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JPH03248035A - 冷熱衝撃試験装置 - Google Patents

冷熱衝撃試験装置

Info

Publication number
JPH03248035A
JPH03248035A JP4751590A JP4751590A JPH03248035A JP H03248035 A JPH03248035 A JP H03248035A JP 4751590 A JP4751590 A JP 4751590A JP 4751590 A JP4751590 A JP 4751590A JP H03248035 A JPH03248035 A JP H03248035A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
temperature
chamber
sample
test chamber
low
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP4751590A
Other languages
English (en)
Inventor
Rikiya Fujiwara
藤原 力弥
Takashi Tanaka
隆 田中
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Daikin Industries Ltd
Original Assignee
Daikin Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Daikin Industries Ltd filed Critical Daikin Industries Ltd
Priority to JP4751590A priority Critical patent/JPH03248035A/ja
Publication of JPH03248035A publication Critical patent/JPH03248035A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、電子部品などの冷熱衝撃試験を行うための冷
熱衝撃試験装置に関する。
(従来の技術) 従来、この種冷熱衝撃試験装置として、例えば特公昭5
8−49817号公報に記載されたものが知られており
、この公報記載のものは、第3図に示したごとく、テス
ト室(T)に隣接して、冷却器(C)及び冷却ファン(
CF)などを内装した低温室(A)を設け、この低温室
(A)と前記テスト室(T)とを画成する隔壁に、低温
吹出口(El)と低温吸込口(E2)とを形成して、こ
れら吹出口(El)と吸込口(E2)に、それぞれ低温
ダンパ(D)(D)を開閉可能に取付けている。また、
図示されていないが、前記テスト室(A)に隣接して、
加熱器や加熱ファンなどを内装した高温室を設けて、こ
の高温室と前記テスト室(T)とを画成する隔壁に、高
温吹出口と高温吸込口とを形成し、これら吹出口と吸込
口に、それぞれ高温ダンパを開閉可能に取付けている。
更に、前記テスト室(T)の内部で、前記低温吹出口(
El)と低温吸込口(E2)、並びに、前記高温吹出口
と高温吸込口との対向自位置に、それぞれパンチングメ
タルなどから成る整流板(B)(B)を配設している。
そして、前記テスト室(T)内で電子部品などの試料を
冷熱衝撃試験する場合には、前記各低温ダンパ(D)を
開放して、前記低温室(A)とテスト室(T)との間で
循環される冷却空気を前記各整流板(B)で整流しなが
ら、この整流空気で試料の低温さらしを行い、次に、前
記各低温ダンパ(D)を閉鎖した後、前記各高温ダンパ
を開放して、前記高温室とテスト室(T)との間で循環
される加熱空気を各整流板で整流しながら、この整流空
気で試料の高温さらしを行うのである。
(発明が解決しようとする課題) 所が、以上のように、前記テスト室(T)内にパンチン
グメタルなどから成る整流板(B)を配設しても、斯か
る整流板(B)では、前記試料に対し冷却空気や加熱空
気を均等に接触させることができず、前記試料の低温及
び高温さらしを正確に行えない問題があった。
本発明は以上のような問題に鑑みてなしたもので、その
目的は、テスト室内の試料に冷却空気や加熱空気を常に
均等に接触させて、試料の低温及び高温さらしを正確に
行うことができる冷熱衝撃試験装置を提供することにあ
る。
(課題を解決するための手段) 上記目的を達成するために、本発明では、低温室(3)
と高温室(2)及びこれら低温室(3)と高温室(2)
との間に配設されるテスト室(1)とを備え、該テスト
室(1)と前記低温室(3)との間に、低温吹出口(1
3)と低温吸込口(14)とを設けて、これら吹出口(
13)及び暇込口(14)に低温ダンパ(42)を設け
ると共に、前記テスト室(1)と高温室(2)との間に
、高温吹出口(11)と高温吸込口(12)とを設けて
、これら吹出口(11)と吸込口(12)とに高温ダン
パ(41)を設けた冷熱衝撃試験装置において、前記テ
スト室(1)における前記吹出口(11)(14)の内
方に、前記テスト室(1)に装入する試料に対し吹出し
方向を変更する複数の可動羽根(5)を配設して、これ
ら羽根(5)を駆動源(6)に連動させたことを特徴と
するものである。
(作用) 前記テスト室(1)における試料の低温及び高温さらし
時には、前記駆動源(6)により前記各羽根(5)の角
度が変更され、該各羽根(5)で前記試料に対する冷却
空気や加熱空気の吹出し方向が変更されて、これら冷却
空気や加熱空気が前記試料に常に均等に接触され、該試
料の低温及び高温さらしが正確に行われる。
(実施例) 第1図に示した冷熱衝撃試験装置は、ハウジング(HG
)の内部を断熱隔8M、 (W)で3つに区画して、中
央部に電子部品などの冷熱衝撃試験を行うテスト室(1
)を、該テスト室(1)に隣接して上下部位に、高温室
(2)と低温室(3)とをそれぞれ形成して、前記高温
室(2)内に加熱器(21)及び加熱ファン(22)を
配置すると共に、前記低温室(3)内に、冷却器(31
)と冷却ファン(32)を配置している。
また、前記テスト室(1)と高温室(2)とを画成する
隔壁(W)に、高温吹出口(11)と高温吸込口(12
)とを設けて、これら吹出口(11)と吸込口(12)
とに、それぞれ高温ダンパ(41)(41)を開閉可能
に取付けると共に、前記テスト室(1)と低温室(3)
とを画成する隔壁(W)に、低温吹出口(13)と低温
吸込口(14)とを設けて、これら吹出口(13)と吸
込口(14)とに、それぞれ低温ダンパ(42)(42
)を開閉可能に取付けている。
そして、電子部品などの試料(S)を冷熱衝撃試験する
場合には、先ず、前記テスト室(1)内に設けた複数の
試験機(15)に試料(S)を装入配置して、同図実線
で示したように、前記各高温ダンパ(41)を閉鎖した
状態で、前記各低温ダンパ(42)を開放させて、前記
低温室(3)内の冷却空気を前記テスト室(1)へと導
入することにより、前記各試料(S)の低温さらしを行
い、次に、同図仮想線で示したように、前記各低温ダン
パ(42)を閉鎖した状態で、前記各高温ダンパ(41
)を開放させて、前記高温室(2)内の加熱空気を前記
テスト室(1)内に導入することにより、前記各試料(
S)の高温さらしを行うのである。
しかして、以上の衝撃試験装置において、前記高温吹出
口(11)と低温吹出口(13)とを、また、前記高温
吸込口(12)と低温吸込口(14)とを、それぞれ前
記テスト室(1)を挟んで上下対向状に形成すると共に
、該テスト室(1)における各吹出口(11)(13)
の対向内方側で、前記テスト室(1)内の各試料(S)
と対向する側方位置に、これら各試料(S)に対する冷
却空気や加熱空気の吹出し方向を変更可能とした複数の
可動羽根(5)を上下等間隔に配設する一方、これら各
羽根(5)を駆動源(6)に連動連結し、該駆動源(6
)の駆動で前記各羽根(5)の角度変更を行うようにし
たのである。
具体的には、第2図で明らかにしたように、前記各羽根
(5)の幅方向−側端に軸杆(51)をそれぞれ設け、
該各軸杆(51)を前記ハウジング(HG)の壁部外方
に突出させて、この各突出端部に第1連動杆(52)を
それぞれ揺動可能に連結すると共に、これら第1連動杆
(52)の他端側を、上下方向に延びる第2連動杆(5
3)に揺動可能に連結する一方、該第2連動杆(53)
の上端側に、前記駆動i!1X(Ei)に連動する第3
連動杆(54)を揺動可能に連結する。
また、以上の駆動源(6)として、モータ(61)と、
該モータ(61)の軸端に固着された回転板(62)と
を用い、この回転板(62)の径方向外周側に設けたピ
ン(63)に、前記第3連動杆(54)を連結させる。
そして、前記モータ(61)の駆動で前記ピン(63)
が(イ)点に回転位置されたとき、同図の実線で示した
ように、前記各連動杆(52,53,54)を介して前
記各羽根(5)を水平状態に位置させ、また、前記ピン
(63)が(ロ)点に回転位置されたとき、同図の一点
鎖線で示したように、前記各羽根(5)を斜め下方に向
けて傾斜させ、更に、前記ピン(63)が(ハ)点に回
転位置されたとき、同図の二点鎖線で示したように、前
記各羽根(5)を斜め上方に向けて傾斜させ、斯かるモ
ータ(61)の駆動で各羽根(5)を、上下方向に18
0度の範囲にわたって、連続状に角度変更させるのであ
る。
以上のような各羽根(5)の角度変更を、前述した低温
及び高温さらし時に行うことにより、前記各吹出口(1
1)(13)から各試料(S)に向けて吹出される冷却
空気や加熱空気の吹出し方向が随時変更され、前記テス
ト室(1)内に例え1つの試料(S)を配設する場合で
も、また、該多試料(S)の大きさや形状などが異なる
場合でも、これら各試料(S)の風上側及び風下側の全
体に対し、冷却及び加熱空気が常に均等に接触され、該
多試料(S)の低温及び高温さらしが正確に行われるの
である。
また、第1図の実施例においては、前記テスト室(1)
内で各吸込口(12)(14)の対向内方側に、前記テ
スト室(1)内の循環空気を整流する整流板(7)を配
設している。尚、斯かる整流板は、前記各吹出口(11
)(13)側に配設することも可能である。
(発明の効果) 以上説明したように、本発明にかかる冷熱衝撃試験装置
では、テスト室(1)における各吹出口(11)(13
)の内方に、前記テスト室(1)に装入する試料に対し
吹出し方向を変更する複数の可動羽根(5)を配設して
、これら羽根(5)を駆動源(6)に連動させたから、
前記テスト室(1)内の試料に冷却空気や加熱空気を常
に均等に接触させることができて、前記試料の低温及び
高温さらしを正確に行い得るに至ったのである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明にかかる冷熱衝撃試験装置の縦断面図、
第2図は羽根の連動部分を簡略的に示す図面、第3図は
従来例を示す断面図である。 (1)・・・・・テスト室 (2)・φ・・Φ高温室 (3)・・・φ・低温室 (11)・・・・高温吹出口 (12)・番・・高温吸込口 (13)・・・・低温吹出口 (14)・O・・低温吸込口 (41)・拳・e高温ダンパ (42)・・・・低温ダンパ (5)・・・・・可動羽根 (6)・・・・・駆動源

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1)低温室(3)と高温室(2)及びこれら低温室(3
    )と高温室(2)との間に配設されるテスト室(1)と
    を備え、該テスト室(1)と前記低温室(3)との間に
    、低温吹出口(13)と低温吸込口(14)とを設けて
    、これら吹出口(13)及び吸込口(14)に低温ダン
    パ(42)を設けると共に、前記テスト室(1)と高温
    室(2)との間に、高温吹出口(11)と高温吸込口(
    12)とを設けて、これら吹出口(11)と吸込口(1
    2)とに高温ダンパ(41)を設けた冷熱衝撃試験装置
    において、前記テスト室(1)における前記吹出口(1
    1)(13)の内方に、前記テスト室(1)に装入する
    試料に対し吹出し方向を変更する複数の可動羽根(5)
    を配設して、これら羽根(5)を駆動源(6)に連動さ
    せたことを特徴とする冷熱衝撃試験装置。
JP4751590A 1990-02-27 1990-02-27 冷熱衝撃試験装置 Pending JPH03248035A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4751590A JPH03248035A (ja) 1990-02-27 1990-02-27 冷熱衝撃試験装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4751590A JPH03248035A (ja) 1990-02-27 1990-02-27 冷熱衝撃試験装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH03248035A true JPH03248035A (ja) 1991-11-06

Family

ID=12777249

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4751590A Pending JPH03248035A (ja) 1990-02-27 1990-02-27 冷熱衝撃試験装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH03248035A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100729115B1 (ko) * 2006-02-10 2007-06-14 엘에스전선 주식회사 케이블 시편용 열화시험장치

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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