JPH03502378A - 多層光学誘電被膜 - Google Patents
多層光学誘電被膜Info
- Publication number
- JPH03502378A JPH03502378A JP1510091A JP51009189A JPH03502378A JP H03502378 A JPH03502378 A JP H03502378A JP 1510091 A JP1510091 A JP 1510091A JP 51009189 A JP51009189 A JP 51009189A JP H03502378 A JPH03502378 A JP H03502378A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- coating
- optical
- layers
- doped
- optical coating
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B5/00—Optical elements other than lenses
- G02B5/20—Filters
- G02B5/28—Interference filters
- G02B5/289—Rugate filters
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B5/00—Optical elements other than lenses
- G02B5/08—Mirrors
- G02B5/0816—Multilayer mirrors, i.e. having two or more reflecting layers
- G02B5/0825—Multilayer mirrors, i.e. having two or more reflecting layers the reflecting layers comprising dielectric materials only
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B5/00—Optical elements other than lenses
- G02B5/08—Mirrors
- G02B5/0816—Multilayer mirrors, i.e. having two or more reflecting layers
- G02B5/0825—Multilayer mirrors, i.e. having two or more reflecting layers the reflecting layers comprising dielectric materials only
- G02B5/0833—Multilayer mirrors, i.e. having two or more reflecting layers the reflecting layers comprising dielectric materials only comprising inorganic materials only
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B5/00—Optical elements other than lenses
- G02B5/08—Mirrors
- G02B5/0883—Mirrors with a refractive index gradient
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B5/00—Optical elements other than lenses
- G02B5/20—Filters
- G02B5/28—Interference filters
- G02B5/285—Interference filters comprising deposited thin solid films
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Optical Filters (AREA)
- Optical Elements Other Than Lenses (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
=
本願は本発明の培受入に譲渡された1988年10月20日出願の米国特許出願
筒260,429号の一部継続である。
米国政府は、ローレンス リブモア ナショナル ラバトリーの運営についての
米国エネルギ省とカリフォニア大学との間の契約W−7405−ENG−48に
属する本発明における権利を有する。
発皿q笈量
1、発明の分野: 本発明は光学素子用の誘電被膜に関し、より詳細には、高エ
ネルギの入射光線による損傷に対する耐性を高めた被膜に関する。
2、従来技術: 光学用途のための誘電被膜は一般に適当なガラス、セラミンク
または金属気質材料への蒸着、スパッタリング、または低温溶着により形成され
る。光学被膜に使用する特定の光学機能および波長は被膜の設計を定める。ここ
で、語「被膜の設計」とは、蒸着すべき材料の別々の層の数、これらの層の厚さ
および層を形成すべき材料をさして言う、別々の層を形成する材料間の屈折率の
差は被膜の設計との組合せで被膜にその独特な機能を与える物理特性である0例
えば、被膜を反射体、反射防止体、偏光体、および他の光学要素として機能する
よにう設計することができる。
従来の被膜では、異なる誘電材料の別々の層を使用すると、通常、高出力レーザ
源からの入射光を受けるときの損傷域値の低い光学被膜となる。従来の被膜にお
けるレーザ光誘発損傷は下記要因のうちの1つ又はそれ以上に基因する。
a、異なる材料の層間の熱機械的および/または化学的不適合性:b、被膜材料
における光吸収(純シリカより100〜100,000倍大きい)および被膜の
付着中に自然化学量論を維持することができないことにより生じられる局部欠陥
;C6付着中に被膜内にほこり、汚れまたは他の光吸収性微粒物が混入すること
;および
d、被膜の層に形成される気孔または微構造欠陥の存在。
塊状合成シリカを化学蒸着(CVD)法により製造することができる。このよう
な方法により製造された純粋なシリカは高エネルギのレーザパルスに対する非常
に良好な耐損傷性を有している。CVD法によれば、シリカが各々数オンダスト
ロースの厚さである多数の層で付着される。一体合成シリカ素材を形成するのに
数千の層が付着される。
ファイバオブチフク産業界は異なる屈折率を有するシリカ層を使用して光学導波
管予備成形物を製造する方法を開発した0例えば、D、B、チック等に発行され
た米国特許第3,737,292号は屈折率を増大させるためにドープされたシ
リカコアを有しかつ未ドープシリカの他の被着体を有する光学導波管を述べてい
る。
従来技術では、干渉ミラー、干渉フィルタ、偏光フィルタ、反射防止被膜、ビー
ムスプリフタ等に使用されるような光学被膜は大部分、PVD法(PVDは物理
蒸着を表わす)または含浸方法によって製造されている。PVD法としては、例
えば、真空蒸着、陰極スパッタリング、電子ビームスバッタリング等がある。こ
れらの方法の調査表がレーザフォーカス/エレクトロオブチンクス、1988年
5月、ベージ109ffにおけるW、T、ビューチャンブ、B、P。
ヒチワおよびM、H,イムスによる論文「良好な光学被膜を製造する系統設計ア
プローチ」に挙げられている。しかしながら、これらの技術はまだ被膜の光学的
品質に関する改良、例えば、特にレーザ装置用の干渉ミラーに必要とされる改良
を必要としている。これらの方法における被膜は密度および熱膨張係数のような
特性が互いに、また固形基質材料と異なる個々の層で形成される。これらの層は
非晶質固体ではないが、その代り、通常、脱偏光を導びくことができる鮮鋭柱構
造を有する。イオンブレーティングまたはイオンビームスパッタリングにより改
良を達成することができるが、欠陥および気孔を回避することができない、これ
らの欠陥および気孔の両方により、光通路における吸収および散乱による損失が
生じる。欠陥が一般に蓄積する層管の目だつ境界は透過光の損失が増大される位
置間でもある。これにより、高い光出力レベル(パワーレーザ)では、層が破壊
されてしまう、更らに、層系はしばしば機械的不安定性が大きく、成る用途、例
えば、ビームスプリッタでは問題を生じる成る物質の使用を必要とする。
被膜を形成する従来方法の他の欠点は(例えばるつぼ材料による汚染による)不
純物を回避することができないという点である。
従来技術を使用して欠陥の数を制限するために、最も少ない可能な数の層を有す
る光学被膜が製造されるが、これらの層はそれらの屈折率が互いに可成り異なら
なければならない、かくして、使用することができる材料および層状系の使用領
域が非常に限られる。このような層系の例としては、SSift−5isN又は
Stow Ti1tがある。
発泗ヱυi斐
本発明の目的は高い入射光線束により生じられる損傷の高い域値を有するように
設計された光学要素用の多層誘電膜を提供することである。
本発明の他の目的はより小さい光学要素を使用することができるか、あるいはエ
ネルギレベルを高めることができるように損傷せずにより大きいエネルギ東密度
を扱うことができる光学被膜を提供することである。
本発明の他の目的は眉間に起る内部応力が最小となるように製造される光学要素
用の多層誘電被膜を提供することである。
本発明の他の目的は屈折率がわずかに異なる交互のドープされた層および未ドー
プの層よりなり、これらのドープされた層および未ドープの層が熱機械的および
化学的に適合できるようにした多層光学被膜を提供することである。
本発明の他の目的は層を異なるドーパントでドープするか、あるいは同じドーパ
ントを異なる濃度で使用することによってドープすることにより、あるいはドー
プされた層および未ドープの層を交互にすることによって製造された眉間に屈折
率の差がある多層誘電被膜。
本発明の他の目的は単一の4分の1波長層内の屈折率分布段階的に調整すること
ができる多層光学誘電被膜を提供することである。
本発明の他の目的は酸化工程雰囲気を使用して完全に酸化することによって被膜
の層中の光吸収性微粒物を除去することである。
本発明の他の目的は酸化工程雰囲気を使用して被膜材料およびドーパントの化学
量論を調整することによって設計波長での被膜の層の全体光吸収を最小にするこ
とである。
本発明の他の目的は熱機械的特性をあまり悪化せずに100〜100.000ま
たはそれ以上の層を有する多層誘電被膜を提供することである。
本発明の他の目的は光線による損傷に対する極度の耐性のため、フラッシュラン
プのような高パワー広帯域光源に使用することができる被膜を提供することであ
る。
本発明の他の目的は一組の工程操作で光学被膜および保護上塗り層よりなる基質
を製造するための手段を提供することである。
本発明のこれらの目的および他の目的によれば、ドープされた材料および未ドー
プの材料よりなる多数(代表的には100より多い)の交互層から形成された光
学被膜が提供される。ドーパントの濃度は、ドープささた層と未ドープの層との
間の屈折率の変化が小さく、代表的には、0.1%と5%との間であるが、特別
なドーパントでは15%はどに高くなることができるような値に保たれる。これ
により、ドープされた層および未ドープの層は熱機械的および化学的に適合でき
る。好ましくは、かかる多層被膜は調整された雰囲気、好ましくは、酸素、塩素
、弗素、水またはこれらのガスまたは他の酸化ガスの組合せを含有する酸化雰囲
気中で、被膜が例えば高エネルギレーザパルスからの高エネルギ束密度を受ける
ときに全体または局部エネルギ9収を防ぐために被膜に含有されたいずれの微粒
状異物が完全に酸化されるのに十分高い温度で形成される。現在技術により製造
された被膜は、現存技術が被膜材料を完全に酸化することができないため、本発
明により付着された材料より代表的には10〜100倍大きい高い吸収度を有す
る。化学蒸着(CVD)またはプラズマ助長CVDを使用して形成される被膜で
は、種々の層を増量的に形成することができる0例えばプラズマ助長CVD法を
使用する場合、5〜10オングストロームの付着増量を達成することができる。
かかる被膜上には、保護上塗り層としであるいは被膜用の支持基質としても機能
する適当厚さのドープされたあるいは未ドープの層を形成するのがよい。
プラズマ助長CVDで可能なわずかな付着増量を使用することによって所定の被
膜層内の屈折率の分布を5〜20オングストロームの増分大きさの分能で調整す
ることができる。例えば、正弦波または正弦波の一部に近似する屈折率分布を有
する所定の被膜層または一連の層を形成することができる。
交互のドープされた層および未ドープの層、または異なるドーパントまたはビー
11度の交互層を備えることによって反射性光学被膜が製造され、この場合、層
の各々は反射すべき特定の波長に対して4分の1波長の光学的厚さを有する。か
かる反射層の反射率および帯域幅はドープされた層および未ドープの層の対の数
または使用された異ってドープされた層の対の数によって、ならびに眉間の屈折
率の差によって調整される。複合被膜において互に隣接する2つ又はそれ以上の
反射被膜を形成することによって、より大きい帯域幅を有する光学反射体が形成
される。同様に、層の対の数および付着層の4分の1波の光学的厚さを調整する
ことによって、1つ以上のスペクトル領域にわたって全反射または部分反射する
光反射体が形成される。
選択的反射性被膜を有利に使用して放電により生じる高温プラズマのような広帯
域光源からのスペクトル出力を調整することができる。反射性被膜よりなる複合
積重ね体が光源を取囲む石英外囲気の内側または外側(又は両方)に付着される
。この複合積重ね体は交互にドープされた層および未ドープの層、または異って
ドープされた層の多数組の反射被膜よりなり、特定組の層の各々は反射して光源
媒体の中へ戻すべき波長の4分の1に等しい厚さを有している。
光源用の反射被膜の複合積重ね体は望まない波長を反射して光源媒体の中へ戻し
、所望の波長を透過するように設計されている。
フラッシュランプは付着反射被膜を使用して広帯域スペクトル出力を調整するこ
とができる光源の一例である。フランシュランプは急放電によって蓄積電気エネ
ルギを光に変換する装置である。フラッシュランプ用の選択反射被膜はフラッシ
ュランプの合成シリカ外囲気の内側又は外側に反射被膜の複合積重ね体を被覆す
ることによって形成される。この複合反射被膜は多数組の交互のドープされた層
および未ドープの層、または異なってドープされた層より構成され、この場合、
各組の層は特定の波長を反射してフラッシュランプ媒の中へ戻すようになってい
る。フラッシュランプ光源用のすべての組の被膜層の複合体は望まない波長を反
射して光源の中へ戻し、所望の波長を透過するようになっている。現存の被膜技
術では、このようなフラッシュランプの反射被膜はフラッシュランプのプラズマ
により生じる高い広帯域光線束により容品に損傷され、かくしてこれらの現存技
術の被膜は実用性が制限されている。
ソリッドステートレーザゲイン媒体を返還負荷するのに使用されるフランシュラ
ンプは本発明の付着反射被膜を使用して広帯域スペクトル出力を調整することが
できるフラッシュランプ光源の一例である。従来技術を使用して製造されたフラ
ッシュランプは反射被膜を存しておらず、その結果、ソリッドステート媒体の狭
い吸収帯域に重複する広帯域立体出力の部分のみが返還負荷法に使用される。
吸収帯域に重複しないフラッシュランプからスペクトル出力の部分は使用されな
い2本発明によれば、レーザフラッシュランプ用の選択反射被膜は未使用の波長
を反射してフラッシュランプ媒体の中へ戻し、レーザの返還負荷帯域を励磁する
波長を通すようになっている0反射エネルギはフラッシュランプ媒体によって吸
収され、次いで再び放出され、それにより波長の所望範囲にわたってフラッシュ
ランプの電気エネルギー光エネルギ変換効率を向上させる。
ネオジムドープソリッドステートレーザ媒体を返還負荷するのに使用されるフラ
ッシュランプはドーパントネオジムイオンの返還帯域に合うように広帯域スペク
トル出力を調整することができるレーザフラッシュランプ光源の特定の一例であ
る。ネオジムイオン返還負荷帯域は400nmと940nmとの間の広いスペク
トル領域にわたって生じる。従来技術のフラッシュランプは400nmより小さ
く、940n−より大きい波長がソリッドステートレーザ媒体により使用されな
いような広帯域出力を有する。ネオジム含有ソリッドステートレーザ材料を返還
負荷するのに使用されるフラッシュランプ用の選択反射被膜は250n閣と40
on−との間および940nwと120on−との間の波長を反射してフラッシ
ュランプ媒体の中へ戻し、ネオジムイオン返還負荷帯域を励磁する400n−と
940n−との間の波長を通すようになっている0反射されたエネルギはフラン
シュランプ媒体により吸収され、次いで再び放出される。
本発明が意図する種類の被膜用の代表的な未ドープ材料は合成シリカである。代
表的なドーパントはTiO2、Ge0t 、Pros % FsB z Oy、
Al1zO,、cl、CezOs 、Sbz○3 、Tax OsおよびNであ
る。これらの代表的なドーパント材料は網羅するものでも制限するものでもなく
、多くの他の要素すなわち材料が、ドーパントとして使用すると、屈折率の変化
を生じる0重要な基準はドープされた層および未ドープの層が熱機械的および化
学的適合性を維持するという点である。
本発明は材料特性の向上した光学被膜を形成する問題に基づいている。光学被膜
は主として欠陥がないべきである0本発明の他の機能はこのような光学被膜を製
造する方法を開発することである。欠陥問題は本発明によれば、光学被膜に関し
て、層状ドーピングを有するガラス体よりなる光学被膜によって解決される。
この方法に関して、本発明が基づく問題は本発明によれば、気相法(CV D)
によって反応ガラスからの反応付着によりガラス体を生じ、このガラス体をドー
プする要素が付着される他の反応ガスを第1反応ガスに加える光学被膜を製造す
る方法で解決される。
本発明は光学被膜が基質に対して直角の空間座標における平面で異ってドープさ
れたガラス賞マトリックスを有すること、すなわち、層状ドーピングを備えてい
ることに基づいている。この光学被膜は個々の層の代わりにガラス体から製造さ
れる。ガラス体内の物理的特性を変えるには、製造中、ガラス体をドープする。
ガラス体の異なる平面で異なる屈折率を達成するには、ガラス体を異なる濃度お
よび/またはドーパントで層状パターンでドープする。ガラス体、例えば合成シ
リカまたは他の光学ガラスは完全緻密な無欠陥の非晶質体であることがよく知ら
れている。
反射層をガラス、ガラスセラミックおよびセラミックのような固形基質に付着さ
せることができる。この付着に必要とされる基質温度は使用反応ガスにより決ま
り、代表的には、約1000℃であるが、1600℃はどに高(でもよい。
好適な態様では、ガラスマトリックスは周期的にドープされ、異なるドーピング
の周期は互いにならうのがよい。
ドーピングはガラスマトリックスの化学的に純粋な出発材料に対する1種または
それ以上の物質の添付物にさしていると解釈し、この添加物はガラスマトリック
スの1種又はそれ以上の出発材料との交換で生じてもよい。また、ドーピングは
ガラスマトリックスの1種又はそれ以上の出発材料の濃度の増大または減小と等
しくされる。
適当なドーパントはガラスマトリックスに混入することができるあらゆる物質お
よび物質混合物を含む、ガラスマトリックスとしてSingを使用する場合、例
えば、アルカリ金属、アルカリ土類金属、B、 A1、Ge、 Sn、 Pb
、 Zn、周期律系第4および第5副族の金属、W、 Y、 La、 Ce、
Nd、またはFを混入することができる。
ドーパントの量はガラスの物理特性5例えば、屈折率、熱膨張係数、吸収および
ガラスマトリックス中のドーパントの最大適合性の所望の変化により決まる。ド
ーパントは、被膜の使用適性が例えば欠陥により損なわれないような量で使用す
るのがよい、ガラスマトリックスは被覆すべきである基質(レンズ)に対する組
成および/または物理特性で適合するのがよい。例えば、ガラスマトリックスと
基質との間、またはガラスマトリックス自身内に熱膨張の差により冷却時に発生
ずる応力を弗素および/またはチタンドーパントの添加により減することができ
る。
本発明による光学被膜はガラス体であり、かくして機械的安定性を有する構造体
である。これらの光学被膜は比較的大きな肉厚で生じることができ、従って光学
目的にしばしば役立たずかつ干渉する基質を例えば研削又は研磨により除去する
ことができる。このように、ビーム不整合の非常にわずかな事実上無吸収のビー
ムスプリフタを製造することができる。
本発明の更らに他の目的、利点および新規な特徴は下記説明に述べられており、
当業者には、下記説明の検討で一部明らかになり、あるいは本発明の実施により
習得することができる0本発明の目的および利点は添付の請求項で指摘された手
段および組合せによって実現に達成することができる。
図1は、従来の絶縁被覆の図式的断面図である。
図2は、当発明にかかる耐損傷性絶縁被覆の図式的断面図である。
図3は、例えば、シリカ及びドーピングしたシリカの層を交互配置して構成され
た多重層薄膜絶縁被覆に関し、屈折指数の僅小差をパラメータとして用いてパー
セント反射率と層状対の個数の関係を示す。
図4は、多重層薄膜被覆に関し、屈折指数の僅小差と反射被覆の光学帯域中の関
係を示す。
図5は、当発明に従って保護被覆を作成するためのプラズマを用いたCVDシス
テムの概略図である。
図6は、当発明に従い、プラズマCVDプロセスを用いて作成した標本被覆に関
し、実測透過率と波長の関係を示す。
図7は、当発明に従い、保護被覆を備えた多重被覆と、当発明に従って形成され
た基質の図式的概略図である。
図8は、屈折指数の差が0.025となるようにTi0zによってドーピングし
たシリカと、ドーピングしないシリカを交互配置した150個の層状対に関する
算定反射率と波長の関係を示す。
図9は、屈折指数の差が0.015となるようにGe0x(又はPt0Jによっ
てドーピングしたシリカと、ドーピングしないシリカを交互配置した250個の
層状対に関する算定反射率と波長の関係を示す。
図10は、屈折指数の差が0.01となるようにFでドーピングしたソリ力とド
ーピングしないシリカを交互配置した400個の層状対に関する算定反射率と波
長の関係を示す。
図11は、屈折指数の差が0.004となるように820.でドーピングしたシ
リカとドーピングしないシリカを交互配置した1200個の層状対に関する算定
反射率と波長の関係を示す。
図12は、波長Δλ、と△λ、を反射し、波長△λ−△λ2−△λ、を透過する
ように設計された反射性多重被覆で構成される積重ね複合体によって、プラズマ
を収容するために使用する溶融シリカ製エンヘローブの内側を被覆するために用
いる高温プラズマ広帯域(△λ)光源の図式的概略図である。
図13は、波長領域△λ2及び△λ4を透過し、波長領域Δλ。
及び△λ4を反射してフラッシュランププラズマに戻すように設計された反射性
多重層被覆で構成される積重ね体複合体によって、プラズマを収容するために使
用する溶融シリカ製エンベロープの内側を被覆するために用いるフラッシュラン
プ広帯域光源の図式的概略図であり、フラッシュランププラズマに対して流入及
び流出する電気及び光エネルギの流れを図式的に説明する。
図14は、ネオジウムでドーピングしたシリカ固体レーザー媒体のボンピングに
用いられ、紫外線及び赤外線エネルギを反射するための絶縁被覆及び当発明にか
かる光学被覆をおおう保護被覆を備えたフラッシュランプエンベローブの壁の図
式的断面図である。
図15は、図14に示すフラッシュランプ被覆の紫外線範囲に関する算定%反射
率と波長の関係を示す。
図16は、干渉鏡の構造を示す。
図17は、干渉フィルタの構造を示す。
図18は、非反射性被覆の構造を示す。
好ましい実施例の詳細な説明
添付図面に示す好ましい実施例について詳細に説明する。当発明については、好
ましい実施例と関連して説明するが、当発明はこれ等の実施例にのみ限られるも
のでなく、添付クレームで規定される当発明の趣旨及び適用範囲に該当する代替
案件、改変案件及び同等案件も当発明に含まれる。
例えば無機ガラス、セラミック又は金属などの基質12上に形成された従来の絶
縁被覆10の図式的断面図を図1に示す、従来の被覆lOは、真空蒸発、スパッ
タリング又は低温溶液析出によって作成された。被覆10は、材料Aと材料Bに
よる多数の対をなした層、即ち層状対で構成される。この場合、材料A及びBの
屈折指数をそれぞれna及びnbとする。一般に、材料AとBは、それぞれ物理
特性の異る異った材料である0例えば特定の波長に対する反射性被覆を作る場合
には、材料AとBの個々の層の厚さは、当該材料内における波長の174とする
。それぞれの層を構成する材質及び被覆を作るプロセスが異るので、この種被覆
には空洞や局部欠陥のようなエネルギを吸収する部分及び汚染部分、或は、例え
ばレーザーパルスのような高エネルギ放射にあたると損傷臨界値を低くする高い
内部熱機械的応力を生ずる。この傾向は、14.16として図に示すような異る
材料間の断裂界面において特に著しい。反射性被覆を形成するために必要な異な
る材料による層状対の個数は、これ等材料間の屈折指数の差の大きさによって異
なる。一般に、屈折指数の差が大きければ大きい程、必要な層状対の個数は少な
くなる。一般に、指数差は、指数の低い方の材料の指数の20から60%の範囲
であり、層状対の個数は30〜40未満である。通常の被覆を構成する材料の化
学量的&ll織は完全に酸化された形でなく、その光学的吸収損失は、所要の完
全に酸化された場合の10から100倍程も大きくなる(喚問がある。
当発明にか−る耐損傷性絶縁被覆20の図式的断面図を図2に示す。耐損傷性絶
縁被覆20は、一般に、例えば融溶したシリカの基質22の上に、化学蒸気析出
CVD技法を用いて作成される。パルス性プラズマと関連したプロセスを使用す
る場合には、析出厚さを5〜10人にすることができる。個々の被覆層24.2
6は、層が所要の厚さになるまで、5〜10人ずつ継続的に析出させて形成する
0層状対は、CVDガスプロセスを連続的に実施し、反応性CVD混合物に添加
するドーパントの濃度を変えることにより、ドーピングした層としない層で対を
構成するか、又は異ったドーピングを施した層によって対を構成する。
層状対を構成する層24のうちの一方の屈折プロファイルの指数をnlとし、他
方の屈折プロファイルの指数をn2とする。任意の層状対の指数プロファイルは
、最大n2からn、まで変化する簡単な方形波27であるか、或は、例えば、屈
折最大指数が02で最小指数がnlの正弦波であっても差支えない。最小指数の
空間的解像度は5〜10人であり、5〜1o人の析出厚さによって決定される。
ドーピングレベルが充分低い場合には、層間る顕著な界面又は急激な変化を生じ
、被覆全体としては、ドーピングしない基質材料とは一同し性質となって、実質
的には熱機械応力を生しない。例えば純粋な02のような制御された酸化雰囲気
状態のもとで、例えば1.000℃以上の充分な高温度で被覆を作成すると、光
吸収性含有物を排除し、損傷の原因となる構造的欠陥を排除し、吸収率を減少さ
せ、適当な化学量的m織を保持させることができる。当発明にが\る反射被覆に
関する光学的吸収損失の測定値は、500nmの入射光エネルギの0.0001
%から0. OO02%まで−あり、従来の被覆の測定値は、一般に0.05%
であり、せいぜい0.002%どまりである。従って、当発明にか\る被覆では
、従来の技術による被覆よりも約10から100倍の改善されたことを意味する
。多層反射被覆を作成するには、個別のそれぞれの層の厚さが、次式で定義され
る当該材料内での光学的波長の174でなくてはならない:を一λ/(4・n)
(1)こ\に、Lは1/4波長に相当す厚さであり
、λは真空中における波長、nは波長λにおける屈折率指数である。従って、C
VDを用いると、数百個更に数十個の層状対で構成される光学的被覆を作成する
ことが可能であり、隣接する2つの層の屈折指数の差を極めて小さくすることが
できる。ドープした材料とドープしない材料又は、屈折指数が極めて近位したド
ーピングの異る材料で構成された層24.26を多数交互に配置することにより
、所要の反射特性をもつ被覆20を形成できる。例えば、当発明にか\る被覆層
の屈折指数の差を0.1%から5%の範囲内で変えることができる。ドーピング
の異る層24と26の材質の熱機械的特性は極めて類イ以しており、高温CVD
によって、密度が大きく、欠陥が無く、光学的吸収性が低く、膜として適正な化
学量組織をもった無定形膜が作られるので、投射される光学的放射に対して、殆
ど純粋な溶融シリカの場合と同程度の優れた耐損傷性をもった被覆20を製造す
ることができる。
従って、当発明に基いて製造した光学被覆は、高出力レーザーに用いると、例え
ば純粋な溶融シリカの場合と同程度に、著しく高いエネルギ東密度に耐えること
を意味する。従来の技術に基いて作成した薄い膜状の絶縁光学被覆は、レーザ束
密度を高くすることはできない0反射面積が一定である場合、当発明を用いると
、使用する東密度を著しく高くすることができる。当発明にか\る被覆を用いる
と、従来の技術によって作成された被覆を用いた大型リフレクタで取扱わねばな
らなかったエネルギレベルを、逼かに小さい面積のりフレフタで取扱うことがで
きる。
図3及び図4を参照すると、図2に示す当発明の意味を、図1に示す従来の技術
に基く被覆と比較して理解し易くなるはずである。
隣接する層の間の屈折指数の差nz−n、を変えた場合における反射率Rと光学
被膜層状対の個数との関係を図3に示す、それぞれの層の厚さが波長の174に
等しい多重層薄膜絶縁被覆の反射率Rは次こ\に、n、n、及びn、は、それぞ
れ指数の高い層、指数の低い層及び基質の指数でしり、Nは層状対の個数である
。図3に示す反射率の値は、例えばn、=1.45及びn、=1.45として算
出されたのである。
図3において、反射率の値を一定とすると、屈折指数間の差が大きくなればなる
程、層状対の個数が少くなることに注意されたい。
図1と関連して一例として説明した従来の技術に基く被覆の場合には、必要な層
状対の個数はせいぜい数十個である。その理由は、従来の技術においては、隣接
する層が、屈折指数の差の大きい著しく異る材料で構成されていることに由る。
一方、当発明は、所要の性能を得るために、屈折指数の差が比較的小さい多数の
層状対を形成することに暴くものである。
n+””1.45とした場合の光学被覆のスペクトル帯域中と、隣接層間の屈折
指数の差nz−n、の関係を図4に示す、各層の厚ざが波長の174に等しい多
重薄膜絶縁リフレクタの帯域巾(△λ/λ)は次式で表わされる:
こ\に、△λは、中心を△λ。とする反射帯域の帯域中(高さ1/2、全中)で
ある、n2とn、の差が小さい場合には、(2)式は次のように簡易化され:
こ\に、△n=n2−n、及びn= (nz+n+)/2である。従って、帯域
11の変化は、眉間の指数差nには一正比例することがわかる。
図4から、屈折指数の差を小さくすればする程、帯域巾も小さくなることがわか
る。当発明によれば、千単位の極めて多数の層を形成できるので、層の厚さの異
るグループによって、リフレクタ層状対の異る多数個のグループを形成すること
ができる。従って;この種の異るリフレクタ層状対は、それぞれ異る波長を反射
するので、それぞれの厚さが、反射させようとする波長で構成される広い帯域の
特定の部分に対応するような一連の層状対を用いることにより、帯域巾が更に広
いリフレクタを形成することができる。当発明を用い、析出層の個数及び光学的
厚さを1ノ4波長になるように制御することにより、複数個のスペクトル領域に
わたって全体的又は部分的に反射する光学リフレクタを製造することができる。
当発明に従って一連の層を作成するためのCVDシステム30を図式的に図5に
示す、このシステムに関しては、5PIE第584巻“光ファイバの特性記述と
規格(1985)の33−37頁に、H,Bauch、 V、 Pacquet
及び−、 5iefertの論文として掲載されている。このプロセスは、
マイクロ波空洞34内に同軸配置されたシリカ又は石英製の管32の内部で絶縁
被覆を作るために用いられる。
この場合、囲りの管状炉36を1000〜1200℃の高温に加熱し、加熱され
た基質の上に膜を析出させ、不要元素の混入、膜の欠陥又は不連続の発生を防止
し、膜に熱機械的な応力がか\ることを防止する。ガス結合システム38は、5
iCf4.酸素及び、必要に応して1個又は複数のドーパントソースを石英管3
2の一端に供給する。ガスは、石英管32のいま一方の端から真空ポンプによっ
て石英管32を通って引き込まれる。石英管にガスが充満すると、パルスゼネレ
ータ44によってトリガされたマグネトロンから放出されたマイクロ波エネルギ
が、石英管の軸31に沿って伝播し、プラズマ46を形成する。プラズマ46は
、5iC1,と酸素間の反応を開始させ、SiO□にする。約1.5a+sのパ
ルス継続時間及び毎秒約100サイクルの繰返し頻度は、ガスが連続的に流れる
ように調節され、プラズマパルスが終ると、残留ガスは流れ出してその代りに新
規にガスが充填されてから次のマイクロ波プラズマが繰返される。
マイクロ波パルスごとに析出される厚さは約5〜10人であり、毎秒100個の
マイクロ波パルスによって析出する厚さは毎秒500〜100人に相当する。即
ち、数秒間で厚さ1800人の単一層1個が形成され、この厚さは、屈折指数1
.45の材質内での波長1060nlIに対して光学的な174波長に相当する
。このように、異なるドーピング濃度の174波長層を交互に配置することによ
り、特定の波長に対する反射被覆が形成される。
図5と関連して説明した石英管の内壁に配置された約1100個の層状対で構成
される標本被覆の場合の実測透過係数百分率と波長の関係を図6に示す。この標
本被覆は450n腸で反射するように設計された。屈折指数の差は0.016で
あり、層は、異なる屈折指数をもたせるために、F及びGeによってドーピング
したものと、ドーピングしないものを交互に配置した。
パルス中が1.0X10−’秒で波長が1.064μmレーザーパルスを図6の
光学被覆に照射してレーザ損傷テストを完了した。レーザー損傷に対する実測に
よるエネルギ作用臨界値は36J/−と決定された。従来の技術による最良の被
覆の場合の損傷臨界値は、パルス中がll0XIO−@秒の1.06 mレーザ
パルスを照射した場合、一般に5から20J/−の範囲である。図6に示す被覆
とは異なる当発明にか\る光学被覆の別の標本を用いて、1.064mにおける
損傷臨界値について行なったテストの結果によると、パルス中16nsでパルス
繰返し頻度が30Hzのパルスを60秒間照射した場合の損傷臨界値は35J/
cdよりも大きかった。連続波(CW)レーザーソースを用いてスペクトルの可
視領域で行なったレーザー損傷テストによると、図6に示す被覆の損傷臨界値は
、従来の技術による反射被覆の場合の約4倍であった。
当発明に従い、ドーピングした層とドーピングしない層で構成された多重層反射
被覆50の断面図を図式的に図7に示す0例えば既述べた高温CVDプロセスに
より、例えば溶融シリカ、5iftのようなドーピングしない材質の保護被覆5
2が被覆50の上に配置される。この種の保護被覆は、構成部品を摩耗から保護
するために、リフレクタ(反射子)、ポラライザ(偏光子)その他の光学部品を
5 お−って形成することができる。表面が損傷した場合には、下部の反射被覆
には影響を及ぼすことなく、この種の保護被覆を補修することができる。
CVDプロセスによって薄膜として形成できる基質54を図7に示す。この基質
54は、被覆52を形成する後又は前に形成するこ) こが可能であり、被覆5
0を支持する基質として、必要な厚さに作成できる。
150から1200個までの層状対で構成される被覆の算定反射率を図8から1
1までに示す0図に示すように、種々のドーパントを用いて、ドーピングしたS
iO□とドーピングしない5iO1O層を交互配置して層状対を形成した。反射
率の算定には、標準薄膜計算法を通用し、 F TG Software As
5ociates(POBox 358゜Chathan、 New Jer
sey、 07928)から人手できる” FILM” CALC”と称するI
BM互換性パーソナルコンビ二−タ用薄膜ソフトフェアプロラムを用いた。
屈折指数の差が0.025となるように6モル%TiOアを用いてドーピングし
た層を交互配置した5intの層状対150個で構成される被覆の反射率と波長
の関係を図8に示す。
屈折指数の差が0.015となるように10モル%GEO□ (又はPzOs)
を用いてドーピングした層を交互配置した5iftの層状対250個で構成され
る被覆の反射率と波長の関係を図9に示す。
屈折指数の差が0.01となるように2%下でドーピングした層を交互配置した
5iOzの層状対400個で構成される被覆の反射率と波長の関係を図1Oに示
す。
屈折指数の差が0.004となるように5%B20.でドーピングした層を交互
配置したStowの層状対1200個で構成される被覆の反射率と波長の関係を
図11に示す。
図8−11に示すように、指数の差が小さくなると、反射率を高くするために必
要な層状対の個数が増加し、帯域巾は減少する。これ等の被覆構造は多数の層状
対で構成されるが、交互配置されるドーピングした層は軽度のドーピングを行な
ったに過ぎないので、この種の被覆の損傷臨界値は、ドーピングしないSiO2
の場合に近似する。
例えば放電によって発生する高温プラズマ58のような広帯域光源からのスペク
トル性出力に適合させるために用いる溶融シリカ製エンベロー157上に析出さ
せた選択性反射被覆55の積重ね構造の断面を図式的に図12に示す、放電は2
個の導体間で発生し、エンベロープ57の内部に含まれるガス媒体を貫通する。
図12に示す光源としては、例えばフラッシュランプを使用する。
耐損傷性反射被覆55の積重ね複合体は、光源を取囲む溶融シリカ性エンベロー
プの内側(図12に示す)又は外側或は両方に析出される。積重ね複合体は、ド
ーピングした層とドーピングしない層、又はドーピングの異なる層を交互配置し
た反射被覆の組で構成され、特定の組を構成するそれぞれの層の厚さは、高温プ
ラズマ58内に反射に反射し返そうとする特定波長の174とする。反射被覆5
5の積重ね複合体は、不要な波長61を高温プラズマ58内に反射し返し、必要
な波長62を透過させるように設計される。積重ね複合被覆55を高温プラズマ
58に対して保護するために、ドーピングしない厚い被覆層63を積重ね複合被
覆の上る析出させる。保護被覆については図7にも示されている。保護被覆は、
光源による広帯域光放射の強い光束に起因する光学的損傷に対して高い抵抗性を
もつ。
図13は、フランシュランプ70に含まれる高温プラズマ74に対して流入及び
流出する電気エネルギ80及び光エネルギの流れを図式的に示す、フラッシュラ
ンプは強力なパルス状の広帯域光源であり、図式的に示すように、スペクトル領
域△λ71にわたって有意な光エネルギを出力する。高温プラズマを収容する溶
融シリカ製エンベロー176は、その内側が、当発明にか\る反射被覆72の積
重ね複合体でお\われ、スペクトル領域Δλ178と△λ、77及び、スペクト
ル領域Δλ273とΔλ475の過渡光線を反射するように設計されている0反
射された光エネルギ77.78は、プラズマ74によって再吸収されてから、帯
域中△λの広帯域放射71として再放出される。従って、当発明にか−る反射被
覆を用いると、フラッシュランプからの強力な広帯域出力エネルギが、特定のス
ペクトル帯域にわたる1つ又は複数の出力となるよう適合させることができる。
更に、当発明にか\る反射被覆は、強力な入射光線にあたっても損傷しない。
含ネオジウム固体レーザー増進媒体をボンピングするように特殊設計されたフラ
ッシュランプのエンベロープ壁の一部の図式的断面図を図14に示す。作動中の
エンベロープは高温プラズマを収容し、高温プラズマが放出した強力パルス状光
エネルギ出力はエンベロープを貫通し、固体レーザー増進媒体のネオジウムエネ
ルギ帯域をボンピングするために使用される。フラッシュランプが発生した光エ
ネルギは広帯域である。ホストレーザーのボンピングに必要なエネルギの帯域は
比較的狭く、フラッシュランプのエネルギ出力はホストレーザー媒体をボンピン
グできないので、著しく多量のフラッシュランプエネルギ出力が浪費される0図
13に示すように、不要エネルギをフラッシュランプ媒体に戻すために、フラッ
シュランプにはレフレクタを備える。実際には、フラッシュランプ出力の広帯域
出力エネルギは、ホストレーザーのポンプ帯域の帯域中に適合するように工夫す
ることができる。この種の工夫により、フラッシュランプを励起する電気エネル
ギをレーザー媒体に蓄えられる光エネルギに変換する効率は全体的に高められる
。この種の特殊な場合として、ネオジウムでドーピングした固体レーザーホスト
をフラッシュランプ媒体に戻すためのボンピングに使用されない赤外及び紫外波
長のエネルギを反射することにより、フラッシュランプの効率を著しく増大させ
ることができる。250から400nmまでの紫外波長及び940から1200
n+*までの赤外波長は反射し、400から940nmまでの波長によって、ネ
オジウムブドーピングしたレーザーホストをボンピングさせることが望ましい。
ネオジウムでドーピングした固体レーザーホストをボンピングするために使用す
るフラッシュランプ用レフレクタの例を図14に示す。フラッシュランプの外壁
90は溶融シリカ管である。壁90の内表面に、940から1200nmまで反
射するように設計された赤外線反射被覆92が形成される。この例では、多重層
対のグループの積重ね複合体として赤外線被覆が構成され、これ等の多重層対の
各々が、940から1200n−までの範囲内の所定の波長に対して狭帯域リフ
レクタを形成する。
同様に、赤外線反射被覆92に隣接して、紫外線被覆94が形成される。この例
では、多重層対のグループの積重ね複合体として紫外線被覆が形成され、これ等
の多重層対の各々が、250から400n調までの範囲内の所定の波長に対して
狭帯域リフレクタを形成する。
フラッシュランプの内表面としては、純粋Stowの保護被覆96が形成される
。保護被覆は、反射性層状対のグループを、高温フラッシュランププラズマによ
る腐食から保護するように設計される。
この例では、紫外線反射被覆94をお\って保護被覆がほどこされる。
図14に示すフラッシュランプ被覆の紫外線被覆94の算定反射率と波長の関係
を図15に示す。この例では、100個の層状対で構成されるグループ32個で
形成される積重ね構造体によって紫外線被覆が構成され、これ等の層状対の各々
は、250から450nmまでの範囲内の特定の波長に対して狭帯域リフレクタ
を形成する。
交互配置された層の屈折指数の差は0.05であり、各層の厚さは光学的な17
4波長に等しい。
それぞれの狭帯域リフレクタが、フラッシュランプ用複合広帯域紫外線反射被覆
を形成する層状対の個数、公称波長及び帯域中を表λ1.8△λ
−1秋が東盟玖−如煎 −勧搬一
Σ3200 層状対
上記のタイプの広帯域リフレクタは、実際には、図1及び8〜11と関連して説
明したタイプの一連の狭帯域反射被覆を従続接続することによって作成できるこ
とを図14に示す。
当発明にか〜るプロセスによって光学被覆を作成するには、光学ウェーブガイド
を作成するために用いる被覆技術の原理、即ち、極めて高純度の材質がち始める
CVD又はプラズマCVD技法を用いる。これ等のプロセスにおいては、基質の
異相混合反応による反応気体の反応析出によってガラス体が作られる。この種の
技法の例としては、基質の反応析出を伴ったCVD、プラズマインパルスC■D
、プラズマ活性化CVD、及びECRマイクロ波C,VDも含まれる。光学被覆
の作成は、大気圧(CVDプロセス、プラズマバーナー)、ミリバール範囲(プ
ラズマ活性化CVD)又はPa範囲(ECRマイクロ波CVD)で実施できる。
特に好ましい技法はプラズマインパルスCVD技法である。
実際には、前記の諸プロセスにおいて、曝気圧が充分高ければ全ての基質を反応
気体として使用できる。この場合の例としては、例えば金属状水素化合物のよう
な金属塩化物、有機金属化合物、酸素、炭素酸化物及びアンモニウムが含まれる
。
使用する被覆技法に応じて、偏平または湾曲した基質を被覆することができる0
例えば、平面干渉鏡、中空干渉鏡、非反射レンズ、偏光鏡等々を作成できる。
被覆技法に応して、被覆実施中は基質を加熱しなければならず、全ての場合に、
反応気体が用いられる。石英ガラス及びセラミックの場合には、基質温度は16
00℃に達する。
基質と光学被覆の熱膨張係数の差に起因する応力の発生を防止するために、生産
工程に際して、ガラス体をフッ素及びチタニウム又はそのいずれかによってドー
ピングすることができる。この方法を用いると、1000回以上の周期を含む比
較的厚い光学被膜を作成できる。
当発明にか\る光学被覆のガラス体用として、ガラス加工技法を用いることがで
きる。特に、層を薄くするためのドローイング加工、1 当発明に従って光学被
覆を別のガラス又はガラス体に圧着及び溶融又はそのいずれかを実施させるため
の加工技法を用いることができる。この技法を用いる場合には、2つのガラス体
全体を、例えばキルン内で、所要の温度まで加熱してから融着することができる
。
薄いドーピング層、またはドーピングしない部分の厚さは、必要な波長又は波長
範囲(例えば、レーザー用干渉鏡)に応じて調節できる。現在の技術水準とは対
照的に、干渉鏡を用いて到達できるドーピングした部分とドーピングしない部分
との屈折指数の差は僅かに0.01に過ぎないが、例えば1000回というよう
に周期の回数を大きくすると、0.999以上の反射係数さえ達成できる(λ−
582nm、周期長は200nm、ガラスの平均屈折指数は1.45)。
−1的な屈折指数を超過しない材質を用いる限り、当発明にか−る光学被覆では
、任意の所定屈折指数プロファイルを周期的に設定することは容易であり、再現
可能である。そのためには、未処理ガラスの屈折指数を変えるドーピング用気体
の質量流を適切に調節す1 ればよい。ガラス体に所定のスペクトル的透過性能
をもたせることは、質量流調節に基づいて容易に達成できる。
特に、ドーピング用気体の質量流を時間に対して正弦関数的に変化させ、光学被
覆のガラス母材に、それぞれの正弦関数に応じた屈折指数の正弦的変化を概略的
にもたせることにより、屈折指数の急・ 激な変化を回避することは困難ではな
い。当発明における正弦関数とは、少くともf(x)=Sinxの形で表わすこ
とのできる全ての規則的な周期角度関数を含むものとする。更に、変調された正
弦関数(例えばf (x)−5inx + aSin(b X))、減衰正弦関
数、正弦指数関数又は正弦対数関数等々も含むものとする。この種の屈折指数パ
ターンをもち、−切の干渉性二次帯域をもたない干渉フィルタ又は干渉鏡を作成
することができる。この方法で作成した光学被覆(所定の波長に対して高い反射
率をもつ)は、放射安定度が高く、高エネルギレーザーパルスによる衝撃に対す
る破壊臨界値が極めて高い。マイクロ波励起によるプラズマインパルスCVD技
法によって酸化ガラスからガラス体を作成した場合には、破壊臨界値は特に高く
なる。
図16は干渉鏡の構造を示す。
図17は干渉フィルタの構造を示す。
図18は非反射被覆の構造を示す。
図16は、基質102と光学被覆103で構成される干渉鏡101の詳細を図式
的に示す。光学被覆の薄層状ドーピング104の周期は1.5であり、ドーピン
グの濃度変化を、干渉鏡101の次の106図に示す。
106圓において、dは光学被覆103の厚さを示し、Cはドーパントの濃度、
従って屈折指数の相対的変化を示し、Pは周期に相当する厚さを示し、λ/4は
、波長λの垂直投射放射vA(矢印)に対する屈折領域である。
概略図を闇易化するためムこ、1.5周期だけを示しであるが、周期は1000
回を超過しても差支えない。
図17は、光学被覆113だけで構成された干渉フィルタの詳細を図式的に示す
0図を簡略化するために、薄層状ドーピング】14の2.5周期だけを光学被覆
113に示す。た\”し、実際には、ドーピング部分118は厚さをPMを10
00周期以上含み、ドーピング部分118に続いて継目無しに始まるドーピング
部分111は、厚さpHを1000周期以上含むこともある*’i*層状ドーピ
ング114の2.5周期に相当する濃度曲線115を、干渉フィルタ111の次
の116図に示す。この濃度曲線115は、別のドーピング部分117と118
に割当てられ、点d1で結合する2つの正弦関数で表わすことができる。
116図において、dは光学被覆(13)のそれぞれの厚さを示し、Cはドーパ
ントの濃度、従って屈折指数の相対的変化を示し、P、はドーピング部分(17
)における周期に相当する厚さであり、P2はドーピング部分(18)における
周期に相当する厚さであり、1 λ、/4は波長λ、の垂直投射放射線に対する
反射範囲であり、λ、/4は波長λ3の垂直投射放射線に対する反射範囲である
。
干渉フィルタ111上のスペクトル119は、干渉フィルタ111の動作を図示
する。スペクトル119において、TはOから100%までの透過率を示し、λ
は対応する波長である。矢印120は干渉フィルタに直角に投射される“白”光
(又は、別の波長の電磁放射線)を示す。スペクトル範囲λ8はλ、において、
干渉フィルタは干渉鏡のように機能しく図1参照)、矢印121で示すこの波長
の入射光線を反射する。矢印122で示す反射されない光線は、実際的に妨害さ
れることなく干渉フィルタ111を透過するので、矢印122に生ずる間隙12
3は、λlとλ、のまわりの波長範囲の光(又は電磁放射線)に対する干渉フィ
ルタ111の不透過性を表わす。
図17に示すように、ドーピング部分の周期に相当する厚さを変えることにより
、成るスペクトル範囲に対して、干渉フィルタ111に不遇過性をもたせること
ができる。これに代わる方法として、ドーパントの4度Cを変えるか、又は、別
のドーパントを使用するか或はドーパントを追加することにより、又は、ガラス
母材の屈折指数を変える(屈折指数に影響する物質を添加又は削減する)ことに
より、或は、上記の方法の組合せによって不透過性を調節できる。
図18は、レンズ132と光学被覆133で構成される多重非反射被覆の詳細を
図式的に示す、光学被覆133は、4個のドーピング部分137.138.13
9及び140ド一ピング濃度の異る2つの薄層状ドーピング134で構成される
。134から140までのドーピング部分の厚さはそれぞれ異り、136図の濃
度曲線135(ドーパントの濃度曲線)に示される。136図におけるdとCの
意味は、図16及び17の場合と同じである。137から140までのドーピン
グ部分の濃度曲線135は実質的には階段状曲線であり、例えば、光学被覆13
3の作成に際してドーパントの添加及び削減又はそのいずれかを実施することに
より、高品質の所要曲線を容易に達成できる。被覆の濃度は階段状の垂直曲線で
表わされるが、光学被覆がガラス母材だけで構成され、実質的には無定形であり
、事実上無欠陥である6
色 をト の
PICVD技法(欧州特許36,191参照)を用いて、圧力3mbar。
管温度1000℃において、内径17.2fi、被覆部分0.5m、長さ1、2
5 mにわたり、F及びGeドーピングした5iO1で構成される光学被覆を石
英ガラス管内面にほどこす、光学被覆のガラス体は、極めて高い“繰返し頻度”
をもって、原子規模で作成される。この場合、ドーパントの濃度は連続的に変化
する、即ち、濃度はガラス体の単分子層単位で変化する。
ガスゼネレータにより、50ii!!の反応気体混合物(SiCl 、 +Ge
C1a ) 、200 vaeの02及び2 wIlのCCj!zFz(全て2
0℃、l barにおける量で表わす)を石英ガラス管に供給する。GeCj!
aの質量流は、質量流量1から7m7!/sinの範囲内で、周期8.1秒の正
弦関数に従って制御される。5iCf、の質量流は、塩化物の全質量流量が50
ran /sinとなるように適当に減量される。
モデルXJ1600、パルス出力5kw、周波数2.45GHzのマグネトロン
のマイクロ波パルスによりプラズマが点火される。継続時間2@s、休止時間約
10−5のプラズマパルス期間中、各層の厚さが181n*のλ/4層2個が、
8.1秒間に形成される。パルス休止、管内圧力及び反応気体の質量流を調節し
、被覆形成速度を2.2m/+winにする。
反応気体内のCCIZFX含有量2Illを一定に保持し、Fドーピングを一定
にすることにより機械的応力を軽減すれば、管の冷却に際して被覆を破壊に導く
内部応力を排除できる。
1000周期をもつ光学被覆が作成される。結果として、長さ約40cmにわた
り、石英ガラス管に鏡面化された被覆が形成される。
この石英ガラス管を、波長1060n−に対して反射係数が0.99となる片に
切断する。
この鏡は、エネルギ密度が35J/−の10nsレーザーパルスを損傷されるこ
となく (レーザー波長1.060nm)反射するはずである。
著しく優れた特性をもつ光学被覆が当発明によって提供される。
光学被覆は、従来、一般にPVD技法(物理的蒸気析出)により、個々の層を形
成することにより作成されてきた。この種の層は、特に層と層の界面に多数の欠
陥個所をもち、相互に、また基質において物理的性質が実質的に異る。この新規
な光学被覆は欠陥個所が殆ど無く、優れた物理的性質をもつ、この場合、光学被
覆は、個々の層の代りに、ガラス体から作られる。ガラス体内の物理的性質を変
えるために、製造に際してガラス体をドーピングする。ガラス体の成る領域のわ
たって屈折指数に差を生じさせるには、ガラス体を、異る濃度及び/又は異るド
ーパントにより、薄層状にドーピングする。この方法により、干渉鏡、干渉フィ
ルタ、非反射被覆、偏光フィルタ等を作成できる。
既に記述した当発明の好ましい実施例は、当発明を説明するために記載したもの
であり、当発明の全てについて記述することを目的とするものではなく、或は、
当発明を、こ−に開示した精密な形式に制限することを目的とするものでなく、
以上の記述の趣旨から逸脱することなしに種の偏光及び改造を実施することが可
能である。
好ましい実施例は、当発明の原理及び実際的な応用方法を理解し易く記述するた
めに選定し、解説したものであるので、当技術分野に習熟した者であれば、当発
明及び種々の実施例を用いて、特定の用途に適するように改変できるはずである
。当発明の適用範囲は、こ\に添付するクレームによって規定されるものである
。
浄書(内容にτ更ない
層状対の個数
FIG、 3
o o、oz O,640,0& 0.06
o−t浄書(内容こ変更なし)
FIG、5
浄書(内容に変更なし)
浄書(内容に変更ない
波 長 (八η〜)
FIG、8
FIG、Q
浄’I(内容に変更なし)
FIG、 10
FIO,11
浄書(内容に変更ない
浄書(内容に変更ない
FIG、14
FIO,15
FIG、18
手続補正帯(方式)
%式%
2、発明の名称 多層光学誘電被膜3、補正をする者
事件との関係 出願人
名称 アメリカ合衆国
4、代理人
5、補正命令の日付 平成3年1月22日国際調査報告
Claims (47)
- 1.強い光線による損傷にたいして耐性であり、所定の原料誘電材よりなる多数 の層を備えた光学被膜において、被膜中の相隣る層は層のうちの少なくともいく つかを1種またはそれ以上のドーパントでドープすることによって生じるわずか に異なる屈折率を有しており、上記1種又はそれ以上のドーパントは被膜の層が 未ドープの原料誘電材料の同じ物理特性および化学特性を実質的に保持し、それ により上記層が熱機械的かつ化学的に適合できるようにわずかな濃度で使用され ることを特徴とする光学被膜。
- 2.第1層が屈折率n1を有し、第2の隣接層が屈折率n2を有しており、1種 又はそれ以上のドーパントを使用することにより生じる屈折率の差は原料誘電材 の値の0.1%と15%との間であることを特徴とする請求項1記載の光学被膜 。
- 3.ドープされた層の数が100より多いことを特徴とする請求項2記載の光学 被膜。
- 4.被膜を高エネルギ束密度にさらしたとき、被膜における全体および局部エネ ルギ吸収を減じるかあるいは防ぐために被膜およびそれに含有されたいずれの微 粒状異物をも酸化するのに十分高い濃度で制御雰囲気中で形成したことを特徴と する請求項1記載の光学被膜。
- 5.微粒状異物を含有した被膜の光吸収損失より10〜100倍低い値に等しい 極めて低い光吸収損失を有することを特徴とする請求項4記載の光学被膜。
- 6.上記層の各々は気孔すなわち微結晶質欠陥を減じるために非晶質状態で全密 度で付着されていることを特徴とする請求項1記載の光学被膜。
- 7.上記未ドープの原料誘電材は合成シリカSiO2であることを特徴とする請 求項1記載の光学被膜。
- 8.原料はTiO2、GeO2、P2O5、F、B2O3、N、Ta2O5、A l2O3、Cl、Ce2O2又はSb2O3の群から選択されるドーピング材で ドープされていることを特徴とする請求項1記載の光学被膜。
- 9.原料はGeO2およびFでドープされていることを特徴とする請求項1記載 の光学被膜。
- 10.上記薄層は化学蒸着法により形成されたことを特徴とする請求項1記載の 光学被膜。
- 11.上記化学蒸着法をプラズマ助長したことを特徴とする請求項10記載の光 学被膜。
- 12.上記化学蒸着法は1300℃以上の温度による高温法であることを特徴と する請求項10記載の光学被膜。
- 13.上記プラズマ助長化学蒸着法は1000℃以上の温度による高温法である ことを特徴とする請求項11記載の光学被膜。
- 14.上記酸化雰囲気はガスO2、H2O、Cl、F2又はこれらのガスの組合 せの群より選択されることを特徴とする請求項4記載の被膜。
- 15.上記酸化雰囲気はOであることを特徴とする請求項14記載の被膜。
- 16.光学被膜用の未ドープ原料の保護上塗り層を生じるために上記交互のドー プされた層および未ドープ層に隣接して形成された任意厚さの未ドープ原料より なる1つ又はそれ以上の追加量を備えていることを特徴とする請求項1記載の光 学被膜。
- 17.上記交互のドープされた層および未ドープの層に隣接して形成された追加 層を備え、外追加層は上記交互のドープされた層および未ドープ層用の支持基質 を構成するのに十分厚く形成されたことを特徴とする請求項1記載の光学被膜。
- 18.強い光線による損傷に対して耐性であり、少なくともいくつかを1種又は それ以上のドーパントでドープすることによって形成された異なる屈折率を有す る第1の複数の交互層を備え、上記層の各々が第1波長では、4分の1波長の厚 さを有しており、上記第1波長では、第1の狭帯域反射器を構成することを特徴 とする光学反射被膜。
- 19.上記第1の複数の層に隣接して形成された第2の複数の交互のドープされ た層および未ドープ層を備え、上記第2の複数の層の各々は第2波長では4分の 1波長の厚さを有し、上記第2複数の層は第2狭帯域反射体を構成し、上記第1 および第2複数の層の組合せは上記第1反射体又は第2反射体の帯域幅より広い 帯域幅を有する反射体を構成することを特徴とする請求項18記載の光学被膜。
- 20.ガス放電により生じられる強い広帯域発光高湿プラズマを包囲する合成シ リカ外囲気に付けられた多層狭帯域反射体の複合積重ね体よりなり、波長を反射 してプラズマの中へ戻し、所望の波長を合成シリカ外囲器から伝達するように設 計されていることを特徴とする請求項19記載の光学反射被膜。
- 21.広帯域フラッシュランプ光源の合成シリカ外囲気に付着されていることを 特徴とする請求項20記載の光学反射被膜。
- 22.スリッドステートレーザゲイン媒体を出力するのに使用されるフラッシュ ランプ光源の合成シリカ外囲器に付着されることを特徴とする請求項20記載の 光学反射被膜。
- 23.ネオジムドープされたソリッドステートレーザゲイン媒体を返還負荷する のに使用されるフラッシュランプ広帯域光源の合成シリカ外囲器に付着され、或 る所定の波長を反射して、再吸収および再発光すべきプラズマの中へ戻し、それ により上記フラッシュランプの所望の波長で光エネルギヘの電気エネルギの変換 効率を向上させるように設計されていることを特徴とする請求項22記載の光学 反射被膜。
- 24.反射被膜が950と1200nmとの間の赤外線領域内の波長を反射する ことを特徴とする請求項23の改良。
- 25.反射被膜が250と400nmとの間の紫外線領域内の波長を反射するこ とを特徴とする請求項23の改良。
- 26.反射被膜が上記ネオジムドープされたソリッドステートレーザゲイン媒体 の返還負荷帯域に合った光エチレンの伝送を行うように 400〜900nmの範囲内の波長を反射しないことを特徴とする請求項23の 改良。
- 27.強い光線による損傷に対して非常に耐性であり、誘電材の非常にわずかな 段階増量付着層で構成され、上記段階増量付着層の各々は相隣る段階増量付着層 の屈折率をわずかに変えて屈折率の所定の段階分布を形成するように1種又はそ れ以上のドーピング材でドープされていることを特徴とする光学被膜。
- 28.段階増量付着層は正弦波に近似する屈折率をもたらすようにドープされて いることを特徴とする請求項27の被膜。
- 29.上記段階増量付着層は5〜10オングストロームの厚さを有することを特 徴とする請求項27記載の被膜。
- 30.層ドーピングを含有する被膜を有するガラス体よりなることを特徴とする 光学被膜。
- 31.全ガラス体がドープされており、ドーピングが濃度の層状差を有すること を特徴とする請求項30記載の光学被膜。
- 32.ドーピングの濃度が被膜に対して本質的に直角の矩形パターンで流れてい ることを特徴とする請求項30記載の光学被膜。
- 33.被膜に対して直角に対して直角のドーピングの濃度は本質的に正弦関数に よって示されることを特徴とする請求項32記載の光学被膜。
- 34.周期構造を有することを特徴とする請求項30記載の光学被膜。
- 35.周期構造は0.01と10μmとの間の周期長さを有することを特徴とす る請求項34記載の光学被膜。
- 36.ガラス体は溶融ガラスとして設けられていることを特徴とする請求項30 記載の光学被膜。
- 37.ガラス体は自己支持性でしることを特徴とする請求項30記載の光学被膜 。
- 38.いくつかのガラス体が互いに接合されていることを特徴とする請求項37 記載の光学被膜。
- 39.ガラス体は異なる層状周期的ドーピングを含有していることを特徴とする 請求項30記載の光学被膜。
- 40.反射防止被膜として形成されていることを特徴とする請求項30記載の光 学被膜。
- 41.干渉ミラーとして形成されていることを特徴とする請求項30記載の光学 被膜。
- 42.干渉フィルタとして形成されていることを特徴とする請求項30記載の光 学被膜。
- 43.偏光フィルタとして形成されていることを特徴とする請求項30記載の光 学被膜。
- 44.ビームスプリッタとして形成されていることを特徴とする請求項30記載 の光学被膜。
- 45.ガス相化学蒸着法を使用して反応ガスからガラス体を反応蒸着し、 反応ガスに他の反応ガスを加え、この反応ガスからガラス体をドープするための 元素を付着することを特徴とする層状ドーピングで形成されたガラス体として光 学被膜を製造するための方法。
- 46.プラズマ活性化化学蒸着法によってガラス体を生じることを特徴とする請 求項45記載の方法。
- 47.プラズマパルス化学蒸着法によってガラス体を生じることを特徴とする請 求項45記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US260,429 | 1988-10-20 | ||
US07/260,429 US4925259A (en) | 1988-10-20 | 1988-10-20 | Multilayer optical dielectric coating |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03502378A true JPH03502378A (ja) | 1991-05-30 |
Family
ID=22989128
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1510091A Pending JPH03502378A (ja) | 1988-10-20 | 1989-09-05 | 多層光学誘電被膜 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4925259A (ja) |
JP (1) | JPH03502378A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010231172A (ja) * | 2009-03-04 | 2010-10-14 | Seiko Epson Corp | 光学物品およびその製造方法 |
Families Citing this family (102)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5000575A (en) * | 1989-09-06 | 1991-03-19 | Rockwell International Corporation | Method of fabricating gradient index optical films |
US5181143A (en) * | 1991-10-03 | 1993-01-19 | Rockwell International Corporation | Multiple line rugate filter with index clipping |
US5179469A (en) * | 1992-03-24 | 1993-01-12 | Rockwell International Corporation | Broad band light absorbing film |
US5289314A (en) * | 1992-03-25 | 1994-02-22 | Hughes Aircraft Company | Coatings for laser detector etalons |
US5291332A (en) * | 1992-03-25 | 1994-03-01 | Hughes Aircraft Company | Etalons with dispersive coatings |
DE4221523A1 (de) * | 1992-07-01 | 1994-01-05 | Jenoptik Jena Gmbh | Strahlenschutzanordnung mit integriertem Bestrahlungs-Indikator |
US5354294A (en) * | 1993-05-26 | 1994-10-11 | Xintec Corporation | Combination reflectance fiber optic laser beam angle delivery |
EP0610991A3 (en) * | 1993-02-08 | 1995-04-19 | Xintec Corp | Device for laser-assisted transurethral resection of the prostate. |
US5498260A (en) * | 1993-02-08 | 1996-03-12 | Xintec Corporation | Internal reflectance angle firing fiber optic laser delivery device and method of use |
US6674562B1 (en) * | 1994-05-05 | 2004-01-06 | Iridigm Display Corporation | Interferometric modulation of radiation |
US7830587B2 (en) * | 1993-03-17 | 2010-11-09 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Method and device for modulating light with semiconductor substrate |
US5457570A (en) * | 1993-05-25 | 1995-10-10 | Litton Systems, Inc. | Ultraviolet resistive antireflective coating of Ta2 O5 doped with Al2 O3 and method of fabrication |
US5513039A (en) * | 1993-05-26 | 1996-04-30 | Litton Systems, Inc. | Ultraviolet resistive coated mirror and method of fabrication |
JP3242495B2 (ja) * | 1993-07-01 | 2001-12-25 | シャープ株式会社 | 多層膜フィルタ付き受光素子及びその製造方法 |
US5882773A (en) * | 1993-10-13 | 1999-03-16 | The Regents Of The University Of California | Optical coatings of variable refractive index and high laser-resistance from physical-vapor-deposited perfluorinated amorphous polymer |
FR2712990B1 (fr) * | 1993-11-22 | 1996-04-05 | Commissariat Energie Atomique | Miroir à large bande et à haute réflectivité et procédé de réalisation d'un tel miroir. |
US7839556B2 (en) * | 1994-05-05 | 2010-11-23 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Method and device for modulating light |
US7460291B2 (en) * | 1994-05-05 | 2008-12-02 | Idc, Llc | Separable modulator |
US8014059B2 (en) | 1994-05-05 | 2011-09-06 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | System and method for charge control in a MEMS device |
US7852545B2 (en) * | 1994-05-05 | 2010-12-14 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Method and device for modulating light |
US7826120B2 (en) * | 1994-05-05 | 2010-11-02 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Method and device for multi-color interferometric modulation |
US8081369B2 (en) * | 1994-05-05 | 2011-12-20 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | System and method for a MEMS device |
USH1572H (en) * | 1995-01-03 | 1996-08-06 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force | Wavelength stabilizing laser mirror |
US7898722B2 (en) * | 1995-05-01 | 2011-03-01 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Microelectromechanical device with restoring electrode |
US7929197B2 (en) * | 1996-11-05 | 2011-04-19 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | System and method for a MEMS device |
US7830588B2 (en) * | 1996-12-19 | 2010-11-09 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Method of making a light modulating display device and associated transistor circuitry and structures thereof |
US8928967B2 (en) | 1998-04-08 | 2015-01-06 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Method and device for modulating light |
KR100703140B1 (ko) * | 1998-04-08 | 2007-04-05 | 이리다임 디스플레이 코포레이션 | 간섭 변조기 및 그 제조 방법 |
US6381391B1 (en) * | 1999-02-19 | 2002-04-30 | The Regents Of The University Of Michigan | Method and system for generating a broadband spectral continuum and continuous wave-generating system utilizing same |
FR2795183A1 (fr) * | 1999-06-15 | 2000-12-22 | Commissariat Energie Atomique | Composant optique protege contre le vieillissement |
WO2003007049A1 (en) * | 1999-10-05 | 2003-01-23 | Iridigm Display Corporation | Photonic mems and structures |
AU1218401A (en) * | 1999-10-20 | 2001-04-30 | Cvd Systems, Inc. | Fluid processing system |
US6807216B1 (en) * | 2000-09-29 | 2004-10-19 | Donald Bennett Hilliard | Circular laser |
US7408969B2 (en) * | 2000-09-29 | 2008-08-05 | Donald Bennett Hilliard | Optical cavity and laser |
TW557371B (en) * | 2001-07-02 | 2003-10-11 | Sumitomo Chemical Co | Semi-transparent-semi-reflectivity film, semi- transparent-semi-reflectivity polarized film, polarized light device using these films, and liquid crystal display device using these films |
US6730615B2 (en) * | 2002-02-19 | 2004-05-04 | Intel Corporation | High reflector tunable stress coating, such as for a MEMS mirror |
JP4097552B2 (ja) * | 2003-03-27 | 2008-06-11 | 三菱電機株式会社 | 半導体レーザ装置 |
US7746911B2 (en) * | 2004-06-25 | 2010-06-29 | Finisar Corporation | Geometric optimizations for reducing spontaneous emissions in photodiodes |
US7742515B2 (en) * | 2004-06-25 | 2010-06-22 | Finisar Corporation | Vertical cavity surface emitting laser optimized for optical sensitivity |
US7369296B2 (en) * | 2004-09-27 | 2008-05-06 | Idc, Llc | Device and method for modifying actuation voltage thresholds of a deformable membrane in an interferometric modulator |
US7373026B2 (en) * | 2004-09-27 | 2008-05-13 | Idc, Llc | MEMS device fabricated on a pre-patterned substrate |
US7583429B2 (en) | 2004-09-27 | 2009-09-01 | Idc, Llc | Ornamental display device |
US7420725B2 (en) | 2004-09-27 | 2008-09-02 | Idc, Llc | Device having a conductive light absorbing mask and method for fabricating same |
US7564612B2 (en) | 2004-09-27 | 2009-07-21 | Idc, Llc | Photonic MEMS and structures |
US8008736B2 (en) | 2004-09-27 | 2011-08-30 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Analog interferometric modulator device |
US7936497B2 (en) | 2004-09-27 | 2011-05-03 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | MEMS device having deformable membrane characterized by mechanical persistence |
US7630119B2 (en) | 2004-09-27 | 2009-12-08 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Apparatus and method for reducing slippage between structures in an interferometric modulator |
US7289259B2 (en) | 2004-09-27 | 2007-10-30 | Idc, Llc | Conductive bus structure for interferometric modulator array |
US7944599B2 (en) * | 2004-09-27 | 2011-05-17 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Electromechanical device with optical function separated from mechanical and electrical function |
US7527995B2 (en) * | 2004-09-27 | 2009-05-05 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Method of making prestructure for MEMS systems |
US7304784B2 (en) * | 2004-09-27 | 2007-12-04 | Idc, Llc | Reflective display device having viewable display on both sides |
US7372613B2 (en) | 2004-09-27 | 2008-05-13 | Idc, Llc | Method and device for multistate interferometric light modulation |
US20060222846A1 (en) * | 2005-04-01 | 2006-10-05 | General Electric Company | Reflective and resistant coatings and methods for applying to composite structures |
US7884989B2 (en) * | 2005-05-27 | 2011-02-08 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | White interferometric modulators and methods for forming the same |
EP2343580B1 (en) | 2005-06-21 | 2012-12-05 | Zeon Corporation | Protective film for polarizing plate |
KR101226399B1 (ko) * | 2005-06-21 | 2013-01-24 | 니폰 제온 가부시키가이샤 | 편광판용 보호필름 |
WO2007004296A1 (ja) * | 2005-07-06 | 2007-01-11 | Fujitsu Limited | 誘電体多層膜を含んだ光学素子およびその製造方法 |
US7916980B2 (en) | 2006-01-13 | 2011-03-29 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Interconnect structure for MEMS device |
EP1835675A1 (en) * | 2006-03-14 | 2007-09-19 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | A method of coupling a circuit switched network to an internet protocol network |
US7643203B2 (en) * | 2006-04-10 | 2010-01-05 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Interferometric optical display system with broadband characteristics |
US7649671B2 (en) | 2006-06-01 | 2010-01-19 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Analog interferometric modulator device with electrostatic actuation and release |
US7835061B2 (en) | 2006-06-28 | 2010-11-16 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Support structures for free-standing electromechanical devices |
US7527998B2 (en) | 2006-06-30 | 2009-05-05 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Method of manufacturing MEMS devices providing air gap control |
US8115987B2 (en) | 2007-02-01 | 2012-02-14 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Modulating the intensity of light from an interferometric reflector |
US7733552B2 (en) | 2007-03-21 | 2010-06-08 | Qualcomm Mems Technologies, Inc | MEMS cavity-coating layers and methods |
US7643202B2 (en) | 2007-05-09 | 2010-01-05 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Microelectromechanical system having a dielectric movable membrane and a mirror |
US7719752B2 (en) | 2007-05-11 | 2010-05-18 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | MEMS structures, methods of fabricating MEMS components on separate substrates and assembly of same |
US8958156B1 (en) | 2007-05-30 | 2015-02-17 | Semrock, Inc. | Interference filter for non-zero angle of incidence spectroscopy |
US7630121B2 (en) | 2007-07-02 | 2009-12-08 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Electromechanical device with optical function separated from mechanical and electrical function |
EP2183623A1 (en) | 2007-07-31 | 2010-05-12 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Devices for enhancing colour shift of interferometric modulators |
US7847999B2 (en) | 2007-09-14 | 2010-12-07 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Interferometric modulator display devices |
US9354370B1 (en) * | 2007-09-25 | 2016-05-31 | Semrock, Inc. | Optical thin-film notch filter with very wide pass band regions |
US8058549B2 (en) | 2007-10-19 | 2011-11-15 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Photovoltaic devices with integrated color interferometric film stacks |
CN101828146B (zh) | 2007-10-19 | 2013-05-01 | 高通Mems科技公司 | 具有集成光伏装置的显示器 |
JP2011504243A (ja) | 2007-10-23 | 2011-02-03 | クォルコム・メムズ・テクノロジーズ・インコーポレーテッド | 調節可能透過型memsベースの装置 |
US8941631B2 (en) | 2007-11-16 | 2015-01-27 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Simultaneous light collection and illumination on an active display |
US8164821B2 (en) * | 2008-02-22 | 2012-04-24 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Microelectromechanical device with thermal expansion balancing layer or stiffening layer |
US7944604B2 (en) | 2008-03-07 | 2011-05-17 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Interferometric modulator in transmission mode |
US7612933B2 (en) | 2008-03-27 | 2009-11-03 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Microelectromechanical device with spacing layer |
US7898723B2 (en) | 2008-04-02 | 2011-03-01 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Microelectromechanical systems display element with photovoltaic structure |
US7969638B2 (en) | 2008-04-10 | 2011-06-28 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Device having thin black mask and method of fabricating the same |
US8023167B2 (en) | 2008-06-25 | 2011-09-20 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Backlight displays |
US7859740B2 (en) | 2008-07-11 | 2010-12-28 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Stiction mitigation with integrated mech micro-cantilevers through vertical stress gradient control |
US7855826B2 (en) * | 2008-08-12 | 2010-12-21 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Method and apparatus to reduce or eliminate stiction and image retention in interferometric modulator devices |
US8358266B2 (en) | 2008-09-02 | 2013-01-22 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Light turning device with prismatic light turning features |
US8270056B2 (en) | 2009-03-23 | 2012-09-18 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Display device with openings between sub-pixels and method of making same |
US8979349B2 (en) | 2009-05-29 | 2015-03-17 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Illumination devices and methods of fabrication thereof |
US8911836B2 (en) * | 2009-05-29 | 2014-12-16 | The Boeing Company | Spectrally selective coatings and associated methods for minimizing the effects of lightning strikes |
US8270062B2 (en) | 2009-09-17 | 2012-09-18 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Display device with at least one movable stop element |
US8488228B2 (en) | 2009-09-28 | 2013-07-16 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Interferometric display with interferometric reflector |
EP2556403A1 (en) | 2010-04-09 | 2013-02-13 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Mechanical layer of an electromechanical device and methods of forming the same |
KR20130091763A (ko) | 2010-08-17 | 2013-08-19 | 퀄컴 엠이엠에스 테크놀로지스, 인크. | 간섭 디스플레이 장치에서의 전하 중성 전극의 작동 및 교정 |
US9057872B2 (en) | 2010-08-31 | 2015-06-16 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Dielectric enhanced mirror for IMOD display |
US9134527B2 (en) | 2011-04-04 | 2015-09-15 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Pixel via and methods of forming the same |
US8963159B2 (en) | 2011-04-04 | 2015-02-24 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Pixel via and methods of forming the same |
US8659816B2 (en) | 2011-04-25 | 2014-02-25 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Mechanical layer and methods of making the same |
US8736939B2 (en) | 2011-11-04 | 2014-05-27 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Matching layer thin-films for an electromechanical systems reflective display device |
JP2015111241A (ja) * | 2013-10-30 | 2015-06-18 | 日本電波工業株式会社 | 光学部品 |
US10887974B2 (en) | 2015-06-22 | 2021-01-05 | Kla Corporation | High efficiency laser-sustained plasma light source |
TWI700965B (zh) * | 2015-06-22 | 2020-08-01 | 美商克萊譚克公司 | 高效率雷射支持之電漿光源 |
WO2017218895A1 (en) * | 2016-06-17 | 2017-12-21 | Lawrence Livermore National Security, Llc | Laser gain media fabricated via direct ink writing (diw) and ceramic processing |
US11796817B2 (en) * | 2022-01-21 | 2023-10-24 | Lightspace Group, Inc. | Optical arrangement for expanding and uniformizing light beams |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3737292A (en) * | 1972-01-03 | 1973-06-05 | Corning Glass Works | Method of forming optical waveguide fibers |
FR2175599B1 (ja) * | 1972-03-15 | 1976-08-13 | Comp Generale Electricite | |
DE2642949C3 (de) * | 1976-09-24 | 1980-11-20 | Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg | Verfahren zur Herstellung von innenbeschichteten Glasrohren zum Ziehen von Lichtleitfasern |
US4243398A (en) * | 1978-02-09 | 1981-01-06 | Nippon Electric Co., Ltd. | Method of producing dielectric diffraction gratings or dielectric multilayer interference filters |
US4522485A (en) * | 1978-04-24 | 1985-06-11 | Canon Kabushiki Kaisha | Copying machine including a dielectric covered metal reflective device |
US4214818A (en) * | 1978-11-08 | 1980-07-29 | Westinghouse Electric Corp. | Hot pressed SiC-high power laser mirror |
GB2067781B (en) * | 1979-10-29 | 1983-09-01 | Standard Telephones Cables Ltd | Optical fibres |
US4371587A (en) * | 1979-12-17 | 1983-02-01 | Hughes Aircraft Company | Low temperature process for depositing oxide layers by photochemical vapor deposition |
US4545646A (en) * | 1983-09-02 | 1985-10-08 | Hughes Aircraft Company | Process for forming a graded index optical material and structures formed thereby |
JPS60232504A (ja) * | 1984-05-02 | 1985-11-19 | Minolta Camera Co Ltd | 光学フイルタ |
FR2605748B1 (fr) * | 1986-10-28 | 1989-04-28 | Comp Generale Electricite | Miroir multidielectrique notamment pour l'infrarouge moyen notamment pour laser a dioxyde de carbone |
-
1988
- 1988-10-20 US US07/260,429 patent/US4925259A/en not_active Expired - Fee Related
-
1989
- 1989-09-05 JP JP1510091A patent/JPH03502378A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010231172A (ja) * | 2009-03-04 | 2010-10-14 | Seiko Epson Corp | 光学物品およびその製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4925259A (en) | 1990-05-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH03502378A (ja) | 多層光学誘電被膜 | |
Torchio et al. | High-reflectivity HfO2/SiO2 ultraviolet mirrors | |
US5991081A (en) | Anti-reflection coatings and coated articles | |
US3853386A (en) | Low-loss, highly reflective multilayer coating system formed of alternate highly refractive and low-refractive oxide layers | |
US4940636A (en) | Optical interference filter | |
US5513039A (en) | Ultraviolet resistive coated mirror and method of fabrication | |
JP5661296B2 (ja) | 193nmでの広角高反射ミラー | |
JP2003515196A (ja) | 熱フィルタおよびこのフィルタの製造方法 | |
JPH0782133B2 (ja) | 光マイクロガイドの製造方法 | |
US20220373723A1 (en) | Optical element having a protective coating, method for the production thereof and optical arrangement | |
EP0402429A4 (en) | Multilayer optical dielectric coating | |
EP1614199B1 (en) | Coated optics to improve durability | |
Hass et al. | Optical film materials and their applications | |
US6441541B1 (en) | Optical interference coatings and lamps using same | |
Kozlowski et al. | Optical coatings for high power lasers | |
JP3355786B2 (ja) | 赤外線用光学部品の製造方法 | |
JPH0552923B2 (ja) | ||
Segner | Plasma impulse chemical vapour deposition—a novel technique for the production of high power laser mirrors | |
Stenzel et al. | Optical and mechanical properties of oxide UV coatings, prepared by PVD techniques | |
CN102187254A (zh) | 用于节能灯的高折射率材料 | |
Rainer et al. | Review of UV laser damage measurements at Lawrence Livermore National Laboratory | |
Saraf et al. | Alternately stacked TiO2/Al2O3 multilayer based optical filter fabricated by electron beam evaporation technique | |
Szafranek et al. | Broad, Double-Band Antireflection Coatings On Glasses For 1.06 à ‚µm And Visible Or Ultraviolet Radiation: Design And Experiment | |
Wirtenson | Coatings for Nigh Energy Applications: The Nova Laser | |
JP3404346B2 (ja) | 光学薄膜の製造方法及び光学薄膜を有する基板の製造方法 |