JPH0383381A - 半導体装置 - Google Patents
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は光データリンクや光CATVシステムなどにお
ける光受信回路部等に使用される半導体装置に関し、特
に浮溝容量の低減化に関するものである。
ける光受信回路部等に使用される半導体装置に関し、特
に浮溝容量の低減化に関するものである。
従来、この種の光受信回路としては第3図に示されるも
のがある。光信号は受光素子1に受信され、抵抗Rt、
によって電圧信号に変換される。電圧信号に変換された
受信信号はコンデンサC6によってその直流分が除去さ
れ、アンプ2により増幅されて復調される。これら抵抗
R、コンデンすC6およびアンプ2は1つの集積回路(
IC)チップ3に内蔵されて形成されている。一般的に
、抵抗RLは数百Ω〜IOKΩ程度、直流分遮断コンデ
ンサCcは数pF〜数百9Fである。また、受光素子1
のPN接合部には約0.5pFの接合容jlCPDが生
じ、コンデンサC6には大地に対する浮遊容量C、アン
プ2の入力部には人力容量G CINが生じる。ここで、受信信号の高域遮断周波数F
および低域遮断周波数Ft、は、アンプ2の■ 入力抵抗をRINとすると次式に示される。
のがある。光信号は受光素子1に受信され、抵抗Rt、
によって電圧信号に変換される。電圧信号に変換された
受信信号はコンデンサC6によってその直流分が除去さ
れ、アンプ2により増幅されて復調される。これら抵抗
R、コンデンすC6およびアンプ2は1つの集積回路(
IC)チップ3に内蔵されて形成されている。一般的に
、抵抗RLは数百Ω〜IOKΩ程度、直流分遮断コンデ
ンサCcは数pF〜数百9Fである。また、受光素子1
のPN接合部には約0.5pFの接合容jlCPDが生
じ、コンデンサC6には大地に対する浮遊容量C、アン
プ2の入力部には人力容量G CINが生じる。ここで、受信信号の高域遮断周波数F
および低域遮断周波数Ft、は、アンプ2の■ 入力抵抗をRINとすると次式に示される。
F −1/C2π(RL//R、N)(Cpo +
CI N + Ccc) ]・・・ (1) F =1/ [2yr (R//R) ・Cp]L
L IN・・
・ (2) ′IJ4図はICチップ3がパッケージングされる際の
パッケージ内部を示し、同図(a)は平面図。
CI N + Ccc) ]・・・ (1) F =1/ [2yr (R//R) ・Cp]L
L IN・・
・ (2) ′IJ4図はICチップ3がパッケージングされる際の
パッケージ内部を示し、同図(a)は平面図。
同図(b)は側面図を表している。セラミック基板4上
には回路の基準電位に設定されるグランドパターン5が
形成されており、このグランドパターン5上にはICチ
ップ3の基準電位に設定される裏面電極がダイボンディ
ングされている。また、グランドパターン5から電気的
に分離された信号端子パターン6は、ICチップ3の外
部端子にワイヤボンディングされており、フレームリー
ドピンに電気的に接続される。
には回路の基準電位に設定されるグランドパターン5が
形成されており、このグランドパターン5上にはICチ
ップ3の基準電位に設定される裏面電極がダイボンディ
ングされている。また、グランドパターン5から電気的
に分離された信号端子パターン6は、ICチップ3の外
部端子にワイヤボンディングされており、フレームリー
ドピンに電気的に接続される。
しかしながら、上記従来の装置構成にあっては、式(1
)から理解されるように、回路の受信感度を高めるため
に抵抗RLの値を大きくすると、信号対雑音の比である
S/N比が向上して受信感度は良くなるが、高域遮断周
波数Foは低下してしまうという課題が有った。この抵
抗Rt、の値が一定の場合には、(Cpo + CI
N + Ccc)の値が小さいほど高域遮断周波数FB
は高くなる。
)から理解されるように、回路の受信感度を高めるため
に抵抗RLの値を大きくすると、信号対雑音の比である
S/N比が向上して受信感度は良くなるが、高域遮断周
波数Foは低下してしまうという課題が有った。この抵
抗Rt、の値が一定の場合には、(Cpo + CI
N + Ccc)の値が小さいほど高域遮断周波数FB
は高くなる。
また、式(2)から理解されるように、低域遮断周波数
F を低くするためには、抵抗RLの値り が一定の場合には、直流分遮断コンデンサCcの値を大
きくとる必要がある。このため、第5図に示さるICチ
ップ3内部のチップパターンは、コンデンサCcのチッ
プパターン7が全パターン面積において大きな割合を占
めるものとなる。従って、チップパターン7とグランド
パターン5との間に生じる浮遊容量C66の値は大きく
なり、高域遮断周波数Foは低下してしまうという課題
が有った。また、この浮遊容量C60を小さくするため
にコンデンサC6の値を小さくすると低域遮断周波数F
Lは高くなり、ジッタが増えるといった課題が生じる。
F を低くするためには、抵抗RLの値り が一定の場合には、直流分遮断コンデンサCcの値を大
きくとる必要がある。このため、第5図に示さるICチ
ップ3内部のチップパターンは、コンデンサCcのチッ
プパターン7が全パターン面積において大きな割合を占
めるものとなる。従って、チップパターン7とグランド
パターン5との間に生じる浮遊容量C66の値は大きく
なり、高域遮断周波数Foは低下してしまうという課題
が有った。また、この浮遊容量C60を小さくするため
にコンデンサC6の値を小さくすると低域遮断周波数F
Lは高くなり、ジッタが増えるといった課題が生じる。
本発明はこのような課題を解消するために為されたもの
であり、受信感度が高く、かつ、受信帯域の広い半導体
装置を提供することを目的とする。
であり、受信感度が高く、かつ、受信帯域の広い半導体
装置を提供することを目的とする。
本発明は、受信信号の直流分をコンデンサにより除去す
る受信回路を内蔵し、この受信回路の基準電位に設定さ
れる電極を備えた半導体チップと、電気的絶縁性を有す
る基板上に形成され、基準電位に設定される第1の配線
パターンと、この第1の配線パターンから電気的に分離
されて形成され、半導体チップの電極が電気的に接続さ
れ、かつ、コンデンサの電位が伝達される第2の配線パ
ターンとから構成されたものである。
る受信回路を内蔵し、この受信回路の基準電位に設定さ
れる電極を備えた半導体チップと、電気的絶縁性を有す
る基板上に形成され、基準電位に設定される第1の配線
パターンと、この第1の配線パターンから電気的に分離
されて形成され、半導体チップの電極が電気的に接続さ
れ、かつ、コンデンサの電位が伝達される第2の配線パ
ターンとから構成されたものである。
半導体チップ内部に形成されたコンデンサの電圧変化は
、内蔵回路の基準電位に接続された第2の配線パターン
の電圧変化に等しくなる。
、内蔵回路の基準電位に接続された第2の配線パターン
の電圧変化に等しくなる。
第1図は本発明の一実施例を示し、同図(a)は平面図
、同図(b)は側面図を表す。
、同図(b)は側面図を表す。
セラミック基板11はアルミナ(Ap203)等の電気
的絶縁性を有する材質から成り、この基板11上には金
パラジウムや銀パラジウム等がメタライズされることに
より、広い面積でグランドパターン12が形成されてい
る。このグランドパターン12は基板11上に実装され
る各半導体回路チップの基準電位に設定されるものであ
る。また、エツチング技術によりメタライズされた金属
がパターンニングされることにより、孤立した島状のダ
イエリアパターン13がグランドパターン12から電気
的に分離して形成されている。さらに、このパターンニ
ングにより、細長い帯状の信号端子パターン14がグラ
ンドパターン12から電気的に分離して形成されている
。
的絶縁性を有する材質から成り、この基板11上には金
パラジウムや銀パラジウム等がメタライズされることに
より、広い面積でグランドパターン12が形成されてい
る。このグランドパターン12は基板11上に実装され
る各半導体回路チップの基準電位に設定されるものであ
る。また、エツチング技術によりメタライズされた金属
がパターンニングされることにより、孤立した島状のダ
イエリアパターン13がグランドパターン12から電気
的に分離して形成されている。さらに、このパターンニ
ングにより、細長い帯状の信号端子パターン14がグラ
ンドパターン12から電気的に分離して形成されている
。
ダイエリアパターン13上には光受信回路を内蔵したI
Cチップ15がダイボンディングされており、ICチッ
プ15の裏面に形成された電極はダイエリアパターン1
3に電気的に接続されて固着している。この電極はIC
チップ15の内部に形成された回路の交流分の基準電位
に設定されるものである。また、ICチップ15の外部
端子は信号端子パターン14にワイヤボンディングされ
ており、信号端子パターン14に接続された図示しない
フレームリードピンへ内蔵回路の信号が伝えられる。ま
た、この外部端子のうちの1つはダイエリアパターン1
3にワイヤボンディングされている。
Cチップ15がダイボンディングされており、ICチッ
プ15の裏面に形成された電極はダイエリアパターン1
3に電気的に接続されて固着している。この電極はIC
チップ15の内部に形成された回路の交流分の基準電位
に設定されるものである。また、ICチップ15の外部
端子は信号端子パターン14にワイヤボンディングされ
ており、信号端子パターン14に接続された図示しない
フレームリードピンへ内蔵回路の信号が伝えられる。ま
た、この外部端子のうちの1つはダイエリアパターン1
3にワイヤボンディングされている。
第2図はICチップ15に内蔵された回路を示すもので
ある。
ある。
ICチップ15の外部端子16にはホトダイオード等の
受光素子17が接続されており、この外部端子16を介
するチップ内部には抵抗RLが受光素子17に直列に接
続されている。また、外部端子16にはコンデンサCc
の一端が接続され、この他端は増幅率が1の正転アンプ
であるバッファアンプ18の入力に接続されている。こ
のバッファアンプ18はソースフォロア回路等によって
構成され、その出力はアンプ19に与えられる。
受光素子17が接続されており、この外部端子16を介
するチップ内部には抵抗RLが受光素子17に直列に接
続されている。また、外部端子16にはコンデンサCc
の一端が接続され、この他端は増幅率が1の正転アンプ
であるバッファアンプ18の入力に接続されている。こ
のバッファアンプ18はソースフォロア回路等によって
構成され、その出力はアンプ19に与えられる。
アンプ19の出力は外部端子20に接続されており、こ
の外部端子20は図示しない受信機器に接続されている
。また、バッファアンプ18の出力は、上述のダイエリ
アパターン13にワイヤボンディングされた外部端子2
1に接続されている。
の外部端子20は図示しない受信機器に接続されている
。また、バッファアンプ18の出力は、上述のダイエリ
アパターン13にワイヤボンディングされた外部端子2
1に接続されている。
このような構成において、受光素子17に光信号が受信
されると、光信号は光出力電流に変換される。この光出
力電流は抵抗R1により電圧信号に変換され、さらに、
この電圧信号はコンデンサcoによりその直流分が除去
される。直流分が除去された受信信号はバッファアンプ
18を経てアンプ19により増幅されて復調され、外部
端子20を介して受信機器に供される。また、バッファ
アンプ18から出力された受信信号は、外部端子21を
介してダイエリアパターン13に与えられる。このため
、コンデンサCcの電位はダイエリアパターン13に伝
達される。
されると、光信号は光出力電流に変換される。この光出
力電流は抵抗R1により電圧信号に変換され、さらに、
この電圧信号はコンデンサcoによりその直流分が除去
される。直流分が除去された受信信号はバッファアンプ
18を経てアンプ19により増幅されて復調され、外部
端子20を介して受信機器に供される。また、バッファ
アンプ18から出力された受信信号は、外部端子21を
介してダイエリアパターン13に与えられる。このため
、コンデンサCcの電位はダイエリアパターン13に伝
達される。
従って、コンデンサCcの電圧変化は、ICチップ15
内蔵回路の交流分基準電位に等しいダイエリアパターン
13の電圧変化にほぼ等しくなる。
内蔵回路の交流分基準電位に等しいダイエリアパターン
13の電圧変化にほぼ等しくなる。
つまり、コンデンサCCおよびICチップ15真面に形
成された電極の各部における電圧の振幅はほぼ等しくな
り、その位相は等しくなる。ここで、コンデンサCcの
大地(ダイエリアパターン13)に対する浮遊容量Cは
、コンデンサC6の電極G と裏面電極(ダイエリアパターン13)との間で形成さ
れる寄生的なものであり、両電極間に蓄積される電荷の
変化の両電極間の電圧変化に対する割合であるから、浮
遊容量C60はほとんど生じなくなる。
成された電極の各部における電圧の振幅はほぼ等しくな
り、その位相は等しくなる。ここで、コンデンサCcの
大地(ダイエリアパターン13)に対する浮遊容量Cは
、コンデンサC6の電極G と裏面電極(ダイエリアパターン13)との間で形成さ
れる寄生的なものであり、両電極間に蓄積される電荷の
変化の両電極間の電圧変化に対する割合であるから、浮
遊容量C60はほとんど生じなくなる。
このため、(1)式に示される受信信号の高域遮断周波
数F は、浮遊容量C60を無視することが出来るので
高くすることが出来る。また、浮遊容量C60を考慮し
ないで直流分遮断コンデンサcoの容量値を大きくする
ことが可能になり、(2)式に示される低域遮断周波数
FLを低くすることが出来る。従って、回路の受信帯域
は広がる。また、(1)式において容量CcGが減少し
、(2)式において容量C6が増加するため、抵抗R0
の値を大きくすることが出来るようになり、回路の受信
感度は高くなる。
数F は、浮遊容量C60を無視することが出来るので
高くすることが出来る。また、浮遊容量C60を考慮し
ないで直流分遮断コンデンサcoの容量値を大きくする
ことが可能になり、(2)式に示される低域遮断周波数
FLを低くすることが出来る。従って、回路の受信帯域
は広がる。また、(1)式において容量CcGが減少し
、(2)式において容量C6が増加するため、抵抗R0
の値を大きくすることが出来るようになり、回路の受信
感度は高くなる。
ところで、この種の光受信回路における低域遮断周波数
F は、通常、高域遮断周波数Foの17100〜1/
1000以下に設定される。従って、例えば、帯域幅が
500MHzの光受信回路を作ろうとすると、低域遮断
周波数Ft、は5MHz以下でなければならない。また
、回路の最少受信感度を一30dBmに設定すると、受
光素子17に直列に接続される抵抗RLの値は少なくと
もIKΩは必要である。この場合、直流分遮断コンデン
サC6の容量値は、低域遮断周波数Ft、を示す式(2
)に各定数値を代入することにより以下のように求まる
。ここで、抵抗RLの値はアンプ19の入力抵抗Rに比
較して十分大きいため、抵抗RLとN 抵抗Rとの並列合成抵抗RL/1R1Nの値はほぼN 抵抗RLの値に等しくなる。
F は、通常、高域遮断周波数Foの17100〜1/
1000以下に設定される。従って、例えば、帯域幅が
500MHzの光受信回路を作ろうとすると、低域遮断
周波数Ft、は5MHz以下でなければならない。また
、回路の最少受信感度を一30dBmに設定すると、受
光素子17に直列に接続される抵抗RLの値は少なくと
もIKΩは必要である。この場合、直流分遮断コンデン
サC6の容量値は、低域遮断周波数Ft、を示す式(2
)に各定数値を代入することにより以下のように求まる
。ここで、抵抗RLの値はアンプ19の入力抵抗Rに比
較して十分大きいため、抵抗RLとN 抵抗Rとの並列合成抵抗RL/1R1Nの値はほぼN 抵抗RLの値に等しくなる。
3
5X10 −1/(2π・1×10 ・Cc)、’、
Cc−31,8pF IC上にモノリシックに作製できるコンデンサは0.0
5〜0.1 f F/μm”程度であり、ここで0,1
fF/μm2のコンデンサが作製できるとしてもコンデ
ンサCcの面積は 318.000μm2になる。
Cc−31,8pF IC上にモノリシックに作製できるコンデンサは0.0
5〜0.1 f F/μm”程度であり、ここで0,1
fF/μm2のコンデンサが作製できるとしてもコンデ
ンサCcの面積は 318.000μm2になる。
第3図および第4図に示される従来の装置構成でこの面
積を有するコンデンサCcを実現すると、その大地に対
する浮遊容量CcGは、ICがガリウム砒素(GaAs
)から形成されるとすると次のようになる。ここで、G
aAs基板の厚さを一般的な400μmとし、その比誘
電率εを13とする。
積を有するコンデンサCcを実現すると、その大地に対
する浮遊容量CcGは、ICがガリウム砒素(GaAs
)から形成されるとすると次のようになる。ここで、G
aAs基板の厚さを一般的な400μmとし、その比誘
電率εを13とする。
CcGl−ε0ε・318000/40092fF
一般的に、受光素子1の接合容量CPDとアンプ2の入
力容量Cとの和(C、、+ C、N)の値はN 014〜0.6pFであるため、従来の装置構成におい
て浮遊容量C60がこの和の値に占める割合は約20%
になり、無視できないものとなる。従って、(1)式の
分母は大きくなり、高域遮断周波数F は浮遊容量C6
0の影響を受けて低下する。
力容量Cとの和(C、、+ C、N)の値はN 014〜0.6pFであるため、従来の装置構成におい
て浮遊容量C60がこの和の値に占める割合は約20%
になり、無視できないものとなる。従って、(1)式の
分母は大きくなり、高域遮断周波数F は浮遊容量C6
0の影響を受けて低下する。
この結果、回路に受信される信号の帯域幅は狭くなって
しまう。
しまう。
しかしながら、上記実施例によれば、上述したようにコ
ンデンサC6の電圧変化と回路の基準電位の電圧変化と
はほぼ等しくなる。従って、コンデンサCcの面積が3
18,000μm と大きくなっても、ダイエリアパタ
ーン13に対する浮遊容i c ccはほとんど生じな
い。このため、回路に受信される信号の帯域幅は広くな
り、しかも、回路の受信感度は高くなる。
ンデンサC6の電圧変化と回路の基準電位の電圧変化と
はほぼ等しくなる。従って、コンデンサCcの面積が3
18,000μm と大きくなっても、ダイエリアパタ
ーン13に対する浮遊容i c ccはほとんど生じな
い。このため、回路に受信される信号の帯域幅は広くな
り、しかも、回路の受信感度は高くなる。
以上説明したように本発明によれば、半導体チップ内部
に形成されたコンデンサの電圧変化は、内蔵回路の基準
電位に接続された第2の配線パターンの電圧変化に等し
くなる。このため、受信信号の直流分を除去するコンデ
ンサに浮遊容量はほとんど生じなくなり、受信感度が高
く、かつ、受信帯域の広い半導体装置が提供されるとい
う効果を有する。
に形成されたコンデンサの電圧変化は、内蔵回路の基準
電位に接続された第2の配線パターンの電圧変化に等し
くなる。このため、受信信号の直流分を除去するコンデ
ンサに浮遊容量はほとんど生じなくなり、受信感度が高
く、かつ、受信帯域の広い半導体装置が提供されるとい
う効果を有する。
従って、本発明は高速・広帯域の通信システムに適用さ
れることにより、特にその効果が発揮される。
れることにより、特にその効果が発揮される。
第1図(a)は本発明の一実施例を示す半導体装置内部
の平面図、第1図(b)はこの半導体装置内部の側面図
、第2図は第1図に示された半導体装置に実装されるI
Cチップ内部の光受信回路図、第3図は従来の半導体装
置に実装されるICチップ内部の光受信回路図、第4図
(a)は第3図に示された従来のICチップが実装され
る半導体装置内部の平面図、第4図(b)はこの従来の
半導体装置内部の側面図、第5図は第3図に示された従
来のICチップのチップパターン図である。 11・・・セラミック基板、12・・・グランドパター
ン、13・・・ダイエリアパターン、14・・・信号端
子パターン、15・・・ICチップ、17・・・受光素
子、18・・・バッファアンプ、1つ・・・アンプ、2
1・・・外部端子、C・・・直流分遮断コンデンサ、R
t、・・・抵抗。
の平面図、第1図(b)はこの半導体装置内部の側面図
、第2図は第1図に示された半導体装置に実装されるI
Cチップ内部の光受信回路図、第3図は従来の半導体装
置に実装されるICチップ内部の光受信回路図、第4図
(a)は第3図に示された従来のICチップが実装され
る半導体装置内部の平面図、第4図(b)はこの従来の
半導体装置内部の側面図、第5図は第3図に示された従
来のICチップのチップパターン図である。 11・・・セラミック基板、12・・・グランドパター
ン、13・・・ダイエリアパターン、14・・・信号端
子パターン、15・・・ICチップ、17・・・受光素
子、18・・・バッファアンプ、1つ・・・アンプ、2
1・・・外部端子、C・・・直流分遮断コンデンサ、R
t、・・・抵抗。
Claims (1)
- 受信信号の直流分をコンデンサにより除去する受信回路
を内蔵しこの受信回路の基準電位に設定される電極を備
えた半導体チップと、電気的絶縁性を有する基板上に形
成され基準電位に設定される第1の配線パターンと、こ
の第1の配線パターンから電気的に分離されて前記基板
上に形成され前記半導体チップの電極が電気的に接続さ
れかつ前記コンデンサの電位が伝達される第2の配線パ
ターンとから構成された半導体装置。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1220847A JPH0383381A (ja) | 1989-08-28 | 1989-08-28 | 半導体装置 |
US07/567,814 US5067006A (en) | 1989-08-28 | 1990-08-15 | Semiconductor device |
CA002023678A CA2023678A1 (en) | 1989-08-28 | 1990-08-21 | Semiconductor device |
EP90116385A EP0415318B1 (en) | 1989-08-28 | 1990-08-27 | Semiconductor device |
DE69025825T DE69025825D1 (de) | 1989-08-28 | 1990-08-27 | Halbleiteranordnung |
KR1019900013320A KR940003432B1 (ko) | 1989-08-28 | 1990-08-28 | 반도체장치 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1220847A JPH0383381A (ja) | 1989-08-28 | 1989-08-28 | 半導体装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0383381A true JPH0383381A (ja) | 1991-04-09 |
Family
ID=16757476
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1220847A Pending JPH0383381A (ja) | 1989-08-28 | 1989-08-28 | 半導体装置 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5067006A (ja) |
EP (1) | EP0415318B1 (ja) |
JP (1) | JPH0383381A (ja) |
KR (1) | KR940003432B1 (ja) |
CA (1) | CA2023678A1 (ja) |
DE (1) | DE69025825D1 (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0460554A1 (en) * | 1990-05-30 | 1991-12-11 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Hybrid integrated circuit device |
DE9017041U1 (de) * | 1990-12-18 | 1991-03-07 | Akyürek, Altan, Dipl.-Ing., 8560 Lauf | Halbleitermodul |
JP2989965B2 (ja) * | 1992-08-06 | 1999-12-13 | 日本電気アイシーマイコンシステム株式会社 | 半導体装置 |
JPH0745468A (ja) * | 1993-06-29 | 1995-02-14 | Murata Mfg Co Ltd | セラミックコンデンサおよびセラミックコンデンサを取り付けた半導体装置 |
US6252772B1 (en) | 1999-02-10 | 2001-06-26 | Micron Technology, Inc. | Removable heat sink bumpers on a quad flat package |
CN114342251A (zh) * | 2019-09-10 | 2022-04-12 | 华为技术有限公司 | 光电收发器中用于放大信号的放大设备 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS52120768A (en) * | 1976-04-05 | 1977-10-11 | Nec Corp | Semiconductor device |
JPS55140251A (en) * | 1979-04-12 | 1980-11-01 | Fujitsu Ltd | Semiconductor device |
FR2524712B1 (fr) * | 1982-03-31 | 1985-06-07 | Radiotechnique Compelec | Circuit hyperfrequence a condensateur integre et application a un circuit d'alimentation |
JPS60211866A (ja) * | 1984-04-05 | 1985-10-24 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体集積回路 |
JPS61117910A (ja) * | 1984-11-13 | 1986-06-05 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 光電変換回路 |
DE3626151C3 (de) * | 1986-08-01 | 1995-06-14 | Siemens Ag | Spannungszuführungsanordnung für eine integrierte Halbleiterschaltung |
FR2642239B1 (fr) * | 1988-12-30 | 1991-04-05 | Cit Alcatel | Limiteur de courant et recepteur optique en faisant application |
-
1989
- 1989-08-28 JP JP1220847A patent/JPH0383381A/ja active Pending
-
1990
- 1990-08-15 US US07/567,814 patent/US5067006A/en not_active Expired - Fee Related
- 1990-08-21 CA CA002023678A patent/CA2023678A1/en not_active Abandoned
- 1990-08-27 DE DE69025825T patent/DE69025825D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1990-08-27 EP EP90116385A patent/EP0415318B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1990-08-28 KR KR1019900013320A patent/KR940003432B1/ko not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0415318A2 (en) | 1991-03-06 |
DE69025825D1 (de) | 1996-04-18 |
US5067006A (en) | 1991-11-19 |
CA2023678A1 (en) | 1991-03-01 |
EP0415318A3 (en) | 1992-05-27 |
EP0415318B1 (en) | 1996-03-13 |
KR910005493A (ko) | 1991-03-30 |
KR940003432B1 (ko) | 1994-04-22 |
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