JPH03106046A - キヤリアテープ - Google Patents
キヤリアテープInfo
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- JPH03106046A JPH03106046A JP24591589A JP24591589A JPH03106046A JP H03106046 A JPH03106046 A JP H03106046A JP 24591589 A JP24591589 A JP 24591589A JP 24591589 A JP24591589 A JP 24591589A JP H03106046 A JPH03106046 A JP H03106046A
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- tape
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、半導体装置の製造工程で多故の半導体素子
を実装するのに使用するキャリアテーデに関する。
を実装するのに使用するキャリアテーデに関する。
近早、集積回路素子など半導体素子の電極接合技術とし
て、従来から広く使用されているワイヤポンデイング方
法に代って、テープキャリアを用いた、いわゆるTAB
(Tape Autemated Bonding)方
法が採用されてきた。
て、従来から広く使用されているワイヤポンデイング方
法に代って、テープキャリアを用いた、いわゆるTAB
(Tape Autemated Bonding)方
法が採用されてきた。
この種の’[’AB方法に用いる従来のキャリアテープ
は、M5図(a) , (b)に示すように構或されて
いた。図はテープキャリアを示し、1はキャリアテープ
で、帯状のテープ本体2と、このテープ本体z上に形成
された多数のリード3とからなる。テープ本体2は、ポ
リイミド樹脂などたわみ性をもち、絶縁性の合成樹脂か
らなう1幅方向の中央部には半導体素子が配置される複
数の中央孔2aが間隔をあけて設けられ、中央孔2aの
四周にはリ−ド支持部2bを介し、外部リード用孔2c
が設けられ、各外部リード用孔2c相互間は架橋部2d
が設けられ、リード支持部2bをつないでいる。テープ
本体20両側縁には長手方向に所定の間隔で多数の位置
決め送シ孔2eが設けられている。3は鋼材など導t性
金属材からなシ、テープ本体2面に付着形成された多数
のリードで、内部リード支持部2bから先端が中央孔2
aに至る内部リード部3aと、外部リード用孔2cを筐
たぐ外部リード部3bと、テープ本体2に付着するテス
トパッド部3cとから形成されている。
は、M5図(a) , (b)に示すように構或されて
いた。図はテープキャリアを示し、1はキャリアテープ
で、帯状のテープ本体2と、このテープ本体z上に形成
された多数のリード3とからなる。テープ本体2は、ポ
リイミド樹脂などたわみ性をもち、絶縁性の合成樹脂か
らなう1幅方向の中央部には半導体素子が配置される複
数の中央孔2aが間隔をあけて設けられ、中央孔2aの
四周にはリ−ド支持部2bを介し、外部リード用孔2c
が設けられ、各外部リード用孔2c相互間は架橋部2d
が設けられ、リード支持部2bをつないでいる。テープ
本体20両側縁には長手方向に所定の間隔で多数の位置
決め送シ孔2eが設けられている。3は鋼材など導t性
金属材からなシ、テープ本体2面に付着形成された多数
のリードで、内部リード支持部2bから先端が中央孔2
aに至る内部リード部3aと、外部リード用孔2cを筐
たぐ外部リード部3bと、テープ本体2に付着するテス
トパッド部3cとから形成されている。
上記架橋部2dは、内部リード部3aの位置精度を高め
るためのリード支持部2bを一体につなぐものである。
るためのリード支持部2bを一体につなぐものである。
このように構或されたキャリアテープ1に、半導体素子
6を中央孔2a内にし、半導体素子5の各バンプ6が対
応する各内部リード部3aの所定位置に対向するように
位置決めし、パンブ6と内部リード部3aを熱圧着法で
接合する。鎖線で示す14は、後工程で或形される樹脂
封止体の側周を表す。
6を中央孔2a内にし、半導体素子5の各バンプ6が対
応する各内部リード部3aの所定位置に対向するように
位置決めし、パンブ6と内部リード部3aを熱圧着法で
接合する。鎖線で示す14は、後工程で或形される樹脂
封止体の側周を表す。
こうして構或されたテープキャリアを、第6図(a)に
示すように、下金型8上に載せ半導体素子5部をキャビ
テイ10に位置し、上金型7とで型締めする。上金型7
にはキャビティ9,ランナ11,グート12が設けられ
ている。この状態で、低圧トランス7ア或形方法によシ
、例えばエポキシ樹脂など注入用樹脂をヲンナエユから
各キャビティ9.10内に注入して硬化させる。A(m
5図参照)はゲート部における樹脂の注入方向を示す。
示すように、下金型8上に載せ半導体素子5部をキャビ
テイ10に位置し、上金型7とで型締めする。上金型7
にはキャビティ9,ランナ11,グート12が設けられ
ている。この状態で、低圧トランス7ア或形方法によシ
、例えばエポキシ樹脂など注入用樹脂をヲンナエユから
各キャビティ9.10内に注入して硬化させる。A(m
5図参照)はゲート部における樹脂の注入方向を示す。
こうして、第6図(b)のように、或形された樹脂封止
体工3によシ半導体素子5部が封止される。この状態か
ら不要の樹脂部(鎖線で示す)を除去し、テープ本体2
を各単位ごとに分割し、不要部を除去すると、複数の樹
脂封止半導体装置が得られる。
体工3によシ半導体素子5部が封止される。この状態か
ら不要の樹脂部(鎖線で示す)を除去し、テープ本体2
を各単位ごとに分割し、不要部を除去すると、複数の樹
脂封止半導体装置が得られる。
ところが、上記第6図のキャリアテープ2では、注入樹
脂が充てん不要なリード用孔2cに入υ、後で面倒な除
去作業を要していた。
脂が充てん不要なリード用孔2cに入υ、後で面倒な除
去作業を要していた。
これに対処し、従来の他の例として第7図に示すよう(
(、キャリアテーグ2の架橋部2dにjJ一ド支持部2
bに至るゲート対応孔13を設けたものがある。
(、キャリアテーグ2の架橋部2dにjJ一ド支持部2
bに至るゲート対応孔13を設けたものがある。
a1!7図のようrc#ll或されたテープキャリアを
、第8図(&)に示すように、下金fM8に載せ半導体
素子5部をキャビテイlOに位置し、上金IM’7で型
締めする。つづいて、エボキシ樹脂など注入用樹脂を、
フンナ1ユから矢印B方向(第7図参照)にゲート12
のゲート対応孔15を経てキャビデイ9 . 10内に
注入し硬化させる。こうして、第8図(b)のように、
或形された樹脂封止体13によう半導体素子5部が封止
される。この状態から不要の樹脂部(鎖線で示す)を除
去し、デー1本体2t−各単位に分割し、不要部を除去
すると、複数の樹脂封止半導体装置が得られる。
、第8図(&)に示すように、下金fM8に載せ半導体
素子5部をキャビテイlOに位置し、上金IM’7で型
締めする。つづいて、エボキシ樹脂など注入用樹脂を、
フンナ1ユから矢印B方向(第7図参照)にゲート12
のゲート対応孔15を経てキャビデイ9 . 10内に
注入し硬化させる。こうして、第8図(b)のように、
或形された樹脂封止体13によう半導体素子5部が封止
される。この状態から不要の樹脂部(鎖線で示す)を除
去し、デー1本体2t−各単位に分割し、不要部を除去
すると、複数の樹脂封止半導体装置が得られる。
上記のような従来のキャリアテープでは、金型内K樹m
を注入すると、流入樹脂の圧力にようリード支持郁2b
が曲#)変形した多、半導体素子5側へ変位してしまう
という問題点が合った。
を注入すると、流入樹脂の圧力にようリード支持郁2b
が曲#)変形した多、半導体素子5側へ変位してしまう
という問題点が合った。
このため、内部リード部3aが切断したシ、内部リード
部3aとバング6との接合が離れたうし、特に、リード
3数の少ないキャリアテープでは、これによる不良が多
くなっていた。
部3aとバング6との接合が離れたうし、特に、リード
3数の少ないキャリアテープでは、これによる不良が多
くなっていた。
この発明は、このような問題点を解決するためになされ
たもので、樹脂封止工程における内部リード部3aの切
断やバング6との離れなどの不良をなくするキャリアテ
ープを得ることを目的としている。
たもので、樹脂封止工程における内部リード部3aの切
断やバング6との離れなどの不良をなくするキャリアテ
ープを得ることを目的としている。
この発明にかかるキャリアテーグは、テープ本体の外部
リード用孔間の架橋部又は外部リード用孔に設けた連結
部に、ゲート対応流路部を設け中央孔に連通させたもの
である。
リード用孔間の架橋部又は外部リード用孔に設けた連結
部に、ゲート対応流路部を設け中央孔に連通させたもの
である。
〔作用〕
この発明に訃いては、キャリアテープを入れた金型内に
樹脂を注入すると、上金型のゲート部において、樹脂は
テープ本体に設けられた架橋部又は中央連結部に形成さ
れたゲート対応流路部を通シ中央孔部に至シキャビティ
内に圧入され、樹脂の注入圧力がテープ本体のリード支
持部には、作用せず変形,変位が防止される。
樹脂を注入すると、上金型のゲート部において、樹脂は
テープ本体に設けられた架橋部又は中央連結部に形成さ
れたゲート対応流路部を通シ中央孔部に至シキャビティ
内に圧入され、樹脂の注入圧力がテープ本体のリード支
持部には、作用せず変形,変位が防止される。
第1図(a)及び(b)はこの発明の一実施例によるキ
ャリアテープを用いたテープキャリアの平面図及び断面
図であシ、2a=2e,3.3aN3c,5 , 6
, 14ぱ上記従来装置と同一のものである0キャリア
テーグ21のテープ本体22には、架橋部2dから中央
孔2aに至るゲート対応流路部23が切欠き形成され、
先端側の幅が広げられ、流路断面積が次第に大きくされ
、樹脂が円滑に注入されるようにし、注入圧力がリード
支持部2bに影響を及ぼさないようにしてある。
ャリアテープを用いたテープキャリアの平面図及び断面
図であシ、2a=2e,3.3aN3c,5 , 6
, 14ぱ上記従来装置と同一のものである0キャリア
テーグ21のテープ本体22には、架橋部2dから中央
孔2aに至るゲート対応流路部23が切欠き形成され、
先端側の幅が広げられ、流路断面積が次第に大きくされ
、樹脂が円滑に注入されるようにし、注入圧力がリード
支持部2bに影響を及ぼさないようにしてある。
第1図(.)のゲート対応流路部23をjgl図(c)
に拡大図で示す。
に拡大図で示す。
第1 tN (b)のテーデキャリアを金型に入れた状
態を第2図(.)に断面図で示す。第1図(.)の[b
−Jib線にかける断面図を第2図(b)に、[[c−
■QJIにおける断面図を@2図(Q)に示し、いづれ
もテープキャリアが金型に型締めされている状態を図示
している。
態を第2図(.)に断面図で示す。第1図(.)の[b
−Jib線にかける断面図を第2図(b)に、[[c−
■QJIにおける断面図を@2図(Q)に示し、いづれ
もテープキャリアが金型に型締めされている状態を図示
している。
第1図のように構成されたテープキャリアを、第2図(
a)のように、下金型8に載せ、上金型7とで型締めす
る。このとき、上金型7のヲンナ11,ゲート12の周
囲の部分によシ、テープ本体22の架橋部2dの外部リ
ード用孔2c側、及びリード支持部2bの外部リード用
孔2c側付近は閉じられている。ゲート対応流路部23
の周囲の架橋剖2dのうち、外部リード用孔2c側は上
,下金型7,8の挾付けによb1樹脂の外部リード用孔
2cへの流出を防ぐとともに、ゲート対応流路部23の
上,下も、上,下金型7,80面が壁となう、他への流
出を防いでいる(第2図b)。
a)のように、下金型8に載せ、上金型7とで型締めす
る。このとき、上金型7のヲンナ11,ゲート12の周
囲の部分によシ、テープ本体22の架橋部2dの外部リ
ード用孔2c側、及びリード支持部2bの外部リード用
孔2c側付近は閉じられている。ゲート対応流路部23
の周囲の架橋剖2dのうち、外部リード用孔2c側は上
,下金型7,8の挾付けによb1樹脂の外部リード用孔
2cへの流出を防ぐとともに、ゲート対応流路部23の
上,下も、上,下金型7,80面が壁となう、他への流
出を防いでいる(第2図b)。
この状態で、第2図(a)のように、低圧トランスファ
或形法によシ、エポキシ樹脂などの樹脂を矢印Cのよう
に注入し、硯化させる。こうして、樹脂封正体13によ
う半導体素子5部が封止されたテープキャリアを金型か
ら取出した状態を第2図(d)に示す。この状態から不
要の樹脂部(@線で示す)を除去し、テープ本体22を
各単位ごとに分割し、不要部を除去すると、″4I数の
樹,llir封止半導体装置が得られる。
或形法によシ、エポキシ樹脂などの樹脂を矢印Cのよう
に注入し、硯化させる。こうして、樹脂封正体13によ
う半導体素子5部が封止されたテープキャリアを金型か
ら取出した状態を第2図(d)に示す。この状態から不
要の樹脂部(@線で示す)を除去し、テープ本体22を
各単位ごとに分割し、不要部を除去すると、″4I数の
樹,llir封止半導体装置が得られる。
第3図(a)はこの発明の他の実施例によるキャリアテ
ープを用いたテープキャリアの平面図である。
ープを用いたテープキャリアの平面図である。
テープ本体22の外部リード用孔2cに、リード支持部
2bを連結する連結部24を投け、この連結部24に中
央孔2aに至るゲート対応流路部25を設け、先端側の
幅が広げられている。上記連結部24の外部リード用孔
2cに対する位置は、区では幅方向の中央にしたが他の
位置にしてもよい。上金型7のゲートは連結部24に対
応する位置にしている。
2bを連結する連結部24を投け、この連結部24に中
央孔2aに至るゲート対応流路部25を設け、先端側の
幅が広げられている。上記連結部24の外部リード用孔
2cに対する位置は、区では幅方向の中央にしたが他の
位置にしてもよい。上金型7のゲートは連結部24に対
応する位置にしている。
なか、上記ゲート対応流路部23.25は、テープ本体
22を貫通する切欠き状に形成したが、底を〔発明の効
果〕 以上のように、この発明によれば、キャリアテープのテ
ープ本体の外部リード用孔間の架橋部、又は外部リード
用孔に設けられリード支持部へ至る連結部に、ゲート対
応流路部を設け中央孔に連通させ、このゲート対応流路
部上に上金型のゲートを位置させたので、テープキャリ
アを入れた金型内に樹脂を注入すると、樹脂がゲート対
応流路部を通ジ中央孔に至シキャビテイ内に圧入され、
樹脂の注入圧力がテープ本体のリード支持部には作用せ
ず、変形,変位が防止され、内部リードの切断や内部リ
ード部とバンプの接合が離れたシすることがなくされる
。
22を貫通する切欠き状に形成したが、底を〔発明の効
果〕 以上のように、この発明によれば、キャリアテープのテ
ープ本体の外部リード用孔間の架橋部、又は外部リード
用孔に設けられリード支持部へ至る連結部に、ゲート対
応流路部を設け中央孔に連通させ、このゲート対応流路
部上に上金型のゲートを位置させたので、テープキャリ
アを入れた金型内に樹脂を注入すると、樹脂がゲート対
応流路部を通ジ中央孔に至シキャビテイ内に圧入され、
樹脂の注入圧力がテープ本体のリード支持部には作用せ
ず、変形,変位が防止され、内部リードの切断や内部リ
ード部とバンプの接合が離れたシすることがなくされる
。
第1図(a)ぱこの発明の一実施例によるキャリアテー
プを用いたテープキャリアの平面図、第1図(b)は第
1図(a)のI−I線にかける断面図、第1図(Q)は
第1図(a)のゲート対応流路部の拡大図、第2図{a
)はWcl図(b)のテープキャリアを金型に型締めし
た断面図、第2図(b)及び(C)は第1図(c)のl
b−■b線及びIlc−Inc線に分ける断面図で、金
型に型締めされている状態を示す。第2図(d)は第2
図(a)の状態から樹脂封止され取出された分割前の半
導体装置の断面図、第3図(a)はこの発明の第2の実
施例によるキャリアテーデを用いたテーデキャリアの平
面図、第3図(b)は第3図(a)のIII−III線
における断面図で、金型に型締めされた状態を示す。 第4図(a)及び(b)はこの発明の第3の実施例によ
るキャリアテーブを示すゲート対応流路部の平面図及び
断面図、第5図(.)は従来のキャリアテーブを用いた
テーフ゛キャリアの平面図、@5図(b)は第5図(a
)のV一▼線における断面図、第6図(a)は第5図の
テープキャリアを金型で型締めした状態の断面図、第6
図(b)は第6図(a)の状態から樹脂封止され取出さ
れた分割前の半導体装置の断面図、第7図は従来の他の
キャリアテーグを用いたテープキャリアの平面図、第8
図(a)は第7図の■一■線における断面図で金型に型
締めされた状態を示す。 第8図(b)は第8図(a)の状態から樹脂封止され取
出された分割前の半導体装置の断面図である。 2a・・・中央孔、2b・・・リード支持部、2c・・
・外部リード用孔、2d・・・架橋部、3・・・リード
、3a・・・内部リード、3b・・・外部リード、5・
・・半導体素子、6・・・バンプ、グ・・・上金型、8
・・・下金型、9.10・・・キャビテイ、12・・・
ゲート、13・・・樹脂封止体、21・・・キャリアテ
ープ、22・・・デープ本体、23j尖 25,・・・ゲート対応流路部、24・・・連結部なか
、図中同一符号は同一又は相当部分を示す。
プを用いたテープキャリアの平面図、第1図(b)は第
1図(a)のI−I線にかける断面図、第1図(Q)は
第1図(a)のゲート対応流路部の拡大図、第2図{a
)はWcl図(b)のテープキャリアを金型に型締めし
た断面図、第2図(b)及び(C)は第1図(c)のl
b−■b線及びIlc−Inc線に分ける断面図で、金
型に型締めされている状態を示す。第2図(d)は第2
図(a)の状態から樹脂封止され取出された分割前の半
導体装置の断面図、第3図(a)はこの発明の第2の実
施例によるキャリアテーデを用いたテーデキャリアの平
面図、第3図(b)は第3図(a)のIII−III線
における断面図で、金型に型締めされた状態を示す。 第4図(a)及び(b)はこの発明の第3の実施例によ
るキャリアテーブを示すゲート対応流路部の平面図及び
断面図、第5図(.)は従来のキャリアテーブを用いた
テーフ゛キャリアの平面図、@5図(b)は第5図(a
)のV一▼線における断面図、第6図(a)は第5図の
テープキャリアを金型で型締めした状態の断面図、第6
図(b)は第6図(a)の状態から樹脂封止され取出さ
れた分割前の半導体装置の断面図、第7図は従来の他の
キャリアテーグを用いたテープキャリアの平面図、第8
図(a)は第7図の■一■線における断面図で金型に型
締めされた状態を示す。 第8図(b)は第8図(a)の状態から樹脂封止され取
出された分割前の半導体装置の断面図である。 2a・・・中央孔、2b・・・リード支持部、2c・・
・外部リード用孔、2d・・・架橋部、3・・・リード
、3a・・・内部リード、3b・・・外部リード、5・
・・半導体素子、6・・・バンプ、グ・・・上金型、8
・・・下金型、9.10・・・キャビテイ、12・・・
ゲート、13・・・樹脂封止体、21・・・キャリアテ
ープ、22・・・デープ本体、23j尖 25,・・・ゲート対応流路部、24・・・連結部なか
、図中同一符号は同一又は相当部分を示す。
Claims (1)
- たわみ性をもつ帯状の合成樹脂材からなり、幅方向の中
央部に長手方向に間隔をあけ配された複数の中央孔と、
この中央孔の四周をリード支持部を介して配された複数
の外部リード用孔と、これら外部リード用孔の相互間に
残され上記リード支持部につながる架橋部とが形成され
たテープ本体、このテープ本体の上面に付着形成され、
内部リード部が上記リード支持部から上記中央孔に至り
、外部リード部が上記外部リード用孔をまたいだ複数の
リードを備え、上記各内部リード部の先端下面にバンプ
を介し半導体素子が接合されるようにされており、上記
架橋部又は上記外部リード用孔に長手方向に形成されリ
ード支持部につながる連結部に、上記中央孔に通じるゲ
ート対応流路部を形成し、上金型のゲート下に対応する
ようにしたことを特徴とするキャリアテープ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24591589A JPH0680707B2 (ja) | 1989-09-20 | 1989-09-20 | キヤリアテープ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24591589A JPH0680707B2 (ja) | 1989-09-20 | 1989-09-20 | キヤリアテープ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03106046A true JPH03106046A (ja) | 1991-05-02 |
JPH0680707B2 JPH0680707B2 (ja) | 1994-10-12 |
Family
ID=17140730
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP24591589A Expired - Fee Related JPH0680707B2 (ja) | 1989-09-20 | 1989-09-20 | キヤリアテープ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0680707B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
SG115569A1 (en) * | 2003-09-09 | 2005-10-28 | Micron Technology Inc | Tape substrates with mold gate support structures that are coplanar with conductive traces thereof and associated methods |
-
1989
- 1989-09-20 JP JP24591589A patent/JPH0680707B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
SG115569A1 (en) * | 2003-09-09 | 2005-10-28 | Micron Technology Inc | Tape substrates with mold gate support structures that are coplanar with conductive traces thereof and associated methods |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0680707B2 (ja) | 1994-10-12 |
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Date | Code | Title | Description |
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