[go: up one dir, main page]

JPH04186662A - Semiconductor device and its manufacture - Google Patents

Semiconductor device and its manufacture

Info

Publication number
JPH04186662A
JPH04186662A JP31114690A JP31114690A JPH04186662A JP H04186662 A JPH04186662 A JP H04186662A JP 31114690 A JP31114690 A JP 31114690A JP 31114690 A JP31114690 A JP 31114690A JP H04186662 A JPH04186662 A JP H04186662A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
tab
resin
semiconductor
semiconductor pellet
heat sink
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP31114690A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yoshimi Hagiwara
萩原 義美
Satoru Komatsu
了 小松
Shuichi Imai
修一 今井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Renesas Eastern Japan Semiconductor Inc
Original Assignee
Hitachi Ltd
Hitachi Tohbu Semiconductor Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd, Hitachi Tohbu Semiconductor Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP31114690A priority Critical patent/JPH04186662A/en
Publication of JPH04186662A publication Critical patent/JPH04186662A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item

Landscapes

  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)
  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、樹脂絶縁層部を有する樹脂封止パンケージを
備えている半導体装置の製造技術、特に、樹脂絶縁層部
の製造技術に関し、例えば、放熱板付シングル・インラ
イン・プラスチック・パンケージ(放熱板付5IP)を
備えているトランジスタアレイ (以下、放熱板付トラ
ンジスタアレイという。)や、樹脂絶縁形パワートラン
ジスタの製造に利用して有効な技術に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a manufacturing technology for a semiconductor device equipped with a resin-sealed pancage having a resin insulating layer portion, and in particular to a manufacturing technology for a resin insulating layer portion. , relates to technology that is effective when used in the manufacture of transistor arrays equipped with a single in-line plastic pancage (5IP with heat sink) (hereinafter referred to as transistor arrays with heat sink) and resin-insulated power transistors.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

放熱板付トランジスタアレイとして、トランジスタ回路
がそれぞれ作り込まれている複数個の半導体ベレツトと
、各半導体ペレットがそれぞれボンディングされている
複数個のタブと、各タブに対応するようにそれぞれ配設
されている複数本のリードと、各半導体ベレツトとリー
ドとの間に橋絡されているワイヤと、タブ群の裏面に樹
脂絶縁層部を介して近接するように位置されている放熱
板と、半導体ペレット、タブ、リードの一部、ワイヤ、
および放熱板の一部を樹脂封止するパンケージとを備え
ているもの、がある。
As a transistor array with a heat sink, there are multiple semiconductor pellets each having a transistor circuit built in, multiple tabs to which each semiconductor pellet is bonded, and each semiconductor pellet is arranged to correspond to each tab. A plurality of leads, a wire bridged between each semiconductor beret and the leads, a heat dissipation plate located close to the back surface of the tab group via a resin insulating layer, and a semiconductor pellet; tabs, parts of leads, wires,
There is also one that is equipped with a pan cage that seals a part of the heat sink with resin.

この放熱板付トランジスタアレイにおいては、タブ群と
放熱板とは絶縁する必要がある。このため、樹脂封止パ
ンケージの成形時にタブ群が一体化されているリードフ
レームを放熱板から浮かせることにより、タブ群と放熱
板との間に隙間が介在され、この隙間を埋めた封止樹脂
により樹脂絶縁層部が形成されている。
In this transistor array with a heat sink, the tab group and the heat sink need to be insulated. For this reason, by lifting the lead frame on which the tab group is integrated from the heat sink when molding the resin-sealed pancage, a gap is interposed between the tab group and the heat sink, and the sealing resin fills this gap. A resin insulating layer portion is formed.

なお、この種の半導体装置である放熱板付シングル・イ
ンライン・プラスチック・パンケージを備えているパワ
ーICを述べである例としては、特開昭63−5245
6号公報、がある。
An example of this kind of semiconductor device, a power IC equipped with a single in-line plastic pancage with a heat sink, is disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 63-5245.
There is Publication No. 6.

また、樹脂絶縁形パワートランジスタとして、半導体ベ
レツトと、半導体ペレットがボンディングされているタ
ブと、タブにボンディングされた半導体ペレットに電気
的に接続されている複数本のリードと、半導体ベレツト
、タブおよびリードのインナ部を樹脂封止するパッケー
ジであって、タブの半導体ペレットボンディング側の封
止部、および、タブの半導体ペレットボンディング側と
反対側の絶縁層部から構成樹脂封止パッケージとを備え
ているものがある。
In addition, as a resin-insulated power transistor, a semiconductor beret, a tab to which the semiconductor pellet is bonded, multiple leads electrically connected to the semiconductor pellet bonded to the tab, a semiconductor beret, a tab, and a lead. A package in which the inner part of the tab is sealed with resin, and includes a sealing part on the semiconductor pellet bonding side of the tab, and a resin-sealing package consisting of an insulating layer part on the side opposite to the semiconductor pellet bonding side of the tab. There is something.

(発明が解決しようとする課題〕 しかし、前記のような放熱板付トランジスタアレイの製
造方法においては、樹脂封止パンケージの成形時にリー
ドフレームが放熱板から浮かされることにより、タブと
放熱板との間に樹脂絶縁層部が形成されているため、樹
脂封止パッケージの成形時におけるレジンの流れによっ
てタブが変形され、タブと放熱板との短絡が発生すると
いう問題点があることが、本発明者によって明らかにさ
れた。
(Problem to be Solved by the Invention) However, in the method of manufacturing a transistor array with a heat sink as described above, the lead frame is lifted from the heat sink during molding of the resin-sealed pancage, and the gap between the tab and the heat sink is The inventor has discovered that since the resin insulating layer is formed on the resin-sealed package, the tab is deformed by the flow of resin during molding of the resin-sealed package, resulting in a short circuit between the tab and the heat sink. revealed by.

そして、この短絡の発生を回避するために、樹脂封止パ
ッケージの成形時におけるリードフレームと放熱板との
間隔が大きく設定されると、タブと放熱板との間に形成
される樹脂絶縁層部が厚くなるため、タブと放熱板との
間における熱抵抗が大きくなってしまうという問題点が
発生する。
In order to avoid this short circuit, when the gap between the lead frame and the heat sink is set large during molding of the resin-sealed package, the resin insulation layer formed between the tab and the heat sink is Since the thickness of the tab increases, a problem arises in that the thermal resistance between the tab and the heat sink increases.

また、リードフレームと放熱板との間の隙間が大きく設
定されると、レジン流れによってタブが大きく変形され
る可能性が生し、タブが大きく変形された場合にはベレ
ントクラソクおよびワイヤ断線や短絡不良が発生する。
In addition, if the gap between the lead frame and the heat sink is set large, there is a possibility that the tab will be greatly deformed due to resin flow, and if the tab is greatly deformed, it will cause cracks, wire breaks, and short circuits. occurs.

また、前記のような樹脂絶縁形パワートランジスタにお
いて、樹脂封止パンケージの成形時にリードフレームが
下型キャビティー凹部の底面から浮かされることにより
、樹脂絶縁層部が形成されると、樹脂封止パッケージの
成形時におけるレジンの流れによってタブが変形され、
樹脂絶縁層部が薄くなり、絶縁耐圧性能が低下されてし
まう。
In addition, in the resin-insulated power transistor as described above, when the resin-sealed pancage is molded, the lead frame is lifted from the bottom surface of the lower mold cavity recess, and a resin insulation layer is formed. The tab is deformed by the flow of resin during molding,
The resin insulating layer becomes thinner, and the dielectric strength performance deteriorates.

そこで、これを回避するため樹脂絶縁層部が厚くなるよ
うに設定すると、熱抵抗が大きくなってしまう。
Therefore, if the resin insulating layer portion is set to be thick in order to avoid this, the thermal resistance will increase.

さらに、タブに支持部材が突設され、この支持部材がキ
ャビティーの一部に係合されてタブがキャビティー底面
から浮かされることにより、樹脂絶縁層部が形成される
場合、樹脂封止パッケージ成形後、支持部材が樹脂封止
パッケージの外部へ露出するため、外観性能が低下する
ばかりでなく、wA縁耐圧性も低下する。
Furthermore, if a resin insulating layer is formed by a supporting member protruding from the tab and the supporting member being engaged with a part of the cavity to lift the tab from the bottom of the cavity, the resin-sealed package After molding, the supporting member is exposed to the outside of the resin-sealed package, which not only deteriorates the appearance performance but also deteriorates the wA edge pressure resistance.

本発明の目的は、低熱抵抗を確保しつつ、タブの変形の
発生を防止することができる半導体装置およびその製造
方法を提供することにある。
An object of the present invention is to provide a semiconductor device and a method for manufacturing the same that can prevent tab deformation while ensuring low thermal resistance.

本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本
明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう
The above and other objects and novel features of the present invention will become apparent from the description of this specification and the accompanying drawings.

(課題を解決するための手段〕 本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を説明すれば、次の通りである。
(Means for Solving the Problems) Representative inventions disclosed in this application will be summarized as follows.

すなわち、半導体ベレ・ントと、半導体ベレントがボン
ディングされているタブと、タブにボンディングされた
半導体ペレットに電気的に接続されている複数本のリー
ドと、半導体ペレット、タブおよびリードのインナ部を
樹脂封止するパンケージであって、タブの半導体ペレッ
トボンディング側の封止部、および、タブの半導体ペレ
ットボンディング側と反対側の絶縁層部から構成されて
いる樹脂封止パンケージとを備えている半導体装置にお
いて、 前記タブの外周縁における少なくともゲート痕に対向す
る端辺に傾斜面部が、前記半導体ペレットボンディング
側と反対側端面が縁取られて、かつ、内側に行くにした
がって肉厚が厚くなるように傾斜されて形成されている
ことを特徴とする。
In other words, a semiconductor bead, a tab to which the semiconductor belent is bonded, multiple leads electrically connected to the semiconductor pellet bonded to the tab, and the inner parts of the semiconductor pellet, tab, and leads are bonded with resin. A semiconductor device that is a pan cage to be sealed, and includes a resin-sealed pan cage that includes a sealing part on the semiconductor pellet bonding side of the tab and an insulating layer part on the side opposite to the semiconductor pellet bonding side of the tab. In this case, an inclined surface portion is formed on at least the edge of the outer peripheral edge of the tab opposite to the gate trace, and the end surface on the side opposite to the semiconductor pellet bonding side is edged, and the thickness becomes thicker toward the inside. It is characterized by being formed by

また、半導体ペレットと、半導体ペレットがボンディン
グされているタブと、タブにボンディングされた半導体
ペレットに電気的に接続されている複数本のリードと、
タブの裏面に樹脂絶縁層部を介して近接するように対向
されている放熱板と、半導体ペレット、タブ、リード群
の一部および放熱板の一部を樹脂封止するパッケージと
を備えている半導体装置において、 前記タブの外周縁における少なくともゲート痕に対向す
る端辺に傾斜面部が、前記半導体ペレットボンディング
側と反対側端面が縁取られて、がっ、内側に行(にした
がって肉厚が厚くなるように傾斜されて形成されている
ことを特徴とする。
Further, a semiconductor pellet, a tab to which the semiconductor pellet is bonded, and a plurality of leads electrically connected to the semiconductor pellet bonded to the tab,
The device includes a heat sink facing the back side of the tab so as to be close to the tab via a resin insulating layer, and a package that seals the semiconductor pellet, the tab, a part of the lead group, and a part of the heat sink with resin. In the semiconductor device, at least the edge of the outer periphery of the tab opposite to the gate trace has an inclined surface portion, and the end surface opposite to the semiconductor pellet bonding side is edged, and the tab is curved inward (therefore, the wall thickness is thicker). It is characterized by being formed so that it is inclined.

〔作用〕[Effect]

前記した手段によれば、タブの外周縁に傾斜面部が設け
られているため、樹脂封止パッケージの成形時における
レジンは傾斜面部のレジン流れの案内作用によってタブ
の上方と下方とに均等に送給され、その結果、レジン流
れの不均衡に起因するタブの変形は防止されることにな
る。したがって、樹脂絶縁層部の局所的な肉厚低下や、
タブと放熱板との短絡や、ベレントクラック、ワイヤ断
線および短絡不良の発生は未然に防止されることになる
According to the above-mentioned means, since the sloping surface portion is provided on the outer peripheral edge of the tab, the resin during molding of the resin-sealed package is evenly distributed above and below the tab by the guiding effect of the resin flow of the slanted surface portion. As a result, tab deformation due to resin flow imbalance is prevented. Therefore, local thickness reduction of the resin insulating layer,
This will prevent short circuits between the tab and the heat dissipation plate, as well as verent cracks, wire breakage, and short circuit failures.

他方、タブの変形が回避されることにより、樹脂絶縁層
部の厚さは薄く設定することができるため、樹脂絶縁層
部の熱抵抗はきわめて小さく抑制されることになる。
On the other hand, since deformation of the tab is avoided, the thickness of the resin insulating layer can be set thin, and the thermal resistance of the resin insulating layer can be kept extremely small.

(実施例1] 第1図は本発明の一実施例である放熱板付トランジスタ
アレイを示す側面断面図、第2図はその一部切断平面図
である。
(Example 1) FIG. 1 is a side sectional view showing a transistor array with a heat sink that is an example of the present invention, and FIG. 2 is a partially cutaway plan view thereof.

第3図以降は本発明の一実施例である放熱板付トランジ
スタアレイの製造方法を示す各説明図である。
FIG. 3 and subsequent figures are explanatory diagrams showing a method of manufacturing a transistor array with a heat sink, which is an embodiment of the present invention.

本実施例において、本発明に係る半導体装置は、モータ
駆動用のパワートランジスタに使用される放熱板付トラ
ンジスタアレイとして構成されている。この放熱板付ト
ランジスタアレイ10は、トランジスタ回路(図示せず
)がそれぞれ作り込まれている4個の半導体ペレット1
2と、各半導体ペレット12がボンディング層11によ
りそれぞれボンディングされている4個のタブ7と、各
タブ7に対応するようにそれぞれ配設されている複数本
のインナリード6およびアウタリード4と、各半導体ペ
レット12とインナリード6との間に橋絡されているワ
イヤ13と、タブ7群の裏面に樹脂絶縁層部29を介し
て近接するように位置されている長方形板形状の放熱板
22と、半導体ペレット12、タブ7、インナリード6
、ワイヤ13、および放熱板22の一部を樹脂封止する
パッケージ28とを備えている。
In this embodiment, the semiconductor device according to the present invention is configured as a transistor array with a heat sink used as a power transistor for driving a motor. This transistor array 10 with a heat sink is made up of four semiconductor pellets 1 each having a transistor circuit (not shown) built therein.
2, four tabs 7 to which each semiconductor pellet 12 is bonded by a bonding layer 11, a plurality of inner leads 6 and outer leads 4 disposed corresponding to each tab 7, and each A wire 13 bridged between the semiconductor pellet 12 and the inner lead 6, and a rectangular plate-shaped heat sink 22 located close to the back surface of the tab group 7 via a resin insulating layer 29. , semiconductor pellet 12, tab 7, inner lead 6
, the wire 13, and a package 28 that seals a portion of the heat sink 22 with resin.

そして、前記タブ7の外周縁には傾斜面部8が略全周に
わたり、タブ7の半導体バレント12搭載面と反対側の
端面が縁取りされて、内側に行くにしたがって肉厚が増
加するように傾斜されて形成されているとともに、当該
−面に異形部としての溝部9が形成されている。また、
前記放熱板22にも傾斜面部23が、ゲート痕と対向し
、かつ、タブ7の傾斜面部8と対向するように傾斜され
て形成されているとともに、この放熱板22のタブ7と
の対向側端面にはガイド部24が一体的に隆起されて突
設されている。そして、この放熱板付トランジスタアレ
イは次のような製造方法により製造されている。
An inclined surface portion 8 extends substantially all the way around the outer peripheral edge of the tab 7, and the end surface of the tab 7 opposite to the surface on which the semiconductor valent 12 is mounted is hemmed so that the wall thickness increases as it goes inward. In addition, a groove portion 9 as an irregularly shaped portion is formed on the negative surface. Also,
The heat dissipation plate 22 also has an inclined surface portion 23 formed to face the gate mark and be inclined so as to face the inclined surface portion 8 of the tab 7 . A guide portion 24 is integrally and protrudingly provided on the end face. This transistor array with a heat sink is manufactured by the following manufacturing method.

次に、本発明の一実施例である放熱板付トランジスタア
レイの製造方法を説明する。この説明により、前記放熱
板付トランジスタアレイの構成についての詳細が明らか
にされる。
Next, a method of manufacturing a transistor array with a heat sink, which is an embodiment of the present invention, will be described. This explanation clarifies the details of the structure of the transistor array with a heat sink.

本実施例に係る放熱板付トランジスタアレイの製造方法
には、第3図および第4図に示されている多連リードフ
レーム1が使用される。この多連リードフレーム1は銅
系材n(銅または銅合金)または鉄系材料(鉄または鉄
合金)等のような導電材料が用いられて、プレス加工ま
たはエツチング加工により大略長方形の薄板形状に一体
成形されており、複数個の単位リードフレーム2が横一
列に等ピッチに並設されている。多連リードフレームl
は隣合う単位リードフレーム2.2間士で直線的に連設
されている細長い外枠(フレーム)3を備えており、外
枠3には送り孔や位置決め孔として使用される小孔3a
が複数個規則的に配されて開設されている。
In the method for manufacturing a transistor array with a heat sink according to this embodiment, a multiple lead frame 1 shown in FIGS. 3 and 4 is used. This multiple lead frame 1 is made of a conductive material such as a copper material (copper or copper alloy) or a ferrous material (iron or iron alloy), and is formed into a roughly rectangular thin plate shape by pressing or etching. It is integrally molded, and a plurality of unit lead frames 2 are arranged in a horizontal row at equal pitches. Multiple lead frame
is equipped with an elongated outer frame (frame) 3 that is linearly connected with the unit lead frame 2.2 adjacent to each other, and the outer frame 3 has small holes 3a used as feed holes and positioning holes.
There are multiple locations arranged in a regular manner.

各単位リードフレーム2には12本のアウタリード4が
外枠3の一端辺に長手方向に等間隔に配されて、直角方
向に一体的にそれぞれ突設されており、隣合うアウタリ
ード4.4間にはダム5がそれぞれ一体的に架設されて
いる。これらアウタリード4のうち、8本のアウタリー
ドのダム5よりも先方部分に↓まインナリード6が、他
の4本にはタブ7がそれぞれ一体的に形成されている。
In each unit lead frame 2, 12 outer leads 4 are arranged at equal intervals in the longitudinal direction on one end side of the outer frame 3, and are integrally protruded in the right angle direction. A dam 5 is integrally constructed in each of the dams. Among these outer leads 4, inner leads 6 are integrally formed in the portions ahead of the dams 5 of eight outer leads, and tabs 7 are integrally formed in the other four outer leads.

そして、各タブ7の外周縁には傾斜面部8が略全周にわ
たり、後記するペレットボンディング側端面(以下、第
1主面という。)と反対側の端面(以下、第2主面とい
う。)が縁取られて、がっ、内側に行くにしたがって肉
厚が次第に厚くなるように傾斜されてそれぞれ形成され
ている。また、各タブ7の第2主面には異形部としての
溝部9がアウタリード14の延長方向に平行に配されて
略全長にわたって形成されている。
The outer peripheral edge of each tab 7 has an inclined surface portion 8 that extends almost all the way around the entire circumference, and has an end surface (hereinafter referred to as a second major surface) opposite to the end surface on the pellet bonding side (hereinafter referred to as a first major surface), which will be described later. The walls are edged, and each wall is sloped so that the wall thickness gradually increases toward the inside. Furthermore, a groove portion 9 serving as an irregularly shaped portion is formed on the second main surface of each tab 7 and is arranged parallel to the extending direction of the outer lead 14 over substantially the entire length thereof.

このように構成されている多連リードフレーム1にはペ
レットボンディング工程およびワイヤボンディング工程
において、各単位リードフレーム2毎に第5図および第
6図に示されているように、各タブ7上に各ペレット1
2がAgペースト等から成るボンディング層11により
それぞれボンディングされるとともに、各ペレット12
のボンデインクハツト12aとインナリード6との間に
はワイヤ13がそれぞれ橋絡される。これにより、各ペ
レット12のトランジスタ回路はそのボンディングパッ
ド12a、ワイヤ13、インナリード6を介して各アウ
タリード4により電気的に外部に取り出されることにな
る。
In the multi-lead frame 1 configured as described above, in the pellet bonding process and the wire bonding process, as shown in FIG. 5 and FIG. 1 pellet each
2 are bonded to each other by a bonding layer 11 made of Ag paste or the like, and each pellet 12
Wires 13 are bridged between the bonding ink hats 12a and the inner leads 6, respectively. Thereby, the transistor circuit of each pellet 12 is electrically taken out to the outside by each outer lead 4 via its bonding pad 12a, wire 13, and inner lead 6.

また、本実施例に係る放熱板付トランジスタアレイの製
造方法には、第7図、第8図および第9図に多連放熱板
が使用される。すなわち、多連放熱板21は前記した多
連リードフレーム1と同数の単位放熱板22を備えてお
り、熱伝導性の良好な材料の一例であるアルミニウムが
用いられて、略長方形の薄板形状にプレス加工により一
体成形されている。単位放熱板22は前記単位リードフ
レーム2に対して約半分の幅を有する長方形の薄板形状
に形成されており、隣合う単位放熱板22.22同士は
互いの短辺同士が連結部22痕によって一体的に連設さ
れている。
Further, in the method of manufacturing a transistor array with a heat sink according to this embodiment, multiple heat sinks are used as shown in FIGS. 7, 8, and 9. That is, the multiple heat sink 21 includes the same number of unit heat sinks 22 as the multiple lead frame 1 described above, and is made of aluminum, which is an example of a material with good thermal conductivity, and is formed into a substantially rectangular thin plate shape. It is integrally formed by press working. The unit heat sink 22 is formed into a rectangular thin plate shape having a width approximately half that of the unit lead frame 2, and the short sides of adjacent unit heat sinks 22 and 22 are connected by the connecting portion 22 marks. They are integrally connected.

各単位放熱板22の単位リードフレーム2と対向される
端面(以下、第1主面とする。)には傾斜面部23が、
短手方向の略中央部において長手方向に略延在するよう
に配されて、後君己する取付孔26.27が開設されて
いる端部側からその反対方向に向かって肉厚が次第に薄
くなるように傾斜されて形成されており、この傾斜面部
23は単位放熱板22が単位リードフレーム2に対向さ
れた状態において、タブ7における先端辺の傾斜面部8
と平行に対向するようになっている。また、各単位放熱
板22の第1主面にはガイド部24が、長手方向の略中
央部において短手方向に延在するように配されて、放熱
板22自体の一部を隆起されることにより一体的に突設
されており、このガイド部24は後記するように前記傾
斜面部23と協働してレジンの流れを長手方向の両側へ
それぞれ均等に振り分けるように構成されている。
An inclined surface portion 23 is provided on the end surface (hereinafter referred to as the first main surface) of each unit heat sink 22 facing the unit lead frame 2.
It is arranged so as to substantially extend in the longitudinal direction in the substantially central part in the transverse direction, and the wall thickness gradually decreases from the end side where the rear mounting holes 26 and 27 are opened in the opposite direction. This inclined surface portion 23 is formed so that the inclined surface portion 8 on the tip side of the tab 7 is formed in a state where the unit heat sink 22 is opposed to the unit lead frame 2.
They are arranged to face parallel to each other. Further, a guide portion 24 is disposed on the first main surface of each unit heat sink 22 so as to extend in the transverse direction at approximately the central portion in the longitudinal direction, and a portion of the heat sink 22 itself is raised. As described later, the guide portion 24 is configured to work together with the inclined surface portion 23 to equally distribute the flow of resin to both sides in the longitudinal direction.

各単位放熱板22には抜は止め部25がその側面(厚み
の部分)において、後述する樹脂封止パッケージ成形後
、パッケージ内に埋没される側面部分に配されて、径芳
間外向きに突出するようにプレス加工により一体的に突
設されており、この抜は止め部25はパッケージの内部
に係合爪形状に突出することにより、樹脂封止パンケー
ジから放熱板22が抜は出るのをm止し得るように形成
されている。
Each unit heat dissipation plate 22 has a pull-out stopper 25 on its side surface (thickness portion), which is disposed on the side surface portion that will be buried in the package after molding the resin-sealed package, which will be described later. The removal stopper 25 is integrally provided by press processing so as to protrude, and by protruding into the inside of the package in the shape of an engaging claw, the heat dissipation plate 22 can be removed from the resin-sealed pan cage. It is formed to be able to stop m.

また、各単位放熱板22には一対の取付孔26および2
7が長手方向の両端部において、後述する樹脂封止パッ
ケージ成形後、パンケージから露出する一方の隅部にそ
れぞれ配されて、厚さ方向に貫通するように開設されて
おり、一方の取付孔26は真円形形状に、他方の取付孔
27は楕円形形状にそれぞれ形成されている。
Each unit heat sink 22 also has a pair of mounting holes 26 and 2.
7 are respectively arranged at one corner exposed from the pan cage after molding the resin-sealed package, which will be described later, at both ends in the longitudinal direction, and are opened so as to penetrate in the thickness direction, and one mounting hole 26 The mounting hole 27 is formed in a perfect circular shape, and the other mounting hole 27 is formed in an elliptical shape.

このように構成されている多連放熱板21には、前述し
たようにペレットおよびワイヤボンディングされた多連
リードフレーム1と組合わされた状態で、各単位放熱板
22および各単位リードフレーム2毎に樹脂封止するパ
ンケージ群が、第10図〜第12図に示されているよう
なトランスファ成形装置30が使用されて同時成形され
る。
The multiple heat sink 21 configured as described above is combined with the multiple lead frames 1 bonded to pellets and wires as described above, and each unit heat sink 22 and each unit lead frame 2 has a Pancage groups to be resin-sealed are simultaneously molded using a transfer molding apparatus 30 as shown in FIGS. 10 to 12.

第10図〜第12図に示されているトランスファ成形装
置30はシリンダ装置等(図−示せず)によって互いに
型締めされる一対の上型31と下型32とを備えており
、上型31と下型32との合わせ面には上型キャビティ
ー凹部33aと下型キャビティー凹部33bとが互いに
協働してキャビティー33を形成するようにそれぞれ複
数組没設されている。上型31の合わせ面にはボット3
4が開設されており、ボット34にはシリンダ装置(図
示せず)により進退されるプランジャ35が成形材料と
しての樹脂(以下、レジンという。)を送給し得るよう
に挿入されている。下型32の合わせ面にはカル36が
ボット34との対向位置に配されて没設されているとと
もに、上型31の合わせ面には複数条のランナ37がボ
ット34にそれぞれ接続するように放射状に配されて没
設されている。各ランナ37の他端部は上側キャビティ
ー凹部33痕にそれぞれ接続されており、その接続部に
はゲート38がレジンをキャビティー33内に注入し得
るように形成されている。また、下型32の合わせ面に
はリードフレーム逃げ凹所39がリードフレームの厚み
を逃げ得るように、その外形よりも若干大きめの長方形
で、その厚さと略等しい寸法の一定深さに没設されてい
る。さらに、下型32の合わせ面には放熱板逃げ凹所4
0がリードフレーム逃げ凹所39内およびキャビティー
凹部33b内において放熱板22の厚みを逃げ得るよう
に、その外形に若干大きめに相僚するように、その厚さ
と略等しい寸法に没設されている。
The transfer molding apparatus 30 shown in FIGS. 10 to 12 includes a pair of upper mold 31 and lower mold 32 that are clamped together by a cylinder device or the like (not shown). A plurality of sets of upper mold cavity recesses 33a and lower mold cavity recesses 33b are recessed in the mating surfaces of the upper mold and lower mold 32 so as to cooperate with each other to form the cavity 33. Bot 3 is placed on the mating surface of the upper die 31.
A plunger 35, which is moved forward and backward by a cylinder device (not shown), is inserted into the bot 34 so as to feed resin as a molding material. A cull 36 is arranged and recessed on the mating surface of the lower mold 32 at a position opposite to the bot 34, and a plurality of runners 37 are connected to the bot 34 on the mating surface of the upper mold 31, respectively. They are placed in a radial pattern. The other end of each runner 37 is connected to the upper cavity recess 33, and a gate 38 is formed at the connection portion so that resin can be injected into the cavity 33. In addition, on the mating surface of the lower mold 32, a lead frame relief recess 39 is recessed at a constant depth, which is a rectangle slightly larger than the outer shape of the lead frame and has a dimension approximately equal to the thickness thereof, so that the lead frame relief recess 39 can escape the thickness of the lead frame. has been done. Furthermore, a heat sink relief recess 4 is provided on the mating surface of the lower die 32.
0 can escape the thickness of the heat dissipation plate 22 in the lead frame relief recess 39 and the cavity recess 33b, so that it is recessed in a size that is approximately equal to the thickness of the heat dissipation plate 22 so that it is slightly larger than the outer shape of the heat sink 22. There is.

前記構成にかかる多連リードフレームlおよび多連放熱
板21が用いられて樹脂封止形パンケージがトランスフ
ァ成形される場合、まず、多連放熱板21が各下型キャ
ビティー凹部33bに対応するように没設されている放
熱板逃げ凹所4Q内に落とし込まれてセットされる。こ
のとき、傾斜面部23およびガイド部24がゲート38
に対向される。この状態において、各単位放熱板22は
その大部分が各下型キャビティー凹部33b内に没入し
た状態になっている。
When a resin-sealed pancage is transfer-molded using the multiple lead frame l and the multiple heat sinks 21 having the above configuration, first, the multiple heat sinks 21 are made to correspond to the respective lower mold cavity recesses 33b. It is set by being dropped into the heat sink relief recess 4Q that is recessed in the heat sink. At this time, the slope portion 23 and the guide portion 24 are connected to the gate 38.
is faced with. In this state, most of each unit heat sink 22 is recessed into each lower mold cavity recess 33b.

続いて、前記構成にかかる多連リードフレーム1が下型
32に没設されている逃げ凹所39内に、各単位リード
フレーム2におけるベレント12が各キャビティー33
内にそれぞれ収容されるように配されてセットされる。
Subsequently, the berent 12 of each unit lead frame 2 is inserted into each cavity 33 in the relief recess 39 in which the multiple lead frame 1 according to the above structure is sunk into the lower die 32.
They are arranged and set so that they are housed in each case.

このとき、各単位リードフレーム2はタブ7の先端側傾
斜面部8がゲート38に対句された状態で、キャビティ
ー33内において保持されている。
At this time, each unit lead frame 2 is held within the cavity 33 with the tip side inclined surface portion 8 of the tab 7 being opposed to the gate 38.

次いで、上型31と下型32とが型締めされる。Next, the upper mold 31 and the lower mold 32 are clamped.

この型締めにより、多連リードフレーム1および多連放
熱板21が上型31と下型32との間で挟持される。
Due to this mold clamping, the multiple lead frame 1 and the multiple heat dissipation plates 21 are held between the upper mold 31 and the lower mold 32.

続いて、ボット34からプランジャ35により成形材料
としてのレジン41がランナ37およびゲート38を通
じて各キャビティー33に送給されて圧入される。
Subsequently, resin 41 as a molding material is fed from the bot 34 by the plunger 35 into each cavity 33 through the runner 37 and the gate 38, and is press-fitted therein.

ところで、レジン41がキャビティー33内にゲート3
8から圧入されると、キャビティー33内はタブ7の上
方空間が広く形成されているため、レジン41が多量、
かつ、急激に流れ込みレジン41の流れにより各タブ7
にこれを放熱板22の方向へ変形させようとする力が作
用することがある。
By the way, the resin 41 is inside the cavity 33 at the gate 3.
When the resin 41 is press-fitted from the tab 8, a large amount of the resin 41 is inserted into the cavity 33 because the space above the tab 7 is wide.
Moreover, due to the rapid flow of resin 41, each tab 7
A force that tends to deform it in the direction of the heat sink 22 may act on it.

ここで、タブが放熱板に対して単に浮かされているだけ
の従来例の場合、タブが放熱板の方向へ変形されること
により、タブが放熱板に接触したり、ペレットクラック
やワイヤ断線等短絡不良が発生したりする。
Here, in the case of the conventional example where the tab is simply suspended from the heat sink, the tab is deformed in the direction of the heat sink, causing the tab to come into contact with the heat sink, or short circuits such as pellet cracks and wire breaks. Defects may occur.

しかし、本実施例においては、各タブ7に傾斜面部8が
形成されているとともに、放熱板22に傾斜面部23お
よびガイド部24が形成されているため、タブ7にこれ
を放熱板22の方向へ変形させようとする力が作用する
ことは防止される。
However, in this embodiment, each tab 7 is formed with an inclined surface portion 8, and the heat sink 22 is formed with an inclined surface portion 23 and a guide portion 24, so that the tab 7 is provided with an inclined surface portion 8 in the direction of the heat sink plate 22. This prevents the application of forces that would cause it to deform.

その結果、タブ7が変形されることはなく、予め想定さ
れた所定の状態を維持する。したがって、タブ7が変形
することによるベレ・ントクラノク、やワイヤの断線お
よび短絡不良等の発生は防止される。
As a result, the tab 7 is not deformed and maintains a predetermined state assumed in advance. Therefore, the occurrence of cracks, wire breaks, short circuits, etc. due to deformation of the tab 7 is prevented.

すなわち、ゲート38からキャビティー33内に圧入さ
れたレジン41は放熱板22のf頃斜面部23に沿って
流れることにより、単位リードフレーム2の第2主面下
方側の狭い隙間内へ流れ込む傾向が強められる。また、
放熱板22のガイド部24にレジン41が接衝すると、
レジン41はガイド部24により隙間内において左右に
均等に振り分けられるため、隙間内を均等に拡散して行
くことになる。
That is, the resin 41 press-fitted into the cavity 33 from the gate 38 tends to flow along the slope portion 23 around f of the heat sink 22 and into the narrow gap below the second main surface of the unit lead frame 2. is strengthened. Also,
When the resin 41 comes into contact with the guide portion 24 of the heat sink 22,
Since the resin 41 is evenly distributed left and right within the gap by the guide portion 24, it is evenly spread within the gap.

他方、ゲート3Bからキャビティー33内に圧入された
レジン41がタブ7外周縁に形成された傾斜面部8に接
衝すると、その傾斜に沿って流れる状態になるため、レ
ジン41はタブ7の第2主面下方側の狭小な隙間内へ流
れ込む傾向が強められる。
On the other hand, when the resin 41 press-fitted into the cavity 33 from the gate 3B comes into contact with the inclined surface part 8 formed on the outer peripheral edge of the tab 7, the resin 41 flows along the inclination. The tendency of the liquid to flow into the narrow gap on the lower side of the second main surface is strengthened.

このようなレジン41の狭い隙間への流れ込み強化1頃
向により、単位リードフレーム2の上下におけるレジン
流れによる単位リードフレーム2に対する下向きと上向
きの作用力双方が略均衡するため、タブ7を放熱板22
の方向へ変形させようとする力の発生は防止される。
Due to the flow of the resin 41 into the narrow gap and the strengthening direction, both the downward and upward forces acting on the unit lead frame 2 due to the flow of the resin above and below the unit lead frame 2 are approximately balanced, so that the tab 7 can be used as a heat sink. 22
Generation of forces that would cause deformation in the direction of is prevented.

万一、タブ7を上下いずれかの方向に変形させようとす
る力がタブ7に僅かに作用したとしても、タブ7に溝部
9が形成されることにより、タブ7の曲げ応力が増強さ
れているため、タブ7が変形されることは防止される。
Even if a slight force to deform the tab 7 in either the up or down direction acts on the tab 7, the bending stress on the tab 7 will be increased due to the groove 9 formed in the tab 7. Therefore, the tab 7 is prevented from being deformed.

そして、キャビティー33内に圧入されたレジン41は
各タブ7と放熱板22とが対向する小さな隙間内で拡散
することにより、その隙間内に樹脂絶縁層部29を形成
することになる。この樹脂絶縁層部29の厚さは単位リ
ードフレーム2と放熱板22との隙間を適宜設定するこ
とにより調整することができ、この樹脂絶縁層部29の
厚さが薄い程、タブ7と放熱板22とが接近するため、
各タブ7を通しての放熱板22に対する放熱性能が良好
になる。そして、本実施例においては、レジン流れに起
因するタブ7の変形によるタブ7と放熱板22との短絡
不良の発生の危険がないため、樹脂絶縁層部29の厚さ
はきわめて薄く設定することができる。したがって、放
熱性能はきわめて良好なものになる。
Then, the resin 41 press-fitted into the cavity 33 diffuses within the small gap where each tab 7 and the heat sink 22 face each other, thereby forming the resin insulating layer portion 29 within the gap. The thickness of this resin insulating layer section 29 can be adjusted by appropriately setting the gap between the unit lead frame 2 and the heat sink 22, and the thinner the resin insulating layer section 29, the more the tab 7 Since the plate 22 approaches,
The heat radiation performance for the heat sink 22 through each tab 7 is improved. In this embodiment, the thickness of the resin insulating layer portion 29 is set to be extremely thin because there is no risk of short-circuiting between the tab 7 and the heat sink 22 due to deformation of the tab 7 due to resin flow. I can do it. Therefore, the heat dissipation performance is extremely good.

レジン注入後、レジンが熱硬化されて樹脂封止パッケー
ジ28が成形されると、上型31および下型32は型開
きされるとともに、エジェクタ・ピン(図示せず)によ
り樹脂封止パッケージ28群が離型される。このように
して、樹脂封止パッケージ28群を成形された多連リー
ドフレーム1および多連放熱板21の複合体はトランス
ファ成形装置30から脱装される。
After the resin is injected, when the resin is thermoset and the resin-sealed packages 28 are molded, the upper mold 31 and the lower mold 32 are opened, and the resin-sealed packages 28 are grouped by ejector pins (not shown). is released from the mold. In this way, the composite body of the multiple lead frame 1 and the multiple heat sinks 21 in which the resin-sealed packages 28 have been molded is removed from the transfer molding apparatus 30.

そして、このように樹脂成形されたパッケージ28の内
部には、ペレット12、インナリード6、ボンディング
ワイヤ13および放熱板22の一部が樹脂封止されるこ
とになる。この状態において、放熱板22の裏面および
取付孔26.27付近は樹脂封止パッケージ28の裏面
および一側面から露出された状態になっている。
Then, the pellet 12, the inner lead 6, the bonding wire 13, and a portion of the heat sink 22 are sealed with resin inside the package 28 molded with resin in this manner. In this state, the back surface of the heat sink 22 and the vicinity of the mounting holes 26 and 27 are exposed from the back surface and one side of the resin-sealed package 28.

その後、多連リードフレームlおよび多連放熱板21は
リード切断成形工程において、各単位リードフレーム2
および単位放熱板22毎に順次、リード切断装置(図示
せず)により、外枠3、連結部22aおよび各ダム5を
切り落され、第13図、第14図および第15図に示さ
れているように、シングル・インライン・プラスチック
・パンケージを備えている放熱板付トランジスタアレイ
10が形成される。
After that, the multiple lead frames 1 and the multiple heat sinks 21 are cut into each unit lead frame 2 in a lead cutting and forming process.
The outer frame 3, connecting portion 22a and each dam 5 are sequentially cut off by a lead cutting device (not shown) for each unit heat sink 22, as shown in FIGS. 13, 14 and 15. As shown, a heatsink transistor array 10 is formed with a single in-line plastic pancage.

以上のようにして製造された放熱板付トランジスタアレ
イ10は、例えば、第13図〜第15図に示されている
ようにプリント配線基板に実装される。
The transistor array 10 with a heat sink manufactured as described above is mounted on a printed wiring board, for example, as shown in FIGS. 13 to 15.

すなわち、プリント配線基板42にはスルーホール43
が複数個、放熱板付トランジスタアレイ10のアウタリ
ード14に対応するように配されて、厚さ方向に貫通す
るように開設されており、スルーホール43の内周には
導体層部44が形成されているとともに、この導体層部
44には電気配線(図示せず)が配線されている。そし
て、前記構成記係る放熱板付トランジスタアレイ10は
プリント配線基板42に、各アウタリード14を各スル
ーホール43にそれぞれ挿入されてセットされるととも
に、フローはんだ処理等によりはんだ盛り部45を形成
されることにより、実装される。
That is, the printed wiring board 42 has a through hole 43.
A plurality of through holes 43 are arranged so as to correspond to the outer leads 14 of the transistor array 10 with a heat sink and are opened so as to penetrate in the thickness direction, and a conductor layer portion 44 is formed on the inner periphery of the through hole 43. In addition, electrical wiring (not shown) is wired to this conductor layer portion 44. The transistor array 10 with a heat sink according to the configuration described above is set on a printed wiring board 42 by inserting each outer lead 14 into each through hole 43, and a solder mound 45 is formed by flow soldering or the like. Implemented by

また、必要に応じて、放熱板22には放熱フィン等(図
示せず)が取付孔26.27を利用して付設される。
Furthermore, if necessary, heat dissipation fins or the like (not shown) are attached to the heat dissipation plate 22 using the attachment holes 26 and 27.

このようにして、実装された放熱板付トランジスタアレ
イ10がプリント配線基板上において稼働されると、半
導体ペレット12が発熱する。この半導体ペレット12
の熱はタブ7および樹脂絶縁層部29を介して放熱板2
2に伝達され、放熱板22から外部へ放熱される。この
とき、樹脂絶縁層部29の厚さがきわめて薄く設定され
ているため、タブ7からの熱は放熱板22にきわめて効
果的に伝達される。
When the transistor array 10 with a heat sink mounted in this manner is operated on the printed wiring board, the semiconductor pellet 12 generates heat. This semiconductor pellet 12
The heat is transferred to the heat sink 2 via the tab 7 and the resin insulation layer 29.
The heat is transmitted to the heat dissipation plate 22 and radiated to the outside from the heat dissipation plate 22. At this time, since the thickness of the resin insulating layer portion 29 is set to be extremely thin, the heat from the tab 7 is transmitted to the heat dissipation plate 22 extremely effectively.

前記実施例によれば次の効果が得られる。According to the embodiment described above, the following effects can be obtained.

(1)  タブおよび放熱板に傾斜面部を設けるととも
に、放熱板にレジンガイド部を設けることにより、樹脂
封止パンケージ成形時において、タブと放熱板との間の
狭い゛隙間にレジンを強制的に流れ込ませて、レジンの
流れにより作用するタブに対する下向き力と上向き力と
を均衡させることができるため、樹脂封止パンケージ成
形時にレジン流れによってタブが変形されるのを防止す
ることができ、タブの変形に伴うペレットクランクやワ
イヤ断線、短絡不良が発生を防止することができる。
(1) By providing an inclined surface part on the tab and the heat sink and a resin guide part on the heat sink, it is possible to force the resin into the narrow gap between the tab and the heat sink when molding the resin-sealed pancake. This allows the downward force and upward force exerted on the tab by the flow of resin to be balanced, so it is possible to prevent the tab from being deformed by the flow of resin during resin-sealed pancake molding. It is possible to prevent pellet cranks, wire breakage, and short circuit defects caused by deformation.

(2)前記(1)の通り、レジンの流れに起因するタブ
の変形が防止されるため、タブと放熱板との間に樹脂封
止パッケージの成形によって形成される樹脂絶縁層部の
厚さをきわめて薄く設定することができ、タブおよびリ
ード群と放熱板との間の熱抵抗を小さく制御することが
でき、放熱性能をより一層高めることができる。
(2) As described in (1) above, in order to prevent tab deformation caused by resin flow, the thickness of the resin insulation layer formed by molding the resin-sealed package between the tab and the heat sink. can be made extremely thin, the thermal resistance between the tab and lead group and the heat sink can be controlled to be low, and the heat radiation performance can be further improved.

以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、本発明は前記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない。
Although the invention made by the present inventor has been specifically explained above based on Examples, it goes without saying that the present invention is not limited to the Examples and can be modified in various ways without departing from the gist thereof. Nor.

例えば、タブの傾斜面部は、外周縁全周に設けるに限ら
ず、少なくともゲートに対向する端辺に設けてもよい。
For example, the inclined surface portion of the tab is not limited to the entire outer periphery, but may be provided at least on the edge facing the gate.

タブの異形部は、溝部に限らず凸部等であってもよいし
、省略してもよい。
The irregularly shaped portion of the tab is not limited to a groove, but may be a convex portion or the like, or may be omitted.

また、放熱板の傾斜面部およびガイド部は省略してもよ
い。
Further, the inclined surface portion and the guide portion of the heat sink may be omitted.

第16図に示されているように、放熱板22Aの第一主
面にタブ逃げ凹部24Aが、タブ7の下向き方向への変
形に対して逃げるように形成されていると、万一、タブ
7の下向き方向への変形が若干発生した場合においても
、タブ7と放熱板22Aとの間の絶縁間隔をある程度ま
で維持することができる。
As shown in FIG. 16, if the tab relief recess 24A is formed on the first main surface of the heat dissipation plate 22A so as to escape from the downward deformation of the tab 7, in the unlikely event that the tab Even if the tab 7 is slightly deformed downward, the insulation gap between the tab 7 and the heat sink 22A can be maintained to a certain extent.

[実施例2] 第17図は本発明の実施例2である樹脂絶縁形パワート
ランジスタを示す側面断面図、第18図はその一部切断
平面図である。
[Embodiment 2] FIG. 17 is a side sectional view showing a resin-insulated power transistor according to Embodiment 2 of the present invention, and FIG. 18 is a partially cutaway plan view thereof.

第19図以鋒は本発明の実施例2である樹脂絶縁形パワ
ートランジスタの製造方法を示す各説明図である。
19 and 19 are explanatory diagrams showing a method of manufacturing a resin-insulated power transistor according to a second embodiment of the present invention.

本実施例2において、本発明に係る半導体装置は、樹脂
絶縁形パワートランジスタ(以下、単に、トランジスタ
という。)として構成されている。
In Example 2, the semiconductor device according to the present invention is configured as a resin-insulated power transistor (hereinafter simply referred to as a transistor).

このトランジスタ50は、トランジスタ回路(図示せず
)が作り込まれている半導体ペレット62と、各半導体
ペレット62がボンディング層61によりそれぞれボン
ディングされているタブ57と、タブ57に対向するよ
うにそれぞれ配設されている複数本のインナリード56
およびアウタリード54と、各半導体ペレット62とイ
ンナリード56との間に橋絡されているワイヤ63と、
タブ57の表面側に形成されている封止部77、および
、タブ57の裏面側に薄く形成されている樹脂絶縁層部
79から成り、半導体ペレット62、タブ57、インナ
リード56、およびワイヤ63を樹脂封止するパッケー
ジとを備えている。
The transistor 50 includes a semiconductor pellet 62 in which a transistor circuit (not shown) is built, a tab 57 to which each semiconductor pellet 62 is bonded via a bonding layer 61, and a tab 57 arranged to face the tab 57. Multiple inner leads 56 installed
and a wire 63 bridged between the outer lead 54 and each semiconductor pellet 62 and the inner lead 56;
Consisting of a sealing part 77 formed on the front side of the tab 57 and a thin resin insulation layer part 79 formed on the back side of the tab 57, the semiconductor pellet 62, the tab 57, the inner lead 56, and the wire 63 and a resin-sealed package.

そして、前記タブ57の外周縁部には傾斜面部58が略
全周にわたり、タブ57の半導体ペレット62搭載面と
反対側の端面が縁取りされて、内側に行くにしたがって
肉厚が増加するように傾斜されて形成されている。そし
て、このトランジスタは次のような製造方法により製造
されている。
The outer peripheral edge of the tab 57 is provided with an inclined surface portion 58 extending almost all the way around, and the end surface of the tab 57 opposite to the surface on which the semiconductor pellet 62 is mounted is hemmed so that the wall thickness increases toward the inside. It is formed at an angle. This transistor is manufactured by the following manufacturing method.

次に、本発明の実施例2であるトランジスタの製造方法
を説明する。この説明により、前記トランジスタの構成
についての詳細が明らかにされる。
Next, a method for manufacturing a transistor, which is a second embodiment of the present invention, will be described. This description reveals details about the structure of the transistor.

本実施例2に係るトランジスタの製造方法には、第19
図および第20図に示されている多連り一ドフレーム5
1が使用される。この多連リードフレーム51は銅系材
料(銅または銅合金)または鉄系材料(鉄または鉄合金
)等のような導電材料が用いられて、プレス加工または
エンチング加工により大略長方形の薄板形状に一体成形
されており、複数個の単位リードフレーム52が横一列
に等ピッチに並設されている。但し、図面では一単位の
みが示されている。多連リードフレーム51は、隣合う
単位リードフレーム52.52同士で直線的に連設され
ている細長い外枠(フレーム)53を備えており、外枠
53には送り孔や位置決め孔として使用される小孔53
aが複数個規則的に配されて開設されている。
The method for manufacturing a transistor according to Example 2 includes the 19th
The multiple chained frame 5 shown in Figures and Figure 20
1 is used. This multi-lead frame 51 is made of a conductive material such as a copper material (copper or copper alloy) or an iron material (iron or iron alloy), and is integrally formed into a roughly rectangular thin plate shape by pressing or etching. A plurality of unit lead frames 52 are arranged in a horizontal row at equal pitches. However, only one unit is shown in the drawing. The multiple lead frame 51 includes an elongated outer frame (frame) 53 that is linearly connected to adjacent unit lead frames 52 and 52, and the outer frame 53 has holes that are used as feed holes and positioning holes. small hole 53
A plurality of ``a'' are arranged regularly.

各単位リードフレーム52には3本のアウタリード54
が外枠53の一端辺に長手方向に等間隔に配されて、直
角方向に一体的にそれぞれ突設されており、隣合うアウ
タリード54.54の間にはダム55がそれぞれ一体的
に架設されている。
Each unit lead frame 52 has three outer leads 54.
are arranged at equal intervals in the longitudinal direction on one end side of the outer frame 53 and project integrally in the right angle direction, and dams 55 are integrally constructed between adjacent outer leads 54 and 54, respectively. ing.

これらアウタリード54のうち、2本のアウタリードの
ダム55よりも先方部分にはインナリード56が、他の
1本にはタブ57がそれぞれ一体的に形成されている。
Of these outer leads 54, an inner lead 56 is integrally formed in a portion ahead of the dam 55 of two outer leads, and a tab 57 is integrally formed in the other one.

そして、タブ57の外周縁には傾斜面部58が略全周に
わたり、後記するペレットボンデイングg!端面(以下
、第1主面という、)と反対側の端面(以下、第2主面
という。)が縁取られて、がっ、内側に行くにしたがっ
て肉厚が次第に厚くなるように傾斜されてそれぞれ形成
されている。また、タブ57の幅方向の中央部には取付
孔部59がアウタリード54の反対側の片部に配されて
、肉厚方間に貫通するように開設されている。
A sloped surface portion 58 extends substantially all around the outer peripheral edge of the tab 57, and is used for pellet bonding g! to be described later. The end surface (hereinafter referred to as the first principal surface) and the opposite end surface (hereinafter referred to as the second principal surface) are bordered and are sloped so that the wall thickness gradually increases toward the inside. each formed. Further, a mounting hole 59 is provided in the widthwise central portion of the tab 57 on the opposite side of the outer lead 54, and is opened so as to penetrate through the thickness direction.

このように構成されている多連リードフレーム51には
ペレットボンディング工程およびワイヤボンディング工
程において、各単位リードフレーム52毎に第21図お
よび第22図に示されているように、タブ57上に半導
体ペレット62(以下、ペレットという。)がAgペー
スト等がら成るボンディング層61によりそれぞれボン
ディングされるとともに、各ペレット62のボンディン
グパッド62aとインナリード56との間にはワイヤ6
3がそれぞれ橋絡される。これにより、各ペレット62
のトラン・ジスタ回路はそのボンディングパン)’62
a、ワイヤ63、インナリード56を介して各アウタリ
ード54により電気的に外部に取り出されることになる
In the pellet bonding process and the wire bonding process, the multi-lead frame 51 configured as described above has a semiconductor on the tab 57 for each unit lead frame 52, as shown in FIGS. 21 and 22. Pellets 62 (hereinafter referred to as pellets) are bonded to each other by a bonding layer 61 made of Ag paste or the like, and a wire 6 is connected between the bonding pad 62a of each pellet 62 and the inner lead 56.
3 are each bridged. As a result, each pellet 62
The transistor circuit is the bonding pan)'62
a, the wire 63, and the inner lead 56 to be electrically taken out to the outside by each outer lead 54.

このようにペレットおよびワイヤボンディングされた多
連リードフレーム51は、各単位リードフレーム52毎
に樹脂封止するパッケージ群が、第23図〜第25図に
示されているようなトランスファ成形製ff70が使用
されて同時成形される。
In the multi-lead frame 51 subjected to pellet and wire bonding in this way, the package group resin-sealed for each unit lead frame 52 is a transfer molded FF70 as shown in FIGS. 23 to 25. used and simultaneously molded.

第23図〜第25図に示されているトランスファ成形装
置70はシリンダ装置等(図示せず)によって互いに型
締めされる一対の上型71と下型72とを備えており、
上型71と下型72との合わせ面には上型キャビティー
凹部73aと下型キャヒティー凹部73bとが互いに協
働してキャビティー73を形成するようにそれぞれ複数
組没設されている。上型71の合わせ面にはボット74
が開設されており、ボンド74にはシリンダ装置(図示
せず)により進退されるプランジャ75が成形材料とし
ての樹脂(以下、レジンという。)を送給し得るように
挿入されている。下型72の合わせ面にはカル76がポ
アドア4との対向位置に配されて没設されているととも
に、上型71の合わせ面には複数条のランナ77がボッ
ト74にそれぞれ接続するように放射状に配されて没設
されている。各ランナ77の他端部は上側キャビティー
凹部73痕にそれぞれ接続されており、その接続部には
ゲート78がレジンをキャビティー73内に注入し得る
ように形成されている。また、下型72の合わせ面には
リードフレーム逃げ凹所79が、リードフレームの厚み
を逃げ得るように、その外形よりも若干大きめの長方形
で、その厚さと略等しい寸法の一定深さに没設されてい
る。さらに、下型キャビティー凹部73bには中子型8
0が幅方向の中央部におけるゲート78寄りの位置に配
されて垂直に立設されている。
The transfer molding apparatus 70 shown in FIGS. 23 to 25 includes a pair of upper mold 71 and lower mold 72 that are clamped together by a cylinder device or the like (not shown).
A plurality of upper mold cavity recesses 73a and lower mold cavity recesses 73b are respectively recessed in the mating surfaces of the upper mold 71 and the lower mold 72 so as to cooperate with each other to form the cavity 73. A bot 74 is placed on the mating surface of the upper mold 71.
A plunger 75, which is moved forward and backward by a cylinder device (not shown), is inserted into the bond 74 so as to feed resin as a molding material (hereinafter referred to as resin). A cull 76 is arranged and recessed in the mating surface of the lower mold 72 at a position opposite to the pore door 4, and a plurality of runners 77 are connected to the bots 74 on the mating surface of the upper mold 71, respectively. They are placed in a radial pattern. The other end of each runner 77 is connected to the upper cavity recess 73, and a gate 78 is formed at the connection portion so that resin can be injected into the cavity 73. In addition, on the mating surface of the lower die 72, a lead frame relief recess 79 is formed in a rectangular shape slightly larger than the outer shape of the lead frame so as to escape the thickness of the lead frame, and is sunk to a constant depth with dimensions approximately equal to the thickness of the lead frame. It is set up. Further, a core mold 8 is provided in the lower mold cavity recess 73b.
0 is disposed at a position near the gate 78 in the center portion in the width direction and stands vertically.

前記構成にかかる多連リードフレーム51が用いられて
樹脂封止形パンケージがトランスファ成形される場合、
まず、多連リードフレーム51が下型72に没設されて
いる逃げ凹所79内に、各単位リードフレーム52にお
けるペレット62が各キャビティー73内にそれぞれ収
容されるように、かつ、取付孔部59に中子型80が挿
入するように配されてセントされる。このとき、各単位
リードフレーム52はタブ57の先端側傾斜面部58が
ゲート7日に対間された状態で、キャビティー73内に
おいて保持されている。
When the multi-lead frame 51 according to the above configuration is used to transfer mold a resin-sealed pancage,
First, the multiple lead frame 51 is inserted into the relief recess 79 into which the lower mold 72 is recessed, and the mounting hole The core mold 80 is inserted into the portion 59 and is inserted. At this time, each unit lead frame 52 is held in the cavity 73 with the tip side inclined surface portion 58 of the tab 57 being spaced between the gates 7 and 7.

次いで、上型71と下型72とが型締めされる。Next, the upper mold 71 and the lower mold 72 are clamped.

この型締めにより、多連リードフレーム51が上型71
と下型72との間で挟持される。
Due to this mold clamping, the multiple lead frame 51 is attached to the upper mold 71.
and the lower die 72.

続いて、ボット74からプランジャ75により成形材料
としてのレジン81がランナ77およびゲート78を通
じて各キャビティー73に送給されて圧入される。
Subsequently, resin 81 as a molding material is fed from the bot 74 by the plunger 75 into each cavity 73 through the runner 77 and the gate 78, and is press-fitted therein.

ところで、レジン81がキャビティー73内にゲート7
8から圧入されると、キャビティー73内はタブ57の
上方空間が広く形成されているため、レジン81が多量
、かつ、急激に流れ込みレジン81の流れによりタブ5
7にこれを下型キャビティー凹部73bの底面の方向へ
変形させようとする力が作用することがある。
By the way, the resin 81 is inside the cavity 73 at the gate 7.
When the resin 81 is press-fitted from the tab 57 into the cavity 73, a large amount of resin 81 rapidly flows into the cavity 73 due to the large space above the tab 57.
7 may be subjected to a force that tends to deform it toward the bottom surface of the lower mold cavity recess 73b.

ここで、タブが下型キャビティー凹部の底面に対して単
に浮かされているだけの従来例の場合、タブが底面の方
向へ変形されることにより、タブが底面に接触ないしは
極く接近したり、ペレットクラックやワイヤ断線等短絡
不良が発生したりする。
Here, in the case of the conventional example in which the tab is simply floating on the bottom surface of the lower mold cavity recess, the tab is deformed toward the bottom surface, so that the tab comes into contact with or comes very close to the bottom surface, or Short circuit defects such as pellet cracks and wire breaks may occur.

しかし、本実施例においては、タブ57に傾斜面部58
が形成されているため、タブ57にこれを底面の方向へ
変形させようとする力が作用することは防止される。そ
の結果、タブ57が変形されることはなく、予め想定さ
れた所定の状態を維持する。したがって、タブ57が変
形することによるタブ57の底面への接触ないしは極く
接近、ペレットクラックやワイヤの断線および短絡不良
等の発生は防止される。
However, in this embodiment, the tab 57 has an inclined surface portion 58.
, it is possible to prevent a force from acting on the tab 57 to deform it toward the bottom surface. As a result, the tab 57 is not deformed and maintains a predetermined state assumed in advance. Therefore, contact with or extremely close contact with the bottom surface of the tab 57 due to deformation of the tab 57, occurrence of pellet cracks, wire breakage, short circuit defects, etc. are prevented.

すなわち、ゲート7日からキャビティー73内に圧入さ
れたレジン81がタブ57外周縁に形成された傾斜面部
58に接衝すると、その傾斜面に沿って流れる状態にな
るため、レジン81はタブ57の第2主面下方側におけ
る下型キャビティー凹部33bとの狭い隙間内へ流れ込
む傾向が強められる。このようなレジン81の狭い隙間
への流れ込み強化傾向により、タブ57の上下における
レジン流れによるタブ57に対する下向きと上向きの作
用力双方が略均衡するため、タブ57を底面の方向へ変
形させようとする力の発生は防止される。
That is, when the resin 81 press-fitted into the cavity 73 from the 7th day of the gate comes into contact with the inclined surface portion 58 formed on the outer peripheral edge of the tab 57, the resin 81 flows along the inclined surface. The tendency of flowing into the narrow gap between the lower mold cavity recess 33b and the lower mold cavity recess 33b on the lower side of the second main surface is strengthened. Due to this tendency of the resin 81 to flow into the narrow gap and strengthen, both the downward and upward forces acting on the tab 57 due to the flow of resin above and below the tab 57 are approximately balanced, so that the tab 57 tends to deform in the direction of the bottom surface. The generation of forces is prevented.

そして、キャビティー73内に圧入されたレジン81は
タブ57と下型キャビティー凹部73bの底面とが対向
する狭い隙間内で拡散することにより、その隙間内に樹
脂絶縁層部83を形成することになる。この樹脂絶縁層
部83の厚さは単位リードフレーム52とキャビティー
凹部73b底面との隙間を適宜設定することにより調整
することができ、この樹脂絶縁層部83の厚さが蕩い稼
タブ57が外気接近するため、タブ57の樹脂絶縁層部
83を通じての放熱性能が良好になる。そして、本実施
例においては、レジン流れに起因するタブ57の変形に
よるタブ57の変形不良の発生の危険がないため、樹脂
絶縁層部83の厚さはきわめて薄く設定することができ
る。したがって、放熱性能はきわめて良好なものになる
Then, the resin 81 press-fitted into the cavity 73 diffuses within the narrow gap where the tab 57 and the bottom surface of the lower mold cavity recess 73b face each other, thereby forming the resin insulating layer portion 83 within the gap. become. The thickness of this resin insulation layer portion 83 can be adjusted by appropriately setting the gap between the unit lead frame 52 and the bottom surface of the cavity recess 73b. Since the outside air approaches, the heat dissipation performance through the resin insulating layer portion 83 of the tab 57 is improved. In this embodiment, since there is no risk of deformation failure of the tab 57 due to deformation of the tab 57 due to resin flow, the thickness of the resin insulating layer portion 83 can be set to be extremely thin. Therefore, the heat dissipation performance is extremely good.

レジン注入後、レジンが熱硬化されて樹脂封止パッケー
ジ82が成形されると、上型71および下型72は型開
きされるとともに、エジェクタ・ビン(口承せず)によ
り樹脂封止パンケージ82群が離型される。このように
して、樹脂封止パンケージ82群を成形された多連リー
ドフレーム51はトランスファ成形装置70から脱装さ
れる。
After the resin is injected, when the resin is thermoset and the resin-sealed package 82 is molded, the upper mold 71 and the lower mold 72 are opened, and an ejector bottle (not orally transferred) is used to form a group of resin-sealed pancakes 82. is released from the mold. In this way, the multi-lead frame 51 on which the group of resin-sealed pancakes 82 has been molded is removed from the transfer molding apparatus 70.

そして、このように樹脂成形されたパッケージ82の内
部には、ペレット62、インナリード56、ボンディン
グワイヤ63が樹脂封止されることになる。また、樹脂
封止パッケージ82には取付孔84が中子型80により
上下方向に貫通するように開設されており、この取付孔
84はこのトランジスタ50が放熱板やプリント配線基
板等に実装される際に、締結具等を挿通するのに使用し
得るように構成されている。
Then, the pellet 62, the inner lead 56, and the bonding wire 63 are sealed with resin inside the package 82 molded with resin in this manner. Further, a mounting hole 84 is formed in the resin-sealed package 82 so as to pass through it in the vertical direction by the core mold 80, and this mounting hole 84 is used for mounting the transistor 50 on a heat sink, a printed wiring board, etc. It is configured so that it can be used for inserting fasteners and the like.

その後、多連リードフレーム51はリード切断成形工程
において、各単位リードフレーム52毎に順次、リード
切断装置(図示せず)により、外枠53および各ダム5
5を切り落され、第17図および第18図に示されてい
るように、トランジスタ50が形成される。
Thereafter, in a lead cutting and forming process, the multiple lead frame 51 is cut into the outer frame 53 and each dam 5 by a lead cutting device (not shown) for each unit lead frame 52.
5 is cut off to form a transistor 50, as shown in FIGS. 17 and 18.

以上のようにして製造されたトランジスタ10は、例え
ば、第26図および第27図に示されているようにプリ
ント配線基板に実装される。
The transistor 10 manufactured as described above is mounted on a printed wiring board, for example, as shown in FIGS. 26 and 27.

すなわち、第26図および第27図に示されているよう
に、電子機器等におけるプリント配線基板85上に実装
される際、前記構成にかかる樹脂絶縁形パワートランジ
スタ50は基板85の所定位置に配されて樹脂絶縁層部
83をその表面に当接される。続いて、セルフタップね
し部材87等のような締結具をパッケージ82の上方か
ら取付孔84に挿入され、予め基板85に開設された締
結孔86にねじ込まれることにより、樹脂絶縁形パワー
トランジスタ50は基板85上に固定される。
That is, as shown in FIGS. 26 and 27, when mounted on a printed wiring board 85 in an electronic device or the like, the resin-insulated power transistor 50 having the above structure is placed at a predetermined position on the board 85. Then, the resin insulating layer section 83 is brought into contact with the surface thereof. Subsequently, a fastener such as a self-tap screw member 87 is inserted into the mounting hole 84 from above the package 82 and screwed into the fastening hole 86 previously formed in the substrate 85, thereby attaching the resin-insulated power transistor 50. is fixed on the substrate 85.

このようにして、実装された樹脂絶縁形トランジスタ5
0がプリント配線基板85上において稼働されると、半
導体ペレット62が発熱する。この半導体ペレット62
の熱はタブ57および樹脂絶縁層部83を介してプリン
ト配線基板85に伝達され、基板85から外部へ放熱さ
れる。このとき、樹脂絶縁層部83の厚さがきわめて薄
く設定されているため、タブ57からの熱は基板85に
きわめて効果的に伝達される。
In this way, the mounted resin insulated transistor 5
0 is operated on the printed wiring board 85, the semiconductor pellet 62 generates heat. This semiconductor pellet 62
The heat is transmitted to the printed wiring board 85 via the tab 57 and the resin insulating layer portion 83, and is radiated from the board 85 to the outside. At this time, since the thickness of the resin insulating layer section 83 is set to be extremely thin, the heat from the tab 57 is transmitted to the substrate 85 extremely effectively.

前記実施例によれば次の効果が得られる。According to the embodiment described above, the following effects can be obtained.

(1)  タブに傾斜面部を設けることにより、樹脂封
圧パンケージ成形時において、タブと下型キャビティー
四部底面との間の狭い隙間にレジンを強制的に流れ込ま
せて、レジンの流れにより作用するタブに対する下向き
力と上向き力とを均衡させることができるため、樹脂封
止パッケージ成形時にレジン流れによってタブが変形さ
れるのを防止することができ、タブの変形に伴う絶縁耐
圧の低下、および、ペレットクラックやワイヤ断線、短
絡不良が発生を防止することができる。
(1) By providing an inclined surface part on the tab, during resin sealing pancage molding, the resin is forced to flow into the narrow gap between the tab and the bottom of the four lower mold cavities, and the resin flow acts. Since the downward force and upward force on the tab can be balanced, it is possible to prevent the tab from being deformed by resin flow during molding of the resin-sealed package, and to prevent the dielectric strength from decreasing due to the deformation of the tab. Pellet cracks, wire breaks, and short circuits can be prevented from occurring.

(2)前記(1)の通り、レジンの流れに起因するタブ
の変形が防止されるため、タブと外気との間に樹脂封止
パンケージの成形によって形成される樹脂絶縁層部の厚
さをきわめて薄く設定することができ、タブおよびリー
ド群との間の熱抵抗を小さく制御することができ、放熱
性能をより一層高めることができる。
(2) As described in (1) above, in order to prevent the tab from deforming due to resin flow, the thickness of the resin insulation layer formed by molding the resin-sealed pancage between the tab and the outside air can be reduced. It can be made extremely thin, the thermal resistance between the tab and the lead group can be controlled to be low, and the heat dissipation performance can be further improved.

以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、本発明は前記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない。
Although the invention made by the present inventor has been specifically explained above based on Examples, it goes without saying that the present invention is not limited to the Examples and can be modified in various ways without departing from the gist thereof. Nor.

例えば、タブの傾斜面部は、外周縁全周に設けるに限ら
ず、少なくともゲートに対向する端辺に設けてもよい。
For example, the inclined surface portion of the tab is not limited to the entire outer periphery, but may be provided at least on the edge facing the gate.

以上の説明では主として本発明者によってなされた発明
をその背景となった利用分野である放熱板付トランジス
タアレイ、および、樹脂絶縁形パワートランジスタに適
用した場合について説明したが、それに限定されるもの
ではなく、放熱板付シングル・インライン・プチスチノ
ク・パッケージを備えている半導体集積回路装置(フィ
ン付SIP・IC)等のような樹脂封止パッケージを備
えている半導体装置全般に適用することができる。
In the above explanation, the invention made by the present inventor was mainly applied to a transistor array with a heat sink and a resin-insulated power transistor, which are the background fields of application of the invention, but the invention is not limited thereto. The present invention can be applied to general semiconductor devices equipped with resin-sealed packages, such as semiconductor integrated circuit devices (SIP/IC with fins) equipped with a single in-line plastic package with a heat sink.

特に、本発明はタブの第2主面側に薄い樹脂絶縁層部を
備えている半導体装置の製造技術に通用して優れた効果
が得られる。
In particular, the present invention can be applied to manufacturing techniques for semiconductor devices in which a thin resin insulating layer is provided on the second main surface side of a tab, and excellent effects can be obtained.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を簡単に説明すれば、次の通りである。
A brief explanation of the effects obtained by typical inventions disclosed in this application is as follows.

タブに傾斜面部を設けることにより、樹脂封止パンケー
ジ成形時において、タブ下方の狭い隙間にレジンを強制
的に流れ込ませて、レジンの流れにより作用するタブに
対する下向き力と上向き力とを均衡させることができる
ため、樹脂封止パッケージ成形時にレジン流れによって
タブが変形されるのを防止することができ、タブの変形
に伴うペレットクランクやワイヤ断線、短絡不良、およ
び、絶縁耐圧性能低下が発生するのを防止することがで
きる。
By providing the tab with an inclined surface, the resin is forced to flow into the narrow gap below the tab during molding of the resin-sealed pancake, thereby balancing the downward and upward forces exerted on the tab by the resin flow. This prevents the tab from being deformed due to resin flow during molding of the resin-sealed package, and prevents pellet cranks, wire breaks, short circuits, and deterioration of dielectric strength performance due to tab deformation. can be prevented.

前記の通り、レジンの流れに起因するタブの変形が防止
されるため、樹脂封止パッケージの成形によって形成さ
れる樹脂絶縁層部の厚さをきわめて薄く設定することが
でき、その熱抵抗を小さく制御することができ、放熱性
能をより一層高めることができる。
As mentioned above, since deformation of the tab due to resin flow is prevented, the thickness of the resin insulation layer formed by molding the resin-sealed package can be set to be extremely thin, reducing its thermal resistance. control, and the heat dissipation performance can be further improved.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の実施例1である放熱板付トランジスタ
アレイを示す側面断面図、 第2図はその一部省略平面図である。 第3図以陣は本発明の実施例1である放熱板付トランジ
スタアレイの製造方法を示すもので、第3図はその製造
方法に使用される多連リードフレームを示す一部省略平
面図、 第4図は第3図のIf−TV線に沿う断面図、第5図は
ペレットおよびワイヤボンディング工程後を示す一部省
略平面図、 第6図は第5回の■−■線に沿う断面図、第7図は放熱
板付トランジスタアレイの製造方法に使用される多連放
熱板を示す一部省略千面l第8図は第7図の■−■矢視
図、 第9図は一部断面を含む第7図のIX−IX矢視l第1
0図は樹脂封止パンケージ成形工程を示す一部省略縦断
面図、 第11図は第10図のX1XI線に沿う一部省略断面図
、 第12図は上型を取った状態を示す一部省略平面図、 第13図は放熱板付トランジスタアレイの実装状態を示
す正面図、 第14図はその側面断面図、 第15図はその背面口である。 第16図は本発明の実施例1の変形例を示す縦断面図、
である。 第17図は本発明の実施例2である樹脂絶縁形パワート
ランジスタを示す側面断面図、第18図はその一部切断
平面図である。 第19図以降は本発明の実施例2である樹脂絶縁形パワ
ートランジスタの製造方法を示すもので、第19図はそ
の製造方法に使用される多連リードフレームを示す一部
省略平面図、 第20図は第19図のxX−xX線に沿う断面図、 第21図はペレットおよびワイヤボンディング工程後を
示す一部省略平面図、 第22図は第21図の樅断面回、 第23回は樹脂封止パッケージ成形工程を示す一部省略
縦断面図、 第24図は第23図の一部省略断面図、第25図は上型
を取った状態を示す一部省略平面図、 第26図は樹脂絶縁形パワートランジスタの実装状態を
示す側面断面図、 第27図はその正面断面図である。 1・・・多連リードフレーム、2・・・単位リードフレ
ーム、3・・・外枠、3a・・・小孔、4・・・アウタ
リード、5・・・ダム、6・・・インナリード、7・・
・タフ゛、8・・・イ頃斜面部、9・・・溝部(異形部
)、10・・・放熱板付トランジスタアレイ、11・・
・ボンディング層、12・・・ペレット、12a・・・
ボンディングバンド、13・・・ワイヤ、21・・・多
連放熱板、22・・・単位放熱板、23・・・傾斜面部
、24・・・ガイド部、24A・・・逃げ凹部、25・
・・抜は止め部、26.27・・・取付孔、28・・・
樹脂封止パンケージ、29・・・樹脂絶縁層部30・・
・トランスファ成形装置、31・・・上型、32・・下
型、33・・・キャビティー、33a・・・上型キャビ
ティー四部、33b・・・下型キャビティー凹部、34
・・・ボット、35・・・プランジャ、36・・・カル
、37・・・ランナ、38・・・ゲート、39・・・リ
ードフレーム逃げ凹所、40・・・放熱板逃げ凹所、4
1・・・レジン、42・・・プリント配線基板、43・
・・スルーホール、44・・・導体層部、45・・・は
んだ盛り部、50・・・樹脂絶縁形パワートランジスタ
、51・・・多連リードフレーム、52・・・単位リー
ドフレーム、53・・・外枠、53a・・・小孔、54
・・・アウタリード、55・・・ダム、56・・・イン
ナリード、57・・・タブ、58・・・傾斜面部、59
・・・取付孔部、61・・・ボンディング層、62・・
・ペレット、62a・・・ボンディングパッド、63・
・・ワイヤ、70・・・トランスファ成形装置、71・
・・上型、72・・・下型、73・・・キャビティー、
73a・・・上型キャビティー凹部、73b・・・下型
キャビティー凹部、74・・・ボット、75・・・プラ
ンジャ、76・・・カル、77・・・ランナ、78・・
・ゲート、79・・・リードフレーム逃げ凹所、80・
・・中子型、81・・・レジン、82・・・樹脂封止バ
・ノケージ、83・・・樹脂絶縁層部、84・・・取付
孔、85・・・プリント配線基板、86・・・締結孔、
87・・・わし部材。 代理人 弁理士 梶  原  辰  也第151!1 第161!! 鴇 117 M5Q 第18図 第20図 第26図 第27図
FIG. 1 is a side sectional view showing a transistor array with a heat sink according to a first embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a partially omitted plan view thereof. FIG. 3 shows a method for manufacturing a transistor array with a heat sink according to the first embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a partially omitted plan view showing a multiple lead frame used in the manufacturing method. Figure 4 is a sectional view taken along the If-TV line in Figure 3, Figure 5 is a partially omitted plan view showing the pellet and after the wire bonding process, and Figure 6 is a sectional view taken along the 5th line ■-■. , Fig. 7 shows a multiple heat sink used in the manufacturing method of a transistor array with a heat sink, partially omitted. IX-IX arrow view l in FIG. 7 including
Figure 0 is a partially omitted vertical cross-sectional view showing the resin-sealed pancake molding process, Figure 11 is a partially omitted cross-sectional view along the X1XI line in Figure 10, and Figure 12 is a partially omitted view showing the state in which the upper mold is removed. FIG. 13 is a front view showing the mounted state of the transistor array with a heat sink, FIG. 14 is a side sectional view thereof, and FIG. 15 is a rear entrance thereof. FIG. 16 is a longitudinal sectional view showing a modification of Embodiment 1 of the present invention;
It is. FIG. 17 is a side sectional view showing a resin insulated power transistor according to a second embodiment of the present invention, and FIG. 18 is a partially cutaway plan view thereof. FIG. 19 and subsequent figures show a method for manufacturing a resin-insulated power transistor according to a second embodiment of the present invention, and FIG. 19 is a partially omitted plan view showing a multiple lead frame used in the manufacturing method. Figure 20 is a cross-sectional view along the xX-xX line in Figure 19, Figure 21 is a partially omitted plan view showing the pellet and wire bonding process after the process, Figure 22 is a cross-sectional view of the fir tree in Figure 21, and Figure 23 is a cross-sectional view of the fir tree in Figure 21. FIG. 24 is a partially omitted longitudinal sectional view showing the resin-sealed package molding process; FIG. 24 is a partially omitted sectional view of FIG. 23; FIG. 25 is a partially omitted plan view showing the state with the upper mold removed; FIG. 26 27 is a side cross-sectional view showing the mounting state of the resin-insulated power transistor, and FIG. 27 is a front cross-sectional view thereof. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1...Multiple lead frame, 2...Unit lead frame, 3...Outer frame, 3a...Small hole, 4...Outer lead, 5...Dam, 6...Inner lead, 7...
・Tough, 8...Slope part around A, 9...Groove part (unusual shape part), 10...Transistor array with heat sink, 11...
・Bonding layer, 12... Pellet, 12a...
Bonding band, 13... Wire, 21... Multiple heat sink, 22... Unit heat sink, 23... Inclined surface portion, 24... Guide portion, 24A... Relief recess, 25...
...Removal stop part, 26.27...Mounting hole, 28...
Resin-sealed pan cage, 29...resin insulation layer portion 30...
- Transfer molding device, 31... Upper mold, 32... Lower mold, 33... Cavity, 33a... Upper mold cavity four parts, 33b... Lower mold cavity recess, 34
... Bot, 35... Plunger, 36... Cal, 37... Runner, 38... Gate, 39... Lead frame escape recess, 40... Heat sink escape recess, 4
1... Resin, 42... Printed wiring board, 43.
...Through hole, 44...Conductor layer portion, 45...Solder mound portion, 50...Resin insulated power transistor, 51...Multiple lead frame, 52...Unit lead frame, 53... ...Outer frame, 53a...Small hole, 54
...Outer lead, 55...Dam, 56...Inner lead, 57...Tab, 58...Slope portion, 59
...Mounting hole, 61...Bonding layer, 62...
・Pellet, 62a...Bonding pad, 63・
...Wire, 70...Transfer molding device, 71.
... Upper mold, 72... Lower mold, 73... Cavity,
73a...Upper mold cavity recess, 73b...Lower mold cavity recess, 74...Bot, 75...Plunger, 76...Cull, 77...Runner, 78...
・Gate, 79...Lead frame escape recess, 80・
... Core mold, 81 ... Resin, 82 ... Resin sealing bar cage, 83 ... Resin insulation layer part, 84 ... Mounting hole, 85 ... Printed wiring board, 86 ...・Fastening hole,
87... Eagle member. Agent Patent Attorney Tatsuya Kajihara No. 151! 1 No. 161! ! Toki117 M5Q Fig. 18 Fig. 20 Fig. 26 Fig. 27

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、半導体ペレットと、半導体ペレットがボンディング
されているタブと、タブにボンディングされた半導体ペ
レットに電気的に接続されている複数本のリードと、半
導体ペレット、タブおよびリードのインナ部を樹脂封止
するパッケージであって、タブの半導体ペレットボンデ
ィング側の封止部、および、タブの半導体ペレットボン
ディング側と反対側の絶縁層部から構成されている樹脂
封止パッケージとを備えている半導体装置において、 前記タブの外周縁における少なくともゲート痕に対向す
る端辺に傾斜面部が、前記半導体ペレットボンディング
側と反対側端面が縁取られて、かつ、内側に行くにした
がって肉厚が厚くなるように傾斜されて形成されている
ことを特徴とする半導体装置。 2、前記タブの半導体ペレットボンディング側と反対側
の端面に異形部が形成されていることを特徴とする特許
請求の範囲第1項記載の半導体装置。 3、半導体ペレットと、半導体ペレットがボンディング
されているタブと、タブにボンディングされた半導体ペ
レットに電気的に接続されている複数本のリードと、タ
ブの裏面に樹脂絶縁層部を介して近接するように対向さ
れている放熱板と、半導体ペレット、タブ、リード群の
一部および放熱板の一部を樹脂封止するパッケージとを
備えている半導体装置において、 前記タブの外周縁における少なくともゲート痕に対向す
る端辺に傾斜面部が、前記半導体ペレットボンディング
側と反対側端面が縁取られて、かつ、内側に行くにした
がって肉厚が厚くなるように傾斜されて形成されている
ことを特徴とする半導体装置。 4、前記放熱板に傾斜面部が、ゲート痕に対向し、かつ
、タブの前記傾斜面部に対向するように形成されている
ことを特徴とする特許請求の範囲第3項記載の半導体装
置。 5、前記放熱板にガイド部がレジンを案内するように形
成されていることを特徴とする特許請求の範囲第3項記
載の半導体装置。 6、リードフレームのタブの外周縁における少なくとも
ゲート痕に対向する端辺に傾斜面部が、半導体ペレット
ボンディング側と反対側端面が縁取られて、かつ、内側
に行くにしたがって肉厚が厚くなるように傾斜されて形
成される工程と、 リードフレームの前記タブ上に半導体ペレットがボンデ
ィングされるとともに、この半導体ペレットとリードフ
レームのリードとが電気的に接続される工程と、 前記タブの傾斜面部が成形装置のゲートに対向された状
態で、前記リードフレームが成形装置にセットされ、こ
の成形装置のキャビティーにレジンが注入されて樹脂封
止パッケージが半導体ペレット、タブ、リードの一部を
樹脂封止するように成形される工程と、 を備えていることを特徴とする半導体装置の製造方法。
[Claims] 1. A semiconductor pellet, a tab to which the semiconductor pellet is bonded, a plurality of leads electrically connected to the semiconductor pellet bonded to the tab, and a semiconductor pellet, a tab, and a lead. A package whose inner part is resin-sealed, and includes a resin-sealed package consisting of a sealing part on the semiconductor pellet bonding side of the tab and an insulating layer part on the opposite side of the tab to the semiconductor pellet bonding side. In the semiconductor device, the outer peripheral edge of the tab has an inclined surface portion at least on the edge opposite to the gate trace, the end surface opposite to the semiconductor pellet bonding side is bordered, and the wall thickness increases as it goes inward. What is claimed is: 1. A semiconductor device characterized in that the semiconductor device is formed so as to be inclined so that 2. The semiconductor device according to claim 1, wherein a deformed portion is formed on an end surface of the tab opposite to the semiconductor pellet bonding side. 3. A semiconductor pellet, a tab to which the semiconductor pellet is bonded, a plurality of leads electrically connected to the semiconductor pellet bonded to the tab, and a plurality of leads that are close to the back surface of the tab via a resin insulation layer. In the semiconductor device, the semiconductor device includes a heat dissipation plate that faces each other, and a package that seals a semiconductor pellet, a tab, a part of the lead group, and a part of the heat dissipation plate with resin, at least a gate mark on the outer periphery of the tab. A sloped surface portion is formed on an end face opposite to the semiconductor pellet bonding side, the end face opposite to the semiconductor pellet bonding side is edged, and the wall thickness becomes thicker toward the inside. Semiconductor equipment. 4. The semiconductor device according to claim 3, wherein an inclined surface portion is formed on the heat sink so as to face the gate trace and to face the inclined surface portion of the tab. 5. The semiconductor device according to claim 3, wherein a guide portion is formed on the heat sink so as to guide the resin. 6. At least on the outer peripheral edge of the tab of the lead frame, at least on the edge opposite to the gate mark, the inclined surface portion is edged on the side opposite to the semiconductor pellet bonding side, and the wall thickness increases as it goes inward. A step of bonding a semiconductor pellet onto the tab of the lead frame and electrically connecting the semiconductor pellet to a lead of the lead frame; A step of forming the inclined surface portion of the tab. The lead frame is set in a molding device while facing the gate of the device, and resin is injected into the cavity of this molding device to form a resin-sealed package that seals a portion of the semiconductor pellet, tab, and lead with the resin. 1. A method for manufacturing a semiconductor device, comprising: a step of molding the device so as to form the semiconductor device.
JP31114690A 1990-11-16 1990-11-16 Semiconductor device and its manufacture Pending JPH04186662A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP31114690A JPH04186662A (en) 1990-11-16 1990-11-16 Semiconductor device and its manufacture

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP31114690A JPH04186662A (en) 1990-11-16 1990-11-16 Semiconductor device and its manufacture

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04186662A true JPH04186662A (en) 1992-07-03

Family

ID=18013668

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP31114690A Pending JPH04186662A (en) 1990-11-16 1990-11-16 Semiconductor device and its manufacture

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH04186662A (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0782184A1 (en) * 1995-12-29 1997-07-02 STMicroelectronics S.r.l. Heat dissipating and supporting structure for a package
US5793613A (en) * 1995-12-29 1998-08-11 Sgs-Thomson Microelectronics S.R.1. Heat-dissipating and supporting structure for a plastic package with a fully insulated heat sink for an electronic device
JP2010034349A (en) * 2008-07-30 2010-02-12 Sanyo Electric Co Ltd Method of manufacturing semiconductor device and lead frame

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0782184A1 (en) * 1995-12-29 1997-07-02 STMicroelectronics S.r.l. Heat dissipating and supporting structure for a package
US5793613A (en) * 1995-12-29 1998-08-11 Sgs-Thomson Microelectronics S.R.1. Heat-dissipating and supporting structure for a plastic package with a fully insulated heat sink for an electronic device
JP2010034349A (en) * 2008-07-30 2010-02-12 Sanyo Electric Co Ltd Method of manufacturing semiconductor device and lead frame

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100390094B1 (en) Semiconductor device and manufacturing method
US10490486B2 (en) Semiconductor device
US7410834B2 (en) Method of manufacturing a semiconductor device
US6841414B1 (en) Saw and etch singulation method for a chip package
JP2002076228A (en) Resin-sealed semiconductor device
JPH04293259A (en) Semiconductor device and its manufacturing method
US6893898B2 (en) Semiconductor device and a method of manufacturing the same
JPH04186662A (en) Semiconductor device and its manufacture
JPH04242966A (en) Resin-encapsulated semiconductor device
JP3688440B2 (en) Semiconductor device
JP2631520B2 (en) Molding method for resin-sealed package
JPH03191553A (en) Semiconductor device and manufacture thereof
CN113594124B (en) Device for semiconductor circuit
JPH03286558A (en) Semiconductor device, its manufacturing method, and lead frame used therein
JPH0870087A (en) Lead frame
JP4620710B2 (en) Semiconductor device
JP4049782B2 (en) Semiconductor device
CN118738009A (en) Lead frame, packaging structure and electroplating method
JPH077120A (en) Semiconductor device mounting structure, mounting substrate, and semiconductor device
JPH0817989A (en) Semiconductor device and manufacturing method thereof
JPH0411755A (en) Semiconductor device, its manufacturing method, and molding equipment used therein
JPH06252317A (en) Semiconductor device
JPH07254676A (en) Method for manufacturing semiconductor device
JPH04269854A (en) Semiconductor device; its manufacture; molding apparatus used for it
JPH1050912A (en) Semiconductor device, method of manufacturing the same, and lead frame used therein