JPH03119512A - 金属薄膜型磁気記録媒体 - Google Patents
金属薄膜型磁気記録媒体Info
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- JPH03119512A JPH03119512A JP25618389A JP25618389A JPH03119512A JP H03119512 A JPH03119512 A JP H03119512A JP 25618389 A JP25618389 A JP 25618389A JP 25618389 A JP25618389 A JP 25618389A JP H03119512 A JPH03119512 A JP H03119512A
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- Japan
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- film
- particles
- metal thin
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- Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は金属薄膜型磁気記録媒体に関するものである
[従来の技術]
真空蒸着、スパッタリング、イオンブレーティングなど
の方法により、Co、Ni、Cr、Fe。
の方法により、Co、Ni、Cr、Fe。
あるいはこれらの合金をフィルム基村上に形成させた金
属薄膜タイプの磁気記録媒体は、記録密度の向上に非常
に有効であり、基材としてはポリエステルフィルムが多
用されている。
属薄膜タイプの磁気記録媒体は、記録密度の向上に非常
に有効であり、基材としてはポリエステルフィルムが多
用されている。
しかし、ポリエステルフィルムは耐熱性が十分でないた
めに金属薄膜の形成条件が制限され、垂直磁気記録媒体
用の基材としては芳香族ポリイミドフィルムや芳香族ポ
リアミドフィルムの使用が検討されている。これら耐熱
フィルムの表面形成方法については、特開昭60−12
7523や特開昭62−116637に種々提案かされ
ている。
めに金属薄膜の形成条件が制限され、垂直磁気記録媒体
用の基材としては芳香族ポリイミドフィルムや芳香族ポ
リアミドフィルムの使用が検討されている。これら耐熱
フィルムの表面形成方法については、特開昭60−12
7523や特開昭62−116637に種々提案かされ
ている。
[発明が解決しようとする課題]
しかしながら、上記の従来の金属薄膜型磁気記録媒体で
は、磁性層の耐久性が不十分で傷が入りやすいなどの問
題があり、これを改善するため基材フィルムに含有され
る粒子を大きくすると出力特性が不良になる問題があっ
た。また非磁性側もガイドピンと接触して削れや傷が入
るといった問題点があった。
は、磁性層の耐久性が不十分で傷が入りやすいなどの問
題があり、これを改善するため基材フィルムに含有され
る粒子を大きくすると出力特性が不良になる問題があっ
た。また非磁性側もガイドピンと接触して削れや傷が入
るといった問題点があった。
本発明はかかる問題点を解決し、本来金属薄膜型磁気記
録媒体が有する優れた出力特性を維持しつつ耐久性の優
れた金属薄膜型磁気記録媒体を提供することを目的とす
る。
録媒体が有する優れた出力特性を維持しつつ耐久性の優
れた金属薄膜型磁気記録媒体を提供することを目的とす
る。
[課題を解決するための手段]
本発明は(1)芳香族ポリアミドあるいは芳香族ポリイ
ミドから成る基材フィルムの少なくとも片面に金属薄膜
型磁性層を設けてなる金属薄膜型磁気記録媒体であって
、該基材フィルムはA層の少なくとも片面に不活性粒子
を含有するB層が積層されてなるフィルムであり、B層
に含有される不活性粒子の平均粒径dBが5〜400n
m、該粒子のB層における含有量が0.1〜40w1%
、B層の厚さtllと平均粒径dBの比tIl/dBが
0゜1−〜4の範囲にあり、かっ該基材フィルムの屈曲
試験後の強度保持率が70%以上であることを特徴とす
る金属薄膜型磁気記録媒体、(2)芳香族ポリアミドあ
るいは芳香族ポリイミドから成る基材フィルムが、A層
の一方の面に不活性粒子を含有するB層を、他方の面に
不活性粒子を含有するC層を積層して成るフィルムであ
って、該基材フィルムのB層側に金属薄膜型磁性層が設
けられており、B層に含有される不活性粒子の平均粒径
d I+が5〜i50nm、該粒子のB層における含有
量が011−〜30wt%、B層の厚さtBと平均粒径
dBの比tII/dBが0. 1〜4、該C層に含有さ
れる不活性粒子の平均粒径dCが40〜400nm。
ミドから成る基材フィルムの少なくとも片面に金属薄膜
型磁性層を設けてなる金属薄膜型磁気記録媒体であって
、該基材フィルムはA層の少なくとも片面に不活性粒子
を含有するB層が積層されてなるフィルムであり、B層
に含有される不活性粒子の平均粒径dBが5〜400n
m、該粒子のB層における含有量が0.1〜40w1%
、B層の厚さtllと平均粒径dBの比tIl/dBが
0゜1−〜4の範囲にあり、かっ該基材フィルムの屈曲
試験後の強度保持率が70%以上であることを特徴とす
る金属薄膜型磁気記録媒体、(2)芳香族ポリアミドあ
るいは芳香族ポリイミドから成る基材フィルムが、A層
の一方の面に不活性粒子を含有するB層を、他方の面に
不活性粒子を含有するC層を積層して成るフィルムであ
って、該基材フィルムのB層側に金属薄膜型磁性層が設
けられており、B層に含有される不活性粒子の平均粒径
d I+が5〜i50nm、該粒子のB層における含有
量が011−〜30wt%、B層の厚さtBと平均粒径
dBの比tII/dBが0. 1〜4、該C層に含有さ
れる不活性粒子の平均粒径dCが40〜400nm。
該粒子のC層における含有量が1〜40wt%、C層の
厚さt。と平均粒径dCの比t。/ dCが0゜1〜4
であり、かつ該基材フィルムの屈曲試験後の強度保持率
が70%以上であることを特徴とする金属薄膜型磁気記
録媒体をその骨子とするものである。
厚さt。と平均粒径dCの比t。/ dCが0゜1〜4
であり、かつ該基材フィルムの屈曲試験後の強度保持率
が70%以上であることを特徴とする金属薄膜型磁気記
録媒体をその骨子とするものである。
本発明の芳香族ポリアミドとは一般式
%式%
で示される繰り返し単位を50モル%以上含む重合体か
ら成るものが好ましく、より好ましくは、70モル%以
上である。
ら成るものが好ましく、より好ましくは、70モル%以
上である。
ここでArl 、Ar2は少なくとも1個の芳香環を含
み、同一でも異なっていてもよく、これらの代表例とし
ては次のものがあげられる。
み、同一でも異なっていてもよく、これらの代表例とし
ては次のものがあげられる。
また、これらの芳香環の環上の水素の一部が、ハロゲン
基(特に塩素)、ニトロ基、C1〜C3のアルキル基(
特にメチル基)、Cl−C5のアルコキシ基などの置換
基で置換されているものも含む。また、Xは、 OCH
2 S 02−1−5−1−〇〇−などである。これらは単
独または共重合の形で含まれる。
基(特に塩素)、ニトロ基、C1〜C3のアルキル基(
特にメチル基)、Cl−C5のアルコキシ基などの置換
基で置換されているものも含む。また、Xは、 OCH
2 S 02−1−5−1−〇〇−などである。これらは単
独または共重合の形で含まれる。
特に薄物の磁気テープ用途などには、機械特性、環境変
化(温度、湿度)に対する寸法安定性などの点から、パ
ラ結合を主体としたものが好ましく、さらに芳香環に塩
素を導入したものがより好ましい。
化(温度、湿度)に対する寸法安定性などの点から、パ
ラ結合を主体としたものが好ましく、さらに芳香環に塩
素を導入したものがより好ましい。
あるいは
〇
八
(ここでp、 qは0〜3でp+q≧1)を50モル%
以上含むものが挙げられる。
以上含むものが挙げられる。
本発明における芳香族ポリイミドとは、重合体の繰り返
し単位の中に芳香環とイミド環を各々1つ以上含むもの
であり、一般式 で示される繰り返し単位を50モル%以上含むものが好
ましく、より好ましくは70モル%以上である。
し単位の中に芳香環とイミド環を各々1つ以上含むもの
であり、一般式 で示される繰り返し単位を50モル%以上含むものが好
ましく、より好ましくは70モル%以上である。
ここでAr3、Ar5は少なくとも1個の芳香環を含み
、イミド環を形成する2つのカルボニル基は芳香環上の
隣接する炭素原子に結合している。
、イミド環を形成する2つのカルボニル基は芳香環上の
隣接する炭素原子に結合している。
このAr3は、芳香族テトラカルボン酸あるいはこの無
水物に由来する。代表例としては、次のようなものが挙
げられる。
水物に由来する。代表例としては、次のようなものが挙
げられる。
ここで、Yは一〇−1−CO−−(j−1,2S
S 02−などである。
S 02−などである。
また、Ar5は、無水トリカルボン酸、あるいはこのハ
ライドに由来する。
ライドに由来する。
Ar4、Ar6は少なくとも1個の芳香環を含み、芳香
族ジアミン、芳香族ジイソシアネートに由来する。また
、アミド結合、ウレタン結合等を含んでいてもよい。A
r4.Areの代表例としては、次のようなものが挙げ
られる。
族ジアミン、芳香族ジイソシアネートに由来する。また
、アミド結合、ウレタン結合等を含んでいてもよい。A
r4.Areの代表例としては、次のようなものが挙げ
られる。
ここで、これらの芳香環の環上の水素の一部が、ハロゲ
ン基、ニトロ基、01〜C3のアルキル基、C1〜C3
のアルコキシ基などの置換基で置換されたものも含む。
ン基、ニトロ基、01〜C3のアルキル基、C1〜C3
のアルコキシ基などの置換基で置換されたものも含む。
Zは、−〇−−CH2S S O2−−CO−な
どである。これらは単独または共重合の形で含まれる。
どである。これらは単独または共重合の形で含まれる。
また、本発明の芳香族ポリアミド、芳香族ポリイミドに
は本発明を阻害しない範囲内で、A、、B。
は本発明を阻害しない範囲内で、A、、B。
C各層に、滑剤、酸化防止剤、その他の添加剤等や他の
ポリマーがブレンドされてもよい。
ポリマーがブレンドされてもよい。
また本発明のA、B、Cの各層のポリマ組成は同じでも
異なる種類のものでもよい。
異なる種類のものでもよい。
本発明の金属薄膜型磁気記録媒体を構成する基材フィル
ムのB層中の不活性粒子の平均粒子径d□は耐久性の点
から5〜400nmであることが必要である。さらにB
層側に磁性層が設けられる場合には5〜150n+n、
より好ましくは5〜1100nであり、磁性層が設けら
れない場合には40〜400nmが好ましく、50〜2
00nmがより好ましい。
ムのB層中の不活性粒子の平均粒子径d□は耐久性の点
から5〜400nmであることが必要である。さらにB
層側に磁性層が設けられる場合には5〜150n+n、
より好ましくは5〜1100nであり、磁性層が設けら
れない場合には40〜400nmが好ましく、50〜2
00nmがより好ましい。
本発明に使用する不活性粒子の種類は特に限定されない
が、粒径が揃ったコロイド粒子が特に好ましく、シリカ
、アルミナ、酸化チタン、炭酸カルシウムのコロイド粒
子が挙げられる。また架橋高分子による粒子(例えば架
橋ポリスチレン)やフッ素含有粒子などもある。
が、粒径が揃ったコロイド粒子が特に好ましく、シリカ
、アルミナ、酸化チタン、炭酸カルシウムのコロイド粒
子が挙げられる。また架橋高分子による粒子(例えば架
橋ポリスチレン)やフッ素含有粒子などもある。
本発明の基材フィルム8層中の不活性粒子の含有量は0
.1〜40w(%が必要である。さらにB層側に磁性層
が設けられる場合には0.]−〜30wt%、より好ま
しくは1〜30W(%であり、設けられない場合には1
〜40W1%が好ましく、より好ましくは2〜30w1
%である。含有量が上記の範囲より少ないと耐久性が不
良となり、多いと出力特性が不良となったり、粒子が脱
落してやはり耐久性が悪化するので好ましくない。
.1〜40w(%が必要である。さらにB層側に磁性層
が設けられる場合には0.]−〜30wt%、より好ま
しくは1〜30W(%であり、設けられない場合には1
〜40W1%が好ましく、より好ましくは2〜30w1
%である。含有量が上記の範囲より少ないと耐久性が不
良となり、多いと出力特性が不良となったり、粒子が脱
落してやはり耐久性が悪化するので好ましくない。
本発明の基材フィルム3層の厚さtnと該8層中に含有
される不活性粒子の平均粒径dBの比tB/dBは、0
.1−〜4が必要であり、好ましくは0. 2〜3、さ
らに好ましくは0. 3〜2の範囲である。このような
範囲にすることで8層中での粒子の位置が規制され、フ
ィルム表面の突起高さの均一化が図れる。tB/dBが
上記範囲より外れると耐久性が悪くなり、さらに磁性層
を設けた場合には出力特性が悪化しやすくなる。
される不活性粒子の平均粒径dBの比tB/dBは、0
.1−〜4が必要であり、好ましくは0. 2〜3、さ
らに好ましくは0. 3〜2の範囲である。このような
範囲にすることで8層中での粒子の位置が規制され、フ
ィルム表面の突起高さの均一化が図れる。tB/dBが
上記範囲より外れると耐久性が悪くなり、さらに磁性層
を設けた場合には出力特性が悪化しやすくなる。
さらに、基材フィルムのA層は不活性粒子を含有してい
る必要は特にないが、平均粒径が5〜11−50n、特
に10〜80nmの不活性粒子が0゜001〜0.15
重量%、特に0.005〜0゜05重量%含有されてい
ると、耐久性がより一層良好となるので望ましい。
る必要は特にないが、平均粒径が5〜11−50n、特
に10〜80nmの不活性粒子が0゜001〜0.15
重量%、特に0.005〜0゜05重量%含有されてい
ると、耐久性がより一層良好となるので望ましい。
B層側に磁性層を設けた場合には、A層面上でB層と反
対の面に0層を設けることは好ましい。
対の面に0層を設けることは好ましい。
このC層中には平均粒径dCが40〜400nm。
より好ましくは50〜200nmの不活性粒子を、1−
〜40w(%、より好ましくは2〜30w1%添加する
と、蒸着等の加工工程でのフィルムの良好なハンドリン
グ性を維持できる。
〜40w(%、より好ましくは2〜30w1%添加する
と、蒸着等の加工工程でのフィルムの良好なハンドリン
グ性を維持できる。
この0層の厚さtCと、含有する不活性粒子の平均粒径
dCの比t c / d cは、0.1〜4が好ましく
、より好ましくは0. 2〜3とすると、蒸着等の加工
工程におけるフィルムのハンドリング性がより一層向上
し、さらにはバックコート処理をしなくても良好な走行
性を有する磁気記録媒体を提供することも可能である。
dCの比t c / d cは、0.1〜4が好ましく
、より好ましくは0. 2〜3とすると、蒸着等の加工
工程におけるフィルムのハンドリング性がより一層向上
し、さらにはバックコート処理をしなくても良好な走行
性を有する磁気記録媒体を提供することも可能である。
なおC層中の粒子種はA層、8層中のものと同じであっ
ても異なっ1− −2 ていでもよく特に限定されないが、粒径が揃ったシリカ
、アルミナ、酸化チタン、炭酸カルシウムなどのコロイ
ド粒子が好ましい。また架橋高分子による粒子(例えば
架橋ポリエスチレン)やフッ素含有粒子なども使用でき
る。
ても異なっ1− −2 ていでもよく特に限定されないが、粒径が揃ったシリカ
、アルミナ、酸化チタン、炭酸カルシウムなどのコロイ
ド粒子が好ましい。また架橋高分子による粒子(例えば
架橋ポリエスチレン)やフッ素含有粒子なども使用でき
る。
本発明に使用する不活性粒子は、粒径比(粒子の長径/
短径)が1. 0〜4.3の粒子、特に、球形状の粒子
の場合に耐久性がより一層良好となるので望ましい。
短径)が1. 0〜4.3の粒子、特に、球形状の粒子
の場合に耐久性がより一層良好となるので望ましい。
本発明に使用する不活性粒子はフィルム中での単一粒子
指数が0. 5以上、好ましくは0. 7以上である場
合に耐久性がより一層良好となるので特に望ましい。
指数が0. 5以上、好ましくは0. 7以上である場
合に耐久性がより一層良好となるので特に望ましい。
本発明を構成する基材フィルムは、屈曲試験後の強度保
持率が70%以上あることが必要である。
持率が70%以上あることが必要である。
好ましくは80%以上である。これより小さいと磁気記
録媒体の耐久性が悪化し、またフィルム切れを起こして
走行不能となる。本発明の基材フィルムは少なくともA
層、B層の2層から成っているためフィルム製造時など
の温度履歴により各層内での内部応力が異なり、この差
が屈曲性、ひいては記録媒体の耐久性や走行性に影響を
及ぼすものと考えられる。
録媒体の耐久性が悪化し、またフィルム切れを起こして
走行不能となる。本発明の基材フィルムは少なくともA
層、B層の2層から成っているためフィルム製造時など
の温度履歴により各層内での内部応力が異なり、この差
が屈曲性、ひいては記録媒体の耐久性や走行性に影響を
及ぼすものと考えられる。
本発明を構成する基材フィルムのB層の表面の中心線深
さRPBと中心線平均粗さR8Bの比RPB/RaBは
3〜20、より好ましくは4〜15の場合に出力特性、
耐久性がより良好となるので望ましい。またB層側に磁
性層を設ける場合には、B層の表面のRPBは1〜5Q
nm、より好ましくは2〜20nmであり、RaBは0
.2〜5nmが望ましい。
さRPBと中心線平均粗さR8Bの比RPB/RaBは
3〜20、より好ましくは4〜15の場合に出力特性、
耐久性がより良好となるので望ましい。またB層側に磁
性層を設ける場合には、B層の表面のRPBは1〜5Q
nm、より好ましくは2〜20nmであり、RaBは0
.2〜5nmが望ましい。
磁性層の厚さtMは特に限定されないが、B層側に磁性
層を設けた場合のB層の厚さtllとの関係はtB/l
、Aが0.02〜150、特に0.14〜150、さら
に0.2〜100の範囲であることが好ましい。
層を設けた場合のB層の厚さtllとの関係はtB/l
、Aが0.02〜150、特に0.14〜150、さら
に0.2〜100の範囲であることが好ましい。
本発明を構成する基材フィルムの厚みは1−〜20μm
が好ましく、より好ましくは2〜1−0μmである。ま
たB層及び0層の厚みはそれぞれ0゜005〜1−μm
1より好ましくは0.01〜O。
が好ましく、より好ましくは2〜1−0μmである。ま
たB層及び0層の厚みはそれぞれ0゜005〜1−μm
1より好ましくは0.01〜O。
−3
A
5μmの場合に耐久性、出力特性がより良好となるので
特に望ましい。
特に望ましい。
本発明を構成する基材フィルムは、少な(とも一方向の
ヤング率が400kg/mrrf以上、より好ましくは
700kg/mrr?以上である。また縦方向と横方向
のヤング率比は0. 3〜3、より好ましくは0.5〜
2の範囲にある場合に耐久性、出力特性が良好であり望
ましい。
ヤング率が400kg/mrrf以上、より好ましくは
700kg/mrr?以上である。また縦方向と横方向
のヤング率比は0. 3〜3、より好ましくは0.5〜
2の範囲にある場合に耐久性、出力特性が良好であり望
ましい。
本発明は上記の基材フィルムの少なくとも片面に金属薄
膜型磁性層を設けた磁気記録媒体である。
膜型磁性層を設けた磁気記録媒体である。
この磁性層の種類は特に限定されないが、Co、Ni、
Cr、Feや、これらの合金から成るものであり、記録
方式は、水平記録、垂直記録を問わない。
Cr、Feや、これらの合金から成るものであり、記録
方式は、水平記録、垂直記録を問わない。
次に本発明の製造法について説明するが、これに限定さ
れるものではない。
れるものではない。
まず、芳香族ポリアミドであるが、酸クロリドとジアミ
ンとからの場合は、N−メチルピロリドン(NMP)、
ジメチルアセトアミド(DMAc)、ジメチルホルムア
ミド(DMF)などの非プロトン性有機極性溶媒中で、
溶液重合したり、水系媒体を使用する界面重合などで合
成される。ポリマ溶液は、単量体として酸クロリドとジ
アミンを使用すると塩化水素が副生ずるため、これを中
和するために水酸化カルシウム、炭酸カルシウム、炭酸
リチウムなどの無機の中和剤、またエチレンオキサイド
、プロピレンオキサイド、アンモニア、トリエチルアミ
ン、トリエタノールアミン、ジェタノールアミンなどの
有機の中和剤を添加する。
ンとからの場合は、N−メチルピロリドン(NMP)、
ジメチルアセトアミド(DMAc)、ジメチルホルムア
ミド(DMF)などの非プロトン性有機極性溶媒中で、
溶液重合したり、水系媒体を使用する界面重合などで合
成される。ポリマ溶液は、単量体として酸クロリドとジ
アミンを使用すると塩化水素が副生ずるため、これを中
和するために水酸化カルシウム、炭酸カルシウム、炭酸
リチウムなどの無機の中和剤、またエチレンオキサイド
、プロピレンオキサイド、アンモニア、トリエチルアミ
ン、トリエタノールアミン、ジェタノールアミンなどの
有機の中和剤を添加する。
また、イソシアネートとカルボン酸との反応は、非プロ
トン性有機極性溶媒中、触媒の存在下で行なわれる。
トン性有機極性溶媒中、触媒の存在下で行なわれる。
これらのポリマ溶液はそのままフィルムを形成する製膜
原液にしてもよく、ポリマを一度単離してから上記の溶
媒に再溶解して製膜原液を調製してもよい。また有機の
中和剤を使用した場合には、加熱や減圧下にポリマ溶液
を放置して中和物の一部または全部を蒸発させてから製
膜に供することもできる。
原液にしてもよく、ポリマを一度単離してから上記の溶
媒に再溶解して製膜原液を調製してもよい。また有機の
中和剤を使用した場合には、加熱や減圧下にポリマ溶液
を放置して中和物の一部または全部を蒸発させてから製
膜に供することもできる。
製膜原液には溶解助剤として無機塩例えば塩化5
6
カルシウム、塩化マグネシム、塩化リチウム、硝酸リチ
ウムなどを添加する場合もある。製膜原液中のポリマ濃
度は2〜40wt%程度が好ましい。
ウムなどを添加する場合もある。製膜原液中のポリマ濃
度は2〜40wt%程度が好ましい。
一方、芳香族ポリイミドあるいはポリアミド酸の溶液は
次のようにして得られる。即ち、ポリアミド酸はN−メ
チルピロリドン(NMP) 、ジメチルアセトアミド(
DMAc)、ジメチルホルムアミド(DMF)などの非
プロトン性有機極性溶媒中で、テトラカルボン酸二無水
物と芳香族ジアミンを反応させて、調製することができ
る。また、芳香族ポリイミドは前記のポリアミド酸を含
有する溶液を加熱したり、ピリジンなどのイミド化剤を
添加してポリイミドの固体を得、これを再度溶媒に溶解
して調製できる。製膜原液中のポリマ濃度は5〜40w
1%程度が好ましい。
次のようにして得られる。即ち、ポリアミド酸はN−メ
チルピロリドン(NMP) 、ジメチルアセトアミド(
DMAc)、ジメチルホルムアミド(DMF)などの非
プロトン性有機極性溶媒中で、テトラカルボン酸二無水
物と芳香族ジアミンを反応させて、調製することができ
る。また、芳香族ポリイミドは前記のポリアミド酸を含
有する溶液を加熱したり、ピリジンなどのイミド化剤を
添加してポリイミドの固体を得、これを再度溶媒に溶解
して調製できる。製膜原液中のポリマ濃度は5〜40w
1%程度が好ましい。
上記のように調製された製膜原液は、いわゆる溶液製膜
法によりフィルム化が行なわれる。溶液製膜法には乾湿
式法、乾式法、湿式法などがあるが、乾湿式法、乾式法
が表面性のよいフィルムを得るには好ましい。
法によりフィルム化が行なわれる。溶液製膜法には乾湿
式法、乾式法、湿式法などがあるが、乾湿式法、乾式法
が表面性のよいフィルムを得るには好ましい。
なお芳香族ポリアミドあるいは芳香族ポリイミドの製膜
原液中に不活性粒子を含有せしめる方法としては、重合
前に粒子を添加しておく方法、重合後に添加する方法、
製膜直前に製膜原液に混練する方法などを採用できる。
原液中に不活性粒子を含有せしめる方法としては、重合
前に粒子を添加しておく方法、重合後に添加する方法、
製膜直前に製膜原液に混練する方法などを採用できる。
湿式法で製膜する場合には該原液を口金から直接製膜用
浴中に押し出すか、又は−旦ドラム等の支持体上に押し
出し、支持体ごと湿式浴中に導入する方法が採用される
。この浴は一般に水系媒体からなるものであり、水の他
に有機溶媒や無機塩等を含有していてもよい。湿式浴を
通すことでフィルム中に含有された塩類、有機溶媒やイ
ミド化剤等の抽出が行なわれるが、これら湿式浴全体を
通過する時間はフィルムの厚みにもよるが10秒〜30
分である。さらにフィルムの長手方向に延伸が行なわれ
る。次いで乾燥、横延伸、熱処理が行なわれるがこれら
の処理は一般に200〜500℃で、合計で1−秒〜3
0分である。
浴中に押し出すか、又は−旦ドラム等の支持体上に押し
出し、支持体ごと湿式浴中に導入する方法が採用される
。この浴は一般に水系媒体からなるものであり、水の他
に有機溶媒や無機塩等を含有していてもよい。湿式浴を
通すことでフィルム中に含有された塩類、有機溶媒やイ
ミド化剤等の抽出が行なわれるが、これら湿式浴全体を
通過する時間はフィルムの厚みにもよるが10秒〜30
分である。さらにフィルムの長手方向に延伸が行なわれ
る。次いで乾燥、横延伸、熱処理が行なわれるがこれら
の処理は一般に200〜500℃で、合計で1−秒〜3
0分である。
乾湿式法で製膜する場合は該原液を口金からドラム、エ
ンドレスベルト等の支持体上に押し出して薄膜とし、次
いでかかる薄膜層から溶媒を飛散させ薄膜が自己保持性
をもつまで乾燥する。乾燥条件は室温〜300’C,6
0分以内の範囲である。
ンドレスベルト等の支持体上に押し出して薄膜とし、次
いでかかる薄膜層から溶媒を飛散させ薄膜が自己保持性
をもつまで乾燥する。乾燥条件は室温〜300’C,6
0分以内の範囲である。
乾式1程を終えたフィルムは支持体から剥離されて湿式
1程に導入され、上記の湿式法と同様に脱塩、脱溶媒な
どが行なわれ、さらに延伸、乾燥、熱処理が行なわれて
フィルムとなる。
1程に導入され、上記の湿式法と同様に脱塩、脱溶媒な
どが行なわれ、さらに延伸、乾燥、熱処理が行なわれて
フィルムとなる。
乾式法のプロセスを採用した場合には、ドラム、あるい
はエンドレスベルト等の上で乾燥され、自己保持性をも
ったフィルムを、これら支持体から剥離し、フィルムの
長手方向に延伸を行なう。さらに残存溶媒を除去するた
めの乾燥や、延伸、熱処理が行なわれるが、これらの処
理は200〜500℃で1秒〜30分である。
はエンドレスベルト等の上で乾燥され、自己保持性をも
ったフィルムを、これら支持体から剥離し、フィルムの
長手方向に延伸を行なう。さらに残存溶媒を除去するた
めの乾燥や、延伸、熱処理が行なわれるが、これらの処
理は200〜500℃で1秒〜30分である。
以上のように形成されるフィルムはその製膜工程中で延
伸が行なわれるが、延伸倍率は面倍率で0.8〜5.0
(面倍率とは延伸後のフィルム面積を延伸前のフィルム
の面積で除した値で定義する。1以下はリラックスを意
味する。)の範囲内にあることが好ましく、より好まし
くは1.1.〜9 3.0である。
伸が行なわれるが、延伸倍率は面倍率で0.8〜5.0
(面倍率とは延伸後のフィルム面積を延伸前のフィルム
の面積で除した値で定義する。1以下はリラックスを意
味する。)の範囲内にあることが好ましく、より好まし
くは1.1.〜9 3.0である。
また本発明の屈曲試験後の強度保持率を高く維持するに
は延伸あるいは熱処理後のフィルムを除冷することが有
効であり、100°C〜200℃の条件で11秒以上保
持することが有効である。−旦この条件で冷却されると
内部応力が除かれ、再加熱しても各層での内部応力差が
発生することはない。
は延伸あるいは熱処理後のフィルムを除冷することが有
効であり、100°C〜200℃の条件で11秒以上保
持することが有効である。−旦この条件で冷却されると
内部応力が除かれ、再加熱しても各層での内部応力差が
発生することはない。
本発明の積層フィルムを形成するには、A層側に相当す
る製膜原液と、B層側に相当する製膜原液の2種類を、
さらにC層側に相当する製膜原液を加えれば3種類を公
知の方法例えば特開昭56−162617のように合流
管で積層したり、口金内で積層して形成することができ
る。またいずれか一種の製膜原液でフィルムを形成して
おき、その上に他の製膜原液を流延して脱溶媒を行ない
、積層フィルムとすることもできる。特に合流管や、口
金内で積層する場合は、原液の粘度が1.00〜1−0
000ポイズになるように調節することが好ましい。こ
の範囲より小さいと原液が口金から出る前0 に液どうしが混合しやすくなり好ましくない。逆にこの
範囲より大きいとメルトフラクチャーが発生しフィルム
表面が粗れやすくなり好ましくない。
る製膜原液と、B層側に相当する製膜原液の2種類を、
さらにC層側に相当する製膜原液を加えれば3種類を公
知の方法例えば特開昭56−162617のように合流
管で積層したり、口金内で積層して形成することができ
る。またいずれか一種の製膜原液でフィルムを形成して
おき、その上に他の製膜原液を流延して脱溶媒を行ない
、積層フィルムとすることもできる。特に合流管や、口
金内で積層する場合は、原液の粘度が1.00〜1−0
000ポイズになるように調節することが好ましい。こ
の範囲より小さいと原液が口金から出る前0 に液どうしが混合しやすくなり好ましくない。逆にこの
範囲より大きいとメルトフラクチャーが発生しフィルム
表面が粗れやすくなり好ましくない。
また各層の液の粘度は同じことが好ましいが、多少の粘
度差があってもよく、粘度差は50%以内を目標とする
とよい。
度差があってもよく、粘度差は50%以内を目標とする
とよい。
さらに乾式法、乾湿式法を採用する場合、乾燥工程中で
各層が混合することがある。支持体上ヘキャストされた
原液は加熱されると一旦粘度が低下し、その後溶媒の蒸
発に伴なって再び粘度が上昇するが、粘度が10ポイズ
より下がると各層が混合しやすくなるので、10ポイズ
好ましくは50ポイズより粘度が下がらないよう乾燥条
件を十分調節する必要がある。例えは乾燥温度を少なく
とも2段階に分けて上げていく方法が採用できる。
各層が混合することがある。支持体上ヘキャストされた
原液は加熱されると一旦粘度が低下し、その後溶媒の蒸
発に伴なって再び粘度が上昇するが、粘度が10ポイズ
より下がると各層が混合しやすくなるので、10ポイズ
好ましくは50ポイズより粘度が下がらないよう乾燥条
件を十分調節する必要がある。例えは乾燥温度を少なく
とも2段階に分けて上げていく方法が採用できる。
以上のようにして本発明のフィルムは製造されるが、さ
らに磁性層などを付着させる前に前処理として、グロー
放電処理やコロナ放電処理を施すと磁性層の密着性、耐
久性が向上しより好ましい。
らに磁性層などを付着させる前に前処理として、グロー
放電処理やコロナ放電処理を施すと磁性層の密着性、耐
久性が向上しより好ましい。
次に、このフィルムに金属薄膜を形成する。その方法は
公知の方法で行なうことができるが、例えば、Co、N
i、Cr、Feやこれらの合金を、真空蒸着、イオンブ
レーティング、スパッタリング等により基材フィルム上
に直接、あるいはA1、Ti、Cr等の下地薄膜を介し
て形成させる。水平記録の場合は、co−Ni合金を斜
め蒸着で、また垂直記録の場合はCo−Cr合金を基材
フィルム面の直角方向から蒸発させて形成することが生
産性を向上できる点で好ましい。
公知の方法で行なうことができるが、例えば、Co、N
i、Cr、Feやこれらの合金を、真空蒸着、イオンブ
レーティング、スパッタリング等により基材フィルム上
に直接、あるいはA1、Ti、Cr等の下地薄膜を介し
て形成させる。水平記録の場合は、co−Ni合金を斜
め蒸着で、また垂直記録の場合はCo−Cr合金を基材
フィルム面の直角方向から蒸発させて形成することが生
産性を向上できる点で好ましい。
[発明の効果]
本発明は、基材フィルムの表面層中の不活性粒子の量、
大きさと層の厚さとの関係を特定範囲とすることで、耐
久性の優れた磁気記録媒体が得られたものである。また
磁気記録媒体製造時の走行性、加工速度の増大にも対応
できる。
大きさと層の厚さとの関係を特定範囲とすることで、耐
久性の優れた磁気記録媒体が得られたものである。また
磁気記録媒体製造時の走行性、加工速度の増大にも対応
できる。
さらに、本発明のフィルムは、耐熱性が良好なため高温
で磁性層を設けることができ、磁気特性の向上が可能と
なる。
で磁性層を設けることができ、磁気特性の向上が可能と
なる。
なお本発明の磁気記録方式は水平磁化、垂直磁化を問わ
ない。
ない。
[特性の測定方法、効果の評価方法]
本発明の特性値の測定方法および効果の評価方法は次の
通りである。
通りである。
(1)粒子の平均粒径
フィルムの断面を透過型電子顕微鏡(T E M)で写
真観察し、粒子を検知する。この写真をイメージアナラ
イザーで、粒子数4.00個以上について数値処理し、
数平均径りを平均粒径とする。
真観察し、粒子を検知する。この写真をイメージアナラ
イザーで、粒子数4.00個以上について数値処理し、
数平均径りを平均粒径とする。
D−ΣD、/N
(ここで、Dlは粒子の円相光径、Nは粒子数)(2)
粒径比 上記(1)の測定において、粒子の(長径の平均値)/
(短径の平均値)の比で表わし、下式で計算される。
粒径比 上記(1)の測定において、粒子の(長径の平均値)/
(短径の平均値)の比で表わし、下式で計算される。
長径−ΣD、、/N、短径−ΣD2./N(ここで、D
11s D 2+はそれぞれ個々の粒子の長径(最大
径)と短径(最短径)、Nは粒子数)(3)単一粒子指
数 上記(1)の測定において、粒子の占める全面積をA1
そのうち2個以上の粒子が凝集している凝集3 体の占める面積をBとしたとき、(A−B)/Aをもっ
て単一粒子指数とする。
11s D 2+はそれぞれ個々の粒子の長径(最大
径)と短径(最短径)、Nは粒子数)(3)単一粒子指
数 上記(1)の測定において、粒子の占める全面積をA1
そのうち2個以上の粒子が凝集している凝集3 体の占める面積をBとしたとき、(A−B)/Aをもっ
て単一粒子指数とする。
(4)Ra(中心線平均粗さ)、Rp(中心線深さ)
小板研究所製の薄膜段差測定器(ET−10)を用い、
触剣先端半径0. 5μm1触針荷重5 mgカットオ
フ値0.008m+n、測定長0.5mmの条件で10
回測定し、その平均値でRa、Rpを表わした。
触剣先端半径0. 5μm1触針荷重5 mgカットオ
フ値0.008m+n、測定長0.5mmの条件で10
回測定し、その平均値でRa、Rpを表わした。
なお、Ra、Rpの定義は、たとえば奈良治部著「表面
粗さの測定、評価法」 (総合技術センタ、1983)
に示されているものである。
粗さの測定、評価法」 (総合技術センタ、1983)
に示されているものである。
(5)屈曲試験後の強度保持率
JPCA規格(J PCA−FCOL−1986)の耐
屈曲性試験機にフィルム単体をセットシ(ここでループ
の内径は5mmとする)、毎分120回程度の速度で往
復運動を繰り返す。10000回往復させた後のフィル
ムを引っ張り試験機で強度を測定し、屈曲試験を行なわ
ないフィルムの強度と比較して強度保持率を求める。
屈曲性試験機にフィルム単体をセットシ(ここでループ
の内径は5mmとする)、毎分120回程度の速度で往
復運動を繰り返す。10000回往復させた後のフィル
ムを引っ張り試験機で強度を測定し、屈曲試験を行なわ
ないフィルムの強度と比較して強度保持率を求める。
4
(6)耐久性
磁性層を設けたフィルムを幅1/2インチのテープ状に
スリットしたものをテープ走行性試験機を使用して、ガ
イドピン(表面粗度:Raで1゜Onm)上を走行させ
る(走行速度100 m/min。
スリットしたものをテープ走行性試験機を使用して、ガ
イドピン(表面粗度:Raで1゜Onm)上を走行させ
る(走行速度100 m/min。
走行回数1Qpass、巻き付は角=600、走行張カ
ニ65g)。
ニ65g)。
ここでB層をガイドピン側にして走行させる。
試験後、テープのB層側に入った傷を顕微鏡で観察し、
幅2.5μm以上の傷がテープ幅あたり2本未満は◎、
2本以上10本未満は○、10本以上は×き判定した。
幅2.5μm以上の傷がテープ幅あたり2本未満は◎、
2本以上10本未満は○、10本以上は×き判定した。
◎が望ましいが、0でも実用的には使用可能である。
■ 電磁変換特性
蒸着したフィルムを1/2インチ幅にスリットし、V
T Rカセットに組み込みVTRテープとした。このテ
ープに家庭用VTRを用いてシバツク製のテレビ試験波
形発生器により1−00%クロマ信号を記録し、その再
生信号からシバツク製カラービデオノイズ測定器(92
5D/1)でクロマS/Nを測定した。市販のテープを
基準として評価した。
T Rカセットに組み込みVTRテープとした。このテ
ープに家庭用VTRを用いてシバツク製のテレビ試験波
形発生器により1−00%クロマ信号を記録し、その再
生信号からシバツク製カラービデオノイズ測定器(92
5D/1)でクロマS/Nを測定した。市販のテープを
基準として評価した。
(8)B層の厚さ
2次イオン質量分析装置(SIMS)を用いて、フィル
ム中の粒子の内最も高濃度の粒子に起因する元素と芳香
族ポリアミドあるいは芳香族ポリイミドの炭素元素の濃
度比(M+/C+)を粒子濃度とし、B層の表面から深
さ(厚さ)方向の分析を行なう。表層では表面という界
面のために粒子濃度は低く表面から遠ざかるにつれて粒
子濃度は高くなる。本発明フィルムの場合は深さ[I]
でいったん極大値となった粒子濃度がまた減少し始める
。この濃度分布曲線をもとに極大値の粒子濃度の↑/2
になる深さ[■] (ここでH>I)を積層厚さとした
。
ム中の粒子の内最も高濃度の粒子に起因する元素と芳香
族ポリアミドあるいは芳香族ポリイミドの炭素元素の濃
度比(M+/C+)を粒子濃度とし、B層の表面から深
さ(厚さ)方向の分析を行なう。表層では表面という界
面のために粒子濃度は低く表面から遠ざかるにつれて粒
子濃度は高くなる。本発明フィルムの場合は深さ[I]
でいったん極大値となった粒子濃度がまた減少し始める
。この濃度分布曲線をもとに極大値の粒子濃度の↑/2
になる深さ[■] (ここでH>I)を積層厚さとした
。
なお、フィルム中にもっとも多く含有する粒子が有機高
分子粒子の場合はSIMSでは測定が難しいので、表面
からエツチングしなからXPs(X線光電子分光法)、
IR(赤外分光法)あるいはコンフォーカル顕微鏡など
で、その粒子濃度のデプスプロファイルを測定し、上記
同様の手法から積層厚さを求めても良い。
分子粒子の場合はSIMSでは測定が難しいので、表面
からエツチングしなからXPs(X線光電子分光法)、
IR(赤外分光法)あるいはコンフォーカル顕微鏡など
で、その粒子濃度のデプスプロファイルを測定し、上記
同様の手法から積層厚さを求めても良い。
さらに、上述した粒子濃度のデプスプロファイルからで
はなく、フィルムの断面観察あるいは薄膜段差測定機等
によってB層の積層厚さを求めてもよい。
はなく、フィルムの断面観察あるいは薄膜段差測定機等
によってB層の積層厚さを求めてもよい。
[実施例]
以下に実施例に基づいて本発明を説明する。ただし本発
明はこれらの実施例に限定されるものではない。
明はこれらの実施例に限定されるものではない。
実施例I
NMP中に分散した平均粒径50nmのコロイダルシリ
カを重合槽に仕込み、この中に2−クロルパラフェニレ
ンジアミン85モル%、4.4’−ジアミノジフェニル
スルホン15モル%のアミン成分と、2−クロルテレフ
タル酸クロリド100モル%の酸成分を添加して重合し
、さらに水酸化リチウムで中和してB層用のポリマ溶液
を得た。なおコロイダルシリカの含有量は8wt%(コ
ロイダルシリカ/(コロイダルシリカ+芳香族ポリアミ
ド))である。同様の方法で平均粒径4. On mの
コロイダルシリカを0.1wf%含有するA層用のポリ
マ溶液を製造した。いずれのポリマ溶液も、ポリマ濃度
10wt%、溶液粘度を30℃で3000ポイズに調整
して製膜原液とした。
カを重合槽に仕込み、この中に2−クロルパラフェニレ
ンジアミン85モル%、4.4’−ジアミノジフェニル
スルホン15モル%のアミン成分と、2−クロルテレフ
タル酸クロリド100モル%の酸成分を添加して重合し
、さらに水酸化リチウムで中和してB層用のポリマ溶液
を得た。なおコロイダルシリカの含有量は8wt%(コ
ロイダルシリカ/(コロイダルシリカ+芳香族ポリアミ
ド))である。同様の方法で平均粒径4. On mの
コロイダルシリカを0.1wf%含有するA層用のポリ
マ溶液を製造した。いずれのポリマ溶液も、ポリマ濃度
10wt%、溶液粘度を30℃で3000ポイズに調整
して製膜原液とした。
これらの原液を2台の押出機で口金に供給し、口金内で
積層して金属ベルト上べ流延した。押出量を調節するこ
とで最終の基材フィルムのB層の厚さを0.05μmに
なるように、また総厚み7μmになるように条件を決め
た。この流延されたフィルムをまず1−20°Cで乾燥
し、次いで150℃で自己保持性を持つまで乾燥後、ベ
ルトから剥離して水槽中に導入し、脱溶媒と脱塩を行な
い、次いでテンター内で水分の乾燥と熱処理、冷却を行
なって最終フィルムを得た。この間でフィルムは水槽中
で長手方向(MD力方向に1,2倍、テンター内で幅方
向(TD力方向に1.2倍延伸された。また熱処理は3
00°Cで5分、冷却は150℃で5秒保持した 得られた7μm厚みの芳香族ポリアミドフィル7 ムは、MD,TD力方向もヤング率は1,100kg
/ m rdB強度55kg/mrr?、伸度50%と
機械特性のすぐれたものであった。
積層して金属ベルト上べ流延した。押出量を調節するこ
とで最終の基材フィルムのB層の厚さを0.05μmに
なるように、また総厚み7μmになるように条件を決め
た。この流延されたフィルムをまず1−20°Cで乾燥
し、次いで150℃で自己保持性を持つまで乾燥後、ベ
ルトから剥離して水槽中に導入し、脱溶媒と脱塩を行な
い、次いでテンター内で水分の乾燥と熱処理、冷却を行
なって最終フィルムを得た。この間でフィルムは水槽中
で長手方向(MD力方向に1,2倍、テンター内で幅方
向(TD力方向に1.2倍延伸された。また熱処理は3
00°Cで5分、冷却は150℃で5秒保持した 得られた7μm厚みの芳香族ポリアミドフィル7 ムは、MD,TD力方向もヤング率は1,100kg
/ m rdB強度55kg/mrr?、伸度50%と
機械特性のすぐれたものであった。
次いでこのフィルムのB層側にCo−Niを0。
1μm蒸着して磁性層を設け、さらにスリットして磁気
テープとして耐久性、電磁変換特性を評価したが非常に
優れたものであった。なおこの磁性層を除去してフィル
ムの屈曲試験を行なったところ第1−表のように良好な
ものであった。
テープとして耐久性、電磁変換特性を評価したが非常に
優れたものであった。なおこの磁性層を除去してフィル
ムの屈曲試験を行なったところ第1−表のように良好な
ものであった。
実施例2
実施例1と同じポリマを用い、コロイダルシリカの平均
粒径、添加量、及びB層の厚みを第1表の条件になるよ
うに製膜して7μmのフィルムを得た。このフィルムの
A層側に磁性層を設けて磁気テープを作製し評価を行な
ったところ、耐久性、電磁変換特性とも良好なものであ
った。
粒径、添加量、及びB層の厚みを第1表の条件になるよ
うに製膜して7μmのフィルムを得た。このフィルムの
A層側に磁性層を設けて磁気テープを作製し評価を行な
ったところ、耐久性、電磁変換特性とも良好なものであ
った。
実施例3
2−クロルパラフェニレンジアミン85モル%と4、4
′−ジアミノジフェニルエーテル15モル%をアミン成
分とし、2−クロルテレフタル酸クロリド100モル%
を酸成分としてNMP中で重合し、さらに水酸化リチウ
ムで中和してポリマ溶液を得た。なおコロイダルシリカ
は第1表の条件になるように重合前に添加しておいて、
A層、B層、0層の各々を形成する3種のポリマ溶液を
作製した。
′−ジアミノジフェニルエーテル15モル%をアミン成
分とし、2−クロルテレフタル酸クロリド100モル%
を酸成分としてNMP中で重合し、さらに水酸化リチウ
ムで中和してポリマ溶液を得た。なおコロイダルシリカ
は第1表の条件になるように重合前に添加しておいて、
A層、B層、0層の各々を形成する3種のポリマ溶液を
作製した。
これを3台の押出機を用いて口金に供給し、口金内で積
層した。次いで実施例1−と同様にして製膜し7μmの
フィルムを得、B層側にCo−Niを0. 2μm蒸
着して磁気テープを作製した。
層した。次いで実施例1−と同様にして製膜し7μmの
フィルムを得、B層側にCo−Niを0. 2μm蒸
着して磁気テープを作製した。
このテープの評価を行なったところ、耐久性、電磁変換
特性とも非常に良好であった。
特性とも非常に良好であった。
なおこの芳香族ポリアミドフィルムの機械特性は、ヤン
グ率L 300kg/mrrr、強度60kg/mポ
、伸度52%であった。
グ率L 300kg/mrrr、強度60kg/mポ
、伸度52%であった。
実施例4
4、41−ジアミノジフェニルエーテル70モル%と、
パラフェニレンジアミン30モル%をアミン成分とし、
無水ピロメリット・酸100モル%とをDMAc中で重
合してポリアミド酸溶液を得た。
パラフェニレンジアミン30モル%をアミン成分とし、
無水ピロメリット・酸100モル%とをDMAc中で重
合してポリアミド酸溶液を得た。
この重合に先立ち、第1表に示すようなコロイダルシリ
カを前もってDMAc中に分散させておいた。
カを前もってDMAc中に分散させておいた。
得られた2種類のポリマ溶液を2台の押出機で合流管へ
送液して積層し、口金から金属ベルト上へ流延した。ま
ず110℃で乾燥し、次いで140℃の熱風で自己保持
性を持つまで乾燥し、さらにベルトから剥離して440
°Cのテンターへ導入して熱処理を行なった後、300
℃、150℃で各々2秒ずつ保持して冷却し10μmの
基材フィルムを得た。なお延伸倍率はMD、TDとも1
゜1倍で、この芳香族ポリイミドフィルムの機械特性は
ヤング率430 kg/ m rr?、強度28kg/
mrrl’、伸度65%であった。
送液して積層し、口金から金属ベルト上へ流延した。ま
ず110℃で乾燥し、次いで140℃の熱風で自己保持
性を持つまで乾燥し、さらにベルトから剥離して440
°Cのテンターへ導入して熱処理を行なった後、300
℃、150℃で各々2秒ずつ保持して冷却し10μmの
基材フィルムを得た。なお延伸倍率はMD、TDとも1
゜1倍で、この芳香族ポリイミドフィルムの機械特性は
ヤング率430 kg/ m rr?、強度28kg/
mrrl’、伸度65%であった。
このフィルムのB層側に実施例1−と同様に磁性層を設
けて磁気テープを作製し、耐久性、電磁変換特性を評価
したところ良好な結果が得られた。
けて磁気テープを作製し、耐久性、電磁変換特性を評価
したところ良好な結果が得られた。
比較例1〜5
実施例1と同じポリマを用い、コロイダルシリカの平均
粒径、添加量、及びB層の厚みを第1表のように本発明
から外れた条件になるように設定して製膜し、7μmの
フィルムを得た。なお比較例5ではテンターで300°
Cで熱処理後、0℃の冷却ロールで急冷した。これらの
フィルムに実施例1と同様に磁性層を設けて耐久性、電
磁変換特性を測定したところ、満足できるものはなかっ
た。
粒径、添加量、及びB層の厚みを第1表のように本発明
から外れた条件になるように設定して製膜し、7μmの
フィルムを得た。なお比較例5ではテンターで300°
Cで熱処理後、0℃の冷却ロールで急冷した。これらの
フィルムに実施例1と同様に磁性層を設けて耐久性、電
磁変換特性を測定したところ、満足できるものはなかっ
た。
1
2
Claims (4)
- (1)芳香族ポリアミドあるいは芳香族ポリイミドから
成る基材フィルムの少なくとも片面に金属薄膜型磁性層
を設けてなる金属薄膜型磁気記録媒体であって、該基材
フィルムはA層の少なくとも片面に不活性粒子を含有す
るB層が積層されてなるフィルムであり、B層に含有さ
れる不活性粒子の平均粒径d_Bが5〜400nm、該
粒子のB層における含有量が0.1〜40wt%、B層
の厚さt_Bと平均粒径d_Bの比t_B/d_Bが0
.1〜4の範囲にあり、かつ該基材フィルムの屈曲試験
後の強度保持率が70%以上であることを特徴とする金
属薄膜型磁気記録媒体。 - (2)基材フィルムの少なくとも一方のB層側に金属薄
膜型磁性層が設けられており、該磁性層側のB層に含有
される不活性粒子の平均粒径d_Bが5〜150nm、
該粒子のB層における含有量が0.1〜30wt%であ
ることを特徴とする請求項(1)記載の金属薄膜型磁気
記録媒体。 - (3)基材フィルムがA層の片面にのみB層を積層して
なるフィルムであって、該A層側に金属薄膜型磁性層が
設けられており、B層に含有される不活性粒子の平均粒
径d_Bが40〜400nm、該粒子のB層における含
有量が1〜40wt%であることを特徴とする請求項(
1)記載の金属薄膜型磁気記録媒体。 - (4)芳香族ポリアミドあるいは芳香族ポリイミドから
成る基材フィルムが、A層の一方の面に不活性粒子を含
有するB層を、他方の面に不活性粒子を含有するC層を
積層して成るフィルムであって、該基材フィルムのB層
側に金属薄膜型磁性層が設けられており、B層に含有さ
れる不活性粒子の平均粒径d_Bが5〜150nm、該
粒子のB層における含有量が0.1〜30wt%、B層
の厚さt_Bと平均粒径d_Bの比t_B/d_Bが0
.1〜4、該C層に含有される不活性粒子の平均粒径d
_Cが40〜400nm、該粒子のC層における含有量
が1〜40w1%、C層の厚さt_Cと平均粒径d_C
の比t_C/d_Cが0.1〜4であり、かつ該基材フ
ィルムの屈曲試験後の強度保持率が70%以上であるこ
とを特徴とする金属薄膜型磁気記録媒体。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25618389A JP2773299B2 (ja) | 1989-09-29 | 1989-09-29 | 金属薄膜型磁気記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP25618389A JP2773299B2 (ja) | 1989-09-29 | 1989-09-29 | 金属薄膜型磁気記録媒体 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03119512A true JPH03119512A (ja) | 1991-05-21 |
JP2773299B2 JP2773299B2 (ja) | 1998-07-09 |
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ID=17289063
Family Applications (1)
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JP25618389A Expired - Fee Related JP2773299B2 (ja) | 1989-09-29 | 1989-09-29 | 金属薄膜型磁気記録媒体 |
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Country | Link |
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JP (1) | JP2773299B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6124021A (en) * | 1997-05-20 | 2000-09-26 | Teijin Limited | Biaxially oriented laminate film of wholly aromatic polyamide and magnetic recording media |
-
1989
- 1989-09-29 JP JP25618389A patent/JP2773299B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US6124021A (en) * | 1997-05-20 | 2000-09-26 | Teijin Limited | Biaxially oriented laminate film of wholly aromatic polyamide and magnetic recording media |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2773299B2 (ja) | 1998-07-09 |
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