JPH04352119A - 走査光学装置の倍率誤差補正方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明はレーザプリンタ，デジタ
ル複写機等に用いられる走査光学装置の倍率誤差補正方
法に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、走査光学装置は、レーザプリンタ
，デジタル複写機等に用いられ、例えば、感光体が駆動
機構により回転駆動されて帯電器により均一に帯電され
た後にその表面が走査光学装置にて画像情報が載せられ
た光束により主走査方向へ走査されて静電潜像が形成さ
れ、この静電潜像が現像装置により現像されて記録材に
転写されることによりこの記録材が記録物として外部に
排出される。

【０００３】走査光学装置は、光束を射出する半導体レ
ーサ等からなる光源と、この光源からの光束を等角速度
の回転に伴って偏向する偏向器と、この偏向器からの光
束により主走査方向へ等速度で走査され副走査（回転）
される感光体等の被走査面と、前記偏向器からの光束を
前記被走査面に結像させる結像光学系とを有し、前記光
束を情報信号で変調することによって前記被走査面に潜
像を書き込んでいる。

【０００４】上記偏向器は回転多面鏡等が用いられ、光
束の偏向角度が比較的狭いものが多い。また、上記結像
光学系は等角速度で回転する偏向器にて偏向された光束
を前記被走査面が主走査方向へ等速度で走査されるよう
に前記被走査面に結像させるｆθ特性を有し、ガラス等
からなる多数枚のレンズを組合せたものが用いられてい
る。

【０００５】また、特開平２ー１６１４１０号公報には
、上記走査光学装置において、プラスチックを上記結像
光学系に用い、その像面湾曲を温度によらず補正する条
件を持たせたものが記載されている。しかし、この特開
平２ー１６１４１０号公報には、被走査面上の光束によ
る等速走査性、書き込まれた潜像の倍率誤差に関しては
記載されていない。

【０００６】さらに、特開昭６２ー３２７６４号公報に
は、上記走査光学装置において、被走査面を光束により
主走査方向へ等速度で走査するために、その走査をクロ
ックに応じて行ってこのクロックの周波数を連続的に変
化させるものが記載されている。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】上記走査光学装置にあ
っては、従来は、光束の偏向角度が比較的狭いものを用
いているので、結像光学系のｆθ特性を小さく抑えるこ
とが可能であった。このため、被走査面における１画素
当りの走査に要する時間ｔは ｔ≒Ｌ／（ｆ×ω×Ｎ） Ｌ：被走査面の有効走査幅 Ｎ：被走査面の有効走査幅内の画素数 ω：偏向器の回転角速度 ｆ：結像光学系の主走査方向の焦点距離とすれば、被走
査面上の潜像の原画像に対する倍率（以下単に倍率と呼
ぶ）の誤差を小さく抑えることができた。

【０００８】しかし、最近は、装置の小型化に伴う結像
光学系の広画角化や低価格化に伴う結像光学系のレンズ
枚数の低減が要求されるようになり、このため、結像光
学系のｆθ特性を小さく抑えることが困難になり、倍率
誤差が大きくなってしまう欠点が生じてきた。

【０００９】上記特開昭６２ー３２７６４号公報記載の
ものでは、クロックの周波数を連続的に変化させるので
、その欠点を解消させることができるが、被走査面上の
１画素づつの走査時間を連続的に変化させる回路が必要
となり、コストの増加となる。

【００１０】また、近年、走査光学装置において、結像
光学系の一部又は全部をプラスチック化する動きが上記
特開平２ー１６１４１０号公報等によりあるが、偏向器
以降の結像光学系をプラスチック化した場合には、結像
光学系がその環境温度の変化による形状変化や屈折率の
変化によってｆθ特性に変化が生じて倍率誤差が変動す
る。

【００１１】また、走査光学装置において、結像光学系
にガラスを用いた場合でも、光源として半導体レーザが
用いられることが多いので、半導体レーザの環境変化に
よる発光波長のズレと、結像光学系の色収差とによって
結像光学系のｆθ特性に変化が生じて倍率誤差が変動す
る。

【００１２】さらに、走査光学装置においては、各部品
の倍率誤差に対する温度の影響の度合いが互いに違うの
で、内部の温度分布により倍率誤差が変動する。

【００１３】本発明は上記欠点を改善し、環境変化や装
置内の温度分布等にかかわらず倍率誤差を補正すること
ができて安価に実現できる走査光学装置の倍率誤差補正
方法を提供することを目的とする。

【００１４】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
、請求項１の発明は、光束を射出する光源と、この光源
からの光束を偏向する偏向器と、この偏向器からの光束
により主走査方向へ走査される被走査面と、前記偏向器
からの光束を前記被走査面に結像させる結像光学系と、
前記被走査面が前記偏向器からの光束により主走査方向
へ走査されるタイミングを決める基本クロックを発生す
るクロック発生部とを有する走査光学装置の倍率誤差補
正方法において、前記被走査面が主走査方向に走査され
る時間を検出し、この時間と基準走査時間との相違によ
り前記基本クロックを制御して前記走査光学装置の倍率
誤差を補正し、請求項２の発明は、請求項１記載の走査
光学装置の倍率誤差補正方法において、前記基本クロッ
クの周波数をアナログ的に制御する制御手段を設け、前
記被走査面が主走査方向に走査される時間を検出し、こ
の時間と基準走査時間との相違により前記制御手段で前
記基本クロックを制御して前記走査光学装置の倍率誤差
を補正し、請求項３の発明では、光束を射出する光源と
、この光源からの光束を回転に伴って偏向する偏向器と
、この偏向器からの光束により主走査方向へ走査され副
走査される被走査面と、前記偏向器からの光束を前記被
走査面に結像させる結像光学系とを有する走査光学装置
の倍率誤差補正方法において、前記被走査面が主走査方
向に走査される時間を検出し、この時間と基準走査時間
との相違により前記偏向器の回転数と前記被走査面の副
走査速度とを制御して前記走査光学装置の倍率誤差を補
正し、請求項４の発明は、光束を射出する光源と、この
光源からの光束を偏向する偏向器と、この偏向器からの
光束により主走査方向へ走査される被走査面と、前記偏
向器からの光束を前記被走査面に結像させる結像光学系
と、前記被走査面が前記偏向器からの光束により主走査
方向へ走査されるタイミングを決める基本クロックを発
生するクロック発生部とを有する走査光学装置の倍率誤
差補正方法において、前記走査光学装置内の温度を温度
検知手段により検知し、この温度検知手段の温度検知信
号により前記基本クロックを制御して前記走査光学装置
の倍率誤差を補正し、請求項５の発明は、請求項４記載
の走査光学装置の倍率誤差補正方法において、前記基本
クロックの周波数をアナログ的に制御する制御手段を設
け、前記走査光学装置内の温度を温度検知手段により検
知し、この温度検知手段の温度検知信号により前記制御
手段で前記基本クロックを制御して前記走査光学装置の
倍率誤差を補正し、請求項６の発明は、光束を射出する
光源と、この光源からの光束を偏向する偏向器と、この
偏向器からの光束により主走査方向へ走査される被走査
面と、前記偏向器からの光束を前記被走査面に結像させ
る結像光学系とを有する走査光学装置の倍率誤差補正方
法において、前記走査光学装置内の温度を温度検知手段
により検知し、この温度検知手段の温度検知信号により
前記偏向器の回転数と前記被走査面の副走査速度とを制
御して前記走査光学装置の倍率誤差を補正し、請求項７
の発明は、前記請求項４又は５又は６において、前記温
度検知手段を前記走査光学装置内の上部及び／又は下部
に配置し、請求項８の発明では、前記請求項４又は５又
は６において、前記走査光学装置の光源がレーザ光源で
あってこのレーザ光源の付近に前記温度検知手段を配置
し、該温度検知手段により前記レーザ光源の温度を検知
し、請求項９の発明では、請求項８において、前記温度
検知手段を前記走査光学装置内の上部及び／又は下部に
配置する。

【００１５】

【実施例】図２および図３は本発明の一実施例で用いた
走査光学装置の概略を示す。レーザ光源１は、半導体レ
ーザとコリメートレンズにより構成され、ほぼ平行な光
束を射出する。このレーザ光源１からの光束は、ビーム
整形用シリンダレンズ２を通り、回転多面鏡からなる偏
向器３の反射面４上に結像されてポリゴンミラー３の回
転で偏向される。ポリゴンミラー３はモータにより矢印
３Ａの方向へ等角速度で回転駆動され、ビーム整形用シ
リンダレンズ２からの光束を等角速度で偏向させる。こ
のポリゴンミラー３で偏向された光束は、アナモフィッ
クなｆθ特性を有する２枚の結像レンズからなる結像光
学系５，６を通って被走査面７を主走査方向へ走査する
。この被走査面７上の両端位置には、センサ８，９が配
置され、結像光学系５，６からの光束を主走査方向の走
査域の両端部にて検知する。結像光学系５，６からの光
束が被走査面７を主走査方向へ走査する時間は、センサ
８，９が結像光学系５，６からの光束を検知する時間の
差に相当する時間となる。また、レーザ光源１の付近、
例えば半導体レーザの端部には、温度センサ１０〜１２
が配置され、この温度センサ１０〜１２は温度を検知し
てこの温度に応じた電圧信号を出力する。さらに、この
走査光学装置内の所定位置、例えば結像光学系５，６の
両端部には、温度センサ１３，１４が配置され、この温
度センサ１３，１４は温度を検知してこの温度に応じた
電圧信号を出力する。

【００１６】この走査光学装置は、前述のようにレーザ
プリンタ，デジタル複写機等に用いられ、被走査面７は
例えば感光体の表面からなる。この感光体はモータによ
り回転駆動されることで副走査され、結像光学系５，６
からの光束により幅方向（主走査方向）へ繰り返して走
査される。

【００１７】図１はこの走査光学装置の回路構成を示す
。演算回路１５はセンサ８，９からの光束検知信号が入
力され、これらの光束検知信号の時間差より結像光学系
５，６からの光束が被走査面７を主走査方向へ走査する
走査時間を演算する。一方、ＲＯＭ１６には結像光学系
５，６からの光束が被走査面７を主走査方向へ走査する
基準走査時間があらかじめ格納されており、演算回路１
５はセンサ８，９からの光束検知信号より演算した実走
査時間を、ＲＯＭ１６に格納されている基準走査時間と
比較してその差を演算する。ここに、ＲＯＭ１６にはク
ロックの基本周波数も複数種類が格納されている。演算
回路１５は実走査時間と基準走査時間との差に応じて、
ＲＯＭ１６内に格納されている複数種類の基本周波数の
中の上記倍率誤差が最小となるような１種類の基本周波
数を選択して読み出し、この基本周波数がＤ／Ａ変換器
１７によりＤ／Ａ変換されてクロック発生部１８へ出力
される。クロック発生部１８はクロックを発生するが、
このクロックの周波数がＤ／Ａ変換器１７からのアナロ
グ信号により補正される。ＬＤ駆動回路１９はクロック
発生部１８からのクロックによりレーザ光源１における
半導体レーザを駆動し、この半導体レーザは画像情報に
より変調回路でオン／オフされて画像信号が乗った光束
を射出する。上記被走査面７は前述のように帯電器によ
り均一に帯電された後にその半導体レーザからの光束に
より主走査方向へ走査されて静電潜像が形成され、この
静電潜像が現像装置により現像されて記録材に転写され
ることによりこの記録材が記録物として外部に排出され
る。

【００１８】図４は上記クロック発生部１８の構成を示
す。位相比較器２０，ローパスフィルタ（ＬＰＦ）２１
，電圧制御発振器（ＶＣＯ）２２およびプログラマブル
ディバイダ２３はＰＬＬ（Ｐｈａｓｅ　Ｌｏｃｋｅｄ　
Ｌｏｏｐ）を構成し、ＶＣＯ２２は入力された制御電圧
に応じた周波数ｆ２で発振する。このＶＣＯ２２の出力
信号はプログラマブルディバイダ２３により分周比ｎで
周波数ｆ２／ｎに分周されて位相比較器２０にて図示し
ない発振器からの一定周波数ｆ１の信号と位相が比較さ
れる。この位相比較器２０の出力信号は発振器からの信
号とプログラマブルディバイダ２３の出力信号との位相
差に応じたものとなり、ＬＰＦ２１により直流電圧に変
換されてＶＣＯ２２に制御電圧として出力される。した
がって、ＶＣＯ２２の発振周波数ｆ２はｆ２＝ｎｆ１と
なる。プログラマブルディバイダ２３はＤ／Ａ変換器１
７からのアナログ信号により分周比ｎが制御され、これ
によりＶＣＯ２２の発振周波数ｆ２が上記倍率誤差が最
小となるように補正される。ＶＣＯ２２からの周波数ｆ
２のクロックはダブルバランスドミキサ２４にて発振器
（ＯＳＣ）２５からの周波数ｆ３のクロックと混合され
、同調器２６により周波数ｆ２＋ｆ３の成分が取り出さ
れてコンパレータ２７により０Ｖで２値化されることに
より周波数ｆ２＋ｆ３のクロックとなってＬＤ駆動回路
１９へそのまま又はＤ／Ａ変換器を介して出力される。 ここに、上記周波数ｆ１は画素クロックの周波数、例え
ば８ＭＨＺの０．１％、つまり８００ＨＺ近辺の周波数
とし、ＶＣＯ２２の発振周波数ｆ２は約２ＭＨＺとなる
。ＯＳＣ２５の発振周波数ｆ３は６ＭＨＺであり、コン
パレータ２７からのクロックの周波数ｆ２＋ｆ３は８Ｍ
ＨＺ近辺となる。

【００１９】なお、演算回路１５はＲＯＭ１６から読み
出した基本周波数をＤ／Ａ変換器１７を介してプログラ
マブルディバイダ２３に出力したが、ＲＯＭ１６から読
み出した基本周波数を直接にプログラマブルディバイダ
２３に出力するようにしてもよい。

【００２０】図５は本発明の他の実施例で用いた走査光
学装置の回路構成を示す。この走査光学装置は上記走査
光学装置において、図４の回路の代りに図５の回路を用
いるようにしたものであり、上記走査光学装置と同一部
分には同一符号が付してある。すなわち、上記走査光学
装置において、演算回路１５，ＲＯＭ１６およびＤ／Ａ
変換器１７の代りに演算回路２８，ＲＯＭ２９およびア
ナログ制御回路３０が用いられ、ＲＯＭ２９には結像光
学系５，６からの光束が被走査面７を主走査方向へ走査
する基準走査時間があらかじめ格納されている。演算回
路２８はセンサ８，９からの光束検知信号より演算した
実走査時間を、ＲＯＭ２９に格納されている基準走査時
間と比較してその走査時間差を演算する。アナログ制御
回路３０は演算回路２８からの走査時間差をこれに応じ
た電圧信号に変換してプログラマブルディバイダ２３に
出力する。このアナログ制御回路３０は例えば、演算回
路２８からの走査時間差の時間だけカウンタをオンさせ
てこのカウンタにクロックをカウントさせ、その各最終
的なカウント信号をＤ／Ａ変換器を介して出力するとい
う従来よりある単純な回路で実現できる。

【００２１】図６は本発明の他の実施例で用いた走査光
学装置の回路構成を示す。この走査光学装置は上記走査
光学装置において、ファジー制御演算回路を用いるよう
にしたものであり、センサ８，９からの光束検知信号が
Ａ／Ｄ変換器３１，３２によりそれぞれＡ／Ｄ変換され
てファジー制御演算回路３３に入力される。また、セン
サ８，９からの光束検知信号がそれぞれＡ／Ｄ変換器３
４，３５によりＡ／Ｄ変換された後にＦＩＦＯメモリ３
６，３７により１回の走査分だけ遅延されてファジー制
御演算回路３３に入力され、かつ図示しない回路から基
準走査時間信号がファジー制御演算回路３３に入力され
る。ファジー制御演算回路３３はＡ／Ｄ変換器３１，３
２からの光束検知信号と，Ａ／Ｄ変換器３４，３５から
の１回走査分だけ後の光束検知信号と，上記基準走査時
間信号とから実走査時間と基準走査時間との差をファジ
ー演算し、これをＤ／Ａ変換器３８を介して上記アナロ
グ制御回路３０へ出力する。

【００２２】なお、上記図５のアナログ制御回路３０に
おいて、実走査時間と基準走査時間との差を演算してク
ロック発生部１８を制御する代りに、偏向器３の回転数
と，被走査面７の副走査速度（感光体の線速）とを制御
するように構成してもよい。また、同様に、上記図６の
アナログ制御回路３０において、実走査時間と基準走査
時間との差を演算してクロック発生部１８を制御する代
りに、偏向器３の回転数と，被走査面７の副走査速度（
感光体の線速）とを制御するように構成してもよい。 さらに、図４，図５の回路において、センサ８，９の付
近で温度センサにより温度を検知することにより装置内
の温度を検知し、その温度検知信号によってクロック発
生部１８の発生クロックを更に制御するようにしてもよ
い。

【００２３】ところで、環境状態の変動、特に温度変動
により上記倍率誤差が生ずる原因ととし大きく３つ考え
られる。その１つ目は結像光学系５，６の形状変化であ
り、２つ目は走査光学系のハウジングの形状変化であり
、３つ目は半導体レーザの発振波長変動である。従って
、これらを補正するために温度センサを設置するのに最
適な場所が存在する。

【００２４】結像光学系５，６の形状変化に対しては、
図２に示すように温度センサ１３，１４を結像光学系５
，６の端部など結像光学系５，６の近辺に設置するのが
望ましい。また、走査光学系のハウジングの形状変化に
対しては、温度センサをそのハウジングの四隅などの複
数個所に設置するのが望ましい。さらに、半導体レーザ
の発振波長変動に対しては、半導体レーザ本体の近辺、
例えば図２に示すように半導体レーザユニットの端部に
温度センサ１０〜１２を設置するのが望ましい。

【００２５】図７は上記走査光学装置における温度補正
回路を示す。演算回路３９は上記温度センサ１０〜１４
からの各電圧信号を図示しない回路からの各基準温度信
号と比較してそれらの差を演算し、これらの差がＡ／Ｄ
変換器４０によりＡ／Ｄ変換されてＲＯＭ４１に書き込
まれる。このＲＯＭ４１はＡ／Ｄ変換器４０から書き込
まれた入力信号非記録時に読み出す。このＲＯＭ４１か
ら読み出された信号はＤ／Ａ変換器４２によりＤ／Ａ変
換され、制御回路４３へ出力される。偏向器駆動回路４
４は偏向器駆動用モータを駆動することにより偏向器３
を例えば４００ｄｐｉで回転させ、感光体駆動回路４５
は感光体駆動用モータを駆動することにより感光体を例
えば線速６３．５ｍｍ／ｓで回転させて被走査面７を副
走査方向へ移動させる。制御回路４３はＤ／Ａ変換器４
２からの入力信号に応じて偏向器駆動回路４４および感
光体駆動回路４５を制御することにより、温度変動によ
る上記倍率誤差が補正されるように偏向器３の回転数と
感光体の線速とを制御する。この場合、偏向器３の回転
数と感光体の線速とは同一の記録物では同一となるよう
に非記録時に制御され、１回の主走査毎に制御されるこ
とによる記録画像の歪が生じない。また、偏向器駆動回
路４４および感光体駆動回路４５は前記クロック発生部
１８と同様にクロック発生部を用いて構成し、このクロ
ック発生部の発生クロックを制御回路４３により制御す
ることで偏向器３の回転数と感光体の線速とを制御する
ようにしてもよい。また、前記温度センサを走査光学装
置内の上部及び／又は下部に配置するようにしてもよい
。

【００２６】図８は上記走査光学装置における有効走査
期間，走査始端信号，クロック制御信号等の関係例を示
す。一般に、電源投入後には、回転多面鏡からなる偏向
器３は低速で回転し、画像記録の待機状態となる。この
待機状態では、クロック制御信号（ＲＥ）が低レベルに
なってその反転信号（ＷＥ）は高レベルになる。クロッ
ク制御信号（ＲＥ），反転信号（ＷＥ）はそれぞれＲＯ
Ｍ４１の信号読み出し可能，信号書き込み可能を選択す
る信号であって、ＲＯＭ４１はクロック制御信号（ＲＥ
）が高レベルのときにはアドレス信号に応じて信号の読
み出しが可能になり、反転信号（ＷＥ）が高レベルのと
きにはＡ／Ｄ変換器４０からの信号がアドレス信号に応
じて書き込み可能になる。このＲＯＭ４１に対する信号
の書き込みは電源投入後に一度行われ、それから１頁の
画像記録が行われる直前毎に行われる。ＲＯＭ４１に対
するアドレス設定は回転多面鏡からなる偏向器３の各面
が光束走査面となる毎にクリアされるカウンタが用いら
れ、このカウンタが回転多面鏡３の各面による光束偏向
で非有効走査期間後の走査始端となる時に発生する走査
始端信号をカウントすることでなされる。この走査始端
信号は非有効走査期間信号で代用してもよ

【００２７】
い。

【発明の効果】以上のように請求項１の発明によれば、
光束を射出する光源と、この光源からの光束を偏向する
偏向器と、この偏向器からの光束により主走査方向へ走
査される被走査面と、前記偏向器からの光束を前記被走
査面に結像させる結像光学系と、前記被走査面が前記偏
向器からの光束により主走査方向へ走査されるタイミン
グを決める基本クロックを発生するクロック発生部とを
有する走査光学装置の倍率誤差補正方法において、前記
被走査面が主走査方向に走査される時間を検出し、この
時間と基準走査時間との相違により前記基本クロックを
制御して前記走査光学装置の倍率誤差を補正するので、
環境が変化しても常に倍率誤差を最小に補正することが
でき、かつ安価に実現できる。

【００２８】また、請求項２の発明によれば、請求項１
記載の走査光学装置の倍率誤差補正方法において、前記
基本クロックの周波数をアナログ的に制御する制御手段
を設け、前記被走査面が主走査方向に走査される時間を
検出し、この時間と基準走査時間との相違により前記制
御手段で前記基本クロックを制御して前記走査光学装置
の倍率誤差を補正するので、環境が変化しても常に倍率
誤差を最小に補正することができ、かつ安価に実現でき
る。

【００２９】請求項３の発明によれば、光束を射出する
光源と、この光源からの光束を回転に伴って偏向する偏
向器と、この偏向器からの光束により主走査方向へ走査
され副走査される被走査面と、前記偏向器からの光束を
前記被走査面に結像させる結像光学系とを有する走査光
学装置の倍率誤差補正方法において、前記被走査面が主
走査方向に走査される時間を検出し、この時間と基準走
査時間との相違により前記偏向器の回転数と前記被走査
面の副走査速度とを制御して前記走査光学装置の倍率誤
差を補正するので、環境が変化しても常に倍率誤差を最
小に補正することができ、かつ安価に実現できる。

【００３０】請求項４の発明によれば、光束を射出する
光源と、この光源からの光束を偏向する偏向器と、この
偏向器からの光束により主走査方向へ走査される被走査
面と、前記偏向器からの光束を前記被走査面に結像させ
る結像光学系と、前記被走査面が前記偏向器からの光束
により主走査方向へ走査されるタイミングを決める基本
クロックを発生するクロック発生部とを有する走査光学
装置の倍率誤差補正方法において、前記走査光学装置内
の温度を温度検知手段により検知し、この温度検知手段
の温度検知信号により前記基本クロックを制御して前記
走査光学装置の倍率誤差を補正するので、装置内の温度
分布が変化してもより細かく倍率誤差を補正することが
でき、かつ安価に実現できる。

【００３１】請求項５の発明によれば、請求項４記載の
走査光学装置の倍率誤差補正方法において、前記基本ク
ロックの周波数をアナログ的に制御する制御手段を設け
、前記走査光学装置内の温度を温度検知手段により検知
し、この温度検知手段の温度検知信号により前記制御手
段で前記基本クロックを制御して前記走査光学装置の倍
率誤差を補正するので、装置内の温度分布が変化しても
より細かく倍率誤差を補正することができ、かつ安価に
実現できる。

【００３２】請求項６の発明によれば、光束を射出する
光源と、この光源からの光束を偏向する偏向器と、この
偏向器からの光束により主走査方向へ走査される被走査
面と、前記偏向器からの光束を前記被走査面に結像させ
る結像光学系とを有する走査光学装置の倍率誤差補正方
法において、前記走査光学装置内の温度を温度検知手段
により検知し、この温度検知手段の温度検知信号により
前記偏向器の回転数と前記被走査面の副走査速度とを制
御して前記走査光学装置の倍率誤差を補正するので、装
置内の温度分布が変化してもより細かく倍率誤差を補正
することができ、かつ安価に実現できる。

【００３３】請求項７の発明によれば、前記請求項４又
は５又は６において、前記温度検知手段を前記走査光学
装置内の上部及び／又は下部に配置するので、装置内の
温度分布が変化してもより細かく倍率誤差を補正するこ
とができ、かつ安価に実現できる。

【００３４】請求項８によれば、前記請求項４又は５又
は６において、前記走査光学装置の光源がレーザ光源で
あってこのレーザ光源の付近に前記温度検知手段を配置
し、該温度検知手段により前記レーザ光源の温度を検知
するので、装置内の温度分布が変化してもより細かく倍
率誤差を補正することができ、かつ安価に実現できる。

【００３５】請求項９の発明によれば、請求項８におい
て、前記温度検知手段を前記走査光学装置内の上部及び
／又は下部に配置するので、装置内の温度分布が変化し
てもより細かく倍率誤差を補正することができ、かつ安
価に実現できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例で用いた走査光学装置の回路
構成を示すブロック図である。

【図２】同走査光学装置の概略を示す斜視図である。

【図３】同走査光学装置の概略を示す正面図である。

【図４】同走査光学装置におけるクロック発生部の構成
を示すブロック図である。

【図５】本発明の他の実施例で用いた走査光学装置の回
路構成を示すブロック図である。

【図６】本発明の他の実施例で用いた走査光学装置の回
路構成を示すブロック図である。

【図７】上記走査光学装置における温度補正回路を示す
ブロック図である。

【図８】同温度補正回路のタイミングチャートである。

【符号の説明】

８，９　　　　　　センサ １５　　　　　　演算回路 １６　　　　　　ＲＯＭ １７　　　　　　Ｄ／Ａ変換器 １８　　　　　　クロック発生部 １９　　　　　　ＬＤ駆動回路

Claims (9)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】光束を射出する光源と、この光源からの光
   束を偏向する偏向器と、この偏向器からの光束により主
   走査方向へ走査される被走査面と、前記偏向器からの光
   束を前記被走査面に結像させる結像光学系と、前記被走
   査面が前記偏向器からの光束により主走査方向へ走査さ
   れるタイミングを決める基本クロックを発生するクロッ
   ク発生部とを有する走査光学装置の倍率誤差補正方法に
   おいて、前記被走査面が主走査方向に走査される時間を
   検出し、この時間と基準走査時間との相違により前記基
   本クロックを制御して前記走査光学装置の倍率誤差を補
   正することを特徴とする走査光学装置の倍率誤差補正方
   法。
2. 【請求項２】請求項１記載の走査光学装置の倍率誤差補
   正方法において、前記基本クロックの周波数をアナログ
   的に制御する制御手段を設け、前記被走査面が主走査方
   向に走査される時間を検出し、この時間と基準走査時間
   との相違により前記制御手段で前記基本クロックを制御
   して前記走査光学装置の倍率誤差を補正することを特徴
   とする走査光学装置の倍率誤差補正方法。
3. 【請求項３】光束を射出する光源と、この光源からの光
   束を回転に伴って偏向する偏向器と、この偏向器からの
   光束により主走査方向へ走査され副走査される被走査面
   と、前記偏向器からの光束を前記被走査面に結像させる
   結像光学系とを有する走査光学装置の倍率誤差補正方法
   において、前記被走査面が主走査方向に走査される時間
   を検出し、この時間と基準走査時間との相違により前記
   偏向器の回転数と前記被走査面の副走査速度とを制御し
   て前記走査光学装置の倍率誤差を補正することを特徴と
   する走査光学装置の倍率誤差補正方法。
4. 【請求項４】光束を射出する光源と、この光源からの光
   束を偏向する偏向器と、この偏向器からの光束により主
   走査方向へ走査される被走査面と、前記偏向器からの光
   束を前記被走査面に結像させる結像光学系と、前記被走
   査面が前記偏向器からの光束により主走査方向へ走査さ
   れるタイミングを決める基本クロックを発生するクロッ
   ク発生部とを有する走査光学装置の倍率誤差補正方法に
   おいて、前記走査光学装置内の温度を温度検知手段によ
   り検知し、この温度検知手段の温度検知信号により前記
   基本クロックを制御して前記走査光学装置の倍率誤差を
   補正することを特徴とする走査光学装置の倍率誤差補正
   方法。
5. 【請求項５】請求項４記載の走査光学装置の倍率誤差補
   正方法において、前記基本クロックの周波数をアナログ
   的に制御する制御手段を設け、前記走査光学装置内の温
   度を温度検知手段により検知し、この温度検知手段の温
   度検知信号により前記制御手段で前記基本クロックを制
   御して前記走査光学装置の倍率誤差を補正することを特
   徴とする走査光学装置の倍率誤差補正方法。
6. 【請求項６】光束を射出する光源と、この光源からの光
   束を偏向する偏向器と、この偏向器からの光束により主
   走査方向へ走査される被走査面と、前記偏向器からの光
   束を前記被走査面に結像させる結像光学系とを有する走
   査光学装置の倍率誤差補正方法において、前記走査光学
   装置内の温度を温度検知手段により検知し、この温度検
   知手段の温度検知信号により前記偏向器の回転数と前記
   被走査面の副走査速度とを制御して前記走査光学装置の
   倍率誤差を補正することを特徴とする走査光学装置の倍
   率誤差補正方法。
7. 【請求項７】前記請求項４又は５又は６において、前記
   温度検知手段を前記走査光学装置内の上部及び／又は下
   部に配置することを特徴とする走査光学装置の倍率誤差
   補正方法。
8. 【請求項８】前記請求項４又は５又は６において、前記
   走査光学装置の光源がレーザ光源であってこのレーザ光
   源の付近に前記温度検知手段を配置し、該温度検知手段
   により前記レーザ光源の温度を検知することを特徴とす
   る走査光学装置の倍率誤差補正方法。
9. 【請求項９】請求項８において、前記温度検知手段を前
   記走査光学装置内の上部及び／又は下部に配置すること
   を特徴とする走査光学装置の倍率誤差補正方法。