JPH0331745A - 原子吸光分光光度計 - Google Patents
原子吸光分光光度計Info
- Publication number
- JPH0331745A JPH0331745A JP16804989A JP16804989A JPH0331745A JP H0331745 A JPH0331745 A JP H0331745A JP 16804989 A JP16804989 A JP 16804989A JP 16804989 A JP16804989 A JP 16804989A JP H0331745 A JPH0331745 A JP H0331745A
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- Japan
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- wavelength
- pulses
- atomic absorption
- absorption spectrophotometer
- spectrometer
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は０分光器の分散素子をパルスモータで駆動する
方式の原子吸光分光光度計に係り、特に測定元素に特有
の波長に分光器を設定するのに好適な原子吸光分光光度
計に関する。
方式の原子吸光分光光度計に係り、特に測定元素に特有
の波長に分光器を設定するのに好適な原子吸光分光光度
計に関する。
従来の原子吸光分光光度計においては１例えば。
ｏ、ｏｏｓｎｍきざみで測定元素の設定波長近傍を波長
スキャンして、最終的に最も光強度の強いピーク位置に
分光器の波長を設定している（例えば特開昭５９−１２
５０４０号公報参照）。
スキャンして、最終的に最も光強度の強いピーク位置に
分光器の波長を設定している（例えば特開昭５９−１２
５０４０号公報参照）。
従来の原子吸光分光光度計にあっては、測定元素を変え
る毎にピークサーチ方式により分光器を測定元素の波長
に設定しているため、毎回波長設定に１〜２分かかり、
その間操作者は持っていなければならないという間頭点
があった。特に１分析を行うのに先立って設定しなけれ
ばならない測定条件の中で、所要時間が一番長いのは波
長設定であり、全条件設定時間の約９０％を占めている
ので、迅速に測定を開始するためにはこの波長設定に要
する時間が最大のネックとなっていた。
る毎にピークサーチ方式により分光器を測定元素の波長
に設定しているため、毎回波長設定に１〜２分かかり、
その間操作者は持っていなければならないという間頭点
があった。特に１分析を行うのに先立って設定しなけれ
ばならない測定条件の中で、所要時間が一番長いのは波
長設定であり、全条件設定時間の約９０％を占めている
ので、迅速に測定を開始するためにはこの波長設定に要
する時間が最大のネックとなっていた。
本発明は、測定元素に特有の波長に分光器を設定する時
間を短縮し・迅速に測定を進めることができる原子吸光
分光光度計を提供することを目的としている。
間を短縮し・迅速に測定を進めることができる原子吸光
分光光度計を提供することを目的としている。
上記目的を達成するために１本発明の原子吸光分光光度
計においては１分光器の分散素子をパルスモータで駆動
する方式を採用し、設定すべき測定元素の波長と当該波
長位置へ分散素子をパルスモータで駆動するためのパル
ス数との関係を保持することができる不揮発性メモリを
内蔵したものである。
計においては１分光器の分散素子をパルスモータで駆動
する方式を採用し、設定すべき測定元素の波長と当該波
長位置へ分散素子をパルスモータで駆動するためのパル
ス数との関係を保持することができる不揮発性メモリを
内蔵したものである。
分光器の分散素子をパルスモータで駆動する場合、波長
λとパルス数Ｐとの関係は Ｐ ＝ Ｋ１ｓ＋ｎ （Ｋ２λ） −−−・
（］）但し＋ Ｋ１＊ Ｋｚは装置に依存した定数とな
り、設定したい波長λに対応するパルス数Ｐを求めるこ
とができる。通常１機械的な加工誤差等を考慮して、波
長設定は求められたパルス数Ｐの付近を少しづつパルス
を送りながら正確な波長位置を求めるが、−度求まると
、この波長位置は短期的には変わらない。
λとパルス数Ｐとの関係は Ｐ ＝ Ｋ１ｓ＋ｎ （Ｋ２λ） −−−・
（］）但し＋ Ｋ１＊ Ｋｚは装置に依存した定数とな
り、設定したい波長λに対応するパルス数Ｐを求めるこ
とができる。通常１機械的な加工誤差等を考慮して、波
長設定は求められたパルス数Ｐの付近を少しづつパルス
を送りながら正確な波長位置を求めるが、−度求まると
、この波長位置は短期的には変わらない。
原子吸光測定で用いる波長は約７０＠あるが。
この約７０ｍの波長に対応するパルス数を不揮発性メモ
リに表の形で保持しておけは、その都度ピークサーチす
る必要がなくなる。不揮発性メモリに保持する表の１σ
（波長に対応するパルス数）は。
リに表の形で保持しておけは、その都度ピークサーチす
る必要がなくなる。不揮発性メモリに保持する表の１σ
（波長に対応するパルス数）は。
最初は全てにゼロを入れておく。ある測定元素の波長設
定が要求されると２表の値がゼロの場合だけピークサー
チを行い・水種ったパルス数を表に書き込む。このよう
にして、＋１Ｉｉ４次不揮発性メモリの表に求まったパ
ルス数を書き込んでいき、過去に一度ピークサーチを行
った測定元素の波長については、即座にパルス数が求ま
り、波長設定を行うことができる。勿論、あらかじめ約
７０種の全ての波長についてピークサーチを行っておけ
ば。
定が要求されると２表の値がゼロの場合だけピークサー
チを行い・水種ったパルス数を表に書き込む。このよう
にして、＋１Ｉｉ４次不揮発性メモリの表に求まったパ
ルス数を書き込んでいき、過去に一度ピークサーチを行
った測定元素の波長については、即座にパルス数が求ま
り、波長設定を行うことができる。勿論、あらかじめ約
７０種の全ての波長についてピークサーチを行っておけ
ば。
測定時には全波長についてビークサーチを行う必要がな
くなる。また、経年変化により波長ズレが生じた場合に
は、必要に応じて不揮発性メモリの表の値を更新する機
能を付加するとよい。
くなる。また、経年変化により波長ズレが生じた場合に
は、必要に応じて不揮発性メモリの表の値を更新する機
能を付加するとよい。
上記のように構成された原子吸光分光光度計で・測定元
素の波長を操作部より入力すると、不揮発性メモリに表
の形で保持しである波長に対応するパルス数を求め１分
光器の分散素子をパルスモータにより駆動して直ちに最
適波長位置に波長設定が行われる。当該測定元素の波長
に対応するパルス数が不揮発性メモリに保持されていな
い場合には１通常の波長設定と同様にピークサーチを行
い。
素の波長を操作部より入力すると、不揮発性メモリに表
の形で保持しである波長に対応するパルス数を求め１分
光器の分散素子をパルスモータにより駆動して直ちに最
適波長位置に波長設定が行われる。当該測定元素の波長
に対応するパルス数が不揮発性メモリに保持されていな
い場合には１通常の波長設定と同様にピークサーチを行
い。
正確な波長位ごｔを求めて波長設定するが０次回からの
当該が１１定元素の波長設定にそなえて、その最適波長
位置に対応するパルス数を不揮発性メモリに保持する。
当該が１１定元素の波長設定にそなえて、その最適波長
位置に対応するパルス数を不揮発性メモリに保持する。
このようにして、測定元素を変える毎に行う波長設定に
要する時間の短縮を図るっ〔実施例〕 実施例について図面をか照して読切すると、第１図及び
第２図において、光源１からは測定元素の共鳴線を含む
Ｑｌ線スベク）／しが放射され、これらが光学系により
原子化部２を通過し１分光Ｐ＃ ３に導入プれる。これ
らの輝線の中には、測定元素による加子吸１１！ ’ｉ
全く受けない光や吸光の度合が低い光などが含まれてお
り、これらは分光器３により除外され、吸収Ｐ８度の最
も高い輝線（波長）のみが選択されて、検出器４で電気
信号に変換される。
要する時間の短縮を図るっ〔実施例〕 実施例について図面をか照して読切すると、第１図及び
第２図において、光源１からは測定元素の共鳴線を含む
Ｑｌ線スベク）／しが放射され、これらが光学系により
原子化部２を通過し１分光Ｐ＃ ３に導入プれる。これ
らの輝線の中には、測定元素による加子吸１１！ ’ｉ
全く受けない光や吸光の度合が低い光などが含まれてお
り、これらは分光器３により除外され、吸収Ｐ８度の最
も高い輝線（波長）のみが選択されて、検出器４で電気
信号に変換される。
分光器３における輝線の選択は９分散素子１０をパルス
モータ６の駆動により減速ｉ１１を介して回転すること
により行う（第２図参照）。
モータ６の駆動により減速ｉ１１を介して回転すること
により行う（第２図参照）。
一方、原子化部２においては、試料中に含まれる測定元
素が熱解離により原子化され、間部を通過する光のうち
、吸収感度の最も高い輝線（波長）を選択的に強く吸収
する。
素が熱解離により原子化され、間部を通過する光のうち
、吸収感度の最も高い輝線（波長）を選択的に強く吸収
する。
検出ａｔ ４で検出した信号は増幅器５で増幅され。
信号処理部のＣＰＵ７で対数変換し、吸光度に比例した
ｔ［あるいは濃度に変換した値を表示部８に表示する。
ｔ［あるいは濃度に変換した値を表示部８に表示する。
ＣＰＵ７には、不揮発性メモリを内蔵している。
この不揮発性メモリは約７０種の波長と、パルスモータ
６により当該波長位置に分光器３の分＃！Ｉ素子１０′
ｆｅ駆動するためのパルス数との関係を表の形で保持す
ることができる。
６により当該波長位置に分光器３の分＃！Ｉ素子１０′
ｆｅ駆動するためのパルス数との関係を表の形で保持す
ることができる。
いま、操作部９よりある測定元素の波長が入力されたと
すると、ＣＰＵ７ではその波長に対応するパルス数が不
揮発性メモリから求められ、当該パルス数がパルスモー
タ６に供給され９分光器３の分散素子１０を駆動してそ
の最適波長位置に設定することができる。不揮発性メモ
リにその波長に対応するパルス数が保持されていない場
合には。
すると、ＣＰＵ７ではその波長に対応するパルス数が不
揮発性メモリから求められ、当該パルス数がパルスモー
タ６に供給され９分光器３の分散素子１０を駆動してそ
の最適波長位置に設定することができる。不揮発性メモ
リにその波長に対応するパルス数が保持されていない場
合には。
前述したＣ＋）式によりパルス数を求め、その求めたパ
ルス数の付近を少しづつパルスを送りながら正確な位＠
を求めることになるが、このようにして求めた正確な波
長位置に対応するパルス数は不揮性メモリに保持され１
次回同一の測定元素の波長を設定するときに汀、直ちに
最適波長位置に対応するパルス数が求められ、波長設定
をすることができる。
ルス数の付近を少しづつパルスを送りながら正確な位＠
を求めることになるが、このようにして求めた正確な波
長位置に対応するパルス数は不揮性メモリに保持され１
次回同一の測定元素の波長を設定するときに汀、直ちに
最適波長位置に対応するパルス数が求められ、波長設定
をすることができる。
本発明は以上説明したように構成されているので、測定
元素の波長設定を迅速に行うことができ。
元素の波長設定を迅速に行うことができ。
分析に先立つ測定条件に要する時間を短縮することがで
きるので、操作者は能率的に分Ｖｒを行うことができる
。
きるので、操作者は能率的に分Ｖｒを行うことができる
。
第１図は本発明の原子吸光分光光度計の概略を示す図、
第２図は同分光器の構成を示す図である。
第２図は同分光器の構成を示す図である。
Claims (1)
- 分光器の分散素子をパルスモータで駆動する原子吸光分
光光度計において、設定すべき測定元素の波長と当該波
長位置へ前記分散素子を前記パルスモータにより駆動す
るためのパルス数との関係を保持することができる不揮
発性メモリを備えたことを特徴とする原子吸光分光光度
計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1168049A JP2737263B2 (ja) | 1989-06-29 | 1989-06-29 | 原子吸光分光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1168049A JP2737263B2 (ja) | 1989-06-29 | 1989-06-29 | 原子吸光分光光度計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0331745A true JPH0331745A (ja) | 1991-02-12 |
| JP2737263B2 JP2737263B2 (ja) | 1998-04-08 |
Family
ID=15860883
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1168049A Expired - Lifetime JP2737263B2 (ja) | 1989-06-29 | 1989-06-29 | 原子吸光分光光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2737263B2 (ja) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5374488A (en) * | 1976-12-15 | 1978-07-01 | Mitsui Shipbuilding Eng | Automatic wave length selector |
| JPS56108923A (en) * | 1980-01-31 | 1981-08-28 | Norito Suzuki | Sweep control method of luminous analyzing spectroscope using microcomputer |
| JPS57142524A (en) * | 1981-02-27 | 1982-09-03 | Hitachi Ltd | Measuring method and device for spectral luminous intensity |
-
1989
- 1989-06-29 JP JP1168049A patent/JP2737263B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5374488A (en) * | 1976-12-15 | 1978-07-01 | Mitsui Shipbuilding Eng | Automatic wave length selector |
| JPS56108923A (en) * | 1980-01-31 | 1981-08-28 | Norito Suzuki | Sweep control method of luminous analyzing spectroscope using microcomputer |
| JPS57142524A (en) * | 1981-02-27 | 1982-09-03 | Hitachi Ltd | Measuring method and device for spectral luminous intensity |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2737263B2 (ja) | 1998-04-08 |
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