JPH03258249A - Ｘ線ｃｔ装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の目的コ （産業上の利用分野） この発明は、Ｘ線スキャン時間に応じてＸ線データのサ
ンプリング周波数を変更できるｘｍｃＴ装置に関する。

（従来の技術） Ｘ［ＣＴ装置においては、被検体の撮影が行われたＸ線
データは、データ収集システムによって収集される。そ
の後、収集されたデータは再構成され、被検体の断層像
が得られる。

データ収集システムにおいては、ローパスフィルタが用
いられており、このフィルタによってカットオフ周波数
が設定されている。そして、カットオフ周波数に基づい
て定められるサンプリング周波数に従ってＸ線データが
収集される。

従来、カットオフ周波数は、一定の周波数に固定されて
いるため、サンプリング周波数も一定となっている。こ
めため、Ｘ線のスキャン時間にかかわらず、一定間隔で
Ｘ線データを収集するため、スキャン時間が長い場合に
は、収集されるデータ数（以下、ビュー数という）は時
間に比例して多くな゛ろ。これにより、断層像を再構成
する際には、前処理としてこれらのデータを束ねる平均
化処理を行っている。

（発明が解決しようとする課題） このように、多くのデータを平均化することによって時
間が費やされ、結果的に、断層像が再構成されるまでに
時間が掛かるという欠点があった。

そこでこの発明は、このような従来の事情に鑑みてなさ
れたものであり、その目的とするところは、Ｘ線スキャ
ン時間に応じてカットオフ周波数を変更することにより
、収集されるデータ数をＸ線スキャン時間にかかわらず
一定にし、再構成時間の増大を防ぐことができるＸ線Ｃ
Ｔ装置を提供することにある。

［発明の構成］ （課題を解決するための手段） 上記目的を達成させるため、この発明は、Ｘ線スキャン
時間に応じ、Ｘ線検出器によって検出されたＸ線データ
のサンプリング周波数を決定するサンプリング決定手段
と、前記Ｘ線データのカットオフ周波数を複数種類選択
可能なフィルタ回路と、前記サンプリング決定手段によ
って決定されたサンプリング周波数に基づくカットオフ
周波数を前記フィルタ回路から選択する選択手段と、前
記サンプリング決定手段によって決定されたサンプリン
グ周波数に従い、前記カットオフ周波数によってカット
オフされた前ｇｃ！Ｘ線データを収集する収集手段とか
ら構成されている。

（作用） 上記構成において、この発明は、Ｘ線検出器によって検
出されたＸ線データのサンプリング周波数を決定する。

決定されたサンプリング周波数に基づくカットオフ周波
数をフィルタ回路がら選択する。このフィルタ回路は複
数種類のカットオフ周波数が選択可能となっており、選
択されたカットオフ周波数を設定する。そして、設定さ
れたカットオフ周波数によってカットオフされたＸ線デ
ータを、サンプリング周波数に従ってスキャン時間に無
関係な一定のビュー数で収集する。さらに、収集された
データを再構成し、断層像を得るようにしている。

（実施例） 以下、図面を用いてこの発明の詳細な説明する。

第１図は、この発明のＸ＆ｌＣＴ装置に係わる一実施例
の構成を示すブロック図である。

同図において、検出器１は、被検体（図示せず）のＸ線
撮影が行われたＸ線データを検出し、Ｘ線データをフィ
ルタ回路３へ送出するところである。

フィルタ回路３は、Ｘ線データを受信し、このデータの
カットオフ周波数を設定するものである。

このフィルタ回路３は、第２図に示すように複数種類の
カットオフ周波数を選択可能であり、Ｘ線のスキャン時
間に応じたカットオフ周波数に切り換える機能を有して
いる。また、フィルタ回路３は、カットオフしたアナロ
グのＸ線データをＡＤＣ（Ａｎａｌｏｇｕｅ　ｔｏ　Ｄ
ｌｇｉｔａｌ　Ｃｏｎｖｅｒｔｅｒ　）　５へ出力する
ものである。

ＡＤＣ５は、フィルタ回路３から出力されたアナログの
Ｘ線データを、スキャン時間に応じて決定されたサンプ
リング周波数に従ってサンプリングするところである。

また、ＡＤＣ５は、アナログデータをディジタルデータ
に変換し、一定のデータ数（以下、ビュー数という）を
収集するところである。さらに、ＡＤＣ５は、収集した
Ｘ線デタを再構成装置７へ与えるものである。

再構成装置７は、ＡＤＣ５から与えられた収集データを
受取り、撮影された断層像を再構成するものである。ま
た、再構成装置７は、スキャン時間などのスキャン条件
をスキャン制御部９へ与えるものである。

スキャン制御部９は、再構成装置７がら指示されたスキ
ャン時間に応してサンプリング周波数を決定し、この周
波数をＡＤＣ５へ与えるものである。また、スキャン制
御部９は、決定したサンプリング周波数からカットオフ
周波数を導き、フィルタ回路３の複数種類のカットオフ
周波数から導いた周波数を選択するものである。

このように、この発明の一実施例は構成されており、次
にこの発明の詳細な説明する。

検出器１によってＸ線データが検出されると、このＸ線
データはフィルタ回路３へ送出される。

このとき、再構成装置７からは、スキャン制御部９に対
してスキャン時間などのスキャン条件が与えられる。

スキャン条件が与えられたスキャン制御部９により、ス
キャン時間に応じたサンプリング周波数が決定される。

さらに、決定されたサンプリング周波数に基づいてカッ
トオフ周波数が導かれる。

サンプリング周波数およびカットオフ周波数が定められ
るとスキャン制御部９からは、サンプリング周波数を指
示するサンプリング信号１０１が、ＡＤＣ５へ出力され
る。これと同時に、カットオフ周波数を選択する選択信
号１０３が、フィルタ回路へ出力される。

フィルタ回路３では、複数種類のカットオフ周波数の中
から、選択信号１０３によって選択されたカットオフ周
波数が設定される。これにより、アナログのＸ線データ
がこのカットオフ周波数によってカットオフされ、ＡＤ
Ｃ５へ出力される。

ＡＤＣ５に人力されたアナログデータは、サンプリング
信号１０１によって指示されるサンプリング周波数によ
り、サンプリングされる。さらに、サンプリングされた
アナログデータはディジタルデータに変換される。これ
により、スキャン時間にかかわらず、一定数のＸ線デー
タが収集される。

収集されたＸ線データは、再構成装置７へ出力され、再
構成装置７によって断層像が再構成される。

ここで、スキャン制御部９における作用を具体的に説明
する。

例えば、スキャン時間にかかわらず、常にビュー数を１
０００ビユーとする場合を考える。スキャン時間が１秒
のときには、サンプリング周波数をＩＫＨｚとし、この
ときのカットオフ周波数は、サンプリング定理によって
５００Ｈｚより小さな周波数が選択される。

スキャン時間が２秒のときには、ビュー数が１０００ビ
ユー／２Ｓとなり、サンプリング周波数は５００Ｈｚと
決定され、カットオフ周波数は２５０Ｈｚより小さな周
波数が選択される。

同様に、スキャン時間が４秒のときには、１０００ビユ
ー／４Ｓとなり、サンプリング周波数は２５０Ｈｚ、カ
ットオフ周波数は１２５Ｈｚより小さな周波数が選択さ
れる。

このように、スキャン時間に応じてサンプリング周波数
を決定しているので、常に一定ビュー数のＸ線データが
収集される。

なお、フィルタ回路は、第２図に示すものに限定される
ものではない。

［発明の効果］ 以上説明してきたように、この発明によるＸ線ＣＴ装置
であれば、Ｘ線のスキャン時間に応じてＸ線データのサ
ンプリング周波数を切り換えるようにしたので、収集さ
れるデータ数がスキャン時間にかかわらず一定数となる
。これにより、前処理としてデータを束ねる時間が不要
になるため、断層像を再構成する時間を短縮することが
できる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例の構成を示すブロック図、
第２図はフィルタ回路の一例を示す回路図である。 ３・・・フィルタ回路 ５−ＡＤＣ（＾ｎａｌｏｇｕｅ　ｔｏ　Ｄｉｇｉｔａｌ
　Ｃｏｎｖｅｒｔｅｒ　）７・・・再構成装置 ９・・・スキャン制御部

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 Ｘ線スキャン時間に応じ、Ｘ線検出器によって検出され
   たＸ線データのサンプリング周波数を決定するサンプリ
   ング決定手段と、 前記Ｘ線データのカットオフ周波数を複数種類選択可能
   なフィルタ回路と、 前記サンプリング決定手段によって決定されたサンプリ
   ング周波数に基づくカットオフ周波数を前記フィルタ回
   路から選択する選択手段と、前記サンプリング決定手段
   によって決定されたサンプリング周波数に従い、前記カ
   ットオフ周波数によってカットオフされた前記Ｘ線デー
   タを収集する収集手段と を有することを特徴とするＸ線ＣＴ装置。