JPH03140489A - 高純度銅の製造方法 - Google Patents
高純度銅の製造方法Info
- Publication number
- JPH03140489A JPH03140489A JP1280298A JP28029889A JPH03140489A JP H03140489 A JPH03140489 A JP H03140489A JP 1280298 A JP1280298 A JP 1280298A JP 28029889 A JP28029889 A JP 28029889A JP H03140489 A JPH03140489 A JP H03140489A
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- Japan
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- cathode
- copper
- purity
- vacuum
- melted
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P10/00—Technologies related to metal processing
- Y02P10/20—Recycling
Landscapes
- Electrolytic Production Of Metals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野〕
本発明は高純度銅、特に純度99.999〜99、99
99vt%以上で導電特性、軟質、低温軟化特性に優れ
た高純度銅の製造方法に関するものである。
99vt%以上で導電特性、軟質、低温軟化特性に優れ
た高純度銅の製造方法に関するものである。
一般に電気銅は純度99.95〜99.99w1%(以
下v1%を%と略記)で、通常02を100〜500p
pIB含有するタフピッチ銅と、0□を5〜20ppm
含有する無酸素銅として利用され、半導体などのボンデ
ィングワイヤー スパッターターゲット、軟質圧延プリ
ント配線、オーディオ粗細電線等に用いられている。
下v1%を%と略記)で、通常02を100〜500p
pIB含有するタフピッチ銅と、0□を5〜20ppm
含有する無酸素銅として利用され、半導体などのボンデ
ィングワイヤー スパッターターゲット、軟質圧延プリ
ント配線、オーディオ粗細電線等に用いられている。
これ等は何れも電気分解により、粗銅中のPb、Sb、
Ni、Bi、As、Fe、Zn等の不純物を高い精錬効
率で分離したもので、通常Cuから貴なAgや卑である
前記不純物の外に、S、O,C等が微量臼まれており、
これ等不純物は高純度銅の特性に有害である。
Ni、Bi、As、Fe、Zn等の不純物を高い精錬効
率で分離したもので、通常Cuから貴なAgや卑である
前記不純物の外に、S、O,C等が微量臼まれており、
これ等不純物は高純度銅の特性に有害である。
このためより高純度銅を必要とする場合には、ゾーンメ
ルティング、フロートメルティング又は蒸留などの乾式
方法が行なわれているが、何れも製造コストが高い方法
である。
ルティング、フロートメルティング又は蒸留などの乾式
方法が行なわれているが、何れも製造コストが高い方法
である。
高純度銅を得るための上記乾式方法は、原料銅を高温で
繰り返し何度も溶融、凝固を行なうため、熱エネルギー
を多量に消費し、かつ精製速度が著しく低く、また設備
費が非常に大きいものである。従ってこれ等の方法に代
る経済的な高純度銅の精製方法の開発が強く求められて
いる。
繰り返し何度も溶融、凝固を行なうため、熱エネルギー
を多量に消費し、かつ精製速度が著しく低く、また設備
費が非常に大きいものである。従ってこれ等の方法に代
る経済的な高純度銅の精製方法の開発が強く求められて
いる。
これに必要な条件としては、
(1)高純度、即ち99.999〜99.9999%又
はこれ以上の純銅を経済的に量産することができること
。
はこれ以上の純銅を経済的に量産することができること
。
(2)高純度銅の特性に特に有害な不純物、例えばS、
O,Cを効率的に除去できること。
O,Cを効率的に除去できること。
(3)通常の工業的電解法及びこれを複数回繰り返して
も排除できない不純物を能率よく排除できること。
も排除できない不純物を能率よく排除できること。
このように単に従来の工業的方法を繰り返すのでは達せ
られない精錬度が得られることである。
られない精錬度が得られることである。
本発明はこれに鑑み種々検討の結果、特に純度99.9
99〜99.9999%又はこれ以上の高純度で、導電
特性、軟質、低温軟化特性に優れた高純度銅の製造方法
を開発したもので、塩化第1銅(CuCl)もしくは塩
化第2銅(CuCl2)とイミダゾリウムハロゲン化物
を有機溶媒に溶解した電解浴中で、原料となるCuアノ
ードとCuを電析するカソードとを対設して電解処理し
た後、電析したカソードCuを真空中で熔解するか、又
は大気中で酸化熔解してから真空中で熔解することを特
徴とするものである。
99〜99.9999%又はこれ以上の高純度で、導電
特性、軟質、低温軟化特性に優れた高純度銅の製造方法
を開発したもので、塩化第1銅(CuCl)もしくは塩
化第2銅(CuCl2)とイミダゾリウムハロゲン化物
を有機溶媒に溶解した電解浴中で、原料となるCuアノ
ードとCuを電析するカソードとを対設して電解処理し
た後、電析したカソードCuを真空中で熔解するか、又
は大気中で酸化熔解してから真空中で熔解することを特
徴とするものである。
即ち本発明は、Ag含有量が低いCuアノードを、Ag
含有量の低い塩化第1銅(Cu(1)もしくは塩化第2
銅(CuCl2)とイミダゾリウムハロゲン化物を含む
有機溶媒浴からなる電解浴で電解精製し、得られたカソ
ードCuを真空中で熔解するか、又はカソードCuを大
気中で酸化熔解してから真空中で熔解することにより、
カソードCu中のH,N、0等のガス成分及びC等の微
量不純物をガス化又は酸化物としてとり除き、5N〜6
N (99,999〜99.9999%)又はこれ以
上の高純度銅を得るものである。
含有量の低い塩化第1銅(Cu(1)もしくは塩化第2
銅(CuCl2)とイミダゾリウムハロゲン化物を含む
有機溶媒浴からなる電解浴で電解精製し、得られたカソ
ードCuを真空中で熔解するか、又はカソードCuを大
気中で酸化熔解してから真空中で熔解することにより、
カソードCu中のH,N、0等のガス成分及びC等の微
量不純物をガス化又は酸化物としてとり除き、5N〜6
N (99,999〜99.9999%)又はこれ以
上の高純度銅を得るものである。
しかしてCuアノード中のAg含有量はできる限り低い
ことが有利であり、通常lppm以下とすることが望ま
しい。またその他の不純物は市販の電気銅レベルで良い
。
ことが有利であり、通常lppm以下とすることが望ま
しい。またその他の不純物は市販の電気銅レベルで良い
。
本発明は上記の如く、塩化第1銅(Cu(1)もしくは
塩化第2銅(CuCl2)とイミダゾリウムハロゲン化
物、例えばl−メチル3−エチルイミダゾリウムクロリ
ドを含む有機溶媒浴を電解浴として電解精製することに
より、電解浴中のAgの蓄積を防ぎ、通常精製しにくい
Agのカソード電着を避け、他の不純物に対する精製効
果を得たもので、純度5N〜6 N (99,999〜
99、9999%)又はそれ以上のレベルの高純度銅の
経済的な製造を可能にしたものである。
塩化第2銅(CuCl2)とイミダゾリウムハロゲン化
物、例えばl−メチル3−エチルイミダゾリウムクロリ
ドを含む有機溶媒浴を電解浴として電解精製することに
より、電解浴中のAgの蓄積を防ぎ、通常精製しにくい
Agのカソード電着を避け、他の不純物に対する精製効
果を得たもので、純度5N〜6 N (99,999〜
99、9999%)又はそれ以上のレベルの高純度銅の
経済的な製造を可能にしたものである。
電解浴は非酸化性の雰囲気下で使用し、塩化第1銅中も
しくは塩化第2銅中のAg含有量は1 ppm以下であ
ることが望ましい。また塩化第1銅もしくは塩化第2銅
中とイミダゾリラムノ10ゲン化物の濃度比はモル比で
174〜471程度が良い。非酸化性の雰囲気ガスとし
ては、N2゜Ar、He、Co2等の不活性ガスを用い
る。
しくは塩化第2銅中のAg含有量は1 ppm以下であ
ることが望ましい。また塩化第1銅もしくは塩化第2銅
中とイミダゾリラムノ10ゲン化物の濃度比はモル比で
174〜471程度が良い。非酸化性の雰囲気ガスとし
ては、N2゜Ar、He、Co2等の不活性ガスを用い
る。
また有機溶媒としては、ベンゼン、トルエン等の芳香族
炭化水素の1種又は2種以上を配合して用いる。浴温は
0−150℃、電流密度は0,1〜30^/ddの範囲
内とする。また電解浴の攪拌は液の強制循環9機械的攪
拌等により十分に行なう。電解浴への外部からの異物の
混入や不純物の蓄積等に対しては多孔質の樹脂膜、濾布
。
炭化水素の1種又は2種以上を配合して用いる。浴温は
0−150℃、電流密度は0,1〜30^/ddの範囲
内とする。また電解浴の攪拌は液の強制循環9機械的攪
拌等により十分に行なう。電解浴への外部からの異物の
混入や不純物の蓄積等に対しては多孔質の樹脂膜、濾布
。
セラミック板等でアノード室とカソード室を分離するか
、電解浴全体を循環濾過する。Cuアノード中の不純物
レベルが高い場合や、長時間連続的に電解処理を行う場
合には電解浴量を増加するか、又はその一部を連続的に
電解処理と平行して抜き出し、新配合の電解浴と交換す
る等の浄液操作を行う。
、電解浴全体を循環濾過する。Cuアノード中の不純物
レベルが高い場合や、長時間連続的に電解処理を行う場
合には電解浴量を増加するか、又はその一部を連続的に
電解処理と平行して抜き出し、新配合の電解浴と交換す
る等の浄液操作を行う。
上記電解精製についで行う熔解工程は、高真空下におけ
る通常の方法でよいが、特に外部からの汚染を防止する
ことは当然であり、熔解条件(真空度、温度、保持時間
等)と鋳造条件(温度1時間、ルツボ材質等)は製品純
銅中の不純物量が最小となるように適宜選択する。これ
によりカソードCu中の主な不純物でガスとして除去で
きる成分(H,N、O等)が減少し、カソード銅の純度
が大巾に向上する。
る通常の方法でよいが、特に外部からの汚染を防止する
ことは当然であり、熔解条件(真空度、温度、保持時間
等)と鋳造条件(温度1時間、ルツボ材質等)は製品純
銅中の不純物量が最小となるように適宜選択する。これ
によりカソードCu中の主な不純物でガスとして除去で
きる成分(H,N、O等)が減少し、カソード銅の純度
が大巾に向上する。
又有機溶媒浴の使用によるカソードCu中へのCの残留
は少ないが、これを更に低減させるためには、上記の真
空熔解に先立って電解後のカソードCuを酸化又は/及
び還元処理することで、容易に除去され、高純度の金属
Cuを得ることができる。
は少ないが、これを更に低減させるためには、上記の真
空熔解に先立って電解後のカソードCuを酸化又は/及
び還元処理することで、容易に除去され、高純度の金属
Cuを得ることができる。
以下本発明の実施例について説明する。
Ag含有量がippmの塩化第1銅と1−メチル3−エ
チルイミダゾリウムクロリドをモル比で371に配合し
、有機溶媒に溶かした溶融塩浴中で、Ag含有量がip
pmであるCuアノードの電解精製を行った。このよう
にして得られたカソードCuを真空熔解により鋳造した
。これを分析したところ銅純度は99.9999%であ
った。
チルイミダゾリウムクロリドをモル比で371に配合し
、有機溶媒に溶かした溶融塩浴中で、Ag含有量がip
pmであるCuアノードの電解精製を行った。このよう
にして得られたカソードCuを真空熔解により鋳造した
。これを分析したところ銅純度は99.9999%であ
った。
比較のため同じCuアノードを硫酸銅からなる電解浴を
用い、通常の電解精製を行ない、得られたカソードCu
を実施例と同様に真空熔解した。このようにして得られ
た高純度銅を分析したところ銅純度は99.999%で
あった。
用い、通常の電解精製を行ない、得られたカソードCu
を実施例と同様に真空熔解した。このようにして得られ
た高純度銅を分析したところ銅純度は99.999%で
あった。
このように本発明によれば、生産性が高い安価な方法で
、純度99.999〜99.9999%又はこれ以上の
高純度銅が得られるもので、工業上顕著な効果を奏する
。
、純度99.999〜99.9999%又はこれ以上の
高純度銅が得られるもので、工業上顕著な効果を奏する
。
Claims (1)
- 塩化第1銅(CuCl)もしくは塩化第2銅(CuCl
_2)とイミダゾリウムハロゲン化物を有機溶媒に溶解
した電解浴中で、原料となるCuアノードとCuを電析
するカソードとを対設して電解処理した後、電析したカ
ソードCuを真空中で熔解するか、又は大気中で酸化熔
解してから真空中で熔解することを特徴とする高純度銅
の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1280298A JPH03140489A (ja) | 1989-10-27 | 1989-10-27 | 高純度銅の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1280298A JPH03140489A (ja) | 1989-10-27 | 1989-10-27 | 高純度銅の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03140489A true JPH03140489A (ja) | 1991-06-14 |
Family
ID=17623037
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1280298A Pending JPH03140489A (ja) | 1989-10-27 | 1989-10-27 | 高純度銅の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03140489A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1060632A (ja) * | 1996-08-16 | 1998-03-03 | Dowa Mining Co Ltd | スパッタリングターゲット及びその製造方法ならびに半導体素子 |
JP2005330591A (ja) * | 2005-08-01 | 2005-12-02 | Dowa Mining Co Ltd | スパッタリングターゲット |
CN110382743A (zh) * | 2017-06-01 | 2019-10-25 | 三菱综合材料株式会社 | 高纯度电解铜 |
US11453953B2 (en) | 2017-06-01 | 2022-09-27 | Mitsubishi Materials Corporation | High-purity electrolytic copper |
-
1989
- 1989-10-27 JP JP1280298A patent/JPH03140489A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1060632A (ja) * | 1996-08-16 | 1998-03-03 | Dowa Mining Co Ltd | スパッタリングターゲット及びその製造方法ならびに半導体素子 |
JP2005330591A (ja) * | 2005-08-01 | 2005-12-02 | Dowa Mining Co Ltd | スパッタリングターゲット |
CN110382743A (zh) * | 2017-06-01 | 2019-10-25 | 三菱综合材料株式会社 | 高纯度电解铜 |
CN110382743B (zh) * | 2017-06-01 | 2022-04-08 | 三菱综合材料株式会社 | 高纯度电解铜 |
US11453953B2 (en) | 2017-06-01 | 2022-09-27 | Mitsubishi Materials Corporation | High-purity electrolytic copper |
US11753733B2 (en) | 2017-06-01 | 2023-09-12 | Mitsubishi Materials Corporation | Method for producing high-purity electrolytic copper |
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