JPH0430228A - 情報処理装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は情報処理装置に関し、特に保守・調整が容易な
情報処理装置に関する。

［従来の技術］ 情報処理装置内のフリップフロップは、組合せ回路によ
る論理的処理の結果を保持し、更に組み合せ回路に対す
る入力条件を規定する機能を有するので、その保持内容
は情報処理装置内における論理動作を把握するためには
重要な情報となる。

したがって、論理調整時および保守作業時においては、
フリップフロップの状態を観測することは正常動作確認
、不良動作の原因追求、故障部位の指摘等を行うのに必
要不可欠となる。

従来の装置は、特開昭５５−９２９５３号公報に記載の
ように１通常のスキャンアウト動作に用いるスキャン制
御部とは独立にメンテナンス・スキャンアドレス・レジ
スタを設置し、該メンテナンス・スキャンアドレスレジ
スタにて指定されたフリップフロップを観測している。

第２図は、このような情報処理装置のブロック図を示す
。情報処理装置に付属してスキャン制御部１が設置され
ている。スキャン制御部１は、スキャンアドレスレジス
タ２、スキャンアウト・データレジスタ３を備えている
。スキャンアウト動作は、スキャンアドレスレジスタ２
に特定のフリップフロップ群３２を指定した後、起動さ
れる。

スキャン制御部１が起動されると、スキャンビジー信号
５が「１」となり、スキャンアドレスセレクタ３０によ
りスキャンアドレスレジスタ２の内容がスキャンアドレ
スバス６を通じて、スキャンアドレスデコーダ７に供給
される。このデコーダ７は、スキャンアドレスで指示さ
れたＬＳＩ（又はボード）１０．１１に対してスキャン
イネーブル信号８，９を発生させることにより、スキャ
ンアウト・ビットセレクタ１６等を有効化する。同時に
、スキャン・ビットカウンタ４の内容をスキャンアドレ
スバス３１を通してスキャンアウト・ビットセレクタ１
６に供給した後、スキャン・ビットカウンタ４のカウン
トアツプを開始する。

スキャン・ビットカウンタ４のカウントアツプにより、
スキャンアウト・ビットセレクタ１６からスキャンアウ
ト・パス２４ヘフリップフロツプ群３２の状態が順次選
択８カされ、スキャンアウト・レジスタ３の該当ビット
に順次セットされる。

以上のようにフリップフロップ群３２のスキャンアウト
が行われる。

スキャン非動作中においてはスキャンビジー信号５は「
０」の状態であり、この場合スキャンアドレスセレクタ
３０は、メンテナンス・スキャンアドレスレジスタ９の
内容をスキャンアドレスバス３１に出力する。これによ
りスキャンアドレスデコーダ７及びスキャンアウト・ピ
ントセレクタ１６が動作し、メンテナンス・スキャンア
ドレスレジスタ９に指定されたフリップフロップ１８の
出力がスキャンアウト・パス２４に出力される。

スキャンアウト・パス２４には観測装置２７が接続され
ている。したがって、スキャン非動作中の特定のフリッ
プフロップ１８の状態信号の変化を観測することが可能
である。

Ｃ発明が解決しようとする課題］ 上記従来技術は、スキャン動作時の観測について配慮が
されていなかった。すなわち、スキャンアウトパスを観
測用パスと共用し、メンテナンス・スキャンアドレスレ
ジスタをスキャン制御部の非動作中のみセレクトするた
め、スキャン動作中のフリップフロップの動作観測がで
きないという問題があった。

本発明はスキャン動作中において任意のフリップフロッ
プの動作観測を目的としており、さらに同時の複数のフ
リップフロップの動作観測を可能とすることを目的とす
る。

［課題を解決するための手段］ 上記目的を達成するために、本発明による情報処理装置
は、内部の複数のフリップフロップ群のうち任意のフリ
ップフロップ群を指定し、該フリップフロップ群の内容
をスキャンアドレスの更新によりスキャンアウトして取
り出すスキャン制御部を有する情報処理装置において、
スキャンの対象となるフリップフロップ群内の任意のフ
リップフロップを指定するアドレスを保持するアドレス
レジスタと、該アドレスレジスタの出力アドレスに応し
て当該指定されたフリップフロップの状態を選択出力す
るビットセレクタと、該ビットセレクタのビット出力を
出力する第１の出力端子と、前記スキャン制御部からの
指定を受けたとき前記アドレスレジスタの出力アトレス
に代えて前記スキャンアドレスを前記ビットセレクタに
与えるセレクタと、前記スキャン制御部からの指定を受
けたときの前記ビットセレクタのビット出力を出力する
第２の出力端子とを、それぞれスキャンの対象となる各
フリップフロップ群について備えたことを特徴とするも
のである。

口作　用］ スキャン対象レジスタを構成する任意のフリップフロッ
プを指定するアドレスを保持するアドレスレジスタ（以
下、スコーピング・スキャンアドレスレジスタという）
は情報処理装置内に複数個分散して設置される。該スコ
ーピング・スキャンアドレスレジスタにより指定された
フリップフロップの状態を出力するスコーピング・デー
タ・パスはそれぞれ観測装置に接続される。

スキャン非動作中においては、各スコーピング・スキャ
ンアドレスレジスタにより指定されるフリップフロップ
の動作状態が観測装置へ出力される。

スキャン動作中には、スキャンの対象となったレジスタ
を含む論理単位はスキャン制御部よりのスキャンアドレ
スを選択してスキャン動作が行われるが、その他の論理
単位についてはスコーピング・スキャンアドレスレジス
タによるスキャンアドレスが選択されたままで、指定し
たフリッププロップの状態観測が続けられる。

このようにスキャン動作中においても任意のフリップフ
ロップの状態観測が可能である。また各論理単位内に複
数個のスコーピング・スキャンアドレスレジスタを備え
、それを切替えることにより観測するフリップフロップ
を容易に変更することが可能である。

［実施例コ 以下、本発明の一実施例を第１図により説明する。同図
において、第２図に示した要素と同一の要素には同一の
参照番号を付しである。

本発明は、第１図に示すように、スキャンアドレスを設
定できる複数のスコーピング・スキャンアドレスレジス
タ１２．１３を情報処理装置内に分散して設置し、スキ
ャン動作が実行される時以外にはこのスコーピング・ス
キャンアドレスレジスタ１２．１３の内容がスキャンア
ドレスセレクタ１４．１５により選択されるよ−うな構
成とする。

さらに、スキャンアドレスセレクタ１２．１３によりス
キャンアドレスが選択されるときのビットセレクタ１６
．１７のビット出力を出力する出力端子３６．３７　（
第２の出力端子）に接続されたスキャンアウト・データ
・パス２４とは別に、スコーピング・スキャンアドレス
レジスタ１２゜１３が選択されるときのビットセレクタ
１６゜１７のビット出力を出力する出力端子３４．３５
（第１の出力端子）にそれぞれ接続された観測用のスコ
ーピング・データ・パス２５．２６を設ける。スコーピ
ング・スキャンアドレスレジスタ１２．１３に観測を必
要とするフリップフロップのスキャンアドレスを設定す
ることにより、スコーピング・データ・パス２５．２６
より出力される任意の論理信号の状態信号は観測装置２
７゜２８に入力される。

スコーピング・スキャンアドレスレジスタ１２゜１３に
設定されたスキャンアドレスは、再設定されるまでは変
化することがないので、そのアドレスが示すフリップフ
ロップに保持されている内容がスコーピング・データ・
パス２５．２６より出力され、該フリップフロップの状
態の時間変化が観測される。

スキャン非動作時にはスキャンビジー信号５が「Ｏ」で
あるのでスキャンイネーブル信号８，９はｒＯＪ　とな
り該スキャンイネーブル信号によってスキャンアドレス
セレクタ１４．１５はスコーピング・スキャンアドレス
レジスタ１２．１３の内容によってスキャンアウト・ビ
ットセレクタ１６．１７を動作させる。スコーピング・
スキャンアドレスレジスタ１２．１３によりそれぞれ指
定される特定のフリップフロップ１８．１９がスコーピ
ング・データ・パス２５．２６より出力され、ｗＡ測装
置２７．２８により観測される。

スキャン動作が行われる場合には、スキャンビジー信号
５が「１」となり、スキャンアドレスレジスタ２のスキ
ャンアドレスがスキャンアドレスデコーダ７に入力され
る。スキャンアドレスのデコード結果、例えば、スキャ
ンイネーブル信号９が「１」となり、スキャンアドレス
セレクタ１５の出力が、スコービング・スキャンアドレ
スレジスタ１３の出力から、スキャン制御部１が出力す
るスキャンアドレスに切替えられる。スキャンアウト動
作がフリップフロップ群３３に対して実行され、スキャ
ンアウト・データ・パス２４を通じてフリップフロップ
群３３の内容がスキャンアウト・データレジスタ３にセ
ットされる。

一方、フリップフロップ群３３のスキャンアウト動作中
においてもスキャンイネーブル信号８は「Ｏ」のままな
ので、スキャンアドレスセレクタ１４は切替わらず、ス
コーピング・スキャンアドレスレジスタ１２の出力が選
択され続ける。したがってフリップフロップ１８の出力
はスキャン動作にかかわりなく常にスコーピング・デー
タ・パス２５より出力され続け、状態変化をとぎれるこ
となく観測することが可能である。

なお、前記実施例では、各ＬＳＩ内のスコーピング・ス
キャンアドレスレジスタ１２は１個だけ設けたが、複数
個設けてこれらを切り換えられるようにしてもよい。こ
れにより、レジスタの内容を再設定することなく、レジ
スタ切換のみで異なるフリップフロップの内容を観測す
ることができるようになる。

本実施例によれば、スコービング・スキャンアドレスレ
ジスタを複数設置し、観測用パスをスキャンアウトパス
とは独立して設けたことにより、スキャン動作中以外の
任意のフリップフロップの状態をスキャン動作の実行に
かかわりなく連続して観測することが可能となり、かつ
同時に複数のフリップフロップの観測も可能となった。

これにより保守・調整時の効率向上する効果がある。

［発明の効果］ 本発明によれば、スキャン非動作時のみでなくスキャン
動作時においても任意のフリップフロップの状態観測が
可能となる。また、スコーピング・スキャンアドレスレ
ジスタを情報処理装置内に複数個設置することにより同
時に多数のフリップフロップの状態観測が可能となる。

これらにより保守・調整時において効率が向上する。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の実施例を示すフリップフロップの状態
観測機能を備えた情報処理装置のブロック図、第２図は
従来の情報処理装置のフリップフロップの状態観測方法
を示すブロック図である。 トスキャン制御部、２・・スキャンアドレスレジスタ、
３・・・スキャンアウト・データレジスタ、４・スキャ
ン・ビットカウンタ、５　スキャンビジー信号、６．３
１・・・スキャンアドレス・パス、７・スキャンアドレ
スデコーダ、８，９・スキャンイネーブル信号、１０．
１１・・ＬＳＩ又はボード、１２．１３・スコーピング
・スキャンアドレスレジスタ、１４．１５・・スキャン
アドレスセレクタ、１６．１７・・スキャンアウト・ビ
ットセレクタ、１８．１９・・フリップフロップ、２０
゜２１．２２，２３・・・組み合せ回路、２４・・・ス
キャンアウト・データ・パス、２５．２６・・スコーピ
ング・データ・パス、２７．２８・・・Ｒ測装置、２９
・・メンテナンス・スキャンアドレスレジスタ、３０　
スキャンアドレスセレクタ、３２．３３・フリップフロ
ップ群。 １人　株式会社　日　立　製　作所

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、情報処理装置内部の複数のフリップフロップ群のう
   ち任意のフリップフロップ群を指定し、該フリップフロ
   ップ群の内容をスキャンアドレスの更新によりスキャン
   アウトして取り出すスキャン制御部を有する情報処理装
   置において、スキャンの対象となるフリップフロップ群
   内の任意のフリップフロップを指定するアドレスを保持
   するアドレスレジスタと、 該アドレスレジスタの出力アドレスに応じて当該指定さ
   れたフリップフロップの状態を選択出力するビットセレ
   クタと、 該ビットセレクタのビット出力を出力する第１の出力端
   子と、 前記スキャン制御部からの指定を受けたとき前記アドレ
   スレジスタの出力アドレスに代えて前記スキャンアドレ
   スを前記ビットセレクタに与えるセレクタと、 前記スキャン制御部からの指定を受けたときの前記ビッ
   トセレクタのビット出力を出力する第２の出力端子と をそれぞれスキャンの対象となる各フリップフロップ群
   について備えたことを特徴とする情報処理装置。