JPH03176682A - 磁場計測装置 - Google Patents
磁場計測装置Info
- Publication number
- JPH03176682A JPH03176682A JP1315283A JP31528389A JPH03176682A JP H03176682 A JPH03176682 A JP H03176682A JP 1315283 A JP1315283 A JP 1315283A JP 31528389 A JP31528389 A JP 31528389A JP H03176682 A JPH03176682 A JP H03176682A
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- coil
- drift
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、核融合装置のような強磁場、高温、かつ、温
度変化の激しい環境下での使用に好適な磁場計測装置の
構造、及び、信号処理方法に関する。
度変化の激しい環境下での使用に好適な磁場計測装置の
構造、及び、信号処理方法に関する。
従来、核融合装置の磁場計測装置については。
フュージョン・エンジニアリング・イレヴンス・シンポ
ジウム・プロシーデインゲス・ボリューム1 (198
5年)第586頁から第589頁(Fusion Eu
gineering 11th Symposium。
ジウム・プロシーデインゲス・ボリューム1 (198
5年)第586頁から第589頁(Fusion Eu
gineering 11th Symposium。
Proceedings Volume 1 (198
5)pp586−589)に詳しく論じられている。第
3図によりこれを説明する。
5)pp586−589)に詳しく論じられている。第
3図によりこれを説明する。
第3図は、ディジタル積分方式による磁場計測装置であ
る。磁場変動によるピックアップコイルに生じた電圧は
、アンプ5C、ローパスフィルタ10、c、及び、加算
器6を経て、V−Fコンバータ11によりディジタル信
号f1に変換される。
る。磁場変動によるピックアップコイルに生じた電圧は
、アンプ5C、ローパスフィルタ10、c、及び、加算
器6を経て、V−Fコンバータ11によりディジタル信
号f1に変換される。
このパルス列f工はアイソレータ14を経て、アップダ
ウンカウンタ15のUP端子へ入り、ここで積分される
。積分の基準信号は、発振器12からアイソレータ14
を経て、アップダウンカウンタ15のダウン端子に入る
。13は、オフセット調整回路であり、磁場がゼロのと
き、アップダウンカウンタの出力がゼロとなるよう、即
ち、fx=foとなるように、オフセットを自動調整す
る。
ウンカウンタ15のUP端子へ入り、ここで積分される
。積分の基準信号は、発振器12からアイソレータ14
を経て、アップダウンカウンタ15のダウン端子に入る
。13は、オフセット調整回路であり、磁場がゼロのと
き、アップダウンカウンタの出力がゼロとなるよう、即
ち、fx=foとなるように、オフセットを自動調整す
る。
この調整回路13のon −offはコントローラ16
により指示される。
により指示される。
上記従来技術は、磁場の長時間連続測定について考慮が
十分でなく、計測時間が大きくなるに伴い、計測誤差が
増大するという問題があった。
十分でなく、計測時間が大きくなるに伴い、計測誤差が
増大するという問題があった。
すなわち、直接計測に掛かるものは磁場の時間微分d
B/d tであり、4所望の磁場の値Bを得る計測誤差
は積分操作により蓄積されていき、連続的な計測は不可
能であった。
B/d tであり、4所望の磁場の値Bを得る計測誤差
は積分操作により蓄積されていき、連続的な計測は不可
能であった。
本発明の目的は、長時間連続測定可能な磁場計測装置を
提供することにある。
提供することにある。
本発明の他の目的は、高温、強磁場、及び、温度変化の
大きい条件下で、ホール素子・磁気抵抗素子など磁電変
換素子により精度良く磁場を検出する方法を提供するこ
とである。
大きい条件下で、ホール素子・磁気抵抗素子など磁電変
換素子により精度良く磁場を検出する方法を提供するこ
とである。
上記目的を達成するために、本発明は、ピックアップコ
イルによる磁場計測装置に磁気変換素子(ホール素子)
による磁場計測を組み合わせたものである。
イルによる磁場計測装置に磁気変換素子(ホール素子)
による磁場計測を組み合わせたものである。
上記性の目的を達成するために、本発明は、各各逆向き
の磁場を発生する一対の較正用コイルを設け、二つの磁
電変換素子出力の和と差をとることにより、較正用磁場
と外部磁場を分離し、大きさの既知である較正用磁場か
ら磁電変換素子の感度を較正するものである。
の磁場を発生する一対の較正用コイルを設け、二つの磁
電変換素子出力の和と差をとることにより、較正用磁場
と外部磁場を分離し、大きさの既知である較正用磁場か
ら磁電変換素子の感度を較正するものである。
ピックアップコイルによる磁場計測は、積分操作による
誤差の蓄積(ゼロ点ドリフト)はあるが周波数特性数1
0KHzが確保できる。これと組み合わせた磁電変換素
子による磁場計測では、周波数特性はIKHz程度であ
るが、積分操作は不要であるため誤差の蓄積は無いゆ従
って、この二つの信号を合成することにより、誤差の蓄
積(ゼロ点ドリフト)もなく、周波数特性の良い磁場計
測信号を得ることができる。
誤差の蓄積(ゼロ点ドリフト)はあるが周波数特性数1
0KHzが確保できる。これと組み合わせた磁電変換素
子による磁場計測では、周波数特性はIKHz程度であ
るが、積分操作は不要であるため誤差の蓄積は無いゆ従
って、この二つの信号を合成することにより、誤差の蓄
積(ゼロ点ドリフト)もなく、周波数特性の良い磁場計
測信号を得ることができる。
一方、各々逆向きの磁場を発生する一対の較正用コイル
は、そのコイル内に設置した二つの磁電変換素子出力の
和と差をとることにより、較正用磁場と測定すべき外部
磁場とを厳密に分離することを可能とする。これにより
、環境変化による素子の感度変化を、常時、補償するこ
とができる。
は、そのコイル内に設置した二つの磁電変換素子出力の
和と差をとることにより、較正用磁場と測定すべき外部
磁場とを厳密に分離することを可能とする。これにより
、環境変化による素子の感度変化を、常時、補償するこ
とができる。
さらに、較正用磁場は互いに逆向きである事から、それ
による外部磁場の乱れは極小である。
による外部磁場の乱れは極小である。
以下、本発明の一実施例を第1図及び第2図に−より説
明する。
明する。
第1図は、本発明による磁場計測装置のセンサ部の断面
図である。センサは、磁場変化を感じるピックアップコ
イルl、その中に設置した二つのホール素子2a、2b
及び較正用コイル3a。
図である。センサは、磁場変化を感じるピックアップコ
イルl、その中に設置した二つのホール素子2a、2b
及び較正用コイル3a。
3bより成る。ホール素子自身は、100℃程度の高温
までしか耐えられないため、センサ全体は冷却水配管4
で冷却する。
までしか耐えられないため、センサ全体は冷却水配管4
で冷却する。
計測すべき外部磁場を、便宜上、高周波成分BHと低周
波成分BLとに分けて示した。また、較正用磁場Bとと
もに、その向きは白矢印で示した。第1図において、ホ
ール素子2aの計測する磁場は外部磁場と較正磁場の差
B−Bであり、ホール素子26の計測する磁場は、B+
Bである。
波成分BLとに分けて示した。また、較正用磁場Bとと
もに、その向きは白矢印で示した。第1図において、ホ
ール素子2aの計測する磁場は外部磁場と較正磁場の差
B−Bであり、ホール素子26の計測する磁場は、B+
Bである。
また、ピックアップコイル1の計測に掛かるのは外部磁
場BH+BLの時間変化のみであり、較正用コイル3a
及び3bの作る磁場は、ピックアップコイル1内で相殺
するため、ピックアップコイル1の出力にはBは影響し
ない。
場BH+BLの時間変化のみであり、較正用コイル3a
及び3bの作る磁場は、ピックアップコイル1内で相殺
するため、ピックアップコイル1の出力にはBは影響し
ない。
第2図は、第1図のセンサの信号処理回路を示す。ピッ
クアップコイル1の出力は積分回路9を経て、外部磁場
、及び、ドリフト誤差B)l+ BL+dとなる。この
信号だけからはドリフト誤差dは同定できない。
クアップコイル1の出力は積分回路9を経て、外部磁場
、及び、ドリフト誤差B)l+ BL+dとなる。この
信号だけからはドリフト誤差dは同定できない。
一方、ホール素子2a、2bの出力は、アンプ5 a
、’ 5 bを経て、加算器6及び減算器7aに送られ
る。ここで、各ホール素子の出力は。
、’ 5 bを経て、加算器6及び減算器7aに送られ
る。ここで、各ホール素子の出力は。
であり、G=G(T、B)はホール素子の感度であり、
環境温度T及び磁場Bにより変化する。式(1)でIは
ホール素子の駆動電流であり、2a、2bとも同じとす
る。
環境温度T及び磁場Bにより変化する。式(1)でIは
ホール素子の駆動電流であり、2a、2bとも同じとす
る。
加算器6の出力はVa”:2GB1.減算器7aの出力
はV7=2GBIである。較正用コイルによる磁場Bを
あらかじめ計測しておき、演算器8において の関係から容易に外部磁場Bの絶対値が求まる。
はV7=2GBIである。較正用コイルによる磁場Bを
あらかじめ計測しておき、演算器8において の関係から容易に外部磁場Bの絶対値が求まる。
この出力からローパスフィルタ10bを経て低周波成分
Bしのみ取り出し、10bと同じ特性を持つローパスフ
ィルタ10aを経た積分器9の出力Bt、十dとを減算
器7bに導き、ドリフトdのみを抽出する。さらに、減
算器7cにより積分器出力Bo+BL+dからドリフト
誤差dを取り除く。
Bしのみ取り出し、10bと同じ特性を持つローパスフ
ィルタ10aを経た積分器9の出力Bt、十dとを減算
器7bに導き、ドリフトdのみを抽出する。さらに、減
算器7cにより積分器出力Bo+BL+dからドリフト
誤差dを取り除く。
このように、本実施例によれば、ピックアップコイルに
よる磁場計測の積分操作によるドリフト誤差を完全に補
償できる。
よる磁場計測の積分操作によるドリフト誤差を完全に補
償できる。
第4図に本発明による第二の実施例によるセンサ部の断
面図を示す。第4図では、ホール素子対2a及び2bに
より上、下方向の磁場を計測し、同じくホール素子対2
c及び2dにより左、右方向の磁場を計測する。較正用
コイル3a〜3dはすべて同形であり、直列に接続する
。第1図及び第2図に示した第一の実施例と同様ホール
素子2aと2bとの和及び差をとることにより、外部磁
場成分と較正用磁場とを厳密に分離できる。ホール素子
2c及び2dについても同様である。また、第1図に示
した実施例に比べ、較正用コイル開口部間が近接してい
るため、較正用磁場の漏れは、−層、小さくなる。本実
施例によれば、温度や磁場変化により素子感度が変動す
る環境下で、二次元の磁場を精度良く計測できる。また
、この実施例では、較正用コイル38〜3dはすべて一
連とした環状ソレノイドであってもよい。このとき較正
用磁場の漏れはさらに小さくなる。
面図を示す。第4図では、ホール素子対2a及び2bに
より上、下方向の磁場を計測し、同じくホール素子対2
c及び2dにより左、右方向の磁場を計測する。較正用
コイル3a〜3dはすべて同形であり、直列に接続する
。第1図及び第2図に示した第一の実施例と同様ホール
素子2aと2bとの和及び差をとることにより、外部磁
場成分と較正用磁場とを厳密に分離できる。ホール素子
2c及び2dについても同様である。また、第1図に示
した実施例に比べ、較正用コイル開口部間が近接してい
るため、較正用磁場の漏れは、−層、小さくなる。本実
施例によれば、温度や磁場変化により素子感度が変動す
る環境下で、二次元の磁場を精度良く計測できる。また
、この実施例では、較正用コイル38〜3dはすべて一
連とした環状ソレノイドであってもよい。このとき較正
用磁場の漏れはさらに小さくなる。
第5図は、較正用コイル3aを環状ソレノイドとしホー
ル素子2a〜2hにより四方向の磁場を直接計測するよ
うにしたものである。信号処理方法は、ホール素子2a
及び2e、2b及び2fのように対角線上にあるペアに
ついて、和及び差をとる。本実施例によれば、二次元上
四方向の磁場計測が一度にでき、較正用コイルも環状で
あるため製作が容易になる。
ル素子2a〜2hにより四方向の磁場を直接計測するよ
うにしたものである。信号処理方法は、ホール素子2a
及び2e、2b及び2fのように対角線上にあるペアに
ついて、和及び差をとる。本実施例によれば、二次元上
四方向の磁場計測が一度にでき、較正用コイルも環状で
あるため製作が容易になる。
本発明によれば、積分操作によるドリフト誤差を常に磁
電変換素子による磁場計測誤差まで低減できるので、従
来不可能であったピックアップコイルによる磁場の長時
間連続測定(数分以上)が可能になる。
電変換素子による磁場計測誤差まで低減できるので、従
来不可能であったピックアップコイルによる磁場の長時
間連続測定(数分以上)が可能になる。
また、本発明により磁電変換素子の感度を較正すれば、
素子の耐用温度内ならば、温度変化による感度の変動(
0,2%/℃程度)や、計測磁場強度による感度の非線
形性に影響されない磁場計測ができる。
素子の耐用温度内ならば、温度変化による感度の変動(
0,2%/℃程度)や、計測磁場強度による感度の非線
形性に影響されない磁場計測ができる。
第1図は本発明の一実施例の磁場計測装置センサ部の断
面図、第2図は第1図に示したセンサのための信号処理
装置ブロック図、第3図は従来技術による磁場計測装置
のブロック図、第4図及び第5図は1本発明のセンサの
第二及び第三の実施例の断面図である。 ■・・・ピックアップコイル、2 a ” h・・・ホ
ール素子、3a=d・・・較正用コイル、6・・・加算
器、7a・・・減第 2 10^、10b ローハ′スフイfレク
面図、第2図は第1図に示したセンサのための信号処理
装置ブロック図、第3図は従来技術による磁場計測装置
のブロック図、第4図及び第5図は1本発明のセンサの
第二及び第三の実施例の断面図である。 ■・・・ピックアップコイル、2 a ” h・・・ホ
ール素子、3a=d・・・較正用コイル、6・・・加算
器、7a・・・減第 2 10^、10b ローハ′スフイfレク
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、ホール素子・磁気抵抗素子などの磁電変換素子と、
これら素子の出力信号を処理する信号処理回路よりなる
磁場計測装置において、 各々逆向きの磁界を発生させる一対の較正用コイルを設
けたことを特徴とする磁場計測装置。 2、ピックアップコイルと、磁場変動により前記ピック
アップコイルに誘起された電圧を積分し磁束密度を算出
する積分回路より成る磁場計測装置において、 積分ドリフト補償用の磁電変換素子を設けたことを特徴
とする磁場計測装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1315283A JPH03176682A (ja) | 1989-12-06 | 1989-12-06 | 磁場計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1315283A JPH03176682A (ja) | 1989-12-06 | 1989-12-06 | 磁場計測装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03176682A true JPH03176682A (ja) | 1991-07-31 |
Family
ID=18063539
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1315283A Pending JPH03176682A (ja) | 1989-12-06 | 1989-12-06 | 磁場計測装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03176682A (ja) |
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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-
1989
- 1989-12-06 JP JP1315283A patent/JPH03176682A/ja active Pending
Cited By (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2021148798A (ja) * | 2020-03-23 | 2021-09-27 | メソード・エレクトロニクス・マルタ・リミテッドMethode Electronics Malta Ltd. | コモンモードおよびその他の干渉磁場を検出する方法 |
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