ２１　　システムコントローラ ２２　　ピークホールド部

Claims (9)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】　　光ディスクのトラックに形成された溝
   からの反射光を検出して動作する複数の異なるトラッキ
   ング制御手段と、前記複数の異なるトラッキング制御手
   段から一つを選択する手段とを備えた光ディスク装置。
2. 【請求項２】　　複数の異なるトラッキング制御手段か
   ら一つを選択する手段は、光ディスクのトラックに形成
   された溝の深さを検出し評価することによって選択する
   ようにした請求項１記載の光ディスク装置。
3. 【請求項３】　　複数の異なるトラッキング制御手段は
   、トラックに形成された溝からの反射光を複数の光検出
   器によって検出し、レーザスポットと前記溝との位置ず
   れに応じて前記複数の光検出器のうち少なくとも一対の
   光検出器の出力に生ずる位相差量を基にトラッキングを
   行う手段と、前記位置ずれに応じて前記複数の光検出器
   のうち少なくとも一対の光検出器の出力に生ずる強度差
   量を基にトラッキングを行う手段を含む請求項１または
   ２記載の光ディスク装置。
4. 【請求項４】　　トラックに形成された溝の深さを検出
   する手段は、溝からの反射光量を少なくとも二つの光検
   出器により検出し、検出された各々の信号の差と和を比
   較する手段である請求項２または３記載の光ディスク装
   置。
5. 【請求項５】　　複数の異なるトラッキング制御手段か
   ら一つを選択する手段は、光ディスクの反射率を検出し
   、検出した反射率を評価して選択するようにした請求項
   １または３記載の光ディスク装置。
6. 【請求項６】　　光ディスクの反射率を検出する手段は
   、光ディスクの記録面に向けて光を放射する少なくとも
   一つの光源と、光ディスクの記録面によって反射された
   前記光源からの光を検出する少なくとも一つの光検出器
   を含む請求項５記載の光ディスク装置。
7. 【請求項７】　　光ディスクの反射率を検出する手段は
   、光ヘッドのフォーカス引き込み過程において、フォー
   カシング制御手段の構成要素である光検出器のうち少な
   くとも一つに生ずる出力の変動幅を検出する手段である
   請求項５記載の光ディスク装置。
8. 【請求項８】　　光ディスクの反射率を検出する手段は
   、光ヘッドのフォーカス引き込み過程において生ずるフ
   ォーカシングエラー信号の変動幅を検出する手段である
   請求項５記載の光ディスク装置。
9. 【請求項９】　　複数の異なるトラッキング制御手段か
   ら一つを選択する手段は、前記複数のトラッキング制御
   手段各々についてレーザスポットがトラックを横断する
   ときに生じるトラッキングエラー信号の振幅を検出し評
   価することによって選択するようにした請求項１または
   ３記載の光ディスク装置。