JPH04329875A - スパッタデポジション装置 - Google Patents
スパッタデポジション装置Info
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- JPH04329875A JPH04329875A JP9852391A JP9852391A JPH04329875A JP H04329875 A JPH04329875 A JP H04329875A JP 9852391 A JP9852391 A JP 9852391A JP 9852391 A JP9852391 A JP 9852391A JP H04329875 A JPH04329875 A JP H04329875A
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- field generating
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、スパッタデポジション
装置に係り、特に、大面積にわたって均一、かつ、高密
度のプラズマを形成するのに適したスパッタデポジショ
ン装置に関する。
装置に係り、特に、大面積にわたって均一、かつ、高密
度のプラズマを形成するのに適したスパッタデポジショ
ン装置に関する。
【0002】
【従来の技術】スパッタデポジション技術は、種々の材
料の薄膜形成手段の1つとして、半導体工業を始め、殆
ど全ての分野で広く利用されるようになってきている。 しかし、ターゲットから放出される負イオン、δ電子な
どによる基板衝撃など多くの問題がある。一般には、良
く知られているようなマグネトロンスパッタ法や対向ス
パッタ法などが多く用いられている。
料の薄膜形成手段の1つとして、半導体工業を始め、殆
ど全ての分野で広く利用されるようになってきている。 しかし、ターゲットから放出される負イオン、δ電子な
どによる基板衝撃など多くの問題がある。一般には、良
く知られているようなマグネトロンスパッタ法や対向ス
パッタ法などが多く用いられている。
【0003】ところが、これらの方法は、δ電子をトラ
ップするために、電極の背面に設けた磁場発生手段によ
って、百ないし数百ガウスの磁場を形成しておく必要が
ある。これらの磁場はターゲット近傍だけにとどまらず
、成膜基板面にも影響を及ぼし、特に、磁性膜を形成す
る際に、その磁性膜の磁区の形成方向に大きく影響する
。さらに、スループットを上げるために、電極を大きく
したり、電極間距離を拡げたりすると、より大きな磁界
発生装置が必要となり、この結果、周囲に大きく磁場の
影響を及ぼす。一方、基板上に形成される膜の内部応力
の低減も重要な課題である。
ップするために、電極の背面に設けた磁場発生手段によ
って、百ないし数百ガウスの磁場を形成しておく必要が
ある。これらの磁場はターゲット近傍だけにとどまらず
、成膜基板面にも影響を及ぼし、特に、磁性膜を形成す
る際に、その磁性膜の磁区の形成方向に大きく影響する
。さらに、スループットを上げるために、電極を大きく
したり、電極間距離を拡げたりすると、より大きな磁界
発生装置が必要となり、この結果、周囲に大きく磁場の
影響を及ぼす。一方、基板上に形成される膜の内部応力
の低減も重要な課題である。
【0004】これらに対応する方法として、良く知られ
ている2極電極を用いるコンベンショナルスパッタ法が
、例えば、磁性膜及び磁性膜の保護用膜の形成のために
用いられている。
ている2極電極を用いるコンベンショナルスパッタ法が
、例えば、磁性膜及び磁性膜の保護用膜の形成のために
用いられている。
【0005】ところが、上記コンベンショナルスパッタ
デポジション装置を用いた場合は、成膜速度については
、他法に比べ十分ではない。この原因は、2極電極間に
形成された放電プラズマの拡散を制限することが難しく
、プラズマの密度がうすくなるからである。この結果、
上記マグネトロン法などと比べても、数分の1程度のス
パッタ速度しか得られずに、スループットが低いという
問題がある。
デポジション装置を用いた場合は、成膜速度については
、他法に比べ十分ではない。この原因は、2極電極間に
形成された放電プラズマの拡散を制限することが難しく
、プラズマの密度がうすくなるからである。この結果、
上記マグネトロン法などと比べても、数分の1程度のス
パッタ速度しか得られずに、スループットが低いという
問題がある。
【0006】そこで、電極の大型化により処理能力の向
上が考えられたが、電極の大型化によって、二つの電極
に挾まれて形成される領域から外側へのプラズマの拡散
が著しくなり、プラズマの閉じ込め効率が低下するため
に、成膜レートが低下するとともに、電極の中心部と周
辺部とにおける膜厚分布の差が大きくなるなどの問題が
ある。
上が考えられたが、電極の大型化によって、二つの電極
に挾まれて形成される領域から外側へのプラズマの拡散
が著しくなり、プラズマの閉じ込め効率が低下するため
に、成膜レートが低下するとともに、電極の中心部と周
辺部とにおける膜厚分布の差が大きくなるなどの問題が
ある。
【0007】上記問題を解決するための技術としては、
特願昭62−19369に係る明細書に記載の技術があ
る。この技術は、電極背部に磁石を配置し、プラズマの
拡散を防止する対向ターゲットスパッタ法である。しか
し、この方法では、磁束が2つの電極に対して垂直方向
に形成され、基板面に、垂直方向の磁場を印加したまま
成膜することになるので、磁性膜等の形成には適当でな
い。
特願昭62−19369に係る明細書に記載の技術があ
る。この技術は、電極背部に磁石を配置し、プラズマの
拡散を防止する対向ターゲットスパッタ法である。しか
し、この方法では、磁束が2つの電極に対して垂直方向
に形成され、基板面に、垂直方向の磁場を印加したまま
成膜することになるので、磁性膜等の形成には適当でな
い。
【0008】また、、US.Pat.3,669,86
0、および、4,673,482に示される技術は、真
空容器内において、ヨークを基板の周囲に配置し、基板
面と平行な磁場を基板面に印加しつつ、成膜させようと
するものである。
0、および、4,673,482に示される技術は、真
空容器内において、ヨークを基板の周囲に配置し、基板
面と平行な磁場を基板面に印加しつつ、成膜させようと
するものである。
【0009】また、特開平2ー163373号公報に記
載の技術がある。この技術は、ターゲット電極と基板電
極とに挾まれて形成される空間の外周面近傍に、互いに
異なる磁性の磁気装置を周方向に交互に複数設ける技術
である。
載の技術がある。この技術は、ターゲット電極と基板電
極とに挾まれて形成される空間の外周面近傍に、互いに
異なる磁性の磁気装置を周方向に交互に複数設ける技術
である。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】上記特開平2ー163
373号公報に記載の技術では、ターゲット電極と基板
電極とに挾まれて形成される空間の外周面近傍に配置さ
れた磁気装置によってカスプを形成し、この空間の外周
面の中央近傍におけるプラズマの拡散を防止することは
できる。しかし、この磁気装置とターゲット電極との間
、および、この磁気装置と基板電極との間にはカスプは
形成されないので、プラズマの拡散を防止することはで
きない。
373号公報に記載の技術では、ターゲット電極と基板
電極とに挾まれて形成される空間の外周面近傍に配置さ
れた磁気装置によってカスプを形成し、この空間の外周
面の中央近傍におけるプラズマの拡散を防止することは
できる。しかし、この磁気装置とターゲット電極との間
、および、この磁気装置と基板電極との間にはカスプは
形成されないので、プラズマの拡散を防止することはで
きない。
【0011】本発明の目的は、基板に磁場の影響を与え
ることなく、プラズマの閉じ込め効率を向上させて、二
電極間の放電空間のプラズマ密度を均一にするスパッタ
デポジション装置を提供することにある。
ることなく、プラズマの閉じ込め効率を向上させて、二
電極間の放電空間のプラズマ密度を均一にするスパッタ
デポジション装置を提供することにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記目的は、ターゲット
電極と、このターゲット電極に対向配置された基板電極
とを備えたスパッタデポジション装置において、上記タ
ーゲット電極の外周部近傍に配置される第1の磁場発生
手段と、上記基板電極の外周部近傍に配置される第2の
磁場発生手段と、上記ターゲット電極と基板電極とに挾
まれて形成される空間の外周面近傍における、上記2つ
の電極の中間の位置に、この外周面に沿って配置される
第3の磁場発生手段とを備えて構成され、上記第3の磁
場発生手段の磁極の極性と、この第3の磁場発生手段の
磁極に対向する上記第1および第2の磁場発生手段の磁
極の極性とは、互いに異なるスパッタデポジション装置
によって達成できる。
電極と、このターゲット電極に対向配置された基板電極
とを備えたスパッタデポジション装置において、上記タ
ーゲット電極の外周部近傍に配置される第1の磁場発生
手段と、上記基板電極の外周部近傍に配置される第2の
磁場発生手段と、上記ターゲット電極と基板電極とに挾
まれて形成される空間の外周面近傍における、上記2つ
の電極の中間の位置に、この外周面に沿って配置される
第3の磁場発生手段とを備えて構成され、上記第3の磁
場発生手段の磁極の極性と、この第3の磁場発生手段の
磁極に対向する上記第1および第2の磁場発生手段の磁
極の極性とは、互いに異なるスパッタデポジション装置
によって達成できる。
【0013】上記第1,2および3の磁場発生手段の全
てを永久磁石としてもよいし、または、少なくとも1つ
を永久磁石としてもよい。
てを永久磁石としてもよいし、または、少なくとも1つ
を永久磁石としてもよい。
【0014】
【作用】第1の磁場発生手段の磁極と、第3の磁場発生
手段の磁極との間に、磁力線が集中する。同様に、第2
の磁場発生手段の磁極と、第3の磁場発生手段の磁極と
の間に、磁力線が集中する。この結果、ターゲット電極
と基板電極とに挾まれて形成される空間の外周面近傍に
は、カスプ状の磁場が形成される。このため、放電空間
内で生成されるプラズマ中の電子およびイオンが外側へ
拡散していこうとすると、電子およびイオンの運動方向
と、この運動方向に垂直なカスプ磁場成分の方向の両者
に垂直な方向に、上記の電子およびイオンは磁場から力
を受け、運動方向を曲げられるので、拡散しにくくなる
とともに、プラズマの再電離を促し、電極外周部近傍部
でのプラズマ密度の急激な低下を防ぎ、かつ、成膜空間
でのプラズマ密度を向上させることができる。この結果
、成膜速度が向上し、スループットがよくなる。
手段の磁極との間に、磁力線が集中する。同様に、第2
の磁場発生手段の磁極と、第3の磁場発生手段の磁極と
の間に、磁力線が集中する。この結果、ターゲット電極
と基板電極とに挾まれて形成される空間の外周面近傍に
は、カスプ状の磁場が形成される。このため、放電空間
内で生成されるプラズマ中の電子およびイオンが外側へ
拡散していこうとすると、電子およびイオンの運動方向
と、この運動方向に垂直なカスプ磁場成分の方向の両者
に垂直な方向に、上記の電子およびイオンは磁場から力
を受け、運動方向を曲げられるので、拡散しにくくなる
とともに、プラズマの再電離を促し、電極外周部近傍部
でのプラズマ密度の急激な低下を防ぎ、かつ、成膜空間
でのプラズマ密度を向上させることができる。この結果
、成膜速度が向上し、スループットがよくなる。
【0015】
【実施例】次に、本発明の第1実施例を、図1,2を用
いて説明する。図1は、第1実施例に係るスパッタデポ
ジション装置100の断面図である。同図に示すように
、真空容器1内には、主にターゲット2を保持し、スパ
ッタ放電を行なわせる際には陰極となるターゲット電極
3と、成膜される基板4を保持し、スパッタ放電を行な
わせる際に陽極となる基板電極5とが、対向して配置収
納されている。
いて説明する。図1は、第1実施例に係るスパッタデポ
ジション装置100の断面図である。同図に示すように
、真空容器1内には、主にターゲット2を保持し、スパ
ッタ放電を行なわせる際には陰極となるターゲット電極
3と、成膜される基板4を保持し、スパッタ放電を行な
わせる際に陽極となる基板電極5とが、対向して配置収
納されている。
【0016】ターゲット電極3と基板電極5とは、それ
ぞれ、絶縁物11、12によって、真空容器1と絶縁さ
れている。マッチングボックス21、23を介して、高
周波電源22、24からスパッタ電力が供給される。ス
パッタ用の電極は、成膜材料によっては、高周波電源で
なく直流電源でもよい。また、基板電極は、直接接地し
てもよい。
ぞれ、絶縁物11、12によって、真空容器1と絶縁さ
れている。マッチングボックス21、23を介して、高
周波電源22、24からスパッタ電力が供給される。ス
パッタ用の電極は、成膜材料によっては、高周波電源で
なく直流電源でもよい。また、基板電極は、直接接地し
てもよい。
【0017】スパッタ用ガスは、ガス導入口6より真空
容器内に導入される。真空容器内のガスは、真空容器の
排気部に取付けたゲート弁8を介して取付けたクライオ
ポンプ9により排気される。
容器内に導入される。真空容器内のガスは、真空容器の
排気部に取付けたゲート弁8を介して取付けたクライオ
ポンプ9により排気される。
【0018】本実施例の特徴は、図1に示すように、上
記ターゲット電極3の外周部近傍に配置する磁場発生手
段30と、基板電極5の外周部近傍に配置する磁場発生
手段31と、上記ターゲット電極3と基板電極5とに挾
まれて形成される空間の外周面近傍における、上記2つ
の電極の中間の位置に、この外周面に沿って配置される
磁場発生手段32とにある。磁場発生手段としては、永
久磁石を用いてもよい。また、磁場発生手段30、31
は、それぞれ、電極3、5の外周部近傍の電極内部でも
、外部でもいずれでも構わない。効率の点からは、内部
の方が好ましい。
記ターゲット電極3の外周部近傍に配置する磁場発生手
段30と、基板電極5の外周部近傍に配置する磁場発生
手段31と、上記ターゲット電極3と基板電極5とに挾
まれて形成される空間の外周面近傍における、上記2つ
の電極の中間の位置に、この外周面に沿って配置される
磁場発生手段32とにある。磁場発生手段としては、永
久磁石を用いてもよい。また、磁場発生手段30、31
は、それぞれ、電極3、5の外周部近傍の電極内部でも
、外部でもいずれでも構わない。効率の点からは、内部
の方が好ましい。
【0019】また、上記磁場発生手段30、31、32
の磁極の極性は、対向する磁極については、異なるよう
にする。例えば、図1に示すように、磁場発生手段32
の内側の磁極をN極にすれば、外側の磁極はS極とする
。磁場発生手段32は、周方向に同一磁極であることが
必要である。このようにするのは、磁場発生手段30、
31からの磁力線の磁路33(図1において破線で示す
。)を、磁場発生手段32の磁極に集めさせるためであ
る。
の磁極の極性は、対向する磁極については、異なるよう
にする。例えば、図1に示すように、磁場発生手段32
の内側の磁極をN極にすれば、外側の磁極はS極とする
。磁場発生手段32は、周方向に同一磁極であることが
必要である。このようにするのは、磁場発生手段30、
31からの磁力線の磁路33(図1において破線で示す
。)を、磁場発生手段32の磁極に集めさせるためであ
る。
【0020】次に、磁場発生手段32の形状を、図2を
用いて説明する。図2は、磁場発生手段32の斜視図で
ある。磁場発生手段32の形状は、図2(a)、(d)
に示すように、中空円板状でもよく、同図(b)、(e
)に示すように、円環状でもよく、また、同図(c)に
示すように、複数の磁石の組合せた状態の集合体であっ
て、(a)ないし(b)のような形状となっているもの
でもよい。
用いて説明する。図2は、磁場発生手段32の斜視図で
ある。磁場発生手段32の形状は、図2(a)、(d)
に示すように、中空円板状でもよく、同図(b)、(e
)に示すように、円環状でもよく、また、同図(c)に
示すように、複数の磁石の組合せた状態の集合体であっ
て、(a)ないし(b)のような形状となっているもの
でもよい。
【0021】次に、本実施例に係るスパッタデポジショ
ン装置100を用いて、成膜をする場合の作用について
、図8によって説明する。図8は、磁場発生手段30、
31、32の作用を示す説明図であり、図1に示すスパ
ッタデポジション装置100の右半分の磁場分布の例で
ある。破線33は等磁位線であり、磁力線の向きを示す
で示す。
ン装置100を用いて、成膜をする場合の作用について
、図8によって説明する。図8は、磁場発生手段30、
31、32の作用を示す説明図であり、図1に示すスパ
ッタデポジション装置100の右半分の磁場分布の例で
ある。破線33は等磁位線であり、磁力線の向きを示す
で示す。
【0022】プラズマを形成するには、まず、ターゲッ
ト電極3と基板電極5とに挾まれて形成される空間(放
電空間10という。)に、ガス導入口6から放電用ガス
を供給する。そして、スパッタ用高周波電源22、24
によって、上記2つの電極3、5に電圧を印加すること
により、放電空間10内には、放電プラズマが誘起され
る。
ト電極3と基板電極5とに挾まれて形成される空間(放
電空間10という。)に、ガス導入口6から放電用ガス
を供給する。そして、スパッタ用高周波電源22、24
によって、上記2つの電極3、5に電圧を印加すること
により、放電空間10内には、放電プラズマが誘起され
る。
【0023】このとき、従来のコンベンショナルタイプ
の電極間放電では、放電プラズマ密度は、中心より半径
方向外側に進むにつれて、急速に減少する。従って、こ
のために形成される膜も、中心ほど厚く、外側ほど薄く
なり、この傾向は投入パワー密度を上げるほど顕著とな
る傾向にある。
の電極間放電では、放電プラズマ密度は、中心より半径
方向外側に進むにつれて、急速に減少する。従って、こ
のために形成される膜も、中心ほど厚く、外側ほど薄く
なり、この傾向は投入パワー密度を上げるほど顕著とな
る傾向にある。
【0024】しかし、本実施例に係るスパッタデポジシ
ョン装置100においては、図8に示すように、放電空
間10の外周部近傍部に磁力線の壁が形成されているの
で、放電空間10内で生成されたプラズマの放電空間1
0外への拡散を防止できる。その結果、放電空間10内
のプラズマ密度分布を均一にすることができるので、形
成される膜の均一性も良好となる。
ョン装置100においては、図8に示すように、放電空
間10の外周部近傍部に磁力線の壁が形成されているの
で、放電空間10内で生成されたプラズマの放電空間1
0外への拡散を防止できる。その結果、放電空間10内
のプラズマ密度分布を均一にすることができるので、形
成される膜の均一性も良好となる。
【0025】次に、本発明の第2実施例について、図3
を用いて説明する。図3は、第2実施例に係るスパッタ
デポジション装置200の断面図である。本実施例に係
るスパッタデポジション装置200の基本構成は、図1
に示す第1実施例に係るスパッタデポジション装置10
0の基本構成と同じであるので、その説明は省略する。 本実施例に係るスパッタデポジション装置200の特徴
は、磁場発生手段を配置した位置と、磁路材を設ける点
にある。
を用いて説明する。図3は、第2実施例に係るスパッタ
デポジション装置200の断面図である。本実施例に係
るスパッタデポジション装置200の基本構成は、図1
に示す第1実施例に係るスパッタデポジション装置10
0の基本構成と同じであるので、その説明は省略する。 本実施例に係るスパッタデポジション装置200の特徴
は、磁場発生手段を配置した位置と、磁路材を設ける点
にある。
【0026】磁石等の磁場発生手段35は、図3に示す
ように、真空容器1の外壁面近傍における、2つの電極
3、5の中間の位置に、この外壁面に沿って配置される
。また、図3に示すように、放電空間10の外周部近傍
部に、図8に示すような磁力線の壁が形成されるように
、磁路材39、40、41、42、50をヨークとして
用いる。磁路材39は、真空容器1の外壁に沿って設け
られている。また、磁路材40は、磁路材39と、基板
電極5の外周部近傍に配置された磁路材50とを磁気的
に接続する位置に配置する。また、磁路材41は、磁路
材39と、ターゲット電極3の外周部近傍に配置された
磁路材50とを磁気的の接続する位置に配置する。また
、磁路材40は、真空室の外側に配置した磁場発生手段
35と、磁路材50とを磁気的に接続する位置に配置す
る。
ように、真空容器1の外壁面近傍における、2つの電極
3、5の中間の位置に、この外壁面に沿って配置される
。また、図3に示すように、放電空間10の外周部近傍
部に、図8に示すような磁力線の壁が形成されるように
、磁路材39、40、41、42、50をヨークとして
用いる。磁路材39は、真空容器1の外壁に沿って設け
られている。また、磁路材40は、磁路材39と、基板
電極5の外周部近傍に配置された磁路材50とを磁気的
に接続する位置に配置する。また、磁路材41は、磁路
材39と、ターゲット電極3の外周部近傍に配置された
磁路材50とを磁気的の接続する位置に配置する。また
、磁路材40は、真空室の外側に配置した磁場発生手段
35と、磁路材50とを磁気的に接続する位置に配置す
る。
【0027】本実施例に係るスパッタデポジション装置
200における磁場発生手段35からの磁力線51の作
用は、放電空間10内で生成されたプラズマを閉じ込め
る点で、第1実施例に係るスパッタデポジション装置1
00の場合と同様であるので、その説明は省略する。
200における磁場発生手段35からの磁力線51の作
用は、放電空間10内で生成されたプラズマを閉じ込め
る点で、第1実施例に係るスパッタデポジション装置1
00の場合と同様であるので、その説明は省略する。
【0028】本実施例に係るスパッタデポジション装置
200の特有の効果としては、磁場発生手段35を真空
室1外に配置し、真空室内1には磁路材39等を用いた
ので、磁場発生手段35はプラズマの影響を受けること
が無く、熱による磁場発生手段35の劣化などを防止で
きるという点がある。
200の特有の効果としては、磁場発生手段35を真空
室1外に配置し、真空室内1には磁路材39等を用いた
ので、磁場発生手段35はプラズマの影響を受けること
が無く、熱による磁場発生手段35の劣化などを防止で
きるという点がある。
【0029】次に、本発明の第3実施例について、図4
を用いて説明する。図4は、第3実施例に係るスパッタ
デポジション装置300の断面図である。本実施例に係
るスパッタデポジション装置300の基本構成は、図3
に示す第2実施例に係るスパッタデポジション装置20
0の基本構成と同じであるので、その説明は省略する。 本実施例に係るスパッタデポジション装置300の特徴
は、磁場発生手段としてコイル36を用いた点にある。 コイル36は、図4に示すように、真空容器1の外壁に
沿って配置する。
を用いて説明する。図4は、第3実施例に係るスパッタ
デポジション装置300の断面図である。本実施例に係
るスパッタデポジション装置300の基本構成は、図3
に示す第2実施例に係るスパッタデポジション装置20
0の基本構成と同じであるので、その説明は省略する。 本実施例に係るスパッタデポジション装置300の特徴
は、磁場発生手段としてコイル36を用いた点にある。 コイル36は、図4に示すように、真空容器1の外壁に
沿って配置する。
【0030】コイル36を磁場発生手段として用いる結
果、コイル電源42の電流値を変化させるだけで、起磁
力を容易に可変できるので、カスプ磁場34の強さを、
放電条件に応じて容易に変更できる。
果、コイル電源42の電流値を変化させるだけで、起磁
力を容易に可変できるので、カスプ磁場34の強さを、
放電条件に応じて容易に変更できる。
【0031】この第4実施例に係るスパッタデポジショ
ン装置300を用いた実験例を次に示す。図4に示すよ
うに、放電空間10の外周部近傍にカスプ磁場を設ける
ことにより、成膜速度を300Å/minから520Å
/minへと約70%の高速化が可能となった。また、
8インチターゲット径で、成膜分布がφ160の範囲で
±19%から±3%になり、同じく3%内均一分布領域
が2.5倍以上に増えた。
ン装置300を用いた実験例を次に示す。図4に示すよ
うに、放電空間10の外周部近傍にカスプ磁場を設ける
ことにより、成膜速度を300Å/minから520Å
/minへと約70%の高速化が可能となった。また、
8インチターゲット径で、成膜分布がφ160の範囲で
±19%から±3%になり、同じく3%内均一分布領域
が2.5倍以上に増えた。
【0032】次に、本発明の第4実施例について、図5
を用いて説明する。図5は、第4実施例に係るスパッタ
デポジション装置400の断面図である。本実施例に係
るスパッタデポジション装置400の基本構成は、図4
に示す第3実施例に係るスパッタデポジション装置30
0の基本構成と同じであるので、その説明は省略する。 本実施例に係るスパッタデポジション装置400の特徴
は、磁場発生手段として用いるコイル37、38を、図
5に示すように、ターゲット電極側磁路用コイル37と
基板電極側磁路用コイル38とに分け、それぞれコイル
電源44、45にて独自に調節可能とした点にある。
を用いて説明する。図5は、第4実施例に係るスパッタ
デポジション装置400の断面図である。本実施例に係
るスパッタデポジション装置400の基本構成は、図4
に示す第3実施例に係るスパッタデポジション装置30
0の基本構成と同じであるので、その説明は省略する。 本実施例に係るスパッタデポジション装置400の特徴
は、磁場発生手段として用いるコイル37、38を、図
5に示すように、ターゲット電極側磁路用コイル37と
基板電極側磁路用コイル38とに分け、それぞれコイル
電源44、45にて独自に調節可能とした点にある。
【0033】このように磁場発生手段とするコイルを上
下2系統に分けた場合の磁力線について説明する。破線
55は、コイル電源44とターゲット電極側磁路用コイ
ル37とによって、磁路材56内に励起される磁束の磁
力線を示す。同様に、コイル電源45と基板電極側磁路
用コイル38とによっても、磁束が励起される。すなわ
ち、上、下コイル37、38の強さを、電源44、45
によって、独自に調整可能なので、種々のプロセスモー
ドに応じた磁場形状と磁束密度とを得ることができる。 また、プロセス条件に応じて、放電状態を監視し、調整
が可能である。
下2系統に分けた場合の磁力線について説明する。破線
55は、コイル電源44とターゲット電極側磁路用コイ
ル37とによって、磁路材56内に励起される磁束の磁
力線を示す。同様に、コイル電源45と基板電極側磁路
用コイル38とによっても、磁束が励起される。すなわ
ち、上、下コイル37、38の強さを、電源44、45
によって、独自に調整可能なので、種々のプロセスモー
ドに応じた磁場形状と磁束密度とを得ることができる。 また、プロセス条件に応じて、放電状態を監視し、調整
が可能である。
【0034】次に、本発明の第5実施例について、図6
を用いて説明する。図6は、第5実施例に係るスパッタ
デポジション装置500の断面図である。本実施例に係
るスパッタデポジション装置500の基本構成は、図1
に示す第1実施例に係るスパッタデポジション装置10
0の基本構成と同じであるので、その説明は省略する。 本実施例に係るスパッタデポジション装置500の特徴
は、カソード側磁場発生手段を、スパッタリング用マグ
ネットで兼用させた点にある。図6に示すように、カソ
ード側磁場発生手段としてターゲット電極3の外周部近
傍(図6では、磁場発生手段を強調して示したので、外
周部近傍に示されていない。)に、2つの永久磁石61
、62等の磁場発生手段を配置する。
を用いて説明する。図6は、第5実施例に係るスパッタ
デポジション装置500の断面図である。本実施例に係
るスパッタデポジション装置500の基本構成は、図1
に示す第1実施例に係るスパッタデポジション装置10
0の基本構成と同じであるので、その説明は省略する。 本実施例に係るスパッタデポジション装置500の特徴
は、カソード側磁場発生手段を、スパッタリング用マグ
ネットで兼用させた点にある。図6に示すように、カソ
ード側磁場発生手段としてターゲット電極3の外周部近
傍(図6では、磁場発生手段を強調して示したので、外
周部近傍に示されていない。)に、2つの永久磁石61
、62等の磁場発生手段を配置する。
【0035】上記2つの永久磁石61、62の作用につ
いて説明する。この永久磁石61のS極からは、永久磁
石62のN極へ磁束が向くとともに、永久磁石61のN
極へも磁束64が向く。この永久磁石61のS極からN
極へ向く磁束64は漏洩磁束とよばれ、マグネトロン磁
場には寄与しない。しかし、図6に示す位置に永久磁石
63を配置することにより、この漏洩磁束64の一部を
集めることができるので、放電空間10の外周部近傍に
磁気の壁を形成できる。この結果、放電空間10内で形
成されたプラズマが、放電空間10の外側へ拡散するこ
とを防止できる。
いて説明する。この永久磁石61のS極からは、永久磁
石62のN極へ磁束が向くとともに、永久磁石61のN
極へも磁束64が向く。この永久磁石61のS極からN
極へ向く磁束64は漏洩磁束とよばれ、マグネトロン磁
場には寄与しない。しかし、図6に示す位置に永久磁石
63を配置することにより、この漏洩磁束64の一部を
集めることができるので、放電空間10の外周部近傍に
磁気の壁を形成できる。この結果、放電空間10内で形
成されたプラズマが、放電空間10の外側へ拡散するこ
とを防止できる。
【0036】また、上記効果を増すためには、永久磁石
61の発生磁束を、永久磁石62の発生磁石より大きく
しておくことが必要である。
61の発生磁束を、永久磁石62の発生磁石より大きく
しておくことが必要である。
【0037】次に、本発明の第6実施例について、図7
を用いて説明する。図7は、第6実施例に係るスパッタ
デポジション装置600の断面図である。本実施例に係
るスパッタデポジション装置600の基本構成は、図6
に示す第5実施例に係るスパッタデポジション装置50
0の基本構成と同じであるので、その説明は省略する。 本実施例に係るスパッタデポジション装置600の特徴
は、基板電極5の外周部近傍に磁場発生手段を配置しな
い点にある。同図に示すように、基板電極5の外周部近
傍に磁場発生手段を配置しなくても、図6に示すスパッ
タでポジション装置500の場合に近い効果は可能であ
る。従って、基板電極5の構造を簡単にできるという効
果がある。
を用いて説明する。図7は、第6実施例に係るスパッタ
デポジション装置600の断面図である。本実施例に係
るスパッタデポジション装置600の基本構成は、図6
に示す第5実施例に係るスパッタデポジション装置50
0の基本構成と同じであるので、その説明は省略する。 本実施例に係るスパッタデポジション装置600の特徴
は、基板電極5の外周部近傍に磁場発生手段を配置しな
い点にある。同図に示すように、基板電極5の外周部近
傍に磁場発生手段を配置しなくても、図6に示すスパッ
タでポジション装置500の場合に近い効果は可能であ
る。従って、基板電極5の構造を簡単にできるという効
果がある。
【0038】
【発明の効果】本発明によれば、放電空間の外周部近傍
に磁気の壁を形成できるので、電極内の放電プラズマ密
度を高め、かつ、均一に保持することができる。この結
果、成膜レートの向上、即ちスループットの向上がはか
られる。また、大面積放電電極についても、極めて良い
分布で成膜が可能である。
に磁気の壁を形成できるので、電極内の放電プラズマ密
度を高め、かつ、均一に保持することができる。この結
果、成膜レートの向上、即ちスループットの向上がはか
られる。また、大面積放電電極についても、極めて良い
分布で成膜が可能である。
【図1】第1実施例に係るスパッタデポジション装置1
00の断面図
00の断面図
【図2】磁場発生手段の斜視図
【図3】第2実施例に係るスパッタデポジション装置2
00の断面図
00の断面図
【図4】第3実施例に係るスパッタデポジション装置3
00の断面図
00の断面図
【図5】第4実施例に係るスパッタデポジション装置4
00の断面図
00の断面図
【図6】第5実施例に係るスパッタデポジション装置5
00の断面図
00の断面図
【図7】第6実施例に係るスパッタデポジション装置6
00の断面図
00の断面図
【図8】磁場発生手段の作用を示す説明図
1…真空室、2…ターゲット、3…ターゲット電極、4
…基板、5…基板電極、6…ガス導入口、10…放電空
間、30,31,32,61,62,63…永久磁石、
33,64…磁力線、36…コイル、37…ターゲット
電極側磁路用コイル、38…基板電極側磁路用コイル、
44,45…コイル電源、39,40,56…磁路材。
…基板、5…基板電極、6…ガス導入口、10…放電空
間、30,31,32,61,62,63…永久磁石、
33,64…磁力線、36…コイル、37…ターゲット
電極側磁路用コイル、38…基板電極側磁路用コイル、
44,45…コイル電源、39,40,56…磁路材。
Claims (13)
- 【請求項1】ターゲット電極と、このターゲット電極に
対向配置された基板電極とを備えたスパッタデポジショ
ン装置において、上記ターゲット電極の外周近傍に配置
される第1の磁場発生手段と、上記基板電極の外周近傍
に配置される第2の磁場発生手段と、上記ターゲット電
極と基板電極とに挾まれて形成される空間の外周面近傍
における、上記2つの電極の中間の位置に、この外周面
に沿って配置される第3の磁場発生手段とを備えて構成
されることを特徴とするスパッタデポジション装置。 - 【請求項2】上記第3の磁場発生手段の磁極の極性と、
この第3の磁場発生手段の磁極に対向する上記第1およ
び第2の磁場発生手段の磁極の極性とは、互いに異なる
ことを特徴とする請求項1記載のスパッタデポジション
装置。 - 【請求項3】上記第1および第2の磁場発生手段、また
は、第3の磁場発生手段のいずれか一方は強磁性体であ
ることを特徴とする請求項1記載のスパッタデポジショ
ン装置。 - 【請求項4】上記第1,2および3の磁場発生手段のう
ち、少なくとも1つは永久磁石であることを特徴とする
請求項1または2記載のスパッタデポジション装置。 - 【請求項5】上記第3の磁場発生手段は、中空円板状お
よび円環状のいずれかであることを特徴とする請求項1
,2,3または4記載のスパッタデポジション装置。 - 【請求項6】上記第3の磁場発生手段は、複数の磁極の
集合体であることを特徴とする請求項1,2,3,4ま
たは5記載のスパッタデポジション装置。 - 【請求項7】ターゲット電極と、このターゲット電極に
対向配置された基板電極とを、真空排気可能な真空容器
内に備えたスパッタデポジション装置において、上記真
空容器の外壁面近傍における、上記2つの電極の中間の
位置に、この外壁面に沿って配置される磁場発生手段と
、上記ターゲット電極の外周部近傍および上記基板電極
の外周部近傍と、上記ターゲット電極と基板電極とに挾
まれて形成される空間の外周面近傍の、上記2つの電極
の中間にある上記外周面に沿った場所とを、上記磁場発
生手段から発生する磁場で、磁気的に接続するための磁
路と、を備えて構成されることを特徴とするスパッタデ
ポジション装置。 - 【請求項8】上記磁場発生手段は、コイルを用いて構成
されることを特徴とする請求項7記載のスパッタデポジ
ション装置。 - 【請求項9】上記磁場発生手段は2つの磁場発生手段か
らなり、一方の磁場発生手段は、上記ターゲット電極の
外周部近傍と、上記外周面に沿った場所とを、この磁場
発生手段から発生する磁場で磁気的に接続し、他方の磁
場発生手段は、上記基板電極の外周部近傍と、上記外周
面に沿った場所とを、この磁場発生手段から発生する磁
場で磁気的に接続することを特徴とする請求項7または
8記載のスパッタデポジション装置。 - 【請求項10】上記ターゲット電極の外周近傍に配置さ
れる第1の磁場発生手段は、内側に配置される内側磁石
と、外側に配置される外側磁石とからなるスパッタリン
グ用マグネトロン磁場用磁石であることを特徴とする請
求項1,2,3,4,5または6記載のスパッタデポジ
ション装置。 - 【請求項11】上記外側磁石が形成する磁束は、上記内
側磁石が形成する磁束より大きいことを特徴とする請求
項10記載のスパッタデポジション装置。 - 【請求項12】ターゲット電極と、このターゲット電極
に対向配置された基板電極とを備えたスパッタデポジシ
ョン装置において、上記ターゲット電極の外周部近傍に
配置される第1の磁場発生手段と、上記ターゲット電極
と基板電極とに挾まれて形成される空間の外周面近傍に
おける、上記2つの電極の中間の位置に、この外周面に
沿って配置される第2の磁場発生手段とを備えて構成さ
れ、上記第2の磁場発生手段の磁極の極性と、この第2
の磁場発生手段の磁極に対向する上記第1の磁場発生手
段の磁極の極性とは、互いに異なることを特徴とするス
パッタデポジション装置。 - 【請求項13】上記ターゲット電極の外周部近傍に配置
される第1の磁場発生手段は、内側に配置される内側磁
石と、外側に配置される外側磁石とからなるスパッタリ
ング用マグネトロン磁場用磁石であることを特徴とする
請求項12記載のスパッタデポジション装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP03098523A JP3126405B2 (ja) | 1991-04-30 | 1991-04-30 | スパッタデポジション装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP03098523A JP3126405B2 (ja) | 1991-04-30 | 1991-04-30 | スパッタデポジション装置 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000275338A Division JP2001152332A (ja) | 2000-09-11 | 2000-09-11 | スパッタデポジション装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04329875A true JPH04329875A (ja) | 1992-11-18 |
JP3126405B2 JP3126405B2 (ja) | 2001-01-22 |
Family
ID=14222025
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP03098523A Expired - Fee Related JP3126405B2 (ja) | 1991-04-30 | 1991-04-30 | スパッタデポジション装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3126405B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07138753A (ja) * | 1993-03-18 | 1995-05-30 | Toshiba Corp | スパッタリング装置およびスパッタリング方法 |
US6322661B1 (en) * | 1999-11-15 | 2001-11-27 | Lam Research Corporation | Method and apparatus for controlling the volume of a plasma |
US6341574B1 (en) | 1999-11-15 | 2002-01-29 | Lam Research Corporation | Plasma processing systems |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7802845B2 (en) | 2007-09-26 | 2010-09-28 | Kb Creations | Seat caddy having rear bench-engaging members |
-
1991
- 1991-04-30 JP JP03098523A patent/JP3126405B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07138753A (ja) * | 1993-03-18 | 1995-05-30 | Toshiba Corp | スパッタリング装置およびスパッタリング方法 |
US6322661B1 (en) * | 1999-11-15 | 2001-11-27 | Lam Research Corporation | Method and apparatus for controlling the volume of a plasma |
US6341574B1 (en) | 1999-11-15 | 2002-01-29 | Lam Research Corporation | Plasma processing systems |
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP3126405B2 (ja) | 2001-01-22 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |